JP5071152B2 - 表示装置の製造方法および照明装置の製造方法 - Google Patents

表示装置の製造方法および照明装置の製造方法 Download PDF

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この発明は、表示装置の製造方法、表示装置、照明装置の製造方法および照明装置に関し、特に、フレキシブルな表示装置および照明装置に適用して好適なものである。
従来、フレキシブルなディスプレイ(パネル)を製造する方法として、画素駆動用の薄膜トランジスタ(TFT)などを含む薄膜デバイス層を保護絶縁層を介してガラス基板上に形成し、薄膜デバイス層上に封止基板としてプラスチック基板などのフレキシブル基板を接着し、ガラス基板を化学処理または機械的研磨処理で除去した後、こうして露出した薄膜デバイス層にプラスチック基板などのフレキシブル基板を接着する方法が知られている(例えば、特許文献1参照。)。この方法では、ディスプレイの端子(外部端子との接続部)の取り出しは、端子上部にある保護絶縁層の所定部分をエッチングで除去して端子部を露出させることにより行っている。
特開2003−323132号公報
しかし、上述の従来の方法では、保護絶縁層をエッチングする際に、端子部だけではなく、サイドエッチングにより必要以上の部分の保護絶縁層がエッチングされてしまう可能性があるため、デバイス特性が悪化するなどの不具合が生じるおそれがある。また、上述の従来の方法では、保護絶縁層をエッチングするために、フォトリソグラフィー工程を行う必要があるが、封止基板であるフレキシブル基板を貼り付けた後にフォトリソグラフィー工程を行うのは通常のプロセス設備では困難である。
そこで、この発明が解決しようとする課題は、端子の取り出しを通常のプロセス設備を用いて容易に行うことができ、フレキシブルな表示装置を特性の劣化を生じることなく容易に製造することができる表示装置の製造方法およびそのような表示装置を提供することである。
この発明が解決しようとする他の課題は、端子の取り出しを通常のプロセス設備を用いて容易に行うことができ、フレキシブルな照明装置を特性の劣化を生じることなく容易に製造することができる照明装置の製造方法およびそのような照明装置を提供することである。
上記課題を解決するために、第1の発明は、
第1の基板上に、少なくとも複数の発光素子を有し、表示部を構成する素子層およびこの素子層から引き出された複数の端子を形成した後、上記素子層および上記複数の端子を覆うように保護膜を形成する工程と、
上記第1の基板上に上記素子層を囲み、かつ上記複数の端子の根元側の部分が内側に含まれるように第1のシール剤を形成する工程と、
上記第1の基板上の上記第1のシール剤の外側に上記素子層および上記複数の端子が内側に含まれるように第2のシール剤を形成する工程と、
上記第1の基板上の上記第1のシール剤の内側に充填剤を形成して上記素子層を封止する工程と、
上記第1のシール剤、上記第2のシール剤および上記充填剤にフレキシブルな第2の基板を貼り合わせる工程と、
上記第2の基板を貼り合わせた後、上記第1の基板を除去または薄膜化する工程と、
上記第1の基板を除去または薄膜化することにより露出した面にフレキシブルな第3の基板を貼り合わせる工程と、
上記素子層および上記複数の端子の外側でかつ上記第2のシール剤の内側にある線に沿って上記第2の基板および上記第3の基板を切断する工程と、
上記第1のシール剤の外側でかつ上記複数の端子の根元側の部分を横断する線に沿って上記第2の基板を切断する工程と、
少なくとも上記切断された上記第2の基板の外側の部分の上記保護膜を除去することにより上記複数の端子を露出させる工程とを有する
ことを特徴とする表示装置の製造方法である。
典型的には、第1のシール剤、第2のシール剤および充填剤に第2の基板を貼り合わせた後、第2の基板に第4の基板を接着剤により接着し、第1の基板をエッチング、典型的にはウエットエッチングにより除去または薄膜化する。第1の基板を薄膜化する場合、この薄膜化された後の第1の基板の厚さは、最終的に得られる表示装置がフレキシブルとなるように十分に薄くすることが望ましい。第1の基板としては、素子層を形成するプロセスに耐えられる強度および耐熱温度を有し、かつ後に容易に除去することができるものである限り、どのようなものを用いてもよいが、具体的には例えばガラス基板や石英基板などが用いられる。典型的には、第1の基板および第4の基板の双方がガラス基板であり、この場合、第4の基板を構成するガラス基板の厚さは第1の基板を構成するガラス基板の厚さより大きくする。こうすることで、第1の基板と第4の基板との間に素子層などが挟まれたものの全体をエッチング液に浸漬して第1の基板をエッチングする場合、第1の基板が完全に除去された時点で第4の基板が残るようにすることができる。
第1の基板を除去または薄膜化する方法としてはエッチング以外の方法、例えば機械的研磨などを用いてもよい。この場合、第2の基板に第4の基板を接着剤により接着する必要がなくなり、製造コストの低減を図ることができる。
第1の基板をエッチングにより除去する場合には、好適には、第1の基板上にあらかじめバリア層を形成し、その上に素子層を形成する。こうすることで、第1の基板をエッチングする際に素子層を保護することができる。典型的には、バリア層上に保護絶縁層を形成し、その上に素子層を形成する。一方、第1の基板を機械的研磨により除去する場合には、必ずしもバリア層を形成する必要はなく、第1の基板を薄膜化して残す場合には保護絶縁層を形成する必要もない。
フレキシブルな第2の基板および第3の基板としては、フレキシブルである限り、基本的にはどのような基板を用いてもよいが、典型的には、各種のプラスチック基板が用いられる。これらの第2の基板および第3の基板のうち外部に光が取り出される方の基板としては透明基板が用いられる。
少なくとも切断された第2の基板の外側の部分の保護膜を除去する方法としては、典型的にはエッチングを用いることができる。このエッチング法は、反応性イオンエッチング(RIE)などのドライエッチング法およびウエットエッチング法のいずれを用いてもよい。保護膜の除去にウエットエッチング法を用いる場合には、第1のシール剤の外側の部分の保護膜が除去される。
表示部を構成する素子層は、典型的には、二次元アレイ状に配列された複数の画素を有し、複数の発光素子に加え、これらの発光素子を選択し、駆動する回路を有する。駆動方式としてはアクティブマトリクス方式、パッシブ(単純)マトリクス方式のいずれを用いてもよい。アクティブマトリクス方式を用いる場合、画素あるいは発光素子の駆動素子としては一般的には薄膜素子、典型的には薄膜トランジスタ(TFT)が用いられる。TFTとしては好適には多結晶(ポリシリコン)SiTFTが用いられる。多結晶SiTFTとしては好適にはいわゆる低温ポリシリコンTFTが用いられるが、いわゆる高温ポリシリコンTFTを用いてもよい。発光素子は一般に、発光層を間に挟んだ下部電極および上部電極を有し、典型的には有機エレクトロルミネッセンス(EL)素子であるが、無機エレクトロルミネッセンス(EL)素子や有機半導体または無機半導体を用いた発光ダイオードなどであってもよい。
この表示装置のカラー化技術としては、RGB独立塗り分け方式、色変換方式、カラーフィルター方式のいずれを用いてもよい。RGB独立塗り分け方式では赤色発光層、緑色発光層および青色発光層を用いる。色変換方式では青色発光層と色変換膜とを用いる。カラーフィルター方式では白色発光層とRGB3色のカラーフィルターとを用いる。
第2の発明は、
フレキシブルな第5の基板と、
上記第5の基板上に形成された、少なくとも複数の発光素子を有し、表示部を構成する素子層およびこの素子層から上記第5の基板上に引き出された複数の端子と、
上記素子層および上記複数の端子を覆うように形成された保護膜と、
上記第5の基板上に上記素子層を囲み、かつ上記複数の端子の根元側の部分が内側に含まれるように形成されたシール剤と、
上記第5の基板上の上記シール剤の内側に形成されて上記素子層を封止する充填剤と、
上記シール剤および上記充填剤に貼り合わされ、上記シール剤の外側でかつ上記複数の端子の根元側の部分を横断する線に沿った辺を有するフレキシブルな第6の基板とを有し、
少なくとも上記第6の基板の外側の部分の上記保護膜が除去されて上記複数の端子が露出している
ことを特徴とする表示装置である。
この第2の発明による表示装置において、フレキシブルな第5の基板、フレキシブルな第6の基板およびシール剤はそれぞれ第1の発明による表示装置の製造方法におけるフレキシブルな第3の基板、フレキシブルな第2の基板および第1のシール剤に相当する。
この第2の発明においては、上記以外のことは、第1の発明に関連して説明したことが成立する。
第3の発明は、
第1の基板上に、少なくとも複数の発光素子を有し、発光部を構成する素子層およびこの素子層から引き出された複数の端子を形成した後、上記素子層および上記複数の端子を覆うように保護膜を形成する工程と、
上記第1の基板上に上記素子層を囲み、かつ上記複数の端子の根元側の部分が内側に含まれるように第1のシール剤を形成する工程と、
上記第1の基板上の上記第1のシール剤の外側に上記素子層および上記複数の端子が内側に含まれるように第2のシール剤を形成する工程と、
上記第1の基板上の上記第1のシール剤の内側に充填剤を形成して上記素子層を封止する工程と、
上記第1のシール剤、上記第2のシール剤および上記充填剤にフレキシブルな第2の基板を貼り合わせる工程と、
上記第2の基板を貼り合わせた後、上記第1の基板を除去または薄膜化する工程と、
上記第1の基板を除去または薄膜化することにより露出した面にフレキシブルな第3の基板を貼り合わせる工程と、
上記素子層および上記複数の端子の外側でかつ上記第2のシール剤の内側にある線に沿って上記第2の基板および上記第3の基板を切断する工程と、
上記第1のシール剤の外側でかつ上記複数の端子の根元側の部分を横断する線に沿って上記第2の基板を切断する工程と、
少なくとも上記切断された上記第2の基板の外側の部分の上記保護膜を除去することにより上記複数の端子を露出させる工程とを有する
ことを特徴とする照明装置の製造方法である。
第4の発明は、
フレキシブルな第5の基板と、
上記第5の基板上に形成された、少なくとも複数の発光素子を有し、発光部を構成する素子層およびこの素子層から上記第5の基板上に引き出された複数の端子と、
上記素子層および上記複数の端子を覆うように形成された保護膜と、
上記第5の基板上に上記素子層を囲み、かつ上記複数の端子の根元側の部分が内側に含まれるように形成されたシール剤と、
上記第5の基板上の上記シール剤の内側に形成されて上記素子層を封止する充填剤と、
上記シール剤および上記充填剤に貼り合わされ、上記シール剤の外側でかつ上記複数の端子の根元側の部分を横断する線に沿った辺を有するフレキシブルな第6の基板とを有し、
少なくとも上記第6の基板の外側の部分の上記保護膜が除去されて上記複数の端子が露出している
ことを特徴とする照明装置である。
第3および第4の発明においては、その性質に反しない限り、第1および第2の発明に関連して説明したことが成立する。第3および第4の発明における発光部は第1および第2の発明における表示部に対応する。
上述のように構成されたこの発明においては、保護膜をエッチングにより除去して端子を取り出す際にフォトリソグラフィー工程を行う必要がなく、また、不必要に保護膜がエッチングされるのを防止することができるので、特性劣化も生じない。
この発明によれば、端子の取り出しを通常のプロセス設備を用いて容易に行うことができ、フレキシブルな表示装置または照明装置を特性の劣化を生じることなく容易に製造することができる。
以下、この発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。なお、実施形態の全図において、同一または対応する部分には同一の符号を付す。
まず、この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法について説明する。以下においては、このディスプレイがアクティブマトリクス型である場合について説明するが、これに限定されるものではなく、パッシブ(単純)マトリクス型であってもよい。表示部を構成する画素の回路構成としては従来公知のものを用いることができる。
まず、従来公知の方法により素子基板を製造する。すなわち、図1に示すように、ガラス基板11上にバリア層12を形成する。ガラス基板11の厚さは、使用するプロセス装置に適合する限り特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、一般的には例えば0.4〜1.1mm、具体的には例えば0.7mmである。バリア層12は、後述のようにガラス基板11をエッチングにより除去する際のエッチングストッパーとなるものである。このバリア層12の材料は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばモリブデン(Mo)などが用いられる。このバリア層12の厚さは特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば500nm程度である。このバリア層12の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばスパッタリング法などが用いられる。
次に、バリア層12上に保護絶縁層13を形成する。この保護絶縁層13は、後述の素子層を保護するためのものである。この保護絶縁層13の材料は絶縁性のものである限り特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば二酸化シリコン(SiO2 )や窒化シリコン(SiNx )などが用いられる。この保護絶縁層13の厚さは特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば300〜500nm程度である。この保護絶縁層13の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば化学気相成長(CVD)法などが用いられる。
次に、保護絶縁層13上にゲート配線14を形成した後、このゲート配線14を覆うようにゲート絶縁膜15を形成する。ゲート配線14の材料は特に限定されず、プロセス温度などを考慮して必要に応じて選択されるが、具体的には例えばMo、Al合金などの金属または合金や、リン(P)がドープされた多結晶Si膜上にWSi膜を形成したポリサイドなどが用いられる。このゲート配線14は、保護絶縁層13上に導電膜を形成した後、この導電膜をエッチングにより所定形状にパターニングすることにより形成することができる。この導電膜の形成方法は特に限定されず、導電膜の種類などを考慮して必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばスパッタリング法、真空蒸着法、CVD法などが用いられる。ゲート絶縁膜15の材料は絶縁性のものである限り特に限定されず、必要に応じて選ばれる。このゲート絶縁膜15としては、具体的には例えばSiO2 膜やSiO2 膜とその上のSiNx 膜とからなる積層膜などが用いられる。このゲート絶縁膜15の厚さは特に限定されず、必要に応じて選ばれる。このゲート絶縁膜15の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばプラズマCVD法などが用いられる。
次に、ゲート絶縁膜15上に多結晶Si膜を形成した後、この多結晶Si膜をエッチングにより所定形状にパターニングすることにより画素駆動用TFT用の多結晶Si膜16および配線用の多結晶Si膜17を形成する。この多結晶Si膜の厚さは特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、例えば30〜100nmである。この多結晶Si膜の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば、プラズマCVD法により非晶質Si膜を形成した後、この非晶質Si膜に紫外光、例えばXeClエキシマーレーザによる波長308nmのレーザ光を照射して溶融再結晶化させることにより形成することができる。
次に、ゲート配線14の上方の部分の多結晶Si膜16上にチャネル領域に対応した形状のイオン注入マスク18を形成する。このイオン注入マスク18の材料は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばSiO2 膜などが用いられる。次に、このイオン注入マスク18を用いて多結晶Si膜16、17中にn型不純物をイオン注入することにより、多結晶Si膜16中にn+ 型層からなるソース領域およびドレイン領域(図示せず)を形成するとともに、多結晶Si膜17をn+ 型化する。ゲート配線14からなるゲート電極とこれらのソース領域およびドレイン領域とにより、画素駆動用の多結晶SiTFT19が構成されている。なお、この多結晶SiTFT19はここではボトムゲート型であるが、トップゲート型であってもよい。
次に、多結晶Si膜16、17およびイオン注入マスク18を覆うように全面に層間絶縁膜20を形成する。この層間絶縁膜20の材料は絶縁性のものである限り特に限定されず、必要に応じて選ばれる。この層間絶縁膜20としては、具体的には例えばSiO2 膜やSiO2 膜とその上のSiNx 膜とからなる積層膜などが用いられる。この層間絶縁膜20の厚さは特に限定されず、必要に応じて選ばれる。この層間絶縁膜20の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばプラズマCVD法などが用いられる。
次に、多結晶Si膜16中に形成されたソース領域およびドレイン領域(図示せず)の上方の所定の部分の層間絶縁膜20にコンタクトホール(図示せず)を形成した後、この層間絶縁膜20上に配線21を形成する。これらの配線21は、層間絶縁膜20に形成されたコンタクトホールを通じて画素駆動用の多結晶SiTFTのソース領域またはドレイン領域とコンタクトしている。これらの配線21の材料は特に限定されず、プロセス温度などを考慮して必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばAl合金などが用いられる。これらの配線21は、例えば、層間絶縁膜20の全面に導電膜を形成した後、この導電膜をエッチングにより所定形状にパターニングすることにより形成することができる。これらの配線21の高さは例えば1μm程度である。
次に、配線21の所定の部分の上にコンタクトホール22aを有する平坦化絶縁膜22を形成する。この平坦化絶縁膜22の材料は絶縁性のものである限り特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばポリベンゾオキサゾール、ポジ型感光性ポリイミドなどのポジ型感光性絶縁材料やアクリルなどが用いられる。この平坦化絶縁膜22の厚さは配線21などによる凹凸が埋められて平坦な表面が得られる限り特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、例えば2μm程度である。この平坦化絶縁膜22の形成方法は特に限定されないが、具体的には例えば次のようにして形成することができる。すなわち、配線21を覆うように全面にポリベンゾオキサゾール膜をスピンコート法により塗布し、仮焼成を行った後、露光装置によりこのポリベンゾオキサゾール膜の露光を行う。次に、パドル式現像装置により、露光を行ったポリベンゾオキサゾール膜の現像を行う。次に、クリーンベーク炉において、現像により形成された所定形状のポリベンゾオキサゾール膜の本焼成を行い、硬化させる。こうして、コンタクトホール22aを有する平坦化絶縁膜22が形成される。
次に、平坦化絶縁膜22上に、コンタクトホール22aを通じて配線21とコンタクトした下部電極(アノード電極)23を形成する。この下部電極23の材料は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、このディスプレイが上面発光型である場合には金属または合金、具体的には例えばAl合金、Cr、Mo、Agなどの導電材料が用いられ、下面発光型である場合には例えばインジウム−スズ酸化物(ITO)、インジウム−亜鉛酸化物(IZO)などの透明導電材料が用いられ、下部電極23の形態は例えばこれらの材料からなる単層膜または多層膜である。この下部電極23の厚さは必要に応じて選ばれるが、このディスプレイが上面発光型である場合には、後述の有機EL素子から発光する光が透過しない厚さとする。例えば、この下部電極23の材料としてAl合金を用いる場合には、この下部電極23の厚さは一般的には50〜1000nm、例えば100nmとする。この下部電極23の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれる。この下部電極23は、平坦化絶縁膜22上に導電膜を形成した後、この導電膜をエッチングにより所定形状にパターニングすることにより形成することができる。この導電膜の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばスパッタリング法(例えば、DCスパッタリング法)、真空蒸着法などが用いられる。
次に、下部電極23上に開口24aを有する層間絶縁膜24を形成する。この層間絶縁膜24の材料は絶縁性のものである限り特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばポリベンゾオキサゾール、ポジ型感光性ポリイミドなどのポジ型感光性絶縁材料やアクリルなどの有機材料や、SiO2 やSiNx などの無機材料が用いられる。この層間絶縁膜24の厚さは必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば2μm程度である。この層間絶縁膜24の形成方法は特に限定されないが、具体的には例えば次のようにして形成することができる。すなわち、下部電極23を覆うように全面にポリベンゾオキサゾール膜をスピンコート法により塗布し、仮焼成を行った後、露光装置によりこのポリベンゾオキサゾール膜の露光を行う。次に、パドル式現像装置により、露光を行ったポリベンゾオキサゾール膜の現像を行う。次に、クリーンベーク炉において、現像により形成された所定形状のポリベンゾオキサゾール膜の本焼成を行い、硬化させる。こうして、開口24aを有する層間絶縁膜24を形成することができる。層間絶縁膜24の材料としてSiO2 やSiNx などの無機材料を用いる場合には、SiO2 膜やSiNx 膜を形成した後、これをエッチングによりパターニングすることにより、開口24aを有する層間絶縁膜24を形成することができる。
次に、図2に示すように、層間絶縁膜24の開口24aの内部の下部電極23上にEL有機層25を形成する。図2には図示されていないが、実際には、図3に示すように、下部電極23に隣接してこの下部電極23と同様な二つの下部電極26、27が設けられている。そして、層間絶縁膜24の開口24aの内部の下部電極26、27上にそれぞれEL有機層28、29を形成する。図2は図3のX−X線に沿っての断面図に相当する。ここで、例えば、EL有機層25は赤色発光用、EL有機層28は緑色発光用、EL有機層29は青色発光用である。これらのEL有機層25、28、29の構成は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば、正孔注入層、正孔輸送層、発光層および電子輸送層からなる。これらのEL有機層25、28、29の材料は特に限定されず、必要に応じて選ばれる。具体的には、例えば、赤色発光用の発光層の材料としてはBSB−BCN[2,5-bis{4-(N-methoxyphenyl-N-phenylamino) styryl}benzene-1,4-dicarbonitrile] 、緑色発光用の発光層の材料としてはAlq3[tris(8-quinolinolato)aluminium(III)] 、青色発光用の発光層の材料としてはバソクプロイン(Bathocuproine :2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10phenanthroline)を用いる。また、赤色発光用の発光層の厚さは例えば30nm、緑色発光用の発光層の厚さは例えば50nm、青色発光用の発光層の厚さは例えば14nmとする。これらのEL有機層25、28、29の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば真空蒸着法、印刷技術を用いた塗り分け法、レーザ転写技術を用いた塗り分け法などを用いることができる。
一例として真空蒸着法によりEL有機層25、28、29を形成する方法を説明すると次のとおりである。
すなわち、上述のようにして層間絶縁膜24まで形成したガラス基板11を真空チャンバー内に搬送し、N2 ガス雰囲気下でベークを行った後、O2 プラズマで前処理を行って層間絶縁膜24の開口24aの内部の下部電極23、26、27の表面を清浄化する。次に、この真空チャンバーから真空を破らずに、EL有機層25形成用の真空蒸着装置、EL有機層28形成用の真空蒸着装置およびEL有機層29形成用の真空蒸着装置に順次搬送し、これらの真空蒸着装置内でそれぞれ所定の金属マスク(蒸着マスク)をガラス基板11に対してアライメントして正孔注入層、正孔輸送層、発光層および電子輸送層を順次真空蒸着により形成する。
次に、真空を破らずに真空蒸着装置内で、図2に示すように、EL有機層25、28、29まで形成したガラス基板11の全面に上部電極(カソード電極)30を形成する。下部電極23、EL有機層25および上部電極30により赤色発光用の有機EL素子31が形成され、下部電極26、EL有機層28および上部電極30により緑色発光用の有機EL素子32が形成され、下部電極27、EL有機層29および上部電極30により青色発光用の有機EL素子33が形成される。そして、これらの有機EL素子31、32、33により一つの画素が構成されている。上部電極30の材料および厚さは特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、このディスプレイが上面発光型である場合にはこの上部電極30が透明となる材料または厚さに選ばれ、このディスプレイが下面発光型である場合には上部電極30が反射電極となる材料または厚さに選ばれる。具体的には、例えば、このディスプレイが上面発光型である場合には、上部電極30としては、ITOなどの透明導電膜や厚さが10nm程度のMg:Ag膜などが用いられる。Mg:Ag膜の組成は必要に応じて選ばれる。このMg:Ag膜の形成方法は特に限定されないが、例えば、MgおよびAgを共蒸着することにより形成することができる。この場合、MgおよびAgの成長速度の比は例えば9:1とするが、これに限定されるものではない。
次に、真空を破らずに、図2に示すように、上部電極30を形成したガラス基板11の全面に保護膜34を形成する。この保護膜34の材料は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばSiNx などが用いられる。この保護膜34の厚さは特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば3μm程度である。この保護膜34の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えばスパッタリング法、真空蒸着法、プラズマCVD法などが用いられる。
以上のプロセスを経て最終的に、ガラス基板11上に、画素駆動用の多結晶SiTFT19、配線21、有機EL素子31、32、33などを含む素子層35が形成された素子基板36が得られる。この素子基板36の平面図を図4Aに示す。図4Aに示すように、画素が二次元アレイ状に配列された表示部37から、複数の端子38がガラス基板11上に引き出されている。これらの端子38は、ゲート配線14、配線21、上部電極30などに接続されている。これらの端子38の数は表示部37の構成に応じて決められるが、図4Aにおいては一例として10個の場合が図示されている。図4AのB−B線に沿っての拡大断面図を図4Bに示す。図4Bに示すように、保護膜34は表示部37および端子38を覆うようにガラス基板11の全面に形成されているが、図4Aにおいては図示されていない。
次に、図5Aに示すように、表示部37の周辺に所定の幅および高さのスペーサー(図示せず)と一緒に所定の幅および高さのシール剤39を、この表示部37を囲み、かつ端子38の根元側の部分が内側に含まれるようにライン状に形成する。このシール剤39は例えば長方形の輪郭の形状に形成する。次に、このシール剤39の外側に表示部37および端子38の全体を囲むように、したがって端子38が内側になるように所定の幅および高さのシール剤40をライン状に形成する。このシール剤40は例えばシール剤39と相似な長方形の輪郭の形状に形成する。これらのシール剤39、40の材料は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、例えば紫外線硬化樹脂や熱硬化樹脂などが用いられる。これらのシール剤39、40の高さは硬化後に例えば8〜12μm程度になるような高さに形成する。これらのシール剤39、40の形成方法は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、具体的には例えば塗布法などにより形成する。以上のようにして、表示部37の周辺と端子38の周辺とに2重のシール剤39、40が形成される。図5AのB−B線に沿っての拡大断面図を図5Bに示す。シール剤39、40の形成順序は上述と逆であってもよい。
次に、図6Aに示すように、表示部37の周辺のシール剤39の内側の全体に充填剤41を必要量塗布する。この充填剤41は特に限定されず、必要に応じて選ばれる。この充填剤41の塗布量は表示部37のサイズなどにより異なり、必要に応じて選ばれる。このとき、端子38の周辺に形成したシール剤40の内側には充填剤41は塗布しない。図6AのB−B線に沿っての拡大断面図を図6Bに示す。
次に、図7Aに示すように、封止用のフレキシブル基板42を素子基板36のシール剤39、40および充填剤41側に貼り合わせた後、これらのシール剤39、40および充填剤41を硬化させてフレキシブル基板42を確実に接着する。こうして、表示部37上には充填剤41が充填され、表示部37より外側、すなわち、端子38の部分には充填剤41がない状態でフレキシブル基板42により封止が行われる。フレキシブル基板42は例えばガラス基板11と同じ形状および大きさを有するが、図7Aにおいては、素子基板36およびフレキシブル基板42の双方を図示するため、ここではフレキシブル基板42を素子基板36より一回り小さく図示している。図7AのB−B線に沿っての拡大断面図を図7Bに示す。また、図7AのB−B線を含む直線に沿った素子基板36およびフレキシブル基板42の横断面図を図8に示す。フレキシブル基板42の材料は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、このフレキシブル基板42を通して光を取り出す場合には透明材料を用いる。フレキシブル基板42の材料は具体的には、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリカーボネート、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエーテルサルフォン、ポリオレフィン、ポリプロピレン、ポリブチレン、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルイミド、ポリエーテルケトン、ポリアリレート、ポリスルホン、ポリフェニレンスルフィド、ポリフェニレンエーテル、ポリアセタール、ポリメチルペンテン、シロキサン樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ジアリルフタレート樹脂、フェノール樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、液晶プラスチック、ポリベンゾイミダゾール、熱硬化性ポリブタジエンなどが用いられ、フレキシブル基板42の形態はこれらの材料からなる単層基板であっても積層基板であってもよい。フレキシブル基板42の厚さは特に限定されず、必要に応じて選ばれる。例えば、フレキシブル基板42としてPET基板を用いる場合、その厚さは例えば125μmとする。
次に、以下の手順で素子基板36のガラス基板11をエッチングにより除去する。すなわち、まず、図9に示すように、素子基板36にフレキシブル基板42を貼り合わせたもののフレキシブル基板42側に接着剤43を用いてガラス基板44を貼り付ける。ガラス基板44としては、素子基板36のガラス基板11よりも大きく、かつ厚いものを用いる。例えば、ガラス基板11の厚さが0.7mmである場合には、ガラス基板44として厚さが1.0mmのものを用いる。
次に、図10Aに示すように、例えば、素子基板36、フレキシブル基板42およびガラス基板44の全体をエッチング液、例えば沸酸45に浸漬し、図10Bに示すように、素子基板36のガラス基板11を完全にエッチング除去する。ただし、図10AおよびBにおいては、素子基板36の中央部の断面構造を大幅に模式化して示してある。以下の図10C、図11AおよびBにおいても同様である。このガラス基板11のエッチング時には、バリア層12が露出した時点でエッチングが停止する。この場合、ガラス基板11を完全にエッチングしても、フレキシブル基板42側に貼り付けたガラス基板44の方がこのガラス基板11より厚いので、このガラス基板11が完全にエッチング除去された時点でガラス基板44は全部はエッチングされず、一部分が残る。また、このガラス基板11のエッチング時には、シール剤40により、保護膜34が不必要にエッチングされるのを防止することができる(図9参照)。
次に、図10Cに示すように、バリア層12をエッチング除去する。例えば、バリア層12としてMo膜を用いる場合には、エッチング液として硝酸を用いてこのMo膜をエッチング除去する。
次に、図11Aに示すように、こうしてバリア層12が除去されることで露出した保護絶縁層13の面に接着剤46を用いてフレキシブル基板47を貼り付ける。フレキシブル基板47としては、フレキシブル基板42と同様なものを用いてもよいし、異なるものを用いてもよい。
次に、図11Bに示すように、フレキシブル基板42側に残されたガラス基板44を接着剤43ごと除去する。この状態のフレキシブル基板42側から見た平面図を図12Aに、図12AのB−B線に沿っての拡大断面図を図12Bに示す。また、図12AのB−B線を含む直線に沿ったフレキシブル基板42、47の横断面図を図13に示す。フレキシブル基板42、47は例えば互いに同一の形状および大きさを有するが、図12Aにおいては、フレキシブル基板42、47の双方を図示するため、ここではフレキシブル基板42をフレキシブル基板47より一回り小さく図示している。
次に、図12AおよびBにおいて一点鎖線で示すように、シール剤39の外側でかつシール剤40の内側にあり、表示部37および端子38の全体を囲む線に沿ってフレキシブル基板42、47の双方を切断する。この状態のフレキシブル基板42側から見た平面図を図14Aに、図14AのB−B線に沿っての拡大断面図を図14Bに示す。
次に、図14AおよびBにおいて一点鎖線で示すように、シール剤39の一辺の直ぐ外側にあり、この辺に平行で端子38の根元側の部分を横断する線に沿ってフレキシブル基板42だけを切断する。この状態のフレキシブル基板42側から見た平面図を図15Aに、図15AのB−B線に沿っての拡大断面図を図15Bに示す。こうして、フレキシブル基板42の外側に保護膜34で表面が覆われた状態の端子38が現れる。
次に、図16に示すように、フレキシブル基板42の外側に現れた保護膜34、例えばSiNx 膜を例えば反応性イオンエッチング(RIE)法によりエッチング除去し、端子38を露出させる。図16は図15Bと同様な断面図である。また、図15AのB−B線を含む直線に沿ったフレキシブル基板42、47の横断面図を図17に示す。こうして取り出された端子38により外部端子との接続が可能となる。
この後、端子38に所定のディスプレイ駆動用IC(ドライバIC)を接続する。
以上により、目的とするフレキシブルカラー有機ELディスプレイが製造される。
この第1の実施形態によれば、次のような種々の利点を得ることができる。すなわち、シール剤40を形成していることによりガラス基板11のエッチング時に保護膜34が不必要にエッチングされるのを防止することができることに加えて、フレキシブル基板42を切断してその外側に保護膜34を露出させ、この部分の保護膜34をエッチングにより除去しているため、端子38上の保護膜34を除去する際に必要以上の保護膜34が除去されることがないので、フレキシブルカラー有機ELディスプレイの特性の劣化が生じない。また、フレキシブル基板42の外側に現れた保護膜34をエッチング除去するだけで端子38の取り出しを行うことができるため、端子38の取り出しのためにフォトリソグラフィー工程を行う必要がなく、通常のプロセス設備を用いて端子38の取り出しを容易に行うことができ、ひいてはフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造コストの低減を図ることができる。さらに、封止基板として素子基板36に貼り合わせたフレキシブル基板42をガラス基板44に接着剤43により接着した状態で素子基板36のガラス基板11をエッチングにより除去しているので、接着剤43によりフレキシブル基板42をエッチング液から保護することができる。このため、封止基板としてのフレキシブル基板42の選択幅を広げることができる。
次に、この発明の第2の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法について説明する。
この第2の実施形態においては、第1の実施形態において保護膜34をRIE法によりエッチングする代わりに、例えば図18において一点鎖線で囲んだ部分をエッチング液、例えば沸酸に浸漬することで保護膜34をウエットエッチングにより除去し、端子38を露出させる。
この第2の実施形態の上記以外のことは第1の実施形態と同様である。
この第2の実施形態によれば、第1の実施形態と同様な利点を得ることができる。
次に、この発明の第3の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法について説明する。
この第3の実施形態においては、第1の実施形態においてガラス基板11をエッチングにより除去する代わりに、機械的研磨により除去する。
この第3の実施形態の上記以外のことは第1の実施形態と同様である。
この第3の実施形態によれば、第1の実施形態と同様な利点に加えて、ガラス基板11を機械的研磨により除去するので、ガラス基板11をエッチングにより除去する場合と異なり、フレキシブル基板42側にガラス基板44を接着する必要がなく、バリア層12を形成する必要もないという利点を得ることができる。また、ガラス基板11を全て機械的研磨により除去せずに薄く残すことにより保護絶縁層13を形成する必要もなくなるので、ガラス基板11上に直接配線などを形成することができ、フレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造工程の数をより削減することができる。
以上、この発明の実施形態について具体的に説明したが、この発明は、上述の実施形態に限定されるものではなく、この発明の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。
例えば、上述の実施形態において挙げた数値、構造、構成、形状、材料などはあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれらと異なる数値、構造、構成、形状、材料などを用いてもよい。
具体的には、上述の第1〜3の実施形態においては、この発明を、RGB独立塗り分け方式のフレキシブルカラー有機ELディスプレイに適用した場合について説明したが、この発明は、例えば白色有機EL素子を用いたカラーフィルター方式のフレキシブルカラー有機ELディスプレイに適用することができることは勿論、各種のフレキシブルなディスプレイまたは照明装置(光源)に適用することができる。
この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための要部の平面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための平面図および要部の断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための平面図および要部の断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための平面図および要部の断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための平面図および要部の断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための平面図および要部の断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための平面図および要部の断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための平面図および要部の断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための要部の断面図である。 この発明の第1の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための断面図である。 この発明の第2の実施形態によるフレキシブルカラー有機ELディスプレイの製造方法を説明するための平面図である。
符号の説明
11…ガラス基板、12…バリア層、13…保護絶縁層、14…ゲート配線、16、17…多結晶Si膜、19…多結晶SiTFT、20、24…層間絶縁膜、21…配線、22…平坦化絶縁膜、23、26、27…下部電極、25、28、29…EL有機層、30…上部電極、31、32、33…有機EL素子、34…保護膜、35…素子層、36…素子基板、37…表示部、38…端子、39、40…シール剤、41…充填剤、42、47…フレキシブル基板、43、46…接着剤、44…ガラス基板

Claims (9)

  1. 第1の基板上に、少なくとも複数の発光素子を有し、表示部を構成する素子層およびこの素子層から引き出された複数の端子を形成した後、上記素子層および上記複数の端子を覆うように保護膜を形成する工程と、
    上記第1の基板上の上記保護膜上に上記素子層を囲み、かつ上記複数の端子の根元側の部分が内側に含まれるように第1のシール剤を形成する工程と、
    上記第1の基板上の上記第1のシール剤の外側の上記保護膜上に上記素子層および上記複数の端子が内側に含まれるように第2のシール剤を形成する工程と、
    上記第1の基板上の上記第1のシール剤の内側に充填剤を形成して上記素子層を封止する工程と、
    上記第1のシール剤、上記第2のシール剤および上記充填剤にフレキシブルな第2の基板を貼り合わせる工程と、
    上記第2の基板を貼り合わせた後、上記第1の基板を除去または薄膜化する工程と、
    上記第1の基板を除去または薄膜化することにより露出した面にフレキシブルな第3の基板を貼り合わせる工程と、
    上記素子層および上記複数の端子の外側でかつ上記第2のシール剤の内側にある線に沿って上記第2の基板および上記第3の基板を切断する工程と、
    上記第1のシール剤の外側でかつ上記複数の端子の根元側の部分を横断する線に沿って上記第2の基板を切断する工程と、
    少なくとも上記切断された上記第2の基板の外側の部分の上記保護膜をドライエッチング法により除去し、または、少なくとも上記切断された上記第2の基板の外側の部分の上記保護膜をエッチング液に浸漬して除去することにより上記複数の端子を露出させる工程とを有する表示装置の製造方法。
  2. 上記第1のシール剤、上記第2のシール剤および上記充填剤に上記第2の基板を貼り合わせた後、上記第2の基板に第4の基板を接着し、上記第1の基板をエッチングにより除去または薄膜化する請求項1記載の表示装置の製造方法。
  3. 上記第1の基板および上記第4の基板はガラス基板である請求項2記載の表示装置の製造方法。
  4. 上記第4の基板を構成するガラス基板の厚さは上記第1の基板を構成するガラス基板の厚さより大きい請求項3記載の表示装置の製造方法。
  5. 少なくとも上記切断された上記第2の基板の外側の部分の上記保護膜をエッチングにより除去する請求項1記載の表示装置の製造方法。
  6. 上記素子層は二次元アレイ状に配列された複数の画素を有する請求項1記載の表示装置の製造方法。
  7. 上記発光素子は下部電極および上部電極を有する請求項1記載の表示装置の製造方法。
  8. 上記発光素子は有機EL素子である請求項7記載の表示装置の製造方法。
  9. 第1の基板上に、少なくとも複数の発光素子を有し、発光部を構成する素子層およびこの素子層から引き出された複数の端子を形成した後、上記素子層および上記複数の端子を覆うように保護膜を形成する工程と、
    上記第1の基板上の上記保護膜上に上記素子層を囲み、かつ上記複数の端子の根元側の部分が内側に含まれるように第1のシール剤を形成する工程と、
    上記第1の基板上の上記第1のシール剤の外側の上記保護膜上に上記素子層および上記複数の端子が内側に含まれるように第2のシール剤を形成する工程と、
    上記第1の基板上の上記第1のシール剤の内側に充填剤を形成して上記素子層を封止する工程と、
    上記第1のシール剤、上記第2のシール剤および上記充填剤にフレキシブルな第2の基板を貼り合わせる工程と、
    上記第2の基板を貼り合わせた後、上記第1の基板を除去または薄膜化する工程と、
    上記第1の基板を除去または薄膜化することにより露出した面にフレキシブルな第3の基板を貼り合わせる工程と、
    上記素子層および上記複数の端子の外側でかつ上記第2のシール剤の内側にある線に沿って上記第2の基板および上記第3の基板を切断する工程と、
    上記第1のシール剤の外側でかつ上記複数の端子の根元側の部分を横断する線に沿って上記第2の基板を切断する工程と、
    少なくとも上記切断された上記第2の基板の外側の部分の上記保護膜をドライエッチング法により除去し、または、少なくとも上記切断された上記第2の基板の外側の部分の上記保護膜をエッチング液に浸漬して除去することにより上記複数の端子を露出させる工程とを有する照明装置の製造方法。
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