JP5018181B2 - Manufacturing method of multilayer printed wiring board - Google Patents

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JP5018181B2 JP2007093622A JP2007093622A JP5018181B2 JP 5018181 B2 JP5018181 B2 JP 5018181B2 JP 2007093622 A JP2007093622 A JP 2007093622A JP 2007093622 A JP2007093622 A JP 2007093622A JP 5018181 B2 JP5018181 B2 JP 5018181B2
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本発明は、多層プリント配線板の製造方法に関する。さらに詳しくはスルーホール穴埋めと絶縁層の形成を一括して行う多層プリント配線板の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board. More specifically, the present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board in which through-hole filling and insulating layer formation are collectively performed.

従来、ビルドアップ法による多層プリント配線板の製造においては、コア基板に存在するスルーホールに穴埋め剤(穴埋めインキや導電性ペースト)を充填し、熱硬化した後、スルーホール開口部周辺の平坦性を確保するために、スルーホール周辺を研磨していた(特許文献1)。穴埋め工程後の研磨工程は、基板の両面をセラミックバフによるバフ研磨やベルトサンダー研磨によって研磨し、基板表面から突出した穴埋め樹脂の盛り上がり部分を削り取る方法が知られている(特許文献2)。研磨工程により絶縁層を平坦化することで、さらなる多層化が可能となる。スルーホール周辺を平坦化しないままコア基板上に絶縁層を形成した場合、絶縁層上へのレジスト形成やレーザー加工による開口形成が正確に行われず、不良の発生を招く。   Conventionally, in the manufacture of multilayer printed wiring boards by the build-up method, filling the through hole existing in the core substrate with a filling agent (filling ink or conductive paste), thermosetting, and flatness around the through hole opening In order to ensure this, the periphery of the through hole was polished (Patent Document 1). As a polishing step after the hole filling step, a method is known in which both surfaces of the substrate are polished by buffing with a ceramic buff or belt sander polishing, and the rising portion of the hole filling resin protruding from the substrate surface is scraped off (Patent Document 2). By flattening the insulating layer by the polishing process, further multilayering is possible. When an insulating layer is formed on the core substrate without planarizing the periphery of the through hole, resist formation on the insulating layer and opening formation by laser processing are not accurately performed, leading to the occurrence of defects.

上記穴埋め工程及び研磨工程による平滑化は工程数が多く、煩雑であるため、より効率的な方法が求められている。他方、支持体上に樹脂組成物層を設けた接着フィルムで、スルーホールの穴埋めと絶縁層の形成を同時に行なう方法が知られている(特許文献3)。しかし、この方法では樹脂組成物の硬化収縮により、スルーホール上の絶縁層部分にくぼみが生じやすく、スルーホール上に平滑な絶縁層を形成することは一般に困難である。   Since the smoothing by the hole filling step and the polishing step is complicated and complicated, a more efficient method is demanded. On the other hand, a method of simultaneously filling a through hole and forming an insulating layer with an adhesive film in which a resin composition layer is provided on a support is known (Patent Document 3). However, in this method, a dent tends to occur in the insulating layer portion on the through hole due to curing shrinkage of the resin composition, and it is generally difficult to form a smooth insulating layer on the through hole.

一方、多層プリント配線板の製法に用いられる接着フィルムとして銅箔付接着フィルムが知られている。これは銅箔をそのまま導体層として回路形成するもので、導体層と絶縁層の密着性を保つため、銅箔のマット面上に樹脂組成物層が形成される。しかし、銅箔をそのまま導体層として使用する場合、微細配線形成には不利であり、微細配線形成が必要とされる多層プリント配線板の製造には、セミアディティブ法により、メッキで導体層を形成後に回路形成するのが主流である。   On the other hand, an adhesive film with a copper foil is known as an adhesive film used in a method for producing a multilayer printed wiring board. In this method, a copper foil is used as it is to form a circuit as a conductor layer, and a resin composition layer is formed on the matte surface of the copper foil in order to maintain the adhesion between the conductor layer and the insulating layer. However, when copper foil is used as a conductor layer as it is, it is disadvantageous for fine wiring formation, and in the production of multilayer printed wiring boards that require fine wiring formation, the conductor layer is formed by plating by the semi-additive method Circuit formation is the mainstream later.

特開平2001−127435号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2001-127435 特開2003−133727号公報JP 2003-133727 A 特開平11−87927号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-87927

本発明は、接着フィルムにより、スルーホールの穴埋めと基板表面のラミネートを同時に行うことにより絶縁層を形成し、さらにセミアディティブ法により回路形成する多層プリント配線板の製造方法において、形成される絶縁層のスルーホール上の凹みを抑制する、多層プリント配線板の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention provides an insulating layer formed in a method of manufacturing a multilayer printed wiring board in which an insulating layer is formed by simultaneously filling a through hole and laminating a substrate surface with an adhesive film, and further, a circuit is formed by a semi-additive method. It aims at providing the manufacturing method of a multilayer printed wiring board which suppresses the dent on the through hole of this.

本発明は、上記課題を解決すべく鋭意研究した結果、多層プリント配線板の製造において、金属箔の光沢面に樹脂組成物層が設けられた特定の金属箔付接着フィルムを用いて、真空ラミネーターにより接着フィルムの積層と同時にスルーホールの穴埋めを行ない、熱硬化性樹脂組成物を熱硬化し、その後金属箔を除去することで、絶縁層のスルーホール上の凹みを抑制することができ、平滑性に優れ、セミアディティブ工程による回路形成に適した絶縁層が形成できることを見出し、本発明を完成するに至った。   As a result of diligent research to solve the above problems, the present invention uses a specific adhesive film with a metal foil provided with a resin composition layer on the glossy surface of a metal foil in the production of a multilayer printed wiring board, and a vacuum laminator. The through hole is filled simultaneously with the lamination of the adhesive film, the thermosetting resin composition is thermally cured, and then the metal foil is removed, so that the dent on the through hole of the insulating layer can be suppressed and smooth. As a result, it was found that an insulating layer excellent in performance and suitable for circuit formation by a semi-additive process can be formed, and the present invention has been completed.

すなわち、本発明は以下の通りである。
[1] 支持体上に熱硬化性樹脂組成物からなる樹脂組成物層が形成された接着フィルムを用いて多層プリント配線板を製造する方法であって、少なくとも以下の工程1)〜4):
1)スルーホールを有する基板上に、接着フィルムの樹脂組成物層を接触させ、真空ラミネーターにより減圧下で、加熱および加圧し、接着フィルムの積層と同時にスルーホールの穴埋めを行なう工程、
2)厚さ20μm以上の金属箔の光沢面に樹脂組成物が接した状態で熱硬化性樹脂組成物を熱硬化し、絶縁層を形成する工程、
3)熱硬化後に、金属箔を除去する工程、
4)絶縁層表面を酸化剤で粗化する工程、及び
5)粗化された絶縁層表面にメッキにより導体層を形成する工程、
を含む、多層プリント配線板の製造方法。
[2] 接着フィルムが、厚さ20μm以上の金属箔を支持体とし、該金属箔の光沢面に樹脂組成物層が形成された接着フィルムである、上記[1]記載の方法。
[3] 金属箔が電解銅箔、圧延銅箔又はアルミ箔から選択される上記[1]又は[2]記載の方法。
[4] 金属箔の厚さが20μm以上75μm以下である、上記[1]〜[3]のいずれかに記載の製造方法。
[5] 接着フィルムの樹脂組成物層の厚さが15〜100μmである、上記[1]〜[4]のいずれかに記載の方法。
[6] 熱硬化性樹脂を熱硬化する工程が、樹脂組成物層を70℃〜140℃の温度で加熱処理する工程、と該加熱処理の温度より高い温度で熱硬化する工程の2段階で行われる、上記[1]〜[5]のいずれかに記載の方法。
[7] 金属箔を除去後、絶縁層にビアホールを形成する工程を含む、上記[1]〜[6]のいずれかに記載の方法。
That is, the present invention is as follows.
[1] A method for producing a multilayer printed wiring board using an adhesive film in which a resin composition layer made of a thermosetting resin composition is formed on a support, and includes at least the following steps 1) to 4):
1) A step of bringing a resin composition layer of an adhesive film into contact with a substrate having a through hole, heating and pressing under reduced pressure by a vacuum laminator, and filling the through hole simultaneously with the lamination of the adhesive film;
2) a step of thermosetting the thermosetting resin composition in a state in which the resin composition is in contact with the glossy surface of the metal foil having a thickness of 20 μm or more to form an insulating layer;
3) A step of removing the metal foil after thermosetting,
4) a step of roughening the surface of the insulating layer with an oxidizing agent, and 5) a step of forming a conductor layer by plating on the surface of the roughened insulating layer,
A method for producing a multilayer printed wiring board, comprising:
[2] The method according to [1] above, wherein the adhesive film is an adhesive film having a metal foil having a thickness of 20 μm or more as a support and a resin composition layer formed on the glossy surface of the metal foil.
[3] The method according to [1] or [2] above, wherein the metal foil is selected from electrolytic copper foil, rolled copper foil, or aluminum foil.
[4] The manufacturing method according to any one of [1] to [3], wherein the thickness of the metal foil is 20 μm or more and 75 μm or less.
[5] The method according to any one of [1] to [4] above, wherein the thickness of the resin composition layer of the adhesive film is 15 to 100 μm.
[6] The step of thermosetting the thermosetting resin includes two steps: a step of heat-treating the resin composition layer at a temperature of 70 ° C. to 140 ° C., and a step of thermosetting at a temperature higher than the temperature of the heat treatment. The method according to any one of [1] to [5], which is performed.
[7] The method according to any one of [1] to [6], including a step of forming a via hole in the insulating layer after removing the metal foil.

本発明の製法によれば、スルーホールを有する基板上に、スルーホール上の凹みが抑制された絶縁層を簡便に形成することができる。   According to the manufacturing method of the present invention, an insulating layer in which a depression on a through hole is suppressed can be easily formed on a substrate having a through hole.

本発明における接着フィルムの支持体としては公知のものを使用すればよく、特に限定されないが、例えば、厚さ30〜125μmの延伸処理されたPETフィルム等が挙げられるが、後工程でも使用する厚さ20μm以上の光沢面を有する金属箔が好ましい。金属箔としては、電解銅箔、圧延銅箔、アルミニウム箔等を用いることができる。電解銅箔は凹凸のあるマット面と、平坦な光沢面を有する。また圧延銅箔は両面とも光沢面となっている。また、アルミ箔はダブリング圧延により2枚重ねで圧延される製法の特性上、通常、光沢面とマット面を有している。本発明においては、好ましくは、これら金属箔を接着フィルムの支持体とし、金属箔の光沢面に樹脂組成物層を形成する。本発明において、支持体として使用した金属箔は、樹脂組成物層を構成する熱硬化性樹脂組成物が熱硬化され絶縁層が形成された後、除去される。マット面に樹脂組成物層を形成した場合、金属箔除去後に形成される絶縁層表面はマット面を反映した凹凸を有することになるが、その後、デスミア工程を兼ねた絶縁層表面の粗化処理を行うため、絶縁層表面が過度に粗化され、微細回路の形成が困難となる。   A known support may be used as the support for the adhesive film in the present invention, and is not particularly limited. For example, a stretched PET film having a thickness of 30 to 125 μm can be used, but the thickness used in the subsequent step is also included. A metal foil having a gloss surface of 20 μm or more is preferred. As the metal foil, electrolytic copper foil, rolled copper foil, aluminum foil or the like can be used. The electrolytic copper foil has an uneven matte surface and a flat glossy surface. The rolled copper foil is glossy on both sides. In addition, aluminum foil usually has a glossy surface and a matte surface due to the characteristics of a production method in which two aluminum foils are rolled by doubling rolling. In the present invention, these metal foils are preferably used as a support for an adhesive film, and a resin composition layer is formed on the glossy surface of the metal foil. In the present invention, the metal foil used as the support is removed after the thermosetting resin composition constituting the resin composition layer is thermally cured to form an insulating layer. When the resin composition layer is formed on the mat surface, the surface of the insulating layer formed after removal of the metal foil will have irregularities reflecting the mat surface, but then the surface of the insulating layer that also serves as a desmear process is roughened. For this reason, the surface of the insulating layer is excessively roughened, making it difficult to form a fine circuit.

金属箔の厚さは、スルーホール上の絶縁層凹みを十分に抑制する観点から、20μm以上とする。また金属箔厚さが大きすぎると、回路への樹脂組成物の埋め込み性が低下する傾向にあり、またエッチング工程の負荷が増大し、コスト上も好ましくないため、金属箔の厚さは、75μm以下とするのが好ましい。   The thickness of metal foil shall be 20 micrometers or more from a viewpoint of fully suppressing the insulating layer dent on a through hole. If the thickness of the metal foil is too large, the embedding property of the resin composition in the circuit tends to decrease, and the load of the etching process increases, which is not preferable in terms of cost. The following is preferable.

接着フィルムの樹脂組成物層に使用する熱硬化性樹脂組成物としては、支持体上で層形成しフィルム状とすることができ、真空ラミネーターによる積層時に一定の流動性を有し、スルーホールの穴埋めと基板の表面被覆が可能であれば特に限定されない。   As the thermosetting resin composition used for the resin composition layer of the adhesive film, it can be formed into a film by forming a layer on the support, has a certain fluidity when laminated with a vacuum laminator, There is no particular limitation as long as hole filling and substrate surface coating are possible.

樹脂組成物層に使用する熱硬化性樹脂組成物は、その硬化物が、十分な硬度と絶縁性を有するものであれば、特に限定なく使用でき、例えば、エポキシ樹脂、シアネートエステル樹脂、フェノール樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂、ビニルベンジル樹脂等の熱硬化性樹脂にその硬化剤を少なくとも配合した組成物が使用されるが、熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂である組成物が好ましく、(a)エポキシ樹脂、(b)熱可塑性樹脂及び(c)硬化剤を少なくとも含有する組成物がより好ましい。   The thermosetting resin composition used for the resin composition layer can be used without particular limitation as long as the cured product has sufficient hardness and insulation properties, such as epoxy resin, cyanate ester resin, phenol resin. A composition in which at least the curing agent is blended with a thermosetting resin such as a bismaleimide-triazine resin, a polyimide resin, an acrylic resin, or a vinylbenzyl resin is used. However, a composition in which the thermosetting resin is an epoxy resin is used. A composition containing at least (a) an epoxy resin, (b) a thermoplastic resin, and (c) a curing agent is more preferable.

(a)エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、リン含有エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、脂肪族鎖状エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、ビスフェノールのジグリシジルエーテル化物、ナフタレンジオールのジグリシジルエーテル化物、フェノール類のグリシジルエーテル化物、及びアルコール類のジグリシジルエーテル化物、並びにこれらのエポキシ樹脂のアルキル置換体、ハロゲン化物及び水素添加物等が挙げられる。これらのエポキシ樹脂はいずれか1種を使用するか2種以上を混合して用いてもよい。   (a) Examples of the epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phosphorus-containing epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, and alicyclic ring Epoxy resin, aliphatic chain epoxy resin, phenol novolac epoxy resin, cresol novolac epoxy resin, bisphenol A novolac epoxy resin, epoxy resin having butadiene structure, diglycidyl etherified product of bisphenol, diglycidyl ether of naphthalenediol , Glycidyl etherification products of phenols, diglycidyl etherification products of alcohols, and alkyl-substituted products, halides and hydrogenated products of these epoxy resins It is below. These epoxy resins may be used alone or in combination of two or more.

エポキシ樹脂は、これらの中でも、耐熱性、絶縁信頼性、金属膜との密着性の観点から、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂が好ましい。具体的には、例えば、液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「エピコート828EL」)、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂(大日本インキ化学工業(株)製「HP4700」)、ナフトール型エポキシ樹脂(東都化成(株)製「ESN−475V」)、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂(ダイセル化学工業(株)製「PB−3600」)、ビフェニル構造を有するエポキシ樹脂(日本化薬(株)製「NC3000H」、ジャパンエポキシレジン(株)製「YX4000」)などが挙げられる。   Among these, the epoxy resin has a bisphenol A type epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, and a butadiene structure from the viewpoint of heat resistance, insulation reliability, and adhesion to a metal film. Epoxy resins are preferred. Specifically, for example, liquid bisphenol A type epoxy resin (“Epicoat 828EL” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.), naphthalene type tetrafunctional epoxy resin (“HP4700” manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.), naphthol type Epoxy resin (“ESN-475V” manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.), epoxy resin having a butadiene structure (“PB-3600” manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.), epoxy resin having a biphenyl structure (Nippon Kayaku Co., Ltd.) “NC3000H” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. “YX4000”).

(b)熱可塑性樹脂は、硬化後の組成物に適度な可撓性を付与する等の目的で配合されるものであり、例えば、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルスルホン、ポリスルホン等が挙げられる。これらはいずれか1種を単独で使用しても2種以上を併用してもよい。当該熱可塑性樹脂は熱硬化性樹脂組成物の不揮発成分を100質量%としたとき、0.5〜60質量%の割合で配合するのが好ましく、より好ましくは3〜50質量%である。熱可塑性樹脂の配合割合が0.5質量%未満の場合、樹脂組成物粘度が低いために、均一な熱硬化性樹脂組成物層を形成することが難しくなる傾向となり、60質量%を超える場合、樹脂組成物の粘度が高くなり過ぎて、基板上の配線パターンへの埋め込みが困難になる傾向となる。   (b) The thermoplastic resin is blended for the purpose of imparting appropriate flexibility to the cured composition, for example, phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyimide, polyamideimide, polyethersulfone. And polysulfone. These may be used alone or in combination of two or more. The thermoplastic resin is preferably blended at a rate of 0.5 to 60% by mass, more preferably 3 to 50% by mass, when the nonvolatile component of the thermosetting resin composition is 100% by mass. When the blending ratio of the thermoplastic resin is less than 0.5% by mass, since the viscosity of the resin composition is low, it tends to be difficult to form a uniform thermosetting resin composition layer. The viscosity of the resin composition becomes too high, and it tends to be difficult to embed it in the wiring pattern on the substrate.

フェノキシ樹脂の具体例としては、例えば、東都化成(株)製FX280、FX293、ジャパンエポキシレジン(株)製YX8100、YL6954、YL6974等が挙げられる。   Specific examples of the phenoxy resin include, for example, FX280, FX293 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., YX8100, YL6954, YL6974 manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., and the like.

ポリビニルアセタール樹脂はポリビニルブチラール樹脂が好ましく、ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、電気化学工業(株)製、電化ブチラール4000−2、5000−A、6000−C、6000−EP、積水化学工業(株)製エスレックBHシリーズ、BXシリーズ、KSシリーズ、BLシリーズ、BMシリーズ等が挙げられる。   The polyvinyl acetal resin is preferably a polyvinyl butyral resin, and specific examples of the polyvinyl acetal resin include those manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., Electric Butyral 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP, Sekisui Chemical Co., Ltd. ) Made S-Rec BH series, BX series, KS series, BL series, BM series and the like.

ポリイミドの具体例としては、新日本理化(株)社製のポリイミド「リカコートSN20」および「リカコートPN20」が挙げられる。また、2官能性ヒドロキシ基末端ポリブタジエン、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を反応させて得られる線状ポリイミド(特開2006−37083号公報記載のもの)、ポリシロキサン骨格含有ポリイミド(特開2002−12667号公報、特開2000−319386号公報等に記載のもの)等の変性ポリイミドが挙げられる。   Specific examples of polyimide include polyimide “Rika Coat SN20” and “Rika Coat PN20” manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd. Also, a linear polyimide obtained by reacting a difunctional hydroxy group-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound and a tetrabasic acid anhydride (described in JP-A-2006-37083), a polysiloxane skeleton-containing polyimide (JP-A-2002-2002). And modified polyimides such as those described in JP-A No. 12667 and JP-A No. 2000-319386.

ポリアミドイミドの具体例としては、東洋紡績(株)社製のポリアミドイミド「バイロマックスHR11NN」および「バイロマックスHR16NN」が挙げられる。また、日立化成工業(株)社製のポリシロキサン骨格含有ポリアミドイミド「KS9100」、「KS9300」等の変性ポリアミドイミドが挙げられる。   Specific examples of the polyamide imide include polyamide imides “Bilomax HR11NN” and “Bilomax HR16NN” manufactured by Toyobo Co., Ltd. In addition, modified polyamideimides such as polysiloxane skeleton-containing polyamideimides “KS9100” and “KS9300” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd. may be mentioned.

ポリエーテルスルホンの具体例としては、住友化学(株)社製のポリエーテルスルホン「PES5003P」等が挙げられる。   Specific examples of the polyethersulfone include polyethersulfone “PES5003P” manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.

ポリスルホンの具体例としては、ソルベンアドバンストポリマーズ(株)社製のポリエーテルスルホン「P1700」、「P3500」等が挙げられる。   Specific examples of the polysulfone include polyethersulfone “P1700” and “P3500” manufactured by Solven Advanced Polymers Co., Ltd.

(c)硬化剤としては、例えば、アミン系硬化剤、グアニジン系硬化剤、イミダゾール系硬化剤、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、酸無水物系硬化剤又はこれらのエポキシアダクトやマイクロカプセル化したもの、シアネートエステル樹脂等を挙げることができる。中でも、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、シアネートエステル樹脂が好ましい。なお、本発明において、硬化剤は1種であっても2種以上を併用してもよい。   (c) Examples of the curing agent include amine curing agents, guanidine curing agents, imidazole curing agents, phenol curing agents, naphthol curing agents, acid anhydride curing agents, or epoxy adducts and microencapsulation thereof. And cyanate ester resins. Of these, phenol-based curing agents, naphthol-based curing agents, and cyanate ester resins are preferable. In addition, in this invention, a hardening | curing agent may be 1 type, or may use 2 or more types together.

フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤の具体例としては、例えば、MEH−7700、MEH−7810、MEH−7851(明和化成社製)、NHN、CBN、GPH(日本化薬(株)製)、SN170、SN180、SN190、SN475、SN485、SN495、SN375、SN395(東都化成(株)製)、LA7052、LA7054(大日本インキ化学工業(株)製)等が挙げられる。   Specific examples of the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent include, for example, MEH-7700, MEH-7810, MEH-7851 (manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.), NHN, CBN, GPH (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), SN170, SN180, SN190, SN475, SN485, SN495, SN375, SN395 (manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd.), LA7052, LA7054 (manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.), and the like.

また、シアネートエステル樹脂の具体例としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート(オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニル)チオエーテル、ビス(4−シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック、クレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。市販されているシアネートエステル樹脂としては、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「PT30」、シアネート当量124)やビスフェノールAジシアネートの一部または全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230」、シアネート当量232)等が挙げられる。   Specific examples of the cyanate ester resin include, for example, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4′-methylenebis (2,6-dimethylphenyl cyanate), 4,4′-ethylidenediphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3, Bifunctional cyanate resins such as 5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, bis (4-cyanatephenyl) ether , Phenol novolac Examples include polyfunctional cyanate resins derived from cresol novolac, prepolymers in which these cyanate resins are partially triazines, etc. Commercially available cyanate ester resins include phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resins (Lonza Japan ( "PT30" manufactured by Co., Ltd., cyanate equivalent 124), and prepolymers obtained by triazine formation of some or all of bisphenol A dicyanate ("BA230" manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., cyanate equivalent 232) and the like. It is done.

(a)エポキシ樹脂と(c)硬化剤の配合比率は、フェノール系硬化剤またはナフトール系硬化剤の場合、エポキシ樹脂のエポキシ当量1に対してこれら硬化剤のフェノール性水酸基当量が0.4〜2.0の範囲となる比率が好ましく、0.5〜1.0の範囲となる比率がより好ましい。シアネートエステル樹脂の場合は、エポキシ当量1に対してシアネート当量が0.3〜3.3の範囲となる比率が好ましく、0.5〜2の範囲となる比率がより好ましい。反応基当量比がこの範囲外であると、硬化物の機械強度や耐水性が低下する傾向にある。   In the case of a phenolic curing agent or a naphtholic curing agent, the blending ratio of (a) epoxy resin and (c) curing agent is such that the phenolic hydroxyl group equivalent of these curing agents is 0.4 to 1 with respect to the epoxy equivalent 1 of the epoxy resin. A ratio in the range of 2.0 is preferable, and a ratio in the range of 0.5 to 1.0 is more preferable. In the case of a cyanate ester resin, a ratio in which the cyanate equivalent is in the range of 0.3 to 3.3 with respect to the epoxy equivalent 1 is preferable, and a ratio in the range of 0.5 to 2 is more preferable. When the reactive group equivalent ratio is outside this range, the mechanical strength and water resistance of the cured product tend to be lowered.

なお、当該熱硬化性樹脂組成物には、(c)硬化剤に加え、(d)硬化促進剤をさらに配合することができる。このような硬化促進剤としては、イミダゾール系化合物、有機ホスフィン系化合物等が挙げられ、具体例としては、例えば、2−メチルイミダゾール、トリフェニルホスフィンなどを挙げることができる。(d)硬化促進剤を用いる場合、エポキシ樹脂に対して0.1〜3.0質量%の範囲で用いるのが好ましい。なお、エポキシ樹脂硬化剤にシアネートエステル樹脂を使用する場合には、硬化時間を短縮する目的で、従来からエポキシ樹脂組成物とシアネート化合物とを併用した系で硬化触媒として用いられている有機金属化合物を添加してもよい。有機金属化合物としては、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅化合物、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛化合物、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト化合物などが挙げられる。有機金属化合物の添加量は、シアネートエステル樹脂に対し、金属換算で通常10〜500ppm、好ましくは25〜200ppmの範囲である。   In addition to (c) the curing agent, (d) a curing accelerator can be further blended in the thermosetting resin composition. Examples of such curing accelerators include imidazole compounds and organic phosphine compounds, and specific examples include 2-methylimidazole and triphenylphosphine. (d) When using a hardening accelerator, it is preferable to use in 0.1-3.0 mass% with respect to an epoxy resin. In the case of using a cyanate ester resin as an epoxy resin curing agent, an organometallic compound conventionally used as a curing catalyst in a system in which an epoxy resin composition and a cyanate compound are used together for the purpose of shortening the curing time. May be added. Organic metal compounds include organic copper compounds such as copper (II) acetylacetonate, organic zinc compounds such as zinc (II) acetylacetonate, and organic such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate. A cobalt compound etc. are mentioned. The addition amount of the organometallic compound is usually in the range of 10 to 500 ppm, preferably 25 to 200 ppm in terms of metal with respect to the cyanate ester resin.

また、当該熱硬化性樹脂組成物には、硬化後組成物の低熱膨張化のために(e)無機充填剤を含有させることができる。無機充填剤としては、例えば、シリカ、アルミナ、雲母、マイカ、珪酸塩、硫酸バリウム、水酸化マグネシウム、酸化チタン等が挙げられ、シリカ、アルミナが好ましく、特にシリカが好ましい。なお、無機充填剤は絶縁信頼性の観点から、平均粒径が3μm以下であるのが好ましく、平均粒径が0.6μm以下であるのがより好ましい。一方、平均粒径の下限は特に限定はされないが、0.1μm以上であるのが好ましい。熱硬化性樹脂組成物中の無機充填剤の含有量は、熱硬化性樹脂組成物の不揮発成分を100質量%とした時、好ましくは0〜60質量%であり、より好ましくは20〜50質量%である。無機充填剤の含有量が20重量%未満の場合、熱膨張率の低下効果が十分に発揮されない傾向にあり、無機充填剤の含有量が60重量%を超えると、硬化物の機械強度が低下するなどの傾向となる。   In addition, the thermosetting resin composition may contain (e) an inorganic filler in order to reduce the thermal expansion of the post-curing composition. Examples of the inorganic filler include silica, alumina, mica, mica, silicate, barium sulfate, magnesium hydroxide, and titanium oxide. Silica and alumina are preferable, and silica is particularly preferable. The inorganic filler preferably has an average particle size of 3 μm or less, more preferably 0.6 μm or less, from the viewpoint of insulation reliability. On the other hand, the lower limit of the average particle diameter is not particularly limited, but is preferably 0.1 μm or more. The content of the inorganic filler in the thermosetting resin composition is preferably 0 to 60% by mass, more preferably 20 to 50% by mass when the nonvolatile component of the thermosetting resin composition is 100% by mass. %. When the content of the inorganic filler is less than 20% by weight, the effect of lowering the thermal expansion coefficient tends not to be sufficiently exhibited. When the content of the inorganic filler exceeds 60% by weight, the mechanical strength of the cured product decreases. It becomes a tendency to do.

近年の高密度パッケージ基板等では特性インピーダンスの要求から、絶縁樹脂層の薄型化が進んでいる。従って、接着フィルムにより、スルーホールを穴埋めする場合、スルーホール上の絶縁層の凹みの問題がより顕著化する傾向にある。本発明において、樹脂組成物層の厚さは、薄型化に対応する観点から、通常、導体層厚+(10〜65)μmの範囲から選択される。また層間絶縁信頼性等の観点から、樹脂組成物層の厚さは通常15〜100μmの範囲であり、15〜80μmが好ましく、さらに25〜60μmの範囲が好ましい。   In recent high-density package substrates and the like, the insulating resin layer has been made thinner due to the requirement for characteristic impedance. Therefore, when the through hole is filled with the adhesive film, the problem of the depression of the insulating layer on the through hole tends to become more prominent. In the present invention, the thickness of the resin composition layer is usually selected from the range of conductor layer thickness + (10 to 65) μm from the viewpoint of reducing the thickness. From the viewpoint of interlayer insulation reliability and the like, the thickness of the resin composition layer is usually in the range of 15 to 100 μm, preferably 15 to 80 μm, and more preferably 25 to 60 μm.

本発明における接着フィルムは、樹脂組成物層の支持体が密着していない面は保護フィルムで保護されていてもよい。保護フィルムとしては、厚さ1〜40μmの、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエステル等のプラスチックフィルムが好適に用いられる。   As for the adhesive film in this invention, the surface where the support body of the resin composition layer is not closely_contact | adhering may be protected by the protective film. As the protective film, a plastic film having a thickness of 1 to 40 μm, such as polyethylene, polypropylene, polyethylene terephthalate, and polyester, is preferably used.

本発明製法の適用に好適なスルーホールを有する基板としては、例えば、以下のものが挙げられる。板厚が0.05以上〜0.2mmt以下、スルーホール径が0.5mm以下の基板、板厚が0.3mmt以下、スルーホール径が0.35mm以下の基板、板厚が0.4mmt以下、スルーホール径が0.27mm以下、板厚が0.6mmt以下、スルーホール径が0.22mm以下の基板、板厚が0.8mmt以下、スルーホール径が0.17mm以下の基板。   Examples of the substrate having a through hole suitable for application of the production method of the present invention include the following. A board having a plate thickness of 0.05 to 0.2 mmt and a through hole diameter of 0.5 mm or less, a board thickness of 0.3 mmt or less and a through hole diameter of 0.35 mm or less, a plate thickness of 0.4 mmt or less A substrate having a through hole diameter of 0.27 mm or less, a plate thickness of 0.6 mmt or less, and a through hole diameter of 0.22 mm or less, a substrate having a plate thickness of 0.8 mmt or less and a through hole diameter of 0.17 mm or less.

本発明においては、スルーホールを有する基板上に、接着フィルムの樹脂組成物層を接触させ、真空ラミネーターにより減圧下で、加熱および加圧し、接着フィルムの積層と同時にスルーホールの穴埋めを行なう。接着フィルムの樹脂組成物層が保護フィルムで保護されている場合はこれらを剥離した後、樹脂組成物層を基板に直接接するように、基板の両面に積層(ラミネート)する。ラミネートの方法はバッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。またラミネートを行う前に接着フィルム及び基板を必要により加熱(プレヒート)しておいてもよい。なお、接着フィルムに用いられている支持体が厚さ20μm以上の光沢面を有する金属箔でない場合は、一旦、接着フィルムをラミネート後、加熱処理前に該支持体を剥離し、ラミネートされた樹脂組成物層の上から厚さ20μm以上の光沢面を有する金属箔を光沢面が樹脂組成物層に接するように、再度ラミネートしてもよい。   In the present invention, the resin composition layer of the adhesive film is brought into contact with a substrate having a through hole, and heated and pressurized under reduced pressure by a vacuum laminator to fill the through hole simultaneously with the lamination of the adhesive film. When the resin composition layer of the adhesive film is protected by a protective film, these are peeled and then laminated (laminated) on both sides of the substrate so that the resin composition layer is in direct contact with the substrate. The laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll. In addition, the adhesive film and the substrate may be heated (preheated) as necessary before lamination. In addition, when the support used for the adhesive film is not a metal foil having a glossy surface with a thickness of 20 μm or more, after laminating the adhesive film, the support is peeled off before the heat treatment, and the laminated resin A metal foil having a glossy surface with a thickness of 20 μm or more may be laminated again from above the composition layer so that the glossy surface is in contact with the resin composition layer.

ラミネートの条件は、圧着温度(ラミネート温度)を好ましくは70〜140℃、圧着圧力を好ましくは1〜11kgf/cm2(9.8×10〜107.9×10N/m2)とし、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートするのが好ましい。 Lamination conditions are preferably a pressure bonding temperature (laminating temperature) of 70 to 140 ° C., a pressure bonding pressure of preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to 107.9 × 10 4 N / m 2), and air pressure. Lamination is preferably performed under a reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less.

真空ラミネーターは市販のものを使用することができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン(株)製 バキュームアップリケーター、(株)名機製作所製 真空加圧式ラミネーター、(株)日立インダストリイズ製 ロール式ドライコータ、日立エーアイーシー(株)製真空ラミネーター等を挙げることができる。   A commercially available vacuum laminator can be used. Commercially available vacuum laminators include, for example, a vacuum applicator manufactured by Nichigo-Morton Co., Ltd., a vacuum pressurizing laminator manufactured by Meiki Seisakusho, a roll dry coater manufactured by Hitachi Industries, Ltd., Hitachi AIC Co., Ltd. ) Made vacuum laminator and the like.

なお本発明における基板は、スルーホールを有する基板であれば特に限定はないが、主として、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等の基板であって、スルーホールを有し、片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成されたもの(いわゆるコア基板)をいう。なお導体層表面は黒化処理等により予め粗化処理が施されていた方が絶縁層の基板への密着性の観点から好ましい。   The substrate in the present invention is not particularly limited as long as it is a substrate having a through hole. However, the substrate is mainly a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, or the like. In this case, it refers to a substrate (a so-called core substrate) having through holes and having a conductor layer (circuit) patterned on one or both sides. In addition, it is preferable from the viewpoint of the adhesiveness of the insulating layer to the substrate that the surface of the conductor layer has been previously roughened by blackening or the like.

接着フィルムの積層後、熱硬化性樹脂を熱硬化する工程は、スルーホール上の凹み抑制の観点から、樹脂組成物層を70℃〜140℃の温度で加熱処理する工程、と該加熱処理の温度より高い温度で熱硬化する工程の2段階で行うのが好ましい。熱硬化性樹脂組成物を硬化する前に、熱硬化性樹脂組成物の70℃以上かつ140℃以下の温度で、熱硬化性樹脂組成物を加熱処理する工程において、加熱処理の温度は、好ましくは70〜130℃、より好ましくは80〜125℃の範囲から選択される。加熱処理の時間は特に限定されず、通常5分〜6時間、好ましくは10分〜5時間、好ましくは20分〜4時間の間で選択される。加熱処理の温度が低いほど、長い加熱処理時間が必要となる傾向にある。   After laminating the adhesive film, the step of thermosetting the thermosetting resin includes a step of heat-treating the resin composition layer at a temperature of 70 ° C. to 140 ° C. from the viewpoint of suppressing dents on the through hole, and It is preferable to carry out in two stages of the process of thermosetting at a temperature higher than the temperature. In the step of heat-treating the thermosetting resin composition at a temperature of 70 ° C. or more and 140 ° C. or less of the thermosetting resin composition before curing the thermosetting resin composition, the temperature of the heat treatment is preferably Is selected from the range of 70 to 130 ° C, more preferably 80 to 125 ° C. The time for the heat treatment is not particularly limited, and is usually selected from 5 minutes to 6 hours, preferably from 10 minutes to 5 hours, preferably from 20 minutes to 4 hours. The lower the temperature of the heat treatment, the longer the time required for the heat treatment.

その後の熱硬化工程においては、加熱処理工程の温度より高い温度で熱硬化性樹脂組成物を熱硬化し、絶縁層を形成する。硬化温度及び硬化時間は熱硬化性樹脂組成物の種類によっても異なるが、好ましく150〜220℃で20分〜180分の範囲で選択され、より好ましくは160〜200℃で30分〜120分の範囲である。絶縁層を形成した後、金属箔を除去する。金属箔の除去は、物理的に引き剥がし可能な場合はそのまま剥離し、引き剥がしが困難な場合はエッチングによることができる。金属箔のエッチングは、塩化第II鉄や、塩化第II銅を主成分としたエッチング液を用いて行うことができる。以上の工程により、スルーホール上の凹みが抑制された絶縁層を得ることができる。スルーホール上の絶縁層の凹みは6μm以下であるのが好ましい。   In the subsequent thermosetting process, the thermosetting resin composition is thermoset at a temperature higher than the temperature of the heat treatment process to form an insulating layer. The curing temperature and curing time vary depending on the type of the thermosetting resin composition, but are preferably selected in the range of 20 to 180 minutes at 150 to 220 ° C, more preferably in the range of 30 to 120 minutes at 160 to 200 ° C. It is a range. After forming the insulating layer, the metal foil is removed. The removal of the metal foil can be performed as it is when it can be physically peeled off, and can be removed by etching when it is difficult to peel off. Etching of the metal foil can be performed using an etching solution mainly composed of ferric chloride or copper chloride. Through the above steps, an insulating layer in which dents on the through holes are suppressed can be obtained. The recess of the insulating layer on the through hole is preferably 6 μm or less.

通常、基板上に形成された絶縁層に穴開けを行いビアホールを形成する。必要により、スルーホールを形成してもよい。穴あけは例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等の公知の方法により、また必要によりこれらの方法を組み合わせて行うことができるが、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等のレーザーによる穴あけがもっとも一般的な方法である。   Usually, a via hole is formed by drilling an insulating layer formed on a substrate. If necessary, through holes may be formed. Drilling can be performed by a known method such as drilling, laser, or plasma, or a combination of these methods if necessary. However, drilling by a laser such as a carbon dioxide laser or YAG laser is the most common method. .

絶縁層上に回路形成するには、セミアディディブ法を用いるのが好ましい。セミアディティブ法においては、通常、まず絶縁層表面に粗化処理を行った後、触媒を付与し、無電解銅メッキ層を形成し、該銅メッキ層上にパターンレジストを施し、所望の厚みの電解銅メッキ層を形成後、パターンレジストを剥離し、無電解銅メッキ層をフラッシュエッチで除去することにより、回路を形成する。絶縁層表面の粗化工程は、上記穴あけ工程で生じたスミアを除去するデスミア工程を兼ねている。本発明における粗化処理は、酸化剤を使用した湿式粗化方法で行われる。酸化剤としては、過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム等)、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素/硫酸、硝酸等が挙げられる。好ましくはビルトアップ工法による多層プリント配線板の製造における絶縁層の粗化に汎用されている酸化剤である、アルカリ性過マンガン酸溶液(例えば過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウムの水酸化ナトリウム水溶液)を用いて粗化を行うのが好ましい。粗化表面に付与する触媒としては、一般に使用されているパラジウム金属が好ましい。無電解銅メッキ液は、錯化剤や還元剤等の浴構成成分の違いで種々のものが市販されているが、特に限定されるものではない。無電解銅メッキ層の厚みは、通常0.1〜3μmであり、好ましくは、0.3〜2μmである。   In order to form a circuit on the insulating layer, it is preferable to use a semi-additive method. In the semi-additive method, usually, after first roughening the surface of the insulating layer, a catalyst is applied, an electroless copper plating layer is formed, a pattern resist is applied on the copper plating layer, and a desired thickness is obtained. After forming the electrolytic copper plating layer, the pattern resist is peeled off, and the electroless copper plating layer is removed by flash etching to form a circuit. The roughening process on the surface of the insulating layer also serves as a desmear process for removing smear generated in the drilling process. The roughening treatment in the present invention is performed by a wet roughening method using an oxidizing agent. Examples of the oxidizing agent include permanganate (potassium permanganate, sodium permanganate, etc.), dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, nitric acid and the like. Preferably, an alkaline permanganate solution (eg, potassium permanganate, sodium hydroxide solution of sodium permanganate), which is an oxidizer widely used for roughening an insulating layer in the production of multilayer printed wiring boards by a built-up method. It is preferable to perform roughening using. As the catalyst imparted to the roughened surface, generally used palladium metal is preferable. Various electroless copper plating solutions are commercially available due to differences in bath constituents such as complexing agents and reducing agents, but are not particularly limited. The thickness of the electroless copper plating layer is usually 0.1 to 3 μm, preferably 0.3 to 2 μm.

無電解銅メッキ表面に電解銅メッキを行なう方法も公知の方法に従って行うことができ、例えば、一般に用いられている硫酸銅メッキ浴を使用して行うことができる。電解銅メッキ層の厚みは、通常3〜40μmであり、好ましくは、5〜35μmである。なお導体層形成後、150〜200℃で20〜90分アニール(anneal)処理することにより、導体層のピール強度をさらに向上、安定化させることができる。   A method of performing electrolytic copper plating on the electroless copper plating surface can also be performed according to a known method, for example, using a commonly used copper sulfate plating bath. The thickness of the electrolytic copper plating layer is usually 3 to 40 μm, and preferably 5 to 35 μm. In addition, after forming the conductor layer, the peel strength of the conductor layer can be further improved and stabilized by annealing at 150 to 200 ° C. for 20 to 90 minutes.

このようにして得られる多層プリント配線板はスルーホール上の凹みが抑制され、平滑性に優れた絶縁層を有する。   The multilayer printed wiring board obtained in this way has an insulating layer excellent in smoothness, in which dents on the through holes are suppressed.

以下に実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。   The present invention will be described in more detail with reference to the following examples, but the present invention is not limited to these examples.

樹脂組成物層厚さ40μmの味の素ファインテクノ(株)製接着フィルム(ABF−GX−13)の保護フィルムを剥離し、35μm電解銅箔の光沢面(JTC箔、(株)日鉱マテリアルズ製)に樹脂組成物層を真空ラミネートにて転写させ、銅箔を支持体とする接着フィルムを得た。次に樹脂組成物層を介して銅箔と反対面にあるPETフィルムを剥離し、スルーホール(スルーホール径0.3mm)を有する厚さ0.3mmtのコア基板(FR4)の両面から積層した。積層は熱プレス付き真空ラミネーター((株)名機製作所製 MVLP−500)により、温度100℃、圧力7kgf/cm(69×10N/m)、気圧5mmHg(6.7hPa)以下で30秒間加圧し、その後温度100℃、圧力10kgf/cm(98×10N/m)で90秒加圧することにより行った。次いで、樹脂組成物層を120℃で30分間加熱、続いて180℃で30分間加熱することにより熱硬化させ、室温まで冷却後、塩化第II鉄(FeCl)よりなるエッチング液浸漬により銅箔を除去し、絶縁層が形成されたコア基板を得た。 The protective film of the Ajinomoto Fine Techno Co., Ltd. adhesive film (ABF-GX-13) with a resin composition layer thickness of 40 μm is peeled off, and the glossy surface of 35 μm electrolytic copper foil (JTC foil, manufactured by Nikko Materials Co., Ltd.) The resin composition layer was transferred by vacuum lamination to obtain an adhesive film using a copper foil as a support. Next, the PET film on the opposite side of the copper foil was peeled off through the resin composition layer, and laminated from both sides of a core substrate (FR4) having a through hole (through hole diameter 0.3 mm) and having a thickness of 0.3 mm. . Lamination is performed at a temperature of 100 ° C., a pressure of 7 kgf / cm 2 (69 × 10 4 N / m 2 ), and a pressure of 5 mmHg (6.7 hPa) or less using a vacuum laminator with a heat press (MVLP-500, manufactured by Meiki Seisakusho). Pressurization was performed for 30 seconds, and then performed by applying pressure at a temperature of 100 ° C. and a pressure of 10 kgf / cm 2 (98 × 10 4 N / m 2 ) for 90 seconds. Next, the resin composition layer is heated at 120 ° C. for 30 minutes, then thermally cured by heating at 180 ° C. for 30 minutes, cooled to room temperature, and then immersed in an etching solution made of ferric chloride (FeCl 3 ) to obtain a copper foil. And a core substrate on which an insulating layer was formed was obtained.

35μm電解銅箔の代わりに20μm圧延黄銅箔(日鉱金属(株)製)を用いた以外は実施例1と同様にして、絶縁層が形成されたコア基板を得た。なおここで使用した金属箔は、物理的に剥離が可能で、エッチングによらず引き剥がすことで剥離した。     A core substrate on which an insulating layer was formed was obtained in the same manner as in Example 1 except that 20 μm rolled brass foil (manufactured by Nikko Metal Co., Ltd.) was used instead of the 35 μm electrolytic copper foil. Note that the metal foil used here can be physically peeled off, and peeled off by peeling off without being etched.

多層プリント配線板の製造(その1)
スルーホール穴径0.3mmを有する回路形成された厚み0.3mmtの基板を用いた以外は実施例1と同様にして、スルーホール穴埋めと絶縁層形成を行った。次に、絶縁層に炭酸ガスレーザーによりビアホールを形成した。デスミアプロセスを兼ねた絶縁層の粗化処理を、アトテックジャパン社製の酸化剤「コンセントレイト・コンパクト CP(Concentrate Compact CP)」(過マンガン酸アルカリ溶液)及び還元剤「リダクション・ソルーション・セキュリガンス(Reduction solution Securiganth P-500)」を用いて行った。絶縁層を温度80℃で10分間酸化剤溶液により表面処理を行った。次いで、温度40℃で5分間還元剤溶液により中和処理行った。次に絶縁層表面に無電解銅メッキの触媒付与を行なった後、無電解銅メッキ液に32℃で30分浸漬して、1.5μmの無電解銅メッキ皮膜を形成させた。これを、150℃30分で乾燥後、酸洗浄し、含リン銅板をアノードとし、陰極電流密度2.0A/dm2で12分間電気銅メッキを行ない、銅メッキ皮膜を形成させた。その後、更に180℃で30分アニール処理を行った。得られた導体層の導体メッキ厚は約30μm、ピール強度は0.8kgf/cmであった。またピール強度測定はJIS C6481に準じて行った。
Manufacture of multilayer printed wiring boards (Part 1)
Through-hole filling and insulating layer formation were performed in the same manner as in Example 1 except that a circuit-formed substrate having a through-hole diameter of 0.3 mm and having a thickness of 0.3 mm was used. Next, via holes were formed in the insulating layer by a carbon dioxide laser. The roughening treatment of the insulating layer, which also serves as a desmear process, is performed using the oxidizing agent “Concentrate Compact CP” (alkaline permanganate solution) and the reducing agent “Reduction Solution Security” produced by Atotech Japan. solution Securiganth P-500) ". The insulating layer was surface treated with an oxidant solution at a temperature of 80 ° C. for 10 minutes. Next, neutralization was performed with a reducing agent solution at a temperature of 40 ° C. for 5 minutes. Next, after applying an electroless copper plating catalyst to the surface of the insulating layer, it was immersed in an electroless copper plating solution at 32 ° C. for 30 minutes to form an electroless copper plating film of 1.5 μm. This was dried at 150 ° C. for 30 minutes, washed with acid, and a phosphorous-containing copper plate was used as an anode, and electrolytic copper plating was performed at a cathode current density of 2.0 A / dm 2 for 12 minutes to form a copper plating film. Thereafter, an annealing treatment was further performed at 180 ° C. for 30 minutes. The obtained conductor layer had a conductor plating thickness of about 30 μm and a peel strength of 0.8 kgf / cm. The peel strength was measured according to JIS C6481.

多層プリント配線板の製造(その2)
スルーホール穴径0.3mmを有する回路形成された厚み0.3mmtの基板及び実施例2で得られた樹脂付銅箔を用い、銅箔除去は剥離によった以外は実施例3と同様にして多層プリント配線板を得た。
Manufacture of multilayer printed wiring boards (Part 2)
A circuit-formed substrate having a through-hole diameter of 0.3 mm and a thickness of 0.3 mmt and a resin-coated copper foil obtained in Example 2 were used, and the removal of the copper foil was performed in the same manner as in Example 3 except that peeling was performed. A multilayer printed wiring board was obtained.

<比較例1>
厚さ18μmの電解銅箔(JTC箔、(株)日鉱マテリアルズ製)を用いた以外は実施例1と同様にして絶縁層が形成されたコア基板を得た。
<Comparative Example 1>
A core substrate on which an insulating layer was formed was obtained in the same manner as in Example 1 except that an electrolytic copper foil (JTC foil, manufactured by Nikko Materials Co., Ltd.) having a thickness of 18 μm was used.

なお、各性能評価は次の方法で行った。
<スルーホールの埋め込み性>
スルーホールの有する評価基板の一部を埋め込み樹脂で埋め込み、スルーホール中心を通る断面を、研磨により目視により観察し、次の基準に従い、評価した。
○:スルーホール内が樹脂で埋め込まれている
×:スルーホール内の一部が樹脂で埋め込まれていない
In addition, each performance evaluation was performed with the following method.
<Fillability of through holes>
A part of the evaluation substrate having the through hole was embedded with the embedding resin, and a cross section passing through the center of the through hole was visually observed by polishing and evaluated according to the following criteria.
○: The inside of the through hole is embedded with resin ×: A part of the through hole is not embedded with resin

<スルーホール上凹み>
格子状に10×10個(=100個)のスルーホールの開いた、スルーホール穴径300μm、スルーホールピッチ各600、900、1200μmを有する厚み0.3mmtの評価基板に両面から接着フィルム、もしくは樹脂付金属箔をラミネートにより積層した。続いて、支持体フィルム付、もしくは金属箔付で硬化させた後、支持体フィルム、もしくは金属箔を剥離またはエッチングにより除去した。このように樹脂を露出させた状態で各スルーホールピッチのスルーホール上凹みを、非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、X,Y方向およびその表裏で測定して、平均値をもって凹みを算出した。なお、X,Y方向についてはスルーホール中心を原点とし、ラミネート方向をY方向、それに直交する方向をX方向とした。凹みについてはその原点と、X,Y方向に各々300μm外側に位置する高低差を各スルーホールピッチからN=1で選択した。よって、凹みとしては、スルーホールピッチ各600、900、1200μmの平均値である。
<Through hole dent>
10 × 10 (= 100) through-holes in a lattice shape, a through-hole diameter of 300 μm, and through-hole pitches of 600, 900, and 1200 μm in thickness of 0.3 mmt evaluation board, adhesive film from both sides, or A metal foil with resin was laminated by lamination. Subsequently, after curing with a support film or metal foil, the support film or metal foil was removed by peeling or etching. With the resin exposed as described above, the through-hole dents of each through-hole pitch were measured in the X and Y directions and on the front and back surfaces thereof using a non-contact type surface roughness meter (WYKO NT3300 manufactured by Beeco Instruments). The dent was calculated with the average value. For the X and Y directions, the center of the through hole was the origin, the lamination direction was the Y direction, and the direction perpendicular thereto was the X direction. For the dent, the origin and the height difference located 300 μm outside in the X and Y directions were selected with N = 1 from each through hole pitch. Therefore, as a dent, it is an average value of 600, 900, and 1200 μm of through-hole pitches.

表1に示すとおり、比較例はスルーホール上の凹みが大きいのに対し、実施例1及び実施例2はスルーホール上の凹みが抑制されていることが分かる。   As shown in Table 1, it can be seen that the comparative example has a large dent on the through hole, whereas Example 1 and Example 2 have the dent on the through hole suppressed.

Claims (6)

支持体上に熱硬化性樹脂組成物からなる樹脂組成物層が形成された接着フィルムを用いて多層プリント配線板を製造する方法であって、少なくとも以下の工程1)〜):
1)スルーホールを有する基板上に、樹脂組成物層の厚さが15〜60μmである接着フィルムの樹脂組成物層を接触させ、真空ラミネーターにより減圧下で、加熱および加圧し、接着フィルムの積層と同時にスルーホールの穴埋めを行なう工程、
2)厚さ20μm以上の金属箔の光沢面に樹脂組成物が接した状態で熱硬化性樹脂組成物を熱硬化し、絶縁層を形成する工程、
3)熱硬化後に、金属箔を除去する工程、
4)絶縁層表面を酸化剤で粗化する工程、及び
5)粗化された絶縁層表面にメッキにより導体層を形成する工程、
を含む、多層プリント配線板の製造方法。
A method for producing a multilayer printed wiring board using an adhesive film in which a resin composition layer composed of a thermosetting resin composition is formed on a support, comprising at least the following steps 1) to 5 ):
1) A resin composition layer of an adhesive film having a resin composition layer thickness of 15 to 60 μm is brought into contact with a substrate having a through hole, and heated and pressurized under reduced pressure by a vacuum laminator to laminate the adhesive film. At the same time, the process of filling through holes,
2) a step of thermosetting the thermosetting resin composition in a state in which the resin composition is in contact with the glossy surface of the metal foil having a thickness of 20 μm or more to form an insulating layer;
3) A step of removing the metal foil after thermosetting,
4) a step of roughening the surface of the insulating layer with an oxidizing agent, and 5) a step of forming a conductor layer by plating on the surface of the roughened insulating layer,
A method for producing a multilayer printed wiring board, comprising:
接着フィルムが、厚さ20μm以上の金属箔を支持体とし、該金属箔の光沢面に樹脂組成物層が形成された接着フィルムである、請求項1記載の多層プリント配線板の製造方法。 The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the adhesive film is an adhesive film in which a metal foil having a thickness of 20 μm or more is used as a support and a resin composition layer is formed on the glossy surface of the metal foil. 金属箔が電解銅箔、圧延銅箔又はアルミ箔から選択される請求項1又は2記載の多層プリント配線板の製造方法。 The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1 or 2, wherein the metal foil is selected from electrolytic copper foil, rolled copper foil or aluminum foil. 金属箔の厚さが20μm以上75μm以下である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。 The manufacturing method of the multilayer printed wiring board of any one of Claims 1-3 whose thickness of metal foil is 20 micrometers or more and 75 micrometers or less. 熱硬化性樹脂組成物を熱硬化する工程が、樹脂組成物層を70℃〜140℃の温度で加熱処理する工程、と該加熱処理の温度より高い温度で熱硬化する工程の2段階で行われる、請求項1〜4のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。 The process of thermosetting the thermosetting resin composition is performed in two stages: a process of heat-treating the resin composition layer at a temperature of 70 ° C. to 140 ° C., and a process of thermosetting at a temperature higher than the temperature of the heat treatment. The manufacturing method of the multilayer printed wiring board of any one of Claims 1-4. 金属箔を除去後、絶縁層にビアホールを形成する工程を含む、請求項1〜5のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。 The manufacturing method of the multilayer printed wiring board of any one of Claims 1-5 including the process of forming a via hole in an insulating layer after removing metal foil.
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