JP5054701B2 - 異常特定方法および分析装置 - Google Patents
異常特定方法および分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5054701B2 JP5054701B2 JP2008538548A JP2008538548A JP5054701B2 JP 5054701 B2 JP5054701 B2 JP 5054701B2 JP 2008538548 A JP2008538548 A JP 2008538548A JP 2008538548 A JP2008538548 A JP 2008538548A JP 5054701 B2 JP5054701 B2 JP 5054701B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- abnormality
- specifying
- reagent
- measurement
- injection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
- G01N35/1004—Cleaning sample transfer devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
- G01N21/76—Chemiluminescence; Bioluminescence
- G01N21/763—Bioluminescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
- G01N35/00613—Quality control
- G01N35/00623—Quality control of instruments
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Description
2,202 測定機構
4,204 制御機構
20,20a キュベット
21,212 検体移送部
21a 検体容器
21b 検体ラック
22 チップ格納部
23,214 検体分注移送機構
24 免疫反応テーブル
24a 外周ライン
24b 中周ライン
24c 内周ライン
25 BFテーブル
26,211 第1試薬格納部
27,215 第2試薬格納部
28,212 第1試薬分注移送機構
29,216 第2試薬分注移送機構
30 酵素反応テーブル
31,218 測光機構
32 第1キュベット移送機構
33 第2キュベット移送機構
41,241 制御部
42,242 処理制御部
43 入力部
44,244 分析部
45 特定部
46 記憶部
47 出力部
48 送受信部
210 反応テーブル
217 攪拌機構
Claims (10)
- 光学的特性をもとに検体を分析する分析装置の異常を特定する異常特定方法において、
前記検体に対する分析処理のうち異常を検証すべき分析処理以外の所定の分析処理を削除して、前記異常を検証すべき分析処理と、異常特定対象物または所定の試薬と所定の反応物質との反応処理とを経て得られた測定結果をもとに前記分析装置の異常を特定することを特徴とする異常特定方法。 - 液体注入機構を用いて所定量の前記異常特定対象物または所定量の前記試薬を反応容器内に注入する第1の注入ステップと、
前記異常特定対象物または前記試薬と反応することによって前記異常特定対象物または前記試薬に所定の光学的特性を発揮させる前記反応物質を前記反応容器内に注入する第2の注入ステップと、
前記反応容器内の反応液に対して光学的測定を行う測定ステップと、
前記測定ステップにおける測定結果が前記分析装置の正常時に予め求められた測定結果に基づく許容範囲を満たさない場合、前記異常特定対象物または前記液体注入機構に異常があると特定する特定ステップと、
を含むことを特徴とする請求項1に記載の異常特定方法。 - 前記第1の注入ステップは、変性時に前記反応物質と反応して異常発光する液体である前記異常特定対象物を注入し、
前記測定ステップは、前記第2の注入ステップにおいて注入された前記反応物質と反応した前記異常特定対象物の異常発光を検出し、
前記特定ステップは、前記測定ステップにおいて異常発光が検出された場合に前記異常特定対象物が変性したと特定することを特徴とする請求項2に記載の異常特定方法。 - 前記第1の注入ステップは、前記反応物質と反応して発光する前記試薬を注入し、
前記測定ステップは、前記第2の注入ステップにおいて注入された前記反応物質と反応した前記試薬が発する発光量を測定し、
前記特定ステップは、前記測定ステップにおいて測定された発光量が前記許容範囲を満たさない場合、前記液体注入機構に異常があると特定することを特徴とする請求項2に記載の異常特定方法。 - 前記特定ステップは、前記第1の注入ステップ、前記第2の注入ステップおよび前記測定ステップを複数回繰り返すことによって得られた前記発光量の平均値およびばらつき値をもとに前記液体注入機構における異常内容を特定することを特徴とする請求項4に記載の異常特定方法。
- 光学的特性をもとに検体を分析する分析装置において、
前記検体に対する分析処理のうち異常を検証すべき分析処理以外の所定の分析処理を削除して、前記異常を検証すべき分析処理と、異常特定対象物または所定の試薬と所定の反応物質との反応処理とを経て得られた測定結果をもとに当該分析装置の異常を特定することを特徴とする分析装置。 - 所定量の前記異常特定対象物または所定量の前記試薬を反応容器内に注入する第1の注入手段と、
前記異常特定対象物または前記試薬と反応することによって前記異常特定対象物または前記試薬に所定の光学的特性を発揮させる前記反応物質を前記反応容器内に注入する第2の注入手段と、
前記反応容器内の反応液に対して光学的測定を行う測定手段と、
前記測定手段による測定結果が前記分析装置の正常時に予め求められた測定結果に基づく許容範囲を満たさない場合、前記異常特定対象物または前記液体注入機構に異常があると特定する特定手段と、
を備えたことを特徴とする請求項6に記載の分析装置。 - 前記第1の注入手段は、変性時に前記反応物質と反応して異常発光する液体である前記異常特定対象物を注入し、
前記測定手段は、前記第2の注入手段によって注入された前記反応物質と反応した前記異常特定対象物の異常発光を検出し、
前記特定手段は、前記測定手段によって異常発光が検出された場合に前記異常特定対象物が変性したと特定することを特徴とする請求項7に記載の分析装置。 - 前記第1の注入手段は、前記反応物質と反応して発光する前記試薬を注入し、
前記測定手段は、前記第2の注入手段によって注入された前記反応物質と反応した前記試薬が発する発光量を測定し、
前記特定手段は、前記測定手段によって測定された発光量が前記許容範囲を満たさない場合、前記第1の注入手段に異常があると特定することを特徴とする請求項7に記載の分析装置。 - 前記特定手段は、前記第1の注入手段、前記第2の注入手段および前記測定手段による各処理を複数回繰り返すことによって得られた前記発光量の平均値およびばらつき値をもとに前記第1の注入手段における異常内容を特定することを特徴とする請求項9に記載の分析装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2006/320469 WO2008044313A1 (fr) | 2006-10-13 | 2006-10-13 | Procédé de détermination d'anomalie et analyseur |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008044313A1 JPWO2008044313A1 (ja) | 2010-02-04 |
JP5054701B2 true JP5054701B2 (ja) | 2012-10-24 |
Family
ID=39282525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008538548A Expired - Fee Related JP5054701B2 (ja) | 2006-10-13 | 2006-10-13 | 異常特定方法および分析装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090258433A1 (ja) |
EP (1) | EP2077446A1 (ja) |
JP (1) | JP5054701B2 (ja) |
WO (1) | WO2008044313A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7161851B2 (ja) * | 2018-02-28 | 2022-10-27 | シスメックス株式会社 | 免疫測定装置の状態確認方法および免疫測定装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10318803A (ja) * | 1997-05-21 | 1998-12-04 | Shimadzu Corp | 分析装置 |
JP2000249701A (ja) * | 1998-11-20 | 2000-09-14 | Becton Dickinson & Co | 核酸アッセイの読取り値を分析するためのコンピュータ化した方法とその装置 |
JP2004012442A (ja) * | 2002-06-12 | 2004-01-15 | Toshiba Corp | 自動分析装置および自動分析装置におけるデータ管理方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5193408B2 (ja) | 2001-09-13 | 2013-05-08 | ベックマン コールター, インコーポレイテッド | 自動分析装置 |
-
2006
- 2006-10-13 WO PCT/JP2006/320469 patent/WO2008044313A1/ja active Application Filing
- 2006-10-13 JP JP2008538548A patent/JP5054701B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-10-13 EP EP06811747A patent/EP2077446A1/en not_active Withdrawn
-
2009
- 2009-04-13 US US12/422,572 patent/US20090258433A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10318803A (ja) * | 1997-05-21 | 1998-12-04 | Shimadzu Corp | 分析装置 |
JP2000249701A (ja) * | 1998-11-20 | 2000-09-14 | Becton Dickinson & Co | 核酸アッセイの読取り値を分析するためのコンピュータ化した方法とその装置 |
JP2004012442A (ja) * | 2002-06-12 | 2004-01-15 | Toshiba Corp | 自動分析装置および自動分析装置におけるデータ管理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2077446A1 (en) | 2009-07-08 |
US20090258433A1 (en) | 2009-10-15 |
WO2008044313A1 (fr) | 2008-04-17 |
JPWO2008044313A1 (ja) | 2010-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10261016B2 (en) | Specimen analyzing method and specimen analyzing apparatus | |
CN110058030B (zh) | 自动分析装置 | |
US8347743B2 (en) | Specimen processing device and specimen processing method | |
CN108700603B (zh) | 自动分析装置 | |
US8383411B2 (en) | Specimen processing system and specimen conveyance method | |
US20100098589A1 (en) | Error specifying method and analyzer | |
EP1840555A1 (en) | Sample analyzer and sample analyzing method | |
US9134333B2 (en) | Sample processing apparatus and sample processing method | |
US9213037B2 (en) | Sample analyzer and sample analyzing method | |
JP7325171B2 (ja) | ラックの搬送方法、検体測定システム | |
WO2017047240A1 (ja) | 自動分析装置 | |
US8900876B2 (en) | Abnormality-identifying method and analyzer | |
JP2008224439A (ja) | 分析装置および異常特定方法 | |
JP5123859B2 (ja) | 異常特定方法、分析装置および試薬 | |
JP4838855B2 (ja) | 分析装置 | |
JP2008309661A (ja) | 分析装置 | |
JP5054701B2 (ja) | 異常特定方法および分析装置 | |
JP7117124B2 (ja) | 検体測定システム、ラックの搬送方法 | |
EP3779466A1 (en) | Specimen measurement system and rack conveyance method | |
JP2011017660A (ja) | 自動分析装置および再検方法 | |
JP5258090B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP7350478B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP4896147B2 (ja) | 異常特定方法および分析装置 | |
US20140112830A1 (en) | Automated Analyzer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20100210 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120703 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120727 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150803 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |