JP4994008B2 - 窒素酸化物および金属水銀を含む排ガスの浄化装置 - Google Patents

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本発明は排ガス浄化装置に係り、特に石炭排ガス中の窒素酸化物(NOx)のNHによる還元と排ガス中の金属水銀の酸化とを行う排ガス浄化装置に関する。
近年、米国やECでは、発電所、各種工場、自動車などから排出される排煙中に含まれるNOxやSOxなどに加えて、Hg、Pb、Fなどの各種微量成分の排出による健康被害を防止する関心が高まり、排出量を極めて低く規制する動きがある。特に、石炭焚ボイラから排出される水銀は、大半が蒸気圧の高い金属水銀の形で大気中に放出された後、有機水銀の形に変化して魚介類を中心に取り込まれ、人間の健康に影響を与える。水銀は成長期にある幼児の神経に重大な害を与えるため、米国幼児の20%に及ぶ神経異常が水銀被害であると疑う報告もある。このように水銀は人類に重大な影響を与えるため、各方面で排出量の低減に対する努力が行われている。
その代表的なものとして、脱硝触媒或いはその改良品を用いて、排ガス中のNOxをNH還元すると同時に、揮発性の高い金属水銀(元素状水銀、Hg)を塩化水銀などの酸化形態の水銀に酸化した後、後流部にある電気集塵機や脱硫装置で酸化形態の水銀化合物を燃焼灰や石膏と共に除去する方法が挙げられる。これには、酸化チタンに活性成分としてバナジウムやタングステン等の酸化物を活性成分として添加した触媒が用いられている。
上記方法に使用される触媒では、一般に下記(1式)の脱硝反応に比べ、下記(2式)の金属水銀(Hg)の酸化反応に対する活性が低い。更に、必要なHg酸化率が脱硝率より高いことが多いため、これまで脱硝装置として運用してきた場合に比べ多くの触媒が必要になるという問題があった。
NO+NH+1/4・O → N+3/2・HO (1式)
Hg+1/2・O+2・HCl → HgCl+HO (2式)
また、本発明者らの研究によれば、脱硝反応に使用されず残った微量のNHが存在すると(2式)の元素状水銀の酸化反応が抑制され、触媒量を増大した効果を半減するという問題があることが明らかになっている。
一般に、脱硝装置は、必要な脱硝性能から求められるNH(尿素)/NOxモル比より若干高くなるようにNHや尿素を注入して運転され、通常は1以下である。例えば、脱硝率80%で運転している脱硝触媒層内に於けるNOxとNHの濃度変化には次の様な大きな特色がある。
・NH濃度は触媒層入り口から急激に低下する。
・NOx濃度低下(脱硝率)が80%近くになる中間部以降は、NH濃度は数ppmと低いが、NH濃度の低下速度が極めて小さい。
一方、前述したように脱硝触媒の脱硝反応速度に比べ、Hgの酸化速度は遅く、且つ通常高いHg酸化率が要求される。このため、脱硝触媒の後流部に水銀酸化用に触媒を追加した形で運用されている。そうすると追加触媒部分は、次のような状態にあると言える。
・追加触媒部分は脱硝反応には殆ど寄与しない。
・NH濃度も漸減するが、依然高い値が維持される。
他方、本発明者等がHg酸化率の向上に対して鋭意検討した結果、Hg酸化反応はNHが存在すると阻害され、低いHg酸化率しか得られないと言うことを発見するに至った。即ち、脱硝触媒の後流部にHg酸化率向上用に触媒を追加した場合、その部分は脱硝反応には殆ど寄与しないだけではなく、図2に示すように、僅かに残存するNHによってHg酸化率が抑制され、触媒の追加効果が期待したようには得られない。
特許文献1には、この問題に対応して、脱硝装置と湿式脱硫装置の間に、該脱硝装置出口から流下するNHを分解するNH分解触媒と、該NH分解触媒の後流に水銀を塩化水銀に酸化する水銀酸化触媒とが設置されており、塩化水銀に酸化された水銀を前記湿式脱硫装置にて除去する技術が開示されている。
特開2004−237244号公報
前記特許文献1に開示された技術においては、NH分解触媒として、TiO2,SiO2,ZrO2,Al2O3,およびゼオライトからなる群より選ばれる少なくとも1種類を担体として、該担体上に、Pt,Ru,Rh,Pd,Ir,V,W,Mo,Ni,Co,Fe,Cr,CuおよびMnからなる群より選ばれる少なくとも1種類を活性成分として担持したものが用いられている。
しかし、本発明者らの知見によれば、このような触媒では、NHの分解生成物であるNO、NO、NOなどが副生し、NHの消費量の増加や脱硝率の低下を若干ではあるが引き起こすことが判明した。
本発明が解決しようとする課題は、上記従来技術の問題点を解消し、少ない触媒量で高い脱硝性能とHg酸化性能とを達成できる排ガスの浄化装置を提供することである。
上記課題は、排ガス中に還元剤を注入後、触媒充填層に導き、排ガス中に含有される窒素酸化物を還元すると共に排ガス中に含有される金属水銀を酸化する排ガス浄化装置であって、前記触媒充填層が排ガス入り口部から第1層、第2層、及び第3層の順に構成され、前記第1層の触媒は、NHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を塩化水銀に酸化する活性とを有する成分からなり、前記第2層の触媒は、NHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を塩化水銀に酸化する活性とを有する成分を第1成分、NHの酸化分解活性を有する成分を第2成分として両者を含有し、前記第3層の触媒は、前記第1層もしくは前記第2層と同一の触媒を含んでなる排ガス浄化装置により、解決される。この場合において、前記第2層の触媒は、触媒表面が前記還元剤であるNH もしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を酸化する活性とを有する成分で被覆されてなることが好ましい。
NHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を塩化水銀に酸化する活性とを有する成分としては、チタンとバナジウムの酸化物から成るか、チタン、バナジウム、及びモリブデン或いはタングステンの酸化物から成るものとするのが望ましい。
また、NHの酸化分解活性を有する触媒成分としては、貴金属がゼオライト、或いはシリカの無機多孔質担体に担持されたものとするのが望ましい。
本発明は、脱硝反応に殆ど寄与しない部分のNH濃度を低下させ、Hg酸化率を高めようとする思想の基に完成したものである。具体的には、脱硝への寄与が少なくなった触媒層部分にNH分解活性を有する脱硝触媒層II(第2層)を設けてNHを分解し、その後流部分ではNHによるHg酸化反応の阻害を防止しようとするものであり、これにより脱硝反応に殆ど寄与しない多くの部分の触媒を有効にHg酸化に使うことができるようになる。
脱硝触媒層II(第2層)の触媒表面が、NHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を酸化する活性とを有する成分で被覆されることにより、前述の貴金属の悪影響を無くすことが可能になる。
上記課題はまた、排ガス中に還元剤を注入後、触媒充填層に導き、排ガス中に含有される窒素酸化物を還元すると共に排ガス中に含有される金属水銀を酸化する排ガス浄化装置であって、前記触媒充填層が排ガス入り口部から第1層、第2層、及び第3層の順に構成され、前記第1層及び第3層の触媒は、NHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を塩化水銀に酸化する活性とを有する成分からなり、前記第2層の触媒は、NHの酸化分解活性を有する成分を含有してなる排ガス浄化装置によっても解決される。
上記課題はさらに排ガス中に還元剤を注入後、触媒充填層に導き、排ガス中に含有される窒素酸化物を還元すると共に排ガス中に含有される金属水銀を酸化する排ガス浄化装置であって、前記触媒充填層が排ガス入り口部から第1層、第2層、及び第3層の順に構成され、前記第1層の触媒は、NHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を塩化水銀に酸化する活性とを有する成分からなり、前記第2層の触媒は、NHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を塩化水銀に酸化する活性とを有する成分を第1成分、NHの酸化分解活性を有する成分を第2成分として両者を含有し、前記第3層の触媒は、前記第1層もしくは前記第2層と同一の触媒を含んでなる排ガス浄化装置によっても解決される。
ボイラ排ガスから排出される水銀の大半は、蒸気圧が高く且つ反応性が乏しい金属水銀(元素状水銀)であり、集塵機や脱硫装置などで殆ど捕集されず大気に放出される。本発明により、脱硝触媒層で脱硝を行うと同時に、金属水銀を後流機器で捕集されやすい酸化水銀に効率良く酸化することが可能になる。
従来技術では未反応NHにより、触媒量を増加しても、その増加分に見合ったHgの酸化活性が得られなかったが、本発明では触媒増加に見合っただけの高い値が得られ、同一水銀酸化率を得る場合の触媒量を低減することができる。
以下、図1を参照して本発明の実施の形態を説明する。図1は、本発明の実施の形態に係る排ガス浄化装置の触媒の配置を、排ガスの流れ方向に沿う断面で模式的に示している。
本実施の形態に係る排ガス浄化装置においては、触媒は、排ガスの流れ方向上流側から、順次配置された1,2,3の触媒層から構成され、1は触媒層I(第1層)、2は触媒層II(第2層)、3は触媒層III(第3層)である。
触媒層I(第1層)には、脱硝反応活性と金属水銀(元素状水銀)の酸化活性を有する触媒成分を、板状、ハニカム状、或いは粒状に成型したものが使用される。脱硝反応とHg酸化反応には平行関係が存在するため、その成分には公知の脱硝触媒成分を用いることができるが、チタン(Ti)とバナジウム(V)の酸化物から成るか、チタン(Ti)、バナジウム(V)、及びモリブデン(Mo)或いはタングステン(W)の酸化物から成るものを触媒成分とすると、脱硝率、元素状水銀の酸化活性共に高いものが得やすい。
触媒層II(第2層)の触媒には、触媒層Iに用いた触媒成分に、NHの酸化分解活性を有する触媒として、ゼオライト、多孔質シリカなどの多孔質担体にPt、Pd、Irなどの貴金属を担持した成分を添加したものが使用される。本成分を単独で用いることも出来るが、その場合にはNHの分解生成物であるNO、NO、NOなどが副生し、NHの消費量の増加や脱硝率の低下を若干ではあるが引き起こす。これを防止するため、貴金属担持触媒成分と触媒層Iの成分とを物理的な混合状態を維持して成形したものを触媒に用い、さらに、その表面に触媒層Iの成分であるTi-W-V或いはTi-Mo-V成分などのV含有量を高く選定した成分をコーティング法により被覆した。これにより貴金属の悪影響を無くすことが可能になる。通常、貴金属成分にはPtを選定し、これらを公知の方法でゼオライトやシリカ担体に担持すればよい。担持量としては0.01〜1wt%、脱硝触媒成分と併用する場合には、全体の貴金属濃度として0を超えて100ppm以下になるように添加すると好結果を与えやすい。貴金属量は少なすぎるとNHの分解が不十分であり、多すぎるとSOをSOに酸化する割合が高くなり、後流機器に悪影響を与える。
触媒層III(第3層)は、触媒層Iと同じであってもよいが、よりHg酸化活性を高めるため、V含有量を増加したのや、他の助触媒成分を添加したものであってもよい。また、貴金属量が低くSO酸化による悪影響が問題にならなければ、NHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と元素状水銀(金属水銀)を酸化状水銀に酸化する活性とを有する成分を第1成分、NHの酸化分解活性を有する成分を第2成分として両者を含有する触媒や、その上に窒素酸化物の還元活性と元素状水銀(金属水銀)を酸化状水銀に酸化する活性とを有する成分を被覆した触媒層IIと同じ物であってもよい。触媒層IIIの部分では、NHは既に存在せず貴金属の存在は必要ではないが、製造すべき触媒種類の低減や触媒充填時の煩雑さを軽減する効果がある。
触媒層IIの全体に対する割合は、貴金属の添加量にもよるが触媒全体の10〜30%に選定すると好結果を与えるが、上記したように、触媒層IIIも触媒層IIと同じであってもよく、その場合には50%以上が触媒層IIの成分が占める場合もある。この場合は同一脱硝率を得る時のNH消費量が僅かに増加したり、上述のSOのSOへの酸化割合が増大したりする等の悪影響はあるものの、NH分解が進みやすく、Hg酸化率へのNHの影響を完全になくすることができるというメリットがある。
以下具体例を用いて本発明の実施の形態を詳細に説明する。
<触媒調製例>
触媒調製例
酸化チタン(石原産業製、比表面積90m/g)12kg、メタタングステン酸アンモニウム4.25kg(粉末状,WOとして93%)、シリカゾル(日産化学製,OSゾル)4kgと水をニーダに入れて20分混練後、メタバナジン酸アンモニウム70gを添加して20分混練し、さらに、シリカアルミナ系セラミック繊維(東芝ファインフレックス)3.2kgを徐々に添加しながら30分間混練して水分27%の触媒ペーストを得た。得られたペーストを厚さ0.2mmのSUS430製鋼板をメタルラス加工した厚さ0.7mmの基材の上におき、これを二枚のポリエチレンシートに挟んで一対の加圧ローラを通して、メタルラス基材の網目を埋める様に塗布した。これを風乾後、500℃で2時間焼成して触媒層I及び触媒層IIIに用いる触媒を得た。
触媒調製例
触媒調製例1の触媒に於けるメタタングステン酸アンモニウムを三酸化モリブデン(MoO)に変え、他は同様にして触媒層I及びIIIの触媒を調製した。
触媒調製例
チタニア(比表面積90m/g、石原産業製)100gに水を200g加えたものに、Pt含有量8%のジニトロジアンミン白金溶液を6.25g添加後、砂浴上で加熱して蒸発乾固、得られた塊状物を500℃で焼成、ハンマーミル粉砕して触媒粉末を得た。本粉末70g、低表面積チタニア(石原産業製CR50)30g、シリカゾル(SiO:20wt%)100g、水200gとを混合し触媒スラリを調製した。
これとは別に、酸化チタン(石原産業製、比表面積290m/g)12kg、シリカゾル(日産化学製,OSゾル)3.6kgと水をニーダに入れて45分混練後、シリカアルミナ系セラミック繊維(東芝ファインフレックス)2.4kgを徐々に添加しながら30分間混練して水分34%の触媒ペーストを得た。得られたペーストを厚さ0.2mmのSUS430製鋼板をメタルラス加工して厚さ0.7mmの基材の上に置き、これを一対の加圧ローラを通して、メタルラス基材の網目間及び表面に塗布した。これを風乾後、500℃で2時間焼成して板状触媒担体を得た。
上記触媒担体を100mm角の大きさに切断後、先に調製した触媒スラリに浸漬後直ちに取り出し、液切り、大気中で風乾、500℃で2時間焼成してPt含有成分が200g/m担持された触媒層II用触媒を得た。
触媒調製例
塩化白金酸(H[PtCl]・6HO)0.665gを水1リットルに溶解したものに、Si/Al原子比が約21、平均粒径約10μmのH型モルデナイト500gを加え砂浴上で蒸発乾固してPtを担持した。これを180℃で2時間乾燥後、空気中で500℃で2時間焼成し0.05wt%Pt−モルデナイトを調製した。
一方、酸化チタン(石原産業製、比表面積90m/g)12kg、メタタングステン酸アンモニウム4.25kg(粉末状,WOとして93%)、シリカゾル(日産化学製,OSゾル)4kgと水をニーダに入れて20分混練後、メタバナジン酸アンモニウム70gを添加して20分混練後、先に調製したPt-モルデナイト粉末を0.35kg添加し更に10分混練し、その後シリカアルミナ系セラミック繊維(東芝ファインフレックス)3.2kgを徐々に添加しながら30分間混練して水分27%の触媒ペーストを得た。得られたペーストを厚さ0.2mmのSUS430製鋼板をメタルラス加工した厚さ0.7mmの基材の上におき、これを二枚のポリエチレンシートに挟んで一対の加圧ローラを通して、メタルラス基材の網目を埋める様に塗布した。これを風乾後、500℃で2時間焼成して触媒層II用触媒を得た。
触媒調製例5及び6
酸化チタン粉末(石原産業製、比表面積330g/m)20kgにパラタングステン酸アンモニウム((NH1010・W1246・6HO)3.59kg及びメタバナジン酸アンモン2.0kgを加え加熱ニーダを用いて水を蒸発させながら混練し水分約36%のペーストを得た。これを3¢の柱状に押し出し造粒後流動層乾燥機で乾燥し、次に大気中500℃で2時間焼成した。得られた顆粒をハンマーミルで1μmの粒径が60%以上に粉砕し、脱硝活性とHg酸化活性を有する触媒粉末を得た。
上記触媒粉末250gとシリカゾル(日産化学製,OSゾル)500g、及び水を250g混合したスラリを調製した。本スラリ中に、先に触媒調製例3及び触媒調製例4で調製した触媒を100mm角に切断したテストピースを浸漬し、液切りし、風乾し、500℃で2時間焼成し、表面に脱硝活性とHg酸化活性を併せ持つ触媒成分が80g/m担持された触媒を調製して、それぞれ触媒調製例5及び触媒調製例6を得た。
触媒調製比較例
触媒調製例3におけるPtを含む触媒成分のコーティングを行わないで、触媒調製比較例の触媒を調製した。
<反応例>
上記触媒調製例に示す触媒を用い、触媒調製例の組み合わせを変えて、本実施の形態の第1層、第2層、第3層からなる触媒層を構成した実施例1〜5について、表1の条件で反応を行わせ、下記に述べる試験を行った。
Figure 0004994008


実施例1
本実施例の第1層〜第3層の触媒の組み合わせは下記のとおりであり、表1の条件で反応を行わせ、化学発光(ケミルミ)法で脱硝率を測定すると共に、酸化状態になった水銀蒸気をJIS K−0222に準拠してリン酸緩衝液で吸収後日本インスツルメント製原子吸光装置で分析して金属水銀の何%が酸化状態になったかを測定した。
第1層触媒:触媒調製例1の触媒、20mm幅×80mm長、3枚
第2層触媒:触媒調製例3の触媒、20mm幅×40mm長、3枚
第3層触媒:触媒調製例1の触媒、20mm幅×80mm長、3枚
実施例
実施例1における第1層と第3層の触媒を、触媒調製例1の触媒から触媒調製例2の触媒に変更して、実施例1と同様の方法により脱硝率と水銀酸化率を求めた。
実施例
本実施例の第1層〜第3層の触媒の組み合わせは下記のとおりであり、表1の条件で反応を行わせ、実施例1と同様の方法により脱硝率と水銀酸化率を求めた。
第1層触媒:触媒調製例1の触媒、20mm幅×70mm長、3枚
第2層触媒:触媒調製例4の触媒、20mm幅×65mm長、3枚
第3層触媒:触媒調製例1の触媒、20mm幅×65mm長、3枚
実施例
本実施例の第1層〜第3層の触媒の組み合わせは下記のとおりであり、表1の条件で反応を行わせ、実施例1と同様の方法により脱硝率と水銀酸化率を求めた。
第1層触媒:触媒調製例1の触媒、20mm幅×70mm長、3枚
第2層触媒:触媒調製例5の触媒、20mm幅×65mm長、3枚
第3層触媒:触媒調製例5の触媒、20mm幅×65mm長、3枚
実施例
本実施例の第1層〜第3層の触媒の組み合わせは下記のとおりであり、表1の条件で反応を行わせ、実施例1と同様の方法により脱硝率と水銀酸化率を求めた。
第1層触媒:触媒調製例1の触媒、20mm幅×70mm長、3枚
第2層触媒:触媒調製例6の触媒、20mm幅×65mm長、3枚
第3層触媒:触媒調製例6の触媒、20mm幅×65mm長、3枚
比較例
実施例1に於ける第2層触媒を、同寸法に切り出した触媒調製比較例の触媒に変え、他は同様にして脱硝率とHg酸化率とを求めた。
比較例
触媒調製例1の触媒を20mm幅×200mm長に切り出したものを3枚用いて触媒層を構成し、実施例1と同様にして脱硝率と水銀酸化率を求めた。
実施例1〜5および比較例1,2について得られた試験結果を表2にまとめて示した。
Figure 0004994008


表2から明らかなように、実施例1〜5の触媒層構成で反応を行わせたものは、脱硝性能、金属水銀の酸化率は何れも高い値が得られている。このように本願発明の実施の形態によれば、脱硝性能を高く維持しつつ、Hg酸化率を大きく改善できた。
脱硝反応および水銀酸化反応は表面反応であるため、酸化触媒表面に、NHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を酸化する活性とを有する成分が被覆された触媒を第2層とすると、より両者の活性を高めることができるのである。
本発明の実施の形態に係る触媒層の配置を模式的に示すとともに、NH及びNOxの濃度変化を示す概念図である。 NH濃度と金属水銀酸化活性の関係の例を示すグラフである。
1 触媒層I(第1層)
2 触媒層II(第2層)
3 触媒層III(第3層)

Claims (2)

  1. 排ガス中に還元剤を注入後、触媒充填層に導き、排ガス中に含有される窒素酸化物を還元すると共に排ガス中に含有される金属水銀を酸化する排ガス浄化装置であって、前記触媒充填層が排ガス入り口部から第1層、第2層、及び第3層の順に構成され、
    前記第1層の触媒は、前記還元剤であるNHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を塩化水銀に酸化する活性とを有する成分からなり、該成分は、チタンとバナジウムの酸化物、チタン、バナジウム及びモリブデンの酸化物、或いはチタン、バナジウム及びタングステンの酸化物であり、
    前記第2層の触媒は、前記還元剤であるNHもしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を塩化水銀に酸化する活性とを有する成分を第1成分、NHの酸化分解活性を有する成分を第2成分として両者を含有し、触媒表面が前記還元剤であるNH もしくはその前駆体による窒素酸化物の還元活性と金属水銀を酸化する活性とを有する成分で被覆されてなり、
    前記第3層の触媒は、前記第1層もしくは前記第2層と同一の触媒を含んでなる排ガス浄化装置。
  2. 請求項1に記載の排ガス浄化装置において、
    前記第2層の触媒に含有される前記第2成分は、貴金属がゼオライト、或いはシリカの無機多孔質担体に担持されたものであることを特徴とする排ガス浄化装置。
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