JP5056552B2 - 電子装置の実装構造 - Google Patents
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- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 41
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 34
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 16
- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims description 7
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 13
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 3
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 3
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 3
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- -1 potting Substances 0.000 description 1
- 238000004382 potting Methods 0.000 description 1
- 239000003223 protective agent Substances 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Description
このQFN構造の電子装置に似た四方向リードタイプのパッケージ構造にQFP(Quad Flat Package)構造の電子装置がある。このQFP構造の電子装置では、QFN構造のものとは異なり、多数のリードが四側面から外方に突出する構造である。このQFP構造の電子装置では、車両に搭載される機器などに用いられる場合、使用環境の温度変化によってリードに結露し、結露水によってリード間が短絡されるといった事故を起す恐れがあるので、これを避けるために、基板に半田付けした後、リード部分を覆うようにヒューミシール(エアブラウン社の商標)などの防湿剤を塗布するようにしている。
請求項4は具体的な例で、電子装置の基板に向き合った面にダム状の突出した形状の土手を形成したものである。この形状のダム的な効果によって防湿剤が基板と電子装置との間の隙間内に浸入することが防止される。これにより防湿剤の温度変化による膨張収縮に関する影響は排除できる。また、請求項5は、その突出形状を電子装置の側面に則して設けたものであり、これにより隙間内に浸入する防湿剤を最小限に抑える効果がある請求項6の発明では、電子装置が基板に実装されたときには突出部が接触しないような寸法とすることが規定されている。こうすることによって実装の半田付け時にリードが浮くことによる半田付け不良を防止することができる。
図1〜図3は本発明の第1の実施形態を示す。ヨーレートセンサ1は、分解して示す図3のように、開放された一面を蓋板2によって塞がれるケース3内に、複数の電気・電子部品を搭載したプリント配線基板(基板)4を収納して構成される。プリント配線基板4上の電気・電子部品には、角速度を検出するセンサ素子5、センサ素子5から出力されるアナログ信号を処理してデジタル信号化する演算素子(電子装置)6などが含まれる。なお、図3には、センサ素子4および演算素子6以外の他の電気電子部品は図示されていない。
図4および図5は本発明の第2の実施形態を示すものである。この実施形態は、上記第1の実施形態の演算素子6に凸条10を設けることに代えて、プリント配線基板4上に矩形枠状の凸条12を設けたところにある。プリント配線基板4上の凸条12は、インクをシルク印刷により盛り上げることによって形成したものである。
さらに、本実施形態2のように、シルク印刷により凸条12を形成すれば、演算素子6の載置前にシルク印刷を行うだけで済むため、特段に工程を複雑化させることなく、上記効果を奏することができる。
図6は本発明の第3の実施形態を示すものである。この実施形態は、上記第2の実施形態の凸条12を設けることに代えて、プリント配線基板4上に演算素子6方向に向けて開口する溝(浸入防止部)13を設けたところにある。この溝13は、演算素子6によって覆われた領域に、その全周にわたって形成されている。そして、この溝13の外側に各リード7とプリント配線基板4との接点である半田9付け部分が位置している。
更に、このような溝13を設ければ、防湿剤11の塗布量のバラツキを吸収することができる。
図7は本発明の第4の実施形態を示すものである。この実施形態は、プリント配線基板4の演算素子6と対向する部位に1または複数個の貫通孔(浸入防止部)14を形成したことを特徴とするものである。貫通孔14を1個設ける場合には、演算素子6と対向する部位の中央部に設けることが好ましい。本実施形態では、複数個の貫通孔14を、演算素子6と対向する部位の周囲部に設けている。
本発明は上記し且つ図面に示す実施形態に限定されるものではなく、以下のような拡張或いは変更が可能である。
本発明を適用する電子装置は、演算素子6に限られず、QFP型の半導体パッケージに広く適用でき、更には、QFP型の半導体パッケージやその他の型の半導体パッケージに限られず、側面から多数のリードが取り出された電子装置を基板に半田付けする場合に広く適用することができる。また、パッケージ底部に電極のあるものなど、半田により表面実装で基板上に取り付ける電子装置にも一般的に応用できる。
更に、防湿剤に限らず、基板と電子装置の間に樹脂が浸透し、硬化後熱応力がかかるもの、例えばゲル状の保護剤やポッティング、コーティング剤の場合にも使用することができる。
浸入防止部は、防湿剤を塗布する部分、即ち電子装置のリードが設けられている部分に対応して設ければ良い。例えば、電子装置の四側面のうちニ側面だけにリードが設けられている場合、浸入防止部は、電子装置のリードのある二側面に対応して設ければ良いものである。
Claims (8)
- 側面から複数のリードが突出する電子装置を基板上に半田付けし前記リードに防湿剤を塗布してなる電子装置の実装構造において、
前記基板および前記電子装置のうちの少なくとも一方に、前記電子装置と前記基板との間の隙間内への前記防湿剤の浸入を防止するため浸入防止部を設け、
前記浸入防止部は、前記基板において前記電子装置に覆われた領域に設けられた該電子装置方向に開口を有する溝であることを特徴とする電子装置の実装構造。 - 前記溝は、前記リードと前記基板との接点に囲まれた領域内に設けられることを特徴とする請求項1に記載の電子装置の実装構造。
- 側面から複数のリードが突出する電子装置を基板上に半田付けし前記リードに防湿剤を塗布してなる電子装置の実装構造において、
前記基板および前記電子装置のうちの少なくとも一方に、前記電子装置と前記基板との間の隙間内への前記防湿剤の浸入を防止するため浸入防止部を設け、
前記浸入防止部は、前記防湿剤を裏面に排出する貫通孔であることを特徴とする電子装置の実装構造。 - 前記浸入防止部は、前記電子装置の前記基板側端面に設けられ、該基板方向に突出した形状を有することを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電子装置の実装構造。
- 前記浸入防止部は、前記電子装置の前記基板側に略垂直方向に沿った側面から延設されるとともに、該電子装置の該基板側端面を囲み該基板方向に突出した囲壁であり、
前記囲壁により囲まれた領域は中空となっていることを特徴とする請求項4に記載の電子装置の実装構造。 - 前記囲壁の前記電子装置の前記基板側端面からの突出量は、前記基板の前記リードの半田付け部分と前記電子装置の前記基板側端面との間の距離よりも短いことを特徴とする請求項5に記載の電子装置の実装構造。
- 前記浸入防止部は、前記基板において前記電子装置に覆われた領域に設けられた該電子装置方向に突出する囲壁であることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電子装置の実装構造。
- 前記リードと前記基板との全ての接点は、前記囲壁の外側に設けられることを特徴とする請求項5から7のいずれか一項に記載の電子装置の実装構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008100268A JP5056552B2 (ja) | 2008-04-08 | 2008-04-08 | 電子装置の実装構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008100268A JP5056552B2 (ja) | 2008-04-08 | 2008-04-08 | 電子装置の実装構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009253077A JP2009253077A (ja) | 2009-10-29 |
| JP5056552B2 true JP5056552B2 (ja) | 2012-10-24 |
Family
ID=41313483
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008100268A Expired - Fee Related JP5056552B2 (ja) | 2008-04-08 | 2008-04-08 | 電子装置の実装構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5056552B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115802739B (zh) * | 2022-10-26 | 2025-03-25 | 北京控制工程研究所 | 一种用于航天电子产品sop封装器件的安装结构 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04118951A (ja) * | 1990-09-10 | 1992-04-20 | Hitachi Ltd | 半導体パッケージ構造 |
| JPH06209054A (ja) * | 1993-01-08 | 1994-07-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
| JPH06283628A (ja) * | 1993-03-26 | 1994-10-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ハイブリッド型集積回路装置 |
| JP2973940B2 (ja) * | 1996-09-20 | 1999-11-08 | 日本電気株式会社 | 素子の樹脂封止構造 |
-
2008
- 2008-04-08 JP JP2008100268A patent/JP5056552B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2009253077A (ja) | 2009-10-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100125 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100408 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Written amendment |
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| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120716 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810 Year of fee payment: 3 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5056552 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810 Year of fee payment: 3 |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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