JP5028787B2 - Epma装置 - Google Patents
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また、別の発明は、上記目的を達成するため、加速された電子線が照射された試料表面領域から発生する特性X線を分光してX線検出器で検出するEPMA装置において、前記試料と前記X線検出器との間に設けられ且つ前記試料表面領域から発生する特性X線を集光するためのフレネルゾーンプレートを複数有し、円板の同心円上に形成された複数の孔の部分に遮蔽パターンが異なる複数の前記フレネルゾーンプレートを取り付け、前記円板を回転させることにより、該複数のフレネルゾーンプレートのうち、検出すべき特性X線の波長に対応したフレネルゾーンプレートを切り換えて使用することを特徴とするものである。
図1はこの発明の第1実施形態としてのEPMA装置の概略構成図を示す。このEPMA装置は真空容器1を備えている。真空容器1内には、試料2が載置される試料台3が設けられている。試料台3の上方には電子銃4のフィラメント5が設けられている。フィラメント5から加速されて放出された電子線6は、電磁コイル7で走査されて試料台3上の試料2表面に照射される。試料台3上の試料2の斜め上方には分光結晶8が設けられている。試料台3上の試料2と分光結晶8との間にはX線集光手段としての後述するフレネルゾーンプレート9が設けられている。分光結晶8の斜め下方にはX線検出器10が設けられている。
d−f=nλ……(1)
d−f=√(f2+r2)−f……(2)
そして、式(1)および式(2)からrを求めると、次の式(3)のように表される。
r=√((f+nλ)2−f2)……(3)
nλ−λ/4≦d−f≦nλ+λ/4……(4)
r1=√(d1 2−f2)=√((f+nλ−λ/4)2−f2)……(5)
r2=√(d2 2−f2)=√((f+nλ+λ/4)2−f2)……(6)
S0/π=r2=(nλ+f)2−f2=2nfλ+n2λ2……(7)
S1/π=nfλ+n(n+1)/2……(8)
S1/S0=[1+λ/(f+1)]/2……(9)
この式(9)の中括弧内の第2項[λ/(f+1)]は10-9のオーダーであるので、第1項との比較において無視すると、開口率S1/S0は1/2(50%)となる。
I=I0e^(−at)……(10)
I1=I0e^(−a1t1)……(11)
I2=I0e^(−a1t1−a2t2)……(12)
I1/I2=e^(a2t2)……(13)
この式(13)から、フレネルゾーンプレート9を透過したX線の強度比I1/I2は、X線透過部13、14、すなわち、基板の厚さt1によって変化しない値であり、X線遮蔽部12の厚さt2によって変化する値であることがわかる。
I1/I2=e^(260t2)≧1000……(14)
t2≧ln(1000)/260≒0.0265(cm)……(15)
Ω=S/r2……(16)
式(16)では、立体角を求める対象の立体等を中心から半径rの球面上に投影してできる閉曲面の面積をSとしている。
図5はこの発明の第2実施形態としてのEPMA装置の概略構成図を示す。このEPMA装置において、図1に示すEPMA装置と異なる点は、分光結晶8を設けずに、所定の箇所に固定されて配置されたフレネルゾーンプレート9の主点を通る垂線(中心軸)上にX線検出器10を移動可能に配置した点である。この場合、X線検出器10は、図示していないが、例えば、ステップモータの駆動により回転されるボールネジにより、その中心軸に沿う方向、すなわち、フレネルゾーンプレート9の中心軸に沿う方向に往復動されるようになっている。
f=(r2−n2λ2)/2nλ……(17)
λ=[√(r2+f2)−f]/n……(18)
rn=√(2nλf+n2λ2)……(19)
rn=√(30.84n+2.378×n2)……(20)
f=(30.84n+2.378×n2)/2nλ
=(15.42+1.189×n)/λ……(21)
f=(15.42+1.189×n)/10
=1.542+0.1189×n……(22)
図6はこの発明の第3実施形態としてのEPMA装置の要部の概略構成図を示す。このEPMA装置において、図1に示すEPMA装置と異なる点は、フレネルゾーンプレート9の代わりに、全反射筒状鏡構成体21を用いた点である。すなわち、全反射筒状鏡構成体21は、全反射筒状鏡22を複数同心円状に配置した構造となっている。この場合、全反射筒状鏡22は、中央部を回転放物面鏡とされ、その両側を回転双曲面鏡とされたものからなっている。
X線検出器としては、比例計数管に限らず、Si(Li)半導体検出器等であってもよい。Si(Li)半導体検出器の場合には、検出感度を比例計数管の場合よりも10倍程度向上することができる。
2 試料
3 試料台
4 電子銃
5 フィラメント
6 電子線
7 電磁コイル
8 分光結晶
9 フレネルゾーンプレート
10 X線検出器
11 特性X線
12 X線遮蔽部
13、14 X線透過部
21 全反射筒状鏡構成体
22 全反射筒状鏡
Claims (4)
- 加速された電子線が照射された試料表面領域から発生する特性X線を分光してX線検出器で検出するEPMA装置において、前記試料と前記X線検出器との間に設けられ且つ前記試料表面領域から発生する特性X線を集光するためのフレネルゾーンプレートを複数有し、円板の同心円上に遮蔽パターンが異なる複数の前記フレネルゾーンプレートを形成し、前記円板を回転させることにより、該複数のフレネルゾーンプレートのうち、検出すべき特性X線の波長に対応したフレネルゾーンプレートを切り換えて使用することを特徴とするEPMA装置。
- 加速された電子線が照射された試料表面領域から発生する特性X線を分光してX線検出器で検出するEPMA装置において、前記試料と前記X線検出器との間に設けられ且つ前記試料表面領域から発生する特性X線を集光するためのフレネルゾーンプレートを複数有し、円板の同心円上に形成された複数の孔の部分に遮蔽パターンが異なる複数の前記フレネルゾーンプレートを取り付け、前記円板を回転させることにより、該複数のフレネルゾーンプレートのうち、検出すべき特性X線の波長に対応したフレネルゾーンプレートを切り換えて使用することを特徴とするEPMA装置。
- 請求項1または2に記載の発明において、前記円板を間歇的に回転させることにより、前記フレネルゾーンプレートを切り換えることを特徴とするEPMA装置。
- 請求項1乃至3の何れか一項に記載の発明において、前記X線検出器はその中心軸に沿う方向に移動可能であることを特徴とするEPMA装置。
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