JP5075196B2 - 漏れ電力推定 - Google Patents

漏れ電力推定 Download PDF

Info

Publication number
JP5075196B2
JP5075196B2 JP2009510475A JP2009510475A JP5075196B2 JP 5075196 B2 JP5075196 B2 JP 5075196B2 JP 2009510475 A JP2009510475 A JP 2009510475A JP 2009510475 A JP2009510475 A JP 2009510475A JP 5075196 B2 JP5075196 B2 JP 5075196B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
logic
signal
leakage power
voltage
computer system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009510475A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009537103A (ja
Inventor
モンフェレアー、ペドロ チャパローオ
マグクリス、グリゴリオス
ゴンザレス、ホセ
ゴンザレス、アントニオ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Intel Corp
Original Assignee
Intel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Intel Corp filed Critical Intel Corp
Publication of JP2009537103A publication Critical patent/JP2009537103A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5075196B2 publication Critical patent/JP5075196B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R21/00Arrangements for measuring electric power or power factor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R21/00Arrangements for measuring electric power or power factor
    • G01R21/02Arrangements for measuring electric power or power factor by thermal methods, e.g. calorimetric
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/32Means for saving power
    • G06F1/3203Power management, i.e. event-based initiation of a power-saving mode
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Sources (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

本開示は、概してエレクトロニクスの分野に関する。特に、本発明の実施形態は、集積回路(IC)デバイスにおける漏れ電力推定に関する。
動的な電力消費、および、漏れの電力消費のどちらもIC設計における主な懸念の1つである。特に、サブスレッショルド漏れ(または漏れ電力)は、連続した設計世代のそれぞれで増大し続ける可能性がある。例えば、供給電圧が低下する(例えば、動的な電力消費が減少する)につれ、閾値電圧も低下する(例えば、低ゲート遅延または高周波数を維持する)。しかしながら、閾値電圧を低下させると、漏れ電力に非線形に影響を及ぼす。
いくつかの実施態様では、実行時間中の漏れ電力は一定値であると思われている。しかしながら、漏れ電力は、例えば、温度、供給電圧、または、閾値電圧における変化によって、実行時間中に変化する可能性がある。したがって、パワーマネジメント技術は、漏れ電力の知識なくしては正確な結果を出すことはできないだろう。
添付の図面を参照して詳細な説明がなされる。図において、参照番号の左端の桁は、その参照番号が最初に現れる図面を特定する。異なる図面中に同じ参照番号が示されている場合、同様のまたは同一の要素を示す。
本発明のさまざまな実施形態におけるコンピュータシステムのブロック図である。
さまざまな実施形態に従う、漏れ電力推定システムの各部を示すブロック図である。
一実施形態に従うプロセッサコアのブロック図である。
一実施形態における方法のフローチャートである。 本発明のさまざまな実施形態におけるコンピュータシステムのブロック図である。 本発明のさまざまな実施形態におけるコンピュータシステムのブロック図である。
以下の説明において、さまざまな実施形態を完全なる理解をもたらすべく、多くの特定の詳細が記載される。しかしながら、本発明のさまざまな実施形態は、それら特定の詳細がなくとも実行されうる。他の例において、よく知られる方法、手続き、構成要素、および、回路は、本発明の特定の実施形態をあいまいにすることを避ける目的で、詳しくは説明されていない。本発明の実施形態のさまざまな側面は、例えば、集積半導体回路(ハードウェア)、1つ以上のプログラムに編成されるコンピュータ可読命令(ソフトウェア)、または、ソフトウェアとハードウェアとのいくつかの組合せなどのさまざまな手段を用いて実行されうる。本開示において、「ロジック」という言い方は、ハードウェア、ソフトウェア、あるいは、その組合せのいずれかを意味するものとする。
本願明細書中で採りあげられるいくつかの実施形態は、漏れ電力(例えば、ICデバイスの1つ以上の構成要素により生成される静的またはサブスレッショルド漏れ電力)を推定する効果的な技術を提供しうる。一実施形態では、漏れ電力消費は、温度および/または電圧(例えば閾値および/または供給電圧)における変化などの1つ以上の変化により生じうる。さらに、本願明細書中で採りあげられるいくつかの実施形態は、図1、5および6に関連して説明されるコンピュータシステムなどのさまざまなコンピュータシステムに適用されうる。より詳しくは、図1は、一実施形態におけるコンピュータシステム100のブロック図である。システム100は、1つ以上のドメイン102−1乃至102−M(以降まとめて複数のドメイン102またはドメイン102と称する)を含みうる。ドメイン102−1乃至102−Mのそれぞれは、さまざまな構成要素を含みうるが、説明を明確にすべく、ここではドメイン102−1および102−2だけをサンプル構成要素として示す。また、各ドメイン102は、コンピュータシステムの一部(図5および6に関連するか、あるいは、もっと一般的にICデバイスの1つ以上のトランジスタに関連して説明される構成要素など)に対応しうる。一実施形態では、ドメイン102のそれぞれは、他のドメインで用いられるクロック信号とは異なる可能性もあるクロック信号により計時されるさまざまな回路(またはロジック)を含みうる。一実施形態では、これらのクロック信号の1つ以上は、メソ同期(mesosynchronous)であってよく、(例えば、継続的に反復したりしなかったりする関係)を有してもよい。
図1に示すように、各ドメインは、1つ以上のバッファ104を介して他のドメインとデータを通信しうる。一実施形態では、バッファ104は、先入れ先出し(FIFO)バッファでありうる。各ドメインは、対応するドメイン内の1つ以上の構成要素の漏れ電力を推定するロジック(ドメイン102−1および102−2それぞれに関連して示され、本願明細書中では通常「ロジック106」または「複数のロジック106」と称されるロジック106−1および106−2など)と、1つ以上の温度センサ(ドメイン102−1および102−2にそれぞれ関連して示されたセンサ108−1および108−2など)、周波数および/または電圧レベルを制御し、および/または、現在の閾値電圧および/または供給電圧値を提供するロジック(例えば、ドメイン102−1および102−2にそれぞれ関連して示されたロジック110−1および110−2)と、対応するドメインの1つ以上の構成要素の電力消費を管理するロジック(例えばドメイン102−1および102−2に関連してそれぞれ示され、本願明細書中では通常「ロジック112」または「複数のロジック112」と称されるロジック112−1および112−2)とを含む。一実施形態では、トランジスタの閾値電圧は、トランジスタの本体(または基板)に電流を印加することにより調整されうる。
さまざまな実施形態では、パワーマネジメントロジック112は、対応するドメインの1つ以上の構成要素の電力消費を調整しうる。例えば、ロジック112は、(例えば、対応するロジック106により提供される)漏れ電力推定値、動的電力推定値、および/または、いくらかの他の情報(例えば、サイクルごとのコミット命令、キャッシュミスなど)を利用して対応するドメインの1つ以上の構成要素の供給電圧および/または閾値電圧を調整しうる。また、ロジック112は、クロック信号(例えば、対応するドメインの少なくとも一部の範囲内で用いられるクロック信号)の周波数を調整しうる。一実施形態では、ロジック112は、1つ以上の構成要素をオフにしうる。1つ以上の構成要素とは、以下を含む。1つ以上のプロセッサコアまたはプロセッサコアの一部(例えば、異なるパイプラインなど)、および/または、データキャッシュ(例えば、レベル1(L1)、レベル2(L2)、または、他のレベル)などのさまざまなキャッシュレベルを含む)、または、データキャッシュの一部(例えば、キャッシュの異なるバンク)。
図2Aおよび2Bは、さまざまな実施形態における漏れ電力推定システム200および250の一部を示すブロック図である。一実施形態では、システム200および250は、図1に関連して説明したロジック106と同じかまたは同様である。一実施形態では、図2Aおよび2Bに関連して説明される記憶装置は、図5および/または6に関連して説明されるメモリ要素と同じかまたは同様である。
図2Aおよび2Bに示されるように、システム200および250は、(例えば、複数の温度スケーリングファクタ値を格納するための)温度スケーリングファクタ記憶装置202を含みうる。記憶装置202は、図1、5、および、6に関連して説明されるような1つ以上の構成要素に対応するセンサ108から、検知された温度値を受信しうる。システム200は、(例えば、複数の電圧係数値を格納するための)電圧スケーリングファクタ記憶装置204、および、(例えば、基準または基本漏れ電力値を格納するための)基準漏れ記憶装置206も含みうる。記憶装置206に格納されたベース漏れ値は、(例えば、シミュレーションまたは回路測定によって)設計時に、または、試験時に決定されうる。例えば、ベース漏れ値は、変動性が比較的高い設計の試験時に決定されうる。(各チップおよび/またはブロックごとに基本値を計算すれば、各回路の特性に応じて推定値を適用できるからである。)
一実施形態では、システム200は、(例えば、検知された値が記憶装置202に格納された最も近い値になるように)、センサ108から受信された温度値を丸める丸めロジック210も含みうる。補間ロジック212は、記憶装置202により出力された値をセンサ108により提供される実際の温度測定値に補間しうる。同様に、システム200は、(例えば、現在の閾値および/または供給電圧値を記憶装置204に格納された最も近い値になるように丸めるための)電圧丸めロジック214と、(例えば、記憶装置204により出力された値を制御ロジック110により提供された実際の電圧値に補間するための)電圧補間ロジック218とを含みうる。乗算器208は、(例えば、センサ108により検知された温度値に基づき記憶装置202から取得した)決定温度スケーリングファクタと、(例えば、ロジック110により提供された現在の電圧値に基づき記憶装置204から取得した)決定電圧スケーリングファクタと、(記憶装置206からの)基準漏れ値とを乗じてよい。その後、乗算値は、図1に関連して説明されたような(例えばパワーマネジメントロジック112)による電力設定の管理に利用されうる。
図2Bを参照すると、システム250は、対応する電圧セットのベース漏れ値を格納する基準漏れ記憶装置252を含みうる。したがって、一実施形態では、単一の記憶装置(252)は、図2Aの基準漏れ記憶装置206に格納された値と、図2Aの電圧スケーリングファクタ記憶装置204に格納された対応する値との組合せに対応する値を格納しうる。例えば、複数の漏れ電力値は、(例えば、センサ108により提供される)温度係数と、(例えば、ロジック110により提供された閾値電圧値および/または供給電圧値に対応する)電圧係数とによりインデックス付けされる。このような実施形態は、(例えば、ロジック110からの現在の閾値および/または供給電圧値に基づく)一回の取得によって、乗算器254を介して、(例えばセンサ108により提供された検知温度値に基づき)記憶装置202から取得される温度スケーリングファクタにより基準化されうる基準漏れ値が得られるようにしうる。あるいは、記憶装置202、204、206、および/または、252に格納された値は、単一の記憶装置(図示せず)内で組み合わされることにより、一回の取得によってセンサ108により提供された検知温度、および/または、ロジック110からの供給電圧値に対応する漏れ値が得られるようにしうる。また、システム250は、いくつかの実施形態に従う、(例えばロジック210、212、214、および/または、218と同じかまたは同様でありうる)丸めおよび/または補間ロジックを含みうる。
図3は、一実施形態におけるプロセッサコア300のブロック図を示す。一実施形態では、コア300は、(図5および6に関連して説明されるような)1つまたは多数のプロセッサ内に存在する可能性のあるさまざまな構成要素を表しうる。プロセッサコア300は、第2レベルキャッシュドメイン302、フロントエンドドメイン304、および、1つ以上のバックエンドドメイン306などの1つ以上のドメインを含みうる。各ドメイン302、304、および、306内の構成要素は、図1に関連して説明されたような異なるクロック信号により同期を取られることができる。さらに、各ドメイン(例えば302、304、および、306)は、さまざまな実施形態において、図3に示される数以下の構成要素を含みうる。
第2レベル(L2)キャッシュドメイン302は、(例えば、命令を含むデータを格納するための)L2キャッシュ308、センサ108、および、ロジック106、110、112を含みうる。一実施形態では、L2キャッシュ308は、図5および6に関連して説明されたようなマルチコアプロセッサ内の複数のコアにより共有されうる。また、L2キャッシュ308は、プロセッサコアと同じダイにあってもなくてもよい。したがって、本発明のさまざまな実施形態では、プロセッサは、ドメイン304および306を含んでよく、L2キャッシュ308を含んでも含まなくてもよい。
図3に示すように、フロントエンドドメイン304は、1つ以上のセンサ108、ロジック106、110、および、112、リオーダバッファ318、名前変更案内ユニット320、命令キャッシュ322、デコードユニット324、シーケンサ326、および/または、分岐予測ユニット328を含みうる。一実施形態では、フロントエンドドメイン304は、例えば命令フェッチユニットなどの他の構成要素を含みうる。
バックエンドドメイン306は、1つ以上の第1レベル(L1)キャッシュドメイン328、および、1つ以上の実行ドメイン330−1乃至330−Nを含みうる。L1キャッシュドメイン328は、(例えば命令を含むデータを格納するための)L1キャッシュ332、センサ108、および、ロジック106、110、112を含みうる。さらに、実行ドメイン330−1乃至330−Nは、整数実行ユニットおよび/または浮動小数点実行ユニットの1つ以上を含みうる。実行ドメイン330−1乃至330−Nは、それぞれ、発行キュー(338−1乃至338−Nのそれぞれ)、レジスタファイル(340−1乃至340−Nのそれぞれ)、センサ108、ロジック106、110、112、および/または、実行ユニット(346−1乃至346−Nのそれぞれ)を含みうる。
一実施形態では、各ドメイン302、304、および、306は、さまざまなクロックドメインの間(例えば、ドメイン302、304、および/または、306の間)の通信を同期させる1つ以上の先入れ先出し(FIFO)バッファ348を含みうる。
加えて、プロセッサコア300(および、例えば、図3に示されるような一実施形態では、バックエンドドメイン306)は、プロセッサコア300のさまざまな構成要素間の通信を容易にする相互接続またはバス350を含みうる。例えば、命令が(実行ドメイン330−1乃至330−Nなどによって)無事実行された後、命令コミットが(例えば相互接続350を介し)ROB318と通信することにより、その命令を取り下げうる。また、バックエンド内のドメイン(例えばドメイン328、および、330−1乃至330−N)は、相互接続350を介し通信しうる。例えば、実行ユニット(330−1乃至330−N)間の通信は、型変換命令に対して生じる。図1乃至3の構成要素のさらなる動作は、図4の方法400に関連して以下に説明する。
さらに、図3では、各ドメイン302、304、および、306がセンサ108、ロジック106、110、112を含むように示されているが、異なるドメインが同じセンサ108、および、ロジック106、110、および112を共有してもよい。例えば、センサ108とロジック106、110、および、112との一式が、プロセッサコア300のすべてのドメインに利用されうる。
図4は、一実施形態に従う、推定漏れ電力を提供する方法400のフローチャートである。一実施形態では、方法400の動作は、例えば、図1乃至3、および、図5、6に関連して説明された構成要素のような1つ以上の構成要素により実行されうる。
図1乃至4を参照すると、動作402において、センサ108は、ICデバイスに対応する1つ以上の温度値を検知しうる。検知された温度値は、動作404において、(例えば記憶装置202からの)温度スケーリングファクタを決定するために用いられうる。動作404では、(例えば記憶装置204および/または252から、)図2Aおよび2Bに関連して説明されたような電圧スケーリングファクタも決定されうる。動作406では、動作404で決定されたスケーリングファクタは、図2Aおよび図2Bに関連して説明されたような、(例えばユニット206および/または252)に格納された)基本漏れ値を基準化すべく用いられうる。動作408では、(例えば、乗算器205および254により)、ICデバイスの推定漏れ電力に対応する信号が生成されうる。図1に関連して述べられたように、推定された漏れ電力(408)は、(図1、5、および/または、6に関連して説明されたシステムのような)コンピュータシステムの1つ以上の構成要素の電力消費を調整すべく用いられうる。
一実施形態では、動作408において、推定漏れ電力を提供すべく、以下の方程式が用いられうる。
Figure 0005075196
上記式では、Pは、推定された漏れ電力値に対応し、P0は、(例えば、ユニット206および/または252に格納されうる)基本漏れ電力値に対応し、Vddは、(ロジック110により提供されうる)供給電圧に対応し、Vthは、(ロジック110により提供されうる)閾値電圧に対応し、Vdd0は、基本漏れが測定されたVddに対応し、Vth0は、基本漏れが測定されたVthに対応し、Tは、センサ108により検知された現在の温度値に対応し、T0は、基本漏れが測定された温度に対応し、δ、βおよびγは、設計者により設定された回路依存定数である。さまざまな実施形態において、項
Figure 0005075196
に対応する値は、記憶装置202に格納されることができ、項
Figure 0005075196
に対応する値は、記憶装置204(または252)に格納されうる。それゆえ、項T(T)およびV(Vdd、Vth)を乗算することによりPの値を得るべく、乗算器(208、254)が用いられる。
さらに、一実施形態では、ICコンポーネントの動的較正が(例えば、動的電力消費のない)アイドルモードで実行されうる。このような状況において、ICコンポーネントの各部分(例えばブロック)における(制御された周囲温度を超えた)温度上昇は、漏れ電力に依存しうる。ブロック内に配置されうる熱センサ108は、(例えば、比較的長い期間の後)安定した温度を記録しうる。温度マップを用い、(例えば、ICコンポーネントの外部にあるコンピュータなどのツール)は、例えば、リバースエンジニアリングを介しシナリオを作成するパワーマップを導きうる。(供給電圧、閾値電圧、および、周囲温度などの他の定数は知られているので)、漏れ値は、各部分の静的温度に基づき計算されうる。計算されたパワーマップは、基準漏れ記憶装置206に格納されうる。一実施形態では、較正されるICコンポーネントと、(例えば温度の読取りを報告し、基本漏れのアップデートを実行するための)試験装置との間の通信のために特別な専用マイクロコードが用いられうる。
図5は、本発明の一実施形態に従うコンピュータシステム500のブロック図である。コンピュータシステム500は、相互接続ネットワーク(またはバス)504を介し通信する1つ以上の中央処理装置(CPU)502またはプロセッサを含みうる。プロセッサ502は、汎用プロセッサ、(コンピュータネットワーク503を介し通信されるデータを処理する)ネットワークプロセッサなどの任意のタイプのプロセッサ、または、(縮小命令セットコンピュータ(RISC)プロセッサ、または、複雑命令セットコンピュータ(CISC)を含む)他のタイプのプロセッサでありうる。さらに、プロセッサ502は、単一または複数のコア設計を有しうる。複数のコア設計を有するプロセッサ502は、同じ集積回路(IC)ダイに異なるタイプのプロセッサコアを集積しうる。また、複数のコア設計を有するプロセッサ502は、対称または非対称のマルチプロセッサとして実装されうる。一実施形態では、1つ以上のプロセッサ502は、図1乃至4に関連して説明された実施形態を利用しうる。例えば、1つ以上のプロセッサ502は、1つ以上のプロセッサコア(300)を含みうる。また、図1乃至4に関連して説明された動作は、システム500の1つ以上の構成要素により実行されうる。
チップセット506は、相互接続ネットワーク504とも通信しうる。チップセット506は、メモリ制御ハブ(MCH)508を含みうる。MCH508は、メモリ512と通信するメモリコントローラ510を含みうる。メモリ512は、CPU502、または、コンピュータシステム500に含まれる他のいかなるデバイスによって実行されるデータおよび命令シーケンスを格納しうる。本発明の一実施形態では、メモリ512は、ランダムアクセスメモリ(RAM)、ダイナミックRAM(DRAM)、同期DRAM(SDRAM)、スタティックRAM(SRAM)などの1つ以上の揮発性記憶装置(またはメモリ)を含みうる。ハードディスクなどの不揮発性メモリも用いられうる。多重CPU、および/または、多重システムメモリなどのさらなるデバイスは、相互接続ネットワーク504を介し通信しうる。
MCH508は、グラフィックアクセラレータ516と通信するグラフィックインターフェース514も含む。本発明の一実施形態では、グラフィックインターフェース514は、アクセラレイティッドグラフィックスポート(AGP)を介しグラフィックアクセラレータ516と通信しうる。本発明の一実施形態では、(フラットパネルディスプレイなどの)ディスプレイは、例えば、ビデオメモリまたはシステムメモリなどの記憶装置に格納された画像のデジタル表現をディスプレイにより読み取られて表示されるディスプレイ信号に変換する信号変換器を介しグラフィックインターフェース514と通信しうる。ディスプレイデバイスにより生成されるディスプレイ信号は、ディスプレイにより読み取られて表示される前にさまざまな制御デバイスを通過しうる。
ハブインターフェース518は、MCH508が入出力制御ハブ(ICH)520と通信することを可能にする。ICH520は、コンピュータシステム500の構成要素と通信するI/Oデバイスにインターフェースを提供する。ICH520は、peripheral component interconnect (PCI)ブリッジ、Universal Serial Bus(USB)コントローラなどの周辺ブリッジ(またはコントローラ)524を介しバス522と通信しうる。ブリッジ524は、CPU502と周辺デバイスとの間のデータパスを提供しうる。他のタイプのトポロジも利用されうる。また、多重バスは、例えば、多重ブリッジまたはコントローラを介しICH520と通信しうる。さらに、本発明のさまざまな実施形態では、ICH520と通信する他の周辺装置は、IDE(integrated drive electronics)または小型コンピュータシステムインターフェース(SCSI)ハードドライブ、USBポート、キーボード、マウス、パラレルポート、シリアルポート、フロッピーディスクドライブ、デジタル出力サポート(例えばデジタルビデオインターフェース(DVI))などを含む。
バス522は、オーディオデバイス526、1つ以上のディスクドライブ528、および、(コンピュータネットワーク503と通信する)ネットワークインターフェースデバイス530と通信しうる。他のデバイスは、バス522と通信しうる。また、本発明のいくつかの実施形態では、さまざまな構成要素(ネットワークインターフェースデバイス530)は、MCH508と通信しうる。さらに、プロセッサ502とMCH508とを組み合わせることにより、単一のチップが形成されうる。またさらに、本発明の他の実施形態では、グラフィックアクセラレータ516は、MCH508内に含まれうる。
さらに、コンピュータシステム500は、揮発性および/または不揮発性メモリ(または記憶装置)を含みうる。例えば、不揮発性メモリは、リードオンリーメモリ(ROM)、プログラマブルROM(PROM)、消去可能プログラマブルROM(EPROM)、電気的消去可能PROM(EEPROM)、ディスクドライブ(例えば528)、フロッピーディスク、コンパクトディスクROM(CD−ROM)、デジタル多用途ディスク(DVD)、フラッシュメモリ、光磁気ディスク、あるいは、電子命令および/またはデータを格納することが可能な他のタイプの不揮発性機械可読媒体のうちの1つ以上を含みうる。
図6は、本発明の一実施形態に従う、ポイントツーポイント(PtP)で配置されたコンピュータシステム600を示す。特に、図6は、プロセッサ、メモリ、および、入出力デバイスが多数のポイントツーポイントインターフェースによって相互接続されているシステムを示す。図1乃至5に関連して説明される動作は、システム600の1つ以上の構成要素によって実行されうる。
図6に示すように、システム600は、いくつかのプロセッサを含みうるが、説明を簡単にすべく、そのうちの2つのプロセッサ602および604のみが図示されている。プロセッサ602および604のそれぞれは、メモリ610および612との通信を可能にするローカルメモリコントローラハブ(MCH)606および608を含みうる。メモリ610および/または612は、メモリ512に関連して説明されたようなさまざまなデータを格納しうる。
プロセッサ602および604は、図5のプロセッサ502に関連して説明されたようないかなるタイプのプロセッサであってよい。プロセッサ602および604は、それぞれ、PtPインターフェース回路616および618を用いてポイントツーポイント(PtP)インターフェース614を介しデータを交換しうる。プロセッサ602および604は、ポイントツーポイントインターフェース回路626、628、630、および、632を用いて、個々のPtPインターフェース622および624を介しチップセット620とデータを交換しうる。チップセット620は、PtPインターフェース回路637を用いて、高性能グラフィックインターフェース636を介し高性能グラフィック回路634とデータを交換してもよい。
本発明の少なくとも1つの実施形態において、プロセッサ602および604が提供される。例えば、図1に関連して説明された1つ以上のドメイン102、および/または、プロセッサコア300は、プロセッサ602および604内に配置されうる。しかしながら、図6のシステム600内の他の回路、論理演算装置、または、デバイスに本発明の他の実施形態が存在してもよい。さらに、本発明の他の実施形態は、図6に示されるいくつかの回路、論理演算装置、または、デバイス全体に分散されてよい。
チップセット620は、PtPインターフェース回路641を用いてバス640と通信しうる。バス640は、バスブリッジ642および/またはI/Oデバイス643などと通信する1つ以上のデバイスを有しうる。バスブリッジ643は、バス644を介し、キーボード/マウス645、(例えば、コンピュータネットワーク503と通信しうるモデム、ネットワークインターフェースデバイスなどの)通信デバイス646、オーディオI/Oデバイス、および/または、データ記憶装置648と通信しうる。データ記憶装置648は、プロセッサ602および/または604により実行されうるコード649を格納しうる。
本発明のさまざまな実施形態では、例えば図1乃至6に関連して説明される動作は、例えば、本願明細書中に記載されるプロセスを実行するコンピュータをプログラムするのに用いられる命令(またはソフトウェア手順)を格納する機械可読またはコンピュータ可読媒体を含むコンピュータプログラム製品として提供されうる、ハードウェア(例えば回路)、ソフトウェア、ファームウェア、マイクロコード、または、それらの組合せによって実装されることができる。また、「ロジック」という用語は、例えば、ソフトウェア、ハードウェア、または、ソフトウェアとハードウェアとの組合せを含みうる。機械可読媒体は、図1乃至6に関連して説明されたような記憶装置を含みうる。また、このようなコンピュータ可読媒体は、コンピュータプログラム製品としてダウンロードされうる。その場合、プログラムは、通信リンク(例えば、バス、モデム、または、ネットワーク接続)を介し搬送波、または、他の伝搬媒質で表されるデータ信号により、リモートコンピュータ(サーバなど)から要求元コンピュータ(クライアントなど)へと転送されうる。したがって、本願明細書中では、搬送波は、機械可読媒体を含むものとする。
明細書における、「1つの実施形態」、または、「一実施形態」への言及は、実施形態に関連して記載されている特定の特長、構造、または、特徴が少なくとも1つの実装に含まれうることを意味する。したがって、随所に見られる「一実施形態」というフレーズは、同じ実施形態を指す場合も指さない場合もありうる。
また、明細書および請求項の範囲において、「結合」および「接続」という言葉がそれらの派生語と共に用いられている。本発明のいくつかの実施形態では、「接続」は、2つ以上の要素が物理的または電気的互いに直接接触していることを示すために用いられうる。「結合」は、2つ以上の要素が物理的または電気的に直接接触していることを示すために用いられうる。しかしながら、「結合」は、2つ以上の要素が互いに直接接触してはいないが、互いに協働または作用し合っていることを意味することもある。
したがって、本発明の実施形態は、構造の特長および/または方法論的動作に特有の言葉で説明されてきてはいるものの、請求項の内容は、それら特定の特長および動作に必ずしも限定されないと理解されたい。むしろ、特定の特長および動作は、請求項の内容を実装するサンプルの形式として開示されている。

Claims (19)

  1. 1つ以上の検知された温度値に対応する第1の信号を生成する第1のロジックと
    対応する電圧セットの複数の基本漏れ電力値を格納し、格納された前記複数の基本漏れ電力値に基づいて1つ以上の電圧値に対応する第2の信号を生成する第2のロジックと
    前記第1の信号および前記第2の信号に基づき、漏れ電力値に対応する第3の信号を生成する第3のロジックと
    を備える装置。
  2. 前記第3の信号に基づき、コンピュータシステムの1つ以上の構成要素の電力消費を調整する第4のロジックをさらに備える、請求項1に記載の装置。
  3. 前記1つ以上の電圧値は、閾値電圧の現在の値と、供給電圧の現在の値とを含む、請求項1または請求項2に記載の装置。
  4. 基本漏れ電力値に対応する第4の信号を生成する第4のロジックをさらに備え、前記第3のロジックは、前記第1の信号、前記第2の信号、および、前記第4の信号に基づき前記第3の信号を生成する、請求項1から請求項3のいずれか1つに記載の装置。
  5. 前記温度値を検知する1つ以上の温度センサをさらに備える、請求項1から請求項4のいずれか1つに記載の装置。
  6. 前記第3のロジックは、前記第1の信号と前記第2の信号とを乗じることにより、前記第3の信号を提供する乗算器を含む、請求項1から請求項5のいずれか1つに記載の装置。
  7. 1つ以上のプロセッサコアをさらに備え、前記1つ以上のプロセッサコアの少なくとも1つは、前記第1のロジック、前記第2のロジック、または、前記第3のロジックの1つ以上を含む、請求項1から請求項6のいずれか1つに記載の装置。
  8. 1つ以上のプロセッサコアをさらに備え、前記1つ以上のプロセッサコアの少なくとも1つ、前記第1のロジック、前記第2のロジック、および、前記第3のロジックは、同じダイにある、請求項1から請求項6のいずれか1つに記載の装置。
  9. デバイスから検知された1つ以上の温度値に基づき、温度係数を決定することと、
    前記デバイスに対応する1つ以上の電圧値に基づき、電圧係数を決定することと、
    前記温度係数、前記電圧係数、および前記デバイスの基準漏れ電力値に基づいて、前記デバイスの漏れ電力値に対応する信号を生成することと、
    を含む方法。
  10. 前記検知することと、前記生成することとは、前記デバイスの実行時間中に実行される、請求項9に記載の方法。
  11. 前記温度係数を決定することは、記憶装置にアクセスすることを含む、請求項9または請求項10に記載の方法。
  12. 前記電圧係数を決定することは、記憶装置にアクセスすることを含む、請求項9から請求項11のいずれか1つに記載の方法。
  13. 複数のスケーリングファクタを表す複数のビットを格納するメモリと
    1つ以上のコンピュータ動作を実行する1つ以上の構成要素を有する第1のロジックと
    検知された温度変化と、前記格納された複数のスケーリングファクタの1つ以上とに少なくとも一部基づき、前記1つ以上の構成要素の少なくとも1つに対応する漏れ電力値に対応する信号を生成する第2のロジックと
    を含み、
    前記複数のスケーリングファクタの少なくとも1つは、閾値電圧の現在の値および供給電圧の現在の値に対応し、
    前記第2のロジックは、検知された温度変化に基づく温度係数に対応する第1の信号、前記閾値電圧の前記現在の値および前記供給電圧の前記現在の値に基づく電圧係数に対応する第2の信号、および前記1つ以上の構成要素の少なくとも1つに対応する基本漏れ電力値に対応する第3の信号を乗算することで、前記漏れ電力値に対応する第4の信号を生成する乗算器を含むコンピュータシステム。
  14. 前記第4の信号に対応する漏れ電力値に基づき、前記1つ以上の構成要素の少なくとも1つの電力消費を調整する第3のロジックをさらに備える、請求項13に記載のコンピュータシステム。
  15. 前記格納された複数のスケーリングファクタは、複数の温度係数と、複数の電圧係数とを含む、請求項13または請求項14に記載のコンピュータシステム。
  16. 1つ以上のプロセッサコアをさらに備え、前記1つ以上のプロセッサコアの少なくとも1つは、前記第1のロジック、前記第2のロジック、または、前記第3のロジックを含む、請求項14に記載のコンピュータシステム。
  17. 1つ以上のプロセッサコアをさらに備え、前記1つ以上のプロセッサコアの少なくとも1つ、前記第1のロジック、前記第2のロジック、および、前記第3のロジックは、同じダイにある、請求項14に記載のコンピュータシステム。
  18. 前記1つ以上のコンピュータ動作は、データ処理、データ記憶、および、データ通信の1つ以上を含む、請求項13から請求項17のいずれか1つに記載のコンピュータシステム。
  19. オーディオデバイスをさらに備える、請求項13から請求項18のいずれか1つに記載のコンピュータシステム。
JP2009510475A 2006-06-30 2006-06-30 漏れ電力推定 Active JP5075196B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/ES2006/070093 WO2008000858A1 (es) 2006-06-30 2006-06-30 Estimación de la potencia de fugas

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009537103A JP2009537103A (ja) 2009-10-22
JP5075196B2 true JP5075196B2 (ja) 2012-11-14

Family

ID=38845157

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009510475A Active JP5075196B2 (ja) 2006-06-30 2006-06-30 漏れ電力推定

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7814339B2 (ja)
JP (1) JP5075196B2 (ja)
KR (1) KR101048751B1 (ja)
CN (1) CN101449176B (ja)
GB (1) GB2457752B (ja)
WO (1) WO2008000858A1 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101297255B (zh) 2005-10-26 2011-11-02 英特尔公司 可检测变化的集群体系结构
US20070204106A1 (en) * 2006-02-24 2007-08-30 James Donald Adjusting leakage power of caches
US20080234953A1 (en) * 2007-03-22 2008-09-25 Ignowski James S Power estimation for a semiconductor device
US8104006B2 (en) * 2008-01-31 2012-01-24 Cadence Design Systems, Inc. Method and apparatus for thermal analysis
US8104007B2 (en) * 2008-06-24 2012-01-24 Cadence Design Systems, Inc. Method and apparatus for thermal analysis
US8103996B2 (en) 2008-06-24 2012-01-24 Cadence Design Systems, Inc. Method and apparatus for thermal analysis of through-silicon via (TSV)
US8201113B2 (en) 2008-07-25 2012-06-12 Cadence Design Systems, Inc. Method and apparatus for multi-die thermal analysis
US20100030500A1 (en) * 2008-07-29 2010-02-04 Gamal Refai-Ahmed Regulation of Power Consumption for Application-Specific Integrated Circuits
US9043795B2 (en) * 2008-12-11 2015-05-26 Qualcomm Incorporated Apparatus and methods for adaptive thread scheduling on asymmetric multiprocessor
US8112469B1 (en) * 2009-03-02 2012-02-07 Lockheed Martin Corporation Emergency override system and method for network devices
US8930733B2 (en) * 2009-06-12 2015-01-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Separating power domains of central processing units
TW201140308A (en) * 2010-03-15 2011-11-16 Kyushu Inst Technology Semiconductor device, detection method, and program
US9015023B2 (en) * 2010-05-05 2015-04-21 Xilinx, Inc. Device specific configuration of operating voltage
US8942932B2 (en) * 2010-08-31 2015-01-27 Advanced Micro Devices, Inc. Determining transistor leakage for an integrated circuit
US8499274B2 (en) 2011-11-30 2013-07-30 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Computer implemented system and method for leakage calculation
WO2013187207A1 (ja) * 2012-06-14 2013-12-19 三菱電機株式会社 パワーモジュールの劣化検知装置
US9389871B2 (en) 2013-03-15 2016-07-12 Intel Corporation Combined floating point multiplier adder with intermediate rounding logic
US9000490B2 (en) 2013-04-19 2015-04-07 Xilinx, Inc. Semiconductor package having IC dice and voltage tuners
US8793641B1 (en) 2013-05-27 2014-07-29 Freescale Semiconductor, Inc. System and method for determining power leakage of electronic circuit design
US8762922B1 (en) 2013-10-13 2014-06-24 Freescale Semiconductor, Inc. System for reducing leakage power of electronic circuit
US9217771B2 (en) 2014-01-14 2015-12-22 International Business Machines Corporation Method for breaking down hardware power into sub-components
US9652026B2 (en) * 2014-12-21 2017-05-16 Qualcomm Incorporated System and method for peak dynamic power management in a portable computing device
US10031180B2 (en) * 2015-07-22 2018-07-24 International Business Machines Corporation Leakage power characterization at high temperatures for an integrated circuit
US9733685B2 (en) 2015-12-14 2017-08-15 International Business Machines Corporation Temperature-aware microprocessor voltage management
US9874917B2 (en) 2016-01-04 2018-01-23 International Business Machines Corporation Adaptive power capping in a chip
US10133836B1 (en) 2016-09-21 2018-11-20 Cadence Design Systems, Inc. Systems and methods for on-the-fly temperature and leakage power estimation in electronic circuit designs
KR102663815B1 (ko) 2018-06-01 2024-05-07 삼성전자주식회사 컴퓨팅 장치 및 이의 동작 방법
KR20230052022A (ko) * 2021-10-12 2023-04-19 삼성전자주식회사 메모리 제어 방법 및 상기 방법을 수행하는 전자 장치

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5940785A (en) 1996-04-29 1999-08-17 International Business Machines Corporation Performance-temperature optimization by cooperatively varying the voltage and frequency of a circuit
US5956289A (en) * 1997-06-17 1999-09-21 Micron Technology, Inc. Clock signal from an adjustable oscillator for an integrated circuit
US6347379B1 (en) 1998-09-25 2002-02-12 Intel Corporation Reducing power consumption of an electronic device
US6415388B1 (en) 1998-10-30 2002-07-02 Intel Corporation Method and apparatus for power throttling in a microprocessor using a closed loop feedback system
JP3475237B2 (ja) * 2000-07-24 2003-12-08 東京大学長 電力制御装置及び方法並びに電力制御プログラムを記録した記録媒体
US6518782B1 (en) * 2000-08-29 2003-02-11 Delta Design, Inc. Active power monitoring using externally located current sensors
US6586963B2 (en) * 2001-03-26 2003-07-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Integrated circuit devices having power control logic that inhibits internal leakage current loss during sleep mode operation and method of operating same
JP2002299454A (ja) * 2001-04-02 2002-10-11 Toshiba Corp 論理回路設計方法、論理回路設計装置及び論理回路マッピング方法
WO2003021600A2 (en) 2001-08-29 2003-03-13 Analog Devices, Inc. Methods and apparatus utilizing flash burst mode to improve processor performance
US6809538B1 (en) 2001-10-31 2004-10-26 Intel Corporation Active cooling to reduce leakage power
JPWO2003094235A1 (ja) * 2002-04-30 2005-09-08 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
US6885233B2 (en) * 2002-05-02 2005-04-26 Intel Corporation Altering operating frequency and voltage set point of a circuit in response to the operating temperature and instantaneous operating voltage of the circuit
US6762629B2 (en) 2002-07-26 2004-07-13 Intel Corporation VCC adaptive dynamically variable frequency clock system for high performance low power microprocessors
US7309998B2 (en) 2002-12-02 2007-12-18 Burns Lawrence M Process monitor for monitoring an integrated circuit chip
WO2004066092A2 (en) 2003-01-23 2004-08-05 University Of Rochester Multiple clock domain microprocessor
DE602004001869T2 (de) 2003-03-20 2007-05-03 Arm Ltd., Cherry Hinton Fehlererkennung und fehlerbehebung für systematische und zufällige fehler innerhalb einer verarbeitungsstufe einer integrierten schaltung
US7055007B2 (en) 2003-04-10 2006-05-30 Arm Limited Data processor memory circuit
US6864722B2 (en) 2003-05-09 2005-03-08 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Phase detector for a programmable clock synchronizer
US6842714B1 (en) * 2003-08-22 2005-01-11 International Business Machines Corporation Method for determining the leakage power for an integrated circuit
US7137080B2 (en) * 2003-08-22 2006-11-14 International Business Machines Corporation Method for determining and using leakage current sensitivities to optimize the design of an integrated circuit
US7194643B2 (en) 2003-09-29 2007-03-20 Intel Corporation Apparatus and method for an energy efficient clustered micro-architecture
US7134029B2 (en) * 2003-11-06 2006-11-07 International Business Machines Corporation Computer-component power-consumption monitoring and control
US7272065B2 (en) 2003-12-03 2007-09-18 Simon Lovett Compensated refresh oscillator
JP2005210099A (ja) * 2003-12-25 2005-08-04 Nec Electronics Corp 半導体回路装置の設計方法、半導体回路の設計方法及び半導体回路装置
JP4744807B2 (ja) * 2004-01-06 2011-08-10 パナソニック株式会社 半導体集積回路装置
US7228446B2 (en) 2004-12-21 2007-06-05 Packet Digital Method and apparatus for on-demand power management
US7454573B2 (en) 2005-01-13 2008-11-18 International Business Machines Corporation Cost-conscious pre-emptive cache line displacement and relocation mechanisms
US7839201B2 (en) * 2005-04-01 2010-11-23 Raytheon Company Integrated smart power switch
US20070005152A1 (en) * 2005-06-30 2007-01-04 Ben Karr Method and apparatus for monitoring power in integrated circuits
US20070001694A1 (en) * 2005-06-30 2007-01-04 Sanjeev Jahagirdar On-die real time leakage energy meter
US7412353B2 (en) * 2005-09-28 2008-08-12 Intel Corporation Reliable computing with a many-core processor
CN101297255B (zh) 2005-10-26 2011-11-02 英特尔公司 可检测变化的集群体系结构
US20070204106A1 (en) * 2006-02-24 2007-08-30 James Donald Adjusting leakage power of caches
US7459958B2 (en) * 2006-06-19 2008-12-02 International Business Machines Corporation Circuits to reduce threshold voltage tolerance and skew in multi-threshold voltage applications
JP4757108B2 (ja) * 2006-06-21 2011-08-24 富士通株式会社 半導体集積回路及びその電力低減方法
US7453756B2 (en) * 2006-08-31 2008-11-18 Freescale Semiconductor, Inc. Method for powering an electronic device and circuit

Also Published As

Publication number Publication date
WO2008000858A1 (es) 2008-01-03
JP2009537103A (ja) 2009-10-22
US20080244278A1 (en) 2008-10-02
CN101449176A (zh) 2009-06-03
US7814339B2 (en) 2010-10-12
CN101449176B (zh) 2014-04-23
GB2457752A (en) 2009-08-26
KR20090027679A (ko) 2009-03-17
GB0900831D0 (en) 2009-03-04
KR101048751B1 (ko) 2011-07-14
GB2457752B (en) 2010-05-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5075196B2 (ja) 漏れ電力推定
JP5254224B2 (ja) 熱効率的な集積回路(ic)動作のためのダイ単位温度プログラミング
US8707060B2 (en) Deterministic management of dynamic thermal response of processors
TWI463119B (zh) 用於溫度感測及校正之方法、積體電路及系統
US8942932B2 (en) Determining transistor leakage for an integrated circuit
US9483092B2 (en) Performance state boost for multi-core integrated circuit
CN105245686B (zh) 一种操作移动设备的方法和移动设备
JP2009542013A (ja) エネルギー効率的な集積回路(ic)動作のためのダイ単位電圧プログラミング
US9298243B2 (en) Selection of an operating point of a memory physical layer interface and a memory controller based on memory bandwidth utilization
JP2010108217A (ja) メモリインターフェース及びメモリインターフェースの動作方法
Lee et al. PowerTrain: A learning-based calibration of McPAT power models
KR102599653B1 (ko) 냉각 알고리즘을 수행하는 집적 회로와 이를 포함하는 모바일 장치
TW201348964A (zh) 在運行時間下判定最佳化預載入距離
KR20220059243A (ko) 전력 측정에 기초한 온도 검출 및 열 관리를 위한 방법 및 장치
Park et al. Aggressive voltage and temperature control for power saving in mobile application processors
US20150094995A1 (en) Managing Interconnect Electromigration Effects
WO2018057713A1 (en) Method and apparatus for temperature and voltage management control
US20110283131A1 (en) Computer-readable recording medium, method, and apparatus for calculating power consumption information
US20230056423A1 (en) Processor core simulator including trace-based coherent cache driven memory traffic generator
Onnebrink et al. Black box power estimation for digital signal processors using virtual platforms
US11169586B2 (en) Computing device and method of operating the same
US20150198660A1 (en) Method for breaking down hardware power into sub-components
CN102944803B (zh) 泄漏功率估计
US20230071427A1 (en) Providing deterministic frequency and voltage enhancements for a processor
US9268898B1 (en) Estimating power consumption of a circuit design

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111011

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120110

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120117

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120210

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120217

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120308

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120807

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120824

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5075196

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150831

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250