JP5051996B2 - 圧電/電歪膜保持体、圧電/電歪膜型素子及びそれらの製造方法 - Google Patents
圧電/電歪膜保持体、圧電/電歪膜型素子及びそれらの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5051996B2 JP5051996B2 JP2005310173A JP2005310173A JP5051996B2 JP 5051996 B2 JP5051996 B2 JP 5051996B2 JP 2005310173 A JP2005310173 A JP 2005310173A JP 2005310173 A JP2005310173 A JP 2005310173A JP 5051996 B2 JP5051996 B2 JP 5051996B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- piezoelectric
- electrostrictive
- electrostrictive film
- region
- solid phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 67
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 138
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 claims description 114
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 90
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 50
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 32
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 28
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 27
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 27
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 27
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 23
- 239000012071 phase Substances 0.000 claims description 20
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 19
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 14
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 14
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 13
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 11
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 11
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 9
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 8
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 7
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000011591 potassium Substances 0.000 claims description 6
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 4
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000001354 calcination Methods 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 275
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 65
- ZBSCCQXBYNSKPV-UHFFFAOYSA-N oxolead;oxomagnesium;2,4,5-trioxa-1$l^{5},3$l^{5}-diniobabicyclo[1.1.1]pentane 1,3-dioxide Chemical compound [Mg]=O.[Pb]=O.[Pb]=O.[Pb]=O.O1[Nb]2(=O)O[Nb]1(=O)O2 ZBSCCQXBYNSKPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N dioxido(oxo)titanium;lead(2+) Chemical compound [Pb+2].[O-][Ti]([O-])=O NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 13
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- HEPLMSKRHVKCAQ-UHFFFAOYSA-N lead nickel Chemical compound [Ni].[Pb] HEPLMSKRHVKCAQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 8
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 6
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 6
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N Magnesium oxide Chemical compound [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 5
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 5
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 4
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 4
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CJXLIMFTIKVMQN-UHFFFAOYSA-N dimagnesium;oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Mg+2].[Mg+2].[Ta+5].[Ta+5] CJXLIMFTIKVMQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910002077 partially stabilized zirconia Inorganic materials 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 4
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 4
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 3
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 3
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 3
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 3
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 3
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 3
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 3
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 3
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 3
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 2
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 2
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce] ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 2
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 2
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JQJCSZOEVBFDKO-UHFFFAOYSA-N lead zinc Chemical compound [Zn].[Pb] JQJCSZOEVBFDKO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 2
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 229910000480 nickel oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 2
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 2
- 229910002076 stabilized zirconia Inorganic materials 0.000 description 2
- 229940071182 stannate Drugs 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YAPQBXQYLJRXSA-UHFFFAOYSA-N theobromine Chemical compound CN1C(=O)NC(=O)C2=C1N=CN2C YAPQBXQYLJRXSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000013518 transcription Methods 0.000 description 2
- 230000035897 transcription Effects 0.000 description 2
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 2
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IGDGIZKERQBUNG-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Ba] Chemical compound [Cu].[Ba] IGDGIZKERQBUNG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YDADSACUMGYURZ-UHFFFAOYSA-N [O-2].[Fe+2].[Bi+3] Chemical compound [O-2].[Fe+2].[Bi+3] YDADSACUMGYURZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VNSWULZVUKFJHK-UHFFFAOYSA-N [Sr].[Bi] Chemical compound [Sr].[Bi] VNSWULZVUKFJHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- FSAJRXGMUISOIW-UHFFFAOYSA-N bismuth sodium Chemical compound [Na].[Bi] FSAJRXGMUISOIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000011195 cermet Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N copper;5,10,15,20-tetraphenylporphyrin-22,24-diide Chemical compound [Cu+2].C1=CC(C(=C2C=CC([N-]2)=C(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(N=2)=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=C3[N-]2)C=2C=CC=CC=2)=NC1=C3C1=CC=CC=C1 RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- XKENYNILAAWPFQ-UHFFFAOYSA-N dioxido(oxo)germane;lead(2+) Chemical compound [Pb+2].[O-][Ge]([O-])=O XKENYNILAAWPFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 229910002078 fully stabilized zirconia Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 229910000078 germane Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003471 inorganic composite material Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011133 lead Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- DJZHPOJZOWHJPP-UHFFFAOYSA-N magnesium;dioxido(dioxo)tungsten Chemical compound [Mg+2].[O-][W]([O-])(=O)=O DJZHPOJZOWHJPP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- BJBUTJPAZHELKY-UHFFFAOYSA-N manganese tungsten Chemical compound [Mn].[W] BJBUTJPAZHELKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N oxonickel Chemical compound [Ni]=O GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UZLYXNNZYFBAQO-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);ytterbium(3+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Yb+3].[Yb+3] UZLYXNNZYFBAQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006072 paste Substances 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- BITYAPCSNKJESK-UHFFFAOYSA-N potassiosodium Chemical compound [Na].[K] BITYAPCSNKJESK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008279 sol Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 229960004559 theobromine Drugs 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910003454 ytterbium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229940075624 ytterbium oxide Drugs 0.000 description 1
- RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N yttrium(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Y+3].[Y+3] RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/704—Piezoelectric or electrostrictive devices based on piezoelectric or electrostrictive films or coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/01—Manufacture or treatment
- H10N30/07—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base
- H10N30/072—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base by laminating or bonding of piezoelectric or electrostrictive bodies
- H10N30/073—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base by laminating or bonding of piezoelectric or electrostrictive bodies by fusion of metals or by adhesives
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/01—Manufacture or treatment
- H10N30/07—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base
- H10N30/074—Forming of piezoelectric or electrostrictive parts or bodies on an electrical element or another base by depositing piezoelectric or electrostrictive layers, e.g. aerosol or screen printing
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/80—Constructional details
- H10N30/85—Piezoelectric or electrostrictive active materials
- H10N30/853—Ceramic compositions
- H10N30/8548—Lead-based oxides
- H10N30/8554—Lead-zirconium titanate [PZT] based
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
- General Electrical Machinery Utilizing Piezoelectricity, Electrostriction Or Magnetostriction (AREA)
Description
圧電/電歪膜10が保持される固相担体2は、上記圧電/電歪膜を焼成可能な耐熱性を備えている。固相担体10の構成材料としては、例えば、完全安定化ジルコニア、部分安定化ジルコニア、窒化ケイ素、窒化アルミニウム、アルミナ、マグネシア、酸化チタン等の材料を挙げることができるが、なかでも、完全安定化又は部分安定化ジルコニアを主成分とするジルコニア含有セラミックス材料が挙げられる。完全安定化ジルコニア又は部分安定化ジルコニアを主成分とする材料は、薄肉でも機械的強度が大きいこと、靭性が高いこと、圧電/電歪材料との反応性が低い点において好ましい。また、ジルコニアを安定化させる化合物としては、酸化イットリウム、酸化イッテルビウム、酸化セリウム、酸化カルシウム及び酸化マグネシウムからなる群から選択される1種又は2種以上を添加し含有させることで部分安定化又は完全安定化ジルコニアが得られる。
本発明の圧電/電歪膜10は、固相担体2の表面に所定のパターンで不完全に結合する不完全結合領域20を備えている。不完全結合領域20を備えていることで、不完全結合領域20が容易に固相担体2の表面4から所定パターンを維持して分離させることができる。不完全結合領域20は、固相担体2の表面4に対して結合していないか(未結合)又は結合領域30よりも低い強度で前記基板表面に結合している部位とすることができるが、好ましくは、未結合である。なお、ここで、「結合」とは、固相担体2と圧電/電歪膜10のそれぞれに含まれる元素が拡散することにより結合している状態を含んでいる。また、不完全結合領域20は、結合領域30と不完全結合領域20とを分離させることにより、同時に固相担体2から分離できる程度に不完全に結合している限り基板2の表面に密着等されていてもよい。
本圧電/電歪膜10は、不完全結合領域20を分離可能に固相担体2の表面4に結合する結合領域30を有している。結合領域30を備えていることで、圧電/電歪膜10を固相担体2上に保持することができるとともに、この領域30に固相担体2の表面4から分離するような外力などの外部エネルギーを付与することで不完全結合領域20を固相担体2から分離することができる。こうした結合領域30は、上記したように、圧電/電歪膜10に含まれる元素と固相担体2の表面4に含まれる元素の少なくとも一方が他方に拡散することによる結合を含んでいる。なお結合領域30の領域全体が固相担体2の表面4に結合している必要はなく、部分的に結合しているものであってもよい。こうした結合領域30は、固相担体2との圧電/電歪膜10との所定の結合状態を可能とする一方で,不完全結合領域20との界面が脆弱であるため、外力等が加えられるとこの界面部分で亀裂等が生じて破壊されその結果、不完全結合領域20と結合領域30とが分離され、不完全結合領域20を固相担体2から分離させることができる。
本発明の圧電/電歪膜10を製造するのに好ましい方法は、図2に示すように、固相担体2を準備し(ステップS10)、この固相担体2表面に圧電/電歪膜10に対応する上記圧電/電歪材料の圧電/電歪材料層8を形成し(ステップS20)、焼成する(ステップS30)、各工程を備えている。こうした一連の圧電/電歪膜10の基本的な製造工程は、従来の圧電/電歪膜10の製造工程と同様に行うことができる。
次に、本発明の圧電/電歪膜型素子及びその製造において好ましい方法について説明する。本発明の圧電/電歪膜型素子50の例を図3に示し、図4に、圧電/電歪膜型素子50a、50bの製造工程の一例について示す。図3に示すように、圧電/電歪膜型素子50a、50bは、基板42上に、基板42に近い側から下部電極60、圧電/電歪膜10及び上部電極62を備えている。ここで、図3(a)に示す圧電/電歪膜型素子50aは、圧電/電歪膜10の不完全結合領域20の固相担体2側を基板42上方に向けた状態で存在しており、図3(b)に示す圧電/電歪膜型素子50bは、圧電/電歪膜10の不完全結合領域20の固相担体2側を基板42側に向けた状態で存在している。圧電/電歪膜型素子50a、50bにおけるこうした圧電/電歪膜10の方向性は、圧電/電歪膜10の基板42への接合・分離(転写)方法によって形成されており、図3(a)に示す圧電/電歪膜型素子50は、例えば後述する一回転写法によって得られ、図3(b)に示す圧電/電歪膜型素子50は、例えば同様に後述する二回転写法によって得られる。圧電/電歪膜10の形態等から不完全結合領域20と結合領域30との分離面等が認識される場合、こうした2種の圧電/電歪膜型素子50を判別することが可能である。こうした圧電/電歪膜型素子50については、いずれも下部配線70及び/又は上部配線を備えることができる。
本実施例は、1回転写法で圧電/電歪膜型素子を作成した例である。製造工程を図5に示す。
(材料)
圧電/電歪膜を焼成するための固相担体として3mol%イットリア部分安定化ジルコニア基板(株式会社TYK、商品名TZ−T1、板厚2mm、ダイヤモンドスラリーによるバフ研磨により鏡面仕上げ、表面粗さRa=0.03μm)を用いた。また、圧電/電歪材料としては、PMN(マグネシウムニオブ酸鉛)15mol%:PT(チタン酸鉛)45mol%:PZ(ジルコン酸鉛)40mol%に対してNiO(酸化ニッケル)0.5%を添加した組成からなる、セラミックス粉末(平均粒径0.5μm)とした。
図5(a)に示すように、この粉末をバインダー、溶媒などを用いてペースト化して、印刷膜厚(生)40μm、パターン0.5μm×0.5μm、0.6mmピッチで前記部分安定化ジルコニア基板にスクリーン印刷した。
次いで、大気中、600℃で5時間焼成して脱脂した後、図5(b)に示すように、内容器(内寸法:縦100mm×横100mm×高さ70mm)に、圧電/電歪材料と同じ組成の粉末を40g投入し、鉛雰囲気を調整した状態で1250℃で2時間、焼成した。
ジルコニア基板上に形成された圧電/電歪膜を、導電性接着剤として、エポキシ系の銀ペーストを圧電/電歪膜のパターンに対応するように膜厚10μmで印刷したガラス基板に対して、位置合わせした上で重ね合わせ、その状態で150℃×30minでエポキシ樹脂を硬化させた(図5(c))。その後ジルコニア基板を圧電/電歪膜から分離した(図5(d))。その後、下部電極と同じ銀ペーストを用いて上部電極を印刷形成した。
(実施例2)
本実施例は、2回転写法で圧電/電歪膜型素子を作成した例である。製造工程を図7に示す。なお、用いた材料、印刷、脱脂・焼成については実施例1と同様に行った(図7(a)(b))ので、転写工程以降について説明する。なお、図7には適宜表面SEM写真を付している。
適当な板状体に接着層として熱可塑性樹脂であるブチルセルロースを膜厚5μmで印刷し、この板状体を100℃のホットプレート上で圧電/電歪膜を形成したジルコニア基板へ重ね合わせた(図7(c))。ブチルセルロースを適度に軟化させ、圧電/電歪膜表面へ融着させた状態で降温し、その後ジルコニア基板から板状体を分離することで、圧電/電歪膜を板状体に転写した(図7(d))。
次に、ジルコニア基板から剥離させた圧電/電歪膜の露出された表面に下部電極材料として金レジネートペーストを膜厚5μmで印刷した(図7(e))。一方、ガラス基板に対して所定のパターンで下部配線となる銀ペースト(ノリタケカンパニーリミテッド、商品名NP−4348)を印刷し、600℃で焼き付けた上に、ガラスペースト(ほうケイ酸鉛ガラス、ノリタケカンパニーリミテッド、商品名NP−7730)を20wt%配合した前記銀ペーストを膜厚5μmで印刷した。ガラス配合銀ペーストの乾燥後、その上に接着層(ブチルセルロース)を膜厚5μmで印刷した(図7(f))。
100℃のホットプレート上にガラス基板を載置し、ガラス基板に対して位置合わせした上、圧電/電歪膜を転写した板状体を重ねて仮接着し(図7(g))、そのまま電気炉で600℃で5時間熱処理した。このとき、適当な重石を載せることで、荷重がかかった状態で熱処理した。これにより、金レジネートとガラス配合銀ペーストを焼成して圧電/電歪膜を下部配線へ接着させるとともに、接着層を焼失させて、接合と分離とを実施して結果として圧電/電歪膜をガラス基板に再転写した(図7(h))。その後下部電極と同じ金ペーストを用いて上部電極を印刷形成し、600℃で焼成して形成した(図7(i))。
Claims (27)
- 固相担体上に不完全に結合された所定パターンの不完全結合領域と、
該不完全結合領域を分離可能に前記固相担体表面に結合する結合領域と、
を備え、
前記結合領域及び前記不完全結合領域は、前記固相担体上に圧電/電歪材料を焼成することにより形成されたものであり、
前記結合領域は、前記不完全結合領域とは組成において異なり前記圧電/電歪材料の組成において少なくとも一つの金属元素の含有量が他の部位よりも低い相である異相を有しているか、又は、前記不完全結合領域よりも膜厚が小さい領域を含んでおり、
前記不完全結合領域は、前記結合領域に前記固相担体の表面から分離するような外部エネルギーが付与されると前記固相担体から分離され圧電/電歪膜として機能する、圧電/電歪膜保持体。 - 前記結合領域は、前記圧電/電歪膜保持体の周縁部分を含んでいる、請求項1に記載の圧電/電歪膜保持体。
- 前記金属元素は、鉛、ビスマス、カリウム及びバナジウムからなる群から選択される1種又は2種以上である、請求項1又は2に記載の圧電/電歪膜保持体。
- 前記不完全結合領域は、前記固相担体表面に対して未結合であるかあるいは前記結合領域よりも低い強度で前記固相担体表面に結合している、請求項1〜3のいずれかに記載の圧電/電歪膜保持体。
- 膜厚が5μm以下の前記結合領域を有する、請求項1〜4のいずれかに記載の圧電/電歪膜保持体。
- 膜厚が2μm以上の前記不完全結合領域を有する、請求項1〜5のいずれかに記載の圧電/電歪膜保持体。
- 前記圧電/電歪膜保持体を所定のパターンで前記固相担体上に複数個備える、請求項1〜6のいずれかに記載の圧電/電歪膜保持体。
- 前記圧電/電歪膜保持体は、鉛含有セラミックス材料で構成されている、請求項1〜7のいずれかに記載の圧電/電歪膜保持体。
- 前記固相担体は、ジルコニア含有セラミックス材料で構成されている、請求項1〜8のいずれかに記載の圧電/電歪膜保持体。
- 前記圧電/電歪膜保持体は中央部分が端部よりも膜厚が大きい断面形状を有している、請求項1〜9のいずれかに記載の圧電/電歪膜保持体。
- 前記圧電/電歪膜保持体の最大厚みは5μm以上100μm以下である、請求項1〜10のいずれかに記載の圧電/電歪膜保持体。
- 固相担体上に圧電/電歪材料層を形成する材料層形成工程と、
前記固相担体上に形成した前記圧電/電歪材料層を焼成する焼成工程とを備え、
前記焼成工程は、前記圧電/電歪材料層を焼成することにより、前記固相担体上に不完全に結合し、所定パターンの不完全結合領域と、該不完全結合領域を分離可能に前記固相担体表面に結合する結合領域と、を形成するものであり、
前記不完全結合領域は、前記結合領域に前記固相担体の表面から分離するような外部エネルギーが付与されると前記固相担体から分離され圧電/電歪膜として機能するものであり、
前記材料層形成工程において、前記結合領域に対応する領域に、前記不完全結合領域に対応する領域よりも層厚の小さい部分を有するように前記圧電/電歪材料層を形成するか、又は、前記焼成工程において、前記圧電/電歪材料層の前記結合領域に対応する領域では前記圧電/電歪材料に含有される金属元素の蒸発を促進し、前記不完全結合領域に対応する領域では前記金属元素の蒸発を抑制するように前記圧電/電歪材料層を焼成する、圧電/電歪膜保持体の製造方法。 - 前記圧電/電歪材料層は、前記固相担体表面に圧電/電歪材料を供給して形成されている、請求項12に記載の製造方法。
- 前記圧電/電歪材料層は、鉛含有セラミックス材料を含んでいる、請求項12又は13に記載の製造方法。
- 前記固相担体は、ジルコニア含有セラミックス材料で構成されている、請求項12〜14のいずれかに記載の製造方法。
- 前記圧電/電歪材料層は中央部分が端部よりも膜厚が大きい断面形状を有している、請求項12〜15のいずれかに記載の製造方法。
- 前記圧電/電歪材料層の最大層厚は5μm以上200μm以下である、請求項12〜16のいずれかに記載の製造方法。
- 前記圧電/電歪材料層は、印刷により形成されている、請求項12〜17のいずれかに記載の製造方法。
- 前記金属元素は、鉛、ビスマス、カリウム及びバナジウムからなる群から選択される1種又は2種以上である、請求項12〜18のいずれかに記載の製造方法。
- 前記焼成工程は、前記圧電/電歪材料層を1000℃以上1400℃以下で焼成する工程である、請求項12〜19のいずれかに記載の製造方法。
- 請求項12〜20のいずれかに記載の製造方法によって得られる、圧電/電歪膜保持体。
- 基板に圧電/電歪膜が形成された圧電/電歪膜型素子の製造方法であって、
請求項12〜20のいずれかに記載の製造方法で圧電/電歪膜保持体を準備する準備工程と、
前記圧電/電歪膜保持体の前記不完全結合領域を前記基板に接合する接合工程と、
前記結合領域に対して外部エネルギーを付与することにより前記固相担体の表面から前記基板に接合された不完全結合領域を分離する分離工程と、
を備える、製造方法。 - 前記接合工程では、前記固相担体上の前記圧電/電歪膜保持体を導電性層を介して基板に接合する、請求項22に記載の製造方法。
- 基板に圧電/電歪膜が形成された圧電/電歪膜型素子の製造方法であって、
請求項12〜20のいずれかに記載の製造方法で圧電/電歪膜保持体を準備する準備工程と、
前記固相担体上の前記圧電/電歪膜保持体を導電性層を介することなく別の固相担体に接合し、前記結合領域に対して外部エネルギーを付与することにより前記固相担体の表面から前記別の固相担体に接合された不完全結合領域を分離し、次いで、前記不完全結合領域の露出された表面を導電性層を介して前記基板に接合する接合工程と、
前記他の固相担体の表面から前記基板に接合された不完全結合領域を分離する分離工程と、
を備える、製造方法。 - 1個又は2個以上の前記圧電/電歪膜保持体の不完全結合領域を前記基板に転写する、請求項22〜24のいずれかに記載の製造方法。
- 前記圧電/電歪膜型素子は、2個以上の前記不完全結合領域を、所定のパターンで前記基板上に備える、請求項22〜25のいずれかに記載の製造方法。
- 請求項22〜26のいずれかに記載の圧電/電歪膜型素子の製造方法によって得られる、圧電/電歪膜型素子。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005310173A JP5051996B2 (ja) | 2005-10-25 | 2005-10-25 | 圧電/電歪膜保持体、圧電/電歪膜型素子及びそれらの製造方法 |
US11/552,260 US7713366B2 (en) | 2005-10-25 | 2006-10-24 | Piezoelectric/electrostrictive film and method for producing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005310173A JP5051996B2 (ja) | 2005-10-25 | 2005-10-25 | 圧電/電歪膜保持体、圧電/電歪膜型素子及びそれらの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007123353A JP2007123353A (ja) | 2007-05-17 |
JP5051996B2 true JP5051996B2 (ja) | 2012-10-17 |
Family
ID=37984687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005310173A Expired - Fee Related JP5051996B2 (ja) | 2005-10-25 | 2005-10-25 | 圧電/電歪膜保持体、圧電/電歪膜型素子及びそれらの製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7713366B2 (ja) |
JP (1) | JP5051996B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101235434B1 (ko) * | 2008-06-30 | 2013-02-20 | 니혼도꾸슈도교 가부시키가이샤 | 압전 세라믹 조성물 및 이것을 이용한 압전 소자 |
DE102011081278A1 (de) * | 2011-08-19 | 2013-02-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Piezokeramisches Mehrschicht-Bauelement |
JP2013165195A (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-22 | Seiko Epson Corp | 液体噴射ヘッド、液体噴射装置及び圧電素子 |
JP5934539B2 (ja) * | 2012-03-28 | 2016-06-15 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪膜型素子 |
FR3083004B1 (fr) * | 2018-06-22 | 2021-01-15 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif transducteur piezoelectrique et procede de realisation d'un tel dispositif |
KR101965171B1 (ko) * | 2018-08-24 | 2019-08-13 | (주)비티비엘 | 초음파센서의 제조방법 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5169476A (en) * | 1991-11-27 | 1992-12-08 | Polaroid Corporation | Apparatus and method for delamination of a laminate |
CA2081163A1 (en) * | 1991-11-27 | 1993-05-28 | Dana F. Schuh | Apparatus and method for the delamination of a laminate |
JPH05217797A (ja) * | 1992-02-03 | 1993-08-27 | Nitto Denko Corp | 積層コンデンサー部品の製造方法 |
JP2000079686A (ja) * | 1998-06-18 | 2000-03-21 | Seiko Epson Corp | 圧電体薄膜素子、圧電体薄膜素子を製造するための原盤、インクジェット式記録ヘッド及びこれらの製造方法 |
US6523943B1 (en) * | 1999-11-01 | 2003-02-25 | Kansai Research Institute, Inc. | Piezoelectric element, process for producing the piezoelectric element, and head for ink-jet printer using the piezoelectric element |
JP3482939B2 (ja) * | 2000-05-09 | 2004-01-06 | 日本碍子株式会社 | 圧電/電歪膜型素子 |
JP2002171009A (ja) * | 2000-12-04 | 2002-06-14 | Canon Inc | 膜の転写方法 |
JP2003309303A (ja) * | 2002-04-18 | 2003-10-31 | Canon Inc | 圧電膜型アクチュエータの製造方法および液体噴射ヘッドの製造方法 |
DE60325669D1 (de) * | 2002-05-17 | 2009-02-26 | Semiconductor Energy Lab | Verfahren zum Transferieren eines Objekts und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements |
US6964201B2 (en) | 2003-02-25 | 2005-11-15 | Palo Alto Research Center Incorporated | Large dimension, flexible piezoelectric ceramic tapes |
-
2005
- 2005-10-25 JP JP2005310173A patent/JP5051996B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-10-24 US US11/552,260 patent/US7713366B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20070090729A1 (en) | 2007-04-26 |
US7713366B2 (en) | 2010-05-11 |
JP2007123353A (ja) | 2007-05-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3151644B2 (ja) | 圧電/電歪膜型素子 | |
US6448691B1 (en) | Piezoelectric/electrostrictive device and method of manufacturing same | |
JP5051996B2 (ja) | 圧電/電歪膜保持体、圧電/電歪膜型素子及びそれらの製造方法 | |
US7345405B2 (en) | Piezoelectric/electrostrictive device and method of manufacturing same | |
JPH05267742A (ja) | 圧電/電歪膜型素子 | |
EP1089349A2 (en) | Piezoelectric/electrostrictive device and method of manufacturing same | |
US6772492B2 (en) | Piezo-electric/electrostrictive device and method of manufacturing | |
EP1091424B1 (en) | Piezoelectric/electrostrictive device and method of manufacturing same | |
JP3466550B2 (ja) | 圧電/電歪デバイス | |
US20060113876A1 (en) | Piezoelectric/electrostrictive device | |
US20020149101A1 (en) | Wiring board and method of manufacturing same | |
JP2004014951A (ja) | 圧電/電歪デバイスとその製造方法 | |
US7007355B2 (en) | Method of manufacturing a piezoelectric/electrostrictive device | |
JP3466551B2 (ja) | 圧電/電歪デバイス | |
JP2022022276A (ja) | 圧電振動基板および圧電振動素子 | |
JP3433160B2 (ja) | 圧電/電歪デバイス | |
US20140225478A1 (en) | Vibration element, method for manufacturing same, and vibration-type driving device | |
JP3466548B2 (ja) | 圧電/電歪デバイス | |
EP1089359B1 (en) | Piezoelectric/electrostrictive device and method for producing the same | |
JP5682216B2 (ja) | 圧電デバイスおよびその製造方法 | |
JP3436725B2 (ja) | 圧電/電歪デバイス及びその製造方法 | |
JPH06318745A (ja) | 圧電/電歪膜型素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080215 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110926 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120112 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120724 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120724 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5051996 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150803 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |