JP4967556B2 - Electro-optical device substrate, electro-optical device, and electronic apparatus - Google Patents

Electro-optical device substrate, electro-optical device, and electronic apparatus Download PDF

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本発明は、例えば液晶装置等の電気光学装置に用いられる電気光学装置用基板、及び該電気光学装置用基板を備えてなる電気光学装置、並びに該電気光学装置を備えた、例えば液晶プロジェクタ等の電子機器の技術分野に関する。   The present invention relates to an electro-optical device substrate used in an electro-optical device such as a liquid crystal device, an electro-optical device including the electro-optical device substrate, and a liquid crystal projector including the electro-optical device. The present invention relates to the technical field of electronic equipment.

この種の電気光学装置では、基板上に、画素電極と、該画素電極の選択的な駆動を行うための走査線、データ線、及び画素スイッチング用素子としてのTFT(Thin Film Transistor)とが作り込まれ、アクティブマトリクス駆動可能に構成される。TFTは、電気光学装置に入射される入射光によって当該TFTにおける光リーク電流の増大や誤動作等が生じないよう、例えば走査線、データ線、遮光膜等が形成される、光を透過させない非開口領域(即ち、各画素における開口領域を除いた領域)に形成される。また、非開口領域には、画素電極に供給される画像信号を一時的に保持することによって画素電極の電位を一定期間保持する保持容量(或いは補助容量)が設けられることが一般的である(例えば特許文献1参照)。   In this type of electro-optical device, a pixel electrode, a scanning line for selectively driving the pixel electrode, a data line, and a TFT (Thin Film Transistor) as a pixel switching element are formed on a substrate. The active matrix driving is possible. In order to prevent an increase in light leakage current or malfunction in the TFT due to incident light incident on the electro-optical device, the TFT is formed with, for example, a scanning line, a data line, a light-shielding film, etc., and does not transmit light. It is formed in a region (that is, a region excluding an opening region in each pixel). In general, the non-opening region is provided with a holding capacitor (or auxiliary capacitor) that holds the potential of the pixel electrode for a certain period by temporarily holding an image signal supplied to the pixel electrode ( For example, see Patent Document 1).

一方、この種の電気光学装置では、例えば対向基板には、各画素に対応するマイクロレンズが作り込まれたり、このような複数のマイクロレンズが作り込まれたマイクロレンズアレイ板が貼り付けられたりする(例えば特許文献2参照)。係るマイクロレンズによって、そのままでは非開口領域に向かって進行する筈の光を、画素単位で集光して、電気光学物質層を透過する際には、各画素の開口領域内に導かれるようにしている。この結果、電気光学装置において明るい表示が可能となる。   On the other hand, in this type of electro-optical device, for example, a microlens corresponding to each pixel is formed on the counter substrate, or a microlens array plate in which such a plurality of microlenses are formed is attached. (See, for example, Patent Document 2). With such a microlens, the light that travels toward the non-opening region as it is is condensed in units of pixels so that it is guided into the opening region of each pixel when passing through the electro-optic material layer. ing. As a result, bright display is possible in the electro-optical device.

特開平8−43854号公報JP-A-8-43854 特開2003−185803号公報JP 2003-185803 A

しかしながら、各画素における開口領域の形状は、例えば特許文献1に開示されているように、長方形とされることが多い。よって、開口領域を長方形に維持したまま、TFTにおける光リーク電流の増大や誤作動等を抑制しようとすれば、非開口領域を大きくして開口領域を小さくせざるを得ない、即ち、開口率を低下させざるを得ないという技術的問題点がある。更に、このような開口率の低下によって、例えばデータプロジェクタやリアプロジェクションテレビ等の表示装置に実装される場合に要求される透過率を実現することが困難になってしまうという技術的問題点がある。一方、上述したようなマイクロレンズを備える場合、マイクロレンズによって集光される光の熱によって例えば液晶等の電気光学物質や配向膜等にダメージを与えてしまうおそれがあるという技術的問題点がある。   However, the shape of the opening region in each pixel is often a rectangle as disclosed in Patent Document 1, for example. Therefore, if the increase in light leakage current or malfunction in the TFT is to be suppressed while the opening area is kept rectangular, the non-opening area must be increased and the opening area must be reduced. There is a technical problem that must be reduced. Furthermore, there is a technical problem that it becomes difficult to realize the transmittance required when mounted on a display device such as a data projector or a rear projection television due to such a decrease in aperture ratio. . On the other hand, when the microlens as described above is provided, there is a technical problem that the heat of light collected by the microlens may damage an electro-optical material such as liquid crystal or an alignment film. .

本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、例えば、アクティブマトリクス方式で駆動される液晶装置等の電気光学装置であって、TFTにおける光リーク電流の発生を低減しつつ、高い透過率を実現可能な電気光学装置に用いられる電気光学装置用基板、及びそのような電気光学装置用基板を備えた電気光学装置、並びに電子機器を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of, for example, the above-described problems. For example, the present invention is an electro-optical device such as a liquid crystal device driven by an active matrix method, and is high while reducing generation of light leakage current in a TFT. It is an object of the present invention to provide an electro-optical device substrate used in an electro-optical device capable of realizing transmittance, an electro-optical device including such an electro-optical device substrate, and an electronic apparatus.

本発明に係る電気光学装置用基板は上記課題を解決するために、基板と、データ線と、
定画素ピッチでマトリクス状に配列された複数の画素電極と、記データ線に電気的に接続されたデータ線側ソースドレイン領域と、前記画素電極に電気的に接続された画素電極側ソースドレイン領域と、前記データ線側ソースドレイン領域及び前記画素電極側ソースドレイン領域間に形成されたチャネル領域と、前記チャネル領域及び前記データ線側ソースドレイン領域間に形成された第1の接合領域と、前記チャネル領域及び前記画素電極側ソースドレイン領域間に形成された第2の接合領域とを有し、第1の方向に延在する半導体層と、前記画素電極及び前記半導体層間の層において、前記チャネル領域と重なるように前記第1の方向に交わる第2の方向に沿って延在する第1部分と、前記第1の接合領域と重なるように前記第1部分から前記第1の接合領域の方向に突出する第2部分と、前記第2の接合領域と重なるように前記第1部分から前記第2の接合領域の方向に突出する第3部分とを有する第1遮光膜とを備え、前記所定画素ピッチは、3.0um以上且つ12.0um以下であり、記第2部分の幅は、0.5um以上且つ1.5um以下であり、前記第3部分の幅は、前記第2部分の幅より広い。
In order to solve the above problems, an electro-optical device substrate according to the present invention includes a substrate, a data line,
And Jo Tokoro pixel pitch a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix, is electrically connected to the data line side source drain regions, which are electrically connected to the pixel electrode side source to the pixel electrode before Symbol data lines A drain region; a channel region formed between the data line side source / drain region and the pixel electrode side source / drain region ; a first junction region formed between the channel region and the data line side source / drain region; , have a said channel region and a second junction region formed between the pixel electrode side source drain regions, a semiconductor layer extending in a first direction, in the layer of the pixel electrode and the semiconductor layer, A first portion extending along a second direction intersecting the first direction so as to overlap the channel region, and the first portion overlapping the first junction region. A second portion protruding in the direction of the first bonding region from the first portion, and a third portion protruding in the direction of the second bonding region from the first portion so as to overlap the second bonding region. and a light-shielding film, the predetermined pixel pitch is at and 12.0um inclusive 3.0Um, before Symbol width of the second portion is at and 1.5um inclusive 0.5um, the third portion Is wider than the width of the second portion.

本発明の電気光学装置用基板によれば、例えば、データ線から画素電極へ画像信号が制御され、所謂アクティブマトリクス方式による画像表示が可能となる。尚、画像信号は、データ線及び画素電極間に電気的に接続されたトランジスタがオンオフされることによって、所定のタイミングでデータ線からトランジスタを介して画素電極に供給される。   According to the substrate for an electro-optical device of the present invention, for example, an image signal is controlled from a data line to a pixel electrode, and an image display by a so-called active matrix method is possible. The image signal is supplied from the data line to the pixel electrode through the transistor at a predetermined timing by turning on and off the transistor electrically connected between the data line and the pixel electrode.

画素電極は、例えばITO(Indium Tin Oxide)等の透明導電材料からなる透明電極であり、基板上において表示領域となるべき領域に所定画素ピッチでマトリクス状に配列されている。   The pixel electrodes are transparent electrodes made of a transparent conductive material such as ITO (Indium Tin Oxide), for example, and are arranged in a matrix at a predetermined pixel pitch in a region to be a display region on the substrate.

遮光部は、例えば、トランジスタよりも絶縁膜を介して上層側或いは下層側に形成される。遮光部は、画素電極に電気的に接続された配線及び電子素子、或いは光を遮る遮光性を有する遮光膜からなり、画素電極毎の開口領域を互いに隔てる非開口領域を規定する。ここで、本発明に係る「開口領域」とは、実質的に光が透過する画素内の領域であり、例えば、画素電極が形成される領域であって、透過率の変更に応じて液晶等の電気光学物質を抜けてきた出射光の階調を変化させることが可能となる領域である。換言すれば、「開口領域」とは、画素に入射される光が、光を透過させない或いは光透過率が透明電極に比べて相対的に小さい配線、電子素子及び遮光膜からなる遮光部で遮られることがない領域を意味する。本発明に係る「非開口領域」とは、表示に寄与する光が透過しない領域を意味し、画素内に非透明な配線、電子素子及び遮光膜からなる遮光部が配置されている領域を意味する。   For example, the light shielding portion is formed on the upper layer side or the lower layer side of the transistor with an insulating film interposed therebetween. The light shielding portion includes a wiring and an electronic element electrically connected to the pixel electrode, or a light shielding film having a light shielding property to block light, and defines a non-opening region that separates the opening regions of the pixel electrodes from each other. Here, the “opening region” according to the present invention is a region in a pixel through which light is substantially transmitted, for example, a region in which a pixel electrode is formed, and a liquid crystal or the like according to a change in transmittance. This is a region where the gradation of the emitted light that has passed through the electro-optical material can be changed. In other words, the “opening area” means that light incident on the pixel does not transmit light or is shielded by a light shielding portion including a wiring, an electronic element, and a light shielding film whose light transmittance is relatively smaller than that of the transparent electrode. It means the area that is never done. The “non-opening region” according to the present invention means a region where light contributing to display is not transmitted, and means a region where a light-shielding portion composed of non-transparent wiring, an electronic element, and a light-shielding film is arranged in a pixel. To do.

遮光部は、第1及び第2の方向の各々に沿って延びる第1部分及び第2部分を有する。本発明に係る「第1の方向」とは、基板上でマトリクス状に配列された複数の画素電極の列方向(即ちY方向)を意味し、複数のデータ線の各々が延びる方向或いは、例えば複数の走査線が配列される配列方向ともいえる。本発明に係る「第2の方向」は、基板上でマトリクス状に配列された複数の画素電極の行方向(即ちX方向)を意味し、複数のデータ線が配列される配列方向或いは、例えば複数の走査線の各々が延びる方向ともいえる。遮光部は、マトリクス状に配列された画素電極毎の開口領域を互いに隔てるように、相隣接する画素電極間に、例えば概ね格子状に形成される。第1部分は、第1方向に沿って延びるデータ線を含んで構成され、第2部分は、典型的には、第2方向に沿って延びる走査線を含んで構成される。トランジスタに到達する光を遮る遮光性を高める観点からみれば、第1部分及び第2部分の幅は夫々広いほうが好ましい。   The light shielding part has a first part and a second part extending along each of the first and second directions. The “first direction” according to the present invention means a column direction (that is, a Y direction) of a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix on the substrate, and each of the plurality of data lines extends, for example, It can also be said to be an arrangement direction in which a plurality of scanning lines are arranged. The “second direction” according to the present invention means a row direction (that is, an X direction) of a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix on the substrate, and an arrangement direction in which a plurality of data lines are arranged, or for example, It can be said that each of the plurality of scanning lines extends. The light shielding portion is formed, for example, in a generally lattice shape between adjacent pixel electrodes so as to separate the opening regions of the pixel electrodes arranged in a matrix. The first portion is configured to include data lines extending along the first direction, and the second portion is typically configured to include scanning lines extending along the second direction. From the viewpoint of improving the light blocking property of blocking light reaching the transistor, it is preferable that the width of the first portion and the second portion is wider.

尚、遮光部の一部として、画素電極と電気的に接続され、画素電極の電位を保持する保持容量が形成されてもよい。   Note that a storage capacitor that is electrically connected to the pixel electrode and holds the potential of the pixel electrode may be formed as a part of the light shielding portion.

トランジスタは、基板上で平面的に見て、遮光部における第1部分及び第2部分が相互に交差する交差部分と部分的に重なるように画素電極毎に設けられている。即ち、トランジスタは、非開口領域における第1の方向に沿って延びる第1領域と第2の方向に沿って延びる第2領域とが交差する交差領域に部分的に重なるように画素電極毎に設けられている。   The transistor is provided for each pixel electrode so that the first portion and the second portion of the light shielding portion partially overlap each other at a crossing portion when viewed in plan on the substrate. That is, the transistor is provided for each pixel electrode so as to partially overlap an intersection region where the first region extending along the first direction and the second region extending along the second direction in the non-opening region intersect. It has been.

トランジスタは、チャネル領域、データ線側ソースドレイン領域及び画素電極側ソースドレイン領域を有する半導体層を含む。例えば、ゲート電極がチャネル領域に重なるように形成される。   The transistor includes a semiconductor layer having a channel region, a data line side source / drain region, and a pixel electrode side source / drain region. For example, the gate electrode is formed so as to overlap the channel region.

チャネル領域は、表示領域における第1の方向に沿ったチャネル長を有する。   The channel region has a channel length along the first direction in the display region.

データ線側ソースドレイン領域はデータ線と互いに電気的に接続され、画素電極側ソースドレイン領域は画素電極と互いに電気的に接続される。更に、半導体層のチャネル領域とデータ線側ソースドレイン領域との間には第1の接合領域が形成され、半導体層のチャネル領域と画素電極側ソースドレイン領域との間には第2の接合領域が形成される。第1の接合領域は、チャネル領域とデータ線側ソースドレイン領域との接合部に形成される領域であり、第2の接合領域は、チャネル領域と画素電極側ソースドレイン領域との接合部に形成される領域である。即ち、第1及び第2の接合領域は、例えば、トランジスタが例えばPNP型或いはNPN型トランジスタ(即ち、Pチャネル型或いはNチャネル型トランジスタ)として形成された場合におけるPN接合領域や、トランジスタがLDD構造を有する場合におけるLDD領域(即ち、例えばイオンプランテーション法等の不純物打ち込みによって半導体層に不純物を打ち込んでなる不純物領域)を意味する。   The data line side source / drain region is electrically connected to the data line, and the pixel electrode side source / drain region is electrically connected to the pixel electrode. Further, a first junction region is formed between the channel region of the semiconductor layer and the data line side source / drain region, and a second junction region is formed between the channel region of the semiconductor layer and the pixel electrode side source / drain region. Is formed. The first junction region is a region formed at the junction between the channel region and the data line side source / drain region, and the second junction region is formed at the junction between the channel region and the pixel electrode side source / drain region. It is an area to be done. That is, the first and second junction regions include, for example, a PN junction region when the transistor is formed as, for example, a PNP type or NPN type transistor (that is, a P channel type or N channel type transistor), and the transistor has an LDD structure. Means an LDD region (that is, an impurity region formed by implanting impurities into the semiconductor layer by implanting impurities such as an ion plantation method).

本発明では特に、遮光部における第1部分は、第1の方向に沿って延びる本線部と、該本線部における第2の接合領域と重なる部分から第2の方向に沿って両側に夫々延在する延在部とを有する。延在部は、本線部から両側に夫々延在し、画素電極毎に2つずつ設けられることになる。言い換えれば、第1部分における、第2の接合領域を覆う部分は、延在部によって、第1の接合領域を覆う部分よりも幅が広くなるように構成される。即ち、第1部分における第2の接合領域を覆う部分は、第1の方向に沿って延びる半導体層に対して、第1部分における第1の接合領域を覆う部分よりも幅が広くなるように構成される。よって、第2の接合領域に入射する光を、第1の接合領域に入射する光よりも確実に遮光できる。即ち、延在部によって、第2の接合領域に到達する光を遮る遮光性を、第1の接合領域に到達する光を遮る遮光性よりも高める(即ち、強化する)ことができる。ここで、本願発明者は、トランジスタの動作時に、第2の接合領域において、第1の接合領域に比べて光リーク電流が相対的に発生しやすいと推察している。従って、遮光部における第1部分が、その本線部における第2の接合領域と重なる部分から第2の方向に沿って両側に夫々延在する延在部を有することによって、光リーク電流が相対的に生じ易い第2の接合領域に対する遮光性を高めることができ、トランジスタに流れる光リーク電流を効果的に低減できる。逆に言えば、第2の接合領域に比べて光リーク電流が相対的に発生しにくい第1の接合領域を覆う部分(或いは本線部)の幅を狭くすることによって、開口率の無駄な低下を防止できる。   In the present invention, in particular, the first portion of the light shielding portion extends to both sides along the second direction from the main line portion extending along the first direction and the portion overlapping the second bonding region in the main line portion. And an extending portion. The extending portion extends from the main line portion to both sides, and two extending portions are provided for each pixel electrode. In other words, the portion of the first portion that covers the second bonding region is configured to be wider by the extending portion than the portion that covers the first bonding region. That is, the portion of the first portion that covers the second bonding region is wider than the portion of the first portion that covers the first bonding region with respect to the semiconductor layer extending along the first direction. Composed. Therefore, the light incident on the second bonding region can be shielded more reliably than the light incident on the first bonding region. That is, the extending portion can improve (that is, enhance) the light blocking property for blocking light reaching the second bonding region, compared to the light blocking property for blocking light reaching the first bonding region. Here, the inventor of the present application speculates that a light leakage current is more likely to occur in the second junction region than in the first junction region during the operation of the transistor. Accordingly, the first portion in the light shielding portion has the extending portions extending on both sides along the second direction from the portion overlapping the second bonding region in the main line portion, so that the light leakage current is relatively reduced. Therefore, it is possible to improve the light shielding property with respect to the second junction region, which is likely to occur, and to effectively reduce the light leakage current flowing through the transistor. In other words, the aperture ratio is wasted by reducing the width of the portion (or main line portion) that covers the first junction region in which the light leakage current is relatively less likely to occur compared to the second junction region. Can be prevented.

即ち、延在部を形成することによって、光リーク電流が相対的に発生しやすい第2の接合領域に対する遮光性を向上させつつ、本線部の幅を狭く形成することによって、開口率の無駄な低下を防止できる。つまり、光リーク電流が発生しやすい第2の接合領域に対する遮光性を、いわばピンポイントで高めることで、開口率の無駄な低下を招くことなく、トランジスタにおける光リーク電流を効果的に低減できる。ここで、「開口率」とは、開口領域及び非開口領域を加えた画素のサイズにおける開口領域の割合を意味し、開口率が大きいほど本発明に係る電気光学装置用基板を備えた電気光学装置の表示性能が向上する。   In other words, by forming the extended portion, the light shielding performance for the second junction region where light leakage current is relatively likely to be generated is improved, and the width of the main line portion is narrowed, so that the aperture ratio is wasted. Decline can be prevented. In other words, by increasing the light-shielding property for the second junction region where light leakage current is likely to occur, so to speak, the light leakage current in the transistor can be effectively reduced without causing a wasteful decrease in the aperture ratio. Here, the “aperture ratio” means the ratio of the aperture area in the size of the pixel including the aperture area and the non-aperture area. The larger the aperture ratio, the more the electro-optic device provided with the electro-optic device substrate according to the present invention The display performance of the device is improved.

更に、本発明では特に、所定画素ピッチは、3.0um以上且つ12.0um以下であり、本線部及び第2部分の幅は夫々、0.5um以上且つ1.5um以下であり、延在部の長さ及び幅は夫々、0.8um以上且つ3.5um以下である。尚、ここで、延在部の長さ及び幅は、本線部から両側に延在する2つの延在部の各々についての長さ及び幅である。本発明に係る「延在部の長さ」は、延在部の第2の方向に沿った一辺の長さを意味し、本発明に係る「延在部の幅」は、延在部の第1の方向に沿った他辺の長さを意味する。   Further, particularly in the present invention, the predetermined pixel pitch is 3.0 μm or more and 12.0 μm or less, and the widths of the main line part and the second part are 0.5 μm or more and 1.5 μm or less, respectively, and the extension part The length and width of each are 0.8 um or more and 3.5 um or less, respectively. Here, the length and width of the extending portion are the length and width of each of the two extending portions extending from the main line portion to both sides. The “length of the extending portion” according to the present invention means the length of one side along the second direction of the extending portion, and the “width of the extending portion” according to the present invention is the length of the extending portion. It means the length of the other side along the first direction.

よって、例えばデータプロジェクタやリアプロジェクションテレビ等の表示装置に実装される場合に要求される、例えば25%或いは20%以上のような比較的高い透過率を実現することが可能となる。尚、ここで「透過率」は、本発明に係る電気光学装置用基板を備えた電気光学装置全体の入射光に対する透過率を意味する。即ち、例えば、所定画素ピッチを12.0um、本線部及び第2部分の各々の幅を1.5um、延在部の長さを1.5um、延在部の幅を3.5umとすれば、開口率を70%以上とすることができ、透過率を、例えばデータプロジェクタに要求される透過率である25%以上とすることが可能となる。或いは、例えば、所定画素ピッチを8.5um、本線部及び第2部分の各々の幅を1.5um、延在部の長さを1.5um、延在部の幅を3.5umとすれば、開口率を60%以上とすることができ、透過率を、例えばリアプロジェクションテレビに要求される透過率である20%以上とすることが可能となる。或いは、例えば、所定画素ピッチを3.0um、本線部及び第2部分の各々の幅を0.5um、延在部の長さを1.0um、延在部の幅を0.8umとすれば、開口率を60%以上とすることができ、透過率を、例えばリアプロジェクションテレビに要求される透過率である20%以上とすることが可能となる。つまり、所定画素ピッチを3.0um以上且つ12.0um以下の範囲内で、本線部及び第2部分の各々の幅を0.5um以上且つ1.5um以下の範囲内で、延在部の長さ及び幅の各々を0.8um以上且つ3.5um以下の範囲内で、それぞれ設定することにより、例えばデータプロジェクタやリアプロジェクションテレビ等の表示装置に実装される場合に要求される、例えば25%或いは20%以上のような比較的高い透過率を容易且つ確実に実現することが可能となる。更に、延在部の長さ及び幅の各々が0.8um以上に設定されることで、上述したような第2の接合領域に対する遮光性を実践上十分に高めることが可能である。また、本線部及び第2部分の各々の幅が0.5um以上に設定されることで、相隣接する画素電極間の領域における液晶分子の配向不良に起因した光抜け等の表示上の不具合を実践上十分に低減或いは防止できる。尚、液晶分子の配向不良は、相隣接する画素電極の各々の電位の差に応じて当該画素電極間に発生する横電界(即ち、基板面に平行な電界或いは基板面に平行な成分を含む斜めの電界)によって生じ得る。加えて、所定画素ピッチが12.0um以下に設定されることで、表示領域における高精細な表示を実現しつつ、装置の小型化も可能となる。   Therefore, it is possible to realize a relatively high transmittance such as 25% or 20% or more required when mounted on a display device such as a data projector or a rear projection television. Here, “transmittance” means the transmittance for incident light of the entire electro-optical device including the electro-optical device substrate according to the present invention. That is, for example, if the predetermined pixel pitch is 12.0 μm, the width of the main line portion and the second portion is 1.5 μm, the length of the extended portion is 1.5 μm, and the width of the extended portion is 3.5 μm. The aperture ratio can be set to 70% or more, and the transmittance can be set to, for example, 25% or more which is a transmittance required for the data projector. Alternatively, for example, if the predetermined pixel pitch is 8.5 μm, the width of the main line portion and the second portion is 1.5 μm, the length of the extended portion is 1.5 μm, and the width of the extended portion is 3.5 μm. The aperture ratio can be set to 60% or more, and the transmittance can be set to, for example, 20% or more which is a transmittance required for a rear projection television. Alternatively, for example, if the predetermined pixel pitch is 3.0 μm, the width of each main line portion and the second portion is 0.5 μm, the length of the extended portion is 1.0 μm, and the width of the extended portion is 0.8 μm. The aperture ratio can be set to 60% or more, and the transmittance can be set to, for example, 20% or more which is a transmittance required for a rear projection television. In other words, the predetermined pixel pitch is within a range of 3.0 μm or more and 12.0 μm or less, and the width of each of the main line portion and the second portion is within a range of 0.5 μm or more and 1.5 μm or less. By setting each of the height and width within the range of 0.8 μm or more and 3.5 μm or less, for example, 25% required when mounted on a display device such as a data projector or a rear projection television, for example. Alternatively, a relatively high transmittance such as 20% or more can be easily and reliably realized. Furthermore, by setting each of the length and the width of the extended portion to 0.8 um or more, it is possible to practically sufficiently enhance the light shielding property for the second bonding region as described above. In addition, since the width of each of the main line portion and the second portion is set to 0.5 μm or more, display defects such as light leakage due to alignment failure of liquid crystal molecules in a region between adjacent pixel electrodes can be obtained. It can be reduced or prevented sufficiently in practice. In addition, the alignment defect of the liquid crystal molecules includes a horizontal electric field (that is, an electric field parallel to the substrate surface or a component parallel to the substrate surface) generated between the pixel electrodes according to a difference in potential between adjacent pixel electrodes. Can be caused by an oblique electric field. In addition, by setting the predetermined pixel pitch to 12.0 μm or less, it is possible to reduce the size of the apparatus while realizing high-definition display in the display area.

更に、本発明の電気光学装置用基板によれば、上述したように、開口率を高めることが可能であるので、光の利用効率を高めることができ、明るい表示が可能となる。よって、本発明の電気光学装置用基板を備えた電気光学装置では、上述した従来技術の如きマイクロレンズを設ける必要がなく、仮にマイクロレンズを設けた場合に生じ得る、マイクロレンズによって集光される光の熱によって例えば液晶等の電気光学物質や配向膜等にダメージを与えてしまう事態を回避することができる。これにより、電気光学装置の信頼性が向上する。更に、マイクロレンズを設けないことによって、マイクロレンズを設けた場合と比較して、電気光学装置を製造するための製造コストの低減を図ることも可能である。   Furthermore, according to the electro-optical device substrate of the present invention, as described above, the aperture ratio can be increased, so that the light use efficiency can be increased and bright display can be achieved. Therefore, in the electro-optical device including the substrate for the electro-optical device according to the present invention, it is not necessary to provide the microlens as in the related art described above, and the light is condensed by the microlens that may occur when the microlens is provided. For example, it is possible to avoid a situation where the heat of light damages an electro-optical material such as liquid crystal or an alignment film. Thereby, the reliability of the electro-optical device is improved. Further, by not providing the microlens, it is possible to reduce the manufacturing cost for manufacturing the electro-optical device as compared with the case where the microlens is provided.

以上説明したように、本発明の電気光学装置用基板によれば、トランジスタにおける光リーク電流の発生を低減しつつ、高い透過率を実現可能な電気光学装置を提供可能である。   As described above, according to the electro-optical device substrate of the present invention, it is possible to provide an electro-optical device capable of realizing high transmittance while reducing the occurrence of light leakage current in the transistor.

本発明の電気光学装置用基板の一態様では、前記所定画素ピッチは、8.5um以上であるIn one aspect of the electro-optical device substrate according to the invention, the predetermined pixel pitch is more 8.5Um.

この態様によれば、例えばリアプロジェクションテレビ等の表示装置に実装される場合に要求される、例えば20%以上のような比較的高い透過率をより確実に実現することが可能となる。   According to this aspect, it is possible to more surely realize a relatively high transmittance such as 20% or more required when mounted on a display device such as a rear projection television.

本発明の電気光学装置用基板の他の態様では、前記第2の接合領域は、LDD領域である。   In another aspect of the electro-optical device substrate of the present invention, the second bonding region is an LDD region.

この態様によれば、トランジスタの非動作時において、データ線側ソースドレイン領域及び画素電極側ソースドレイン領域に流れるオフ電流を低減し、且つトランジスタの動作時に流れるオン電流の低下を抑制できる。   According to this aspect, when the transistor is not operating, the off-current that flows in the data line side source / drain region and the pixel electrode side source / drain region can be reduced, and the decrease in the on-current that flows when the transistor is operating can be suppressed.

本発明の電気光学装置用基板の他の態様では、前記第1遮光膜は、一対の容量電極及び該一対の容量電極間に挟持された誘電体膜を有する容量素子を含み、前記容量素子は、前記データ線を介して前記画素電極に画像信号が供給された際に、前記画素電極の電位を保持する。 In another aspect of the substrate for an electro-optical device according to the aspect of the invention, the first light-shielding film includes a capacitive element having a pair of capacitive electrodes and a dielectric film sandwiched between the pair of capacitive electrodes. When the image signal is supplied to the pixel electrode via the data line, the potential of the pixel electrode is held.

この態様によれば、容量素子を遮光部の一部として兼用することによって、別途遮光膜を設ける場合に比べて当該電気光学装置用基板における回路構成及び当該回路を構成する配線等のレイアウトを簡略化できる。   According to this aspect, the capacitive element is also used as a part of the light shielding portion, thereby simplifying the circuit configuration of the electro-optical device substrate and the layout of the wirings constituting the circuit as compared with the case where a separate light shielding film is provided. Can be

上述した遮光部が容量素子を含む態様では、前記一対の容量電極の少なくとも一方は、導電性遮光膜を含んでなるようにしてもよい。   In the aspect in which the light shielding portion includes the capacitive element, at least one of the pair of capacitive electrodes may include a conductive light shielding film.

この態様によれば、トランジスタ上に例えば層間絶縁膜を介して近接配置可能な容量素子によって、半導層に上層側から入射する光を確実に遮光できる。尚、導電性遮光膜としては、例えば導電性ポリシリコン、やチタン(Ti)、クロム(Cr)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、モリブデン(Mo)等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したもの、或いはタングステンシリサイドが挙げられる。   According to this aspect, the light incident on the semiconductor layer from the upper layer side can be surely shielded by the capacitive element that can be disposed close to the transistor via the interlayer insulating film, for example. As the conductive light shielding film, for example, at least one of conductive polysilicon, refractory metal such as titanium (Ti), chromium (Cr), tungsten (W), tantalum (Ta), molybdenum (Mo), etc. A single metal containing one, an alloy, a metal silicide, a polysilicide, a laminate of these, or tungsten silicide.

本発明の電気光学装置用基板の他の態様では、前記第1遮光膜及び前記画素電極間の層において、前記チャネル領域と重なるように前記第2の方向に沿って延在する第4部分と、前記第1の接合領域と重なるように前記第4部分から前記第1の接合領域の方向へ突出する第5部分と、前記第2の接合領域と重なるように前記第2部分から前記第2の接合領域の方向へ突出する第6部分とを有し、前記第6部分の幅は前記第5部分の幅より広い第2遮光膜を備える。
本発明の電気光学装置は上記課題を解決するために、上述した本発明の電気光学装置用基板を備える。
In another aspect of the electro-optic device substrate of the present invention, a fourth portion extending in the second direction so as to overlap the channel region in the layer between the first light-shielding film and the pixel electrode; A fifth portion projecting from the fourth portion in the direction of the first joining region so as to overlap the first joining region, and a second portion from the second portion so as to overlap the second joining region. A sixth portion projecting in the direction of the bonding region, and a width of the sixth portion including a second light shielding film wider than a width of the fifth portion.
In order to solve the above problems, an electro-optical device of the present invention includes the above-described substrate for an electro-optical device of the present invention.

本発明の電気光学装置によれば、上述した本発明の電気光学装置用基板を備えているため、表示性能に優れた電気光学装置を提供することができる。   According to the electro-optical device of the present invention, since the electro-optical device substrate of the present invention described above is provided, an electro-optical device having excellent display performance can be provided.

本発明の電子機器は上記課題を解決するために、上述した本発明の電気光学装置を具備してなる。   In order to solve the above-described problems, an electronic apparatus according to the present invention includes the above-described electro-optical device according to the present invention.

本発明の電子機器によれば、上述した本発明の電気光学装置を具備してなるので、高品位の表示が可能な、投射型表示装置、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。また、本発明の電子機器として、例えば電子ペーパなどの電気泳動装置等も実現することが可能である。   According to the electronic apparatus of the present invention, since it includes the electro-optical device of the present invention described above, a projection display device, a mobile phone, an electronic notebook, a word processor, a viewfinder type, or a monitor capable of high-quality display. Various electronic devices such as a direct-view video tape recorder, a workstation, a videophone, a POS terminal, and a touch panel can be realized. Further, as the electronic apparatus of the present invention, for example, an electrophoretic device such as electronic paper can be realized.

本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされる。   The operation and other advantages of the present invention will become apparent from the best mode for carrying out the invention described below.

以下図面を参照しながら、本発明に係る電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに電子機器の各実施形態を説明する。尚、本実施形態では、電気光学装置の一例として、駆動回路内蔵型のTFTアクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を例に挙げる。
<第1実施形態>
先ず、本実施形態に係る液晶装置の全体構成について、図1及び図2を参照して説明する。ここに図1は、TFTアレイ基板をその上に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た液晶装置の平面図であり、図2は、図1のH−H´線断面図である。
Hereinafter, embodiments of an electro-optical device substrate, an electro-optical device, and an electronic apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. In this embodiment, as an example of the electro-optical device, a TFT active matrix driving type liquid crystal device with a built-in driving circuit is taken as an example.
<First Embodiment>
First, the overall configuration of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a plan view of the liquid crystal device as viewed from the counter substrate side together with the components formed on the TFT array substrate, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line H-H ′ in FIG. 1. is there.

図1及び図2において、本実施形態に係る液晶装置では、TFTアレイ基板10と対向基板20とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50が封入されている。TFTアレイ基板10と対向基板20とは、複数の画素部が設けられる、本発明に係る「表示領域」の一例としての画像表示領域10aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材52により相互に接着されている。   1 and 2, in the liquid crystal device according to the present embodiment, a TFT array substrate 10 and a counter substrate 20 are arranged to face each other. A liquid crystal layer 50 is sealed between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20. The TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are provided by a sealing material 52 provided in a seal region located around the image display region 10a as an example of the “display region” according to the present invention, in which a plurality of pixel portions are provided. They are glued together.

シール材52は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10上に塗布された後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたものである。シール材52中には、TFTアレイ基板10と対向基板20との間隔(即ち、基板間ギャップ)を所定値とするためのグラスファイバ或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されている。本実施形態に係る液晶装置は、プロジェクタのライトバルブ用として小型で拡大表示を行うのに適している。   The sealing material 52 is made of, for example, an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, or the like for bonding the two substrates, and is applied on the TFT array substrate 10 in the manufacturing process and then cured by ultraviolet irradiation, heating, or the like. It is. In the sealing material 52, a gap material such as glass fiber or glass bead is dispersed for setting the distance between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 (that is, the inter-substrate gap) to a predetermined value. The liquid crystal device according to this embodiment is small and suitable for performing enlarged display for a light valve of a projector.

シール材52が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域10aの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。但し、このような額縁遮光膜53の一部又は全部は、TFTアレイ基板10側に内蔵遮光膜として設けられてもよい。   A light-shielding frame light-shielding film 53 that defines the frame area of the image display area 10a is provided on the counter substrate 20 side in parallel with the inside of the seal area where the sealing material 52 is disposed. However, part or all of the frame light shielding film 53 may be provided as a built-in light shielding film on the TFT array substrate 10 side.

周辺領域のうち、シール材52が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられている。走査線駆動回路104は、この一辺に隣接する2辺に沿い、且つ、額縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。更に、このように画像表示領域10aの両側に設けられた二つの走査線駆動回路104間をつなぐため、TFTアレイ基板10の残る一辺に沿い、且つ、額縁遮光膜53に覆われるようにして複数の配線105が設けられている。   A data line driving circuit 101 and an external circuit connection terminal 102 are provided along one side of the TFT array substrate 10 in a region located outside the sealing region in which the sealing material 52 is disposed in the peripheral region. The scanning line driving circuit 104 is provided along two sides adjacent to the one side so as to be covered with the frame light shielding film 53. Further, in order to connect the two scanning line driving circuits 104 provided on both sides of the image display region 10 a in this way, a plurality of the pixel lines are covered along the remaining side of the TFT array substrate 10 and covered with the frame light shielding film 53. Wiring 105 is provided.

対向基板20の4つのコーナー部には、両基板間の上下導通端子として機能する上下導通材106が配置されている。他方、TFTアレイ基板10にはこれらのコーナー部に対向する領域において上下導通端子が設けられている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をとることができる。   Vertical conductive members 106 functioning as vertical conductive terminals between the two substrates are disposed at the four corners of the counter substrate 20. On the other hand, the TFT array substrate 10 is provided with vertical conduction terminals in a region facing these corner portions. Thus, electrical conduction can be established between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

図2において、TFTアレイ基板10上には、画素スイッチング用のTFTや走査線、データ線等の配線が形成された後の画素電極9a上に、配向膜が形成されている。他方、対向基板20上には、対向電極21の他、格子状又はストライプ状の遮光膜23、更には最上層部分に配向膜が形成されている。液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。   In FIG. 2, on the TFT array substrate 10, an alignment film is formed on the pixel electrode 9a after the pixel switching TFT, the scanning line, the data line and the like are formed. On the other hand, on the counter substrate 20, in addition to the counter electrode 21, a lattice-shaped or striped light-shielding film 23 and an alignment film are formed on the uppermost layer portion. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, a liquid crystal in which one or several types of nematic liquid crystals are mixed, and takes a predetermined alignment state between the pair of alignment films.

TFTアレイ基板10は例えば石英基板、ガラス基板、シリコン基板等の透明基板である。対向基板20もTFTアレイ基板10と同様に透明基板である。   The TFT array substrate 10 is a transparent substrate such as a quartz substrate, a glass substrate, or a silicon substrate. The counter substrate 20 is also a transparent substrate like the TFT array substrate 10.

TFTアレイ基板10には、画素電極9aが設けられており、その上側には、ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜が設けられている。例えば、画素電極9aはITO膜などの透明導電膜からなり、配向膜は、ポリイミド膜などの有機膜からなる。   The TFT array substrate 10 is provided with a pixel electrode 9a, and an alignment film on which a predetermined alignment process such as a rubbing process has been performed is provided above the pixel electrode 9a. For example, the pixel electrode 9a is made of a transparent conductive film such as an ITO film, and the alignment film is made of an organic film such as a polyimide film.

対向基板20には、その全面に渡って対向電極21が設けられており、その下側には、ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜22が設けられている。対向電極21は例えば、ITO膜などの透明導電膜からなる。配向膜22は、ポリイミド膜などの有機膜からなる。   A counter electrode 21 is provided on the entire surface of the counter substrate 20, and an alignment film 22 subjected to a predetermined alignment process such as a rubbing process is provided below the counter electrode 21. The counter electrode 21 is made of a transparent conductive film such as an ITO film, for example. The alignment film 22 is made of an organic film such as a polyimide film.

対向基板20には、格子状又はストライプ状の遮光膜23が設けられている。このような構成を採ることで、後述する遮光部500と併せ、TFTアレイ基板10側からの入射光のチャネル領域1a´ないしその周辺への侵入をより確実に阻止することができる。   The counter substrate 20 is provided with a light shielding film 23 having a lattice shape or a stripe shape. By adopting such a configuration, it is possible to more reliably prevent the incident light from the TFT array substrate 10 side from entering the channel region 1a ′ or its periphery together with the light shielding unit 500 described later.

このように構成され、画素電極9aと対向電極21とが対面するように配置されたTFTアレイ基板10と対向基板20との間には、液晶層50が形成される。液晶層50は、画素電極9aからの電界が印加されていない状態で配向膜により所定の配向状態をとる。   A liquid crystal layer 50 is formed between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 that are configured as described above and are arranged so that the pixel electrode 9a and the counter electrode 21 face each other. The liquid crystal layer 50 takes a predetermined alignment state by the alignment film in a state where an electric field from the pixel electrode 9a is not applied.

尚、図1及び図2に示したTFTアレイ基板10上には、これらのデータ線駆動回路101、走査線駆動回路104等の駆動回路に加えて、画像信号線上の画像信号をサンプリングしてデータ線に供給するサンプリング回路、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリチャージ信号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回路、製造途中や出荷時の当該電気光学装置の品質、欠陥等を検査するための検査回路等を形成してもよい。   1 and 2, on the TFT array substrate 10, in addition to the drive circuits such as the data line drive circuit 101 and the scanning line drive circuit 104, the image signal on the image signal line is sampled to obtain data. Sampling circuit that supplies lines, precharge circuit that supplies pre-charge signals of a predetermined voltage level to multiple data lines in advance of image signals, inspection of quality, defects, etc. of the electro-optical device during production or shipment An inspection circuit or the like may be formed.

次に、本実施形態に係る液晶装置の画素部の電気的な接続構成について、図3を参照して説明する。ここに図3は、本実施形態に係る液晶装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図である。   Next, an electrical connection configuration of the pixel portion of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of various elements, wirings, and the like in a plurality of pixels formed in a matrix forming the image display area of the liquid crystal device according to this embodiment.

図3において、画像表示領域10aを構成するマトリクス状に形成された複数の画素の各々には、画素電極9a及び本発明に係る「トランジスタ」の一例であるTFT30が形成されている。TFT30は、画素電極9aに電気的に接続されており、液晶装置の動作時に画素電極9aをスイッチング制御する。画像信号が供給されるデータ線6aは、TFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、…、Snは、この順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。   In FIG. 3, a pixel electrode 9 a and a TFT 30 which is an example of a “transistor” according to the present invention are formed in each of a plurality of pixels formed in a matrix that forms the image display region 10 a. The TFT 30 is electrically connected to the pixel electrode 9a, and performs switching control of the pixel electrode 9a during operation of the liquid crystal device. The data line 6a to which the image signal is supplied is electrically connected to the source of the TFT 30. The image signals S1, S2,..., Sn written to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied for each group to a plurality of adjacent data lines 6a. Good.

TFT30のゲートに走査線3aが電気的に接続されており、本実施形態に係る液晶装置は、所定のタイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、…、Gmを、この順に線順次で印加するように構成されている。画素電極9aは、TFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけそのスイッチを閉じることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、…、Snが所定のタイミングで書き込まれる。画素電極9aを介して電気光学物質の一例としての液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、対向基板に形成された対向電極との間で一定期間保持される。   The scanning line 3a is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the liquid crystal device according to the present embodiment applies the scanning signals G1, G2,..., Gm to the scanning line 3a in a pulsed manner in this order at a predetermined timing. It is configured to apply line-sequentially. The pixel electrode 9a is electrically connected to the drain of the TFT 30, and the image signal S1, S2,..., Sn supplied from the data line 6a is obtained by closing the TFT 30 as a switching element for a certain period. It is written at a predetermined timing. Image signals S 1, S 2,..., Sn written in a liquid crystal as an example of an electro-optical material via the pixel electrode 9 a are held for a certain period with the counter electrode formed on the counter substrate.

液晶層50を構成する液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として液晶装置からは画像信号に応じたコントラストをもつ光が出射される。ここで保持された画像信号がリークすることを防ぐために、画素電極9aと対向電極21(図2参照)との間に形成される液晶容量と並列に、本発明に係る「容量素子」の一例である蓄積容量70aが電気的に接続されている。蓄積容量70aは、画像信号の供給に応じて各画素電極9aの電位を一時的に保持する保持容量として機能する。蓄積容量70aによれば、画素電極9aにおける電位保持特性が向上し、コントラスト向上やフリッカの低減といった表示特性の向上が可能となる。   The liquid crystal constituting the liquid crystal layer 50 modulates light and enables gradation display by changing the orientation and order of the molecular assembly depending on the applied voltage level. In the normally white mode, the transmittance for incident light is reduced according to the voltage applied in units of each pixel, and in the normally black mode, the light is incident according to the voltage applied in units of each pixel. The transmittance for light is increased, and light having a contrast corresponding to an image signal is emitted from the liquid crystal device as a whole. In order to prevent the image signal held here from leaking, an example of the “capacitance element” according to the present invention in parallel with the liquid crystal capacitance formed between the pixel electrode 9a and the counter electrode 21 (see FIG. 2). The storage capacitor 70a is electrically connected. The storage capacitor 70a functions as a storage capacitor that temporarily holds the potential of each pixel electrode 9a in response to the supply of the image signal. According to the storage capacitor 70a, the potential holding characteristic of the pixel electrode 9a is improved, and display characteristics such as contrast improvement and flicker reduction can be improved.

次に、上述の動作を実現する画素部の具体的な構成について、図4及び図5を参照して説明する。ここに図4は、相隣接する複数の画素部の平面図である。図5は、図4のA−A´線断面図である。尚、図4及び図5では、各層・各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、該各層・各部材ごとに縮尺を異ならしめてある。図4及び図5では、説明の便宜上、画素電極9aより上側に位置する部分の図示を省略している。図5において、TFTアレイ基板10から画素電極9aまでの部分が、本発明に係る「電気光学装置用基板」の一例を構成している。   Next, a specific configuration of the pixel portion that realizes the above-described operation will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a plan view of a plurality of adjacent pixel portions. 5 is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG. In FIGS. 4 and 5, the scale of each layer / member is different for each layer / member to have a size that can be recognized on the drawing. In FIG. 4 and FIG. 5, for convenience of explanation, illustration of a portion located above the pixel electrode 9a is omitted. In FIG. 5, the portion from the TFT array substrate 10 to the pixel electrode 9a constitutes an example of the “electro-optical device substrate” according to the present invention.

図4において、TFTアレイ基板10上の画像表示領域10aは、画素電極9aが夫々設けられた複数の画素によって構成されている。   In FIG. 4, the image display area 10a on the TFT array substrate 10 is composed of a plurality of pixels each provided with a pixel electrode 9a.

複数の画素電極9aは、TFTアレイ基板10上に、本発明に係る「所定画素ピッチ」の一例としての画素ピッチD1でマトリクス状に配列されている。画素電極9aの縦横の境界にそれぞれ沿ってデータ線6a及び走査線3aが設けられている。走査線3aは、X方向に沿って延びており、データ線6aは、走査線3aと交差するように、Y方向に沿って延びている。走査線3a及びデータ線6aが互いに交差する個所の各々には画素スイッチング用のTFT30が設けられている。   The plurality of pixel electrodes 9a are arranged in a matrix on the TFT array substrate 10 at a pixel pitch D1 as an example of the “predetermined pixel pitch” according to the present invention. Data lines 6a and scanning lines 3a are provided along the vertical and horizontal boundaries of the pixel electrode 9a. The scanning line 3a extends along the X direction, and the data line 6a extends along the Y direction so as to intersect the scanning line 3a. A pixel switching TFT 30 is provided at each of the locations where the scanning line 3a and the data line 6a intersect each other.

走査線3a、データ線6a、蓄積容量70a、下側遮光膜11a、中継層93及びTFT30は、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、画素電極9aに対応する各画素の開口領域(即ち、各画素において、表示に実際に寄与する光が透過又は反射される領域)を囲む非開口領域内に配置されている。尚、走査線3a、蓄積容量70a、データ線6a及び下側遮光膜11aは、本発明に係る「遮光部」の一例としての後述する遮光部500を構成している。走査線3a、蓄積容量70a、データ線6a及び下側遮光膜11aの各々は、上述した非開口領域を部分的に規定している。言い換えれば、走査線3a、蓄積容量70a、データ線6a及び下側遮光膜11aからなる遮光部が形成された領域が非開口領域となる。TFT30は、走査線3a及びデータ線6aが互いに交差する交差領域毎に、該交差領域に部分的に重なるように設けられている。   The scanning line 3a, the data line 6a, the storage capacitor 70a, the lower light-shielding film 11a, the relay layer 93, and the TFT 30 are viewed on the TFT array substrate 10 in plan view, that is, an opening area of each pixel corresponding to the pixel electrode 9a (that is, In each pixel, the pixel is disposed in a non-opening region surrounding a region where light that actually contributes to display is transmitted or reflected. The scanning line 3a, the storage capacitor 70a, the data line 6a, and the lower light-shielding film 11a constitute a light-shielding part 500 described later as an example of the “light-shielding part” according to the present invention. Each of the scanning line 3a, the storage capacitor 70a, the data line 6a, and the lower light-shielding film 11a partially defines the above-described non-opening region. In other words, a region where the light shielding portion including the scanning line 3a, the storage capacitor 70a, the data line 6a, and the lower light shielding film 11a is formed is a non-opening region. The TFT 30 is provided so as to partially overlap each intersecting region where the scanning line 3a and the data line 6a intersect each other.

図4及び図5において、TFT30は、半導体層1aと、ゲート電極とされる走査線3aの一部とを備えている。   4 and 5, the TFT 30 includes a semiconductor layer 1a and a part of the scanning line 3a serving as a gate electrode.

半導体層1aは、例えばポリシリコンからなり、Y方向に沿ったチャネル長を有するチャネル領域1a´、データ線側LDD領域1b及び画素電極側LDD領域1c、並びにデータ線側ソースドレイン領域1d及び画素電極線側ソースドレイン領域1eからなる。即ち、TFT30はLDD構造を有している。尚、データ線側LDD領域1bは、本発明に係る第1の接合領域の一例であり、画素電極側LDD領域1cは、本発明に係る第2の接合領域の一例である。   The semiconductor layer 1a is made of, for example, polysilicon, and has a channel region 1a ′ having a channel length along the Y direction, a data line side LDD region 1b, a pixel electrode side LDD region 1c, a data line side source / drain region 1d, and a pixel electrode. It consists of a line-side source / drain region 1e. That is, the TFT 30 has an LDD structure. The data line side LDD region 1b is an example of a first junction region according to the present invention, and the pixel electrode side LDD region 1c is an example of a second junction region according to the present invention.

データ線側ソースドレイン領域1d及び画素電極線側ソースドレイン領域1eは、チャネル領域1a´を基準として、Y方向に沿ってほぼミラー対称に形成されている。データ線側LDD領域1bは、チャネル領域1a´及びデータ線側ソースドレイン領域1d間に形成されている。画素電極側LDD領域1cは、チャネル領域1a´及び画素電極線側ソースドレイン領域1e間に形成されている。データ線側LDD領域1b、画素電極側LDD領域1c、データ線側ソースドレイン領域1d及び画素電極線側ソースドレイン領域1eは、例えばイオンプランテーション法等の不純物打ち込みによって半導体層1aに不純物を打ち込んでなる不純物領域である。データ線側LDD領域1b及び画素電極側LDD領域1cはそれぞれ、データ線側ソースドレイン領域1d及び画素電極線側ソースドレイン領域1eよりも不純物の少ない低濃度な不純物領域として形成される。このような不純物領域によれば、TFT30の非動作時において、ソース領域及びドレイン領域に流れるオフ電流を低減し、且つTFT30の動作時に流れるオン電流の低下を抑制できる。尚、TFT30は、LDD構造を有することが好ましいが、データ線側LDD領域1b、画素電極側LDD領域1cに不純物打ち込みを行わないオフセット構造であってもよいし、ゲート電極をマスクとして不純物を高濃度に打ち込んでデータ線側ソースドレイン領域及び画素電極線側ソースドレイン領域を形成する自己整合型であってもよい。   The data line side source / drain region 1d and the pixel electrode line side source / drain region 1e are formed substantially in mirror symmetry along the Y direction with respect to the channel region 1a ′. The data line side LDD region 1b is formed between the channel region 1a 'and the data line side source / drain region 1d. The pixel electrode side LDD region 1c is formed between the channel region 1a 'and the pixel electrode line side source / drain region 1e. The data line side LDD region 1b, the pixel electrode side LDD region 1c, the data line side source / drain region 1d, and the pixel electrode line side source / drain region 1e are formed by implanting impurities into the semiconductor layer 1a by, for example, ion implantation. This is an impurity region. The data line side LDD region 1b and the pixel electrode side LDD region 1c are formed as low concentration impurity regions with less impurities than the data line side source / drain region 1d and the pixel electrode line side source / drain region 1e, respectively. According to such an impurity region, when the TFT 30 is not operating, it is possible to reduce the off-current that flows to the source region and the drain region, and to suppress the decrease of the on-current that flows when the TFT 30 is operating. The TFT 30 preferably has an LDD structure. However, the TFT 30 may have an offset structure in which no impurity implantation is performed in the data line side LDD region 1b and the pixel electrode side LDD region 1c. A self-aligned type in which the data line side source / drain region and the pixel electrode line side source / drain region are formed by implanting the concentration may be used.

図4及び図5に示すように、TFT30のゲート電極は、走査線3aの一部として形成されており、例えば導電性ポリシリコンから形成されている。走査線3aは、X方向に沿って延びる本線部分と共に、TFT30のチャネル領域1a´のうち該本線部分が重ならない領域と重なるようにY方向に沿って該本線部分から両側に延在する部分を有している。このような走査線3aのうちチャネル領域1a´と重なる部分がゲート電極として機能する。ゲート電極及び半導体層1a間は、ゲート絶縁膜2(より具体的には、2層の絶縁膜2a及び2b)によって絶縁されている。   As shown in FIGS. 4 and 5, the gate electrode of the TFT 30 is formed as a part of the scanning line 3a, and is made of, for example, conductive polysilicon. The scanning line 3a has a main line portion extending along the X direction and a portion extending from the main line portion along the Y direction to both sides so as to overlap with a region where the main line portion does not overlap in the channel region 1a ′ of the TFT 30. Have. A portion of the scanning line 3a that overlaps the channel region 1a ′ functions as a gate electrode. The gate electrode and the semiconductor layer 1a are insulated by a gate insulating film 2 (more specifically, two insulating films 2a and 2b).

TFT30の下側に下地絶縁膜12を介して格子状に設けられた下側遮光膜11aは、TFTアレイ基板10側から装置内に入射する戻り光からTFT30のチャネル領域1a´及びその周辺を遮光する遮光部の一部として機能する。下側遮光膜11aは、例えば、Ti、Cr、W、Ta、Mo、Pd等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したもの等からなる。   The lower light-shielding film 11a provided in a grid pattern below the TFT 30 via the base insulating film 12 shields the channel region 1a ′ of the TFT 30 and its surroundings from the return light that enters the device from the TFT array substrate 10 side. It functions as a part of the light shielding part. The lower light-shielding film 11a includes, for example, a metal simple substance, an alloy, a metal silicide, a polysilicide, or a laminate of at least one of refractory metals such as Ti, Cr, W, Ta, Mo, and Pd. Etc.

下地絶縁膜12は、下側遮光膜11aからTFT30を層間絶縁する機能の他、TFTアレイ基板10の全面に形成されることにより、TFTアレイ基板10の表面の研磨時における荒れや、洗浄後に残る汚れ等で画素スイッチング用TFT30の特性の劣化を防止する機能を有する。   The base insulating film 12 is formed on the entire surface of the TFT array substrate 10 in addition to the function of interlayer insulating the TFT 30 from the lower light-shielding film 11a, and thus remains rough after polishing the surface of the TFT array substrate 10 and after cleaning. It has a function of preventing deterioration of the characteristics of the pixel switching TFT 30 due to dirt or the like.

図5において、TFTアレイ基板10上のTFT30よりも層間絶縁膜41を介して上層側には、蓄積容量70aが設けられている。蓄積容量70aは、下部容量電極71m及び上部容量電極300が誘電体膜75aを介して対向配置されることにより形成されている。   In FIG. 5, a storage capacitor 70 a is provided on the upper layer side of the TFT 30 on the TFT array substrate 10 via the interlayer insulating film 41. The storage capacitor 70a is formed by disposing the lower capacitor electrode 71m and the upper capacitor electrode 300 to face each other with the dielectric film 75a interposed therebetween.

上部容量電極300は、TFT30の画素電極線側ソースドレイン領域1e及び画素電極9aに電気的に接続された画素電位側容量電極である。より具体的には、上部容量電極300は、コンタクトホール84aを介して中継層93に電気的に接続されており、中継層93と共に画素電極線側ソースドレイン領域1e及び画素電極9a間の電気的な接続を中継する。加えて、中継層93は、中継層93の一部である凸部93a及び当該凸部93aに電気的に接続されたコンタクトホール85aを介して画素電極9aに電気的に接続されている。従って、画素電極9a及び上部容量電極300は、電気的に接続されている。   The upper capacitor electrode 300 is a pixel potential side capacitor electrode electrically connected to the pixel electrode line side source / drain region 1e of the TFT 30 and the pixel electrode 9a. More specifically, the upper capacitor electrode 300 is electrically connected to the relay layer 93 through the contact hole 84a, and together with the relay layer 93, the electrical connection between the pixel electrode line side source / drain region 1e and the pixel electrode 9a. A simple connection. In addition, the relay layer 93 is electrically connected to the pixel electrode 9a through a convex portion 93a that is a part of the relay layer 93 and a contact hole 85a that is electrically connected to the convex portion 93a. Therefore, the pixel electrode 9a and the upper capacitor electrode 300 are electrically connected.

上部容量電極300は、例えば金属又は合金を含んでTFT30の上側に設けられた非透明な金属膜である。上部容量電極300は、TFT30を遮光する遮光部の一部としても機能する。上部容量電極300は、Al(アルミニウム)、Ag(銀)等の金属を含んで形成されている。   The upper capacitor electrode 300 is a non-transparent metal film that includes, for example, a metal or an alloy and is provided on the upper side of the TFT 30. The upper capacitor electrode 300 also functions as a part of a light shielding part that shields the TFT 30. The upper capacitor electrode 300 is formed including a metal such as Al (aluminum) or Ag (silver).

尚、上部容量電極300は、本発明に係る「導電性遮光膜」として、例えば、Ti(チタン)、Cr(クロム)、W(タングステン)、Ta(タンタル)、Mo(モリブデン)、Pd(パラジウム)等の高融点金属のうちの少なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したものから構成されていてもよい。この場合には、上部容量電極300の上側遮光膜としての機能を一層高めることができる。   The upper capacitor electrode 300 is, for example, Ti (titanium), Cr (chromium), W (tungsten), Ta (tantalum), Mo (molybdenum), Pd (palladium) as the “conductive light shielding film” according to the present invention. ) Or the like, and may be composed of a single metal, an alloy, a metal silicide, a polysilicide, or a laminate of these. In this case, the function of the upper capacitor electrode 300 as the upper light shielding film can be further enhanced.

下部容量電極71mは、画素電極9aが配置された画像表示領域10aからその周囲に延設されている。下部容量電極71mは、定電位源と電気的に接続され、固定電位に維持された固定電位側容量電極である。   The lower capacitor electrode 71m extends from the image display area 10a where the pixel electrode 9a is disposed to the periphery thereof. The lower capacitor electrode 71m is a fixed potential side capacitor electrode that is electrically connected to a constant potential source and maintained at a fixed potential.

下部容量電極71mも、上部容量電極300と同様に非透明な金属膜である。従って、蓄積容量70aは、金属膜−誘電体膜(絶縁膜)−金属膜の3層構造を有する、所謂MIM構造を有している。ここで、下部容量電極71mは、複数の画素に亘って延在され、これら複数の画素によって共用される。   The lower capacitive electrode 71m is also a non-transparent metal film like the upper capacitive electrode 300. Therefore, the storage capacitor 70a has a so-called MIM structure having a three-layer structure of metal film-dielectric film (insulating film) -metal film. Here, the lower capacitor electrode 71m extends over a plurality of pixels and is shared by the plurality of pixels.

本実施形態では、下部容量電極71mが金属膜として形成されているので、半導体を用いて下部容量電極71mを構成する場合に比べて液晶装置の駆動時に、当該液晶装置全体で消費される消費電力を低減でき、且つ各画素部における素子の高速動作が可能になる。従って、本実施形態に係る液晶装置は、高品位の画像表示が可能である。   In the present embodiment, since the lower capacitor electrode 71m is formed as a metal film, the power consumption consumed by the entire liquid crystal device when the liquid crystal device is driven as compared with the case where the lower capacitor electrode 71m is configured using a semiconductor. And the high-speed operation of the element in each pixel portion becomes possible. Therefore, the liquid crystal device according to this embodiment can display a high-quality image.

誘電体膜75aは、例えばHTO(High Temperature Oxide)膜、LTO(Low Temperature Oxide)膜等の酸化シリコン膜、或いは窒化シリコン膜等から構成された単層構造、或いは多層構造を有している。   The dielectric film 75a has a single layer structure or a multilayer structure composed of a silicon oxide film such as an HTO (High Temperature Oxide) film, an LTO (Low Temperature Oxide) film, or a silicon nitride film.

図5において、TFTアレイ基板10上の蓄積容量70aよりも層間絶縁膜42を介して上層側には、データ線6a及び中継層93が設けられている。   In FIG. 5, a data line 6a and a relay layer 93 are provided on the upper layer side of the storage capacitor 70a on the TFT array substrate 10 via the interlayer insulating film 42.

データ線6aは、半導体層1aのデータ線側ソースドレイン領域1dに、層間絶縁膜41及び42並びにゲート絶縁膜2を貫通するコンタクトホール81aを介して電気的に接続されている。データ線6a及びコンタクトホール81a内部は、例えば、Al−Si−Cu、Al−Cu等のAl(アルミニウム)含有材料、又はAl単体、若しくはAl層とTiN層等との多層膜からなる。データ線6aは、TFT30を遮光する遮光部の一部として機能する。   The data line 6a is electrically connected to the data line side source / drain region 1d of the semiconductor layer 1a through a contact hole 81a penetrating the interlayer insulating films 41 and 42 and the gate insulating film 2. The data line 6a and the inside of the contact hole 81a are made of, for example, an Al (aluminum) -containing material such as Al—Si—Cu or Al—Cu, or a single Al layer, or a multilayer film including an Al layer and a TiN layer. The data line 6a functions as a part of a light shielding part that shields the TFT 30 from light.

中継層93は、層間絶縁膜42上においてデータ線6aと同層に形成されている。データ線6a及び中継層93は、例えば金属膜等の導電材料で構成される薄膜を層間絶縁膜42上に薄膜形成法を用いて形成しておき、当該薄膜を部分的に除去、即ちパターニングすることによって相互に離間させた状態で形成される。従って、データ線6a及び中継層93を同一工程で形成できるため、装置の製造プロセスを簡便にできる。   The relay layer 93 is formed in the same layer as the data line 6 a on the interlayer insulating film 42. For the data line 6a and the relay layer 93, a thin film made of a conductive material such as a metal film is formed on the interlayer insulating film 42 using a thin film forming method, and the thin film is partially removed, that is, patterned. Thus, they are formed apart from each other. Therefore, since the data line 6a and the relay layer 93 can be formed in the same process, the manufacturing process of the device can be simplified.

図5において、画素電極9aは、データ線6aよりも層間絶縁膜43を介して上層側に形成されている。画素電極9aは、上部容量電極300、コンタクトホール83a、84a及び85a、並びに中継層93を介して半導体層1aの画素電極線側ソースドレイン領域1eに電気的に接続されている。コンタクトホール85aは、層間絶縁層43に開孔された孔部の内壁にITO等の画素電極9aを構成する導電材料が成膜されることによって形成されている。画素電極9aの上側表面には、ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜が設けられている。   In FIG. 5, the pixel electrode 9a is formed on the upper layer side of the data line 6a via the interlayer insulating film 43. The pixel electrode 9a is electrically connected to the pixel electrode line side source / drain region 1e of the semiconductor layer 1a through the upper capacitor electrode 300, contact holes 83a, 84a and 85a, and the relay layer 93. The contact hole 85a is formed by depositing a conductive material constituting the pixel electrode 9a, such as ITO, on the inner wall of the hole formed in the interlayer insulating layer 43. An alignment film subjected to a predetermined alignment process such as a rubbing process is provided on the upper surface of the pixel electrode 9a.

以上に説明した画素部の構成は、図4に示すように、各画素部に共通である。画像表示領域10a(図1参照)には、かかる画素部が画素ピッチD1でマトリクス状に形成されていることになる。他方、本実施形態に係る液晶装置では、画像表示領域10aの周囲に位置する周辺領域に、図1及び図2を参照して説明したように、走査線駆動回路104及びデータ線駆動回路101等の駆動回路が形成されている。   The configuration of the pixel portion described above is common to each pixel portion as shown in FIG. In the image display area 10a (see FIG. 1), such pixel portions are formed in a matrix with a pixel pitch D1. On the other hand, in the liquid crystal device according to the present embodiment, as described with reference to FIGS. 1 and 2, the scanning line driving circuit 104, the data line driving circuit 101, and the like are provided in the peripheral area located around the image display area 10a. The drive circuit is formed.

次に、本実施形態に係る液晶装置の遮光部の一部としての蓄積容量を構成する一対の容量電極の平面形状について、図6を参照して詳細に説明する。ここに図6は、本実施形態に係る液晶装置の蓄積容量を構成する一対の容量電極の平面形状を示す平面図である。尚、図6では、図4に示した画素部を構成する構成要素のうち、TFT30、走査線3a及び蓄積容量70aを拡大して示している。   Next, the planar shape of the pair of capacitor electrodes constituting the storage capacitor as a part of the light shielding portion of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described in detail with reference to FIG. FIG. 6 is a plan view showing a planar shape of a pair of capacitor electrodes constituting the storage capacitor of the liquid crystal device according to this embodiment. In FIG. 6, among the components constituting the pixel portion shown in FIG. 4, the TFT 30, the scanning line 3a, and the storage capacitor 70a are shown enlarged.

図6に示すように、蓄積容量70aを構成する上部容量電極300は、データ線側LDD領域1bを覆う第1電極部分301と、画素電極側LDD領域1cを覆う第2電極部分302とを有している。よって、データ線側LDD領域1b及び画素電極側LDD領域1cに上層側から入射する光を、第1電極部分301及び第2電極部分302の各々によって遮光することができる。従って、データ線側LDD領域1b及び画素電極側LDD領域1cにおける光リーク電流の発生を低減できる。   As shown in FIG. 6, the upper capacitor electrode 300 constituting the storage capacitor 70a has a first electrode portion 301 covering the data line side LDD region 1b and a second electrode portion 302 covering the pixel electrode side LDD region 1c. is doing. Therefore, the light incident on the data line side LDD region 1b and the pixel electrode side LDD region 1c from the upper layer side can be shielded by the first electrode portion 301 and the second electrode portion 302, respectively. Therefore, it is possible to reduce the occurrence of light leakage current in the data line side LDD region 1b and the pixel electrode side LDD region 1c.

本実施形態では特に、上部容量電極300における第2電極部分302は、第1電極部分301よりもX方向の幅が広くなるように構成されている。即ち、第2電極部分302のX方向の幅W1bは、第1電極部分301のX方向の幅W1aよりも広くなっている。尚、第1電極部分301の幅W1aは、後述する遮光部500における第1部分510の本線部511の幅に一致する。よって、画素電極側LDD領域1cに入射する光を、データ線側LDD領域1bに入射する光よりも確実に遮光できる。即ち、画素電極側LDD領域1cに到達する光を遮る遮光性を、データ線側LDD領域1bに到達する光を遮る遮光性よりも高める或いは強化することができる。ここで、本願発明者は、TFT30の動作時に、画素電極側LDD領域1cにおいて、データ線側LDD領域1bに比べて光リーク電流が相対的に発生しやすいと推察している。即ち、TFT30の動作時に、画素電極側LDD領域1cに光が照射された場合には、データ線側LDD領域1bに光が照射された場合よりも、TFT30における光リーク電流が発生しやすいと推察している。従って、第2電極部分302が第1電極部分301の幅W1aよりも広い幅W1bを有するように形成されることによって、光リーク電流が相対的に生じ易い画素電極側LDD領域1cに対する遮光性を高めることができ、TFT30に流れる光リーク電流を効果的に低減できる。逆に言えば、画素電極側LDD領域1cに比べて光リーク電流が相対的に発生しにくいデータ線側LDD領域1bを覆う第1電極部分301が、第2電極部分302よりも狭い幅を有するように形成されることによって、開口率の無駄な低下を防止できる。   Particularly in the present embodiment, the second electrode portion 302 of the upper capacitor electrode 300 is configured to have a width in the X direction wider than that of the first electrode portion 301. That is, the width W1b in the X direction of the second electrode portion 302 is wider than the width W1a in the X direction of the first electrode portion 301. Note that the width W1a of the first electrode portion 301 matches the width of the main line portion 511 of the first portion 510 in the light shielding portion 500 described later. Therefore, the light incident on the pixel electrode side LDD region 1c can be shielded more reliably than the light incident on the data line side LDD region 1b. That is, the light blocking property for blocking the light reaching the pixel electrode side LDD region 1c can be enhanced or enhanced than the light blocking property for blocking the light reaching the data line side LDD region 1b. Here, the inventor of the present application speculates that a light leakage current is more likely to occur in the pixel electrode side LDD region 1c than in the data line side LDD region 1b during the operation of the TFT 30. That is, it is presumed that when the pixel electrode side LDD region 1c is irradiated with light during the operation of the TFT 30, light leakage current in the TFT 30 is more likely to occur than when the data line side LDD region 1b is irradiated with light. is doing. Therefore, by forming the second electrode portion 302 so as to have a width W1b wider than the width W1a of the first electrode portion 301, the light-shielding property for the pixel electrode side LDD region 1c that is relatively likely to cause a light leakage current is provided. The light leakage current flowing through the TFT 30 can be effectively reduced. In other words, the first electrode portion 301 that covers the data line side LDD region 1b in which the light leakage current is relatively less likely to occur than the pixel electrode side LDD region 1c has a narrower width than the second electrode portion 302. By being formed in this way, it is possible to prevent an unnecessary decrease in the aperture ratio.

即ち、第2電極部分302の幅W2aを、より広く形成することによって、光リーク電流が相対的に発生しやすい画素電極側LDD領域1cに対する遮光性を向上させつつ、第1電極部分301の幅W1aを、より狭く形成することによって、開口率の無駄な低下を防止できる。つまり、光リーク電流が発生しやすい画素電極側LDD領域1cに対する遮光性のみを、いわばピンポイントで高めることで、開口率の無駄な低下を招くことなく、トランジスタにおける光リーク電流を効果的に低減できる。   In other words, by forming the width W2a of the second electrode portion 302 wider, the light shielding property to the pixel electrode side LDD region 1c where light leakage current is relatively likely to occur is improved, and the width of the first electrode portion 301 is increased. By making W1a narrower, it is possible to prevent a wasteful decrease in the aperture ratio. In other words, only the light shielding property for the pixel electrode side LDD region 1c where the light leakage current is likely to occur is increased by so-called pinpoint, so that the light leakage current in the transistor is effectively reduced without causing a wasteful decrease in the aperture ratio. it can.

次に、本実施形態に係る液晶装置の遮光部について、図4から図6に加えて、主に図7を参照して説明する。ここに図7は、本発明に係る液晶装置の遮光部の平面レイアウトを示す平面図である。   Next, the light shielding portion of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described mainly with reference to FIG. 7 in addition to FIGS. FIG. 7 is a plan view showing a planar layout of the light shielding portion of the liquid crystal device according to the present invention.

図4から図7において、遮光部500は、上述した、走査線3a、蓄積容量70a、データ線6a及び下側遮光膜11aから構成されており、画素電極9a毎の開口領域9aaを互いに隔てる非開口領域を規定している。   4 to 7, the light-shielding portion 500 includes the scanning line 3a, the storage capacitor 70a, the data line 6a, and the lower light-shielding film 11a described above, and separates the opening region 9aa for each pixel electrode 9a from each other. An opening area is defined.

遮光部500は、Y方向及びX方向の各々に沿って延びる第1部分510及び第2部分520を有している。尚、第1部分510は、本発明に係る「第1部分」の一例であり、第2部分520は、本発明に係る「第2部分」の一例である。遮光部500は、マトリクス状に配列された画素電極9a毎の開口領域9aaを互いに隔てるように、相隣接する画素電極9a間に、概ね格子状に形成されている。第1部分510は、Y方向に沿って延びるデータ線6aと下側遮光膜11aのうちY方向に沿って延びる部分とを含んで構成され、第2部分520は、X方向に沿って延びる走査線3aと下側遮光膜11aのうちX方向に沿って延びる部分とを含んで構成されている。更に、第1部分510及び第2部分520は夫々、蓄積容量70aを部分的に含んで構成されている。   The light shielding unit 500 includes a first portion 510 and a second portion 520 that extend along each of the Y direction and the X direction. The first portion 510 is an example of the “first portion” according to the present invention, and the second portion 520 is an example of the “second portion” according to the present invention. The light shielding portion 500 is formed in a substantially lattice shape between adjacent pixel electrodes 9a so as to separate the opening regions 9aa for the pixel electrodes 9a arranged in a matrix. The first portion 510 includes a data line 6a extending along the Y direction and a portion extending along the Y direction in the lower light-shielding film 11a, and the second portion 520 is scanned extending along the X direction. The line 3a and a portion extending along the X direction in the lower light-shielding film 11a are included. Further, each of the first portion 510 and the second portion 520 is configured to partially include the storage capacitor 70a.

図4及び図7に示すように、TFT30は、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、遮光部500における第1部分510及び第2部分520が相互に交差する交差部分550と部分的に重なるように画素電極9a毎に設けられている。   As shown in FIGS. 4 and 7, the TFT 30 partially includes an intersecting portion 550 where the first portion 510 and the second portion 520 of the light shielding portion 500 intersect with each other when viewed in plan on the TFT array substrate 10. It is provided for each pixel electrode 9a so as to overlap.

本実施形態では特に、図6を参照して上述したように、蓄積容量70aを構成する上部容量電極300は、データ線側LDD領域1bを覆う第1電極部分301と、画素電極側LDD領域1cを覆う第2電極部分302とを有している。つまり、図7に示すように、遮光部500における第1部分510は、Y方向に沿って延びる本線部511と、該本線部511における画素電極側LDD領域1cと重なる部分からX方向に沿って両側に夫々延在する延在部512a及び512bとを有している。即ち、第2電極部分302の一部が延在部512a及び512bとして形成されている。よって、延在部512a及び512bによって、光リーク電流が相対的に発生しやすい画素電極側LDD領域1cに対する遮光性を向上させつつ、本線部511の幅W1aを狭く形成することによって、開口率の無駄な低下を防止できる。   Particularly in this embodiment, as described above with reference to FIG. 6, the upper capacitor electrode 300 constituting the storage capacitor 70a includes the first electrode portion 301 that covers the data line side LDD region 1b and the pixel electrode side LDD region 1c. And a second electrode portion 302 covering the surface. That is, as shown in FIG. 7, the first portion 510 in the light-shielding portion 500 extends along the X direction from the main line portion 511 extending along the Y direction and the portion overlapping the pixel electrode side LDD region 1 c in the main line portion 511. Extension portions 512a and 512b extending on both sides are provided. That is, a part of the second electrode portion 302 is formed as the extending portions 512a and 512b. Therefore, the extension portions 512a and 512b improve the light shielding property with respect to the pixel electrode side LDD region 1c where light leakage current is relatively likely to occur, and the width W1a of the main line portion 511 is narrowed, thereby reducing the aperture ratio. Unnecessary decline can be prevented.

更に、本実施形態では特に、画素ピッチD1は、12.0umであり、本線部511の幅W1a及び第2部分の幅W2はそれぞれ1.5umであり、延在部512aの長さLa及び幅W3aは夫々、1.5um及び3.5umであり、延在部512bの長さLb及び幅W3bは夫々、1.5um及び3.5umである。尚、本実施形態では、延在部512a及び512bの形状は互いに同じように形成されているので、以下では、適宜、延在部512a及び512bの各々を単に延在部512とも呼び、長さLa及びLbの各々を単に長さL、幅W3a及びW3bの各々を単に幅W3と夫々呼ぶこととする。また、本実施形態では、延在部512a及び512bの形状は、互いに同じになるように形成されているが、互いに異なるように形成してもよい。よって、例えばデータプロジェクタに実装される場合に要求される、例えば25%以上のような比較的高い透過率を実現することが可能となる。即ち、上述のように、画素ピッチD1を12.0um、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2の各々を1.5um、延在部512の長さLを1.5um、延在部512の幅W3を3.5umとすることで、開口率を70%以上とすることができ、例えばデータプロジェクタに要求される透過率25%以上を実現することが可能となっている。尚、画素ピッチD1、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2、並びに延在部512の長さL及び幅W3の組み合わせと開口率及び透過率との関係については、後に詳述する。   Further, particularly in the present embodiment, the pixel pitch D1 is 12.0 μm, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion are 1.5 μm, respectively, and the length La and width of the extending portion 512a. W3a is 1.5 um and 3.5 um, respectively, and the length Lb and the width W3b of the extending part 512b are 1.5 um and 3.5 um, respectively. In the present embodiment, the extended portions 512a and 512b are formed in the same shape as each other. Therefore, in the following, each of the extended portions 512a and 512b is also simply referred to as an extended portion 512, and its length Each of La and Lb is simply referred to as a length L, and each of the widths W3a and W3b is simply referred to as a width W3. In the present embodiment, the extending portions 512a and 512b are formed to have the same shape, but may be formed to be different from each other. Therefore, for example, it is possible to achieve a relatively high transmittance such as 25% or more required when mounted on a data projector. That is, as described above, the pixel pitch D1 is 12.0 μm, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520 are each 1.5 μm, and the length L of the extending portion 512 is 1.5 μm. By setting the width W3 of the existing portion 512 to 3.5 μm, the aperture ratio can be set to 70% or more, and for example, the transmittance of 25% or more required for the data projector can be realized. Note that the relationship between the pixel pitch D1, the width W1a of the main line portion 511, the width W2 of the second portion 520, the length L and the width W3 of the extending portion 512, and the aperture ratio and transmittance will be described in detail later. To do.

加えて、本実施形態では特に、延在部512の長さL及び幅W3の各々が1.5um及び3.5umであり、0.8um以上に設定されているので、上述したような画素電極側LDD領域1cに対する遮光性を実践上十分に高めることが可能である。また、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2の各々が1.5umであり、0.5um以上に設定されているので、相隣接する画素電極9a間の領域における液晶分子の配向不良に起因した光抜け等の表示上の不具合を実践上十分に低減或いは防止できる。また、画素ピッチD1が12.0umであり、12.0um以下に設定されているので、画像表示領域10a(図1参照)における高精細な表示を実現しつつ、装置の小型化も可能となる。   In addition, in this embodiment, in particular, the length L and the width W3 of the extension part 512 are 1.5 μm and 3.5 μm, respectively, and set to 0.8 μm or more. It is possible to practically sufficiently enhance the light shielding property for the side LDD region 1c. In addition, since each of the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520 is 1.5 μm and is set to 0.5 μm or more, the alignment of the liquid crystal molecules in the region between the adjacent pixel electrodes 9a Indications such as light omission due to defects can be reduced or prevented in practice. Further, since the pixel pitch D1 is 12.0 μm and is set to 12.0 μm or less, it is possible to reduce the size of the apparatus while realizing high-definition display in the image display region 10a (see FIG. 1). .

更に加えて、本実施形態によれば、上述したように、開口率を70%以上に高めることができるので、明るい表示が可能となる。よって、本実施形態に係る液晶装置では、上述した従来技術の如きマイクロレンズを設ける必要がなく、仮にマイクロレンズを設けた場合に生じ得る、マイクロレンズによって集光される光の熱によって液晶層50や配向膜等にダメージを与えてしまう事態を回避することができる。これにより、装置の信頼性が向上する。更に、マイクロレンズを設けないことによって、マイクロレンズを設けた場合と比較して、装置を製造するための製造コストの低減を図ることも可能である。   In addition, according to the present embodiment, as described above, the aperture ratio can be increased to 70% or more, so that bright display is possible. Therefore, in the liquid crystal device according to the present embodiment, it is not necessary to provide the microlens as in the prior art described above, and the liquid crystal layer 50 is generated by the heat of the light condensed by the microlens that may occur when the microlens is provided. It is possible to avoid a situation that damages the alignment film and the like. This improves the reliability of the device. Furthermore, by not providing the microlens, it is possible to reduce the manufacturing cost for manufacturing the device as compared with the case where the microlens is provided.

ここで、図8及び図9を参照して、画素ピッチD1、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2、並びに延在部512の長さL及び幅W3の組み合わせと開口率及び透過率との関係について説明する。ここに図8(a)は、画素ピッチ、遮光部の第1部分の本線部の幅、遮光部の第2部分の幅並びに延在部の長さ及び幅の組み合わせと開口率との関係を示すグラフであり、図8(b)は、図8(a)に示したグラフに対応する数値データを示す表である。図9(a)は、画素ピッチ、遮光部の第1部分の本線部の幅、遮光部の第2部分の幅並びに延在部の長さ及び幅の組み合わせと透過率との関係を示すグラフであり、図9(b)は、図9(a)に示したグラフに対応する数値データを示す表である。   8 and 9, the combination of the pixel pitch D1, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520, the length L and the width W3 of the extending portion 512, the aperture ratio, and The relationship with the transmittance will be described. FIG. 8A shows the relationship between the aperture ratio and the pixel pitch, the width of the main portion of the first portion of the light shielding portion, the width of the second portion of the light shielding portion, and the length and width of the extending portion. FIG. 8B is a table showing numerical data corresponding to the graph shown in FIG. FIG. 9A is a graph showing the relationship between the pixel pitch, the width of the main portion of the first portion of the light shielding portion, the width of the second portion of the light shielding portion, the length and width of the extending portion, and the transmittance. FIG. 9B is a table showing numerical data corresponding to the graph shown in FIG.

図8(a)及び図8(b)において、データE1、E2及びE3は、延在部512の長さL及び幅W3がそれぞれ1.5um及び3.5umである場合における、画素ピッチD1(単位はum)と開口率(単位は%)との関係を示している。データE1では、本線部511の幅W1aが1.25um、第2部分512の幅W2が1.5umに設定されており、データE2では、本線部511の幅W1a及び第2部分512の幅W2のいずれもが1.5umに設定されており、データE3では、本線部511の幅W1a及び第2部分512の幅W2のいずれもが1.75umに設定されている。   8A and 8B, the data E1, E2, and E3 are the pixel pitch D1 (in the case where the length L and the width W3 of the extending portion 512 are 1.5 um and 3.5 um, respectively. The unit is um) and the aperture ratio (unit is%). In data E1, the width W1a of the main line portion 511 is set to 1.25 μm and the width W2 of the second portion 512 is set to 1.5 μm. In data E2, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 512 are set. Are both set to 1.5 μm, and in the data E3, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 512 are both set to 1.75 μm.

図9(a)及び図9(b)において、データT1、T2及びT3は、延在部512の長さL及び幅W3がそれぞれ1.5um及び3.5umである場合における、画素ピッチD1(単位はum)と透過率(単位は%)との関係を示している。データT1では、図8(a)におけるデータE1に対応して、本線部511の幅W1aが1.25um、第2部分512の幅W2が1.5umに設定されており、データT2では、図8(a)におけるデータE2に対応して、本線部511の幅W1a及び第2部分512の幅W2のいずれもが1.5umに設定されており、データT3では、図8(a)におけるデータE2に対応して、本線部511の幅W1a及び第2部分512の幅W2のいずれもが1.75umに設定されている。   9A and 9B, the data T1, T2, and T3 are represented by the pixel pitch D1 (when the length L and the width W3 of the extending portion 512 are 1.5 μm and 3.5 μm, respectively. The unit is um) and the transmittance (unit is%). In the data T1, corresponding to the data E1 in FIG. 8A, the width W1a of the main line portion 511 is set to 1.25 μm, and the width W2 of the second portion 512 is set to 1.5 μm. Corresponding to the data E2 in FIG. 8 (a), both the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 512 are set to 1.5 μm. In the data T3, the data in FIG. Corresponding to E2, both the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 512 are set to 1.75 μm.

図8(a)及び図8(b)において、本実施形態では特に、上述したように画素ピッチD1が12.0um、本線部511の幅W1a及び第2部分の幅W2の各々が1.5um、延在部512の長さLが1.5um、延在部512の幅W3が3.5umであるので、開口率は、データE2におけるデータ点P1に相当し、72.92%となる。また、図9(a)及び図9(b)において、本実施形態における透過率は、データT2におけるデータ点P1tに相当し、25.14%となる。このように本実施形態によれば、例えばデータプロジェクタに必要とされる透過率(図中、「データ系に必要な透過率」)である25%以上を実現することが可能である、即ち、開口率を、透過率25%以上が実現できる値である70%以上とすることが可能である。   8A and 8B, particularly in the present embodiment, as described above, the pixel pitch D1 is 12.0 μm, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion are each 1.5 μm. Since the length L of the extending portion 512 is 1.5 μm and the width W3 of the extending portion 512 is 3.5 μm, the aperture ratio corresponds to the data point P1 in the data E2, and is 72.92%. 9A and 9B, the transmittance in the present embodiment corresponds to the data point P1t in the data T2, and is 25.14%. As described above, according to the present embodiment, it is possible to realize 25% or more which is the transmittance required for the data projector (“transmittance required for the data system” in the drawing), for example, The aperture ratio can be set to 70% or more, which is a value that can achieve a transmittance of 25% or more.

尚、図8及び図9において、画素ピッチD1、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2、並びに延在部512の長さL及び幅W3の組み合わせを、画素ピッチD1は8.5um以上且つ12.0um以下の範囲内で、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2の各々は0.5um以上且つ1.5um以下の範囲内で、延在部512の長さL及び幅W3の各々は、0.8um以上且つ3.5um以下の範囲内で且つ延在部512の面積が5.25um(=1.5um×3.5um)以下となるように、設定してもよい。この場合には、データ範囲P2に相当し(図8(b)参照)、開口率を確実に60%以上とすることが可能となる。この際の透過率は、データ範囲P2tに相当し(図9(b)参照)、例えばリアプロジェクションテレビに必要とされる透過率(図中、「PTV系に必要な透過率」)である20%以上を確実に実現することができる。 8 and 9, a combination of the pixel pitch D1, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520, and the length L and the width W3 of the extending portion 512, the pixel pitch D1 is 8. Within the range of 5 μm or more and 12.0 μm or less, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520 are each within the range of 0.5 μm or more and 1.5 μm or less, and the length of the extension 512 Each of L and width W3 is set within a range of 0.8 μm or more and 3.5 μm or less, and an area of the extension portion 512 is 5.25 μm 2 (= 1.5 μm × 3.5 μm) or less. May be. In this case, it corresponds to the data range P2 (see FIG. 8B), and the aperture ratio can be reliably set to 60% or more. The transmittance at this time corresponds to the data range P2t (see FIG. 9B), and is, for example, the transmittance required for the rear projection television (in the figure, “transmittance required for the PTV system”) 20. % Or more can be reliably realized.

図10(a)は、図8(a)とは異なる、画素ピッチD1、遮光部500の第1部分510の本線部511の幅W1a、遮光部500の第2部分520の幅W2並びに延在部512の長さL及び幅W3の組み合わせと開口率との関係を示すグラフであり、図10(b)は、図10(a)に示したグラフに対応する数値データを示す表である。   10A differs from FIG. 8A in that the pixel pitch D1, the width W1a of the main portion 511 of the first portion 510 of the light shielding portion 500, the width W2 of the second portion 520 of the light shielding portion 500, and the extension. FIG. 10B is a graph showing the relationship between the combination of the length L and width W3 of the portion 512 and the aperture ratio, and FIG. 10B is a table showing numerical data corresponding to the graph shown in FIG.

図10(a)及び図10(b)において、データE4、E5、E6及びE7は、延在部512の長さL及び幅W3がそれぞれ0.8um及び1.0umである場合における、画素ピッチD1(単位はum)と開口率(単位は%)との関係を示している。データE4では、本線部511の幅W1a及び第2部分512の幅W2のいずれもが0.5umに設定されており、データE5では、本線部511の幅W1a及び第2部分512の幅W2のいずれもが0.6umに設定されており、データE6では、本線部511の幅W1a及び第2部分512の幅W2のいずれもが0.8umに設定されており、データE7では、本線部511の幅W1a及び第2部分512の幅W2のいずれもが1.25umに設定されている。   10A and 10B, the data E4, E5, E6, and E7 are the pixel pitches when the length L and the width W3 of the extending portion 512 are 0.8 um and 1.0 um, respectively. The relationship between D1 (unit is um) and aperture ratio (unit is%) is shown. In the data E4, both the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 512 are set to 0.5 um. In the data E5, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 512 are set. Both are set to 0.6 um. In the data E6, both the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 512 are set to 0.8 um. In the data E7, the main line portion 511 is set. Both the width W1a and the width W2 of the second portion 512 are set to 1.25 um.

図10(a)及び図10(b)において、画素ピッチD1、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2、並びに延在部512の長さL及び幅W3の組み合わせを、延在部512の長さL及び幅W3の各々は、0.8um及び1.0umに設定すると共に、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2はいずれも、0.5umに設定し、画素ピッチD1が3.0um以上且つ10um以下の範囲内となるように設定してもよい。この場合には、データ範囲P3に相当し(図10(b)参照)、開口率を確実に60%以上とすることが可能となる。よって、例えばリアプロジェクションテレビに必要とされる透過率である20%以上を確実に実現することができる。   10A and 10B, a combination of the pixel pitch D1, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520, and the length L and width W3 of the extending portion 512 is extended. Each of the length L and the width W3 of the portion 512 is set to 0.8 um and 1.0 um, and the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520 are both set to 0.5 um. You may set so that the pixel pitch D1 may be in the range of 3.0 um or more and 10 um or less. In this case, it corresponds to the data range P3 (see FIG. 10B), and the aperture ratio can be reliably set to 60% or more. Therefore, for example, it is possible to reliably realize 20% or more, which is a transmittance required for a rear projection television.

或いは、図10(a)及び図10(b)において、画素ピッチD1、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2、並びに延在部512の長さL及び幅W3の組み合わせを、延在部512の長さL及び幅W3の各々は、0.8um及び1.0umに設定すると共に、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2はいずれも、0.6umに設定し、画素ピッチD1が3.5um以上且つ10um以下の範囲内となるように設定してもよい。この場合には、データ範囲P4に相当し(図10(b)参照)、開口率を確実に60%以上とすることが可能となる。よって、例えばリアプロジェクションテレビに必要とされる透過率である20%以上を確実に実現することができる。   Alternatively, in FIG. 10A and FIG. 10B, combinations of the pixel pitch D1, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520, and the length L and width W3 of the extending portion 512 are Each of the length L and the width W3 of the extending part 512 is set to 0.8 um and 1.0 um, and the width W1a of the main line part 511 and the width W2 of the second part 520 are both set to 0.6 um. However, the pixel pitch D1 may be set to be in the range of 3.5 μm or more and 10 μm or less. In this case, it corresponds to the data range P4 (see FIG. 10B), and the aperture ratio can be reliably set to 60% or more. Therefore, for example, it is possible to reliably realize 20% or more, which is a transmittance required for a rear projection television.

或いは、図10(a)及び図10(b)において、画素ピッチD1、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2、並びに延在部512の長さL及び幅W3の組み合わせを、延在部512の長さL及び幅W3の各々は、0.8um及び1.0umに設定すると共に、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2はいずれも、0.8umに設定し、画素ピッチD1が4.5um以上且つ10um以下の範囲内となるように設定してもよい。この場合には、データ範囲P5に相当し(図10(b)参照)、開口率を確実に60%以上とすることが可能となる。よって、例えばリアプロジェクションテレビに必要とされる透過率である20%以上を確実に実現することができる。   Alternatively, in FIG. 10A and FIG. 10B, combinations of the pixel pitch D1, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520, and the length L and width W3 of the extending portion 512 are Each of the length L and the width W3 of the extending part 512 is set to 0.8 um and 1.0 um, and the width W1a of the main line part 511 and the width W2 of the second part 520 are both set to 0.8 um. However, the pixel pitch D1 may be set within a range of 4.5 μm or more and 10 μm or less. In this case, it corresponds to the data range P5 (see FIG. 10B), and the aperture ratio can be reliably set to 60% or more. Therefore, for example, it is possible to reliably realize 20% or more, which is a transmittance required for a rear projection television.

或いは、図10(a)及び図10(b)において、画素ピッチD1、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2、並びに延在部512の長さL及び幅W3の組み合わせを、延在部512の長さL及び幅W3の各々は、0.8um及び1.0umに設定すると共に、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2はいずれも、1.25umに設定し、画素ピッチD1が6.0um以上且つ10um以下の範囲内となるように設定してもよい。この場合には、データ範囲P6に相当し(図10(b)参照)、開口率を確実に60%以上とすることが可能となる。よって、例えばリアプロジェクションテレビに必要とされる透過率である20%以上を確実に実現することができる。   Alternatively, in FIG. 10A and FIG. 10B, combinations of the pixel pitch D1, the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520, and the length L and width W3 of the extending portion 512 are Each of the length L and the width W3 of the extending portion 512 is set to 0.8 um and 1.0 um, and the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520 are both set to 1.25 um. However, the pixel pitch D1 may be set to be in the range of 6.0 μm or more and 10 μm or less. In this case, it corresponds to the data range P6 (see FIG. 10B), and the aperture ratio can be reliably set to 60% or more. Therefore, for example, it is possible to reliably realize 20% or more, which is a transmittance required for a rear projection television.

図8から図10を参照して例示した如く、画素ピッチD1を3.0um以上且つ12.0um以下の範囲内で、本線部511の幅W1a及び第2部分520の幅W2の各々を0.5um以上且つ1.5um以下の範囲内で、延在部512の長さL及び幅W3の各々を0.8um以上且つ3.5um以下の範囲内で、それぞれ設定することにより、例えばデータプロジェクタやリアプロジェクションテレビ等の表示装置に実装される場合に要求される、例えば25%或いは20%以上のような比較的高い透過率を容易且つ確実に実現することが可能となる。   As illustrated with reference to FIGS. 8 to 10, each of the width W1a of the main line portion 511 and the width W2 of the second portion 520 is set to 0. 0 within a range of the pixel pitch D1 of 3.0 μm or more and 12.0 μm or less. By setting each of the length L and width W3 of the extending portion 512 within the range of 0.8 um to 3.5 um within the range of 5 um to 1.5 um, for example, a data projector, A relatively high transmittance such as 25% or 20% or more required when mounted on a display device such as a rear projection television can be easily and reliably realized.

以上説明したように、本実施形態に係る電気光学装置用基板を備えた液晶装置によれば、TFT30における光リーク電流の発生を低減しつつ、高い透過率を実現可能である。
<電子機器>
次に、上述した電気光学装置である液晶装置を各種の電子機器に適用する場合について説明する。ここに図11は、プロジェクタの構成例を示す平面図である。以下では、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。
As described above, according to the liquid crystal device including the electro-optical device substrate according to the present embodiment, high transmittance can be realized while reducing the occurrence of light leakage current in the TFT 30.
<Electronic equipment>
Next, the case where the liquid crystal device which is the above-described electro-optical device is applied to various electronic devices will be described. FIG. 11 is a plan view showing a configuration example of the projector. Hereinafter, a projector using the liquid crystal device as a light valve will be described.

図11に示すように、プロジェクタ1100内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設けられている。このランプユニット1102から射出された投射光は、ライトガイド1104内に配置された4枚のミラー1106及び2枚のダイクロイックミラー1108によってRGBの3原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル1110R、1110B及び1110Gに入射される。   As shown in FIG. 11, a projector 1100 includes a lamp unit 1102 made up of a white light source such as a halogen lamp. The projection light emitted from the lamp unit 1102 is separated into three primary colors of RGB by four mirrors 1106 and two dichroic mirrors 1108 arranged in the light guide 1104, and serves as a light valve corresponding to each primary color. The light enters the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G.

液晶パネル1110R、1110B及び1110Gの構成は、上述した液晶装置と同等であり、画像信号処理回路から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム1112に3方向から入射される。このダイクロイックプリズム1112においては、R及びBの光が90度に屈折する一方、Gの光が直進する。従って、各色の画像が合成される結果、投射レンズ1114を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。   The configurations of the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G are the same as those of the liquid crystal device described above, and are driven by R, G, and B primary color signals supplied from the image signal processing circuit. The light modulated by these liquid crystal panels enters the dichroic prism 1112 from three directions. In the dichroic prism 1112, R and B light is refracted at 90 degrees, while G light travels straight. Therefore, as a result of the synthesis of the images of the respective colors, a color image is projected onto the screen or the like via the projection lens 1114.

ここで、各液晶パネル1110R、1110B及び1110Gによる表示像について着目すると、液晶パネル1110Gによる表示像は、液晶パネル1110R、1110Bによる表示像に対して左右反転することが必要となる。   Here, paying attention to the display images by the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G, the display image by the liquid crystal panel 1110G needs to be horizontally reversed with respect to the display images by the liquid crystal panels 1110R and 1110B.

尚、液晶パネル1110R、1110B及び1110Gには、ダイクロイックミラー1108によって、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。   In addition, since light corresponding to each primary color of R, G, and B is incident on the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G by the dichroic mirror 1108, it is not necessary to provide a color filter.

尚、図11を参照して説明した電子機器の他にも、モバイル型のパーソナルコンピュータや、携帯電話、液晶テレビ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた装置等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。   In addition to the electronic device described with reference to FIG. 11, a mobile personal computer, a mobile phone, a liquid crystal television, a viewfinder type, a monitor direct view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, and an electronic notebook , Calculators, word processors, workstations, videophones, POS terminals, devices with touch panels, and the like. Needless to say, the present invention can be applied to these various electronic devices.

また本発明は、上述の実施形態で説明した液晶装置以外にも、シリコン基板上に素子を形成する反射型液晶装置(LCOS)、プラズマディスプレイ(PDP)、電界放出型ディスプレイ(FED、SED)、有機ELディスプレイ、デジタルマイクロミラーデバイス(DMD)、電気泳動装置等にも適用可能である。   In addition to the liquid crystal device described in the above embodiment, the present invention also includes a reflective liquid crystal device (LCOS) in which elements are formed on a silicon substrate, a plasma display (PDP), a field emission display (FED, SED), The present invention can also be applied to an organic EL display, a digital micromirror device (DMD), an electrophoresis apparatus, and the like.

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う電気光学装置用基板、該電気光学装置用基板を備えた電気光学装置、及び該電気光学装置を備えてなる電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately changed without departing from the gist or concept of the invention that can be read from the claims and the entire specification. For electro-optical devices with such changes A substrate, an electro-optical device including the substrate for the electro-optical device, and an electronic apparatus including the electro-optical device are also included in the technical scope of the present invention.

第1実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the liquid crystal device which concerns on 1st Embodiment. 図1のH−H´線断面図である。It is the HH 'sectional view taken on the line of FIG. 第1実施形態に係る液晶装置の複数の画素部の等価回路図である。3 is an equivalent circuit diagram of a plurality of pixel units of the liquid crystal device according to the first embodiment. FIG. 第1実施形態に係る液晶装置の複数の画素部の平面図である。2 is a plan view of a plurality of pixel units of the liquid crystal device according to the first embodiment. FIG. 図4のA−A´線断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line AA ′ in FIG. 4. 第1実施形態に係る液晶装置の遮光部の一部としての蓄積容量の平面形状を示す平面図である。It is a top view which shows the planar shape of the storage capacitor as a part of light-shielding part of the liquid crystal device which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る液晶装置の遮光部の平面レイアウトを示す平面図である。It is a top view which shows the plane layout of the light-shielding part of the liquid crystal device which concerns on 1st Embodiment. 画素ピッチ、遮光部の第1部分の本線部の幅、遮光部の第2部分の幅並びに延在部の長さ及び幅の組み合わせと開口率との関係を示す図(その1)である。FIG. 11 is a diagram (part 1) illustrating a relationship between a pixel pitch, a width of a main line portion of a first portion of a light shielding portion, a width of a second portion of the light shielding portion, a length and a width of an extending portion, and an aperture ratio. 画素ピッチ、遮光部の第1部分の本線部の幅、遮光部の第2部分の幅並びに延在部の長さ及び幅の組み合わせと透過率との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between a pixel pitch, the width | variety of the main part of the 1st part of a light shielding part, the width | variety of the 2nd part of a light shielding part, and the length and width | variety of an extending part, and the transmittance | permeability. 画素ピッチ、遮光部の第1部分の本線部の幅、遮光部の第2部分の幅並びに延在部の長さ及び幅の組み合わせと開口率との関係を示す図(その2)である。FIG. 6 is a diagram (part 2) illustrating a relationship between a pixel pitch, a width of a main line portion of a first portion of a light shielding portion, a width of a second portion of the light shielding portion, a length and a width of an extending portion, and an aperture ratio. 電気光学装置を適用した電子機器の一例たるプロジェクタの構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the projector which is an example of the electronic device to which the electro-optical apparatus is applied.

符号の説明Explanation of symbols

1a…半導体層、1a´…チャネル領域、1b…データ線側LDD領域、1c…画素電極側LDD領域、1d…データ線側ソースドレイン領域、1e…画素電極側ソースドレイン領域、3a…走査線、6a…データ線、9a…画素電極、9aa…開口領域、10…TFTアレイ基板、10a…画像表示領域、20…対向基板、21…対向電極、23…遮光膜、30…TFT、50…液晶層、70a…蓄積容量、71m…下部容量電極、81a、83a…コンタクトホール、101…データ線駆動回路、102…外部回路接続端子、104…走査線駆動回路、106…上下導通端子、300…上部容量電極、510…第1部分、511…本線部、512、512a、512b…延在部、520…第2部分、D1…画素ピッチ、W1a…本線部の幅、W2…第2部分の幅、W3、W3a、W3b…延在部の幅、La、Lb、L…延在部の長さ   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1a ... Semiconductor layer, 1a '... Channel region, 1b ... Data line side LDD region, 1c ... Pixel electrode side LDD region, 1d ... Data line side source / drain region, 1e ... Pixel electrode side source / drain region, 3a ... Scan line, 6a ... Data line, 9a ... Pixel electrode, 9aa ... Opening area, 10 ... TFT array substrate, 10a ... Image display area, 20 ... Counter substrate, 21 ... Counter electrode, 23 ... Light-shielding film, 30 ... TFT, 50 ... Liquid crystal layer 70a, storage capacitor, 71m, lower capacitor electrode, 81a, 83a, contact hole, 101, data line driving circuit, 102, external circuit connection terminal, 104, scanning line driving circuit, 106, vertical conduction terminal, 300, upper capacitance Electrode 510 ... first part 511 ... main line part 512 512a 512b ... extension part 520 ... second part D1 ... pixel pitch W1a ... main line part , W2 ... second portion of the width, W3, W3a, W3b ... extending portion of the width, La, Lb, of L ... extending portion length

Claims (8)

基板と、
データ線と、
定画素ピッチでマトリクス状に配列された複数の画素電極と、
記データ線に電気的に接続されたデータ線側ソースドレイン領域と、前記画素電極に電気的に接続された画素電極側ソースドレイン領域と、前記データ線側ソースドレイン領域及び前記画素電極側ソースドレイン領域間に形成されたチャネル領域と、前記チャネル領域及び前記データ線側ソースドレイン領域間に形成された第1の接合領域と、前記チャネル領域及び前記画素電極側ソースドレイン領域間に形成された第2の接合領域とを有し、第1の方向に延在する半導体層と、
前記画素電極及び前記半導体層間の層において、前記チャネル領域と重なるように前記第1の方向に交わる第2の方向に沿って延在する第1部分と、前記第1の接合領域と重なるように前記第1部分から前記第1の接合領域の方向に突出する第2部分と、前記第2の接合領域と重なるように前記第1部分から前記第2の接合領域の方向に突出する第3部分とを有する第1遮光膜と
を備え、
前記所定画素ピッチは、3.0um以上且つ12.0um以下であり、
記第2部分の幅は、0.5um以上且つ1.5um以下であり、
前記第3部分の幅は、前記第2部分の幅より広い
ことを特徴とする電気光学装置用基板。
A substrate,
Data lines,
A plurality of pixel electrodes arranged in a matrix in Jo Tokoro pixel pitch,
And electrically connected to the data line side source drain regions before Symbol data lines, electrically connected to the pixel electrode side source drain regions in the pixel electrode, the data line side source drain region and the pixel electrode side source A channel region formed between the drain regions; a first junction region formed between the channel region and the data line side source / drain region; and a channel region formed between the channel region and the pixel electrode side source / drain region. a semiconductor layer have a second junction region, extending in a first direction,
In the layer between the pixel electrode and the semiconductor layer, a first portion extending along a second direction intersecting with the first direction so as to overlap with the channel region and a first junction region overlapping with each other. A second portion protruding from the first portion in the direction of the first bonding region, and a third portion protruding from the first portion in the direction of the second bonding region so as to overlap the second bonding region. A first light-shielding film having
The predetermined pixel pitch is 3.0 μm or more and 12.0 μm or less,
Width before Symbol second part is a and 1.5um or less than 0.5um,
The substrate for an electro-optical device , wherein the width of the third portion is wider than the width of the second portion .
前記所定画素ピッチは、8.5um以上であることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置用基板。 Wherein the predetermined pixel pitch, an electro-optical device substrate according to claim 1, characterized in that at least 8.5Um. 前記第2の接合領域は、LDD領域であることを特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置用基板。   The electro-optical device substrate according to claim 1, wherein the second bonding region is an LDD region. 前記第1遮光膜は、一対の容量電極及び該一対の容量電極間に挟持された誘電体膜を有する容量素子を含み、
前記容量素子は、前記データ線を介して前記画素電極に画像信号が供給された際に、前記画素電極の電位を保持する
ことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電気光学装置用基板。
The first light shielding film includes a capacitive element having a pair of capacitive electrodes and a dielectric film sandwiched between the pair of capacitive electrodes,
The said capacitive element hold | maintains the electric potential of the said pixel electrode, when an image signal is supplied to the said pixel electrode via the said data line. Electro-optic device substrate.
前記一対の容量電極の少なくとも一方は、導電性遮光膜を含んでなることを特徴とする請求項4に記載の電気光学装置用基板。   The electro-optical device substrate according to claim 4, wherein at least one of the pair of capacitive electrodes includes a conductive light-shielding film. 前記第1遮光膜及び前記画素電極間の層において、前記チャネル領域と重なるように前記第2の方向に沿って延在する第4部分と、前記第1の接合領域と重なるように前記第4部分から前記第1の接合領域の方向へ突出する第5部分と、前記第2の接合領域と重なるように前記第2部分から前記第2の接合領域の方向へ突出する第6部分とを有し、前記第6部分の幅は前記第5部分の幅より広い第2遮光膜を備えることを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の電気光学装置用基板。In the layer between the first light shielding film and the pixel electrode, a fourth portion extending along the second direction so as to overlap the channel region and the fourth portion overlapping with the first junction region. A fifth portion protruding from the portion toward the first bonding region, and a sixth portion protruding from the second portion toward the second bonding region so as to overlap the second bonding region. 6. The electro-optical device substrate according to claim 1, wherein the sixth portion includes a second light-shielding film having a width wider than that of the fifth portion. 請求項1からのいずれか一項に記載の電気光学装置用基板を備えたことを特徴とする電気光学装置。 Electro-optical apparatus comprising the electro-optical device substrate according to any one of claims 1 to 6. 請求項に記載の電気光学装置を具備してなる電子機器。 An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 7 .
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