JP5045571B2 - 検査マスタ,装置検査方法および絶縁検査装置 - Google Patents
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Description
まず,検査マスタの構成について説明する。本形態の検査マスタ100は,図1に示すように,インパルス検査用のリラクタンス20U,20V,20Wと,線間抵抗検査用の抵抗器30U,30V,30Wと,絶縁抵抗検査用の抵抗器40と,絶縁耐圧検査用のコンデンサ50とを備え,入出力端子として,U相端子10Uと,V相端子10Vと,W相端子10Wと,アース端子11とが設けられている。
続いて,本形態の絶縁検査装置の構成について説明する。本形態の絶縁検査装置200は,図2に示すように,線間抵抗検査用の線間抵抗測定器230と,絶縁抵抗検査および絶縁耐圧検査用の絶縁抵抗・絶縁耐圧試験機240と,インパルス検査用のインパルス試験機250と,各試験機に接続し,電気的接続状態を切り替える切替器270とを備え,入出力端子として,U相端子210Uと,V相端子210Vと,W相端子210Wと,アース端子211とが設けられている。
続いて,絶縁検査装置200の各検査項目の検査手順について説明する。なお,各検査の実施順序は不問である。
まず,線間抵抗検査について説明する。線間抵抗検査では,線間抵抗測定器230によって,UV相間,VW相間,WU相間の各相間に直流の電流を流して抵抗値を取得する。そこで,線間抵抗検査のマスタ測定では,切替器270によって,線間抵抗測定器230と検査マスタ100とを接続する。より具体的に,UV相間の線間抵抗を測定する場合には,線間抵抗測定器230を検査マスタ100のU相端子10UおよびV相端子10Vと接続し,W相端子10Wを非接続として,U相端子10UとV相端子10Vとの間に直流電流を流し,U相端子10UとV相端子10Vとの間の電圧を測定し,UV相間の抵抗値を演算する。取得した抵抗値が検査マスタ100の既知の値から得られる理論値と略同一であれば正常と判断する。一方,略同一とならなければ,線間抵抗測定器230の異常と判断する。
次に,絶縁抵抗検査について説明する。絶縁抵抗検査では,絶縁抵抗・絶縁耐圧試験機240によって,抵抗器40の両端に直流の電圧を印加して抵抗値を取得する。そこで,絶縁抵抗検査のマスタ測定では,切替器270によって,絶縁抵抗・絶縁耐圧試験機240と検査マスタ100とを接続する。より具体的に,各相端子210U,210V,210Wが同電位となるように接続し,各相端子10U,10V,10Wとアース端子11との間に直流電圧を印加し,電流を測定し,相端子・アース端子間の抵抗値を演算する。取得した抵抗値が検査マスタ100の既知の値から得られる理論値と略同一であれば正常と判断する。一方,略同一とならなければ,絶縁抵抗・絶縁耐圧試験機240の異常と判断する。
次に,絶縁耐圧検査について説明する。絶縁耐圧検査では,絶縁抵抗・絶縁耐圧試験機240によって,抵抗器40とコンデンサ50とで構成される並列回路の両端に交流の電圧を印加して電流値を測定する。そこで,絶縁耐圧検査のマスタ測定では,切替器270によって,絶縁抵抗・絶縁耐圧試験機240と検査マスタ100とを接続する。より具体的に,各相端子210U,210V,210Wが同電位となるように接続し,各相端子10U,10V,10Wとアース端子11との間に交流電圧を印加し,電流を測定する。測定して得られた電流が検査マスタ100の既知の値から得られる理論値の範囲内であれば正常と判断する。一方,範囲内とならなければ,絶縁抵抗・絶縁耐圧試験機240の異常と判断する。
次に,インパルス検査について説明する。インパルス検査では,インパルス試験機250によって,UV相間,VW相間,WU相間の各相間に高調波のインパルス電圧を印加して電圧の振動波形(インパルス波形)および電流のインパルス波形を測定する。そこで,インパルス検査のマスタ測定では,切替器270によって,インパルス試験機250と検査マスタ100とを接続する。より具体的に,UV相間のインパルス波形を測定する場合には,インパルス試験機250を検査マスタ100のU相端子10UおよびV相端子10Vと接続し,W相端子10Wを非接続として,U相端子10UとV相端子10Vとの間にインパルス電圧を印加し,電圧および電流を測定することで電圧および電流のそれぞれのインパルス波形を取得する。取得したインパルス波形が検査マスタ100の既知の値から得られる理論波形と略同一であれば正常と判断する。一方,略同一とならなければ,インパルス試験機250の異常と判断する。
第1の応用例では,検査マスタの端子をワークの端子と同一形状にした検査マスタについて説明する。
第2の応用例では,図1に示した検査マスタ100を組み込んだ絶縁検査装置について説明する。
10U U相端子
10V V相端子
10W W相端子
11 アース端子
20U,20V,20W (インパルス検査用)インダクタンス
30U,30V,30W (線間抵抗検査用)抵抗器
40 (絶縁抵抗検査用)抵抗器
50 (絶縁耐圧検査用)コンデンサ
60 接点
200 絶縁検査装置
230 線間抵抗測定器
240 絶縁抵抗・絶縁耐圧試験機
250 インパルス試験機
270 切替器
Claims (7)
- 複数の端子によって構成される相端子群と,
アース端子と,
インパルス検査用のインダクタンスと線間抵抗検査用の抵抗器とが電気的に直列に接続された第1接続体を複数有し,各第1接続体の一方が前記相端子群の各端子に接続され,各第1接続体の他方同士が接続されている第1構造体と,
絶縁抵抗検査用の抵抗器と絶縁耐圧検査用のコンデンサとが電気的に並列に接続された第2接続体を有し,当該第2接続体が前記アース端子に接続されている第2構造体とを備え,
前記第1構造体の各第1接続体と前記第2構造体の第2接続体とが電気的に直列に接続されていることを特徴とする検査マスタ。 - 請求項1に記載する検査マスタにおいて,
前記相端子群を構成する端子は,ワークのコイルの端子と同一外形であり,
前記アース端子は,ワークのステータコアと同一外形であることを特徴とする検査マスタ。 - 請求項1または請求項2に記載する検査マスタを利用して絶縁検査装置の検査を行う装置検査方法において,
前記絶縁検査装置に組み込まれた線間抵抗測定器のうち,一方の端子を前記検査マスタの相端子群のうちの1つの端子に接続し,他方の端子を前記検査マスタの相端子群のうちの他の端子に接続し,
前記線間抵抗測定器にて前記検査マスタに直流の電流を流して抵抗値を取得することを特徴とする装置検査方法。 - 請求項1または請求項2に記載する検査マスタを利用して絶縁検査装置の検査を行う装置検査方法において,
前記絶縁検査装置に組み込まれた絶縁抵抗試験機のうち,一方の端子を前記検査マスタの相端子群のすべての端子が同電位となるように接続し,他方の端子を前記検査マスタのアース端子に接続し,
前記絶縁抵抗試験機にて前記検査マスタに直流の電圧を印加して抵抗値を取得することを特徴とする装置検査方法。 - 請求項1または請求項2に記載する検査マスタを利用して絶縁検査装置の検査を行う装置検査方法において,
前記絶縁検査装置に組み込まれた絶縁耐圧試験機のうち,一方の端子を前記検査マスタの相端子群のすべての端子が同電位となるように接続し,他方の端子を前記検査マスタのアース端子に接続し,
前記絶縁耐圧試験機にて前記検査マスタに交流の電圧を印加して電流を測定することを特徴とする装置検査方法。 - 請求項1または請求項2に記載する検査マスタを利用して絶縁検査装置の検査を行う装置検査方法において,
前記絶縁検査装置に組み込まれたインパルス試験機のうち,一方の端子を前記検査マスタの相端子群のうちの1つの端子に接続し,他方の端子を前記検査マスタの相端子群のうちの他の端子に接続し,
前記インパルス試験機にて前記検査マスタにインパルス電圧を印加して電圧または電流の少なくとも一方を測定することを特徴とする装置検査方法。 - 請求項1に記載する検査マスタと,
線間抵抗測定器,絶縁抵抗試験機,絶縁耐圧試験機,インパルス試験機のうちの少なくとも2つを備える試験機群と,
前記試験機群の端子と前記検査マスタの端子との電気的接続のオンオフを切り替える切替器とを備えることを特徴とする絶縁検査装置。
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