JP4973055B2 - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
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〔第1の実施形態〕
本発明の第1の実施形態となる半導体装置は、図1に示すように、基板1と半導体素子2とを備え、半導体素子2の裏面側と基板1の表面側は接合界面3において接合されている。また、基板1は金属材料又は有機物材料若しくは無機物材料と金属材料との複合材料により形成されている。また図示しないが、半導体素子2の表面側と裏面側にはそれぞれ電極と金属膜が形成されている。
本発明の第2の実施形態となる半導体装置は、上記第1の実施形態となる半導体装置構造において、図3に示すように、半導体素子2の引張破壊強度σt2の大きさが同一温度において基板1の引張破壊強度の大きさσt1と同じ若しくはそれ以上になるように基板1及び半導体素子2を形成する材料が選択されている。接合界面を高強度に形成することによって基板1に発生する歪を極力低減するために、基板1を形成する材料として、極端に硬い金属材料を用いたり、歪の蓄積によって加工硬化することにより極端に硬くなる金属材料を用いた場合、半導体素子2自体が破壊する可能性がある。従ってこのような構造によれば、基板1に発生する応力によって半導体素子2が破壊されることを防止できるので、半導体装置の信頼性をさらに向上させることができる。
本発明の第3の実施形態となる半導体装置では、上記第1又は第2の実施形態となる半導体装置構造において、図4〜図7に示すように基板1が突出面Aを有し、半導体素子2は突出面A上において基板1と接合している。このような構成によれば、基板1の剛性が上がることによって基板1自体の反りを抑制でき、反りによって半導体素子2及び基板1に新たに発生する応力を緩和することができるので、接合後の冷却によって生じる残留応力により基板1自体や半導体素子2側面にクラックが発生することを防止できる。
本発明の第4の実施形態となる半導体装置では、上記第3の実施形態となる半導体装置構造において、図8や図9に示すように、突出面Aが突出面Aの側面部と半導体素子2の側面部との間の距離が半導体素子2の側面形状の角部において最短になるように形成されている。このような構成によれば、図10(a)に示すような応力集中領域R1を図10(b)に示す領域R2のように分散させることによって、半導体素子2の角部周辺に応力が集中することを防止できる。
最後に、上記半導体装置の製造方法の一実施例について説明する。
2:半導体素子
3:接合界面
Claims (8)
- 半導体素子と基板とを有し、半導体素子の裏面側と基板の表面側が、溶融した前記基板によって直接接合されて接合界面を形成して接合されている半導体装置において、前記接合界面の密着強度の大きさが同一温度において前記基板の0.2%耐力の大きさと同じ若しくはそれ以上であり、前記半導体素子の引張破壊強度の大きさが同一温度において前記基板の引張破壊強度の大きさと同じ若しくはそれ以上であることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1に記載の半導体装置において、前記基板はアルミニウム又はアルミニウム合金により形成されていることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1又は請求項2に記載の半導体装置において、前記基板は突出面を有し、前記半導体素子は突出面において基板と接合していることを特徴とする半導体装置。
- 請求項3に記載の半導体装置において、前記突出面は突出面の側面部と前記半導体素子の側面部との間の距離が半導体素子の側面形状の角部において最短になるように形成されていることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至請求項4のうち、いずれか1項に記載の半導体装置において、前記半導体素子の表面側には基板を形成している材料より融点が高い金属膜が形成されていることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至請求項5のうち、いずれか1項に記載の半導体装置において、前記半導体素子の裏面側には、銀、アルミニウム、クロム、銅、ゲルマニウム、インジウム、マグネシウム、マンガン、パラジウム、シリコン、チタン、ジルコニウムのうちのいずれかからなる金属膜が形成されていることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至請求項6のうち、いずれか1項に記載の半導体装置において、前記半導体素子は、SiCにより形成されていることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1乃至請求項7のうち、いずれか1項に記載の半導体装置の製造方法において、前記半導体素子の裏面側に溶融した基板を流し込む工程と、前記溶融して流し込まれた基板と半導体素子と接合することにより前記接合界面を形成する工程を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
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