JP5086926B2 - 算出方法、プログラム及び露光方法 - Google Patents
算出方法、プログラム及び露光方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5086926B2 JP5086926B2 JP2008184152A JP2008184152A JP5086926B2 JP 5086926 B2 JP5086926 B2 JP 5086926B2 JP 2008184152 A JP2008184152 A JP 2008184152A JP 2008184152 A JP2008184152 A JP 2008184152A JP 5086926 B2 JP5086926 B2 JP 5086926B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light source
- regions
- optical system
- calculation
- projection optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 title claims description 173
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 65
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 160
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims description 93
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 81
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 64
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 53
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 37
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 claims description 29
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 9
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 8
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 8
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 22
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 20
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 20
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 19
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 18
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 18
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 17
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 12
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 6
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 5
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
- G03F7/70491—Information management, e.g. software; Active and passive control, e.g. details of controlling exposure processes or exposure tool monitoring processes
- G03F7/705—Modelling or simulating from physical phenomena up to complete wafer processes or whole workflow in wafer productions
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
- G03F7/70605—Workpiece metrology
- G03F7/70653—Metrology techniques
- G03F7/70666—Aerial image, i.e. measuring the image of the patterned exposure light at the image plane of the projection system
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F15/00—Digital computers in general; Data processing equipment in general
- G06F15/02—Digital computers in general; Data processing equipment in general manually operated with input through keyboard and computation using a built-in program, e.g. pocket calculators
- G06F15/0208—Digital computers in general; Data processing equipment in general manually operated with input through keyboard and computation using a built-in program, e.g. pocket calculators for combination with other devices having a different main function, e.g. watches, pens
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F9/00—Arrangements for program control, e.g. control units
- G06F9/06—Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
- G06F9/44—Arrangements for executing specific programs
- G06F9/455—Emulation; Interpretation; Software simulation, e.g. virtualisation or emulation of application or operating system execution engines
-
- G—PHYSICS
- G16—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS
- G16Z—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G16Z99/00—Subject matter not provided for in other main groups of this subclass
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Software Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
Full−Chip Lithography Simulation and Design Analysis−How OPC is Changing IC Design,Proc. of SPIE,USA、SPIE press,2005,Vol.5751,pp.1−14 Alfred Kwok−kit Wong著,「Optical Imaging in Projection Microlithography」,アメリカ合衆国、SPIE press,2005年,pp.151−163
記憶部40は、本実施形態では、パターンデータ401と、有効光源情報402と、NA情報403と、λ情報404と、収差情報405と、偏光情報406と、レジスト情報407とを記憶する。更に、記憶部40は、P演算子408と、空中像409と、マスクデータ410と、空中像計算プログラム420とを記憶する。
<第1の実施形態>
第1の実施形態では、処理装置1の制御部20を構成するCPUとしてXeon(登録商標)32bitを使用し、記憶部40として約2GByteのメモリを使用した。MATLAB(登録商標)を用いて空中像計算プログラム420を作成し、有効光源を分割して空中像409を算出する際の計算時間と、有効光源を分割せずに空中像409を算出する際の計算時間とを比較した。
<第2の実施形態>
第2の実施形態では、処理装置1の制御部20を構成するCPUとしてXeon(登録商標)32bitを使用し、記憶部40として約2GByteのメモリを使用した。MATLAB(登録商標)を用いて空中像計算プログラム420を作成し、有効光源を分割して空中像409を算出する際の計算時間と、有効光源を分割せずに空中像409を算出する際の計算時間とを比較した。
<第3の実施形態>
第3の実施形態では、図10に示す有効光源を第2の実施形態と異なる分割方法(分割モデル)で分割した場合について説明する。
−0.7+1.4×(n−1)/N≦g<−0.7+1.4×n/N ・・・(数式35)
図13は、図10に示す有効光源の分割の一例を示す図である。但し、図13では、(m、n)=(4、2)である。
<第4の実施形態>
第4の実施形態では、上述した処理装置1で算出された空中像(投影光学系の像面に形成される光強度分布)に基づいて露光条件を調整し、露光処理を実行する露光装置100について説明する。ここで、図14は、露光装置100の構成を示す概略ブロック図である。
10 バス配線
20 制御部
30 表示部
40 記憶部
401 パターンデータ
402 有効光源情報
403 NA情報
404 λ情報
405 収差情報
406 偏光情報
407 レジスト情報
408 P演算子
409 空中像
410 マスクデータ
420 空中像計算プログラム
50 入力部
60 媒体インターフェース
70 記憶媒体
100 露光装置
110 光源
120 照明光学系
123 偏光制御部
125 開口絞り
130 マスク
140 投影光学系
150 ウエハ
170 主制御システム
Claims (9)
- 照明光学系を用いて原版を照明して、前記原版のパターンの像を投影光学系を介して基板に投影する際に、前記投影光学系の像面に形成される光強度分布をコンピュータによって算出する算出方法であって、
前記原版が前記投影光学系の物体面に配置されていない場合に前記投影光学系の瞳面に形成される有効光源を、複数の領域に分割するか否かを判定する判定ステップと、
前記有効光源を複数の領域に分割すると判定した場合に、前記有効光源を複数の領域に分割する分割ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、複数の点光源に分割された各点光源の位置に応じて、前記投影光学系の瞳を示す瞳関数をシフトさせることによってシフトされた複数の瞳関数を生成する生成ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記生成ステップで生成された前記複数の瞳関数を含む行列を定義する定義ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記定義ステップで定義された前記行列を特異値分解して固有値と固有関数とを算出する第1の算出ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記原版のパターンで回折された回折光の回折光分布、前記第1の算出ステップで算出された前記固有値と前記固有関数とに基づいて、前記投影光学系の像面に形成される光強度分布を算出する第2の算出ステップと、
前記第2の算出ステップで算出された前記複数の領域のそれぞれについての前記光強度分布を合成する合成ステップと、
を有することを特徴とする算出方法。 - 前記定義ステップで定義された前記行列について、前記行列の要素が全て0となる行又は列を削除して前記行列を圧縮する圧縮ステップを更に有し、
前記圧縮ステップで圧縮された前記行列を用いて、前記定義ステップ、前記第1の算出ステップ、前記第2の算出ステップ、及び、前記合成ステップを実行することを特徴とする請求項1に記載の算出方法。 - 前記判定ステップでは、前記有効光源を複数の点光源に分割したときの点光源の数が予め指定された範囲であれば、前記有効光源を複数の領域に分割すると判定することを特徴とする請求項1に記載の算出方法。
- 前記分割ステップでは、互いに異なる複数の分割モデルから選択される1つの分割モデルに従って前記有効光源を複数の領域に分割することを特徴とする請求項1に記載の算出方法。
- 前記分割ステップでは、前記有効光源を複数の領域に分割するための互いに異なる複数の分割モデルのそれぞれについて、前記生成ステップ、前記定義ステップ、前記第1の算出ステップ、前記第2の算出ステップ、及び、前記合成ステップを含む処理を実行したときの時間を算出し、当該時間が所定の時間よりも短くなる分割モデルに従って、前記有効光源を複数の領域に分割することを特徴とする請求項1に記載の算出方法。
- 前記複数の分割モデルは、前記有効光源を矩形形状に分割する分割モデル、前記有効光源に2次元座標を設定した場合において、前記有効光源を前記2次元座標の象限ごとに分割する分割モデル、前記有効光源を前記2次元座標の角度方向に分割する分割モデル、及び、前記有効光源を前記2次元座標の角度方向及び動径方向に分割する分割モデルのうち少なくとも2つを含むことを特徴とする請求項4又は5に記載の算出方法。
- 照明光学系を用いて原版を照明して、前記原版のパターンの像を投影光学系を介して基板に投影する際に、前記投影光学系の像面に形成される光強度分布を算出する処理をコンピュータに実行させるプログラムであって、
前記コンピュータに、
前記原版が前記投影光学系の物体面に配置されていない場合に前記投影光学系の瞳面に形成される有効光源を複数の領域に分割するか否かを判定する判定ステップと、
前記有効光源を複数の領域に分割すると判定した場合に、前記有効光源を複数の領域に分割する分割ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、複数の点光源に分割された各点光源の位置に応じて、前記投影光学系の瞳を示す瞳関数をシフトさせることによってシフトされた複数の瞳関数を生成する生成ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記生成ステップで生成された前記複数の瞳関数を含む行列を定義する定義ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記定義ステップで定義された前記行列を特異値分解して固有値と固有関数とを算出する第1の算出ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記原版のパターンで回折された回折光の回折光分布、前記第1の算出ステップで算出された前記固有値と前記固有関数とに基づいて、前記投影光学系の像面に形成される光強度分布を算出する第2の算出ステップと、
前記第2の算出ステップで算出された前記複数の領域のそれぞれについての前記光強度分布を合成する合成ステップと、
を実行させることを特徴とするプログラム。 - 照明光学系を用いて原版を照明して、前記原版のパターンの像を投影光学系を介して基板に投影する際に、前記投影光学系の像面に形成される光強度分布を算出する算出ステップと、
前記算出ステップで算出された前記光強度分布に基づいて露光条件を調整する調整ステップと、
前記調整ステップの後、前記原版のパターンの像を前記基板に投影する露光ステップと、
を有し、
前記算出ステップは、
前記原版が前記投影光学系の物体面に配置されていない場合に前記投影光学系の瞳面に形成される有効光源を複数の領域に分割するか否かを判定する判定ステップと、
前記有効光源を複数の領域に分割すると判定した場合に、前記有効光源を複数の領域に分割する分割ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、複数の点光源に分割された各点光源の位置に応じて、前記投影光学系の瞳を示す瞳関数をシフトさせることによってシフトされた複数の瞳関数を生成する生成ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記生成ステップで生成された前記複数の瞳関数を含む行列を定義する定義ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記定義ステップで定義された前記行列を特異値分解して固有値と固有関数とを算出する第1の算出ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記原版のパターンで回折された回折光の回折光分布、前記第1の算出ステップで算出された前記固有値と前記固有関数とに基づいて、前記投影光学系の像面に形成される光強度分布を算出する第2の算出ステップと、
前記第2の算出ステップで算出された前記複数の領域のそれぞれについての前記光強度分布を合成する合成ステップと、
を含むことを特徴とする露光方法。 - 照明光学系を用いて原版を照明して、前記原版のパターンの像を投影光学系を介して基板に投影する際に、前記投影光学系の像面に形成される光強度分布を算出する処理をコンピュータに実行させるプログラムであって、
前記コンピュータに、
前記原版が前記投影光学系の物体面に配置されていない場合に前記投影光学系の瞳面に形成される有効光源を、複数の領域に分割して、前記複数の領域のそれぞれについて前記有効光源を複数の点光源に分割する分割ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記点光源の各位置に応じて、前記投影光学系の瞳を示す瞳関数をシフトさせることによってシフトされた複数の瞳関数を生成する生成ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記生成ステップで生成された前記複数の瞳関数を含む行列を定義する定義ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記定義ステップで定義された前記行列を特異値分解して固有値と固有関数とを算出する第1の算出ステップと、
前記複数の領域のそれぞれについて、前記原版のパターンで回折された回折光の回折光分布、前記第1の算出ステップで算出された前記固有値と前記固有関数とに基づいて、前記投影光学系の像面に形成される光強度分布を算出する第2の算出ステップと、
前記第2の算出ステップで算出された前記複数の領域のそれぞれについての前記光強度分布を合成する合成ステップと、
を実行させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008184152A JP5086926B2 (ja) | 2008-07-15 | 2008-07-15 | 算出方法、プログラム及び露光方法 |
EP09163748.8A EP2146249B1 (en) | 2008-07-15 | 2009-06-25 | Program and exposure method |
US12/492,736 US8411253B2 (en) | 2008-07-15 | 2009-06-26 | Computer readable medium and exposure method |
TW098122792A TWI414901B (zh) | 2008-07-15 | 2009-07-06 | 電腦可讀取媒體以及曝光方法 |
KR1020090063778A KR101030402B1 (ko) | 2008-07-15 | 2009-07-14 | 컴퓨터 판독가능한 매체 및 노광 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008184152A JP5086926B2 (ja) | 2008-07-15 | 2008-07-15 | 算出方法、プログラム及び露光方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010027693A JP2010027693A (ja) | 2010-02-04 |
JP5086926B2 true JP5086926B2 (ja) | 2012-11-28 |
Family
ID=41226760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008184152A Expired - Fee Related JP5086926B2 (ja) | 2008-07-15 | 2008-07-15 | 算出方法、プログラム及び露光方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8411253B2 (ja) |
EP (1) | EP2146249B1 (ja) |
JP (1) | JP5086926B2 (ja) |
KR (1) | KR101030402B1 (ja) |
TW (1) | TWI414901B (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4402145B2 (ja) * | 2007-10-03 | 2010-01-20 | キヤノン株式会社 | 算出方法、生成方法、プログラム、露光方法及び原版作成方法 |
JP5086926B2 (ja) * | 2008-07-15 | 2012-11-28 | キヤノン株式会社 | 算出方法、プログラム及び露光方法 |
JP5662762B2 (ja) * | 2009-11-20 | 2015-02-04 | キヤノン株式会社 | 有効光源を算出する方法及びプログラム、露光方法並びにデバイス製造方法 |
JP5842808B2 (ja) * | 2010-02-20 | 2016-01-13 | 株式会社ニコン | 瞳強度分布を調整する方法 |
JP5491272B2 (ja) * | 2010-05-07 | 2014-05-14 | キヤノン株式会社 | 決定方法、露光方法及びプログラム |
JP2012151246A (ja) * | 2011-01-18 | 2012-08-09 | Canon Inc | 有効光源の決定プログラム、露光方法、デバイス製造方法及び周波数フィルタの強度透過率分布の決定プログラム |
RU2631335C2 (ru) * | 2011-12-31 | 2017-09-21 | Филипс Лайтинг Холдинг Б.В. | Персонализированное освещение открытого участка |
JP6112872B2 (ja) * | 2013-01-18 | 2017-04-12 | キヤノン株式会社 | 撮像システム、画像処理方法、および撮像装置 |
US8875066B2 (en) * | 2013-03-15 | 2014-10-28 | Synopsys, Inc. | Performing image calculation based on spatial coherence |
TWI585512B (zh) * | 2015-03-12 | 2017-06-01 | 力晶科技股份有限公司 | 提升圖案精密度的方法 |
DE102018216344A1 (de) * | 2018-09-25 | 2020-03-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abstützung eines optischen elements |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2715895B2 (ja) * | 1994-01-31 | 1998-02-18 | 日本電気株式会社 | 光強度分布シミュレーション方法 |
JPH0989720A (ja) * | 1995-09-21 | 1997-04-04 | Canon Inc | 光学系の結像評価装置 |
JP3256678B2 (ja) | 1998-02-19 | 2002-02-12 | 株式会社東芝 | レンズの収差測定方法 |
US6223139B1 (en) | 1998-09-15 | 2001-04-24 | International Business Machines Corporation | Kernel-based fast aerial image computation for a large scale design of integrated circuit patterns |
TW552561B (en) * | 2000-09-12 | 2003-09-11 | Asml Masktools Bv | Method and apparatus for fast aerial image simulation |
TWI285295B (en) | 2001-02-23 | 2007-08-11 | Asml Netherlands Bv | Illumination optimization in lithography |
JP3992688B2 (ja) * | 2003-01-14 | 2007-10-17 | エーエスエムエル マスクツールズ ビー.ブイ. | コンタクト・ホール・マスクの光学的近接補正設計の方法 |
US7030966B2 (en) | 2003-02-11 | 2006-04-18 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and method for optimizing an illumination source using photolithographic simulations |
EP1465016A3 (en) | 2003-03-31 | 2008-10-15 | ASML MaskTools B.V. | Illumination source and photomask optimization |
EP1719019A2 (en) | 2004-02-03 | 2006-11-08 | Mentor Graphics Corporation | Source optimization for image fidelity and throughput |
DE602006002044D1 (de) | 2005-02-23 | 2008-09-18 | Asml Masktools Bv | Methode und Apparat zur Optimierung der Beleuchtung einer Schicht eines vollständigen Chips |
JP2006324446A (ja) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Canon Inc | パターン描画システムにおけるデータ出力装置、データ出力方法、パターン描画装置およびパターン描画方法 |
JP2007273560A (ja) | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Toshiba Corp | 光強度分布シミュレーション方法 |
JP5235322B2 (ja) * | 2006-07-12 | 2013-07-10 | キヤノン株式会社 | 原版データ作成方法及び原版データ作成プログラム |
JP4804294B2 (ja) * | 2006-09-20 | 2011-11-02 | キヤノン株式会社 | 原版データ作成プログラム、原版データ作成方法、原版作成方法、露光方法及びデバイスの製造方法 |
US20080158529A1 (en) * | 2006-12-28 | 2008-07-03 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
JP4402145B2 (ja) * | 2007-10-03 | 2010-01-20 | キヤノン株式会社 | 算出方法、生成方法、プログラム、露光方法及び原版作成方法 |
JP5086926B2 (ja) * | 2008-07-15 | 2012-11-28 | キヤノン株式会社 | 算出方法、プログラム及び露光方法 |
JP5159501B2 (ja) * | 2008-08-06 | 2013-03-06 | キヤノン株式会社 | 原版データ作成プログラム、原版データ作成方法、原版作成方法、露光方法及びデバイス製造方法 |
-
2008
- 2008-07-15 JP JP2008184152A patent/JP5086926B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-06-25 EP EP09163748.8A patent/EP2146249B1/en not_active Not-in-force
- 2009-06-26 US US12/492,736 patent/US8411253B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-06 TW TW098122792A patent/TWI414901B/zh not_active IP Right Cessation
- 2009-07-14 KR KR1020090063778A patent/KR101030402B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI414901B (zh) | 2013-11-11 |
TW201007382A (en) | 2010-02-16 |
US8411253B2 (en) | 2013-04-02 |
EP2146249B1 (en) | 2014-03-12 |
KR20100008341A (ko) | 2010-01-25 |
US20100053580A1 (en) | 2010-03-04 |
EP2146249A1 (en) | 2010-01-20 |
KR101030402B1 (ko) | 2011-04-21 |
JP2010027693A (ja) | 2010-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5086926B2 (ja) | 算出方法、プログラム及び露光方法 | |
JP4402145B2 (ja) | 算出方法、生成方法、プログラム、露光方法及び原版作成方法 | |
US8635563B2 (en) | Mask data producing method and mask data producing program | |
KR100993851B1 (ko) | 원판 데이터 작성방법, 원판 작성방법, 노광방법, 디바이스제조방법, 및 원판 데이터를 작성하기 위한 컴퓨터 판독가능한 기억매체 | |
US20040265707A1 (en) | Source and mask optimization | |
US7761840B2 (en) | Mask data generation including a main pattern and an auxiliary pattern | |
JP5159501B2 (ja) | 原版データ作成プログラム、原版データ作成方法、原版作成方法、露光方法及びデバイス製造方法 | |
JP5607308B2 (ja) | 原版データ生成プログラムおよび方法 | |
JP6238687B2 (ja) | マスクパターン作成方法、光学像の計算方法 | |
JP4921536B2 (ja) | プログラム及び算出方法 | |
JP5607327B2 (ja) | 決定方法、露光方法、デバイスの製造方法及びプログラム | |
JP2010156849A (ja) | 生成方法、原版の作成方法、露光方法、デバイスの製造方法及びプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110708 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120730 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120810 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120907 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150914 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |