JP2013250101A - Substrate inspection device and substrate inspection method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate inspection device performing a flaw inspection with little false detection using an etching simulation and dispensing with moving of a substrate among a plurality of devices for measuring etching information, and a substrate inspection method.SOLUTION: The substrate inspection device measures an etching curve from a measurement pattern formed on the surface of a substrate, performs an etching simulation using the etching curve, and generates inspection data. The substrate inspection device detects a flaw by collating the inspection data with image data of the wiring pattern formed on the surface of the substrate. The flaw inspection with lille false detection can be thus achieved on the basis of the inspection data generated according to the etching curve. Further, a single substrate inspection device measures the etching curve, performs the etching simulation and inspects flaws. Therefore, there is no necessity to move the substrate among the plurality of devices.

Description

本発明は、基板の表面にエッチングにより形成された配線パターンの欠陥検査を行う基板検査装置および基板検査方法に関する。   The present invention relates to a substrate inspection apparatus and a substrate inspection method for inspecting a defect of a wiring pattern formed by etching on a surface of a substrate.

従来、プリント基板、半導体ウエハ、フォトマスク用ガラス基板、液晶表示装置用ガラス基板、ＰＤＰ用ガラス基板、カラーフィルタ用基板、太陽電池用基板などの精密電子装置用基板の製造工程では、基板の表面に、エッチングにより配線パターンが形成される。そして、形成された配線パターンの品質を保証するために、配線パターンの欠陥検査が行われる。欠陥検査においては、例えば、検査用のパターンデータと、基板から読み取られる画像データとを照合し、両データの差分の大きい箇所を欠陥として検出する。このような欠陥検査を行う従来の基板検査装置については、例えば、特許文献１に開示されている。   Conventionally, in the manufacturing process of substrates for precision electronic devices such as printed circuit boards, semiconductor wafers, glass substrates for photomasks, glass substrates for liquid crystal display devices, glass substrates for PDPs, substrates for color filters, and substrates for solar cells, the surface of the substrate In addition, a wiring pattern is formed by etching. Then, in order to guarantee the quality of the formed wiring pattern, a defect inspection of the wiring pattern is performed. In defect inspection, for example, pattern data for inspection and image data read from the substrate are collated, and a portion having a large difference between the two data is detected as a defect. A conventional substrate inspection apparatus that performs such a defect inspection is disclosed in, for example, Patent Document 1.

特開平７−３２５０４４号公報JP 7-325044 A

ところで、エッチング工程では、配線パターンの形状や間隔によって、エッチング液による腐食の程度が変わる。これは、各パターンの周囲におけるエッチング液の流れ易さが、パターンの形状や間隔によって、変化するためである。例えば、ラインパターンの線幅や間隔、円形パターンの径などが、腐食の程度に影響する。このため、設計上のパターンデータと、実基板から読み取られる画像データとを、単純に照合しただけでは、エッチングにより形状が変化しやすい箇所において、多くの誤検出が生じてしまう。誤検出が多いと、欠陥の検出処理に時間が掛かるだけではなく、検出された欠陥の確認作業にも時間が掛かる。   Incidentally, in the etching process, the degree of corrosion by the etching solution varies depending on the shape and interval of the wiring pattern. This is because the ease of flow of the etching solution around each pattern changes depending on the shape and interval of the pattern. For example, the line width and interval of the line pattern, the diameter of the circular pattern, etc. affect the degree of corrosion. For this reason, if the design pattern data and the image data read from the actual substrate are simply collated, many false detections occur at locations where the shape tends to change by etching. When there are many false detections, not only does the defect detection process take time, but it also takes time to confirm the detected defect.

そこで、従来では、エッチングにより形状が変化しやすい箇所を検査領域から除外したり、当該箇所における検査感度を低下させたりして、欠陥検査を行っていた。しかしながら、そのような検査方法では、検出すべき欠陥の見逃しが生じる虞がある。   Therefore, conventionally, a defect inspection is performed by excluding a portion whose shape is likely to change due to etching from the inspection region or reducing the inspection sensitivity at the portion. However, in such an inspection method, there is a possibility that a defect to be detected may be overlooked.

一方、設計上のパターンデータを、エッチングシミュレーションを用いて変換すれば、パターンデータの形状を、実基板上の配線パターンの形状に、近づけることができる。このため、当該パターンデータを使用して、誤検出の少ない欠陥検査を行うことができる。しかしながら、エッチングシミュレーションを行うためには、実基板のエッチングの程度を示すエッチング曲線を測定する必要がある。従来では、このエッチング曲線の測定のために、基板検査装置とは別の装置へ基板を搬送して、パターンの測長を行う必要があった。また、基板の全面に対してエッチングシミュレーションを行うと、エッチングシミュレーション自体が長時間の処理となるため、全体として工程を短縮することが困難となる。   On the other hand, if the design pattern data is converted using etching simulation, the shape of the pattern data can be brought close to the shape of the wiring pattern on the actual substrate. For this reason, it is possible to perform defect inspection with few false detections using the pattern data. However, in order to perform the etching simulation, it is necessary to measure an etching curve indicating the degree of etching of the actual substrate. Conventionally, in order to measure the etching curve, it has been necessary to transport the substrate to an apparatus different from the substrate inspection apparatus and perform pattern length measurement. Further, if an etching simulation is performed on the entire surface of the substrate, the etching simulation itself is a long-time process, making it difficult to shorten the process as a whole.

本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、エッチングシミュレーションを用いて誤検出の少ない欠陥検査を行い、かつ、エッチング情報の測定のために複数の装置の間で基板を移動させる必要のない基板検査装置および基板検査方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and it is necessary to perform defect inspection with few false detections using etching simulation and to move a substrate between a plurality of apparatuses for measuring etching information. It is an object of the present invention to provide a substrate inspection apparatus and a substrate inspection method that are free from defects.

上記課題を解決するため、本願の第１発明は、基板の表面にエッチングにより形成された配線パターンの欠陥検査を行う基板検査装置であって、基板の表面に形成された測定用パターンからエッチング情報を測定する情報測定手段と、前記エッチング情報を用いて、設計データにエッチングシミュレーションを行うことにより、検査データを生成するシミュレーション手段と、基板の表面に形成された配線パターンを撮影し、得られた画像データと前記検査データとを照合させることにより、欠陥を検出する欠陥検出手段と、を備える。   In order to solve the above-mentioned problem, the first invention of the present application is a substrate inspection apparatus for inspecting a defect of a wiring pattern formed by etching on a surface of a substrate, and etching information is obtained from a measurement pattern formed on the surface of the substrate. Obtained by photographing the wiring pattern formed on the surface of the substrate, the information measuring means for measuring the inspection, the simulation means for generating the inspection data by performing the etching simulation on the design data using the etching information Defect detection means for detecting defects by collating image data with the inspection data.

本願の第２発明は、第１発明の基板検査装置であって、前記配線パターンは、複数の個片パターンを含み、前記シミュレーション手段は、一部の個片パターンの設計データに対して、前記エッチングシミュレーションを行うとともに、前記エッチングシミュレーションの結果を多面付けすることにより、前記検査データを生成する。   A second invention of the present application is the board inspection apparatus according to the first invention, wherein the wiring pattern includes a plurality of individual patterns, and the simulation means performs the design data on a part of the individual pattern with respect to the design data. The inspection data is generated by performing an etching simulation and applying the results of the etching simulation in many ways.

本願の第３発明は、第１発明の基板検査装置であって、基板の表面に、複数の検査領域が設定され、複数の前記検査領域のそれぞれに、前記測定用パターンが設けられ、前記情報測定手段は、複数の前記測定用パターンのそれぞれについて、エッチング情報を測定し、前記シミュレーション手段は、各検査領域に含まれる測定用パターンから得られたエッチング情報を用いて、前記検査領域ごとにエッチングシミュレーションを行う。   A third invention of the present application is the substrate inspection apparatus according to the first invention, wherein a plurality of inspection regions are set on a surface of the substrate, and the measurement pattern is provided in each of the plurality of inspection regions, and the information The measuring means measures etching information for each of the plurality of measurement patterns, and the simulation means performs etching for each inspection region using the etching information obtained from the measurement patterns included in each inspection region. Perform a simulation.

本願の第４発明は、第３発明の基板検査装置であって、前記検査領域内に、複数の個片パターンが含まれ、前記シミュレーション手段は、一部の個片パターンの設計データに対して、前記エッチングシミュレーションを行うとともに、前記エッチングシミュレーションの結果を多面付けすることにより、前記検査データを生成する。   A fourth invention of the present application is the substrate inspection apparatus according to the third invention, wherein a plurality of individual patterns are included in the inspection area, and the simulation means is provided for design data of some individual patterns. The inspection data is generated by performing the etching simulation and adding the results of the etching simulation.

本願の第５発明は、第３発明または第４発明の基板検査装置であって、ユーザの操作により、複数の前記検査領域を設定する領域設定手段をさらに備える。   A fifth invention of the present application is the substrate inspection apparatus according to the third or fourth invention, further comprising region setting means for setting a plurality of the inspection regions by a user operation.

本願の第６発明は、第１発明から第５発明までのいずれかの基板検査装置であって、前記配線パターンと前記測定用パターンとが、単一の基板の表面に形成されている。   A sixth invention of the present application is the substrate inspection apparatus according to any of the first to fifth inventions, wherein the wiring pattern and the measurement pattern are formed on a surface of a single substrate.

本願の第７発明は、基板の表面にエッチングにより形成された配線パターンの欠陥検査を行う基板検査方法であって、ａ）基板の表面に形成された測定用パターンからエッチング情報を測定する工程と、ｂ）前記エッチング情報を用いて、設計データにエッチングシミュレーションを行うことにより、検査データを生成する工程と、ｃ）基板の表面に形成された配線パターンを撮影し、得られた画像データと前記検査データとを照合させることにより、欠陥を検出する工程と、を単一の装置において行う。   A seventh invention of the present application is a substrate inspection method for inspecting a defect of a wiring pattern formed by etching on a surface of a substrate, and a) a step of measuring etching information from a measurement pattern formed on the surface of the substrate; B) a process of generating inspection data by performing etching simulation on design data using the etching information; c) photographing a wiring pattern formed on the surface of the substrate; The step of detecting defects by collating with inspection data is performed in a single device.

本願の第８発明は、第７発明の基板検査方法であって、前記工程ｂ）においては、前記配線パターンを構成する複数の個片パターンのうち、一部の個片パターンの設計データに対して、前記エッチングシミュレーションを行うとともに、前記エッチングシミュレーションの結果を多面付けすることにより、前記検査データを生成する。   An eighth invention of the present application is the substrate inspection method according to the seventh invention, wherein in the step b), the design data of a part of individual pattern among a plurality of individual patterns constituting the wiring pattern is used. Then, the inspection data is generated by performing the etching simulation and applying the results of the etching simulation in many ways.

本願の第１発明によれば、エッチング情報に応じて生成された検査データに基づいて、誤検出の少ない欠陥検査を行うことができる。また、単一の基板検査装置において、エッチング情報の測定、エッチングシミュレーション、および欠陥の検出が行われる。このため、複数の装置の間で基板を移動させる必要がない。   According to the first invention of the present application, it is possible to perform defect inspection with few false detections based on inspection data generated according to etching information. Further, in a single substrate inspection apparatus, etching information measurement, etching simulation, and defect detection are performed. For this reason, it is not necessary to move a board | substrate between several apparatuses.

特に、本願の第２発明によれば、エッチングシミュレーションに掛かる時間を短縮できる。このため、単一の基板検査装置においてエッチングシミュレーションと欠陥の検出とを行いつつ、処理全体の長時間化を抑制できる。   In particular, according to the second invention of the present application, the time required for etching simulation can be shortened. For this reason, it is possible to suppress an increase in the overall processing time while performing etching simulation and defect detection in a single substrate inspection apparatus.

特に、本願の第３発明によれば、各検査領域におけるエッチングの程度をより正確に反映した検査データを作成できる。したがって、各検査領域における誤検出を、より低減できる。   In particular, according to the third invention of the present application, inspection data that more accurately reflects the degree of etching in each inspection region can be created. Therefore, erroneous detection in each inspection region can be further reduced.

特に、本願の第４発明によれば、エッチングシミュレーションに掛かる時間を短縮できる。このため、単一の基板検査装置においてエッチングシミュレーションと欠陥の検出とを行いつつ、処理全体の長時間化を抑制できる。   In particular, according to the fourth aspect of the present invention, the time required for the etching simulation can be shortened. For this reason, it is possible to suppress an increase in the overall processing time while performing etching simulation and defect detection in a single substrate inspection apparatus.

特に、本願の第５発明によれば、基板検査装置のユーザが、エッチング処理の傾向や検査の状況に応じて、検査領域を設定できる。   In particular, according to the fifth invention of the present application, the user of the substrate inspection apparatus can set the inspection region according to the tendency of the etching process and the state of the inspection.

特に、本願の第６発明によれば、実基板とは別にエッチング情報測定用の基板を用意することなく、実基板に対して、エッチング情報の測定から欠陥の検出までを一貫して行うことができる。   In particular, according to the sixth invention of the present application, it is possible to consistently perform the etching information measurement to the defect detection on the actual substrate without preparing a substrate for measuring the etching information separately from the actual substrate. it can.

また、本願の第７発明によれば、エッチング情報に応じて生成された検査データに基づいて、誤検出の少ない欠陥検査を行うことができる。また、単一の装置において、エッチング情報の測定、エッチングシミュレーション、および欠陥の検出が行われる。このため、複数の装置の間で基板を移動させる必要がない。   Further, according to the seventh invention of the present application, it is possible to perform defect inspection with few false detections based on inspection data generated according to etching information. Moreover, in a single apparatus, measurement of etching information, etching simulation, and defect detection are performed. For this reason, it is not necessary to move a board | substrate between several apparatuses.

特に、本願の第８発明によれば、エッチングシミュレーションに掛かる時間を短縮できる。このため、単一の装置においてエッチングシミュレーションと欠陥の検出とを行いつつ、処理全体の長時間化を抑制できる。   In particular, according to the eighth invention of the present application, the time required for the etching simulation can be shortened. For this reason, it is possible to suppress an increase in the overall processing time while performing etching simulation and defect detection in a single apparatus.

プリント基板の斜視図である。It is a perspective view of a printed circuit board. 測定用パターンの例を示した図である。It is the figure which showed the example of the pattern for a measurement. 基板検査システムの構成を示した図である。It is the figure which showed the structure of the board | substrate inspection system. 基板検査装置の上面図である。It is a top view of a substrate inspection apparatus. 基板検査装置の側面図である。It is a side view of a board | substrate inspection apparatus. 欠陥検査の手順を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the procedure of defect inspection. 検査データの生成手順を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the production | generation procedure of test | inspection data. 制御部におけるデータ処理の様子を、概念的に示したブロック図である。It is the block diagram which showed notably the mode of the data processing in a control part. 一対のラインパターンにおいて、エッチング曲線の測定に使用されるパラメータの例を示した図である。It is the figure which showed the example of the parameter used for the measurement of an etching curve in a pair of line pattern. エッチング曲線の例を示した図である。It is the figure which showed the example of the etching curve. 円形パターンにおいて、エッチング曲線の測定に使用されるパラメータの例を示した図である。It is the figure which showed the example of the parameter used for the measurement of an etching curve in a circular pattern. エッチング曲線の例を示した図である。It is the figure which showed the example of the etching curve.

以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照しつつ説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

＜１．プリント基板について＞
まず、後述する基板検査装置３０において検査されるプリント基板について、説明する。図１は、プリント基板９の一例を示した図である。図１に示すように、プリント基板９は、ベース板部９１と、ベース板部９１の上面に形成された配線パターン９２とを有する。ベース板部９１は、ガラスエポキシや紙フェノール等の絶縁材料より形成される。配線パターン９２は、フォトリソグラフィ工程において、銅箔等の導体をエッチングすることにより、形成される。 <1. About printed circuit boards>
First, the printed circuit board inspected by the substrate inspection apparatus 30 described later will be described. FIG. 1 is a diagram showing an example of the printed circuit board 9. As shown in FIG. 1, the printed circuit board 9 includes a base plate portion 91 and a wiring pattern 92 formed on the upper surface of the base plate portion 91. The base plate portion 91 is formed from an insulating material such as glass epoxy or paper phenol. The wiring pattern 92 is formed by etching a conductor such as a copper foil in a photolithography process.

図１に示すように、配線パターン９２は、格子状に配列された複数（図１の例では２４個）の個片パターン９２１を含んでいる。各個片パターン９２１は、互いに同一の電子回路を構成する。すなわち、各個片パターン９２１は、設計上は同一のパターンとなっている。図１に示すプリント基板９は、その後の製造工程において、個片パターン９２１毎に複数の基板に分割される。   As shown in FIG. 1, the wiring pattern 92 includes a plurality (24 in the example of FIG. 1) of individual patterns 921 arranged in a lattice pattern. Each piece pattern 921 constitutes the same electronic circuit. That is, the individual pattern 921 is the same pattern in design. The printed circuit board 9 shown in FIG. 1 is divided into a plurality of substrates for each individual pattern 921 in the subsequent manufacturing process.

また、後述する基板検査システム１においては、プリント基板９の上面に、複数の検査領域９３が設定される。図１の例では、プリント基板９の上面が、４つの検査領域９３に分割され、各検査領域９３に、６つの個片パターン９２１が含まれている。また、プリント基板９の上面には、後述するエッチング曲線の測定に用いるための測定用パターン９４が、複数（図１の例では４つ）形成されている。測定用パターン９４は、各検査領域９３に、１つずつ含まれる。なお、測定用パターン９４は、銅箔等の導体をエッチングすることにより、配線パターン９２と同時に形成される。   In the board inspection system 1 to be described later, a plurality of inspection areas 93 are set on the upper surface of the printed board 9. In the example of FIG. 1, the upper surface of the printed circuit board 9 is divided into four inspection areas 93, and each individual inspection area 93 includes six individual patterns 921. In addition, a plurality of measurement patterns 94 (four in the example of FIG. 1) are formed on the upper surface of the printed circuit board 9 to be used for measuring an etching curve, which will be described later. One measurement pattern 94 is included in each inspection region 93. The measurement pattern 94 is formed simultaneously with the wiring pattern 92 by etching a conductor such as a copper foil.

図２は、測定用パターン９４の例を示した図である。図２の測定用パターン９４は、一対のラインパターンにより構成されるパターン組９４１と、円形パターン９４２とを、それぞれ複数有している。一対のラインパターンの間隔は、パターン組９４１ごとに異なる。また、複数の円形パターン９４２は、互いに異なる径を有している。   FIG. 2 is a diagram showing an example of the measurement pattern 94. The measurement pattern 94 in FIG. 2 has a plurality of pattern sets 941 each composed of a pair of line patterns and a plurality of circular patterns 942. The interval between the pair of line patterns differs for each pattern set 941. The plurality of circular patterns 942 have different diameters.

なお、測定用パターン９４のデザインは、図２の例に限定されるものではない。例えば、パターン組９４１ごとに、ラインパターンの線幅が変更されていてもよい。また、パターン組９４１の数や、円形パターン９４２の数は、図２とは異なる数であってもよい。また、測定用パターン９４に、ラインパターンや円形パターン以外のパターンが、含まれていてもよい。また、測定用パターンは、図１のように配線パターン９２の周囲に配置されていてもよく、複数の個片パターン９２１の隙間に配置されていてもよい。   The design of the measurement pattern 94 is not limited to the example of FIG. For example, the line width of the line pattern may be changed for each pattern set 941. Further, the number of pattern sets 941 and the number of circular patterns 942 may be different from those in FIG. Further, the measurement pattern 94 may include a pattern other than a line pattern or a circular pattern. Further, the measurement pattern may be arranged around the wiring pattern 92 as shown in FIG. 1 or may be arranged in a gap between the plurality of individual patterns 921.

＜２．基板検査システムの構成＞
続いて、本発明の一実施形態に係る基板検査装置３０を備えた基板検査システム１について、説明する。図３は、基板検査システム１の構成を示した図である。この基板検査システム１は、プリント基板９の製造工程において、配線パターン９２の欠陥検査を行うためのシステムである。図３に示すように、基板検査システム１は、データサーバ１０、ＣＡＭ編集機２０、基板検査装置３０、およびベリファイ装置４０を備えている。 <2. Configuration of board inspection system>
Next, the substrate inspection system 1 including the substrate inspection apparatus 30 according to an embodiment of the present invention will be described. FIG. 3 is a diagram showing a configuration of the substrate inspection system 1. The substrate inspection system 1 is a system for performing a defect inspection of the wiring pattern 92 in the manufacturing process of the printed circuit board 9. As shown in FIG. 3, the board inspection system 1 includes a data server 10, a CAM editing machine 20, a board inspection apparatus 30, and a verification apparatus 40.

データサーバ１０とＣＡＭ編集機２０とは、ＨＵＢ５１を介して、電気的に接続されている。また、ＣＡＭ編集機２０、基板検査装置３０、およびベリファイ装置４０は、ＨＵＢ５２を介して、電気的に接続されている。また、ＣＡＭ編集機は、ＨＵＢ５３を介して、基板検査システム１の外部に位置する描画装置６０にも、電気的に接続されている。各ＨＵＢ５１，５２，５３を介して接続された複数の装置の間では、種々のデータを送受信することが可能となっている。   The data server 10 and the CAM editing machine 20 are electrically connected via a HUB 51. Further, the CAM editing machine 20, the board inspection apparatus 30, and the verification apparatus 40 are electrically connected via a HUB 52. The CAM editing machine is also electrically connected to a drawing device 60 located outside the board inspection system 1 via the HUB 53. Various data can be transmitted and received between a plurality of devices connected via the HUBs 51, 52, and 53.

データサーバ１０には、プリント基板９上に配列される個々の個片パターン９２１の設計データ（以下、「個片設計データＤ１」という）が、記憶されている。データサーバ１０は、ＣＡＭ編集機２０からの要求に応じて、個片設計データＤ１をＣＡＭ編集機２０へ出力する。データサーバ１０は、例えば、ハードディスク等の記憶部と、記憶部に対してデータの読み書きを行うＣＰＵ等の演算処理部と、を有するコンピュータにより構成される。   The data server 10 stores design data of individual piece patterns 921 arranged on the printed circuit board 9 (hereinafter referred to as “piece design data D1”). The data server 10 outputs the piece design data D1 to the CAM editing machine 20 in response to a request from the CAM editing machine 20. For example, the data server 10 includes a computer having a storage unit such as a hard disk and an arithmetic processing unit such as a CPU that reads and writes data from and to the storage unit.

ＣＡＭ編集機２０は、プリント基板９全体の設計データ（以下、「全体設計データＤ２」という）を作成するための装置である。ＣＡＭ編集機２０は、データサーバ１０から個片設計データＤ１を読み出し、読み出された個片設計データＤ１を配列するとともに、測定用パターン９４の設計データを、所定の位置に組み込む。これにより、全体設計データＤ２が作成される。ＣＡＭ編集機２０は、例えば、ＣＰＵ等の演算処理部やメモリを有するコンピュータにより構成される。   The CAM editing machine 20 is a device for creating design data for the entire printed circuit board 9 (hereinafter referred to as “total design data D2”). The CAM editing machine 20 reads the piece design data D1 from the data server 10, arranges the read piece design data D1, and incorporates the design data of the measurement pattern 94 into a predetermined position. Thereby, overall design data D2 is created. The CAM editing machine 20 is constituted by a computer having an arithmetic processing unit such as a CPU and a memory, for example.

ここで、測定用パターン９４は、プリント基板９上の検査領域９３ごとに、例えば１つずつ配置される。検査領域９３は、ＣＡＭ編集機２０において設定して全体設計データＤ２に組み込まれるようになっていてもよく、あるいは、基板検査装置３０の制御部３５において、設定または変更できるようになっていてもよい。   Here, for example, one measurement pattern 94 is arranged for each inspection region 93 on the printed circuit board 9. The inspection area 93 may be set in the CAM editing machine 20 and incorporated into the overall design data D2, or may be set or changed in the control unit 35 of the board inspection apparatus 30. Good.

描画装置６０は、プリント基板９の上面に形成されたレジスト膜を、選択的に露光するための装置である。描画装置６０は、ＣＡＭ編集機２０から全体設計データＤ２を受信し、当該全体設計データＤ２に基づいて、プリント基板９の上面を、選択的に露光（描画）する。描画処理後のプリント基板９は、図示しないエッチング装置へ搬送されて、エッチング処理される。その後、洗浄装置においてレジスト膜が除去されることにより、プリント基板９の上面に、配線パターン９２と複数の測定用パターン９４とが形成される。   The drawing device 60 is a device for selectively exposing a resist film formed on the upper surface of the printed circuit board 9. The drawing device 60 receives the overall design data D2 from the CAM editing machine 20, and selectively exposes (draws) the upper surface of the printed circuit board 9 based on the overall design data D2. The printed circuit board 9 after the drawing process is transferred to an etching apparatus (not shown) and subjected to an etching process. Thereafter, the resist film is removed by the cleaning device, whereby the wiring pattern 92 and a plurality of measurement patterns 94 are formed on the upper surface of the printed circuit board 9.

基板検査装置３０は、プリント基板９の表面に形成された配線パターン９２の欠陥検査を行う装置である。基板検査装置３０は、ＣＡＭ編集機２０から受信した全体設計データＤ２に基づいて、検査データＤ５（図８参照）を作成する。また、基板検査装置３０は、プリント基板９の上面を撮影し、画像データＤ３（図８参照）を取得する。そして、検査データＤ５と画像データＤ３とを照合することにより、配線パターン９２の欠陥を検出する。検査結果のデータは、基板検査装置３０からベリファイ装置４０へ送信される。基板検査装置３０のより詳細な構成については、後述する。   The board inspection apparatus 30 is an apparatus that performs a defect inspection of the wiring pattern 92 formed on the surface of the printed board 9. The board inspection apparatus 30 creates inspection data D5 (see FIG. 8) based on the overall design data D2 received from the CAM editing machine 20. Further, the board inspection device 30 photographs the upper surface of the printed board 9 and acquires image data D3 (see FIG. 8). And the defect of the wiring pattern 92 is detected by collating inspection data D5 and image data D3. The inspection result data is transmitted from the substrate inspection apparatus 30 to the verification apparatus 40. A more detailed configuration of the substrate inspection apparatus 30 will be described later.

ベリファイ装置４０は、基板検査装置３０が欠陥として検出したプリント基板９上の箇所を、目視により確認するための装置である。ベリファイ装置４０は、基板検査装置３０から検査結果のデータを受信すると、検査結果において指定された箇所を作業者に示す。作業者は、プリント基板９上の当該箇所を、目視観察により確認する。これにより、誤検出と実欠陥との分類や、欠陥の種類（断線、欠け、突起等）の判定を行う。   The verify device 40 is a device for visually confirming a location on the printed circuit board 9 detected as a defect by the substrate inspection device 30. When the verification device 40 receives the inspection result data from the substrate inspection device 30, the verification device 40 indicates to the operator the location specified in the inspection result. An operator confirms the said location on the printed circuit board 9 by visual observation. As a result, classification between erroneous detection and actual defect and determination of defect type (disconnection, chipping, protrusion, etc.) are performed.

＜３．基板検査装置の構成＞
続いて、基板検査装置３０のより詳細な構成について、説明する。 <3. Configuration of board inspection equipment>
Next, a more detailed configuration of the substrate inspection apparatus 30 will be described.

図４は、基板検査装置３０の上面図である。図５は、基板検査装置３０の側面図である。図４および図５に示すように、基板検査装置３０は、ハウジング３１、テーブル３２、テーブル移動機構３３、撮像部３４、および制御部３５を備えている。なお、図４および図５では、ハウジング３１の内部を明示するために、ハウジング３１の一部分を破断して示している。   FIG. 4 is a top view of the substrate inspection apparatus 30. FIG. 5 is a side view of the substrate inspection apparatus 30. As shown in FIGS. 4 and 5, the board inspection apparatus 30 includes a housing 31, a table 32, a table moving mechanism 33, an imaging unit 34, and a control unit 35. In FIGS. 4 and 5, a part of the housing 31 is shown broken away in order to clearly show the inside of the housing 31.

ハウジング３１は、基台部３１１とカバー部３１２とを有している。基台部３１１は、工場内の床面に接触して基板検査装置３０の全体を支持する複数の脚部３１３を有する。カバー部３１２は、基台部３１１の上部を覆っている。テーブル３２、テーブル移動機構３３、撮像部３４、および制御部３５は、基台部３１１とカバー部３１２とで構成される筐体状のハウジング３１の内部に、収容されている。   The housing 31 has a base part 311 and a cover part 312. The base 311 has a plurality of legs 313 that contact the floor surface in the factory and support the entire board inspection apparatus 30. The cover part 312 covers the upper part of the base part 311. The table 32, the table moving mechanism 33, the imaging unit 34, and the control unit 35 are accommodated in a housing 31 that includes a base unit 311 and a cover unit 312.

テーブル３２は、プリント基板９を載置する板状の保持部である。テーブル３２は、基台部３１１の上部開口の付近に、水平姿勢で配置されている。テーブル３２は、矩形状の枠部３２１と、枠部３２１の内側に嵌め込まれたガラス製の光透過部３２２と、を有している。枠部３２１の下面には、後述するボールねじ３３２に螺合するナット部３２３が設けられている。プリント基板９は、配線パターン９２および測定用パターン９４が形成された面が上側となる水平姿勢で、光透過部３２２の上面に載置される。   The table 32 is a plate-like holding unit on which the printed board 9 is placed. The table 32 is arranged in a horizontal posture in the vicinity of the upper opening of the base portion 311. The table 32 has a rectangular frame portion 321 and a glass light transmission portion 322 fitted inside the frame portion 321. On the lower surface of the frame portion 321, a nut portion 323 that is screwed into a ball screw 332 described later is provided. The printed circuit board 9 is placed on the upper surface of the light transmission part 322 in a horizontal posture in which the surface on which the wiring pattern 92 and the measurement pattern 94 are formed is on the upper side.

テーブル移動機構３３は、一対のガイドレール３３１、ボールねじ３３２、およびモータ３３３を有する。一対のガイドレール３３１とボールねじ３３２とは、主走査方向に沿って、互いに平行かつ水平に延びている。テーブル３２の枠部３２１は、ガイドレール３３１に対して、スライド移動可能に取り付けられている。また、ボールねじ３３２には、テーブル３２のナット部３２３が螺合している。モータ３３３を駆動させると、ボールねじ３３２は、その軸芯を中心として回転する。そうすると、ボールねじ３３２およびガイドレール３３１に沿って、テーブル３２が主走査方向に移動する。   The table moving mechanism 33 has a pair of guide rails 331, a ball screw 332, and a motor 333. The pair of guide rails 331 and the ball screw 332 extend parallel and horizontally to each other along the main scanning direction. The frame portion 321 of the table 32 is attached to the guide rail 331 so as to be slidable. Further, the nut portion 323 of the table 32 is screwed into the ball screw 332. When the motor 333 is driven, the ball screw 332 rotates about its axis. Then, the table 32 moves in the main scanning direction along the ball screw 332 and the guide rail 331.

撮像部３４は、プリント基板９の上面を撮影するための機構である。撮像部３４は、カバー部３１２の内部に配置されている。図４および図５に示すように、撮像部３４は、複数のローラ機構３４１、複数の光学ヘッド３４２、ヘッド支持部３４３、およびヘッド移動機構３４４を有している。複数のローラ機構３４１は、光学ヘッド３４２の主走査方向の前後において、プリント基板９の上面を押圧する。これにより、光学ヘッド３４２の下方において、プリント基板９の位置ずれと撓みとが、抑制される。   The imaging unit 34 is a mechanism for photographing the upper surface of the printed circuit board 9. The imaging unit 34 is disposed inside the cover unit 312. As shown in FIGS. 4 and 5, the imaging unit 34 includes a plurality of roller mechanisms 341, a plurality of optical heads 342, a head support unit 343, and a head moving mechanism 344. The plurality of roller mechanisms 341 press the upper surface of the printed circuit board 9 before and after the optical head 342 in the main scanning direction. Thereby, the position shift and the bending of the printed circuit board 9 are suppressed below the optical head 342.

複数の光学ヘッド３４２は、副走査方向（主走査方向に直交する水平方向）に等間隔に配列されている。各光学ヘッド３４２には、レンズ等の光学系と、ＣＣＤやＣＭＯＳ等の撮像素子とが搭載されている。また、複数の光学ヘッド３４２は、ヘッド支持部３４３に固定されて、一体化されている。ヘッド支持部３４３に接続されたヘッド移動機構３４４を駆動させると、ヘッド支持部３４３とともに複数の光学ヘッド３４２が、副走査方向に移動する。ヘッド移動機構３４４は、例えば、テーブル移動機構３３と同じように、ガイドレール、ボールねじ、およびモータを有する機構により、実現できる。   The plurality of optical heads 342 are arranged at equal intervals in the sub-scanning direction (horizontal direction orthogonal to the main scanning direction). Each optical head 342 includes an optical system such as a lens and an image sensor such as a CCD or CMOS. The plurality of optical heads 342 are fixed to the head support portion 343 and integrated. When the head moving mechanism 344 connected to the head support portion 343 is driven, the plurality of optical heads 342 move together with the head support portion 343 in the sub-scanning direction. The head moving mechanism 344 can be realized by a mechanism having a guide rail, a ball screw, and a motor, for example, like the table moving mechanism 33.

また、撮像部３４は、図示しない複数の光源を有する。光源は、撮影時のプリント基板９の上方位置および下方位置に、それぞれ配置されている。撮像部３４は、これらの光源のＯＮ／ＯＦＦを切り替えることにより、透過光および反射光によるプリント基板９の撮影を行う。   The imaging unit 34 includes a plurality of light sources (not shown). The light sources are respectively arranged at an upper position and a lower position of the printed circuit board 9 at the time of photographing. The imaging unit 34 takes an image of the printed circuit board 9 with transmitted light and reflected light by switching ON / OFF of these light sources.

制御部３５は、カバー部３１２の内部に配置されている。制御部３５は、モータ３３３、ローラ機構３４１、光学ヘッド３４２、およびヘッド移動機構３４４と、電気的に接続されている。制御部３５は、例えば、ＣＰＵ等の演算処理部、ハードディスク等の記憶部、およびデータを一時的に記憶するメモリなどを有するコンピュータにより構成される。制御部３５は、ユーザの操作、各種の入力信号、または予め設定されたプログラムに従って、基板検査装置３０内の各部を制御するとともに、種々のデータ処理を行う。これにより、基板検査装置３０におけるプリント基板９の検査が進行する。   The control unit 35 is disposed inside the cover unit 312. The control unit 35 is electrically connected to the motor 333, the roller mechanism 341, the optical head 342, and the head moving mechanism 344. The control unit 35 includes, for example, a computer having an arithmetic processing unit such as a CPU, a storage unit such as a hard disk, and a memory that temporarily stores data. The control unit 35 controls each unit in the substrate inspection apparatus 30 according to a user operation, various input signals, or a preset program, and performs various data processing. Thereby, the inspection of the printed circuit board 9 in the substrate inspection apparatus 30 proceeds.

＜４．欠陥検査について＞
図６は、上述した基板検査装置３０における欠陥検査の手順を示したフローチャートである。図７は、図６中のステップＳ３における検査データの生成手順を示したフローチャートである。図８は、制御部３５におけるデータ処理の様子を、概念的に示したブロック図である。以下では、図６〜図８を参照しつつ、基板検査装置３０における欠陥検査について、説明する。なお、図８中の画像取得部３５１、情報測定部３５２、シミュレーション部３５３、およびデータ照合部３５４は、例えば、コンピュータのＣＰＵが、メモリ等に記憶されたデータを参照しつつ動作することにより、実現される。 <4. About defect inspection ＞
FIG. 6 is a flowchart showing a procedure of defect inspection in the substrate inspection apparatus 30 described above. FIG. 7 is a flowchart showing a procedure for generating inspection data in step S3 in FIG. FIG. 8 is a block diagram conceptually showing the state of data processing in the control unit 35. Below, the defect inspection in the board | substrate inspection apparatus 30 is demonstrated, referring FIGS. 6-8. Note that the image acquisition unit 351, the information measurement unit 352, the simulation unit 353, and the data collation unit 354 in FIG. 8 are operated by the CPU of the computer referring to data stored in a memory or the like, for example. Realized.

基板検査装置３０において欠陥検査を行うときには、まず、エッチング工程を経て配線パターン９２および複数の測定用パターン９４が形成されたプリント基板９を、テーブル３２の上面に載置する。次に、制御部３５へ検査を開始する旨の信号が入力される。すると、制御部３５が、モータ３３３、ローラ機構３４１、光学ヘッド３４２、およびヘッド移動機構３４４を制御することにより、プリント基板９の画像を読み取る処理が行われる（ステップＳ１）。   When performing a defect inspection in the substrate inspection apparatus 30, first, the printed circuit board 9 on which the wiring pattern 92 and the plurality of measurement patterns 94 are formed through an etching process is placed on the upper surface of the table 32. Next, a signal to start the inspection is input to the control unit 35. Then, the control part 35 controls the motor 333, the roller mechanism 341, the optical head 342, and the head moving mechanism 344, and the process which reads the image of the printed circuit board 9 is performed (step S1).

ステップＳ１では、まず、モータ３３３が順方向に駆動する。これにより、テーブル３２およびプリント基板９が、主走査方向へ移動する。また、プリント基板９が撮像部３４の下方を通過する際に、複数の光学ヘッド３４２が、プリント基板９の上面の画像を読み取る。すなわち、往路の主走査スキャンが行われる。   In step S1, first, the motor 333 is driven in the forward direction. Thereby, the table 32 and the printed circuit board 9 move in the main scanning direction. In addition, when the printed circuit board 9 passes below the imaging unit 34, the plurality of optical heads 342 reads an image on the upper surface of the printed circuit board 9. That is, the forward main scanning scan is performed.

往路の主走査スキャンが完了すると、次に、ヘッド移動機構３４４が動作する。これにより、ヘッド支持部３４３および複数の光学ヘッド３４２が、副走査方向に移動する。ここでの副走査方向の移動量は、光学ヘッド３４２の間隔の半分とされる。   When the forward main scanning scan is completed, the head moving mechanism 344 operates next. As a result, the head support portion 343 and the plurality of optical heads 342 move in the sub-scanning direction. The amount of movement in the sub-scanning direction here is half of the distance between the optical heads 342.

その後、モータ３３３が逆方向に駆動する。これにより、テーブル３２およびプリント基板９が、往路の主走査スキャンとは逆方向に移動する。また、プリント基板９が撮像部３４の下方を通過する際に、複数の光学ヘッド３４２が、プリント基板９の上面の画像を読み取る。すなわち、復路の主走査スキャンが行われる。   Thereafter, the motor 333 is driven in the reverse direction. As a result, the table 32 and the printed circuit board 9 move in the direction opposite to the forward main scanning scan. In addition, when the printed circuit board 9 passes below the imaging unit 34, the plurality of optical heads 342 reads an image on the upper surface of the printed circuit board 9. That is, the main scanning scan in the backward path is performed.

このように、この基板検査装置３０では、往路および復路の主走査スキャンにより、複数の光学ヘッド３４２が、プリント基板９の上面全域に亘る画像を撮影する。複数の光学ヘッド３４２の出力信号は、画像取得部３５１において統合されて、デジタル化される。これにより、画像データＤ３が取得される。この画像データＤ３には、配線パターン９２の画像と、複数の測定用パターン９４の画像とが、含まれる。   As described above, in the substrate inspection apparatus 30, the plurality of optical heads 342 capture images over the entire upper surface of the printed circuit board 9 by the forward and backward main scanning scans. Output signals of the plurality of optical heads 342 are integrated and digitized by the image acquisition unit 351. Thereby, the image data D3 is acquired. The image data D3 includes an image of the wiring pattern 92 and images of a plurality of measurement patterns 94.

次に、情報測定部３５２が、画像データＤ３に基づいて、エッチングの強弱の度合いを示すエッチング曲線Ｄ４を、エッチング情報として測定する（ステップＳ２）。ここでは、まず、情報測定部３５２が、画像データＤ３に含まれる複数の測定用パターン９４の画像と、全体設計データＤ２に含まれる複数の測定用パターン９４の画像とのそれぞれについて、エッジ抽出処理を行う。そして、エッジ抽出後の輪郭線の差分に基づいて、エッチング曲線Ｄ４を測定する。   Next, the information measuring unit 352 measures, as etching information, an etching curve D4 indicating the degree of etching strength based on the image data D3 (step S2). Here, first, the information measurement unit 352 performs edge extraction processing for each of the images of the plurality of measurement patterns 94 included in the image data D3 and the images of the plurality of measurement patterns 94 included in the overall design data D2. I do. Then, the etching curve D4 is measured based on the difference between the contour lines after edge extraction.

エッチング曲線Ｄ４は、例えば、ラインパターンの間隔や円形パターンの径と、ラインパターンおよび円形パターンのエッチング量との関係を示すデータとして、算出される。また、エッチング曲線Ｄ４は、測定用パターン９４ごとに（すなわち検査領域９３ごとに）、個別に算出される。   The etching curve D4 is calculated, for example, as data indicating the relationship between the line pattern interval and the diameter of the circular pattern and the etching amount of the line pattern and the circular pattern. The etching curve D4 is calculated individually for each measurement pattern 94 (that is, for each inspection region 93).

図９は、測定用パターン９４内の一対のラインパターン（パターン組９４１）において、エッチング曲線Ｄ４の測定に使用されるパラメータｘ１，ｙ１の例を示した図である。図９では、全体設計データＤ２に含まれる設計上のラインパターン９４１ａが破線で示され、画像データＤ３に含まれるエッチング後のラインパターン９４１ｂが実線で示されている。エッチング曲線Ｄ４を測定するときには、複数のパターン組９４１について、設計上のラインパターン９４１ａおよびエッチング後のラインパターン９４１ｂの各輪郭線の差分を、エッチング量ｙ１として測定する。そして、設計上の一対のラインパターン９４１ａの間隔ｘ１と、エッチング量ｙ１との関係を示すエッチング曲線Ｄ４を算出する。図１０は、このようにして得られるエッチング曲線Ｄ４の例を示した図である。   FIG. 9 is a diagram showing an example of parameters x1 and y1 used for measuring the etching curve D4 in a pair of line patterns (pattern set 941) in the measurement pattern 94. As shown in FIG. In FIG. 9, the designed line pattern 941a included in the overall design data D2 is indicated by a broken line, and the post-etching line pattern 941b included in the image data D3 is indicated by a solid line. When measuring the etching curve D4, the difference between the contour lines of the designed line pattern 941a and the etched line pattern 941b is measured as the etching amount y1 for the plurality of pattern sets 941. Then, an etching curve D4 indicating the relationship between the designed distance x1 between the pair of line patterns 941a and the etching amount y1 is calculated. FIG. 10 is a diagram showing an example of the etching curve D4 obtained in this way.

図１１は、測定用パターン９４内の円形パターン９４２において、エッチング曲線Ｄ４の測定に使用されるパラメータｘ２，ｙ２の例を示した図である。図１１では、全体設計データＤ２に含まれる設計上の円形パターン９４２ａが破線で示され、画像データＤ３に含まれるエッチング後の円形パターン９４２ａが実線で示されている。エッチング曲線Ｄ４を測定するときには、複数の円形パターン９４２について、設計上の円形パターン９４２ａおよびエッチング後の円形パターン９４２ｂの各輪郭線の差分を、エッチング量ｙ２として測定する。そして、設計上の円形パターン９４２ａの直径ｘ２と、エッチング量ｙ２との関係を示すエッチング曲線Ｄ４を算出する。図１２は、このようにして得られるエッチング曲線Ｄ４の例を示した図である。   FIG. 11 is a diagram showing an example of parameters x2 and y2 used for measuring the etching curve D4 in the circular pattern 942 in the measurement pattern 94. As shown in FIG. In FIG. 11, the designed circular pattern 942a included in the overall design data D2 is indicated by a broken line, and the circular pattern 942a after etching included in the image data D3 is indicated by a solid line. When measuring the etching curve D4, the difference between the contour lines of the designed circular pattern 942a and the etched circular pattern 942b is measured as the etching amount y2 for the plurality of circular patterns 942. And the etching curve D4 which shows the relationship between the diameter x2 of the design circular pattern 942a and the etching amount y2 is calculated. FIG. 12 is a diagram showing an example of the etching curve D4 obtained in this way.

図６〜図８に戻る。続いて、シミュレーション部３５３が、エッチング曲線Ｄ４を用いて、全体設計データＤ２から検査データＤ５を生成する（ステップＳ３）。   Returning to FIGS. Subsequently, the simulation unit 353 generates inspection data D5 from the overall design data D2 using the etching curve D4 (step S3).

図７に示すように、ステップＳ３では、まず、全体設計データＤ２から、各検査領域９３の１つの個片設計データＤ１を抽出する。そして、当該個片設計データＤ１に対して、エッチングシミュレーションを行う（ステップＳ３１）。エッチングシミュレーションには、当該検査領域９３に対応するエッチング曲線（すなわち、当該検査領域９３に含まれる測定用パターン９４から測定されたエッチング曲線）Ｄ４が使用される。そして、当該エッチング曲線Ｄ４に応じた強さで、個片設計データＤ１内のパターンを変形させる。   As shown in FIG. 7, in step S3, first, one piece design data D1 of each inspection region 93 is extracted from the overall design data D2. Then, an etching simulation is performed on the piece design data D1 (step S31). In the etching simulation, an etching curve corresponding to the inspection region 93 (that is, an etching curve measured from the measurement pattern 94 included in the inspection region 93) D4 is used. Then, the pattern in the piece design data D1 is deformed with the strength corresponding to the etching curve D4.

なお、エッチング情報を用いたエッチングシミュレーションには、例えば、特開２００５−２０２９４９号公報に記載されたシミュレーション方法を、適用することができる。ただし、本発明のエッチングシミュレーションには、当該公報のシミュレーション方法だけではなく、エッチング量に基づいてシミュレーションを行う他の種々のシミュレーション方法を、適用することが可能である。また、本発明のエッチング情報には、本実施形態のようなエッチング曲線だけではなく、エッチングレートなどのエッチング量を示す情報も含まれる。   For example, a simulation method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-202949 can be applied to the etching simulation using the etching information. However, in the etching simulation of the present invention, not only the simulation method disclosed in the publication but also various other simulation methods that perform simulation based on the etching amount can be applied. The etching information of the present invention includes not only an etching curve as in the present embodiment but also information indicating an etching amount such as an etching rate.

次に、シミュレーション部３５３は、個片設計データＤ１のエッチングシミュレーションの結果を、全体設計データＤ２へ戻す（ステップＳ３２）。このとき、検査領域９３内の全ての個片設計データＤ１を、１つの個片設計データＤ１のエッチングシミュレーションの結果で、置き換える。すなわち、各検査領域９３において、１つの個片設計データＤ１のエッチングシミュレーションの結果を、多面付けする。これにより、エッチングシミュレーションの時間が、大幅に短縮される。当該処理の結果、検査データＤ５が生成される。   Next, the simulation unit 353 returns the result of the etching simulation of the piece design data D1 to the overall design data D2 (step S32). At this time, all the piece design data D1 in the inspection region 93 are replaced with the result of the etching simulation of one piece design data D1. That is, in each inspection region 93, the results of etching simulation of one piece design data D1 are multifaceted. As a result, the time for etching simulation is greatly reduced. As a result of the processing, inspection data D5 is generated.

その後、データ照合部３５４が、画像データＤ３と検査データＤ５とを照合することにより、配線パターン９２の欠陥を検出する（ステップＳ４）。ここでは、画像データＤ３内のパターンと検査データＤ５内のパターンとの差分が、所定の閾値より大きい箇所を、欠陥として検出する。すなわち、本実施形態では、撮像部３４と、制御部３５内のデータ照合部３５４とが、欠陥検出手段を構成している。検査結果は、制御部３５に接続された表示部３５５に表示されるとともに、ベリファイ装置４０へ送信される。   Thereafter, the data collating unit 354 collates the image data D3 and the inspection data D5 to detect a defect in the wiring pattern 92 (step S4). Here, a portion where the difference between the pattern in the image data D3 and the pattern in the inspection data D5 is larger than a predetermined threshold is detected as a defect. That is, in the present embodiment, the imaging unit 34 and the data collating unit 354 in the control unit 35 constitute a defect detection unit. The inspection result is displayed on the display unit 355 connected to the control unit 35 and transmitted to the verification device 40.

このように、この基板検査装置３０では、エッチング曲線Ｄ４に応じて生成された検査データＤ５に基づいて、プリント基板９の欠陥検査を行う。これにより、誤検出の少ない欠陥検査を行うことができる。また、上述したステップＳ１〜Ｓ４は、単一の基板検査装置３０において行われる。このため、エッチング曲線Ｄ４の測定やエッチングミュレーションのために、複数の装置の間で基板９を移動させる必要がない。これにより、プリント基板９の検査を、効率よく行うことができる。   Thus, in this board | substrate inspection apparatus 30, the defect inspection of the printed circuit board 9 is performed based on the test | inspection data D5 produced | generated according to the etching curve D4. Thereby, it is possible to perform a defect inspection with few false detections. Further, steps S1 to S4 described above are performed in a single substrate inspection apparatus 30. For this reason, it is not necessary to move the board | substrate 9 between several apparatuses for the measurement of the etching curve D4, or an etching simulation. Thereby, the printed circuit board 9 can be inspected efficiently.

特に、本実施形態では、配線パターン９２と測定用パターン９４とが、単一のプリント基板９の表面に、形成されている。このため、実基板（製品となるプリント基板９）とは別に、エッチング曲線測定用の基板を用意する必要はない。基板検査装置３０は、実基板に対して、ステップＳ１〜Ｓ４の処理を一貫して行うことができる。   In particular, in the present embodiment, the wiring pattern 92 and the measurement pattern 94 are formed on the surface of a single printed circuit board 9. For this reason, it is not necessary to prepare a substrate for measuring an etching curve separately from the actual substrate (printed substrate 9 as a product). The substrate inspection apparatus 30 can consistently perform the processes of steps S1 to S4 on the actual substrate.

また、本実施形態では、各検査領域９３内の一部の個片設計データＤ１に対して、エッチングシミュレーションを行い、当該エッチングシミュレーションの結果を多面付けすることにより、検査データＤ５が生成される。このようにすれば、エッチングシミュレーションに掛かる時間が短縮される。したがって、単一の基板検査装置３０においてステップＳ１〜Ｓ４の処理を行いつつ、処理全体の長時間化が抑制される。   Further, in the present embodiment, the inspection data D5 is generated by performing an etching simulation on a part of the piece design data D1 in each inspection region 93 and applying the results of the etching simulation in many ways. In this way, the time required for the etching simulation is shortened. Therefore, the processing of steps S1 to S4 is performed in a single substrate inspection apparatus 30, and the overall processing time is suppressed.

また、本実施形態では、検査領域９３ごとに測定されたエッチング曲線Ｄ４を用いて、当該検査領域９３のエッチングシミュレーションを行う。このようにすれば、各検査領域９３におけるエッチングの程度をより正確に反映した検査データＤ５を作成できる。したがって、各検査領域９３における誤検出を、より低減できる。   In the present embodiment, an etching simulation of the inspection region 93 is performed using the etching curve D4 measured for each inspection region 93. In this way, inspection data D5 that more accurately reflects the degree of etching in each inspection region 93 can be created. Therefore, erroneous detection in each inspection region 93 can be further reduced.

なお、プリント基板９上の複数の検査領域９３は、基板検査装置３０の制御部３５において、設定または変更できるようになっていてもよい。例えば、制御部３５と電気的に接続された入力部３５６から、各検査領域９３の形や大きさ、あるいは、検査領域９３の数を、任意に設定できるようになっていてもよい。すなわち、基板検査装置３０が、ユーザの操作に基づいて複数の検査領域９３を設定する領域設定手段を有していてもよい。このようにすれば、基板検査装置３０のユーザが、エッチング処理の傾向や検査の状況に応じて、より適切な検査領域９３を設定できる。   The plurality of inspection areas 93 on the printed circuit board 9 may be set or changed by the control unit 35 of the board inspection apparatus 30. For example, the shape and size of each inspection region 93 or the number of inspection regions 93 may be arbitrarily set from an input unit 356 electrically connected to the control unit 35. That is, the board inspection apparatus 30 may include an area setting unit that sets a plurality of inspection areas 93 based on a user operation. In this way, the user of the substrate inspection apparatus 30 can set a more appropriate inspection region 93 according to the etching process tendency and the inspection situation.

＜５．変形例＞
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されるものではない。 <5. Modification>
Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment.

上記の実施形態では、プリント基板９の上面に、配線パターン９２および測定用パターン９４が形成されていたが、配線パターン９２および測定用パターン９４は、プリント基板９の上面および下面の双方に形成されていてもよい。また、基板検査装置３０の撮像部３４は、プリント基板９の上面および下面の双方を撮影できるように、構成されていてもよい。   In the above embodiment, the wiring pattern 92 and the measurement pattern 94 are formed on the upper surface of the printed circuit board 9. However, the wiring pattern 92 and the measurement pattern 94 are formed on both the upper surface and the lower surface of the printed circuit board 9. It may be. Further, the imaging unit 34 of the board inspection apparatus 30 may be configured so that both the upper surface and the lower surface of the printed board 9 can be photographed.

また、上記の実施形態では、プリント基板９の各検査領域９３に、測定用パターン９４が１つずつ配置されていたが、１つの検査領域９３に、複数の測定用パターン９４が配置されていてもよい。また、図１の例では、プリント基板９に４つの検査領域９３が設定されていたが、プリント基板９に設定される検査領域９３の数は、１〜３つであってもよく、５つ以上であってもよい。検査領域９３の数や形状は、プリント基板９の大きさ、要求される検査精度、エッチング液の流れる向き等に応じて、設定すればよい。   In the above embodiment, one measurement pattern 94 is arranged in each inspection area 93 of the printed circuit board 9, but a plurality of measurement patterns 94 are arranged in one inspection area 93. Also good. In the example of FIG. 1, four inspection areas 93 are set on the printed circuit board 9. However, the number of inspection areas 93 set on the printed circuit board 9 may be 1 to 3, and five. It may be the above. The number and shape of the inspection regions 93 may be set according to the size of the printed circuit board 9, the required inspection accuracy, the direction in which the etching solution flows, and the like.

また、配線パターンが形成された実基板とは別に、測定用パターンのみが形成されたエッチング曲線測定用の基板を、用意してもよい。その場合には、まず、基板検査装置３０にエッチング曲線測定用の基板をセットして、当該基板の画像データから、エッチング曲線を測定する。その後、基板検査装置３０に実基板をセットして、欠陥の検出を行う。この場合にも、エッチング曲線の測定のために、複数の装置の間で基板を移動させる必要はない。   In addition to the actual substrate on which the wiring pattern is formed, an etching curve measurement substrate on which only the measurement pattern is formed may be prepared. In that case, first, a substrate for etching curve measurement is set in the substrate inspection apparatus 30 and the etching curve is measured from the image data of the substrate. Thereafter, an actual substrate is set on the substrate inspection apparatus 30 to detect a defect. Again, there is no need to move the substrate between multiple devices in order to measure the etching curve.

また、上記の基板検査システム１は、基板検査装置３０とは別に、ベリファイ装置４０を備えていたが、ベリファイ装置４０を省略し、基板検査装置３０自体に、欠陥を目視で確認できる機能を搭載してもよい。   In addition, the substrate inspection system 1 includes the verify device 40 separately from the substrate inspection device 30, but the verify device 40 is omitted, and the substrate inspection device 30 itself has a function for visually confirming defects. May be.

また、上記の基板検査装置３０は、プリント基板９を検査対象としていたが、本発明の基板検査装置および基板検査方法は、半導体ウエハ、フォトマスク用ガラス基板、液晶表示装置用ガラス基板、ＰＤＰ用ガラス基板、カラーフィルタ用基板、太陽電池用基板などの他の精密電子装置用基板を、検査対象とするものであってもよい。   Moreover, although the said board | substrate test | inspection apparatus 30 made the printed circuit board 9 the test object, the board | substrate test | inspection apparatus and board | substrate test | inspection method of this invention are a semiconductor wafer, the glass substrate for photomasks, the glass substrate for liquid crystal display devices, and PDP use. Other precision electronic device substrates such as a glass substrate, a color filter substrate, and a solar cell substrate may be the inspection target.

また、基板検査装置の細部の構成については、本願の各図に示された構成と、相違していてもよい。また、上記の実施形態や変形例に登場した各要素を、矛盾が生じない範囲で、適宜に組み合わせてもよい。   Further, the detailed configuration of the substrate inspection apparatus may be different from the configuration shown in each drawing of the present application. Moreover, you may combine suitably each element which appeared in said embodiment and modification in the range which does not produce inconsistency.

１ 基板検査システム
９ プリント基板
１０ データサーバ
２０ ＣＡＭ編集機
３０ 基板検査装置
３１ ハウジング
３２ テーブル
３３ テーブル移動機構
３４ 撮像部
３５ 制御部
４０ ベリファイ装置
５１，５２，５３ ＨＵＢ
６０ 描画装置
９１ ベース板部
９２ 配線パターン
９３ 検査領域
９４ 測定用パターン
３５１ 画像取得部
３５２ 情報測定部
３５３ シミュレーション部
３５４ データ照合部
３５５ 表示部
３５６ 入力部
９２１ 個片パターン
Ｄ１ 個片設計データ
Ｄ２ 全体設計データ
Ｄ３ 画像データ
Ｄ４ エッチング曲線
Ｄ５ 検査データ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Board | substrate inspection system 9 Printed circuit board 10 Data server 20 CAM editing machine 30 Board | substrate inspection apparatus 31 Housing 32 Table 33 Table moving mechanism 34 Imaging part 35 Control part 40 Verification apparatus 51,52,53 HUB
60 Drawing apparatus 91 Base plate part 92 Wiring pattern 93 Inspection area 94 Measurement pattern 351 Image acquisition part 352 Information measurement part 353 Simulation part 354 Data collation part 355 Display part 356 Input part 921 Individual pattern D1 Individual design data D2 Overall design Data D3 Image data D4 Etching curve D5 Inspection data

Claims (8)

基板の表面にエッチングにより形成された配線パターンの欠陥検査を行う基板検査装置であって、
基板の表面に形成された測定用パターンからエッチング情報を測定する情報測定手段と、
前記エッチング情報を用いて、設計データにエッチングシミュレーションを行うことにより、検査データを生成するシミュレーション手段と、
基板の表面に形成された配線パターンを撮影し、得られた画像データと前記検査データとを照合させることにより、欠陥を検出する欠陥検出手段と、
を備える基板検査装置。 A substrate inspection apparatus for inspecting a defect of a wiring pattern formed by etching on a surface of a substrate,
Information measuring means for measuring etching information from a measurement pattern formed on the surface of the substrate;
Using the etching information, simulation means for generating inspection data by performing etching simulation on design data,
Defect detection means for detecting a defect by photographing the wiring pattern formed on the surface of the substrate and collating the obtained image data with the inspection data;
A board inspection apparatus comprising: 請求項１に記載の基板検査装置であって、
前記配線パターンは、複数の個片パターンを含み、
前記シミュレーション手段は、一部の個片パターンの設計データに対して、前記エッチングシミュレーションを行うとともに、前記エッチングシミュレーションの結果を多面付けすることにより、前記検査データを生成する基板検査装置。 The substrate inspection apparatus according to claim 1,
The wiring pattern includes a plurality of individual patterns,
The said simulation means is a board | substrate test | inspection apparatus which produces | generates the said test | inspection data by performing the said etching simulation with respect to the design data of a part piece pattern, and attaching the result of the said etching simulation in many ways. 請求項１に記載の基板検査装置であって、
基板の表面に、複数の検査領域が設定され、
複数の前記検査領域のそれぞれに、前記測定用パターンが設けられ、
前記情報測定手段は、複数の前記測定用パターンのそれぞれについて、エッチング情報を測定し、
前記シミュレーション手段は、各検査領域に含まれる測定用パターンから得られたエッチング情報を用いて、前記検査領域ごとにエッチングシミュレーションを行う基板検査装置。 The substrate inspection apparatus according to claim 1,
Multiple inspection areas are set on the surface of the substrate,
Each of the plurality of inspection regions is provided with the measurement pattern,
The information measuring means measures etching information for each of the plurality of measurement patterns,
The simulation means is a substrate inspection apparatus that performs an etching simulation for each inspection region using etching information obtained from a measurement pattern included in each inspection region. 請求項３に記載の基板検査装置であって、
前記検査領域内に、複数の個片パターンが含まれ、
前記シミュレーション手段は、一部の個片パターンの設計データに対して、前記エッチングシミュレーションを行うとともに、前記エッチングシミュレーションの結果を多面付けすることにより、前記検査データを生成する基板検査装置。 The substrate inspection apparatus according to claim 3,
A plurality of individual patterns are included in the inspection area,
The said simulation means is a board | substrate test | inspection apparatus which produces | generates the said test | inspection data by performing the said etching simulation with respect to the design data of a part piece pattern, and attaching the result of the said etching simulation in many ways. 請求項３または請求項４に記載の基板検査装置であって、
ユーザの操作により、複数の前記検査領域を設定する領域設定手段
をさらに備える基板検査装置。 It is a board | substrate inspection apparatus of Claim 3 or Claim 4, Comprising:
A substrate inspection apparatus further comprising region setting means for setting a plurality of inspection regions by a user operation. 請求項１から請求項５までのいずれかに記載の基板検査装置であって、
前記配線パターンと前記測定用パターンとが、単一の基板の表面に形成されている基板検査装置。 It is a board | substrate inspection apparatus in any one of Claim 1- Claim 5, Comprising:
A substrate inspection apparatus in which the wiring pattern and the measurement pattern are formed on the surface of a single substrate. 基板の表面にエッチングにより形成された配線パターンの欠陥検査を行う基板検査方法であって、
ａ）基板の表面に形成された測定用パターンからエッチング情報を測定する工程と、
ｂ）前記エッチング情報を用いて、設計データにエッチングシミュレーションを行うことにより、検査データを生成する工程と、
ｃ）基板の表面に形成された配線パターンを撮影し、得られた画像データと前記検査データとを照合させることにより、欠陥を検出する工程と、
を単一の装置において行う基板検査方法。 A substrate inspection method for inspecting a defect of a wiring pattern formed by etching on a surface of a substrate,
a) measuring etching information from the measurement pattern formed on the surface of the substrate;
b) generating inspection data by performing etching simulation on design data using the etching information;
c) detecting a defect by photographing the wiring pattern formed on the surface of the substrate and collating the obtained image data with the inspection data;
A substrate inspection method in which a single apparatus is used. 請求項７に記載の基板検査方法であって、
前記工程ｂ）においては、前記配線パターンを構成する複数の固片パターンのうち、一部の個片パターンの設計データに対して、前記エッチングシミュレーションを行うとともに、前記エッチングシミュレーションの結果を多面付けすることにより、前記検査データを生成する基板検査方法。 The substrate inspection method according to claim 7,
In the step b), the etching simulation is performed on the design data of a part of the plurality of solid patterns constituting the wiring pattern, and the results of the etching simulation are multifaceted. Thus, a substrate inspection method for generating the inspection data.
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