JP5062874B2 - 半導体記憶装置 - Google Patents
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Description
この半導体記憶装置は、第1及び第2の出力端を備え、モード制御信号及び選択制御信号のレベルに応じて入力データを前記第1及び前記第2の出力端へ伝達する選択回路と、書き込み動作時この選択回路の第1の出力端からのデータを記憶し、読み出し動作時記憶されているデータを読み出す主ビットメモリと、書き込み動作時この選択回路の第2の出力端からのデータを記憶し、読み出し動作時記憶されているデータを読み出すパリティビットメモリと、前記モード制御信号が能動レベルの時前記主ビットメモリ及び前記パリティビットメモリからのデータに対し誤り訂正処理を行い出力し、前記モード制御信号が非能動レベルの時前記選択制御信号のレベルに応じて前記主ビットメモリ及び前記パリティビットメモリからのデータを選択し出力する選択・誤り訂正回路と、を有することを特徴とする。
この誤り訂正回路を備えた半導体記憶装置は、主データを格納するメインメモリと、上記主データに応じて生成された誤り訂正用副データを格納するサブメモリと、上記メインメモリに格納された主データを読み出すためのセンスアンプと、上記メインメモリから読み出された主データと上記サブメモリから読み出された上記副データに基づいて上記主データに生じる誤りを訂正するための訂正データを生成するデコーダ回路と、上記訂正データに応じて上記メインメモリから読み出された主データに含まれる誤りを訂正するエラー訂正回路と、を有することを特徴とする。
この半導体集積回路は、データを格納する第1メモリと、前記第1メモリにデータバスを介して接続され前記第1メモリに格納するデータの誤り訂正コードを生成する誤り訂正コード生成手段と、前記アドレスバス及びデータバスに接続され前記誤り訂正コードを格納する第2メモリと、前記第2メモリから読み出された誤り訂正コードに基づいて第1メモリから読み出されたデータに対する誤り訂正が可能な誤り訂正手段と、アドレスバス及びデータバスを介して前記第1メモリ及び第2メモリに対するアクセス制御が可能なアクセス制御手段と、を1個の半導体基板に有して成るものであることを特徴とする。
エラー訂正用データを格納するエラー訂正用RAM(20)と、
前記エラー訂正用RAMをデータRAMとして使用するか否かを指定するレジスタ(60)と、
前記レジスタ値に基づいて、前記エラー訂正用RAM(20)に対する書き込み又は読み出し動作を制御する制御回路(50)と、
前記エラー訂正用RAM(20)を活性化し、前記エラー訂正用RAM(20)に入力されたデータの格納先となるアドレスを生成するアドレス生成回路(30)と、
前記エラー訂正用RAM(20)の入出力データを選択するデータ選択回路(40)と
を具備する
半導体記憶装置。
図3に示すように、本発明の半導体記憶装置は、データRAM10と、エラー訂正用RAM20と、アドレス生成回路30と、データ選択回路40と、書き込み/読み出し制御回路50と、ECC機能許可レジスタ60と、CPU(Central Processing Unit:中央処理装置)70と、ECCエンコーダ80と、ECCデコーダ90とを備える。
このため、図3のエラー訂正用RAM20のように、ECCデータ格納用RAMを複数に分ける。ここでは、ECCデータ格納用RAMを2個に分ける。なお、ブロック選択回路32は、ECCデータ格納用RAMを通常のデータRAMとして使用する時とECCデータ格納用RAMとして使用する時とで、アドレスの下位ビットを変更する。従来技術では最上位ビットで切り替えている。入力データセレクタ41は、ECCデータ格納用RAMを通常のデータRAMとして使用する時、2個のRAMのデータバス接続位置を変えている。
なお、本発明のECCデータに対応するビットは、従来技術の説明ではパリティビットとして示されている。
データビット幅を2nとすると、パリティビットのビット幅はn+1になる。
従来技術の場合、以下の表1のようになる。
図4では、16ビットのデータビットと、5ビットのECCから構成されるデータブロックが4個示されている。これらのデータブロックの各々は、アドレス0000H〜0FFCHの領域(アドレス空間)に格納されており、それぞれ、アドレス下位2ビット=00、アドレス下位2ビット=01、アドレス下位2ビット=10、アドレス下位2ビット=11である。これらのデータブロックから5ビットのECCの各々をアドレス1000H〜13FFHの領域に格納したとする。この場合、ECCにより5ビット×4個=20ビットのデータビットが確保される。この20ビットのデータビットをデータRAMとして使用する場合、データビット幅は16ビットであるため、20ビット−16ビット=4ビット分の余分な領域が発生する。
なお、従来技術の場合、データビット幅を16ビットとすると、データブロックが、16ビットの主ビットメモリと、16ビットのパリティビットメモリから構成されることになり、パリティビットメモリをECCとして使用する場合、16ビット−5ビット=11ビット分の無駄が発生する。
図5では、32ビットのデータビットと、6ビットのECCから構成されるデータブロックが8個示されている。これらのデータブロックの各々は、アドレス0000H〜0FF8Hの領域に格納されており、それぞれ、アドレス下位3ビット=000、アドレス下位3ビット=001、アドレス下位3ビット=010、アドレス下位3ビット=011、アドレス下位3ビット=100、アドレス下位3ビット=101、アドレス下位3ビット=110、アドレス下位3ビット=111である。これらのデータブロックから6ビットのECCの各々をアドレス1000H〜01FFHの領域に格納したとする。この場合、ECCにより6ビット×8個=48ビットのデータビットが確保される。この48ビットのデータビットをデータRAMとして使用する場合、データビット幅は32ビットであるため、48ビット−32ビット=16ビット分の余分な領域が発生する。
なお、従来技術の場合、データビット幅を32ビットとすると、データブロックが、32ビットの主ビットメモリと、32ビットのパリティビットメモリから構成されることになり、パリティビットメモリをECCとして使用する場合、32ビット−6ビット=26ビット分の無駄が発生する。
なお、図7では、論理アドレスが(1)〜(5)の5つの領域に分けられている。(1)はECC有効データ領域、(2)はECC無効データ領域、(3)はエラー訂正用RAMとして使用される領域、(4)はECCデータ格納用RAMをデータRAMとして使用する領域、(5)は、RAMが実装されない領域である。(1)〜(5)の領域に対する書き込み/読み出し動作については後述する。
前述のアドレスマッピングを実現する手段として、ECC機能許可レジスタ60に2ビットレジスタを備える。2ビットレジスタには、データのエラー訂正の無効、有効を示すために0、又は1を設定する。
ビット1……0:アドレス080H〜0FFHのデータに対しエラー訂正を無効にする。
1:アドレス080H〜0FFHのデータに対しエラー訂正を有効にする。
ビット0……0:アドレス000H〜07FHのデータに対しエラー訂正を無効にする。
1:アドレス000H〜07FHのデータに対しエラー訂正を有効にする。
例としてデータRAM10のアドレス領域を2分割しそれぞれの領域についてECC機能を許可するか否かを設定するレジスタを持つ場合で説明する。
ここでは、書き込み/読み出し制御回路50の出力は「/RD_E」、「/WE_E」、「DEC_EN」の3本である。信号名の前の「/」は「NOT」を示す。なお、アドレス入力(A0〜An+1)と、ECC機能許可レジスタ60からのエラー訂正の有効・無効設定データとに基づき、エラー訂正用RAM20に対するアクセスを制御する信号を便宜上RW_ENとする。RW_ENは以下のような論理となる。
<An+1=0の時>
A1〜Anの入力とECC機能許可レジスタ60の内容とを比較し、エラー訂正が有効と指定された領域に入っている時は、RW_EN=1
A1〜Anの入力とECC機能許可レジスタ60の内容とを比較し、エラー訂正が有効と指定された領域に入っていない時は、RW_EN=0
<An+1=1の時>
A0〜An−1の入力とECC機能許可レジスタ60の内容とを比較し、エラー訂正が有効と指定された領域に入っている時は、RW_EN=0
A0〜An−1の入力とECC機能許可レジスタ60の内容とを比較し、エラー訂正が有効と指定された領域に入っていない時は、RW_EN=1
エラー訂正用RAM20は、ECCデータ格納用と通常データ格納用で排他的に使用する。ECCデータ格納用に使用する場合(An+1=0の場合)は、エラー訂正が有効と指定された領域でRW_ENが1になる。一方、通常データ格納用に使用する場合(An+1=1の場合)は、エラー訂正が有効としていされていない領域でRW_RNが1になる。
図8に示すように、RW_EN信号回路の回路構成では、ECC機能許可レジスタ60の値、すなわちBIT1、BIT0が”00B”(Bは2進数)の時、AND(論理積回路)(1),(3)が有効になる。BIT1、BIT0が”01B”(Bは2進数)の時、AND(論理積回路)(2),(3)が有効になる。BIT1、BIT0が”10B”(Bは2進数)の時、AND(論理積回路)(1),(4)が有効になる。BIT1、BIT0が”11B”(Bは2進数)の時、AND(2),(4)が有効になる。アドレス000H〜07FHをデコードするANDは(1)、07FH〜0FFHをデコードするANDが(3)100H〜13FHをデコードするANDが(2)、140H〜17FHをデコードするANDが(4)である。(1)と(2)、(3)と(4)はそれぞれ排他的に有効になる。ここではECC機能許可レジスタ60の値を“10”と設定しているため、アドレス000H〜07FH、 140H〜17FHが指定された時、/RW_ENが1になる。
/RD_E=/RW_EN+/RD
/WR_E=/RW_EN+/WR
DEC_EN=/RD_E×/An+1(ここではn=7のため、A8)
(1)の領域へ書き込む場合、アドレス入力A0〜A8とECC機能許可レジスタ60の内容を比較することにより、書き込み/読み出し制御回路50から/WRの出力に同期して/WR_Eが出力される。エラー訂正用RAM20のアドレスデコーダ21の入力はA8=0なのでA1〜A7になる。データ入力はECCエンコーダ80からの出力になる。/CSの入力はA0の値によって決定する。結果としてこの領域では、奇数アドレスが指定された時はエラー訂正用RAM1に、偶数アドレスが指定された時はエラー訂正用RAM0に、ECCエンコーダ80からのデータが書き込まれる。
(1)の領域から読み出す場合、アドレス入力A0〜A8とECC機能許可レジスタ60の内容を比較することにより、書き込み/読み出し制御回路50から/RDの出力に同期して/RD_E、DEC_ENが出力される。エラー訂正用RAM20のアドレスデコーダ21の入力はA8=0なのでA1〜A7になる。/CSの入力はA0の値によって決定する。結果としてこの領域では、奇数アドレスが指定された時はエラー訂正用RAM1から、偶数アドレスが指定された時はエラー訂正用RAM0から、ECCデコーダ90へデータが出力され、エラー訂正されたデータがCPU70に読み込まれる。
(2)の領域へ書き込む場合、アドレス入力A0〜A8とECC機能許可レジスタ60の内容を比較することにより、書き込み/読み出し制御回路50から/WRの出力に同期して/WR_Eが出力されない。一方、エラー訂正用RAM20のアドレスデコーダ21の入力、データ入力/CSの入力は(1)の領域と同様である。結果として書き込み信号の出力が禁止されているため、エラー訂正用RAM0,1への書き込みは行われない。
(2)の領域から読み出す場合、アドレス入力A0〜A8とECC機能許可レジスタ60の内容を比較することにより、書き込み/読み出し制御回路50から/RDの出力に同期して/RD_E、DEC_ENが出力されない。エラー訂正用RAM20のアドレスデコーダ21の入力、/CSの入力は(1)の領域と同じであるが、/RD_Eが出力されないため、ECCデコーダ90へのデータ出力は不定である。但し、DEC_ENが出力されていないため、ECCデコーダ90ではエラー訂正用RAM20からの出力は使用されず、データRAM10からの出力がそのままCPU70に読み込まれる。
(3)の領域へ書き込む場合、アドレス入力A0〜A8とECC機能許可レジスタ60の内容を比較することにより、書き込み/読み出し制御回路50から/WRの出力に同期して/WR_Eが出力されない。一方、A8=1なのでエラー訂正用RAM20のアドレスデコーダ21の入力はA0〜A6となる。すなわち、図3に示すように、アドレス選択回路31の選択信号がAn+1(=A8)が1なのでA0−An−1側が選ばれる。データ入力はCPU70からの出力となる。/CSの入力はA7の値となるが最終的に書き込み信号が入力されないため、エラー訂正用RAM0,1への書き込みは行われない。データRAM10もA8=1となり/CSが”1”、すなわちディセーブル(disable)になるので書き込みは行われない。ここでは、ECC機能許可レジスタ60の内容によって、CPU70での命令実行は禁止していないので、CPU70は書き込み/読み出し命令を実行する。しかし、動作としてはエラー訂正用RAM20への書き込み信号がマスクされるので書き込みは行われない。結果としていずれのRAMにもデータが書き込まれないことになる。
(3)の領域から読み出す場合、アドレス入力A0〜A8とECC機能許可レジスタ60の内容を比較することにより、書き込み/読み出し制御回路50から/RDの出力に同期して/RD_E、/DEC_Eが出力されない。エラー訂正用RAM20のアドレスデコーダ21の入力、/CSの入力は(1)の領域と同じであるが、/RD_Eが出力されないためECCデコーダ90へのデータ出力は不定となる。但し、DEC_ENが出力されていないためECCデコーダ90ではエラー訂正用RAM20からの出力は使用されない。また、データRAM10は/CS入力であるA8=1であるためデータ出力はされない。従ってCPU70への出力は不定となる。
(4)の領域へ書き込む場合、アドレス入力A0〜A8とECC機能許可レジスタ60の内容を比較することにより、書き込み/読み出し制御回路50から/WRの出力に同期して/WR_Eが出力される。エラー訂正用RAM20のアドレスデコーダ21の入力は、A8=1なのでアドレス選択回路31によりA0〜A6が選択される。データ入力は入力データセレクタ41によりCPU70からの出力が選択されて入力される。/CSの入力は、A8=1、かつA7=0(つまり/A7=1)よりブロック選択回路32の/CS出力がアクティブレベル(”0”)となることによってエラー訂正用RAM0,1とも有効になる。結果としてこの領域では、エラー訂正用RAM0,1の同一アドレスに同時にデータが書き込まれる。エラー訂正用RAM0にはデータバスの下位4ビット(D0−D3)が、エラー訂正用RAM1にはデータバスの上位4ビット(D4−D7)が書き込まれる。
(4)の領域から読み出す場合、アドレス入力A0〜A8とECC機能許可レジスタ60の内容を比較することにより、書き込み/読み出し制御回路50から/RDの出力に同期して/RD_Eが出力されるが、DEC_ENは出力されない。エラー訂正用RAM20のアドレスデコーダ21の入力はA8=1なのでA0〜A6になる。/CSの入力はA7になる。結果としてこの領域では、エラー訂正用RAM0,1から同時にデータが読み出される。エラー訂正用RAM0からはデータの下位4ビット、エラー訂正用RAM1からはデータの上位4ビットが出力され、ECCデコーダ90を介してCPU70に読み込まれる。ECC_ENが出力されていないため、エラー訂正は行われない。そのため、ECCデコーダ90への入力が不定でも問題はない。
(5)の領域はメモリがマッピングされることが無い。従って、A7,A8が共に1になるような設定は回避する必要がある。但し、バスの設定は可能なのでアクセス禁止の処置をしている。データRAM10の/CSはA8が入力されているため、この領域ではアクセスが禁止される。エラー訂正用RAM0,1もA8=1の時、/CS入力がA7になるため、この領域ではアクセスが禁止される。従って、この領域へのアクセスは全てのメモリに対するCS信号が発生しないためアクセスが禁止される。
20(−i、i=1〜n)… エラー訂正用RAM
30(−i、i=1〜n)… アドレス生成回路
31(−i、i=1〜n)… アドレス選択回路
32(−i、i=1〜n)… ブロック選択回路
40(−i、i=1〜n)… データ選択回路
41(−i、i=1〜n)… 入力データセレクタ
42(−i、i=1〜n)… 出力データセレクタ
50… 書き込み/読み出し制御回路
60… ECC機能許可レジスタ
70… CPU
80… ECCエンコーダ
90… ECCデコーダ
Claims (10)
- 第1領域と第2領域とを含むアドレス空間を有し、前記第1及び第2領域にデータを格納するデータRAMと、
エラー訂正用データを格納するエラー訂正用RAMと、
前記第1領域及び前記第2領域の各々に格納するデータに対し、エラー訂正を有効又は無効と設定する情報を格納するレジスタと、
前記レジスタ値に基づいて、前記エラー訂正用RAMに対する前記エラー訂正用データの書き込み又は読み出し動作を制御する制御回路と、
前記エラー訂正用RAMを活性化し、前記エラー訂正用RAMに入力されたデータの格納先となるアドレスを生成するアドレス生成回路と、
前記エラー訂正用RAMの入出力データを選択するデータ選択回路と、
を具備し、
前記データRAM及び前記エラー訂正用RAMは、前記第1領域と前記第2領域と第3領域と第4領域とを含むアドレス空間を有し、
前記第1領域は、前記エラー訂正用データに対応したデータが格納される領域であり、
前記第2領域は、前記エラー訂正用データに対応しないデータが格納される領域であり、
前記第3領域は、前記エラー訂正用RAMとして使用される領域であり、
前記第4領域は、前記エラー訂正用RAMをデータRAMとして使用される領域である
半導体記憶装置。 - 請求項1に記載の半導体記憶装置であって、
前記アドレス生成回路は、
前記エラー訂正用RAMに入力されたデータの格納先となるアドレスを変換するアドレス選択回路と、
前記エラー訂正用RAMを活性化するためのチップセレクト信号を出力するブロック選択回路と
を具備する
半導体記憶装置。 - 請求項1又は2に記載の半導体記憶装置であって、
前記データ選択回路は、
前記エラー訂正用RAMに入力されるデータを選択する入力データセレクタと、
前記エラー訂正用RAMから出力されたデータの出力先を選択する出力データセレクタと
を具備する
半導体記憶装置。 - 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の半導体記憶装置であって、
前記第1領域にデータが書き込まれる場合、
前記データは、エンコーダから出力され、
前記制御回路は、前記レジスタの値が、前記第1領域に格納するデータのエラー訂正を有効に設定することを示す場合に、前記エラー訂正用RAMへの書き込みの許可信号を出力し、
前記アドレス生成回路は、指定されたアドレスに応じて、前記エラー訂正用RAMを活性化する
半導体記憶装置。 - 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の半導体記憶装置であって、
前記第1領域からデータが読み出される場合、
前記制御回路は、前記エラー訂正用RAMからの読み出しの許可信号、及び、デコーダへの許可信号を出力し、
前記デコーダは、前記エラー訂正用RAMから出力されたデータに基づき、エラー訂正されたデータをCPUに出力する
半導体記憶装置。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の半導体記憶装置であって、
前記第2領域又は前記第3領域にデータが書き込まれる場合、
前記制御回路は、前記エラー訂正用RAMへの書き込みの許可信号の出力を制限する
半導体記憶装置。 - 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の半導体記憶装置であって、
前記第2領域からデータが読み出される場合、
前記制御回路は、前記エラー訂正用RAMからの読み出しの許可信号、及び、デコーダへの許可信号の出力を制限する
半導体記憶装置。 - 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の半導体記憶装置であって、
前記第4領域にデータが書き込まれる場合、
前記データは、CPUから出力され、
前記制御回路は、前記エラー訂正用RAMへの書き込みの許可信号を出力し、
前記アドレス生成回路は、指定されたアドレスに応じて、前記エラー訂正用RAMを活性化し、
前記エラー訂正用RAMが複数の時、前記エラー訂正用RAMの各々は、同一アドレスに同時に前記データを格納する
半導体記憶装置。 - 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の半導体記憶装置であって、
前記第4領域からデータが読み出される場合、
前記制御回路は、前記エラー訂正用RAMからの読み出しの許可信号を出力し、且つ、デコーダへの許可信号の出力を制限し、
前記エラー訂正用RAMが複数の時、前記エラー訂正用RAMの各々は、同一アドレスから同時に前記データを出力し、
前記デコーダは、前記エラー訂正用RAMの各々から出力されたデータをCPUに出力する
半導体記憶装置。 - 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の半導体記憶装置であって、
前記データ選択回路は、アドレスの一部の値に応じて、前記エラー訂正用RAMの入出力先データを選択する
半導体記憶装置。
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