JP5082358B2 - Coating device, mounting device, and electronic component manufacturing method - Google Patents

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本発明は、IC(Integrated Circuit)等の回路素子やこれをパッケージングした電子部品にフラックス等のペースト状の処理剤を塗布する塗布装置、この塗布装置を搭載した実装装置、その塗布方法、電子部品の製造方法及び当該電子部品に関する。   The present invention relates to a coating apparatus for applying a paste-like treatment agent such as flux to circuit elements such as IC (Integrated Circuit) and electronic components packaged with the circuit element, a mounting apparatus equipped with this coating apparatus, a coating method thereof, an electronic The present invention relates to a component manufacturing method and the electronic component.

電子部品の製造工程において、例えばIC(Integrated Circuit)等の回路素子を基板に実装する技術として、例えばFC(Flip Chip)、CSP(Chip Size Package)、PoP(Package on Package)等がある。このような実装工程において、半田バンプ等の回路素子の電極にフラックスが塗布される。これは、電極の酸化防止のため、あるいは電極の濡れ性を高めることで回路素子と基板とが付着しやすいようにするためである。   In a manufacturing process of an electronic component, for example, there are FC (Flip Chip), CSP (Chip Size Package), PoP (Package on Package), and the like as techniques for mounting circuit elements such as IC (Integrated Circuit) on a substrate. In such a mounting process, flux is applied to the electrodes of circuit elements such as solder bumps. This is to prevent the electrodes from being oxidized or to increase the wettability of the electrodes so that the circuit element and the substrate are easily attached.

フラックスを塗布し、基板上に電子部品を搭載する装置として、フラックス保持部材(回転するプレート)上に凹部が設けられた装置がある(例えば、特許文献1参照。)。この特許文献1の装置では、その凹部内にフラックスが貯留し、その凹部内に電子部品の電極ボールが浸される。その凹部の深さがフラックス膜厚に相当する。また、この特許文献1の装置では、1つのプレート上に、深さの異なる複数の凹部が設けられ、複数の種類の電子部品に対応できる。   As an apparatus for applying a flux and mounting an electronic component on a substrate, there is an apparatus in which a concave portion is provided on a flux holding member (rotating plate) (see, for example, Patent Document 1). In the apparatus of Patent Document 1, flux is stored in the recess, and an electrode ball of an electronic component is immersed in the recess. The depth of the recess corresponds to the flux film thickness. Further, in the apparatus of Patent Document 1, a plurality of concave portions having different depths are provided on one plate, and can cope with a plurality of types of electronic components.

特開2005−347775(段落[0051]、[0062]、[0074])JP 2005-347775 (paragraphs [0051], [0062], [0074])

しかしながら、特許文献1の装置では、例えば同じ膜厚のフラックスを連続して2以上の電子部品に塗布する場合、フラックス保持部材を少なくとも1回転以上回転させなければならない。これでは、処理効率が悪くなる。   However, in the apparatus of Patent Document 1, for example, when a flux having the same film thickness is continuously applied to two or more electronic components, the flux holding member must be rotated at least once or more. This degrades the processing efficiency.

以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、フラックス等の処理剤の塗布処理の効率を高めることができる技術を提供すること、また、フラックス等の処理剤をプレート上に安定的に存在させることができ、メンテナンスを減らすことができる技術を提供することにある。 In view of the circumstances as described above, an object of the present invention, a providing child a technique that can increase the efficiency of the coating process of treating agent such as a flux, also a treating agent such as a flux stably on the plate The object is to provide a technology that can exist and reduce maintenance.

上記目的を達成するため、本発明に係る塗布装置は、
回転可能に設けられ、ペースト状の処理剤が供給されるプレートと、
前記プレート上に隙間をあけて配置され、前記プレートの回転により前記処理剤が前記隙間を通ることで前記プレート上に前記処理剤の膜を形成する膜形成部材と、
前記プレートに対面し前記プレートの回転により前記膜形成部材へ向かう前記処理剤を前記プレートに押し付ける上壁と、前記プレートによる回転の外周側に設けられた外周壁とを有し、前記膜形成部材に近接して配置された押し付け部材と、
前記隙間の大きさを変えるように前記膜形成部材を移動させる移動機構と、
処理対象となる電子部品の情報に応じて前記移動機構の移動を制御する制御手段と
を具備する。
In order to achieve the above object, a coating apparatus according to the present invention comprises:
A plate provided rotatably and supplied with a paste-like treatment agent;
A film forming member that is disposed with a gap on the plate, and forms a film of the treatment agent on the plate by passing the gap by the rotation of the plate;
The film forming member has an upper wall that faces the plate and presses the processing agent toward the film forming member by rotation of the plate against the plate, and an outer peripheral wall provided on an outer peripheral side of the rotation by the plate. A pressing member disposed in proximity to,
A moving mechanism for moving the film forming member so as to change the size of the gap;
Control means for controlling movement of the moving mechanism in accordance with information on the electronic component to be processed.

本発明では、プレートに塗布される処理剤の膜厚を自動で変更することができる。したがって、処理剤の塗布処理の効率を高めることがでる。また、処理剤の膜厚が高精度に制御されるので、電子部品に塗布される処理剤の膜厚の信頼性が向上する。   In this invention, the film thickness of the processing agent apply | coated to a plate can be changed automatically. Therefore, the efficiency of the treatment agent coating process can be increased. Moreover, since the film thickness of the processing agent is controlled with high accuracy, the reliability of the film thickness of the processing agent applied to the electronic component is improved.

本発明の一の形態によれば、前記制御手段は、前記電子部品の情報のうち第1の電子部品情報に応じて、前記処理剤の膜を第1の膜厚で形成した後、前記プレートを1回転以下の所定の角度分回転させ、前記第1の電子部品情報とは異なる第2の電子部品情報に応じて、前記処理剤の膜を前記第1の膜厚とは異なる第2の膜厚で形成するように、前記移動機構を制御する。これにより、例えば異なる2つの種類の電子部品に連続的に処理剤の塗布処理を行うことができる。   According to one form of this invention, the said control means forms the said film | membrane of the said processing agent by 1st film thickness according to 1st electronic component information among the information of the said electronic component, Then, the said plate Is rotated by a predetermined angle equal to or less than one rotation, and the film of the treatment agent is different from the first film thickness in accordance with second electronic component information different from the first electronic component information. The moving mechanism is controlled so as to form with a film thickness. Thereby, for example, two different types of electronic components can be continuously applied with the treatment agent.

膜形成部材により処理剤がならされるときに膜形成部材に付着した処理剤が盛り上がるが、押し付け部材によりその盛り上がりが上から押さえ付けられる。これにより、処理剤がプレート外へ流出する等の問題を解決でき、処理剤をプレート上に安定的に存在させることができる。したがって、メンテナンスも減らすことができる。   When the treatment agent is smoothed by the film forming member, the treatment agent adhering to the film forming member rises, but the swell is pressed from above by the pressing member. Thereby, problems, such as a processing agent flowing out of a plate, can be solved and a processing agent can exist stably on a plate. Therefore, maintenance can also be reduced.

本発明の一の形態によれば、前記押し付け部材は、前記プレートに対面する上壁と、前記プレートによる回転の外周側に設けられた外周壁とを有する。これにより、特にプレート上の回転外周側での処理剤の盛り上がりを抑制し、また、処理剤がプレート外へ流れてしまうことを防止することができる。押し付け部材は、外周壁に対向する内周壁をさらに有していてもよい。   According to one form of this invention, the said pressing member has the upper wall facing the said plate, and the outer peripheral wall provided in the outer peripheral side of rotation by the said plate. Thereby, it is possible to suppress the swell of the processing agent particularly on the rotating outer peripheral side on the plate, and to prevent the processing agent from flowing out of the plate. The pressing member may further have an inner peripheral wall facing the outer peripheral wall.

本発明の一の形態によれば、前記上壁は、前記膜形成部材に向かうにしたがい徐々に前記プレートに近づく内面を有する。これにより、処理剤が徐々に押さえ付けられ、膜形成部材の前できれいな処理剤の膜を形成することができる。「徐々に」とは、「連続的に」及び「段階的に」の両方の意味を含む。以下、同様である。   According to one form of this invention, the said upper wall has an inner surface which approaches the said plate gradually as it goes to the said film formation member. Thereby, the processing agent is gradually pressed down, and a clean processing agent film can be formed in front of the film forming member. “Gradually” includes both “continuously” and “stepwise” meanings. The same applies hereinafter.

本発明の一の形態によれば、前記上壁は、前記外周壁に向かうにしたがい徐々にプレートに近づく内面を有する。これにより、外周側の滞留する処理剤を内周側へ流動させることができ、外周側での処理剤の盛り上がり効果的に抑制することができる。   According to one form of this invention, the said upper wall has an inner surface which approaches a plate gradually as it goes to the said outer peripheral wall. Thereby, the processing agent staying on the outer peripheral side can flow to the inner peripheral side, and the rising of the processing agent on the outer peripheral side can be effectively suppressed.

本発明の一の形態によれば、前記上壁は、内面と、前記内面に、前記回転の周方向に形成された複数の溝とを有する。これにより、押し付け部材の内部で処理剤が周方向の溝に沿って流動するようになる。したがって、外周側へ処理剤が移動することを抑制することができる。   According to an aspect of the present invention, the upper wall includes an inner surface and a plurality of grooves formed in the inner surface in the circumferential direction of the rotation. Thereby, a processing agent comes to flow along the groove | channel of the circumferential direction inside a pressing member. Therefore, it can suppress that a processing agent moves to the outer peripheral side.

本発明の一の形態によれば、前記上壁は、内面と、前記プレートの回転により処理剤が徐々に回転の内周側へ向かうように、前記内面に形成された複数の溝とを有する。これにより、処理剤が内周側へ流動するようになるので、外周側での処理剤の盛り上がり効果的に抑制することができる。   According to an aspect of the present invention, the upper wall includes an inner surface and a plurality of grooves formed on the inner surface so that the processing agent gradually moves toward the inner peripheral side of the rotation by the rotation of the plate. . Thereby, since a processing agent comes to flow to the inner peripheral side, the rising of the processing agent on the outer peripheral side can be effectively suppressed.

本発明の一の形態によれば、塗布装置は、前記処理剤が流動するときの圧力により前記押し付け部材が移動するように該押し付け部材を支持する支持機構と、前記押し付け部材の動きを検出する検出手段とをさらに具備する。例えば、処理剤がプレート上に供給された初期の状態から、処理剤が消費されて所定の量になった場合には、その初期状態から押し付け部材の位置が変わる。したがって、その押し付け部材の動きが検出されることにより、押し付け部材により押し付けられている処理剤の量を確認することができる。その結果、プレート上の処理剤の膜厚を容易に管理することができる。   According to an aspect of the present invention, the coating apparatus detects a movement of the pressing member, a support mechanism that supports the pressing member so that the pressing member moves by pressure when the processing agent flows. Detection means. For example, when the processing agent is consumed and reaches a predetermined amount from the initial state where the processing agent is supplied onto the plate, the position of the pressing member changes from the initial state. Therefore, by detecting the movement of the pressing member, the amount of the processing agent pressed by the pressing member can be confirmed. As a result, the film thickness of the treatment agent on the plate can be easily managed.

本発明の一の形態によれば、前記支持機構は、前記押し付け部材を弾性的に支持する。これにより、処理剤の量に応じて、精度よく押し付け部材の位置が定められる。その結果、検出手段による当該位置の検出精度が向上する。   According to an aspect of the present invention, the support mechanism elastically supports the pressing member. Thereby, the position of the pressing member is accurately determined according to the amount of the processing agent. As a result, the detection accuracy of the position by the detection means is improved.

本発明の一の形態によれば、前記押し付け部材の膜形成部材側に設けられ、前記押し付け部材を回動させるヒンジ機構を有する。本発明では、ヒンジ機構を軸として押し付け部材が回動することで押し付け部材が移動する。つまり、押し付け部材の膜形成部材側とは反対側から処理剤が流入する。   According to one form of this invention, it has the hinge mechanism which is provided in the film | membrane formation member side of the said pressing member, and rotates the said pressing member. In the present invention, the pressing member moves as the pressing member rotates about the hinge mechanism. That is, the processing agent flows from the side opposite to the film forming member side of the pressing member.

本発明の一の形態によれば、前記支持機構は、前記押し付け部材を回動させるヒンジ機構と、前記押し付け部材を弾性的に保持するバネとを有する。これにより、処理剤の量に応じて、精度良く押し付け部材の位置が定められる。その結果、検出手段による検出精度が向上する。本発明の場合、ヒンジ機構は膜形成部材側でも、その反対側である処理剤の流入側でも、どちらに配置されていてもよい。   According to an aspect of the present invention, the support mechanism includes a hinge mechanism that rotates the pressing member, and a spring that elastically holds the pressing member. Thereby, the position of the pressing member is accurately determined according to the amount of the processing agent. As a result, the detection accuracy by the detection means is improved. In the case of the present invention, the hinge mechanism may be arranged on either the film forming member side or the treatment agent inflow side on the opposite side.

本発明の一の形態によれば、前記支持機構は、前記押し付け部材がリニアに移動可能に支持するリニア移動機構を有する。押し付け部材が自重により移動する形態であってもよい。あるいは、支持機構が押し付け部材を弾性的に支持するバネをさらに有していてもよい。リニア移動機構の移動方向は、上下方向でもよいし、斜め方向でもよい。   According to one form of this invention, the said support mechanism has a linear moving mechanism which the said pressing member supports so that a linear movement is possible. The pressing member may be moved by its own weight. Alternatively, the support mechanism may further include a spring that elastically supports the pressing member. The moving direction of the linear moving mechanism may be the vertical direction or the oblique direction.

本発明の一の形態によれば、塗布装置は、前記押し付け部材の動きを検出する検出手段をさらに具備し、前記押し付け部材は板バネ状に作用する。本発明でも同様に、精度良く押し付け部材の位置が定められ、検出手段による検出精度が向上する。   According to an aspect of the present invention, the coating apparatus further includes detection means for detecting the movement of the pressing member, and the pressing member acts like a leaf spring. Similarly, in the present invention, the position of the pressing member is determined with high accuracy, and the detection accuracy by the detection means is improved.

本発明の一の形態によれば、前記押し付け部材は、透明または半透明な材質で構成される。押し付け部材の透明度は、押し付け部材とプレートの間にある処理剤の残量が目視で確認できる程度の透明度であればよい。   According to an aspect of the present invention, the pressing member is made of a transparent or translucent material. The transparency of the pressing member may be such that the remaining amount of the processing agent between the pressing member and the plate can be visually confirmed.

本発明の一の形態によれば、塗布装置は、前記プレート上に設けられたカバーをさらに具備する。これにより、塵や埃がプレートや処理剤に付着することを防止することができる。また、処理剤の乾燥を抑制することができ、処理剤の寿命を延ばすことができる。   According to an aspect of the present invention, the coating apparatus further includes a cover provided on the plate. Thereby, dust and dust can be prevented from adhering to the plate and the processing agent. Moreover, drying of a processing agent can be suppressed and the lifetime of a processing agent can be extended.

本発明の一の形態によれば、前記カバーは、前記押し付け部材に近接して配置されている。処理剤は、押し付け部材の下に最も多く存在するので、その処理剤の乾燥を抑制することができる。   According to one form of this invention, the said cover is arrange | positioned adjacent to the said pressing member. Since the treatment agent is most present under the pressing member, drying of the treatment agent can be suppressed.

本発明の一の形態によれば、前記押し付け部材は、前記上流側に設けられた開口を有し、前記カバーは、前記開口の一部を塞ぐように設けられた壁部材を有する。これにより、押し付け部材で押し付けられた処理剤の乾燥を抑えることができる。また、例えば、実装装置の、電子部品を保持する保持ヘッドが電子部品を保持できずに、処理剤上に残した場合、プレートが回転し電子部品が移動しても壁部材に当る。つまり、電子部品が押し付け部材まで移動してしまうことを防止することができる。   According to an aspect of the present invention, the pressing member has an opening provided on the upstream side, and the cover has a wall member provided so as to close a part of the opening. Thereby, drying of the processing agent pressed by the pressing member can be suppressed. Further, for example, when the holding head for holding the electronic component of the mounting apparatus cannot hold the electronic component and is left on the processing agent, even if the plate rotates and the electronic component moves, it hits the wall member. That is, it is possible to prevent the electronic component from moving to the pressing member.

以上のように、本発明によれば、フラックス等の処理剤の塗布処理の効率を高めることができる処理剤をプレート上に安定的に存在させることができる。   As described above, according to the present invention, a treatment agent that can increase the efficiency of coating treatment with a treatment agent such as flux can be stably present on the plate.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1は、本発明の一実施の形態に係る電子部品の実装装置を示す斜視図である。本実装装置10は、ある電子部品上に別の電子部品を実装する装置である。典型的には、BGA(Ball Grid Array)等の回路素子がプリント配線基板上に実装される。実装装置10は、特に、FC(Flip Chip)技術、PoP(Package on Package)技術、CSP(Chip Size Package)技術等に利用される。この実装装置10で処理された2つの電子部品は、別の装置で、熱圧着やその他の方法によるボンディングが行われる。   FIG. 1 is a perspective view showing an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention. The mounting apparatus 10 is an apparatus for mounting another electronic component on a certain electronic component. Typically, a circuit element such as a BGA (Ball Grid Array) is mounted on a printed wiring board. The mounting apparatus 10 is used particularly for FC (Flip Chip) technology, PoP (Package on Package) technology, CSP (Chip Size Package) technology, and the like. The two electronic components processed by the mounting apparatus 10 are bonded by thermocompression bonding or other methods in another apparatus.

実装装置10は、実装機構1、フラックス塗布ユニット5、トレイ11、パーツカセット7等を備えている。   The mounting apparatus 10 includes a mounting mechanism 1, a flux application unit 5, a tray 11, a parts cassette 7, and the like.

実装機構1は、回路素子等の処理対象となる電子部品Wを保持して、例えばプリント配線基板3上に実装する機構である。具体的には、実装機構10は、電子部品Wを保持する吸着ノズル29、吸着ノズル29が装着された装着ヘッド8、この装着ヘッド8を3軸(X軸、Y軸及びZ軸)で移動させるヘッド移動機構2を備えている。このヘッド移動機構2は、例えばボールネジ駆動、ベルト駆動、リニアモータ駆動、またはその他の駆動方式が用いられる。吸着ノズル29は、例えば図示しない真空発生源による真空吸着で電子部品Wを保持する。真空吸着に代えて、メカ的に保持されるようにしてもよい。   The mounting mechanism 1 is a mechanism that holds an electronic component W to be processed, such as a circuit element, and mounts it on, for example, the printed wiring board 3. Specifically, the mounting mechanism 10 moves the suction nozzle 29 that holds the electronic component W, the mounting head 8 to which the suction nozzle 29 is mounted, and the mounting head 8 in three axes (X axis, Y axis, and Z axis). A head moving mechanism 2 is provided. The head moving mechanism 2 uses, for example, ball screw driving, belt driving, linear motor driving, or other driving methods. The suction nozzle 29 holds the electronic component W by vacuum suction using a vacuum generation source (not shown), for example. Instead of vacuum suction, it may be mechanically held.

実装機構10は、吸着ノズル29に吸着された電子部品Wの位置等を観察する画像処理用のカメラ9を備えている。カメラ9は、吸着ノズル29より下方に配置されている。しかし、その配置はどこでもよく、吸着ノズル29と同じ程度の高さ、あるいはそれより高い位置に配置されてもよい。その場合、ミラー等の反射を利用して撮像することができる。カメラ9の撮像素子としては、例えばCCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)等が用いられればよい。   The mounting mechanism 10 includes an image processing camera 9 that observes the position and the like of the electronic component W sucked by the suction nozzle 29. The camera 9 is disposed below the suction nozzle 29. However, the arrangement may be anywhere and may be arranged at the same height as the suction nozzle 29 or higher. In that case, imaging can be performed using reflection from a mirror or the like. As the imaging element of the camera 9, for example, a CCD (Charge Coupled Device), a CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor), or the like may be used.

パーツカセット7には、TAB(Tape Automated Bonding)用のテープが収納されている。トレイ11には、電子部品Wが縦横に配列されて収容されている。パーツカセット7は、支持台6により支持されている。電子部品Wはパーツカセット7によって供給されることもある。フラックス塗布ユニット5も、この支持台6に支持されている。パーツカセット7やフラックス塗布ユニット5は、支持台6に対して着脱可能に構成されている。トレイ11も同様に、トレイ支持台41に着脱可能となっていてもよい。   The parts cassette 7 stores a tape for TAB (Tape Automated Bonding). In the tray 11, the electronic components W are accommodated vertically and horizontally. The parts cassette 7 is supported by the support base 6. The electronic component W may be supplied by the parts cassette 7. The flux application unit 5 is also supported by the support base 6. The parts cassette 7 and the flux application unit 5 are configured to be detachable from the support base 6. Similarly, the tray 11 may be detachable from the tray support base 41.

図2は、フラックス塗布ユニット5を示す斜視図である。フラックス塗布ユニット5は、手前から順に塗布部16、駆動部17及び電装部18を備えている。図3は、塗布部16を示す斜視図である。図4は、塗布部16の平面図であり、図5は図4におけるA−A線断面図である。   FIG. 2 is a perspective view showing the flux application unit 5. The flux application unit 5 includes an application unit 16, a drive unit 17, and an electrical unit 18 in this order from the front. FIG. 3 is a perspective view showing the application unit 16. 4 is a plan view of the application unit 16, and FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG.

塗布部16は、基台19、基台19上に設けられペースト状の処理剤であるフラックスが供給されるプレート12、プレート12上に隙間m(図5参照)をあけて配置されたスキージ25、スキージ25に近接して配置され、フラックスをプレート12に押し付ける押し付けブロック26を含む。また、塗布部16は、スキージ25を移動させる移動機構として、昇降移動させる昇降機構21を含む。昇降機構21は、図5に示すように、例えば図示しない部材によって固定されたサーボモータ22を備える。サーボモータ22の回転軸にはボールネジ22aが接続されている。また、昇降機構21は、ほぼ垂直に立設されたコラム23を備え、コラム23にはガイドレール23aが設けられている。ガイドレール23aには、リニアガイド24が昇降可能に設けられている。リニアガイド24の上部には、ボールネジ22aと接続される接続部材24aが固定されている。リニアガイド24には、装着部材27が接続され、この装着部材27にスキージ25が装着されている。なお、サーボモータ22の代わりに、ステッピングモータが用いられてもよい。   The application unit 16 includes a base 19, a plate 12 provided on the base 19 and supplied with a flux as a paste-like treatment agent, and a squeegee 25 disposed on the plate 12 with a gap m (see FIG. 5). , Located near the squeegee 25 and includes a pressing block 26 that presses the flux against the plate 12. The application unit 16 includes an elevating mechanism 21 that moves up and down as a moving mechanism that moves the squeegee 25. As shown in FIG. 5, the elevating mechanism 21 includes a servo motor 22 fixed by a member (not shown), for example. A ball screw 22 a is connected to the rotation shaft of the servo motor 22. The elevating mechanism 21 includes a column 23 erected substantially vertically, and the column 23 is provided with a guide rail 23a. A linear guide 24 is provided on the guide rail 23a so as to be movable up and down. A connection member 24 a connected to the ball screw 22 a is fixed to the upper part of the linear guide 24. A mounting member 27 is connected to the linear guide 24, and a squeegee 25 is mounted on the mounting member 27. A stepping motor may be used instead of the servo motor 22.

プレート12は、例えば円形であり、その外周部に側壁12aを有する。スキージ25は、プレート12上に供給されたフラックスをならして膜を形成する膜形成部材である。スキージ25は、金属、樹脂、ガラスまたはセラミックス等の材料で構成される。スキージ25とプレート12の膜形成面12bとの隙間mは、所定の距離tに設定されている。後述するように、プレート12は中心軸28(図5参照)を中心に回転する。したがって、プレート12上に供給されたフラックスは、隙間mを通ることで、上記距離t(膜厚t)のフラックスの膜が形成される。なお、フラックスは、手動または自動によってプレート12上に供給される。この場合、作業者による人手でフラックスが供給されてもよいし、プレート12上にフラックスの供給装置(図示せず)が設けられていてもよい。この供給装置が設けられる場合、手動または自動によりプレート12上にフラックスが供給される。   The plate 12 is circular, for example, and has a side wall 12a on the outer periphery thereof. The squeegee 25 is a film forming member that forms a film by leveling the flux supplied onto the plate 12. The squeegee 25 is made of a material such as metal, resin, glass or ceramics. A gap m between the squeegee 25 and the film forming surface 12b of the plate 12 is set to a predetermined distance t. As will be described later, the plate 12 rotates around the central axis 28 (see FIG. 5). Therefore, the flux supplied onto the plate 12 passes through the gap m, whereby a flux film having the distance t (film thickness t) is formed. The flux is supplied onto the plate 12 manually or automatically. In this case, the flux may be supplied manually by an operator, or a flux supply device (not shown) may be provided on the plate 12. When this supply device is provided, the flux is supplied onto the plate 12 manually or automatically.

図6は、塗布部16、駆動部17及び実装装置10の制御系を示す図である。駆動部17は、モータ31、タイミングベルト34がかけられた一対のタイミングプーリ37a及び37b、モータ31の回転軸32にカップリング33を介して接続され、その回転を上記タイミングプーリ37aに伝達するウォームギア36及びウォームホイール35を含む。タイミングプーリ37bは、プレート12の中心軸28に接続されている。このような構成により、モータ31の駆動によりプレート12が中心軸28を中心に回転する。   FIG. 6 is a diagram illustrating a control system of the coating unit 16, the driving unit 17, and the mounting apparatus 10. The drive unit 17 is connected to a motor 31, a pair of timing pulleys 37 a and 37 b to which a timing belt 34 is applied, and a rotating shaft 32 of the motor 31 via a coupling 33, and transmits the rotation to the timing pulley 37 a. 36 and a worm wheel 35. The timing pulley 37 b is connected to the central axis 28 of the plate 12. With such a configuration, the plate 12 rotates about the central axis 28 by driving the motor 31.

実装装置10は、メイン制御部42、電子部品情報記憶部43、通信インターフェース44を備えている。フラックス塗布ユニット5の電装部18は、制御部46、膜厚管理テーブル記憶部47、通信インターフェース45を含む。   The mounting apparatus 10 includes a main control unit 42, an electronic component information storage unit 43, and a communication interface 44. The electrical unit 18 of the flux application unit 5 includes a control unit 46, a film thickness management table storage unit 47, and a communication interface 45.

電子部品情報記憶部43には、電子部品Wに関する情報が記憶されている。電子部品Wに関する情報を、以下、単に電子部品情報という。電子部品情報については後述する。メイン制御部42は、上記ヘッド移動機構2の駆動やそのタイミングを制御し、また、電子部品情報記憶部43から電子部品情報(またはその電子部品情報の一部)を抽出して電装部18に送出する。   Information regarding the electronic component W is stored in the electronic component information storage unit 43. Hereinafter, the information regarding the electronic component W is simply referred to as electronic component information. The electronic component information will be described later. The main control unit 42 controls the driving of the head moving mechanism 2 and the timing thereof, and extracts electronic component information (or a part of the electronic component information) from the electronic component information storage unit 43 to the electrical unit 18. Send it out.

膜厚管理テーブル記憶部47は、電子部品情報と、塗布部16のプレート12上に形成されるフラックス膜の膜厚とが関連付けされたテーブルを記憶している。制御部46は、モータ31の駆動やそのタイミングを制御する。また、制御部46は、実装装置10側から取得した上記電子部品情報に応じてサーボモータ22の駆動を制御し、またそのタイミングを制御する。   The film thickness management table storage unit 47 stores a table in which electronic component information is associated with the film thickness of the flux film formed on the plate 12 of the application unit 16. The control unit 46 controls driving of the motor 31 and its timing. Further, the control unit 46 controls the drive of the servo motor 22 according to the electronic component information acquired from the mounting apparatus 10 side, and also controls the timing thereof.

通信インターフェース44及び45は、例えば通信に必要なソフトウェアやハードウェアの概念が含まれる。例えば通信手段としては、LAN(Local Area Network)、RS−232C等、どのような通信手段でも構わない。   The communication interfaces 44 and 45 include the concept of software and hardware necessary for communication, for example. For example, any communication means such as a LAN (Local Area Network) or RS-232C may be used as the communication means.

図7は、押し付けブロック26を示す斜視図である。押し付けブロック26は、プレート12の回転によるスキージ25の上流側に配置されている。典型的には、押し付けブロック26は、スキージ25にネジ穴26a等においてネジにより固定されている。しかし、固定手段は、他の手段でもよい。また、押し付けブロック26は、スキージ25に固定される場合のほか、図示しない他の部材、例えば基台19等に適当な部材を介して固定されていてもよい。   FIG. 7 is a perspective view showing the pressing block 26. The pressing block 26 is arranged on the upstream side of the squeegee 25 by the rotation of the plate 12. Typically, the pressing block 26 is fixed to the squeegee 25 with screws in the screw holes 26a and the like. However, the fixing means may be other means. In addition to the case where the pressing block 26 is fixed to the squeegee 25, the pressing block 26 may be fixed to another member (not shown) such as the base 19 via an appropriate member.

押し付けブロック26は、図4に示すように、円の一部の形状を有している。その角度θは、例えば60°程度に設定されているが、これに限られない。押し付けブロック26は、プレート12に対面する上壁26b、回転外周側に設けられた外周壁26cを有する。また、押し付けブロック26は、内周側に設けられた内周壁26dを有する。これら外周壁26cの下端26g及び内周壁26dの下端26hは、プレート12から所定の距離s(図8参照)だけ離れている。この距離sと上記距離tとの関係は、s>tである。しかし、sとtは実質的に同じであってもよい。あるいはs<tであってもよい。   As shown in FIG. 4, the pressing block 26 has a shape of a part of a circle. The angle θ is set to, for example, about 60 °, but is not limited thereto. The pressing block 26 has an upper wall 26b facing the plate 12 and an outer peripheral wall 26c provided on the rotating outer peripheral side. The pressing block 26 has an inner peripheral wall 26d provided on the inner peripheral side. The lower end 26g of the outer peripheral wall 26c and the lower end 26h of the inner peripheral wall 26d are separated from the plate 12 by a predetermined distance s (see FIG. 8). The relationship between the distance s and the distance t is s> t. However, s and t may be substantially the same. Or s <t may be sufficient.

図8は、押し付けブロック26の外周壁26cに沿って見た断面図である。見方を変えると、押し付けブロック26は、上流側の開口26e及び下流側の開口26jを有し、さらに上流側開口26eから下流側開口26jにかけてフラックスが通る内部領域26iを有する。矢印はプレート12の回転方向を示している。また、上壁26bの内面26fは、スキージ25に向かうにしたがって徐々にプレート12に近づくように斜めに形成されている。すなわち、上流側開口26eから下流側開口26jに向かって徐々に内部領域26iの高さが小さくなっている。これにより、プレート12の回転時にフラックスFが徐々に押さえ付けられ、スキージ25でならされる前に、きれいなフラックス膜を形成することができる。   FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the outer peripheral wall 26 c of the pressing block 26. In other words, the pressing block 26 has an upstream opening 26e and a downstream opening 26j, and further has an internal region 26i through which the flux passes from the upstream opening 26e to the downstream opening 26j. The arrow indicates the direction of rotation of the plate 12. Further, the inner surface 26f of the upper wall 26b is formed obliquely so as to gradually approach the plate 12 toward the squeegee 25. That is, the height of the inner region 26i gradually decreases from the upstream opening 26e toward the downstream opening 26j. As a result, the flux F is gradually pressed when the plate 12 is rotated, and a clean flux film can be formed before being smoothed by the squeegee 25.

押し付けブロック26は、金属、樹脂、ガラス、セラミックス等で構成される。樹脂やガラスの場合、内部領域が視認できるように透明または半透明の材質で構成されていてもよい。   The pressing block 26 is made of metal, resin, glass, ceramics, or the like. In the case of resin or glass, it may be made of a transparent or translucent material so that the internal region can be visually recognized.

図9(A)は、フラックス塗布ユニット5で処理される電子部品Wの例を示す側面図である。図9(B)はその平面図である。この電子部品Wは、BGAタイプの回路素子である。パッケージングの裏面には半田や金でなる電極のボール38が2次元的に配置されている。図9(C)は、図9(A)及び図9(B)で示した電子部品Wの各箇所の寸法を説明した図である。   FIG. 9A is a side view showing an example of the electronic component W processed by the flux application unit 5. FIG. 9B is a plan view thereof. This electronic component W is a BGA type circuit element. Electrode balls 38 made of solder or gold are two-dimensionally arranged on the back surface of the packaging. FIG. 9C is a diagram illustrating dimensions of each part of the electronic component W illustrated in FIGS. 9A and 9B.

図10は、電子部品情報記憶部43に記憶された電子部品情報の例を示す図である。例えば電子部品IDが「A」である電子部品情報については、上記部品厚さaがa1、横寸法bがb1、・・・、電子部品IDが「B」である電子部品情報については、部品厚さaがa2、横寸法bがb2、・・・という具合に、IDごとに異なる電子部品情報が定められている。   FIG. 10 is a diagram illustrating an example of electronic component information stored in the electronic component information storage unit 43. For example, for the electronic component information whose electronic component ID is “A”, for the electronic component information whose electronic component ID is “B”, the component thickness a is a1, the horizontal dimension b is b1,. Different electronic component information is defined for each ID such that the thickness a is a2, the lateral dimension b is b2, and so on.

図11は、上記膜厚管理テーブル記憶部47に記憶された膜厚管理テーブルの例を示す図である。この例では、例えば電子部品WのID(図10参照)「A」、「B」、「C」、・・・ごとに、プレート12上に形成されるフラックスの膜厚「t1」、「t2」、「t3」、・・・が定められている。   FIG. 11 is a diagram showing an example of the film thickness management table stored in the film thickness management table storage unit 47. In this example, film thicknesses “t1”, “t2” of the flux formed on the plate 12 for each ID (see FIG. 10) “A”, “B”, “C”,. , “T3”,...

図12は、フラックスの種類を示した表である。また、これらのフラックス以外でも、クリーム半田、接着剤等、ペースト状の処理剤であれば何でもよい。   FIG. 12 is a table showing the types of flux. In addition to these fluxes, any paste-like treatment agent such as cream solder or adhesive may be used.

以上のように構成された実装装置の動作を説明する。図13は、その動作を順に示す図である。図20は、その動作を示すフローチャートである。   The operation of the mounting apparatus configured as described above will be described. FIG. 13 is a diagram illustrating the operations in order. FIG. 20 is a flowchart showing the operation.

メイン制御部42は、トレイ11に収容された電子部品Wの電子部品情報またはそのうちのIDを電装部18に送る(ステップ2001)。制御部46は、その電子部品情報等を取得する(ステップ2002)。そうすると、制御部46は、膜厚管理テーブル記憶部47から膜厚管理テーブルを抽出し、その膜厚値に応じてサーボモータ22を駆動して、スキージ25の高さ位置を制御する(ステップ2003)。制御部46は、フラックスが供給されたプレート12を回転駆動させる(ステップ2004)。これにより、上記IDに対応する膜厚でフラックス膜が形成される。フラックス膜が形成されると、制御部46は、プレート12の回転を停止させる(ステップ2005)。この停止のタイミングは、例えば、プレート12が所定回数だけ回転したときでよい。この場合、その回転の回数は、フラックスの種類に応じて予め定められていてもよい。あるいは、回転停止のタイミングは、作業者の手動により行われてもよい。   The main control unit 42 sends the electronic component information of the electronic component W accommodated in the tray 11 or the ID of the electronic component information to the electrical unit 18 (step 2001). The control unit 46 acquires the electronic component information and the like (step 2002). Then, the control unit 46 extracts the film thickness management table from the film thickness management table storage unit 47, and drives the servo motor 22 according to the film thickness value to control the height position of the squeegee 25 (step 2003). ). The controller 46 rotates the plate 12 supplied with the flux (step 2004). Thereby, a flux film is formed with a film thickness corresponding to the ID. When the flux film is formed, the control unit 46 stops the rotation of the plate 12 (step 2005). The stop timing may be, for example, when the plate 12 is rotated a predetermined number of times. In this case, the number of rotations may be determined in advance according to the type of flux. Alternatively, the rotation stop timing may be manually performed by an operator.

メイン制御部42の制御に応じて、ヘッド移動機構2の駆動により装着ヘッド8が移動させられる。例えば、図13(A)に示すように、装着ヘッド8の移動により、吸着ノズル29によりトレイ11から電子部品Wが取り出される。図13(B)に示すように、吸着ノズル29は、電子部品Wを取り出すと、ヘッド移動機構2の駆動によりカメラ9の上方の位置まで移動する。なお、照明デバイス48により電子部品Wが照らされている。そしてカメラ9により、吸着ノズル29に対する電子部品Wの位置が画像処理で認識され、その位置ずれ量が記録される。   The mounting head 8 is moved by driving the head moving mechanism 2 in accordance with the control of the main control unit 42. For example, as shown in FIG. 13A, the electronic component W is taken out from the tray 11 by the suction nozzle 29 by the movement of the mounting head 8. As shown in FIG. 13B, when the electronic component W is taken out, the suction nozzle 29 moves to a position above the camera 9 by driving the head moving mechanism 2. The electronic device W is illuminated by the lighting device 48. Then, the position of the electronic component W with respect to the suction nozzle 29 is recognized by image processing by the camera 9, and the amount of displacement is recorded.

吸着ノズル29は、電子部品Wを吸着したまま、フラックス膜が形成されたプレート12上の位置まで移動する。この時の移動位置は、電子部品Wの吸着位置ずれ分だけ補正された位置となる。すなわち、吸着ノズル29ではなく電子部品Wが所定の位置になるように移動する。図13(C)に示すように、その位置から、吸着ノズル29がヘッド移動機構2の駆動により下降し、フラックスを電子部品Wに塗布する(ステップ2006)。このときもちろんプレート12は回転していない。例えば、電子部品Wは、スキージ25とは反対側、つまり180°程度離れた位置でフラックスが塗布されればよい。しかし、プレート12上の塗布位置は、これに限られず、例えばスキージ25から回転方向へ60°、90°、120°等離れた位置であってもよく、あるいはこれら以外の角度でもよい。この角度は、電子部品Wのサイズにもよる。   The suction nozzle 29 moves to a position on the plate 12 on which the flux film is formed while sucking the electronic component W. The moving position at this time is a position corrected by the amount of the suction position deviation of the electronic component W. That is, not the suction nozzle 29 but the electronic component W moves so as to be in a predetermined position. As shown in FIG. 13C, the suction nozzle 29 descends from the position by driving the head moving mechanism 2, and applies the flux to the electronic component W (step 2006). At this time, of course, the plate 12 is not rotating. For example, the electronic component W may be applied with the flux on the side opposite to the squeegee 25, that is, at a position separated by about 180 °. However, the application position on the plate 12 is not limited to this, and may be, for example, a position away from the squeegee 25 in the rotation direction by 60 °, 90 °, 120 °, or other angles. This angle also depends on the size of the electronic component W.

電子部品Wにフラックスが塗布されると、吸着ノズル29は、カメラ9の上方の位置まで移動する。なお、照明デバイス48により電子部品Wが照らされている。そしてカメラ9により、吸着ノズル29に対する電子部品Wの位置が画像処理で再度認識されその位置ずれ量が記録される。その後、吸着ノズル29は電子部品Wの位置ずれ分を加味して、電子部品Wをプリント配線基板3の上方の所定の位置まで移動する。そうすると、図13(D)に示すように、吸着ノズル29が下降し、電子部品Wは、プリント配線基板3上の所定の位置に載置され実装される(ステップ2006)。   When flux is applied to the electronic component W, the suction nozzle 29 moves to a position above the camera 9. The electronic device W is illuminated by the lighting device 48. Then, the position of the electronic component W with respect to the suction nozzle 29 is recognized again by image processing by the camera 9, and the amount of positional deviation is recorded. Thereafter, the suction nozzle 29 moves the electronic component W to a predetermined position above the printed wiring board 3 in consideration of the positional deviation of the electronic component W. Then, as shown in FIG. 13D, the suction nozzle 29 is lowered, and the electronic component W is placed and mounted at a predetermined position on the printed wiring board 3 (step 2006).

フラックス塗布前及び塗布後におけるカメラ9による電子部品Wの位置の認識処理について、そのどちらかを省略することもできる。   Either of the recognition processing of the position of the electronic component W by the camera 9 before and after the flux application can be omitted.

図14は、電子部品Wである回路素子の種類と、フラックスFの膜厚との関係の例を示す図である。図14(A)では、例えばボール直径が0.8mm、ピッチが1.5mmの場合、膜厚tは0.3mmである。図14(B)では、例えばボール直径が0.6mm、ピッチが1mmの場合、膜厚tは0.2mmである。図14(C)では、例えばボール直径が0.3mm、ピッチが0.65mmの場合、膜厚tは0.15mmである。この図14(A)〜図14(C)にそれぞれ示した回路素子の種類とフラックス膜厚との関係は一例に過ぎず、これらに限られない。例えば、フラックス膜厚をtmm、ボールの直径をfmmとすると、t=(1/3〜1/2)fでよい。   FIG. 14 is a diagram illustrating an example of the relationship between the type of the circuit element that is the electronic component W and the film thickness of the flux F. In FIG. 14A, for example, when the ball diameter is 0.8 mm and the pitch is 1.5 mm, the film thickness t is 0.3 mm. In FIG. 14B, for example, when the ball diameter is 0.6 mm and the pitch is 1 mm, the film thickness t is 0.2 mm. In FIG. 14C, for example, when the ball diameter is 0.3 mm and the pitch is 0.65 mm, the film thickness t is 0.15 mm. The relationship between the types of circuit elements and the flux film thickness shown in FIGS. 14A to 14C is merely an example, and is not limited thereto. For example, if the flux film thickness is tmm and the ball diameter is fmm, then t = (1/3 to 1/2) f.

このように、本実施の形態では、異なる種類の電子部品Wごとに、フラックス膜厚を自動で変更することができ、実装が容易になる。特に、1枚のプリント配線基板3に異なる種類の電子部品Wを連続的に実装することができる。例えば、図15(A)に示すように、例えばID「A」の電子部品に対して、領域121でフラックスが塗布される。なお、プレートは時計周りに回転するとする。続いて、膜厚管理テーブルの膜厚値に応じてスキージ25の高さ位置が変えられる。そして、図15(B)に示すように、例えばプレート12が120°程度時計回りにさらに回転して停止し、ID「B」の電子部品Wに対して領域122でフラックスが塗布される。このようにすれば、約120°ごとに、異なる種類の電子部品Wに連続的にフラックスを塗布することが可能となる。もちろん、120°より小さい回転角度ごとに塗布処理が行われてもよい。   Thus, in the present embodiment, the flux film thickness can be automatically changed for each different type of electronic component W, and mounting becomes easy. In particular, different types of electronic components W can be continuously mounted on one printed wiring board 3. For example, as shown in FIG. 15A, for example, a flux is applied in the region 121 to the electronic component with ID “A”. It is assumed that the plate rotates clockwise. Subsequently, the height position of the squeegee 25 is changed according to the film thickness value in the film thickness management table. Then, as shown in FIG. 15B, for example, the plate 12 further rotates clockwise by about 120 ° and stops, and flux is applied to the electronic component W with ID “B” in the region 122. If it does in this way, it will become possible to apply | coat a flux to the electronic component W of a different kind continuously about every 120 degrees. Of course, the coating process may be performed for each rotation angle smaller than 120 °.

上記特許文献1の(特開2005−347775)の装置では、1つのプレート上に、深さの異なる複数の凹部が設けられ、複数の種類の電子部品に対応できる。   In the device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-347775 described above, a plurality of concave portions having different depths are provided on one plate, and can cope with a plurality of types of electronic components.

図16に示すように例えば120°間隔で凹部が設けられている装置を想定する。凹部212a、212b、212cの深さが、それぞれt1、t2、t3と異なるものとする。この場合、例えば連続して同じ膜厚でフラックスが複数の電子部品に塗布される場合、1つの電子部品の処理が終了するごとにプレートが360°回転しなければならない。   As shown in FIG. 16, for example, an apparatus in which concave portions are provided at intervals of 120 ° is assumed. The depths of the recesses 212a, 212b, and 212c are different from t1, t2, and t3, respectively. In this case, for example, when flux is continuously applied to a plurality of electronic components with the same film thickness, the plate must be rotated 360 ° every time processing of one electronic component is completed.

また、例えば今、スキージ225とは180°離れた位置(凹部212bの位置)でフラックスが塗布されることを想定する。また、プレート212の回転方向は時計回りとする。この場合、凹部212bで膜厚t2のフラックスが塗布され、その次に、凹部212cで膜厚t3のフラックスが塗布される場合、プレート212が240°回転されなければならない。   For example, it is assumed that the flux is applied at a position 180 degrees away from the squeegee 225 (the position of the recess 212b). The rotation direction of the plate 212 is clockwise. In this case, when a flux having a film thickness t2 is applied in the recess 212b and then a flux having a film thickness t3 is applied in the recess 212c, the plate 212 must be rotated by 240 °.

図17(A)は、図16に示した装置において、膜厚の切り換えに必要なプレートの回転角度を示す表である。例えば切り換え前の膜厚がt1で、切り換え後の膜厚がt2であれば、240°の回転が必要である。これでは処理効率が悪い。また、膜厚の種類は凹部の数によるので、膜厚の種類を増やすにも限界がある。   FIG. 17A is a table showing the rotation angle of the plate necessary for switching the film thickness in the apparatus shown in FIG. For example, if the film thickness before switching is t1 and the film thickness after switching is t2, a rotation of 240 ° is necessary. This results in poor processing efficiency. Further, since the type of film thickness depends on the number of recesses, there is a limit to increasing the type of film thickness.

図17(B)は、本実施の形態に係るフラックス塗布ユニット5において、膜厚の切り換えに必要なプレート12の回転角度を示す表である。ここでは、120°ごとのプレート12の回転で1つの電子部品Wにフラックスの塗布処理が行われることを想定している。このように、すべて120°の回転で足りる。図17(A)の従来の装置の場合、この表に示した角度をすべて足し合わせると2160°となる。図17(B)の本実施の形態の場合、すべての角度を足し合わせると1080°となり、従来に比べ効率が2倍となる。また、本実施の形態では、膜厚を自由に設定することができる。   FIG. 17B is a table showing the rotation angle of the plate 12 necessary for switching the film thickness in the flux application unit 5 according to the present embodiment. Here, it is assumed that a flux application process is performed on one electronic component W by rotating the plate 12 every 120 °. Thus, a rotation of 120 ° is sufficient for all. In the case of the conventional apparatus of FIG. 17A, when all the angles shown in this table are added, it is 2160 °. In the case of the present embodiment shown in FIG. 17B, adding all the angles results in 1080 °, which is twice the efficiency as compared with the conventional case. In the present embodiment, the film thickness can be freely set.

このように、本実施の形態に係るフラックス塗布ユニット5では、処理効率が向上し、処理の高速化が図れる。このようなフラックス塗布処理の高速化の必要性を以下に述べる。   Thus, in the flux application unit 5 according to the present embodiment, the processing efficiency is improved and the processing speed can be increased. The necessity for speeding up such a flux coating process will be described below.

本実施の形態に係る実装装置10は、装着ヘッド8に吸着ノズル29が1本搭載される機種であり、いわゆる1by1という実装方法を示した。しかし、装着ヘッドに複数の吸着ノズルが搭載された機種もある(例えば、特開2001−77594)。この文献に記載された装置では、複数の電子部品に対して処理が行われる。すなわち、複数の電子部品に対して連続してフラックスの塗布処理が行われる。したがって、この場合、フラックス塗布のスピードが電子部品の実装のスピードを制限する要因となり、膜厚変更には高速性が必要になる。   The mounting apparatus 10 according to the present embodiment is a model in which one suction nozzle 29 is mounted on the mounting head 8, and a so-called 1by1 mounting method is shown. However, there is a model in which a plurality of suction nozzles are mounted on the mounting head (for example, JP-A-2001-77594). In the apparatus described in this document, processing is performed on a plurality of electronic components. That is, a flux application process is continuously performed on a plurality of electronic components. Therefore, in this case, the speed of flux application becomes a factor that limits the speed of mounting electronic components, and high speed is required to change the film thickness.

本実施の形態では、フラックスの膜厚が高精度に制御されるので、電子部品Wに塗布されるフラックス膜厚の信頼性が向上する。   In the present embodiment, since the film thickness of the flux is controlled with high accuracy, the reliability of the film thickness of the flux applied to the electronic component W is improved.

次に、押し付けブロック26の作用効果について説明するが、その前に、押し付けブロック26がない場合のフラックスの動きについて説明する。   Next, the operation and effect of the pressing block 26 will be described, but before that, the movement of the flux when the pressing block 26 is not provided will be described.

図18は、押し付けブロック26がない場合において、スキージ225によりフラックス膜が形成されるときの作用を説明するための図である。今、プレート212の回転方向は時計回りとする。図18(A)及び図18(B)に示すように、プレート212上に供給されているフラックスFがスキージ225によりならされる。このとき、スキージ225の上流側にあるフラックスFのうち、プレート212に接しているフラックスF(下の部分)は、その粘性やプレート212との間の摩擦力により、プレート212とともに円周方向に移動する。図18(B)に示すように、円周方向に進んだフラックスFのうち下の部分は、スキージ225とプレート212の隙間を通る。しかし、そのうち上の部分はスキージ225に当る。これによりその上の部分のフラックスFはスキージ225の押しのけ面225aに沿って上昇する。上昇したフラックスFは、プレート212からの回転力(摩擦力)を受けず、スキージ225からの押圧力を受け、押しのけ面225aとほぼ垂直な方向に移動する。これにより、フラックスFは元の位置よりプレート212の外周側へ移動し、再び下降してプレート212に接する。結果的に、図18(C)に示すように、フラックスFは螺旋状に回転しながら外周側へ移動するように流動する。図28は、外周側へ移動したフラックスFの様子を写真である。   FIG. 18 is a diagram for explaining the operation when the flux film is formed by the squeegee 225 when the pressing block 26 is not provided. Now, the rotation direction of the plate 212 is clockwise. As shown in FIGS. 18A and 18B, the flux F supplied on the plate 212 is leveled by the squeegee 225. At this time, out of the flux F on the upstream side of the squeegee 225, the flux F (lower part) in contact with the plate 212 is circumferentially together with the plate 212 due to its viscosity and frictional force with the plate 212. Moving. As shown in FIG. 18B, the lower part of the flux F that has progressed in the circumferential direction passes through the gap between the squeegee 225 and the plate 212. However, the upper part hits the squeegee 225. As a result, the flux F in the upper part rises along the displacement surface 225a of the squeegee 225. The raised flux F does not receive the rotational force (frictional force) from the plate 212, receives the pressing force from the squeegee 225, and moves in a direction substantially perpendicular to the displacement surface 225a. As a result, the flux F moves from the original position to the outer peripheral side of the plate 212 and descends again to contact the plate 212. As a result, as shown in FIG. 18C, the flux F flows so as to move to the outer peripheral side while rotating spirally. FIG. 28 is a photograph showing the state of the flux F that has moved to the outer peripheral side.

次に、押し付けブロック26がある場合について説明する。図19は、図4におけるB−B線断面図である。例えば、押し付けブロック26より上流側で、プレート12上にフラックスFが供給される。このとき、プレート12は回転していてもよいし止まっていてもよい。回転するプレート12上のフラックスFが、押し付けブロック26の内部領域26iを通る。そして、大部分のフラックスFが上記したようにスキージ25の上流側で螺旋状に流動し、外周側へ移動しようとして盛り上がる。図19に示すように、押し付けブロック26は、この盛り上がりを抑えることができる。これにより、フラックスFがプレート12外へ流出する等の問題を解決でき、フラックスFをプレート12上に安定的に存在させることができる。したがって、メンテナンスも減らすことができる。   Next, a case where the pressing block 26 is present will be described. 19 is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. For example, the flux F is supplied onto the plate 12 on the upstream side of the pressing block 26. At this time, the plate 12 may be rotating or may be stopped. The flux F on the rotating plate 12 passes through the inner region 26 i of the pressing block 26. As described above, most of the flux F flows spirally on the upstream side of the squeegee 25, and rises to move toward the outer peripheral side. As shown in FIG. 19, the pressing block 26 can suppress this rise. Thereby, the problem that the flux F flows out of the plate 12 can be solved, and the flux F can be stably present on the plate 12. Therefore, maintenance can also be reduced.

特に、押し付けブロック26は、その外周壁26cにより、外周側での処理剤の盛り上がりを抑制することができる。   In particular, the pressing block 26 can suppress the swelling of the processing agent on the outer peripheral side by the outer peripheral wall 26c.

また、上述したように、押し付けブロック26の上壁26bの内面は、スキージ25に向かうにしたがって徐々にプレート12に近づくように斜めに形成されている。したがって、スキージ25でならされる前に、きれいなフラックス膜を形成することができる。   Further, as described above, the inner surface of the upper wall 26 b of the pressing block 26 is formed obliquely so as to gradually approach the plate 12 toward the squeegee 25. Therefore, a clean flux film can be formed before leveling with the squeegee 25.

従来では、図29に示すように、プレート212上のフラックスFの量が少なくなると、スキージ225に大部分のフラックスFが付着してしまい、プレート212上にフラックスFが付着していない状態となる場合がある。これに対し、本実施の形態によれば、押し付けブロック26により安定してフラックスFをスキージ25に送ることができるので、そのような従来の問題を解決することができる。   Conventionally, as shown in FIG. 29, when the amount of the flux F on the plate 212 decreases, most of the flux F adheres to the squeegee 225, and the flux F does not adhere to the plate 212. There is a case. On the other hand, according to the present embodiment, the flux F can be stably sent to the squeegee 25 by the pressing block 26, so that such a conventional problem can be solved.

フラックスFは塗布量が少なすぎるまたは塗布されないと接続不良の原因になる。また、フラックスF多すぎても半田形成の不良の原因になるとともに、残留すると、残留したフラックスFの腐食が製品に害を与えることとなる。したがって、フラックスFの膜厚は十分管理されなくてはならない。   If the coating amount of the flux F is too small or not applied, it causes connection failure. Further, if the amount of the flux F is too much, it causes a defect in solder formation, and if it remains, the corrosion of the remaining flux F will harm the product. Therefore, the film thickness of the flux F must be managed sufficiently.

次に、本発明の他の実施の形態に係る押し付けブロックについて説明する。これ以降の説明では、図7及び図8等に示した実施の形態に係る押し付けブロック26について、同様の部分については説明を簡略または省略し、異なる点を中心に説明する。   Next, a pressing block according to another embodiment of the present invention will be described. In the following description, the description of the pressing block 26 according to the embodiment shown in FIG. 7 and FIG.

図21は、図19で示した断面図と同様の方向で見た図である。この押し付けブロック56の上壁56bの内面56fは、外周壁56cに向かうにしたがい徐々にプレート12に近づく。この内面56fは平面であってもよいし曲面であってもよい。これにより、押し付けブロック56の内部領域の外周側でフラックスFの圧力が高められる。その結果、外周側の滞留するフラックスFを内周側へ流動させることができ、外周側でのフラックスFの盛り上がり効果的に抑制することができる。   21 is a view seen in the same direction as the cross-sectional view shown in FIG. The inner surface 56f of the upper wall 56b of the pressing block 56 gradually approaches the plate 12 toward the outer peripheral wall 56c. The inner surface 56f may be a flat surface or a curved surface. As a result, the pressure of the flux F is increased on the outer peripheral side of the inner region of the pressing block 56. As a result, the flux F staying on the outer peripheral side can flow to the inner peripheral side, and the rising of the flux F on the outer peripheral side can be effectively suppressed.

図22に示す押し付けブロック66の上壁66bは、その内面66fに複数の溝66kを有する。矢印は、プレート12の回転方向を示す。図23は、その押し付けブロック66の、プレート12の径方向での断面図である。これらの溝66kは回転の周方向に沿って形成されている。これにより、押し付けブロック66の内部領域でフラックスFが周方向の溝66kに沿って流動するようになる。すなわち、図18で説明したようなフラックスFの上昇する動きが発生しても、各溝66k内で上昇するだけであって、外周側へフラックスFが移動することを抑制することができる。   The upper wall 66b of the pressing block 66 shown in FIG. 22 has a plurality of grooves 66k on its inner surface 66f. The arrow indicates the direction of rotation of the plate 12. FIG. 23 is a sectional view of the pressing block 66 in the radial direction of the plate 12. These grooves 66k are formed along the circumferential direction of rotation. Accordingly, the flux F flows along the circumferential groove 66k in the inner region of the pressing block 66. That is, even if the movement of the flux F as described with reference to FIG. 18 occurs, the flux F only rises in each groove 66k, and the movement of the flux F toward the outer peripheral side can be suppressed.

図24に示す押し付けブロック76では、その内面76fに形成された複数の溝76kが、スキージ25が配置される側から上流側に離れるにしたがって徐々に回転の内周側へ向かうように形成されている。これにより、フラックスFはこれらの溝76kに沿って内周側へ流動するようになるので、外周側でのフラックスFの盛り上がり効果的に抑制することができる。   In the pressing block 76 shown in FIG. 24, a plurality of grooves 76k formed on the inner surface 76f are formed so as to gradually move toward the inner peripheral side of the rotation as the distance from the side where the squeegee 25 is arranged to the upstream side. Yes. Thereby, since the flux F flows to the inner peripheral side along these grooves 76k, the rising of the flux F on the outer peripheral side can be effectively suppressed.

図22または図24に示した押し付けブロック66または76と、図21に示した押し付けブロック56とが組み合わされた形態も考えられる。つまり、図22(または図24)に示した押し付けブロック66(または76)の各溝66k(または76k)が形成された内面66f(または76f)が、図21に示した内面56fのように外周側へ向かうにしたがい徐々にプレート12に近づく構成であってもよい。   A combination of the pressing block 66 or 76 shown in FIG. 22 or 24 and the pressing block 56 shown in FIG. 21 is also conceivable. That is, the inner surface 66f (or 76f) in which each groove 66k (or 76k) of the pressing block 66 (or 76) shown in FIG. 22 (or FIG. 24) is formed is the outer periphery like the inner surface 56f shown in FIG. The structure which approaches the plate 12 gradually as it goes to the side may be sufficient.

図25は、本発明の他の実施の形態に係るフラックス塗布ユニットを示す斜視図である。これ以降の説明では、図2等に示した実施の形態に係るフラックス塗布ユニット5の部材や機能等について同様のものは説明を簡略または省略し、異なる点を中心に説明する。   FIG. 25 is a perspective view showing a flux application unit according to another embodiment of the present invention. In the following description, the description of the same members and functions of the flux application unit 5 according to the embodiment shown in FIG. 2 will be simplified or omitted, and different points will be mainly described.

このフラックス塗布ユニットのプレート12上には、スキージ25、押し付けブロック26のほか、プレート12を覆うカバー53が配置されている。カバー53は、金属、樹脂、ガラス、セラミックス、またはその他の材料でなる。樹脂やガラスの場合、カバー53は、プレート上のフラックスの残量が視認できる程度に透明または半透明の材質で構成されていてもよい。カバー53は、コラム23、基台19、その他図示しない固定の部材に取り付けられていてもよい。また、カバー53は、それらコラム23等の部材に着脱可能に取り付けられていてもよい。   On the plate 12 of this flux application unit, in addition to the squeegee 25 and the pressing block 26, a cover 53 covering the plate 12 is disposed. The cover 53 is made of metal, resin, glass, ceramics, or other materials. In the case of resin or glass, the cover 53 may be made of a transparent or translucent material so that the remaining amount of flux on the plate can be visually recognized. The cover 53 may be attached to the column 23, the base 19, and other fixed members (not shown). The cover 53 may be detachably attached to members such as the column 23.

このようなカバー53が設けられることにより、塵や埃がプレート12やフラックスに付着することを防止することができる。また、フラックスの乾燥を抑制することができ、フラックスの寿命を延ばすことができる。   By providing such a cover 53, it is possible to prevent dust and dirt from adhering to the plate 12 and the flux. Moreover, drying of the flux can be suppressed, and the life of the flux can be extended.

カバー53は、図25に示すように、必ずしも、プレート12上の領域において押し付けブロック26で覆われた領域以外の領域すべてを覆う必要はない。例えば、押し付けブロック26と同じ60°程度の角度分覆うような大きさであてもよいし、または、それ以上の大きさであってもよい。カバー53がプレート12上の領域において押し付けブロック26で覆われた領域以外の領域すべてを覆う場合、そのカバー53の一部が開閉する蓋になっている形態も考えられる。このような蓋が設けられることにより、その蓋を開けてフラックスをプレート12上に供給することができる。   As shown in FIG. 25, the cover 53 is not necessarily required to cover the entire region other than the region covered with the pressing block 26 in the region on the plate 12. For example, it may be a size that covers the same angle of about 60 ° as the pressing block 26, or may be a size larger than that. When the cover 53 covers the entire region other than the region covered with the pressing block 26 in the region on the plate 12, a form in which a part of the cover 53 is a lid that opens and closes is also conceivable. By providing such a lid, the flux can be supplied onto the plate 12 by opening the lid.

図26は、上記カバーの変形例を示す斜視図である。矢印は、プレート12の回転方向を示している。図27は、そのカバー63が押し付けブロック26に近接して配置された例を示す断面図である。このカバー63は、例えば上流側にネジ穴63dを有し、図示しないネジにより基台19に装着されている。また、カバー63は、押し付けブロック26の開口26eの一部を塞ぐように設けられた壁部材63aを有する。これにより、押し付けブロック26の内部領域26iにあるフラックスFの乾燥を抑えることができる。また、例えば実装装置10の吸着ノズル29が電子部品Wの吸着に失敗し、電子部品WがフラックスF上に残った場合、プレート12が回転し電子部品Wが移動しても電子部品Wは壁部材63aに当る。つまり、壁部材63aがあることにより、電子部品Wが押し付けブロック26の内部領域26iまで移動してしまうことを防止することができる。   FIG. 26 is a perspective view showing a modification of the cover. The arrow indicates the direction of rotation of the plate 12. FIG. 27 is a cross-sectional view showing an example in which the cover 63 is arranged close to the pressing block 26. The cover 63 has, for example, a screw hole 63d on the upstream side, and is attached to the base 19 with screws (not shown). Further, the cover 63 includes a wall member 63 a provided so as to close a part of the opening 26 e of the pressing block 26. Thereby, drying of the flux F in the inner region 26 i of the pressing block 26 can be suppressed. Further, for example, when the suction nozzle 29 of the mounting apparatus 10 fails to suck the electronic component W and the electronic component W remains on the flux F, the electronic component W remains on the wall even if the plate 12 rotates and the electronic component W moves. It hits the member 63a. In other words, the presence of the wall member 63a can prevent the electronic component W from moving to the inner region 26i of the pressing block 26.

図30は、本発明のさらに別の実施の形態に係るフラックス塗布ユニットの要部を示す図である。   FIG. 30 is a diagram showing a main part of a flux application unit according to still another embodiment of the present invention.

このフラックス塗布ユニットの塗布部116は、プレート12、スキージ25、押し付け板57を含む。また、塗布部116は、押し付け板57の上方に配置された光センサ54、押し付け板57を支持する支持機構61を含む。押し付け板57は、上記押し付けブロック26と同様の機能を有する。支持機構61は、押し付け板57とスキージ25とを接続するヒンジ部58と、光センサ54を保持する保持部材55と押し付け板57との間に設けられたバネ62とを有する。保持部材55の一端は、例えばスキージ25に固定されている。しかし、保持部材55は、基台19(図2参照)やその他の固定の部材に固定されていてもよい。光センサ54は、押し付け板57の移動量を検出する機能を有する。光センサ54は、例えば反射型の光センサが用いられ、反射光量を検出することで、押し付け板57の移動位置を検出する。   The application unit 116 of the flux application unit includes a plate 12, a squeegee 25, and a pressing plate 57. The application unit 116 includes an optical sensor 54 disposed above the pressing plate 57 and a support mechanism 61 that supports the pressing plate 57. The pressing plate 57 has the same function as the pressing block 26. The support mechanism 61 includes a hinge portion 58 that connects the pressing plate 57 and the squeegee 25, and a spring 62 provided between the holding member 55 that holds the optical sensor 54 and the pressing plate 57. One end of the holding member 55 is fixed to the squeegee 25, for example. However, the holding member 55 may be fixed to the base 19 (see FIG. 2) or other fixed members. The optical sensor 54 has a function of detecting the amount of movement of the pressing plate 57. As the optical sensor 54, for example, a reflective optical sensor is used, and the moving position of the pressing plate 57 is detected by detecting the amount of reflected light.

押し付け板57は、上流側に折り返し部57aが設けられている。押し付け板57は、バネ62によりプレート12側に向けてバネ力が付勢されている。このバネ力により、図30に示す初期状態において押し付け板57はプレート12に接しているか、または、プレートからわずかに離れて配置される。また、図30に示す初期状態では、押し付け板57の折り返し部57aが斜め上方に向けられている。   The pressing plate 57 is provided with a folded portion 57a on the upstream side. The pressing plate 57 is urged by a spring 62 toward the plate 12 side. Due to the spring force, the pressing plate 57 is in contact with the plate 12 in the initial state shown in FIG. In the initial state shown in FIG. 30, the folded portion 57a of the pressing plate 57 is directed obliquely upward.

図31(A)に示すように、スキージ25によりフラックスFがならされると、スキージ25の上流側にフラックスFが盛り上がる。押し付け板57は、フラックスFが流動するときにフラックスFからの圧力を受ける。しかし、押し付け板57の下方への押し付け力によって、フラックスFの盛り上がりが押さえ付けられる。   As shown in FIG. 31A, when the flux F is smoothed by the squeegee 25, the flux F rises upstream of the squeegee 25. The pressing plate 57 receives pressure from the flux F when the flux F flows. However, the swell of the flux F is suppressed by the downward pressing force of the pressing plate 57.

このように、押し付け板57は、上記したような押し付けブロック26と同様の作用効果を奏する。また、押し付け板57の折り返し部57aにより、初期においてプレート12の回転によってフラックスFが押し付け板57の下に潜り込みやすくなる。これによりフラックスFはスムーズにスキージ25側へ送られる。   Thus, the pressing plate 57 has the same effect as the pressing block 26 as described above. Further, the folding portion 57 a of the pressing plate 57 makes it easy for the flux F to easily enter under the pressing plate 57 by the rotation of the plate 12 in the initial stage. Thereby, the flux F is smoothly sent to the squeegee 25 side.

押し付け板57は、単に平面でなる板ではなく、曲面を有していたり、押し付けブロック26にあるような外周壁26c等を有していたりしてもよい。   The pressing plate 57 may not be a flat plate, but may have a curved surface, an outer peripheral wall 26c as in the pressing block 26, or the like.

図31(B)に示すように、フラックスFが消費されてフラックスFの量が少なくなる。そうなると、バネ62の力により、押し付け板57はヒンジ部58を中心に下方へ回動する。制御部46(図6参照)は、光センサ54が検出する反射光量が所定の閾値以下となると、フラックスFの量が所定の量以下になったと判断し、プレート12の回転を停止する。あるいは、制御部46は、光センサ54の反射光量が所定以下となった場合に、音、光、画像、またはその他の手段により警告を発するようにしてもよい。   As shown in FIG. 31B, the flux F is consumed and the amount of the flux F is reduced. Then, the pressing plate 57 is rotated downward about the hinge portion 58 by the force of the spring 62. When the amount of reflected light detected by the optical sensor 54 is equal to or less than a predetermined threshold, the control unit 46 (see FIG. 6) determines that the amount of the flux F is equal to or less than the predetermined amount, and stops the rotation of the plate 12. Alternatively, the control unit 46 may issue a warning by sound, light, an image, or other means when the amount of light reflected by the optical sensor 54 becomes a predetermined value or less.

本実施の形態によれば、押し付け板57の動きが検出されることにより、押し付け板57により押し付けられているフラックスFの量を確認することができる。その結果、プレート12上のフラックスFの膜厚を容易に管理することができる。   According to the present embodiment, by detecting the movement of the pressing plate 57, the amount of the flux F pressed by the pressing plate 57 can be confirmed. As a result, the film thickness of the flux F on the plate 12 can be easily managed.

また、支持機構61は、押し付け板57を弾性的に支持するので、フラックスFの量に応じて、精度良く押し付け板57の位置が定められる。その結果、光センサ54による当該位置の検出精度が向上する。   In addition, since the support mechanism 61 elastically supports the pressing plate 57, the position of the pressing plate 57 is determined with high accuracy according to the amount of the flux F. As a result, the detection accuracy of the position by the optical sensor 54 is improved.

なお、支持機構61は、ヒンジ部58及びバネ62を含んでいたが、いずれか一方を含む構成であってもよい。   Although the support mechanism 61 includes the hinge portion 58 and the spring 62, the support mechanism 61 may include any one of them.

ヒンジ部58は、押し付け板57を弾性的に支持してもよいし、そうでなくてもよい。弾性的に支持する場合、ヒンジ部58が、ねじりコイルバネやトーションバーバネ等のバネ部材を含んでいればよい。   The hinge portion 58 may or may not support the pressing plate 57 elastically. When supporting elastically, the hinge part 58 should just contain spring members, such as a torsion coil spring and a torsion bar spring.

弾性的な支持機構61は設けられず、すなわち、ヒンジ部及びバネが設けられず、押し付け板自体が板バネ状に作用してもよい。この場合、押し付け板57は、板バネとして作用する程度の厚さや材質に適宜設計される。   The elastic support mechanism 61 is not provided, that is, the hinge portion and the spring are not provided, and the pressing plate itself may act like a leaf spring. In this case, the pressing plate 57 is appropriately designed to have a thickness or material that acts as a leaf spring.

光センサに代えて、磁気センサ、静電センサ、または、ひずみゲージ等のセンサが設けられていてもよい。   Instead of the optical sensor, a sensor such as a magnetic sensor, an electrostatic sensor, or a strain gauge may be provided.

図32は、図30に示したフラックス塗布ユニットの塗布部の別の実施形態を示す図である。この実施の形態に係る塗布部216は、ほぼ直角に折り曲げられた形状の押し付け板67を含む。つまり、押し付け板67は、第1の板67aと第2の板67bを有し、これらの板67aの間に回動軸68を有する。この回動軸68は、基台19や図示しない固定の部材に接続されている。   FIG. 32 is a diagram showing another embodiment of the application unit of the flux application unit shown in FIG. The application unit 216 according to this embodiment includes a pressing plate 67 that is bent substantially at a right angle. That is, the pressing plate 67 includes a first plate 67a and a second plate 67b, and a rotation shaft 68 between these plates 67a. The rotating shaft 68 is connected to the base 19 and a fixed member (not shown).

光センサ54は、スキージ25に取り付けられている。また、スキージ25と、押し付け板67の第2の板67bの端部との間にバネ62が設けられている。さらに、押し付け板67の回動を規制するストッパー69が設けられている。スキージ25の下部25aは、円弧面状に形成されている。これにより、例えば押し付け板67の第1の板67aの端部と、スキージ25の下部25aが極力接近しながら、押し付け板67が回動することができる。   The optical sensor 54 is attached to the squeegee 25. A spring 62 is provided between the squeegee 25 and the end of the second plate 67 b of the pressing plate 67. Further, a stopper 69 that restricts the rotation of the pressing plate 67 is provided. The lower part 25a of the squeegee 25 is formed in a circular arc shape. Accordingly, for example, the pressing plate 67 can be rotated while the end portion of the first plate 67a of the pressing plate 67 and the lower portion 25a of the squeegee 25 are as close as possible.

図32(A)を参照して、フラックスFの量が比較的多い場合、バネ62の所定のバネ力が押し付け板67に働き、押し付け板67の第1の板67aによりフラックスFがプレート12に押し付けられる。図32(B)に示すように、フラックスFの量が減ると、バネ62の戻り力により第2の板67bが光センサ54に接近する。そして、押し付け板67が所定の位置まで回動するとストッパー69によりその動きが規制される。このとき、光センサ54はその位置を検出する。また、このとき、上述したように警告が発せられるようにすればよい。   Referring to FIG. 32A, when the amount of the flux F is relatively large, a predetermined spring force of the spring 62 acts on the pressing plate 67, and the flux F is applied to the plate 12 by the first plate 67a of the pressing plate 67. Pressed. As shown in FIG. 32B, when the amount of flux F decreases, the second plate 67b approaches the optical sensor 54 by the return force of the spring 62. When the pressing plate 67 is rotated to a predetermined position, the movement is restricted by the stopper 69. At this time, the optical sensor 54 detects the position. At this time, a warning may be issued as described above.

押し付け板67の折り曲げ角度は、直角であったが、直角に限られない。また、ストッパー69は必ずしも必要でなく、例えばバネ62のバネ力が適宜設定されることによって、押し付け板67は最適な初期位置に配置される。   The bending angle of the pressing plate 67 is a right angle, but is not limited to a right angle. Further, the stopper 69 is not necessarily required. For example, the pressing plate 67 is disposed at an optimal initial position by appropriately setting the spring force of the spring 62.

図33は、さらに別の実施の形態に係るフラックス塗布ユニットの塗布部を示す平面図である。図34は、図33におけるC−C線断面図である。この実施の形態に係る塗布部316は、スキージ85、押し付けブロック86、押し付けブロック86をリニアに移動させるリニア移動機構81、押し付けブロック86の上部に配置された光センサ54を含む。また、この実施の形態では、塗布部316は押し付けブロック86に近接して配置されたカバー77を含む。このカバー77は、図26等で示したカバー53と同様の機能を有する。   FIG. 33 is a plan view showing an application part of a flux application unit according to still another embodiment. 34 is a cross-sectional view taken along line CC in FIG. The application unit 316 according to this embodiment includes a squeegee 85, a pressing block 86, a linear moving mechanism 81 that linearly moves the pressing block 86, and an optical sensor 54 that is disposed above the pressing block 86. Further, in this embodiment, the application unit 316 includes a cover 77 disposed close to the pressing block 86. The cover 77 has the same function as the cover 53 shown in FIG.

リニア移動機構は81、例えばスキージ85に設けられたガイドレール72、押し付けブロック86に接続されこのガイドレール72に沿って移動するリニアガイド74を備えている。光センサ54は、基台19にネジ78によって装着された保持部材75により保持されている。光センサ54は、発した光を押し付けブロック86の上面86aで反射させて、反射光を受光する。   The linear moving mechanism 81 includes, for example, a guide rail 72 provided on the squeegee 85 and a linear guide 74 connected to the pressing block 86 and moving along the guide rail 72. The optical sensor 54 is held by a holding member 75 attached to the base 19 with screws 78. The optical sensor 54 reflects the emitted light by the upper surface 86a of the pressing block 86 and receives the reflected light.

このような構成の塗布部316では、フラックスの量が減るにしたがい、押し付けブロック86は、自重で、リニア移動機構81により下降する。光センサ54はこの押し付けブロック86の上下方向の位置を検出することで、フラックスの量が検出される。   In the application unit 316 having such a configuration, the pressing block 86 is lowered by the linear moving mechanism 81 with its own weight as the amount of flux decreases. The optical sensor 54 detects the amount of flux by detecting the vertical position of the pressing block 86.

リニア移動機構81のガイドレール72は、必ずしもスキージ85に設けられる必要はなく、他の図示しない固定の部材に設けられていてもよい。押し付けブロック86は自重により下降する形態を示した。しかし、押し付けブロック86はバネ等の弾性部材により弾性的に支持されていてもよい。   The guide rail 72 of the linear moving mechanism 81 is not necessarily provided on the squeegee 85, and may be provided on another fixed member (not shown). The pressing block 86 is shown to descend by its own weight. However, the pressing block 86 may be elastically supported by an elastic member such as a spring.

フラックス量の検出は、プレート12が回転してフラックス圧が上昇している時、もしくはプレート12が停止した直後に行われる。   The flux amount is detected when the plate 12 rotates and the flux pressure increases, or immediately after the plate 12 stops.

本発明に係る実施の形態は、以上説明した実施の形態に限定されず、他の種々の実施形態が考えられる。   Embodiments according to the present invention are not limited to the embodiments described above, and other various embodiments are conceivable.

上記各実施の形態では、プレート12がスキージ25、85に対してフラックス膜が形成される形態を挙げた。しかし、プレート12に沿ってスキージ25、85が移動する形態も考えられる。この場合、プレート12を回転させる機構の代わりに、スキージ25、85をプレート12に沿って移動させる移動機構が必要となる。また、その場合、プレートは、円板状でもよいし、矩形等その他の形状でもよい。また、スキージ25、85は、当該移動機構によりプレート上で往復移動してもよい。   In each of the above embodiments, the plate 12 has a form in which a flux film is formed on the squeegees 25 and 85. However, a form in which the squeegees 25 and 85 move along the plate 12 is also conceivable. In this case, a moving mechanism for moving the squeegees 25 and 85 along the plate 12 is required instead of the mechanism for rotating the plate 12. In this case, the plate may be disk-shaped or other shape such as a rectangle. Further, the squeegees 25 and 85 may reciprocate on the plate by the moving mechanism.

上記各実施の形態に係る実装装置10やフラックス塗布ユニット5を構成する各部材の形状、大きさ、配置等は適宜変更可能である。   The shape, size, arrangement, and the like of each member constituting the mounting apparatus 10 and the flux application unit 5 according to each of the above embodiments can be appropriately changed.

本発明の一実施の形態に係る電子部品の実装装置を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the mounting device of the electronic component which concerns on one embodiment of this invention. フラックス塗布ユニットを示す斜視図である。It is a perspective view which shows a flux application unit. 塗布部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an application part. 塗布部を示す平面図である。It is a top view which shows an application part. 図4におけるA−A線断面図である。It is the sectional view on the AA line in FIG. 塗布部、駆動部及び実装装置の制御系を示す図である。It is a figure which shows the control system of an application part, a drive part, and a mounting apparatus. 一実施の形態に係る押し付けブロックを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the pressing block which concerns on one Embodiment. 押し付けブロックの外周壁に沿って見た断面図である。It is sectional drawing seen along the outer peripheral wall of a pressing block. (A)は、フラックス塗布ユニットで処理される電子部品の例を示す側面図である。(B)はその平面図である。(A) is a side view which shows the example of the electronic component processed with a flux application unit. (B) is a plan view thereof. 電子部品情報記憶部に記憶された電子部品情報の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the electronic component information memorize | stored in the electronic component information storage part. 上記膜厚管理テーブルに記憶された膜厚管理テーブルの例を示す図である。It is a figure which shows the example of the film thickness management table memorize | stored in the said film thickness management table. フラックスの種類を示した表である。It is the table | surface which showed the kind of flux. 実装装置の動作を順に示す図である。It is a figure which shows operation | movement of a mounting apparatus in order. 電子部品である回路素子の種類と、フラックス膜厚との関係の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the relationship between the kind of circuit element which is an electronic component, and a flux film thickness. 本実施の形態に係るフラックス塗布装置において、異なる種類の複数の電子部品にフラックスを塗布する場合のプレートの回転角を説明するための図である。In the flux application apparatus which concerns on this Embodiment, it is a figure for demonstrating the rotation angle of the plate in the case of apply | coating a flux to a several kind of electronic component. 従来の装置において、異なる種類の複数の電子部品にフラックスを塗布する場合のプレートの回転角を説明するための図である。In the conventional apparatus, it is a figure for demonstrating the rotation angle of the plate in the case of apply | coating a flux to several types of electronic components. (A)は、図16に示した装置において、膜厚の切り換えに必要なプレートの回転角度を示す表である。(B)は、本実施の形態に係るフラックス塗布ユニットにおいて、膜厚の切り換えに必要なプレートの回転角度を示す表である。(A) is a table | surface which shows the rotation angle of the plate required for switching of a film thickness in the apparatus shown in FIG. (B) is a table | surface which shows the rotation angle of the plate required for switching of a film thickness in the flux application unit which concerns on this Embodiment. 押し付けブロックがない場合において、スキージによりフラックス膜が形成されるときの作用を説明するための図である。It is a figure for demonstrating an effect | action when a flux film | membrane is formed with a squeegee when there is no pressing block. 図4におけるB−B線断面図である。It is the BB sectional view taken on the line in FIG. 図13の実装装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the mounting apparatus of FIG. 他の実施の形態に係る押し付けブロックを示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pressing block which concerns on other embodiment. さらに別の実施の形態に係る押し付けブロックを示す斜視図であり、複数の溝を有する押し付けブロックを示す。It is a perspective view which shows the pressing block which concerns on another embodiment, and shows the pressing block which has a some groove | channel. 図22に示した押し付けブロックの断面図である。It is sectional drawing of the pressing block shown in FIG. さらに別の実施の形態に係る押し付けブロックを示す断面図であり、内周側に向かうように形成された複数の溝を有する押し付けブロックを示す。Furthermore, it is sectional drawing which shows the pressing block which concerns on another embodiment, and shows the pressing block which has the some groove | channel formed so that it might go to an inner peripheral side. 本発明の他の実施の形態に係るフラックス塗布ユニットを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the flux application unit which concerns on other embodiment of this invention. 上記カバーの変形例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the modification of the said cover. 図26に示すカバーが押し付けブロックに近接して配置された例を示す断面図である。FIG. 27 is a cross-sectional view showing an example in which the cover shown in FIG. 26 is arranged close to the pressing block. 従来の装置において、外周側へ移動したフラックスの様子を写真である。In the conventional apparatus, the state of the flux which moved to the outer peripheral side is a photograph. 従来の装置において、プレート上のフラックスの量が少なくなった状態を示す図である。It is a figure which shows the state in which the quantity of the flux on a plate decreased in the conventional apparatus. 本発明のさらに別の実施の形態に係るフラックス塗布ユニットの塗布部を示す図である。It is a figure which shows the application part of the flux application unit which concerns on another embodiment of this invention. 図30に示した塗布部の動作を示す図である。It is a figure which shows operation | movement of the application part shown in FIG. さらに別の実施の形態に係るフラックス塗布ユニットの塗布部の別の実施形態を示す図である。It is a figure which shows another embodiment of the application part of the flux application unit which concerns on another embodiment. さらに別の実施の形態に係るフラックス塗布ユニットの塗布部を示す平面図である。It is a top view which shows the application part of the flux application unit which concerns on another embodiment. 図33におけるC−C線断面図である。It is CC sectional view taken on the line in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

m…隙間
θ…角度
F…フラックス
1…実装機構
3…プリント配線基板
5…フラックス塗布ユニット
10…実装装置
12…プレート
16、116、216…塗布部
17…駆動部
18…電装部
21…昇降機構
25、85…スキージ
26、56、66、76、86…押し付けブロック
26b、56b、66b、76b…上壁
26c…外周壁
26f、56f、66f、76f…内面
42…メイン制御部
43…電子部品情報記憶部
46…制御部
53、63、77…カバー
54…光センサ
57、67…押し付け板
58…ヒンジ部
61…支持機構
62…バネ
63…カバー
63a…壁部材
66k、76k…溝
81…リニア移動機構
m ... gap θ ... angle F ... flux 1 ... mounting mechanism 3 ... printed wiring board 5 ... flux application unit 10 ... mounting device 12 ... plates 16, 116, 216 ... application unit 17 ... drive unit 18 ... electrical unit 21 ... lifting mechanism 25, 85 ... Squeegee 26, 56, 66, 76, 86 ... Pressing block 26b, 56b, 66b, 76b ... Upper wall 26c ... Outer wall 26f, 56f, 66f, 76f ... Inner surface 42 ... Main control unit 43 ... Electronic component information Storage unit 46 ... Control unit 53, 63, 77 ... Cover 54 ... Optical sensor 57, 67 ... Pressing plate 58 ... Hinge unit 61 ... Support mechanism 62 ... Spring 63 ... Cover 63a ... Wall member 66k, 76k ... Groove 81 ... Linear movement mechanism

Claims (4)

回転可能に設けられ、ペースト状の処理剤が供給されるプレートと、
前記プレート上に隙間をあけて配置され、前記プレートの回転により前記処理剤が前記隙間を通ることで前記プレート上に前記処理剤の膜を形成する膜形成部材と、
前記プレートに対面し前記プレートの回転により前記膜形成部材へ向かう前記処理剤を前記プレートに押し付ける上壁と、前記プレートによる回転の外周側に設けられた外周壁とを有し、前記膜形成部材に近接して配置された押し付け部材と、
前記隙間の大きさを変えるように前記膜形成部材を移動させる移動機構と、
処理対象となる電子部品の情報に応じて前記移動機構の移動を制御する制御手段と
を具備する塗布装置。
A plate provided rotatably and supplied with a paste-like treatment agent;
A film forming member that is disposed with a gap on the plate, and forms a film of the treatment agent on the plate by passing the gap by the rotation of the plate;
The film forming member has an upper wall that faces the plate and presses the processing agent toward the film forming member by rotation of the plate against the plate, and an outer peripheral wall provided on an outer peripheral side of the rotation by the plate. A pressing member disposed in proximity to,
A moving mechanism for moving the film forming member so as to change the size of the gap;
And a control unit that controls movement of the moving mechanism in accordance with information on an electronic component to be processed.
請求項1に記載の塗布装置であって、
前記制御手段は、前記電子部品の情報のうち第1の電子部品情報に応じて、前記処理剤の膜を第1の膜厚で形成した後、前記プレートを1回転以下の所定の角度分回転させ、前記第1の電子部品情報とは異なる第2の電子部品情報に応じて、前記処理剤の膜を前記第1の膜厚とは異なる第2の膜厚で形成するように、前記移動機構を制御する
塗布装置。
The coating apparatus according to claim 1,
The control means forms the treatment agent film with a first film thickness in accordance with first electronic component information among the electronic component information, and then rotates the plate by a predetermined angle of one rotation or less. And moving the treatment agent film in a second film thickness different from the first film thickness according to second electronic component information different from the first electronic component information. Coating device that controls the mechanism.
回転可能に設けられ、ペースト状の処理剤が供給されるプレートと、
前記プレート上に隙間をあけて配置され、前記プレートの回転により前記処理剤が前記隙間を通ることで前記プレート上に前記処理剤の膜を形成する膜形成部材と、
前記プレートに対面し前記プレートの回転により前記膜形成部材へ向かう前記処理剤を前記プレートに押し付ける上壁と、前記プレートによる回転の外周側に設けられた外周壁とを有し、前記膜形成部材に近接して配置された押し付け部材と、
前記隙間の大きさを変えるように前記膜形成部材を移動させる移動機構と、
処理対象となる電子部品の情報に応じて前記移動機構の移動を制御する制御手段と
前記電子部品を保持して移動させることが可能であり、前記プレートに塗布された前記処理剤を前記電子部品に付着させ、前記処理剤が付着した前記電子部品を所定の部品上に載置させる実装機構と
を具備する実装装置。
A plate provided rotatably and supplied with a paste-like treatment agent;
A film forming member that is disposed with a gap on the plate, and forms a film of the treatment agent on the plate by passing the gap by the rotation of the plate;
The film forming member has an upper wall that faces the plate and presses the processing agent toward the film forming member by rotation of the plate against the plate, and an outer peripheral wall provided on an outer peripheral side of the rotation by the plate. A pressing member disposed in proximity to,
A moving mechanism for moving the film forming member so as to change the size of the gap;
Control means for controlling the movement of the moving mechanism according to information on the electronic component to be processed; and the electronic component can be moved while holding the electronic component, and the processing agent applied to the plate is transferred to the electronic component And a mounting mechanism for mounting the electronic component to which the processing agent is attached on a predetermined component.
処理対象となる電子部品の情報に応じて、ペースト状の処理剤が供給されたプレートと膜形成部材との隙間を変えるように、前記膜形成部材の位置を制御し、
前記プレートに対面する上壁と、前記プレートによる回転の外周側に設けられた外周壁とを有し、前記膜形成部材に近接して配置された押し付け部材を用いて、前記プレートを回転させることにより、前記押し付け部材の前記上壁によって前記膜形成部材へ向かう前記処理剤が前記プレートに押し付けられた後に前記隙間に前記処理剤が通ることで前記プレート上に前記処理剤の膜を形成し、
前記プレート上に形成された前記処理剤を前記電子部品に付着させ、
前記処理剤が付着した前記電子部品を所定の部品上に載置させる
電子部品の製造方法。
According to the information of the electronic component to be processed, the position of the film forming member is controlled so as to change the gap between the plate supplied with the paste-like processing agent and the film forming member,
The plate is rotated by using a pressing member that has an upper wall facing the plate and an outer peripheral wall provided on the outer peripheral side of the rotation by the plate and is disposed close to the film forming member. By forming the film of the treatment agent on the plate by passing the treatment agent through the gap after the treatment agent toward the film forming member is pressed against the plate by the upper wall of the pressing member ,
Attaching the treatment agent formed on the plate to the electronic component;
A method of manufacturing an electronic component, wherein the electronic component having the treatment agent attached thereon is placed on a predetermined component.
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