JP4967690B2 - 接触検査装置 - Google Patents
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Description
測定対象1の端子2が高密度に実装されている場合には、フォースコンタクトピン3は細くなり、その先端部と端子間の接触面積が極微小となることにより、触抵抗Rcが大となる。
(1)被検査対象の端子にコンタクトピンを当て、このコンタクトピンに所定の電圧を印加した時に当該端子を流れる電流を測定し、前記端子と前記コンタクトピンの接触状態を検査する接触検査装置において、
近接して配置され、前記端子に同時にコンタクトする少なくとも一対のセンスコンタクトピン及びフォースコンタクトピンよりなるコンタクトピン手段と、
前記センスコンタクトピンを介して測定される前記端子の電圧が前記所定の電圧と等しくなるように前記フォースコンタクトピンの電圧を制御すると共に、前記フォースコンタクトピンを流れる電流を測定する電圧出力・電流測定回路と、
前記センスコンタクトピンと前記フォースコンタクトピンの電位差に基づいて前記フォースコンタクトピンと前記端子間の接触状態を検査する接触検査手段と、
を備えることを特徴とする接触検査装置。
(1)フォースコンタクトピンに近接配置され、端子に同時にコンタクトするセンスコンタクトピンを設け、このセンスコンタクトピンを介して測定される端子の電圧をフィードバックして所定の設定電圧と等しくなるように前記フォースコンタクトピンの電圧を制御することで、フォースコンタクトピンの接触抵抗の影響を受けずに端子電圧を所定の電圧に高精度で制御することができる。
21,22,…2n 端子
31,32,…3n フォースコンタクトピン
41,42,…4n センスコンタクトピン
51,52,…5n 電圧出力・電流測定回路
10 コンタクトピンブロック
11 モータ
12 駆動軸
100 計測制御部
200 接触検査手段
300 上位装置
Claims (4)
- 被検査対象の端子にコンタクトピンを当て、このコンタクトピンに所定の電圧を印加した時に当該端子を流れる電流を測定し、前記端子と前記コンタクトピンの接触状態を検査する接触検査装置において、
近接して配置され、前記端子に同時にコンタクトする少なくとも一対のセンスコンタクトピン及びフォースコンタクトピンよりなるコンタクトピン手段と、
前記センスコンタクトピンを介して測定される前記端子の電圧が前記所定の電圧と等しくなるように前記フォースコンタクトピンの電圧を制御すると共に、前記フォースコンタクトピンを流れる電流を測定する電圧出力・電流測定回路と、
前記センスコンタクトピンと前記フォースコンタクトピンの電位差に基づいて前記フォースコンタクトピンと前記端子間の接触状態を検査する接触検査手段と、
を備えることを特徴とする接触検査装置。 - 前記電位差が所定の閾値を越えたときに、警報を発生する警報手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の接触検査装置。
- 前記接触検査手段は、前記電位差が所定の閾値を越えたときに、前記コンタクトピン手段を再コンタクトさせる操作指令を出力することを特徴とする請求項1または2に記載の接触検査装置。
- 前記接触検査手段は、再コンタクト操作させても前記電位差が所定の閾値を越えているとき前記コンタクトピン手段を前記端子より退避させる操作指令を出力することを特徴とする請求項3に記載の接触検査装置。
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JP2007018655A JP4967690B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | 接触検査装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007018655A JP4967690B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | 接触検査装置 |
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JP2008185435A JP2008185435A (ja) | 2008-08-14 |
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FR3011938B1 (fr) * | 2013-10-16 | 2015-12-11 | Schneider Electric Ind Sas | Procede de determination d'une consommation individuelle de puissance |
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---|---|---|---|---|
JPH07104026A (ja) * | 1993-10-01 | 1995-04-21 | Hioki Ee Corp | 実装部品の半田付け不良検出方法 |
JP2004132727A (ja) * | 2002-10-08 | 2004-04-30 | Tokai Rika Co Ltd | インサーキットテスタ |
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