JP5039342B2 - Maldiサンプルプレート撮像ワークステーション - Google Patents
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Description
別段の定義がない限り、本明細書で使用するすべての技術的用語及び科学的用語は、本発明が属する技術分野の当業者が一般的に理解するのと同じ意味を有する。さらに、明確にし、かつ参照を容易にするために、一定の要素を以下に定義する。
本発明は、イオン源の外部にあるイオン源サンプルプレートの表面全域の画像を生成するための装置を提供する。一般論として、この装置は、イオン源のサンプルプレート、撮像装置(たとえばCCDカメラ又はCMOSカメラ)、照射装置を含み、照射装置は、サンプルプレート表面に接触して、そのサンプルプレート表面との間に仰角を画定する光を生成するように構成されている。この装置は、イオン源から遠隔位置に配置されている。この装置を利用し、イオン源サンプルプレートの表面を画像化する方法も提供する。本発明は、さまざまな分析方法で使用される。たとえば本発明は、化学研究の用途、環境研究の用途、法医学研究の用途、食料研究の用途、薬学研究の用途、生物学研究の用途で使用される。
サンプルプレート撮像ワークステーション
上述のように、本発明は、イオン源の外部にあり、イオン源サンプルプレートの表面全域の画像を生成するための、本明細書では「撮像ワークステーション」と呼ぶ装置を提供する。本発明の撮像ワークステーションは、イオン源内にサンプルプレートを設置するよりも前にサンプルプレートの表面全域の画像を取り込むのに使用することができる。この画像は、イオン源によって使用され、サンプルプレートの表面に存在するサンプルへ電離放射線、たとえばレーザを方向付ける。本発明による撮像ワークステーションの一般的な特徴を図1に示す。図1を参照して、本発明による撮像ワークステーション2は、サンプルプレート4、照射装置6、撮像装置8を含む。撮像ワークステーションは、サンプルプレート表面と接触して、そのサンプルプレート表面との間に仰角を画定する光を照射装置が生成するように構成されている。多くの実施形態では、サンプルプレートのサンプル受容表面全体が照射される。撮像装置は、照射装置によって照射されたサンプルプレートの表面の画像を生成する。一般に、サンプルプレートの露出した表面全体が、照射装置によって照射され、撮像装置は、サンプルプレートの照射された表面全域、すなわち照射された表面全体の画像を生成する。
4 サンプルプレート
6 照射装置
8 撮像装置
10 光
12 仰角
14 反射、回折、散乱光
30 モニタ
32 コンピュータ
36 サンプルプレートホルダ
38 作業台
40 サンプル
42 表面全域の画像
44 サンプルを含む領域
46 サンプルを含まない領域
50 撮像ワークステーション
52 コンピュータ可読媒体
54 イオン源
Claims (11)
- イオン源の外部にあるイオン源サンプルプレートの表面全域を画像化するための装置であって、
イオン源の外部にあるイオン源サンプルプレートと、
前記サンプルプレートの表面全域の画像を生成するための、前記サンプルプレートから間隔を空けて配置されている撮像装置と、
前記表面を照射するための、前記サンプルプレートに近接した照射装置であって、前記サンプルプレート表面と接触して当該サンプルプレート表面との間に仰角を画定する光を生成し、該光は、前記サンプルプレートの前記表面全域を同時に照射する指向性の光である、照射装置とを備え、
前記照射装置は、
光源と、
前記光源に接続され、前記光源からの光を案内し、円錐形状で前記指向性の光を出射する光ファイバとを含む、装置。 - 前記画像が、前記サンプルプレート上に存在するサンプルの全てを示す、請求項1に記載の装置。
- 前記仰角が、0°より大きく15°以下の範囲にある、請求項1に記載の装置。
- 前記仰角が、0°より大きく10°以下の範囲にある、請求項1に記載の装置。
- 前記装置が、前記イオン源が配置されている位置以外の位置に存在する、請求項1に記載の装置。
- イオン源の外部にあるサンプルプレートの表面全域の画像を生成するための方法であって、
a)光を前記サンプルプレートの表面に方向付けることにより該表面を照射し、該光が、前記サンプルプレート表面と接触して当該サンプルプレート表面との間に仰角を画定し、該光は、前記サンプルプレートの表面全域を同時に照射する指向性の光であり、前記指向性の光は、光源からの光が、光ファイバによって案内され、前記光ファイバから、円錐形に出射されることにより形成されるものであり、及び、
b)撮像装置を使用して、前記サンプルプレートの前記表面全域の画像を生成する
ことを含む、方法。 - c)コンピュータのメモリ内に前記画像を記憶させることを更に含む、請求項6に記載の方法。
- d)前記画像が生成された後、前記サンプルプレートを前記イオン源内に配置することを更に含む、請求項6に記載の方法。
- e)前記サンプルプレートが前記イオン源内に配置された後、前記記憶された画像にアクセスすることを更に含む、請求項8に記載の方法。
- イオン源のサンプルプレート上のサンプルをイオン化するための方法であって、
a)前記イオン源の前記サンプルプレートの表面全域の画像を、
i)光を前記サンプルプレートの表面に方向付けることにより該表面を照射し、該光が、前記サンプルプレート表面と接触して該サンプルプレート表面との間に仰角を画定し、該光は、前記サンプルプレートの表面全域を同時に照射する指向性の光であり、前記指向性の光は、光源からの光が、光ファイバによって案内され、前記光ファイバから、円錐形に出射されることにより形成されるものであり、及び、
ii)撮像装置を使用して前記サンプルプレートの前記表面全域の画像を生成する
ことによって取り込み、
b)前記画像を記憶し、
c)前記サンプルプレートを前記イオン源内に配置し、及び、
d)前記画像を使用して、前記プレート上のサンプルをイオン化する
ことを含む、方法。 - 前記ステップd)が、前記画像を使用してイオン化レーザ内に前記サンプルを位置決めすることを含む、請求項10に記載の方法。
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