JP5067601B2 - 特性測定装置 - Google Patents
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Description
請求項7に記載の発明は、請求項3又は5に記載の特性測定装置において、前記測定ライン異常検出部は、前記被測定電子部品が前記測定ラインを一定範囲移動したときの前記不良率の平均値の差が、予め設定された閾値よりも大きくなったときに、いずれかの前記測定ラインに異常が発生したと判断することを特徴とする。
次に、本発明の第1実施例について説明する。
電子部品(モジュール部品)のPOWER特性測定選別において、3つの測定ライン、3つの測定治具及び測定器を用い、3つの測定ラインに交互に電子部品を供給してその特性選別を行った。各測定装置及び各測定器で測定選別されたPOWER特性の値の平均値を比較して、その差が、0.5dBを超えた時に、特性測定装置の作動を止めると共に、その値から判断して劣化した方の測定ラインを特定して警告を表示した。この段階で、警告が出た測定ラインの測定治具のメンテナンス、及び測定器の確認を行い、その後、再起動させた。
上記表1に示す通り、実施例1によれば、異常発生時に、測定を早期に中断することができるため、電子部品の不良数と、その不良の中に含まれていた良品数を低減させることができた。このように、本実施例1では、電子部品の良品を不良品と誤判定し続けることを防止できる。
電子部品(モジュール部品)のPOWER特性測定選別において、3つの測定ライン、3つの測定治具及び測定器を用い、3つの測定ラインに交互に電子部品を供給してその特性選別を行った。それぞれの測定ライン毎に計算した電子部品の平均不良率を比較して、その差が、1%を超えた時に、特性測定装置の作動を止めると共に、不良率の高い方の測定ラインを特定して警告を表示した。この段階で、警告が出た測定ラインの測定治具のメンテナンス、及び測定器の確認を行い、その後、再起動させた。
本変形例では、測定ライン異常検出部18により、電子部品が測定ラインL1、L2、L3、………を一定範囲移動したときの測定値の平均値の差又は不良率の平均値の差が、予め設定された閾値よりも大きくなったときに、いずれかの測定ラインに異常が発生したと判断させる。これにより、一定の判断基準で測定ライン側の異常を容易に判断することができる。
12 測定治具
14 測定器
16 良否判定部
18 測定ライン異常検出部
20 異常発生表示部
Claims (8)
- 同一ロットから製造された被測定電子部品を複数の測定ラインに分けて前記被測定電子部品の電気的特性を測定する特性測定装置であって、
前記各測定ラインは、前記被測定電子部品の外部電極に電気的に接続して測定電圧を印加する測定治具と、前記被測定電子部品の電気的特性を測定する測定器と、を有し、
前記各測定ラインからの測定値の差が、予め設定された閾値よりも大きくなったときに、いずれかの前記測定ラインに異常が発生したと判断する測定ライン異常検出部を備えたことを特徴とする特性測定装置。 - 前記測定ラインは、前記測定器が出力する前記被測定電子部品の電気的特性について予め設定された基準に基づき前記被測定電子部品の良否を判定する良否判定部を備えたことを特徴とする請求項1に記載の特性測定装置。
- 同一ロットから製造された被測定電子部品を複数の測定ラインに分けて前記被測定電子部品の電気的特性を測定する特性測定装置であって、
前記各測定ラインは、前記被測定電子部品の外部電極に電気的に接続して測定電圧を印加する測定治具と、前記被測定電子部品の電気的特性を測定する測定器と、前記測定器が出力する前記被測定電子部品の電気的特性について予め設定された基準に基づき前記被測定電子部品の良否を判定する良否判定部と、を有し、
前記各測定ラインに分けられた前記被測定電子部品の不良率の差が、予め設定された閾値よりも大きくなったときに、いずれかの前記測定ラインに異常が発生したと判断する測定ライン異常検出部を備えたことを特徴とする特性測定装置。 - 前記測定ライン異常検出部は、前記測定値を予め設定された適正範囲と比較し、これに基づいて異常が生じている前記測定ラインを特定する機能を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の特性測定装置。
- 前記測定ライン異常検出部は、前記不良率の大きさをそれぞれ比較し、前記不良率が予め設定された閾値を超えた前記測定ラインを特定する機能を有することを特徴とする請求項3に記載の特性測定装置。
- 前記測定ライン異常検出部は、前記被測定電子部品が前記測定ラインを一定範囲移動したときの前記測定値の平均値の差が、予め設定された閾値よりも大きくなったときに、いずれかの前記測定ラインに異常が発生したと判断することを特徴とする請求項1、2、4のいずれか1項に記載の特性測定装置。
- 前記測定ライン異常検出部は、前記被測定電子部品が前記測定ラインを一定範囲移動したときの前記不良率の平均値の差が、予め設定された閾値よりも大きくなったときに、いずれかの前記測定ラインに異常が発生したと判断することを特徴とする請求項3又は5に記載の特性測定装置。
- 前記測定ライン異常検出部により異常が発生していると判断されたときにその旨を表示する異常発生表示部を備えたことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の特性測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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JP2008014718A JP2008014718A (ja) | 2008-01-24 |
JP5067601B2 true JP5067601B2 (ja) | 2012-11-07 |
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP5067601B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08210883A (ja) * | 1995-01-31 | 1996-08-20 | Nikka Densoku Kk | 異常判定方法および異常判定機能つき検査装置 |
JPH10206200A (ja) * | 1997-01-16 | 1998-08-07 | Nittetsu Semiconductor Kk | 生産ラインの工程異常自動診断システム |
JPH11281695A (ja) * | 1998-03-27 | 1999-10-15 | Anritsu Corp | 電子部品検査装置及び方法 |
JP2002297219A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-11 | Anritsu Corp | 試験装置及び方法 |
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JP2008014718A (ja) | 2008-01-24 |
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