JP4981714B2 - Test equipment - Google Patents
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Description
本発明は、固体撮像装置の画質テストを行うためのテストチャート及びその使用法、チャート盤、並びにテスト装置に関する。 The present invention relates to a test chart for performing an image quality test of a solid-state imaging device, a method for using the test chart, a chart board, and a test apparatus.
デジタルスチルカメラ、カメラ付携帯電話、監視カメラ等の普及に伴い、これらに使用される固体撮像装置の需要が増大し、生産数量も増加している。 With the widespread use of digital still cameras, mobile phones with cameras, surveillance cameras, etc., the demand for solid-state imaging devices used for them has increased, and the production volume has also increased.
固体撮像装置の製造工程では、固体撮像装置でテストチャートを撮像して画質のテストが行われる。この画質テストは、従来、図１９に示すような楔形のテストチャートが用いられる。このチャートは、下記非特許文献１に記載された規格に基づいて作成されたものである。 In the manufacturing process of the solid-state imaging device, a test chart is imaged by the solid-state imaging device and an image quality test is performed. Conventionally, a wedge-shaped test chart as shown in FIG. 19 is used for this image quality test. This chart is created based on the standard described in Non-Patent Document 1 below.
図１９に示すテストチャートを用いて画質のテストを行う場合、まず固体撮像装置でテストチャートを撮像した後、水平方向（図１９内のＸ方向）に１ラインのコントラスト判定を行う。そして、コントラスト判定ができた場合には１ライン垂直方向（Ｙ方向）に移動して再度水平方向のコントラスト判定を行う。以下、コントラスト判定ができなくなるか、最終ラインまでコントラスト判定が行われた時点で判定処理を終了し、判定結果に基づいて解像度を求出する。 When the image quality test is performed using the test chart shown in FIG. 19, first, the test chart is imaged by the solid-state imaging device, and then one line of contrast is determined in the horizontal direction (X direction in FIG. 19). If the contrast is determined, the line is moved in the vertical direction (Y direction) and the contrast is determined again in the horizontal direction. Thereafter, the determination process is terminated when the contrast determination cannot be performed or the contrast determination is performed up to the final line, and the resolution is obtained based on the determination result.
従来のテストチャートを用いる場合には、前記ＣＩＰＡによって定められた設置条件に従って設置されたテストチャートを撮像装置で撮像し、その撮像結果に基づいて演算処理を行って解像度を求出する必要がある。より具体的には、図２０（ａ）に示すように、視野角範囲の四隅及び中央部に楔形のチャート図形を配することが要求されるため、視野角領域が構成する面積に近いテストチャートが必要となる。例えば、撮像装置（カメラモジュール）とテストチャートとの距離を５０ｃｍ、水平画角を５３°とすると、略５０ｃｍ四方のテストチャートが必要となる。 When using a conventional test chart, it is necessary to image a test chart installed in accordance with the installation conditions determined by the CIPA with an imaging device, and obtain a resolution by performing arithmetic processing based on the imaging result. . More specifically, as shown in FIG. 20A, since it is required to arrange wedge-shaped chart figures at the four corners and the center of the viewing angle range, the test chart close to the area formed by the viewing angle region. Is required. For example, if the distance between the imaging device (camera module) and the test chart is 50 cm and the horizontal angle of view is 53 °, a test chart of approximately 50 cm square is required.
従って、仮に複数のカメラモジュールを同時にテストすることを想定した場合には、図２０（ｂ）に示すように、テストチャートの占有幅が同時にテストを行う対象モジュール数に比例して大きくなり、テストチャートの面積はこの対象モジュール数の２乗に比例して大きくなる。このように大型のテストチャートを撮像するに際しては、大型のテスト装置が必要となるため、従来は各モジュール毎にテストを実行していた。このため、テストに時間がかかり、近年の生産数量増加に対応するのが困難となっていた。 Therefore, if it is assumed that a plurality of camera modules are tested simultaneously, as shown in FIG. 20B, the test chart occupancy width increases in proportion to the number of target modules to be tested at the same time. The area of the chart increases in proportion to the square of the number of target modules. Thus, when imaging a large test chart, a large test apparatus is required, and thus a test has been conventionally performed for each module. For this reason, the test takes time, and it has been difficult to cope with the recent increase in production quantity.
本発明は、上記の問題点に鑑み、従来と比較して小型の固体撮像装置用テストチャートを提供することを目的とする。又、本発明は、このようなテストチャートの使用方法、及びテストチャートを備えるチャート盤、並びにテスト装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a test chart for a solid-state imaging device that is smaller than the conventional one. Another object of the present invention is to provide a method for using such a test chart, a chart board provided with the test chart, and a test apparatus.
上記目的を達成するための本発明に係る固体撮像装置用テストチャートは、背景とは異なる明度の単一の円形パターンから成るチャート図形を備えることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a test chart for a solid-state imaging device according to the present invention comprises a chart figure composed of a single circular pattern having a lightness different from that of the background.
本発明に係る固体撮像装置用テストチャートの上記第１の特徴構成によれば、ＭＴＦ（Modulation Transfer Function）手法を用いて解像度の算出を行うことが可能となる。このため、ＣＩＰＡによって規定された設置条件に従うことなくテストチャートを設置することができる。即ち、撮像装置の視野角範囲内において予めＣＩＰＡによって規定された所定の位置にチャート図形が配置されるようにテストチャートを設置する必要がない。これにより、単独のチャート図形からなるテストチャートの場合には、少なくともチャート図形を撮像装置の視野角範囲内に位置するように設置することで解像度テストが可能となる。このため、テストチャートの小型化が実現できる。又、隣接チャート図形の影響を受けないように所定の間隔を空けさえすれば、テストチャート内に複数のチャート図形を配することができる。このため、少なくとも一のチャート図形が視野角範囲内となるようにテストチャートを設置することで、同時に複数の撮像装置の解像度テストを行うことができ、テスト時間の短縮化が図られる。 According to the first characteristic configuration of the test chart for the solid-state imaging device according to the present invention, it is possible to calculate the resolution using the MTF (Modulation Transfer Function) method. Therefore, the test chart can be installed without following the installation conditions defined by CIPA. That is, it is not necessary to install a test chart so that the chart figure is arranged at a predetermined position defined in advance by CIPA within the viewing angle range of the imaging apparatus. Thereby, in the case of a test chart composed of a single chart graphic, a resolution test can be performed by placing at least the chart graphic within the viewing angle range of the imaging device. For this reason, the test chart can be downsized. In addition, a plurality of chart figures can be arranged in the test chart as long as a predetermined interval is provided so as not to be affected by adjacent chart figures. For this reason, by installing a test chart so that at least one chart figure is within the viewing angle range, it is possible to simultaneously perform a resolution test of a plurality of imaging devices, and shorten the test time.
更に、チャート図形を円形又は同心円状の円環形とすることで、チャートと撮像装置との位置関係に回転角θのズレが生じた場合であっても、解像度測定に影響を及ぼすことがなくなるという効果が得られる。 Furthermore, by making the chart figure into a circular or concentric ring shape, the resolution measurement will not be affected even if the rotational angle θ is shifted in the positional relationship between the chart and the imaging device. An effect is obtained.
又、本発明に係るテストチャートは、上記第１の特徴構成に加えて、同一列に複数の前記チャート図形が配列されたことを第２の特徴とする。 Further, the test chart according to the present invention has a second feature that a plurality of the chart figures are arranged in the same column in addition to the first feature configuration.
本発明に係る固体撮像装置用テストチャートの上記第２の特徴構成によれば、同時に複数の撮像装置の解像度テストを行うことができるため、テスト時間の短縮化が図られる。 According to the second characteristic configuration of the test chart for a solid-state imaging device according to the present invention, since the resolution test of a plurality of imaging devices can be performed simultaneously, the test time can be shortened.
又、本発明に係る固体撮像装置用テストチャートは、上記第２の特徴構成に加えて、テスト対象となる固体撮像装置が備える列方向の画素数をＮ、前記固体撮像装置の前記列方向の画角の最大値をθｍａｘ、前記チャート図形の前記列方向のドットサイズを２ｎ、前記固体撮像装置と前記チャート図形との距離をｄとすると、前記列方向に配列された複数の前記チャート図形の間隔Ｌが数１を充足することを第３の特徴とする。
（数１）
Ｌ≧２（ｎ＋１）・ｄ・ｔａｎ（θｍａｘ／２）／Ｎ
In addition to the second characteristic configuration, the test chart for a solid-state imaging device according to the present invention includes N in the column direction of the solid-state imaging device to be tested, and N in the column direction of the solid-state imaging device. When the maximum value of the angle of view is θ max , the dot size of the chart figure in the column direction is 2 n , and the distance between the solid-state imaging device and the chart figure is d, the plurality of charts arranged in the column direction A third feature is that the interval L between the figures satisfies Equation (1).
(Equation 1)
L ≧ 2 (n + 1) · d · tan (θ max / 2) / N
本発明に係る固体撮像装置用テストチャートの上記第３の特徴構成によれば、隣接チャート図形の影響を受けることなく、視野角範囲内に位置するチャート図形の撮像結果に基づいて解像度テストを行うことができる。これにより、各チャート図形夫々を各撮像装置の視野角範囲内に位置させることで、隣接チャート図形の影響を受けることなく、同時に複数の撮像装置の解像度テストを行うことができる。 According to the third characteristic configuration of the test chart for the solid-state imaging device according to the present invention, the resolution test is performed based on the imaging result of the chart graphic located within the viewing angle range without being affected by the adjacent chart graphic. be able to. Thus, by positioning each chart graphic within the viewing angle range of each imaging device, it is possible to simultaneously perform a resolution test of a plurality of imaging devices without being affected by adjacent chart graphics.
又、本発明に係る固体撮像装置用テストチャートの使用方法は、上記第１〜第３の何れか一の特徴構成を有する同使用方法であって、複数のカメラモジュールの視野角範囲内に少なくとも一の前記チャート図形が配置されるように前記カメラモジュールと前記固体撮像装置用テストチャートの位置関係を調整することを第１の特徴とする。 Further, a method of using the test chart for a solid-state imaging device according to the present invention is the same method of use having any one of the first to third characteristic configurations, and at least within a viewing angle range of a plurality of camera modules. The first feature is that the positional relationship between the camera module and the test chart for the solid-state imaging device is adjusted so that one chart figure is arranged.
又、本発明に係る固体撮像装置用テストチャートは、上記第１の特徴に加えて、前記カメラモジュールによって前記チャート図形を撮像後、前記チャート図形が示す原画像と当該撮像画像の空間周波数を比較することで解像度を認定することを第２の特徴とする。 In addition to the first feature, the test chart for a solid-state imaging device according to the present invention compares the spatial frequency of the captured image with the original image indicated by the chart graphic after imaging the chart graphic by the camera module. The second feature is that the resolution is certified by doing so.
又、本発明に係るチャート盤は、上記第１〜第３の何れか一の特徴構成を有する固体撮像装置用テストチャートを上面に載置し、当該高さ位置の調整が可能に構成されていることを第１の特徴とする。 The chart board according to the present invention is configured such that the test chart for a solid-state imaging device having any one of the first to third characteristic configurations is placed on the upper surface, and the height position can be adjusted. The first characteristic is that
本発明に係るチャート盤の上記第１の特徴構成によれば、異なる焦点距離を有する撮像装置に対しても、テストチャートを変更することなく高さを変えることのみで解像度テストが可能となる。 According to the first characteristic configuration of the chart board according to the present invention, the resolution test can be performed only by changing the height without changing the test chart, even for imaging apparatuses having different focal lengths.
又、本発明に係るチャート盤は、上記第１〜第３の何れか一の特徴構成を有する固体撮像装置用テストチャートを上面に載置し、上方に光を放射する光源を内部に有することを第２の特徴とする。 The chart board according to the present invention has a test chart for a solid-state imaging device having any one of the first to third characteristic configurations placed on the upper surface, and has a light source for emitting light upward. Is the second feature.
本発明に係るチャート盤の上記第２の特徴構成によれば、小型化された各テストチャートの下方から撮像装置に対して光を放射させることができるため、より鮮明な撮像結果を得ることができ、テスト精度を向上させることができる。 According to the second characteristic configuration of the chart board according to the present invention, light can be emitted to the imaging device from below the downsized test charts, so that a clearer imaging result can be obtained. And test accuracy can be improved.
又、本発明に係るテスト装置は、上記第１〜第３の何れか一の特徴構成を有する固体撮像装置用テストチャートと、前記固体撮像装置用テストチャートの前記チャート図形がカメラモジュールの視野角範囲内に位置するように両者を対向させた際、前記カメラモジュールの面の内、前記固体撮像装置用テストチャートと対向する面とは反対側の面に形成された電極に接触可能なコンタクタと、前記コンタクタに電気的に接続され、前記コンタクタを介して前記カメラモジュールから与えられる撮像結果の分析が可能な処理部と、を備えることを第１の特徴とする。 The test apparatus according to the present invention includes a test chart for a solid-state imaging device having any one of the first to third characteristic configurations, and the chart figure of the test chart for the solid-state imaging device is a viewing angle of a camera module. A contactor capable of contacting an electrode formed on a surface opposite to the surface facing the test chart for the solid-state imaging device among the surfaces of the camera module when facing the two so as to be positioned within a range; And a processing unit electrically connected to the contactor and capable of analyzing an imaging result given from the camera module via the contactor.
本発明に係るテスト装置の上記第１の特徴構成によれば、小型化されたテストチャートを用いてカメラモジュールのテストを実行することができる。 According to the first characteristic configuration of the test apparatus according to the present invention, the test of the camera module can be executed using the downsized test chart.
又、本発明に係るテスト装置は、上記第１の特徴構成に加えて、被収容物の挿嵌方向に貫通した空隙を有する収容部を複数備えたトレイを備え、複数の前記カメラモジュールが複数の前記収容部内に夫々収容された状態の下で、少なくとも一の前記チャート図形を複数の前記カメラモジュールの視野角範囲内に設置可能に構成されていることを第２の特徴とする。 In addition to the first characteristic configuration, the test apparatus according to the present invention includes a tray including a plurality of accommodating portions having gaps penetrating in the insertion direction of the object to be accommodated, and the plurality of camera modules are plural. The second feature is that at least one of the chart figures can be installed within a viewing angle range of the plurality of camera modules in a state of being housed in the housing portion.
本発明に係るテスト装置の上記第２の特徴構成によれば、トレイの各収容部内にカメラモジュールを搭載した状態で、複数のカメラモジュールによってテストチャートを撮像し、コンタクタを介して送出された撮像結果が処理部によって分析されることで、視野角範囲内に前記チャート図形が位置している複数のカメラモジュールに対して、一時に画像テストを行うことができる。このため、従来よりもテスト時間が大幅に短縮される。 According to the second characteristic configuration of the test apparatus according to the present invention, a test chart is imaged by a plurality of camera modules in a state where the camera module is mounted in each accommodating portion of the tray, and the image is sent out via the contactor. By analyzing the result by the processing unit, it is possible to perform an image test at a time for a plurality of camera modules in which the chart figure is located within the viewing angle range. For this reason, the test time is significantly shortened as compared with the prior art.
又、カメラモジュールが収容されるトレイは、挿嵌方向に貫通した空隙を有して形成されているため、主面側に形成された撮像素子をテストチャートに対向させつつ、裏面側に形成された電極とコンタクタとを電気的に接続させることが可能となる。これにより、カメラモジュールをトレイに収容したままの状態でテストを行うことができるため、カメラモジュールを個々に搬送しながらテストを行う場合と比較して、制御機構が簡素化される。 In addition, since the tray in which the camera module is accommodated is formed with a gap penetrating in the insertion direction, the tray is formed on the back side while the imaging device formed on the main surface side faces the test chart. It is possible to electrically connect the contact electrode to the contactor. Accordingly, the test can be performed in a state where the camera module is housed in the tray, so that the control mechanism is simplified as compared with the case where the test is performed while individually conveying the camera module.
又、本発明に係るテスト装置は、上記第１又は第２の特徴構成に加えて、前記処理部が、前記カメラモジュールによって撮像された前記チャート図形の撮像画像と、前記チャート図形が示す原画像の空間周波数を比較することで解像度を認定することを第３の特徴とする。 Further, in the test apparatus according to the present invention, in addition to the first or second feature configuration, the processing unit captures an image of the chart graphic captured by the camera module, and an original image indicated by the chart graphic The third feature is that the resolution is recognized by comparing the spatial frequencies of the two.
又、本発明に係るテスト装置は、上記第１〜第３の何れか一の特徴構成に加えて、前記固体撮像装置用テストチャートを上面に載置し、当該高さ位置の調整が可能なチャート盤を備えることを第４の特徴とする。 In addition to any one of the first to third characteristic configurations, the test apparatus according to the present invention is capable of adjusting the height position by placing the test chart for the solid-state imaging device on the upper surface. A fourth feature is that a chart board is provided.
又、本発明に係るテスト装置は、上記第１〜第４の何れか一の特徴構成に加えて、前記固体撮像装置用テストチャートを上面に載置し、上方に光を放射する光源を内部に有するチャート盤を備えることを第５の特徴とする。 Further, in addition to any one of the first to fourth characteristic configurations, the test apparatus according to the present invention includes a test chart for the solid-state imaging device placed on an upper surface, and an internal light source that emits light upward. It is a fifth feature that a chart board having the above is provided.
本発明の構成によれば、ＭＴＦ手法を用いて解像度の算出を行うことが可能となるため、ＣＩＰＡによって規定された設置条件に従うことなくテストチャートを設置することができ、これによってテストチャートの小型化が実現できる。又、隣接チャート図形の影響を受けないように所定の間隔を空けさえすれば、テストチャート内に複数のチャート図形を配することができるため、同時に複数の撮像装置の解像度テストが可能となり、テスト時間の短縮化が図られる。。 According to the configuration of the present invention, it becomes possible to calculate the resolution using the MTF method, so that the test chart can be installed without following the installation conditions defined by CIPA, thereby reducing the size of the test chart. Can be realized. In addition, as long as a predetermined interval is provided so as not to be affected by adjacent chart figures, a plurality of chart figures can be arranged in the test chart. Time can be shortened. .
以下において、本発明に係るテストチャート、使用方法、チャート盤、及びテスト装置（以下、適宜夫々「本発明チャート」、「本発明方法」、「本発明盤」、及び「本発明装置」と称する）の実施形態について図面を参照して説明する。 Hereinafter, a test chart, a method of use, a chart board, and a test apparatus according to the present invention (hereinafter referred to as “the present invention chart”, “the present invention method”, “the present invention board”, and “the present invention apparatus” respectively). ) Will be described with reference to the drawings.
図１は、本発明チャートを示す概念図である。図１に示すように、本発明チャート１０は、背景部１０ａと、背景部１０ａとは異なる明度で示されたチャート図形１０ｂとで構成される。尚、このチャート図形は、図１のような円形の他、図２（ａ）、（ｂ）に示すような同心円状の円環形で構成されるものとしても良い。 FIG. 1 is a conceptual diagram showing a chart of the present invention. As shown in FIG. 1, the chart 10 of the present invention is composed of a background portion 10a and a chart figure 10b shown with a lightness different from that of the background portion 10a. In addition, this chart figure is good also as what is comprised by the concentric ring shape as shown to Fig.2 (a), (b) other than the circle like FIG.
図３は、本発明チャートを用いてテストを行う際の概念図である。又、図４は本発明方法の手順を示すフローチャートであり、以下の各ステップは図４内のフローチャートのステップを示す。 FIG. 3 is a conceptual diagram when performing a test using the chart of the present invention. FIG. 4 is a flowchart showing the procedure of the method of the present invention. The following steps show the steps of the flowchart in FIG.
図３に示すように、カメラモジュール３の視野角範囲内にチャート図形１０ｂが入るように本発明チャート１０を設置する（ステップ＃１）。本発明チャートは、後述するようにＭＴＦ（Modulation Transfer Function）手法を用いて解像度の算出が可能な構成であるため、従来のＣＩＰＡによって規定された解像度算出方法を用いるものではない。このため、ＣＩＰＡによって規定された設置条件に従うことなくテストチャートを設置することができる。 As shown in FIG. 3, the chart 10 of the present invention is installed so that the chart figure 10b is within the viewing angle range of the camera module 3 (step # 1). Since the chart of the present invention has a configuration capable of calculating the resolution using an MTF (Modulation Transfer Function) method as will be described later, the resolution calculation method defined by the conventional CIPA is not used. Therefore, the test chart can be installed without following the installation conditions defined by CIPA.
次に、カメラモジュール３によって本発明チャート１０を撮像する（ステップ＃２）。そして、撮像画像に関するデータが処理部２０（図９で後出、図３では不図示）に送出される。この処理部は、撮像画像に関するデータに基づいて演算処理を行って解像度の算出を行う演算処理装置である。 Next, the present invention chart 10 is imaged by the camera module 3 (step # 2). Then, data relating to the captured image is sent to the processing unit 20 (described later in FIG. 9 and not shown in FIG. 3). This processing unit is an arithmetic processing device that performs arithmetic processing based on data related to a captured image and calculates a resolution.
次に、撮像画像に関するデータが与えられた処理部は、当該撮像画像、並びにもとのチャート図形１０ｂ双方の空間周波数を算出する（ステップ＃３）。空間周波数は、所定幅の中に正弦的に濃度の変化するパターンが何本（何サイクル）あるかを表しており、単位〔本（サイクル）／ｍ〕で規定される値であり、撮像画像並びに原画像（チャート図形）に対してＦＦＴ等のフーリエ変換処理を施すことで算出することができる。 Next, the processing unit to which the data regarding the captured image is given calculates the spatial frequency of both the captured image and the original chart figure 10b (step # 3). The spatial frequency represents how many (how many cycles) the density changes sinusoidally within a predetermined width, and is a value defined by the unit [lines (cycle) / m]. In addition, it can be calculated by subjecting the original image (chart figure) to Fourier transform processing such as FFT.
そして、両画像の空間周波数を比較し、撮像画像から原画像への再現比を算出することで解像度を算出する（ステップ＃４）。具体的には、空間周波数毎に正弦波状の入力像に対する出力像のコントラスト比を算出し、これによって被写体の原画像に対する再現比を導出して解像度を算出する。 Then, the spatial frequency of both images is compared, and the resolution is calculated by calculating the reproduction ratio from the captured image to the original image (step # 4). Specifically, the contrast ratio of the output image to the sinusoidal input image is calculated for each spatial frequency, and thereby the reproducibility ratio of the subject to the original image is derived to calculate the resolution.
図５は、カメラモジュール３と本発明チャート１０との位置関係を説明するための概念図である。尚、図５に示す本発明チャート１０は、説明の都合上、チャート図形１０ｂが所定の間隔で複数配列された構成である。
FIG. 5 is a conceptual diagram for explaining the positional relationship between the camera module 3 and the chart 10 of the present invention. Note that the chart 10 of the present invention shown in FIG. 5 has a configuration in which a plurality of chart figures 10b are arranged at predetermined intervals for convenience of explanation.
図５において、チャート列方向（チャート図形１０ｂの配列方向）と同方向ｆ１のカメラモジュール３の画素数をＮ、各チャート図形１０ｂの間隔をＬ、カメラモジュール３の方向ｆ１の画角の最大値をθｍａｘ、カメラモジュール３とチャート図形１０ｂとの距離をｄ、チャート図形１０ｂの方向ｆ１のドットサイズを２ｎとすると、数２の関係が充足される。
5, the number of pixels of the camera module 3 in the same direction f1 as the chart row direction (the arrangement direction of the chart figure 10b) is N, the interval between the chart figures 10b is L, and the maximum value of the angle of view of the camera module 3 in the direction f1. the theta max, the distance between the camera module 3 and chart figure 10b d, when the dot size of the chart figure 10 b direction f1 to 2 n, the number 2 of the relation is satisfied.
（数２）
Ｎ：２ ｎ ＝２ｄ・ｔａｎ（θｍａｘ／２）：Ｌ
(Equation 2)
N: 2 n = 2d · tan (θ max / 2): L
これより、Ｌは以下の数３（これは上記数１と同式である）を満たす必要がある。 From this, L needs to satisfy the following equation 3 (this is the same equation as equation 1 above).
（数３）
Ｌ≧２（ｎ＋１）・ｄ・ｔａｎ（θｍａｘ／２）／Ｎ
(Equation 3)
L ≧ 2 (n + 1) · d · tan (θ max / 2) / N
即ち、本発明チャート１０を用いる場合、隣接するチャート図形１０ｂの間隔Ｌが上記数３を満たせば、隣接するチャート図形１０ｂの影響を受けることなく解像度テストを実行することが可能となる。言い換えれば、上記数３を充足するようにチャート図形１０ｂを配列すれば、複数のチャート図形１０ｂを備えた本発明チャート１０によって同時に複数のカメラモジュール３の解像度測定が可能となる。 That is, when the chart 10 of the present invention is used, if the interval L between the adjacent chart figures 10b satisfies the above formula 3, the resolution test can be executed without being affected by the adjacent chart figures 10b. In other words, if the chart figure 10b is arranged so as to satisfy the above equation 3, the resolution of a plurality of camera modules 3 can be simultaneously measured by the chart 10 of the present invention including the plurality of chart figures 10b.
図６は、本発明チャート１０を用いて複数のカメラモジュール３の解像度テストを行う場合を概念的に示したものである。図６では、図２０（ｂ）と同様、５つのカメラモジュール３を対象としている。 FIG. 6 conceptually shows a case where a resolution test of a plurality of camera modules 3 is performed using the chart 10 of the present invention. In FIG. 6, as in FIG. 20B, five camera modules 3 are targeted.
ここで、図２０に示す場合と同様、カメラモジュール３と本発明チャート１０との距離を５０ｃｍ、カメラモジュール３の水平画角を５３°とし、画素サイズを１２８０×１０２４（即ち横方向が１２８０）、チャート図形１０ｂの横方向のドットサイズを２６とすると、上記数３に夫々ｎ＝６、ｄ＝５０ｃｍ、θｍａｘ＝５３°、Ｎ＝１２８０を代入することで、Ｌ≧２．４９ｃｍと算出される。 Here, as in the case shown in FIG. 20, the distance between the camera module 3 and the chart 10 of the present invention is 50 cm, the horizontal angle of view of the camera module 3 is 53 °, and the pixel size is 1280 × 1024 (that is, the horizontal direction is 1280). When the transverse dot size of the chart figure 10b and 2 6, in the Expression 3 respectively n = 6, d = 50cm, θ max = 53 °, by substituting n = 1280, and L ≧ 2.49cm Calculated.
即ち、隣接するチャート図形１０ｂの間隔を２．４９ｃｍ以上確保することで、隣接するチャート図形の影響を受けることなくカメラモジュール３の解像度測定を行うことができる。従って、上記数３を充足しながらチャート図形１０ｂを小型化して、本発明チャート１０上に複数のチャート図形１０ｂを配列し、何れか一のチャート図形１０ｂを視野角内に入れることで、複数のカメラモジュール３の解像度を測定することが可能となる。図６の例であれば、幅１５ｃｍの本発明チャート１０内に５つのチャート図形１０ｂを配列することができる。このため、各チャート図形１０ｂを夫々異なるカメラモジュール３によって撮像することで、５つのカメラモジュール３の解像度測定を同時に実行することが可能となる。これにより、解像度テストに要する時間を大幅に短縮することができる。 That is, by securing the interval between adjacent chart figures 10b to 2.49 cm or more, the resolution of the camera module 3 can be measured without being affected by the adjacent chart figures. Accordingly, the chart figure 10b is reduced in size while satisfying the above equation 3, and a plurality of chart figures 10b are arranged on the chart 10 of the present invention, and any one of the chart figures 10b falls within the viewing angle, so that It becomes possible to measure the resolution of the camera module 3. In the example of FIG. 6, five chart figures 10b can be arranged in the present invention chart 10 having a width of 15 cm. For this reason, it is possible to simultaneously measure the resolution of the five camera modules 3 by imaging each chart figure 10b with a different camera module 3. Thereby, the time required for the resolution test can be greatly shortened.
又、本発明チャート１０のように、チャート図形を円形又は同心円状の円環形とすることで、チャートとカメラモジュール３との位置関係に回転角θのズレが生じた場合であっても、解像度測定に影響を及ぼすことがなくなるという効果が得られる。 Further, by forming the chart figure into a circular or concentric ring shape like the chart 10 of the present invention, even when the rotational angle θ is shifted in the positional relationship between the chart and the camera module 3, the resolution is improved. The effect of not affecting the measurement is obtained.
図７は、従来の楔形チャート図形を撮像する際に、回転角θのズレが発生した場合の影響を説明するための図である。図７（ａ）は角度ズレが生じていない場合、（ｂ）はテストチャート側に角度ズレが生じた場合、（ｃ）はカメラモジュール３側に角度ズレが生じた場合を夫々示している。 FIG. 7 is a diagram for explaining the influence when a deviation of the rotation angle θ occurs when imaging a conventional wedge chart figure. 7A shows a case where there is no angle deviation, FIG. 7B shows a case where an angle deviation occurs on the test chart side, and FIG. 7C shows a case where an angle deviation occurs on the camera module 3 side.
従来の楔形チャートを用いたテスト方法の場合は、上述したようにライン毎にコントラスト判定を行うため、テストチャートとカメラモジュールとの間に角度ズレが生じると、コントラスト判定を行うライン上のチャート形状が変化してしまい（図７参照）、正しくコントラスト判定を行うことができない。このため、テストチャートとカメラモジュールの位置関係を正確に調整する必要があった。 In the case of a conventional test method using a wedge chart, since the contrast is determined for each line as described above, if an angle shift occurs between the test chart and the camera module, the chart shape on the line where the contrast is determined Changes (see FIG. 7), and the contrast cannot be determined correctly. For this reason, it is necessary to accurately adjust the positional relationship between the test chart and the camera module.
これに対し、本発明チャート１０のように、円形又は同心円状の円環形のチャート図形とすることで、テストチャートとカメラモジュールとの間に角度ズレが生じた場合であっても、チャート図形が任意の角度で回転対称であるため、解像度測定に影響を与えることはない。図８は、本発明チャートのチャート図形を撮像する際に、回転角θのズレが発生した場合であっても影響が生じないことを説明するための図であり、図８（ａ）は角度ズレが生じていない場合、（ｂ）はテストチャート側に角度ズレが生じた場合、（ｃ）はカメラモジュール３側に角度ズレが生じた場合を夫々示している。 On the other hand, like the chart 10 of the present invention, by forming a circular or concentric ring-shaped chart figure, even if the angle deviation occurs between the test chart and the camera module, the chart figure Since it is rotationally symmetric at an arbitrary angle, it does not affect the resolution measurement. FIG. 8 is a diagram for explaining that there is no influence even when a deviation of the rotation angle θ occurs when the chart figure of the chart of the present invention is imaged. FIG. When there is no deviation, (b) shows a case where an angle deviation occurs on the test chart side, and (c) shows a case where an angle deviation occurs on the camera module 3 side.
尚、上述の例では、本発明チャート１０が複数のチャート図形を一列に配した場合を例に挙げて説明したが、チャート図形をマトリクス状に配してなる構成とすることも可能である。 In the above-described example, the case where the chart 10 of the present invention has a plurality of chart figures arranged in a row has been described as an example. However, a configuration in which the chart figures are arranged in a matrix shape is also possible.
以下、本発明チャート１０を用いて本発明装置によって解像度テストを行う場合の一例を説明する。 Hereinafter, an example in which a resolution test is performed by the apparatus of the present invention using the chart 10 of the present invention will be described.
図９は、本発明装置の概念的構造図であり、（ａ）が上から見た図を、（ｂ）に正面から見た図を夫々示している。 FIG. 9 is a conceptual structural diagram of the device of the present invention, where (a) shows a view from above, and (b) shows a view from the front.
本発明装置１は、カメラモジュール３の収容が可能なトレイ２、トレイ２が設置されるトレイ設置台４、ゴミ・シミテスト用チャート５、画像テスト用テストヘッド６（以下、適宜「テストヘッド６」と略記）、コンタクタ７、不良モジュールピックアップ部８、本発明チャート１０、モータ１１及び１２、モータコントローラ１７、撮像された画像を分析する処理部２０、カメラモジュール位置調整部３０、本発明盤６０を備えて構成される。尚、トレイ設置台４は、所定の領域４ａ内において空隙が形成されており、トレイ２は、その領域４ａに係る空隙幅よりも大きい寸法幅で形成されているものとする。言い換えれば、領域４ａ上を含む位置にトレイ２を載置することにより、トレイ２が領域４ａ内の空隙から落下することがなく、且つトレイ２の下方を露出させることが可能に構成されている。 The apparatus 1 of the present invention includes a tray 2 capable of accommodating a camera module 3, a tray mounting base 4 on which the tray 2 is installed, a dust / smear test chart 5, an image test test head 6 (hereinafter referred to as "test head 6" as appropriate). And a contactor 7, a defective module pickup unit 8, a chart 10 of the present invention, motors 11 and 12, a motor controller 17, a processing unit 20 for analyzing a captured image, a camera module position adjusting unit 30, and a panel 60 of the present invention. It is prepared for. Note that the tray mounting table 4 is formed with a gap in the predetermined area 4a, and the tray 2 is formed with a dimension width larger than the gap width related to the area 4a. In other words, by placing the tray 2 at a position including the area 4a, the tray 2 does not fall from the gap in the area 4a, and the lower part of the tray 2 can be exposed. .
図１０はトレイ２の拡大図であり、（ａ）が斜視図、（ｂ）がカメラモジュール３が収容されていない状態におけるトレイ２一部の断面図、（ｃ）がカメラモジュール３が収容されている状態におけるトレイ２一部の断面図を夫々示している。図１０に示すように、トレイ２には複数の収容部２３が形成されており、各収容部２３内にカメラモジュール３を収容可能に構成されている。収容部２３は、カメラモジュール３の挿嵌方向ｄ１（ここでは下向きとする）に貫通した空隙を有して形成されており、収容部２３内にカメラモジュール３が収容された状態において、当該モジュール３の主面側に形成された撮像素子が、トレイ２の下方の被写体を撮像可能に構成される。 10A and 10B are enlarged views of the tray 2. FIG. 10A is a perspective view, FIG. 10B is a cross-sectional view of a part of the tray 2 in a state where the camera module 3 is not accommodated, and FIG. The cross-sectional views of a part of the tray 2 in the state in which they are placed are shown. As shown in FIG. 10, a plurality of storage portions 23 are formed in the tray 2, and the camera module 3 can be stored in each storage portion 23. The housing part 23 is formed to have a gap that penetrates in the insertion direction d1 (here, downward) of the camera module 3, and in the state where the camera module 3 is housed in the housing part 23, the module 3 is configured to be able to image a subject below the tray 2.
又、図１０に示すカメラモジュール３は、撮像素子並びにレンズ３１が形成された主面側Ｂ１の幅Ｗ１が、コンタクタ７に接続される電極が形成された裏面側Ｂ２の幅Ｗ２よりも小さい構造となっている。このため、このような形状を有するカメラモジュール３を収容部２３内において下向きに安定的に収容すべく、収容部２３は、下部の内径が上部の内径よりも狭くなるように形成されている。 Further, the camera module 3 shown in FIG. 10 has a structure in which the width W1 of the main surface side B1 where the imaging element and the lens 31 are formed is smaller than the width W2 of the back surface side B2 where the electrode connected to the contactor 7 is formed. It has become. For this reason, in order to stably accommodate the camera module 3 having such a shape downward in the accommodating portion 23, the accommodating portion 23 is formed so that the inner diameter of the lower portion is narrower than the inner diameter of the upper portion.
このようにカメラモジュール３を収容部２３内に収容した状態で、トレイ設置台４上においてトレイ２を移動方向ｄ２に移動させる（図９参照）。そして、まずカメラモジュール位置調整部３０によって、各カメラモジュール３が収容部２３内の所定の標準位置に正しく収容されているか否かが確認されると共に、標準位置に収容されていない場合（即ち、はみ出している場合）にはカメラモジュール３を標準位置に調整する。 The tray 2 is moved in the moving direction d2 on the tray mounting base 4 with the camera module 3 housed in the housing portion 23 in this way (see FIG. 9). First, the camera module position adjustment unit 30 confirms whether each camera module 3 is correctly stored in a predetermined standard position in the storage unit 23 and is not stored in the standard position (ie, If the camera module 3 protrudes, the camera module 3 is adjusted to the standard position.
図１１は、カメラモジュール３を収容部２３内の標準位置に収容する方法を示す模式図であり、（ａ）が標準位置に収容されている場合、（ｂ）が標準位置からずれている場合を示している。 FIG. 11 is a schematic diagram illustrating a method of housing the camera module 3 in the standard position in the housing unit 23. When (a) is housed in the standard position, (b) is deviated from the standard position. Is shown.
カメラモジュール位置調整部３０は、各カメラモジュール３の収容位置を確認するはみ出し検出センサ１３と、カメラモジュール３を実際に動かして位置の調整を行う位置調整アーム１４を備える。 The camera module position adjustment unit 30 includes a protrusion detection sensor 13 that confirms the housing position of each camera module 3 and a position adjustment arm 14 that actually moves the camera module 3 to adjust the position.
はみ出し検出センサ１３は、トレイ２を挟むように設置された２つのセンサ素子によって構成され、両センサ間に位置する一列又は数列分のカメラモジュール３のはみ出し状態を確認可能に構成されている。このはみ出し検出センサ１３によって、対象となる一列又は数列分のカメラモジュール３のはみだし状態が確認されると、トレイ２を移動方向ｄ２に移動させることで、まだ確認されていないカメラモジュール３をセンサ１３によって検出可能な範囲内となるように設置する。又、それと共に、前段階ではみだし状態が確認されたカメラモジュール３の内、実際に標準位置に収容されていないカメラモジュール３（以下、適宜「要調整カメラモジュール」と記載）を、位置調整アーム１４によって標準位置になるように移動させる。より具体的には、例えば位置調整アーム１４の先端が吸盤形状となっており、要調整カメラモジュールを位置調整アーム１４によって一旦持ち上げた後、再度収容されていた収容部２３内に下向きに挿嵌し直す。尚、センサ素子の数ははみ出し状態が確認可能であれば３以上であっても良い。 The protrusion detection sensor 13 is constituted by two sensor elements installed so as to sandwich the tray 2, and is configured to be able to check the protrusion state of one or several rows of camera modules 3 located between both sensors. When the protruding state of the camera modules 3 corresponding to one or several rows is confirmed by the protrusion detection sensor 13, the tray 2 is moved in the moving direction d2 to move the camera module 3 that has not been confirmed yet to the sensor 13. To be within the detectable range. At the same time, among the camera modules 3 whose protruding state has been confirmed in the previous stage, a camera module 3 that is not actually accommodated in the standard position (hereinafter referred to as “adjustable camera module” as appropriate) is attached to the position adjustment arm. 14 to move to the standard position. More specifically, for example, the tip of the position adjustment arm 14 has a suction cup shape, and after the camera module requiring adjustment is once lifted by the position adjustment arm 14, the position adjustment arm 14 is inserted downward into the accommodating portion 23 accommodated again. Try again. The number of sensor elements may be three or more as long as the protruding state can be confirmed.
このように、トレイ２内に設置されていた全てのカメラモジュール３が、収容部２３内において正しく標準位置に設置できていることを確認した後、若しくは正しく標準位置に設置し直した後、トレイ２をテストヘッド６の下方に移送させる。 As described above, after confirming that all the camera modules 3 installed in the tray 2 have been correctly installed in the standard position in the accommodating portion 23, or after having been correctly installed in the standard position, the tray 2 is moved below the test head 6.
図１２はテストヘッド６の概略構成を示す図であり、（ａ）が正面図、（ｂ）がカメラモジュール３を含めて詳細に図示した拡大図である。 12A and 12B are diagrams showing a schematic configuration of the test head 6, where FIG. 12A is a front view and FIG. 12B is an enlarged view illustrating the camera module 3 in detail.
図１２に示すように、テストヘッド６には、テストモジュール４１が複数個設けられており、テストモジュール４１とコンタクタ７が電気的に接続されている。又、テストモジュール４１は、配線４２を介して処理部２０に電気的に接続されている。処理部２０は与えられる電気信号に基づいて演算処理が可能な装置（例えば計算機）を有して構成される。 As shown in FIG. 12, the test head 6 is provided with a plurality of test modules 41, and the test modules 41 and the contactors 7 are electrically connected. Further, the test module 41 is electrically connected to the processing unit 20 via the wiring 42. The processing unit 20 includes a device (for example, a computer) that can perform arithmetic processing based on an applied electric signal.
トレイ２がテストヘッド６の下方に移送されると、コンタクタ７が下方に移動して、対象となるカメラモジュール３の裏面側に形成されている電極５１と接触する。コンタクタ７は、電極５１への打痕を軽減し、若しくは電極５１との接触時の衝撃によるカメラモジュール３へのダメージを緩和し、更にはスループットを向上させるために、コンタクタ７が電極５１に接触する近傍までは速い速度で降下し、電極５１の近傍から電極５１に接触するまではゆっくり下降する。コンタクタ７が電極５１に接触した後は、加重センサ４３により、過度の加重がかかって打痕やダメージを与えないよう下降する位置が調節される。 When the tray 2 is transferred to the lower side of the test head 6, the contactor 7 moves downward to come into contact with the electrode 51 formed on the back side of the target camera module 3. The contactor 7 makes contact with the electrode 51 in order to reduce dents on the electrode 51 or to reduce damage to the camera module 3 due to an impact at the time of contact with the electrode 51, and to further improve the throughput. It descends at a high speed to the vicinity where it moves, and slowly descends from the vicinity of the electrode 51 until it contacts the electrode 51. After the contactor 7 comes into contact with the electrode 51, the weight sensor 43 adjusts the position where the contactor 7 descends so as not to apply excessive weight and cause damage or damage.
コンタクタ７が電極５１に接触し、適正な位置に調節がされた後、カメラモジュール３は、トレイ２の下方に設置された本発明チャート１０を撮像する。上述したように、収容部２３は上下方向に貫通する空隙を有しているため、主面側が下向きとなるように収容されたカメラモジュール３は、トレイ設置台４内の空隙４ａを介して下方に露出され、且つ、その下方に設置された本発明チャート１０と対向する。これにより、主面側に形成されているカメラモジュール３（の撮像素子）の視野角範囲内に本発明チャート１０のチャート図形１０ｂが位置し、カメラモジュール３によって本発明チャート１０を撮像することができる。カメラモジュール３が撮像した信号は、コンタクタ７から配線４２を通じて、処理部２０に送出される。処理部２０は、この信号をもとに画質テストを実施し、カメラモジュール３の良否判定を行う。 After the contactor 7 is in contact with the electrode 51 and adjusted to an appropriate position, the camera module 3 takes an image of the chart 10 of the present invention installed below the tray 2. As described above, since the housing portion 23 has a gap penetrating in the vertical direction, the camera module 3 housed so that the main surface side faces downward is positioned downward via the gap 4 a in the tray installation base 4. And is opposite to the chart 10 of the present invention which is exposed at the bottom of the chart. As a result, the chart figure 10b of the chart 10 of the present invention is positioned within the viewing angle range of the camera module 3 (image sensor) formed on the main surface side, and the chart 10 of the present invention can be imaged by the camera module 3. it can. A signal picked up by the camera module 3 is sent from the contactor 7 to the processing unit 20 through the wiring 42. The processing unit 20 performs an image quality test based on this signal, and determines whether the camera module 3 is good or bad.
図１３は、本発明チャート１０を備える本発明盤６０の一実施例を示す概略図である。図１３（ａ）は本発明チャート１０及びそれを支持するための本発明盤を含む全体の構成を示した図であり、図１３（ｂ）はカメラモジュール３と本発明チャート１０の位置的関係を概念的に示した図である。 FIG. 13 is a schematic diagram showing an embodiment of the present invention board 60 including the present invention chart 10. FIG. 13A is a diagram showing the entire configuration including the chart 10 of the present invention and the board of the present invention for supporting the chart 10, and FIG. 13B is the positional relationship between the camera module 3 and the chart 10 of the present invention. FIG.
図１３（ａ）に示すように、本発明盤６０は、支持台６１、支持アーム６２、留め具６３、調整用溝部６４、レール６５を備えて構成される。本発明チャート１０は支持台６１によって支持されている。支持台６１は、交差する２本の支持アーム６２が平行に延伸する２本のレール６５上に設置されており、支持アーム６２が開いたり閉じたりすることで高さ調節が可能になっている。そして、２本の支持アーム６２はその交差点で留め具６３で留められており、留め具６３が支持アーム６２に設けられた調整用溝部６４内をスライドすることによりその高さを変えることができる。支持アームの下部はレール６５上を移動することにより開閉可能となっている。このように、本発明盤６０が支持台６１の高さ調節を可能に構成されることで、異なる焦点距離を有するカメラモジュール３に対しても、本発明チャート１０を変更することなく支持台６１の高さを変えることのみで本発明装置１でのテストが可能となる。尚、支持台６１、支持アーム６２等はモータコントローラ１７からの制御指示に基づいてモータ１１によって動作制御されるものとして良い。 As shown in FIG. 13A, the board 60 of the present invention includes a support base 61, a support arm 62, a fastener 63, an adjustment groove 64, and a rail 65. The chart 10 of the present invention is supported by a support base 61. The support base 61 is installed on two rails 65 in which two intersecting support arms 62 extend in parallel, and the height can be adjusted by opening and closing the support arms 62. . The two support arms 62 are fastened by a fastener 63 at the intersection, and the height of the support arm 62 can be changed by sliding the inside of the adjusting groove 64 provided in the support arm 62. . The lower part of the support arm can be opened and closed by moving on the rail 65. As described above, the present invention board 60 is configured so that the height of the support base 61 can be adjusted, so that the support base 61 can be applied to the camera modules 3 having different focal lengths without changing the present invention chart 10. It is possible to perform the test with the device 1 of the present invention only by changing the height. The support base 61, the support arm 62, and the like may be controlled by the motor 11 based on a control instruction from the motor controller 17.
本発明チャート１０は、トレイ２内に収容されたカメラモジュール３の内、同一列に属する全てのカメラモジュール３の視野角範囲内にチャート図形１０ｂが位置するように構成されている。図１３（ｂ）に示すように、本実施形態では、同一列に属する全てのカメラモジュール３について、各カメラモジュール３の視野角範囲内に、夫々異なる一のチャート図形１０ｂが位置するように本発明チャート１０が設置されている。 The chart 10 of the present invention is configured such that the chart figure 10b is positioned within the viewing angle range of all the camera modules 3 belonging to the same row among the camera modules 3 accommodated in the tray 2. As shown in FIG. 13 (b), in the present embodiment, for all the camera modules 3 belonging to the same column, the different chart figures 10b are positioned within the viewing angle range of each camera module 3 respectively. An invention chart 10 is installed.
尚、図１３に示すように、本発明盤６０には、粘着ローラ７１、ブラシ７２、エアー７３等のクリーニング機構が備えられており、本発明チャート１０のクリーニングが可能に構成されている。より詳細には、粘着ローラ７１によって本発明チャート１０上の異物を付着させて除去したり、ブラシ７２で異物を払い落としたり、エアー７３で異物を吹き飛ばしたりすることで、本発明チャート１０をクリーニングし、常に正しい画像テストが行える状態に保つことが可能となっている。 As shown in FIG. 13, the board 60 of the present invention is provided with cleaning mechanisms such as an adhesive roller 71, a brush 72, and air 73, and is configured to be able to clean the chart 10 of the present invention. More specifically, the chart 10 of the present invention is cleaned by adhering and removing foreign substances on the chart 10 of the present invention with the adhesive roller 71, removing the foreign substances with the brush 72, or blowing off the foreign objects with the air 73. However, it is possible to always maintain a state where a correct image test can be performed.
このような本発明チャート１０を、カメラモジュール３によって撮像することによって当該カメラモジュール３のテストが行われる。具体的には、トレイ２内にマトリクス状に配列された複数のカメラモジュール３の内、同一列に属する全てのカメラモジュール３が本発明チャート１０を撮像し、これらの撮像結果が処理部２０に与えられる。処理部２０では、与えられた撮像結果を分析し、上述した本発明方法に基づいて解像度テストを行い、当該対象列に属する複数のカメラモジュール３の中に不良品が存在しているか否かを判断する。そして、不良品が存在した場合には、不良モジュールピックアップ部８によって当該不良品が選別され、この選別された不良モジュールが不良品収納箇所（箱或いはトレイ）に送られる。 The camera module 3 is tested by imaging such a chart 10 of the present invention with the camera module 3. Specifically, among the plurality of camera modules 3 arranged in a matrix in the tray 2, all the camera modules 3 belonging to the same column take an image of the chart 10 of the present invention, and these imaging results are sent to the processing unit 20. Given. The processing unit 20 analyzes the given imaging result, performs a resolution test based on the above-described method of the present invention, and determines whether or not a defective product exists in the plurality of camera modules 3 belonging to the target column. to decide. If there is a defective product, the defective module pickup unit 8 selects the defective product, and the selected defective module is sent to a defective product storage location (box or tray).
このようにして、一列に係るカメラモジュール３の良否判定が完了すると、トレイ２を一行分だけ移送し、隣の列に係るカメラモジュール３の良否判定を引き続き同様に行う。以下、良否判定とトレイ２の移送を交互に行うことで、トレイ２に収容されている全てのカメラモジュール３の良否判定、並びに不良品の選別が完了する。尚、不良モジュールピックアップ部８は、モータコントローラ１７からの制御指示に基づいてモータ１２によって制御されることで、不良モジュールを不良品収納箇所へと移送する。 In this way, when the pass / fail determination of the camera modules 3 related to one column is completed, the tray 2 is transferred by one line, and the pass / fail determination of the camera modules 3 related to the adjacent columns is continuously performed in the same manner. Thereafter, the pass / fail judgment and the transfer of the tray 2 are alternately performed, whereby the pass / fail judgment of all the camera modules 3 accommodated in the tray 2 and the sorting of defective products are completed. The defective module pickup unit 8 is controlled by the motor 12 based on a control instruction from the motor controller 17 to transfer the defective module to a defective product storage location.
尚、良否判定の精度を向上させるべく、不良品と判定されたカメラモジュール３のみを再度テストする構成としても良い。図１４は、不良品と判定されたカメラモジュール３を再度テストする場合に係るトレイ２の移送例を示す。 Note that only the camera module 3 determined to be defective may be tested again in order to improve the accuracy of the pass / fail determination. FIG. 14 shows an example of transferring the tray 2 when the camera module 3 determined to be defective is tested again.
上述したように、トレイ２がトレイ設置台４上を移動方向ｄ２に移動しながら、トレイ２内の各列毎にカメラモジュール３の良否判定が行われる。そして、トレイ２に収納されている全てのカメラモジュール３のテストがすべて終了した後、トレイ２をｄ２とは反対向きの逆方向ｄ３に移動させながら、不良と判断されたカメラモジュール３のみを再テストする。尚、このとき、不良と判断されたカメラモジュール３のトレイ２内での位置情報は、処理部２０によって記憶されており、この記憶された情報に基づいて不良と判断されたカメラモジュール３のみが再テストの実行がされるものとして良い。以下、同様に逆方向ｄ３に移動させながら、順次不良判断がされたモジュールのみを再テストすることで、良否判定の精度を上げることができる。 As described above, whether the camera module 3 is good or bad is determined for each row in the tray 2 while the tray 2 moves on the tray mounting table 4 in the moving direction d2. After all the tests of all the camera modules 3 stored in the tray 2 are completed, only the camera module 3 determined to be defective is re-operated while moving the tray 2 in the reverse direction d3 opposite to d2. Testing. At this time, the position information in the tray 2 of the camera module 3 determined to be defective is stored by the processing unit 20, and only the camera module 3 determined to be defective based on the stored information is stored. A retest may be performed. Similarly, the accuracy of the pass / fail judgment can be improved by retesting only the modules for which the failure is judged sequentially while moving in the reverse direction d3 in the same manner.
このようにして、良品と不良品が識別され、不良品と判断されたカメラモジュール３が選別されると、トレイ２には良品のカメラモジュール３のみが収容された状態となる。このようにして選別された良品のカメラモジュール３は、次の工程が行われるエリアに送出すべく、移送用のトレイに移される。 In this way, when the non-defective product and the defective product are identified and the camera module 3 determined to be defective is selected, only the non-defective camera module 3 is accommodated in the tray 2. The non-defective camera module 3 selected in this way is transferred to a transfer tray for delivery to an area where the next process is performed.
図１５は、良品のカメラモジュール３を移送用トレイに移し替える状態を示す概念図である。不良品のカメラモジュール３が選別され、良品のみが収容されたトレイ２の上に移送用トレイ８１が重ねられる。移送用トレイ８１は、（テスト用）トレイ２とガイドピン等によって重ね合わせ可能な構造であり、トレイ２が備える収容部２３と同様の位置に少なくとも一方の面が開口した収容部を有している。トレイ２の上側に移送用トレイ８１が重ね合わせられた状態の下でアーム８２によって両トレイ２及び８１の上下を挟み込み、略１８０度回転させて上下を反転させる。 FIG. 15 is a conceptual diagram showing a state in which the non-defective camera module 3 is transferred to the transfer tray. The defective camera module 3 is sorted, and a transfer tray 81 is overlaid on the tray 2 in which only good products are accommodated. The transfer tray 81 has a structure that can be overlapped with the (test) tray 2 by a guide pin or the like, and has a storage portion having at least one surface opened at the same position as the storage portion 23 provided in the tray 2. Yes. Under the condition that the transfer tray 81 is superposed on the upper side of the tray 2, the upper and lower sides of both trays 2 and 81 are sandwiched by the arms 82 and rotated approximately 180 degrees to reverse the upper and lower sides.
図１０を参照して上述したように、トレイ２が備える収容部２３は、テーパ形状を有する構成である。即ち、テスト時においては、収容されたカメラモジュール３が下方に落下することのないように、収容部２３が有する空隙の径の狭い方（収容されているカメラモジュール３の主面側）を下方、径の広い方（カメラモジュール３の裏面側）を上方にした状態で、トレイ２を移送させていた。しかし、前記のように反転させることで、収容部２３の空隙の径の広い裏面側が下方になるため、収容されていたカメラモジュール３が下方に自然落下する。そして、トレイ２の下側で重ね合わせられている移送用トレイ８１内の各収容部にカメラモジュール３が収容される。これによって、トレイ２に収容されていたカメラモジュール３を、簡易な方法によって移送用トレイ８１に移し替えることができ、テスト後の工程が行われるエリアにトレイ８１毎カメラモジュール３を移送でき、カメラモジュール３を人手で一個ずつ移し変える必要がなくなる。 As described above with reference to FIG. 10, the accommodating portion 23 provided in the tray 2 has a tapered shape. That is, at the time of the test, in order to prevent the accommodated camera module 3 from falling downward, the one with the narrower gap diameter (the main surface side of the accommodated camera module 3) of the accommodating portion 23 is directed downward. The tray 2 was transferred with the wider diameter (the back side of the camera module 3) facing upward. However, by reversing as described above, the back side of the accommodating portion 23 with the large diameter of the gap becomes downward, so that the stored camera module 3 naturally falls downward. And the camera module 3 is accommodated in each accommodating part in the tray 81 for transfer overlapped on the lower side of the tray 2. Accordingly, the camera module 3 accommodated in the tray 2 can be transferred to the transfer tray 81 by a simple method, and the camera module 3 for each tray 81 can be transferred to an area where the post-test process is performed. There is no need to manually transfer modules 3 one by one.
図１６は、ゴミ・シミテストを行う場合の概念図である。カメラモジュール３の表面等にゴミやシミが付着している可能性も否定できない。ゴミやシミの存在は、例えば白一色で塗りつぶされた、本発明チャート１０とは異なる、専用のゴミ・シミテスト用チャート５をカメラモジュール３によって撮像させ、その撮像結果を処理部２０で分析することで行うことができる。このため、本発明装置１によってゴミ・シミテストを行う場合には、トレイ２の下方にゴミ・シミテスト用チャート５を移動させ、カメラモジュール３とゴミ・シミテスト用チャート５を対向させて、カメラモジュール３によって当該テストチャート５を撮像することでテスト可能である。このとき、ゴミ・シミテスト用チャート５を設置台４に近接させておくと共に、空隙４ａ内に位置するようにゴミ・シミテスト用チャート５を移動させてカメラモジュール３と対向させるものとすることができる。このようにすることで、カメラモジュール３とゴミ・シミテスト用チャート５との離間を狭くすることができ、ゴミ・シミテストの精度を上げることができる。 FIG. 16 is a conceptual diagram when a dust / smear test is performed. The possibility that dust and stains are attached to the surface of the camera module 3 cannot be denied. The presence of dust and stains is obtained by causing the camera module 3 to capture an image of a dedicated dust / stain test chart 5 that is different from the chart 10 of the present invention, which is filled with white, for example, and the processing unit 20 analyzes the imaging result. Can be done. Therefore, when the dust / stain test is performed by the apparatus 1 of the present invention, the dust / stain test chart 5 is moved below the tray 2 so that the camera module 3 and the dust / stain test chart 5 face each other. The test can be performed by imaging the test chart 5. At this time, the dust / stain test chart 5 is kept close to the installation table 4 and the dust / stain test chart 5 is moved so as to be positioned in the gap 4 a so as to face the camera module 3. . By doing so, the separation between the camera module 3 and the dust / spot test chart 5 can be narrowed, and the accuracy of the dust / spot test can be increased.
このように構成することで、ゴミ・シミテストについても本発明装置１によって実行することができ、専用の装置を用意する必要がない。 With this configuration, the dust / stain test can be executed by the device 1 of the present invention, and there is no need to prepare a dedicated device.
尚、このゴミ・シミテストは、各カメラモジュール３の本発明チャート１０を用いたテストが行われる前に各カメラモジュール３に対して実行されるものとしても構わない。 The dust / smear test may be performed on each camera module 3 before the test using the chart 10 of the present invention for each camera module 3 is performed.
上述した本発明装置１の構成とすることで、トレイ２内に収容されたカメラモジュール３の内、同一列に属するカメラモジュール３を一時にテストすることが可能となり、従来方法よりもテスト時間が大幅に短縮される。 With the configuration of the apparatus 1 of the present invention described above, it is possible to test the camera modules 3 belonging to the same row among the camera modules 3 accommodated in the tray 2 at a time, and the test time is longer than that of the conventional method. Significantly shortened.
又、本発明装置１が有するトレイ２は、図１０に示すように方向ｄ１（ここでは下向きとする）に貫通した空隙を有して形成されているため、主面側に形成された撮像素子を本発明チャート１０に対向させつつ、裏面側に形成された電極５１とコンタクタ７とを電気的に接続させることが可能となる。これにより、カメラモジュール３をトレイ２に収容したままの状態でテストを行うことができるため、カメラモジュールを個々に搬送しながらテストを行う場合と比較して、制御機構が簡素化される。 Further, the tray 2 of the device 1 of the present invention is formed with a gap penetrating in the direction d1 (downward here) as shown in FIG. The electrode 51 formed on the back surface side and the contactor 7 can be electrically connected to each other while facing the chart 10 of the present invention. Thereby, since the test can be performed with the camera module 3 being accommodated in the tray 2, the control mechanism is simplified as compared with the case where the test is performed while individually conveying the camera module.
尚、テストヘッド６及び本発明チャート１０を用いてカメラモジュール３の画像テストを行うのと並行して、当該画像テストを行っていない一部のカメラモジュール３に対して、画像テスト以外のテスト（例えば電気的特性テスト等）を行うものとしても構わない。 In parallel with performing an image test of the camera module 3 using the test head 6 and the chart 10 of the present invention, a test other than the image test is performed on a part of the camera modules 3 not performing the image test ( For example, an electrical characteristic test or the like may be performed.
図１７は、画像テストと電気的特性テストとを並行して行う場合の概念図である。本発明装置１が、テストヘッド６に加えて、消費電流等の電気的特性をテストするための電気的特性テスト用テストヘッド６ａを別途備えている。これによって画像テスト用テストヘッド６を用いて所定の複数のカメラモジュール３ａに対して画像テストを行うのと並行して、前記カメラモジュール３ａ以外の複数のカメラモジュール３ｂに対して、電気的特性テスト用テストヘッド６ａを用いて電気的特性のテストを行うことができる。より具体的には、列毎に複数のカメラモジュールのテストを行う構成とし、画像テストを行う列と電気的特性テストを行う列とを異ならせ、各テストが終了する毎にトレイ２を一列ずつ移送させることで、画像テストと電気的特性テストとを並行して実行することができる。これによって、各カメラモジュール３に対して、本発明装置１によって複数のテストを効率的に実行することができ、テスト時間の短縮化が図られる。 FIG. 17 is a conceptual diagram when the image test and the electrical characteristic test are performed in parallel. In addition to the test head 6, the device 1 of the present invention further includes a test head 6a for testing electrical characteristics for testing electrical characteristics such as current consumption. As a result, an electrical characteristic test is performed on a plurality of camera modules 3b other than the camera module 3a in parallel with performing an image test on a plurality of predetermined camera modules 3a using the image test test head 6. The electrical test can be performed using the test head 6a. More specifically, the configuration is such that a plurality of camera modules are tested for each row, and the row for performing the image test is different from the row for performing the electrical characteristic test, and the tray 2 is placed one row at the end of each test. By transferring, the image test and the electrical property test can be executed in parallel. Thereby, a plurality of tests can be efficiently executed for each camera module 3 by the device 1 of the present invention, and the test time can be shortened.
電気的特性テストは、画像テストとは異なりカメラモジュール３によって被写体（本発明チャート１０）を撮像することはないので、電気的特性テスト用テストヘッド６ａの下方にはチャートが設置されず、画像テスト用テストヘッド６の下方にのみ本発明チャート１０が設置される。 In the electrical characteristic test, unlike the image test, the subject (the chart 10 of the present invention) is not imaged by the camera module 3, and therefore no chart is placed below the electrical characteristic test head 6a. The chart 10 of the present invention is installed only below the test head 6 for use.
尚、ここでは電気的特性テストを例に挙げて説明を行ったが、無論、電気的特性テストに限られず、画像テスト用テストヘッド６に加えて画像テスト以外の他のテストを行うためのテストヘッドを備え、画像テストと並行して行うものとすることが可能である。 Although the electrical characteristic test has been described as an example here, it is needless to say that the test is not limited to the electrical characteristic test, and a test for performing a test other than the image test in addition to the test head 6 for the image test. A head may be provided and performed in parallel with the image test.
尚、上述の実施形態では、トレイ２内においてマトリクス状に配列された複数のカメラモジュール３において、一時に一列毎に画像テストを行うものとしたが、複数列毎に画像テストを行うものとしても構わない。尚、トレイ２の移送方向を「列方向」と記載するとすれば、一時に一行毎若しくは複数行毎に画像テストを行うものとしても構わない。 In the above-described embodiment, the image test is performed for each column in the plurality of camera modules 3 arranged in a matrix in the tray 2, but the image test may be performed for each column. I do not care. If the transfer direction of the tray 2 is described as “column direction”, the image test may be performed for each row or for a plurality of rows at a time.
又、上述の実施形態では、特に明示的に言及していないが、本発明盤６０内にＬＥＤ等の撮像に必要な光源を備えているものとして良い。従来の楔形チャートと比較して本発明チャート１０のチャート図形１０ｂは小型化することができるため、本発明盤６０内に光源を設け、各チャート図形１０ｂから光が上向きに放射されるように小型光源を所定の間隔で複数備える構成とすることができる。又、チャートそのものが光源を有していなくても、外部からの光源によってカメラモジュール３によって撮像可能に構成されているものとしても良い。 Further, in the above-described embodiment, although not explicitly mentioned, the light source necessary for imaging such as an LED may be provided in the board 60 of the present invention. Compared with the conventional wedge chart, the chart figure 10b of the chart 10 of the present invention can be miniaturized. Therefore, a light source is provided in the board 60 of the present invention, and the chart figure 10b is compact so that light is emitted upward from each chart figure 10b. A plurality of light sources may be provided at a predetermined interval. Further, even if the chart itself does not have a light source, it may be configured such that it can be imaged by the camera module 3 with an external light source.
又、上述の実施形態では、同一列に属する全てのカメラモジュール３について、各カメラモジュール３の視野角範囲内に、夫々異なる一のチャート図形１０ｂが位置するように本発明チャート１０が設置されており、列毎にカメラモジュール３の画像テストを行う構成としたが、各カメラモジュール３の視野角範囲内に位置するチャート図形１０ｂの内の一部又は全部が共通に構成されるものとしても良い。 Further, in the above-described embodiment, the chart 10 of the present invention is installed so that for each camera module 3 belonging to the same column, one different chart figure 10b is positioned within the viewing angle range of each camera module 3. The image test of the camera module 3 is performed for each column, but a part or all of the chart figures 10b located within the viewing angle range of each camera module 3 may be configured in common. .
図１８は、一のチャート図形１０ｂが複数のカメラモジュール３の視野角範囲内に位置する場合の実施例を概念的に示した図である。図１８（ａ）では、同一列に属する各カメラモジュール３の視野角範囲内に一時にチャート図形１０ｂが位置し、且つ、二つのカメラモジュール３の視野角範囲内に同一のチャート図形１０ｂが位置するように構成されている。かかる場合であっても、列毎に各カメラモジュール３の画像テストを行うことができる。 FIG. 18 is a diagram conceptually showing an embodiment in the case where one chart figure 10 b is located within the viewing angle range of the plurality of camera modules 3. In FIG. 18A, the chart figure 10b is temporarily located within the viewing angle range of each camera module 3 belonging to the same column, and the same chart figure 10b is located within the viewing angle range of the two camera modules 3. Is configured to do. Even in such a case, the image test of each camera module 3 can be performed for each column.
更に、複数列毎に各カメラモジュール３の画像テストを行う構成としても良い。図１８（ｂ）は、あるチャート図形１０ｂとそれを視野角範囲に含むカメラモジュール３（３ａ〜３ｄ）との位置関係を平面的に示したものである。尚、点線で囲んだ領域Ｘａ〜Ｘｄは、夫々各カメラモジュール３ａ〜３ｄの視野角範囲を平面的に表したものである。図１８に示すような構成の場合、同一のチャート図形１０ｂが各カメラモジュール３ａ〜３ｄの視野角範囲内に位置しており、このチャート図形１０ｂによって２行２列分のカメラモジュール３の画像テストが可能となる。本発明チャート１０が、このようなチャート図形１０ｂを一列に複数並べて構成されることで、２列分のカメラモジュール３の視野角範囲内に、一時に何れか一のチャート図形１０ｂを位置させることができる。これにより、２列毎に各カメラモジュール３の画像テストを行うことができる。 Furthermore, it is good also as a structure which performs the image test of each camera module 3 for every several columns. FIG. 18B is a plan view showing the positional relationship between a certain chart figure 10b and the camera module 3 (3a to 3d) including the chart figure 10b in the viewing angle range. Areas Xa to Xd surrounded by dotted lines represent the viewing angle ranges of the camera modules 3a to 3d, respectively, in a plane. In the case of the configuration shown in FIG. 18, the same chart graphic 10b is located within the viewing angle range of each camera module 3a-3d, and the image test of the camera module 3 for 2 rows and 2 columns is performed by this chart graphic 10b. Is possible. The chart 10 of the present invention is configured by arranging a plurality of such chart figures 10b in one row, thereby positioning any one of the chart figures 10b at a time within the viewing angle range of the camera module 3 for two rows. Can do. Thereby, the image test of each camera module 3 can be performed every two columns.
尚、上記において、「２列毎」というのはあくまでも一例であり、一のチャート図形１０ｂと当該チャート図形１０ｂを視野角範囲に収める各カメラモジュール３との位置関係を替えることで、３列以上のカメラモジュール３の画像テストを実施可能に構成されているものとしても良い。 In the above, “every two columns” is merely an example, and by changing the positional relationship between one chart graphic 10b and each camera module 3 that fits the chart graphic 10b in the viewing angle range, three or more columns can be obtained. The camera module 3 may be configured to be able to perform an image test.
又、上述の実施形態では、カメラモジュール３をトレイ２に対して下向きに挿嵌し、トレイ２の下方に設置された本発明チャート１０を撮像することで、カメラモジュール３のテストを行う構成としたが、テスト時のカメラモジュール３の向きは下向きに限定されるものではない。例えば、カメラモジュール３が上向きになるようにトレイ２の収容部２３内にカメラモジュール３を収容し、トレイ２の上方に設置された本発明チャート１０を撮像することでカメラモジュール３のテストを行う構成としても良い。 In the above-described embodiment, the camera module 3 is inserted into the tray 2 downward, and the present invention chart 10 installed below the tray 2 is imaged to test the camera module 3. However, the orientation of the camera module 3 during the test is not limited to the downward direction. For example, the camera module 3 is accommodated in the accommodating portion 23 of the tray 2 so that the camera module 3 faces upward, and the camera module 3 is tested by imaging the chart 10 of the present invention installed above the tray 2. It is good also as a structure.
１： 本発明に係るテスト装置
２： トレイ
３： カメラモジュール
４： トレイ設置台
５： ゴミ・シミテスト用テストチャート
６： 画像テスト用テストヘッド
６ａ： 電気的特性テスト用テストヘッド
７： コンタクタ
８： 不良モジュールピックアップ部
１０： 本発明に係るテストチャート
１０ａ： 背景部
１０ｂ： チャート図形
１１、１２： モータ
１３： はみ出し検出センサ
１４： 位置調整アーム
１７： モータコントローラ
２０： 処理部
２３： 収容部
２５： 蓋
３０： カメラモジュール位置調整部
３１： レンズ
３２： レンズ
４１： テストモジュール
４２： 配線
４３： 加重センサ
５１： 電極
６０： 本発明に係るチャート盤
６１： 支持台
６２： 支持アーム
６３： 留め具
６４： 調整用溝部
６５： レール
７１： 粘着ローラ
７２： ブラシ
７３： エアー
８１： 移送用トレイ
1: Test apparatus according to the present invention 2: Tray 3: Camera module 4: Tray mounting table 5: Test chart for dust / stain test 6: Test head for image test 6a: Test head for electrical characteristic test 7: Contactor 8: Defect Module pickup section 10: Test chart according to the present invention 10a: Background section 10b: Chart figure 11, 12: Motor 13: Projection detection sensor 14: Position adjustment arm 17: Motor controller 20: Processing section 23: Housing section 25: Lid 30 : Camera module position adjustment unit 31: Lens 32: Lens 41: Test module 42: Wiring 43: Weight sensor 51: Electrode 60: Chart board according to the present invention 61: Support base 62: Support arm 63: Fastener 64: For adjustment Groove 65: Rail 71: Adhesive Over La 72: Brush 73: Air 81: transport trays
Claims (8)
前記固体撮像装置用テストチャートの前記チャート図形がカメラモジュールの視野角範囲内に位置するように両者を対向させた際、前記カメラモジュールの面の内、前記固体撮像装置用テストチャートと対向する面とは反対側の面に形成された電極に接触可能なコンタクタと、
前記コンタクタに電気的に接続され、前記コンタクタを介して前記カメラモジュールから与えられる撮像結果の分析が可能な処理部と、
被収容物の挿嵌方向に貫通した空隙を有する収容部を複数備えたトレイと、を備え、
複数の前記カメラモジュールが複数の前記収容部内に夫々収容された状態の下で、少なくとも一の前記チャート図形を複数の前記カメラモジュールの視野角範囲内に設置可能に構成されていることを特徴とするテスト装置。 A test chart for a solid-state imaging device having a chart figure composed of a single circular pattern with a brightness different from the background ;
The surface of the camera module that faces the test chart for the solid-state imaging device when the chart graphic of the test chart for the solid-state imaging device faces each other so that the chart figure is located within the viewing angle range of the camera module A contactor capable of contacting an electrode formed on the opposite surface, and
A processing unit electrically connected to the contactor and capable of analyzing an imaging result given from the camera module via the contactor;
A tray provided with a plurality of accommodating portions having gaps penetrating in the insertion direction of the objects to be accommodated,
In a state where a plurality of the camera modules are accommodated in the plurality of accommodating portions, respectively, at least one of the chart figures is configured to be set within a viewing angle range of the plurality of camera modules. To test equipment.
（数１）
Ｌ≧２（ｎ＋１）・ｄ・ｔａｎ（θｍａｘ／２）／Ｎ The test chart for a solid-state imaging device includes N as the number of pixels in the column direction of the solid-state imaging device to be tested, θ max as the maximum field angle in the column direction of the solid-state imaging device, and the column of the chart figure When the dot size in the direction is 2 n and the distance between the solid-state imaging device and the chart figure is d, the interval L between the plurality of chart figures arranged in the column direction satisfies Equation 1. The test apparatus according to claim 2 or 3.
(Equation 1)
L ≧ 2 (n + 1) · d · tan (θ max / 2) / N
Wherein the solid-state imaging device test chart is placed on the upper surface, the test device according to any one of claims 1 to 7, characterized in that it comprises a chart panel having a light source emitting light upwardly therein.
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