JP5070146B2 - 試験方法及び試験装置 - Google Patents
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Description
2 サンプル固定台
3 センサ押さえ
4 センサホルダ
5 センサ取り付け台
6 サンプル台ホルダ
7 バネ
8 サンプル
9 空間
10 荷重検出部
11 摩擦力検出部
12 固定用ビス
13 圧子保持部
14 カートリッジ
15 圧子針
Claims (4)
- 表面に膜が形成された試験片の膜表面に、荷重をかけつつ圧子を接触させ、
前記荷重を増加させながら、前記圧子および前記試験片を相対的に移動させ、
前記移動の際に生じる前記圧子の振動の加速度を加速度センサにより検出し、
前記加速度の信号レベルの変化に応じて、前記膜の密着性を評価する試験方法。 - 前記膜が剥離した時点の前記荷重を測定する請求項1に記載の試験方法。
- 表面に膜が形成された試験片の膜表面に、荷重をかけつつ圧子を接触させ、
前記荷重を増加させながら、前記圧子および前記試験片を相対的に移動させ、
前記移動の際に生じる前記圧子の振動の加速度を加速度センサにより検出し、
前記加速度の信号レベルの変化に応じて、前記膜の密着性を評価する試験装置。 - 前記膜が剥離した時点の前記荷重を測定する請求項3に記載の試験装置。
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JP2008178411A JP5070146B2 (ja) | 2008-06-12 | 2008-06-12 | 試験方法及び試験装置 |
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JP2008178411A JP5070146B2 (ja) | 2008-06-12 | 2008-06-12 | 試験方法及び試験装置 |
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JP2009300410A JP2009300410A (ja) | 2009-12-24 |
JP5070146B2 true JP5070146B2 (ja) | 2012-11-07 |
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Family Applications (1)
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