JP5010104B2 - Mtcmos装置及びその制御方法 - Google Patents

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Description

本発明はMTCMOS(Multi−Threshold Complementary Metal Oxide Semiconductor)に係り、具体的には、MTCMOS装置及びその制御方法に関する。
MTCMOS技術は、低電力集積回路装置に広く使われる。特に、集積回路装置の電力浪費は、供給される電源電圧を下げることによって減少させうる。しかし、電源電圧の減少は、装置内のトランジスタの速度を低下させる。したがって、このような動作速度の低下を克服するために、トランジスタのしきい電圧(Vth)を下げる。しかし、しきい電圧の減少は、トランジスタが‘オフ’状態である時、トランジスタの漏れ電流または待機電流を増加させて、装置が待機状態である時に電力消耗を増加させてしまう。
MTCMOS技術は、大きいしきい電圧を有するトランジスタを通じて論理ゲートに電源電圧及び/または接地電圧を供給し、半導体装置の論理動作のためには低いしきい電圧のトランジスタを利用して待機電流の増加問題を克服する。高いしきい電圧を有するトランジスタがターンオンされて論理ゲートに電源電圧を供給する時、低いしきい電圧を有するトランジスタは、低いしきい電圧によって速い速度で動作できる。一方、待機モードである時、高いしきい電圧のトランジスタがターンオフされて電源電圧を低いしきい電圧のトランジスタに供給することを遮断すれば、低いしきい電圧のトランジスタを通じた漏れ電流を減少または除去しうる。
MTCMOS装置は、供給電源と論理回路との間にしきい電圧が相対的に高いMOSスイッチを直列に連結した構造を有する。
前記MTCMOS技術は、活性モードでは、前記MOSスイッチをオンさせて前記供給電源を前記論理回路に供給し、スリープモードでは、前記MOSスイッチをオフさせて前記供給電源を前記論理回路から遮断してシステム全体の電力を最小化できる。
特に、この技術は、活性モードよりスリープモードに該当する時間が長いシステムに使われる回路の消費電力の減少に非常に有用である。しかし、供給電源が遮断された時に対応した特別な手段を講じなければ、MTCMOS回路は、スリープモード時に仮想グラウンド電圧レベルがフローティング状態になるため、これに連結したラッチ回路やフリップフロップの保存データが損失される短所がある。したがって、MTCMOSを正常的に動作させるためには、スリープモード時にデータを保存できる所定のフリップフロップ回路とそれを制御するための制御回路とが必要である。
本発明が解決しようとする技術的課題は、MTCMOSの動作中、スリープモードに進入する時と活性モードに復帰する時、データを保存するフリップフロップ部及び電流スイッチの動作を制御する制御信号の出力を制御するためのMTCMOS制御回路を有するMTCMOS装置及びその制御方法を提供することである。
前記目的を達成するためになされた本発明によるMTCMOS装置は、論理回路部と、スイッチング部と、フリップフロップ部と、MTCMOS装置の全体電力を調節する制御回路を含む電力調節部と、を有し、第1制御信号及び第2制御信号を生成する制御回路と、前記第1制御信号に応答する相対的に高いしきい電圧の前記スイッチング部と、相対的に低いしきい電圧の論理回路部と、前記低いしきい電圧の論理回路部のデータを保存し、前記第2制御信号に応答するフリップフロップと、を有し、前記制御回路は、初期化に必要な初期化制御回路と、スリープモードと活性モードの転換時に必要なタイミング制御回路を含み、前記制御回路は、前記MTCMOS装置が活性モードからスリープモードに変更される時、前記第2制御信号の論理状態を第1論理状態から第2論理状態に転換し、所定遅延時間tD1後、前記第1制御信号の論理状態を前記第2論理状態から前記第1論理状態に転換し、前記MTCMOS装置が前記スリープモードから前記活性モードに変更する時、前記第1制御信号の論理状態を前記第1論理状態から前記第2論理状態に転換し、前記tD1とは異なる所定遅延時間tD2後、前記第2制御信号の論理状態を前記第2論理状態から前記第1論理状態に転換させることを特徴とする。


MTCMOSを制御するMTCMOS制御回路は、前記MTCMOSのスリープモードによって高電圧の電流制御スイッチのスイッチングを制御する第1制御信号SCと、論理回路部のデータを保存するためのフリップフロップ部を制御する第2制御信号SCBとを出力し、前記MTCMOSがスリープモードに転換される時は、前記MTCMOS制御回路は、前記第2制御信号を第1論理状態から第2論理状態に遷移し、所定の遅延時間tD1後に前記第1制御信号を第2論理状態から第1論理状態に遷移し、前記MTCMOSが活性モードに転換される時は、前記MTCMOS制御回路は、前記第1制御信号を第1論理状態から第2論理状態に遷移し、所定の遅延時間tD2後に前記第2制御信号を第2論理状態から第1論理状態に遷移する。
望ましくは、前記MTCMOS制御回路は、所定のウェークアップ信号EXTWKU,RTCWKUに応答して前記MTCMOSを活性モードに転換させ、所定の停止信号STOP_ONに応答して前記MTCMOSをスリープモードに転換させる。
さらに望ましくは、前記第1制御信号は、前記第2論理状態である時に前記電流制御スイッチをターンオンさせ、前記第1論理状態である時に前記電流制御スイッチをターンオフさせ、前記第2制御信号は、前記第2論理状態である時に前記フリップフロップ部を通じて前記論理回路部のデータを保存し、前記第1論理状態である時に前記フリップフロップ部をディセーブルさせる。
本発明の一実施例によるMTCMOS制御回路は、外部の停止信号STOP_ONを入力される第1バッファ、前記第1バッファから出力された信号を遅延させる第1遅延回路、外部の第1ウェークアップ信号EXTWKUと第2ウェークアップ信号RTCWKUとを入力される第1ORゲート、前記第1ORゲートから出力された信号を受ける第1インバータ、前記第1インバータから出力された信号を遅延させる第2遅延回路、前記第1インバータの出力信号、前記停止信号及び前記第1遅延回路の出力信号を入力されて前記第1制御信号SCを出力する第1制御信号出力部、及び前記第1バッファの出力信号、前記停止信号及び前記第2遅延回路の出力信号を入力されて前記第2制御信号SCBを出力する第2制御信号出力部を含む。
本発明の他の実施例によるMTCMOS制御回路は、前記第1遅延回路は、1つのフリップフロップより構成され、前記第2遅延回路は、2つの直列に連結されたフリップフロップより構成される。
望ましくは、前記第1制御信号出力部は、前記停止信号及び前記第1遅延回路の出力信号を入力される第1ANDゲート、前記第1ANDゲートの出力信号及び前記第1インバータの出力信号を入力される第1NANDゲート、及び前記第1NANDゲートの出力信号及び所定の2つの制御信号を入力されて第1制御信号を出力する第2ORゲートを含む。
望ましくは、前記第2制御信号出力部は、前記停止信号及び前記第1バッファの出力信号を入力される第2ANDゲート、前記第2ANDゲートの出力信号及び前記第2遅延回路の出力信号を入力される第3ANDゲート、及び前記第3ANDゲートの出力信号及び所定の2つの制御信号を入力されて第2制御信号を出力する第4ANDゲートを含む。
本発明のさらに他の実施例によるMTCMOSを制御するMTCMOS制御回路は、前記MTCMOSのスリープモードによって高電圧の電流制御スイッチのスイッチングを制御する第1制御信号SCと、論理回路部のデータを保存するためのフリップフロップ部を制御する第2制御信号SCBとを出力し、前記MTCMOSがスリープモードに転換される時は、前記MTCMOS制御回路は、前記第2制御信号を第1論理状態から第2論理状態に遷移し、所定の遅延時間tD1後に、前記第1制御信号を第2論理状態から第1論理状態に遷移し、前記MTCMOSが活性モードに転換される時は、前記MTCMOS制御回路は、前記第1制御信号を第1論理状態から第2論理状態に遷移し、所定の遅延時間tD2後に、前記第2制御信号を第2論理状態から第1論理状態に遷移するタイミング制御回路と、前記MTCMOSの初期化で内部のリセットフリップフロップを初期化し、前記リセットフリップフロップから出力される信号を通じて前記第1制御信号を第2論理状態に初期化し、前記第2制御信号を第1論理状態に初期化する初期化制御回路とを含む。
本発明によるMTCMOSの活性モードを制御する方法は、所定の幅を有するロジックハイパルスを有する所定のウェークアップ信号EXTWKU,RTCWKUを出力する段階、前記所定のウェークアップ信号に応答して前記MTCMOSの電流の流れを制御する第1制御信号をロジックハイに遷移する段階、前記第1制御信号がロジックハイに遷移した後、所定の遅延時間後に、前記MTCMOSの論理回路部のデータを保存するためのフリップフロップ部を制御する第2制御信号をロジックローに遷移する段階、及び前記MTCMOSをスリープモードに転換させる停止信号STOP_ONをロジックローに遷移する段階を含む。
本発明によるMTCMOSのスリープモードを制御する方法は、前記MTCMOSをスリープモードに転換させる停止信号STOP_ONをロジックハイに遷移する段階、前記停止信号に応答して前記MTCMOSの論理回路部のデータを保存するためのフリップフロップ部を制御する第2制御信号をロジックハイに遷移する段階、及び前記第2制御信号がロジックハイに遷移した後、所定の遅延時間後に、前記MTCMOSの電流の流れを制御する第1制御信号をロジックローに遷移する段階を含む。
本発明によるMTCMOSによれば、MTCMOS内部制御信号をMTCMOSの各モード転換時、適切な遅延時間を通じて制御することによって、MTCMOSのスリープモードに転換時にデータを正常的に保存でき、活性化モード時に充電された電荷を完全に放電して、MTCMOSの動作中にデータを損傷せずに消費電力を最小化しつつも正常的な動作を制御可能にする。
本発明と本発明の動作の利点及び本発明の実施によって達成される目的を十分に理解するためには、本発明の望ましい実施例を例示する添付図面及び図面に記載された内容を参照しなければならない。
以下、添付された図面を参照して本発明の望ましい実施例を説明することによって、本発明を詳細に説明する。各図面に提示された同じ参照符号は同じ部材を表す。
図1は、一般的なMTCMOSの構造を示すブロック図である。
図1を参照すれば、MTCMOS装置100は、電源電圧の第1電源電圧VDDと仮想接地電圧である第1動作電圧VGNDとの間に論理回路部102(ここでは、“低いしきい電圧を有する論理回路部”または簡単に“論理回路部”と呼ばれる)を有し、仮想接地電圧VGNDと接地電圧である第2電源電圧GNDとの間にMTCMOS 100の動作如何をスイッチングするスイッチング部104(ここでは、“高いしきい電圧を有する回路制御スイッチ”と呼ばれる)を備える。また、論理回路部102のデータを保存できるフリップフロップ部106(ここでは、簡単に“フリップフロップ”と呼ばれる)及びMTCMOSの全体電力を調節する電力調節部(Power Management Block:PMB)108を備える。
MTCMOSは、1V以下の低電力電源領域で、電源電圧または接地電圧と論理回路部102との間にしきい電圧Vthが比較的高いMOSスイッチ104を直列に連結して回路を動作させる場合、すなわち活性化モードである場合に、このMOSスイッチ104をターンオンさせて電源電圧VDDまたは接地電圧GNDをしきい電圧Vthが比較的低い論理回路部102に供給して論理回路部102の動作速度を向上させ、論理回路部102の回路を使用していない場合、すなわちスリープモードには、MOSスイッチ104をターンオフさせて論理回路部102に電源電圧VDDまたは接地電圧GNDを遮断して、論理回路部102の漏れ電流を減らして、全体的なシステムの消費電力を最小化できる。
また、MTCMOSは、MOSスイッチ104による面積の増大は生じるが、全体的な工程上の大きい変化なしにも設計の流れの修正のみで直ちに具現が可能であるという長所もある。
MTCMOS100は、活性化モード時間よりスリープモード時間が長い携帯用LSIの消費電力を減らすのに非常に有用である。しかし、MOSスイッチ104がターンオフされる場合、論理回路部102に保存されているデータが損失されてしまう問題がある。
これを解決するための技術であって、{S.Mutoh,et al.,1V High−Speed Digital Circuit Technology with 0.5mm Multithreshold−Voltage CMOS,IEEE Int.ASIC Conf.,Sept.,pp.186〜189.1993}及び[S.Mutoh,et al.,A1−V Power Supply High−Speed Digital Circuit Technology with Multithreshold−Voltage CMOS,IEEE JSSC,Vol.30.No.8,pp.847〜853,1995]に記述されたConventional MTCMOS FF技術と、
[S.Shigematsu,et al.,A1−V high−speed MTCMOS circuit scheme for power−down applications,VLSI Symp.,pp.125〜126,1995]、[S.Mutoh,et al.,A1−V Multithreshold−Voltage CMOS Digital Signal Processor for Mobile Phone Application,IEEE JSSC,Vol.31.No.11,pp.1795〜1802,1996]及び[S.Shigematsu,et al.,A1−V High−Speed MTCMOS Circuit Scheme for Power−Down Application Circuit,IEEE JSSC,Vol.32.No.6,pp.861〜869,1997]に開示されたBalloon FF技術と、
[H.Makino,et al.,An Auto−Backgate−Controlled MT−CMOS Circuit,VLSI Symp.,pp.42〜43,1998]に記述されたABC(Auto Backgate Controlled)−MTCMOS技術と、[K.Kumagai,et al.,A Novel Powering−down Scheme for Low Vt CMOS Circuit,VLSI Symp.,pp.44〜45,1998]に記述されたVRC(Virtual power/ground Rail Clamp)技術と、
[K.T.Park,H.S.Won,et al,“A New Low−Power Edge−Triggered and Logic−Embeded FF Using Complementary Pass−Transistors Circuit”,ITC−CSCC,2001]に記述されたCPFF(Complementary Pass−transistor Flip Flop)技術と、がある。
このような解決技術のうちCPFFは、面積、速度、消費電力の側面で優秀な特徴を示す。
図2は、図1のCPFF 106のCPFF(Complementary Pass transistor−based Flip Flop)についての一実施例を示す回路である。
Balloon FFのような場合、スリープモードと活性化モード時、フリップフロップを制御するために複雑な制御回路が必要であり、論理回路部のフリップフロップ種類によって制御方式及び回路が異なって設計されなければならないが、図2に示されたCPFFは、狭い面積で低電力、高速動作が可能であり、電源を遮断して回路を動作させないシステムの構成要素として使われる時、ラッチされたデータを保存するための回路をさらに設置する必要がないCPFFである。
図2に示されたCPFFは、クロック信号CLKと前記クロック信号CLKを所定の時間遅延させた遅延クロック信号との間の遅延時間を感知し、前記遅延された時間差に該当する時間の間に入力データを受信し、新たな入力データが受信されるまで以前入力データをラッチする。図2のCPFFは、データを保存するためのタイミング設計が従来のフリップフロップに比べて非常に簡単であるという長所がある。
図1のPMB(Power Management Block)108は、MTCMOS 100のMOSスイッチ(あるいはCCSセル)104を制御するための第1制御信号SCとCPFF 106を制御するための第2制御信号SCBとを出力する。
図1のMTCMOS 100をエラーなしに正常に動作させるためには、PMB 108内にMTCMOS 100の初期化過程とスリープモード及び活性化モードの転換過程とを適切に制御するための制御回路、すなわちMTCMOS制御回路が含まれなければならない。
図3は、本発明によるMTCMOS制御回路を示すブロック図である。
図3を参照すれば、MTCMOS制御回路300は、MTCMOSの初期化に必要な初期化制御回路302及びスリープモードと活性化モードの転換時に必要なタイミング制御回路304を含む。また、MTCMOS制御回路300は、図1のPMB 108の内部制御信号EXTWKU,RTCWKU,STOP_ONを入力され、前記初期化制御回路302及びタイミング制御回路304から出力される信号とPMB内部の他の信号との論理和を通じて第1制御信号SCを出力し、論理積を通じて第2制御信号SCBを出力する。論理部102は、図3で一つのインバータとして示されたが、さらに複雑な形態の論理部がMTCMOS装置内に提供されうる。
図4は、MTCMOSの初期化に必要な初期化制御回路の回路図である。
図4に示された初期化制御回路400は、MTCMOSの初期化を制御する部分であって、MTCMOSチップの初期パワーアップ時にPOR(Power−On−Reset)信号を使用してリセットフリップフロップ402をリセットさせて、第1制御信号SCをハイレベルに初期化し、第2制御信号SCBをローレベルに初期化する役割を行う。
図4を参照すれば、初期化制御回路400は、リセットフリップフロップ402、ANDゲート404、ORゲート406及びパワーオンリセット回路(NPORST)408より構成されている。リセットフリップフロップ402の入力端RNは、パワーオンリセット回路408の出力端PORと連結されており、リセットフリップフロップ402の出力端Q及びQNは、それぞれ3入力ANDゲート404、3入力ORゲート406に連結され、AND回路の出力は第2制御信号SCBであり、ORゲートの出力は第1制御信号SCである。
MTCMOS回路の初期化時、3入力ANDゲート404及び3入力ORゲート406の異なる入力信号は、ローレベルまたはハイレベルに固定されている。
リセットフリップフロップ402の入力信号は、パワーオンリセット回路408の出力信号であって、電源電圧VDDが適正電圧以上になった場合、出力信号が第1論理状態(以下、例えばローレベル)から第2論理状態(以下、たとえばハイレベル)に変更され、この信号は、前記リセットフリップフロップ402回路を初期化させる。
リセットフリップフロップ402の第1出力信号Qは、第1論理状態になり、第2出力信号QNは、第2論理状態になって出力される。これにより、3入力AND回路404の入力信号としてリセットフリップフロップ402の第1出力信号Qが印加されることによって、AND回路404の出力信号である第2制御信号SCBは、第1論理状態を維持し、これはMTCMOSの特定フリップフロップCPFFの入力信号に連結される。
一方、OR回路406の入力信号としてリセットフリップフロップ402の第2出力信号QNが印加されることによって、OR回路406の出力の第1制御信号SCは、第2論理状態を維持する。また、MTCMOS回路の初期化時、AND回路404の他の入力信号は、第2論理状態に固定されており、OR回路406の他の入力信号は、第1論理状態に固定されている。
一方、MTCMOS制御回路に必要な他の1つは、MTCMOSチップの動作のうちスリープモードに進入する時と活性化モードに進入する時、第1及び第2制御信号のタイミングを制御するタイミング制御回路304である。
本発明によるタイミング制御回路304は、MTCMOSがスリープモードに入る時、あらかじめCPFFにデータを保存できるように第1制御信号と第2制御信号との間に適切な遅延時間をおいてタイミング関係を調節し、また、MTCMOSが活性化モードに入る時にも、CPFFに保存されたデータをMTCMOSの論理回路部で適切に利用できるように前記第1制御信号と前記第2制御信号との間に適切な遅延時間をおくように制御する役割を行う。
図5は、本発明によるタイミング制御回路の入出力信号を示すタイミング図である。
図5を参照すれば、図5は、図3のMTCMOS制御回路に入力される入力信号EXTWKU,RTCWKU,STOP_ONと出力される制御信号SC,SCBとのタイミング関係を示している。
まず、MTCMOSが活性化モードで、スリープモードに転換される場合を説明すれば、外部の2つのウェークアップ信号EXTWKU,RTCWKUは、第1論理状態に留まっており、MTCMOSをスリープモードに進入するように指示する所定の停止信号STOP_ONは、第1論理状態から第2論理状態に遷移する。それにより、第2論理状態に遷移された停止信号STOP_ONを入力されたタイミング制御回路304は、CPFFを制御する第2制御信号SCBを第1論理状態から第2論理状態に遷移させて出力する。そして、第1遅延時間tD1後にタイミング制御回路304は、MOSスイッチング部CCSを制御する第1制御信号SCを第2論理状態から第1論理状態に遷移させて出力する。
それにより、第2制御信号SCBが第2論理状態になると、MTCMOSの論理回路部のラッチやフリップフロップに保存されたデータをCPFFに保存する。次いで、第1遅延時間tD1後に第1制御信号SCが第1論理状態になると、MOSスイッチ部CCSがターンオフされ、MTCMOSは、スリープモードに遷移される。
したがって、MTCMOSがスリープモードに遷移される前に論理回路部のデータをCPFFに保存する。
MTCMOSがスリープモードから活性化モードに転換される場合を説明すれば、MTCMOSを活性化モードに転換させるために、外部の2つのウェークアップ信号EXTWKU,RTCWKUが第1論理状態から第2論理状態を有するパルス信号に転換されてMTCMOS制御回路に入力される。それにより、タイミング制御回路304は、MOSスイッチング部CCSを制御する第1制御信号CSを第1論理状態からMOSスイッチング部をターンオンさせる第2制御状態に遷移させて出力する。そして、第2遅延時間tD2後にタイミング制御回路304は、CPFFを制御する第2制御信号SCBを第2論理状態からCPFFをディセーブルする第1論理状態に遷移させて出力する。次いで、所定の停止信号STOP_ONは、第2論理状態から第1論理状態に遷移される。
ここで、第2遅延時間tD2は、スリープモードから活性化モードに転換される時、スリープモード時、チャージされた第1動作電源、すなわち仮想接地電源VGNDの電荷を完全放電するまでにかかる時間であって、全体の仮想接地電源VGNDネットワークのRC時定数によって決定される。
それにより、第1制御信号SCが第2論理状態になってMOSスイッチングに入力されれば、MTCMOSのMOSスイッチング部は、ターンオンして論理回路部に電流を供給す。したがって、MTCMOSは、活性化モードになって論理回路部が動作される。また、この状態で、第2制御信号SCBは第2論理状態であるため、CPFFにはデータがそのまま保存されており、論理回路部は、CPFFに保存されたデータを利用してスリープモードに転換される前のデータを回復できる。次いで、第2遅延時間tD2後に第2制御信号SCBが第2論理状態から第1論理状態に遷移されて、CPFFはディセーブル状態になる。
したがって、MTCMOSが活性化モードに遷移された後にもCPFFに保存されたデータを読出して利用できる。
図6は、図5の動作のための本発明の一実施例によるタイミング制御回路の回路図である。
図6を参照すれば、タイミング制御回路600は、外部の停止信号STOP_ONを受ける第1バッファ602、前記第1バッファ602から出力された信号を遅延させる第1遅延回路604、外部の第1ウェークアップ信号EXTWKUと第2ウェークアップ信号RTCWKUとを入力される第1ORゲート606、前記第1ORゲート606から出力された信号を受ける第1インバータ608、前記第1インバータ608から出力された信号を遅延させる第2遅延回路610、前記第1インバータ608、前記停止信号STOP_ON及び前記第1遅延回路604の出力信号を入力されて前記第1制御信号SCを出力する第1制御信号出力部612及び前記第1バッファ602、前記停止信号STOP_ON及び前記第2遅延回路610の出力信号を入力されて前記第2制御信号SCBを出力する第2制御信号出力部614を含む。
また、前記第1制御信号出力部612は、前記停止信号STOP_ON及び前記第1遅延回路604の出力信号を入力される第1ANDゲート616、前記第1ANDゲート616の出力信号及び前記第1インバータ608の出力信号を入力される第1NANDゲート618及び前記第1NANDゲート618の出力信号及び所定の2つの制御信号‘0’を入力されて第1制御信号SCを出力する第2ORゲート620を含む。
この時、3入力ORゲート620の異なる2つの入力信号は、第1論理状態に固定されている。
また、前記第2制御信号出力部614は、前記停止信号STOP_ON及び前記第1バッファ602の出力信号を入力される第2ANDゲート622、前記第2ANDゲート622の出力信号及び前記第2遅延回路610の出力信号を入力される第3ANDゲート624及び前記第3ANDゲート624の出力信号及び所定の2つの制御信号‘1’を入力されて第2制御信号SCBを出力する第4ANDゲート626を含む。
この時、3入力ANDゲート626の異なる2つの入力信号は、第2論理状態に固定されている。
図6に示されたタイミング制御回路は、MTCMOSが活性化モードからスリープモードに転換する時、外部ウェークアップ信号EXTWKU,RTCWKUは、常に第1論理状態を維持し、停止信号STOP_ONが第1論理状態から第2論理状態に転換する時、第2制御信号SCBが第1論理状態から第2論理状態に転移される。また、第1遅延回路604によって第1遅延時間tD1ほど遅延されて第1制御信号SCが第2論理状態から第1論理状態に転移される。
また、MTCMOSがスリープモードから活性化モードに転換される時には、停止信号STOP_ONは、常に第2論理状態を維持し、2つのウェークアップ信号EXTWKU,RTCWKUが第1論理状態から第2論理状態に転換する時、まず第1制御信号SCが第1論理状態から第2論理状態に転移され、第2遅延回路610によって第2遅延時間tD2ほど遅延されて第2制御信号SCBが第2論理状態から第1論理状態に転移される。この時、第2遅延時間tD2は、スリープモード時にチャージされた仮想接地電圧VGNDラインの電荷を完全放電するまでにかかる時間であって、全体の仮想接地ネックワークのRC時定数を考慮して決定される。
図7は、図5の動作のための本発明の他の実施例によるタイミング制御回路の回路図である。
図7を参照すれば、タイミング制御回路700は、外部の停止信号STOP_ONを受ける第1バッファ702、前記第1バッファ702から出力された信号を遅延させる第1フリップフロップ704、外部の第1ウェークアップ信号EXTWKUと第2ウェークアップ信号RTCWKUとを入力される第1ORゲート706、前記第1ORゲート706から出力された信号を受ける第1インバータ708、前記第1インバータ708から出力された信号を遅延させる直列に連結された第2フリップフロップ710と第3フリップフロップ711、前記第1インバータ708、前記停止信号STOP_ON及び前記第1フリップフロップ704の出力信号を入力されて前記第1制御信号SCを出力する第1制御信号出力部712及び前記第1バッファ702、前記停止信号STOP_ON及び前記第3フリップフロップ711の出力信号を入力されて前記第2制御信号SCBを出力する第2制御信号出力部714を含む。
また、前記第1制御信号出力部712は、前記停止信号STOP_ON及び前記第1フリップフロップ704の出力信号を入力される第1ANDゲート716、前記第1ANDゲート716の出力信号及び前記第1インバータ708の出力信号を入力される第1NANDゲート718及び前記第1NANDゲート718の出力信号及び所定の2つの制御信号‘0’を入力されて第1制御信号SCを出力する第2 ORゲート720を含む。
この時、3入力ORゲート720の異なる2つの入力信号は、第1論理状態に固定されている。
また、前記第2制御信号出力部714は、前記停止信号STOP_ON及び前記第1バッファ702の出力信号を入力される第2ANDゲート722、前記第2ANDゲート722の出力信号及び前記第3フリップフロップ711の出力信号を入力される第3ANDゲート724及び前記第3ANDゲート724の出力信号及び所定の2つの制御信号‘1’を入力されて第2制御信号SCBを出力する第4ANDゲート726を含む。
この時、3入力ANDゲート726の異なる2つの入力信号は、第2論理状態に固定されている。
また、図7のフリップフロップを通じた遅延時間は、クロック信号RTC_CLKの周期ほど遅延されて決定される。
図7に示されたタイミング制御回路は、MTCMOSが活性化モードからスリープモードに転換する時、外部ウェークアップ信号EXTWKU,RTCWKUは常に第1論理状態を維持し、停止信号STOP_ONが第1論理状態から第2論理状態に転換する時、第2制御信号SCBが第1論理状態から第2論理状態に転移される。また、第1フリップフロップ704によって第1遅延時間tD1ほど遅延されて第1制御信号SCが第2論理状態から第1論理状態に転移される。
また、MTCMOSがスリープモードから活性化モードに転換される時には、停止信号STOP_ONは常に第2論理状態を維持し、2つのウェークアップ信号EXTWKU,RTCWKUが第1論理状態から第2論理状態に転換する時、まず第1制御信号SCが第1論理状態から第2論理状態に転移され、第2フリップフロップ710と第3フロップ711から成る第2遅延回路によって第2遅延時間tD2ほど遅延されて第2制御信号SCBが第2論理状態から第1論理状態に転移される。この時、第2遅延時間tD2は、スリープモード時にチャージされた仮想接地電圧VGNDラインの電荷を完全放電するまでにかかる時間であって、全体の仮想接地ネックワークのRC時定数を考慮して決定される。
本発明は、図面に示された一実施例を参考として説明されたが、これは例示的なものに過ぎず、当業者ならば、これから多様な変形及び均等な他の実施例が可能であることが分かる。したがって、本発明の真の技術的保護範囲は、特許請求の範囲の技術的思想によって決定されなければならない。
本発明によるMTCMOSによれば、低電力を利用した集積回路に利用され、多様なLSIまたはメモリ半導体装置に使用されうる。
一般的なMTCMOS装置の構造を示すブロック図である。 図1のCPFFについての一実施例を示す回路である。 本実施形態によるMTCMOS装置の制御回路を示すブロック図である。 本実施形態によるMTCMOSの初期化に必要な初期化制御回路のブロック図である。 本実施形態によるタイミング制御回路の入出力信号を示すタイミング図である。 図5の動作のための本発明の一実施形態によるタイミング制御回路を示す回路図である。 図5の動作のための本発明の他の実施形態によるタイミング制御回路を示す回路図である。
符号の説明
102 論理部
104 MOSスイッチ
106 CPFF
108 PMB
300 MTCOMOS制御回路
302 初期化制御回路
304 タイミング制御回路
EXTWKU,RTCWKU,STOP_ON 内部制御信号
SC 第1制御信号
SCB 第2制御信号
GND 接地電圧
VDD 電源電圧
VGND 仮想接地電圧

Claims (10)

  1. 論理回路部と、スイッチング部と、フリップフロップ部と、
    MTCMOS装置の全体電力を調節する制御回路を含む電力調節部と、を有し、
    前記制御回路は、第1制御信号及び第2制御信号を生成し、
    前記スイッチング部は、前記第1制御信号に応答する相対的に高いしきい電圧であり、
    前記論理回路部は、相対的に低いしきい電圧であり、
    前記フリップフロップは、前記第2制御信号に応答して前記低いしきい電圧の論理回路部のデータを保存し、
    前記制御回路は、初期化に必要な初期化制御回路と、スリープモードと活性モードの転換時に必要なタイミング制御回路を含み、
    前記制御回路は、
    MTCMOS装置が活性モードからスリープモードに変更される時、前記第2制御信号の論理状態を第1論理状態から第2論理状態に転換し、所定の遅延時間tD1後、前記第1制御信号の論理状態を前記第2論理状態から前記第1論理状態に転換し、
    前記MTCMOS装置が前記スリープモードから前記活性モードに変更される時、前記第1制御信号の論理状態を前記第1論理状態から前記第2論理状態に転換し、前記tD1とは異なる所定の遅延時間tD2後、前記第2制御信号の論理状態を前記第2論理状態から前記第1論理状態に転換させる、ことを特徴とするMTCMOS装置。
  2. 前記制御回路は、所定のウェークアップ信号EXTWKU,RTCWKUに応答して前記MTCMOS装置をスリープモードから活性モードに転換させ、所定の停止信号STOP_ONに応答して前記MTCMOS装置を前記活性モードから前記スリープモードに転換させることを特徴とする請求項1に記載のMTCMOS装置。
  3. 前記第1制御信号は、前記第2論理状態である時に前記電流制御スイッチをターンオンさせ、前記第1論理状態である時に前記電流制御スイッチをターンオフさせ、
    前記第2制御信号は、前記第2論理状態である時に前記フリップフロップ部を通じて前記論理回路部のデータを保存し、前記第1論理状態である時に前記フリップフロップ部をディセーブルさせることを特徴とする請求項1に記載のMTCMOS装置。
  4. 前記制御回路は、
    外部の停止信号STOP_ONを入力される第1バッファと、
    前記第1バッファから出力された信号を遅延させる第1遅延回路と、
    外部の第1ウェークアップ信号EXTWKUと第2ウェークアップ信号RTCWKUとを入力される第1ORゲートと、
    前記第1ORゲートから出力された信号を受ける第1インバータと、
    前記第1インバータから出力された信号を遅延させる第2遅延回路と、
    前記第1インバータの出力信号、前記停止信号STOP_ON及び前記第1遅延回路の出力信号を入力されて1つ以上の論理動作を行って、前記第1制御信号を出力する第1制御信号出力部と、
    前記第1バッファの出力信号、前記停止信号及び前記第2遅延回路の出力信号を入力されて1つ以上の論理動作を行って、前記第2制御信号を出力する第2制御信号出力部と、を含むことを特徴とする請求項1に記載のMTCMOS装置。
  5. 前記第1遅延回路は、1つのフリップフロップを含み、
    前記第2遅延回路は、直列に連結された複数のフリップフロップを含むことを特徴とする請求項4に記載のMTCMOS装置。
  6. 前記第1制御信号出力部は、
    前記停止信号及び前記第1遅延回路の出力信号を入力される第1ANDゲートと、
    前記第1ANDゲートの出力信号及び前記第1インバータの出力信号を入力される第1NANDゲートと、
    前記第1NANDゲートの出力信号及び所定の2つの制御信号を入力されて第1制御信号を出力する第2ORゲートと、を含むことを特徴とする請求項4又は5に記載のMTCMOS装置。
  7. 前記第2制御信号出力部は、
    前記停止信号及び前記第1バッファの出力信号を入力される第2ANDゲートと、
    前記第2ANDゲートの出力信号及び前記第2遅延回路の出力信号を入力される第3ANDゲートと、
    前記第3ANDゲートの出力信号及び所定の2つの制御信号を入力されて第2制御信号を出力する第4ANDゲートと、を含むことを特徴とする請求項4又は5に記載のMTCMOS装置。
  8. 第1制御信号に応答する相対的に高いしきい電圧のスイッチング部と、相対的に低い
    しきい電圧の論理回路と、第2制御信号に応答して前記低いしきい電圧の論理回路部
    データを保存するフリップフロップと、MTCMOS装置の全体電力を調節する制御回路を含む電力調節部と、を有し、前記制御回路は、第1制御信号及び第2制御信号を生成し、前記制御回路は、初期化に必要な初期化制御回路と、スリープモードと活性モードの転換時に必要なタイミング制御回路を含むMTCMOS装置の制御方法において、
    前記MTCMOS装置のスリープモードへの進入に応答して、前記第2制御信号の論理
    状態を転換し、第1遅延後、前記第1制御信号の論理状態を転換する段階と、
    前記MTCMOS装置の活性モードへの進入に応答して、前記第1制御信号の論理状態
    を転換し、前記第1遅延とは異なる第2遅延後、前記第2制御信号の論理状態を転換する
    段階と、を有することを特徴とするMTCMOS装置の制御方法。
  9. 前記第2遅延は、前記第1遅延より長いことを特徴とする請求項8に記載のMTCMOS装置の制御方法。
  10. 前記MTCMOS装置のスリープモードへの進入に応答して、前記第2制御信号の論理状態を転換し、第1遅延後、前記第1制御信号の論理状態を転換する段階では、前記MTCMOS装置のスリープモードへの進入に応答して、前記第2制御信号の論理状態を第1論理状態から第2論理状態に転換し、前記第1遅延後、前記第1制御信号の論理状態を前記第2論理状態から前記第1論理状態に転換し、
    前記MTCMOS装置の活性モードへの進入に応答して、前記第1制御信号の論理状態を転換し、前記第1遅延とは異なる第2遅延後、前記第2制御信号の論理状態を転換する段階では、前記MTCMOS装置の活性モードへの進入に応答して、前記第1制御信号の論理状態を前記第1論理状態から前記第2論理状態に転換し、前記第1遅延とは異なる前記第2遅延後、前記第2制御信号の論理状態を前記第2論理状態から前記第1論理状態に転換することを特徴とする請求項8に記載のMTCMOS装置の制御方法。
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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101045295B1 (ko) 2004-04-29 2011-06-29 삼성전자주식회사 Mtcmos 플립-플롭, 그를 포함하는 mtcmos회로, 및 그 생성 방법
KR100564634B1 (ko) * 2004-10-08 2006-03-28 삼성전자주식회사 단락전류 방지회로를 구비한 mtcmos 회로 시스템
EP1834406A1 (en) * 2004-11-30 2007-09-19 Freescale Semiconductor Inc. Apparatus and method for reducing power consumption using selective power gating
US20060273391A1 (en) * 2005-06-01 2006-12-07 Diaz Carlos H CMOS devices for low power integrated circuits
US7391233B1 (en) * 2007-10-30 2008-06-24 International Business Machines Corporation Method and apparatus for extending lifetime reliability of digital logic devices through removal of aging mechanisms
US7391232B1 (en) * 2007-10-30 2008-06-24 International Business Machines Corporation Method and apparatus for extending lifetime reliability of digital logic devices through reversal of aging mechanisms
KR101477512B1 (ko) * 2008-03-18 2014-12-31 삼성전자주식회사 액티브 클럭 쉴딩 구조의 회로 및 이를 포함하는 반도체집적 회로
KR101003153B1 (ko) * 2009-05-15 2010-12-21 주식회사 하이닉스반도체 전압 안정화 회로 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치
US8026741B2 (en) * 2009-07-31 2011-09-27 Apple Inc. CMOS circuitry with mixed transistor parameters
US7977972B2 (en) * 2009-08-07 2011-07-12 The Board Of Trustees Of The University Of Arkansas Ultra-low power multi-threshold asynchronous circuit design
US8736332B2 (en) 2009-12-17 2014-05-27 Lsi Corporation Leakage current reduction in a sequential circuit
US8390331B2 (en) * 2009-12-29 2013-03-05 Nxp B.V. Flexible CMOS library architecture for leakage power and variability reduction
US8738940B2 (en) 2011-09-06 2014-05-27 Lsi Corporation Power controller for SoC power gating applications
US8669800B2 (en) * 2012-02-24 2014-03-11 International Business Machines Corporation Implementing power saving self powering down latch structure
US9094013B2 (en) 2013-05-24 2015-07-28 The Board Of Trustees Of The University Of Arkansas Single component sleep-convention logic (SCL) modules
US9287858B1 (en) 2014-09-03 2016-03-15 Texas Instruments Incorporated Low leakage shadow latch-based multi-threshold CMOS sequential circuit
WO2016118183A1 (en) 2015-01-24 2016-07-28 Schober Susan Marya Passive phased injection locked circuit
CA3031736A1 (en) 2015-07-29 2017-02-02 Circuit Seed, Llc Complementary current field-effect transistor devices and amplifiers
CN108141181A (zh) * 2015-07-30 2018-06-08 电路种子有限责任公司 多级式且前馈补偿的互补电流场效应晶体管放大器
WO2017019978A1 (en) 2015-07-30 2017-02-02 Circuit Seed, Llc Low noise trans-impedance amplifiers based on complementary current field-effect transistor devices
WO2017019981A1 (en) 2015-07-30 2017-02-02 Circuit Seed, Llc Reference generator and current source transistor based on complementary current field-effect transistor devices
CA3043989A1 (en) 2015-12-14 2017-06-22 Circuit Seed, Llc Super-saturation current field effect transistor and trans-impedance mos device
KR102420005B1 (ko) * 2017-12-21 2022-07-12 에스케이하이닉스 주식회사 파워 게이팅 제어 회로

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW334532B (en) 1996-07-05 1998-06-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd The inspection system of semiconductor IC and the method of generation
TW365007B (en) 1996-12-27 1999-07-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Driving method of semiconductor integrated circuit and the semiconductor integrated circuit
JP3856892B2 (ja) * 1997-03-03 2006-12-13 日本電信電話株式会社 自己同期型パイプラインデータパス回路および非同期信号制御回路
JPH10261946A (ja) * 1997-03-19 1998-09-29 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
JPH11112297A (ja) * 1997-10-06 1999-04-23 Nec Corp ラッチ回路及びこのラッチ回路を有する半導体集積回路
WO1999066640A1 (en) 1998-06-18 1999-12-23 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit
JP3878431B2 (ja) * 2000-06-16 2007-02-07 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
JP3727838B2 (ja) * 2000-09-27 2005-12-21 株式会社東芝 半導体集積回路
JP3864248B2 (ja) * 2001-12-17 2006-12-27 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 半導体装置
JP3986393B2 (ja) * 2002-08-27 2007-10-03 富士通株式会社 不揮発性データ記憶回路を有する集積回路装置

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