JP4961810B2 - カメラ - Google Patents

Description

本発明は、カメラに関する。

連続撮影時などのように測光時間が短くても適正露出が得られるカメラが、特許文献１に開示されている。そのカメラにおいては、ミラーダウンにより測光を再開した後に、短時間の内に次のミラーアップにより測光が禁止となってしまうような場合において、測光用パラメータを切り換えて測光を行う。すなわち、ミラーアップにより蓄積が中断した場合は、次回の蓄積時間を短く、かつゲインを大きくすることで、次回の測光の成功率を高めるようにしている。

特開平９−２５７５７４号公報

しかし、被写体輝度が低く蓄積時間が長い場合や、高速連写により連写中の露光間の蓄積可能時間が短い場合においては十分な蓄積が行えず、測光データが無効となり、結果的に測光値が更新されなくなってしまう。

また、近年のカメラにおいては、さらなる高速連写が求められている。そして、実際の高速連写の撮影状況においては、適正露出で撮影されないと意味のない写真となってしまう場合も多く、露出が連写速度よりも重要となってくる場合も多い。一方で、室内競技等や、光源に変化がない場合や、撮影後に連続的に写真を鑑賞したい場合などにおいては、最初の撮影コマから露出制御値が固定されていた方が落ち着いた結果が得られる場合もある。このように、連写速度と測光の安定度の重要性に関しては、そのシチュエーション等によって異なるため、十分に対応しきれないという問題があった。

請求項１に記載のカメラは、測光素子を用いて被写界の測光を行う測光手段と、前記測光手段による測光を許可する測光許可状態と、前記測光手段による測光を禁止する測光禁止状態とを切り替える測光制御手段と、第１測光優先度と、前記第１測光優先度より測光優先度が高い第２測光優先度と、前記第２測光優先度より測光優先度が高い第３測光優先度とからいずれかの測光優先度を選択する選択手段と、前記選択手段により前記第１測光優先度が選択されているとき、連写速度に応じて決まる第１測光可能時間を前記測光許可状態における測光可能時間として設定し、前記選択手段により前記第２測光優先度が選択されているとき、前記第１測光可能時間より長い第２測光可能時間を前記測光可能時間として設定し、前記選択手段により前記第３測光優先度が選択されているとき、前記第２測光可能時間より長い第３測光可能時間を前記測光可能時間として設定する設定手段とを備えることを特徴とする。
請求項２に記載のカメラは、請求項１に記載のカメラにおいて、前記測光手段による測光結果に基づいて次回測光時の測光時間である次回測光時間を算出する算出手段と、前記次回測光時間が前記第１測光可能時間以下であるか否かを判定する判定手段とを更に備え、前記次回測光時間が前記第１測光可能時間以下であると前記判定手段により判定された場合、前記設定手段は、前記選択手段により選択されている測光優先度にかかわらず、前記第１測光可能時間を前記測光可能時間として設定し、前記次回測光時間が前記第１測光可能時間より長いと判定された場合、前記設定手段は、前記選択手段により前記第１測光優先度が選択されているときは前記第１測光可能時間を前記測光可能時間として設定し、前記選択手段により前記第２測光優先度が選択されているときは前記第２測光可能時間を前記測光可能時間として設定し、前記選択手段により前記第３測光優先度が選択されているときは前記第３測光可能時間を前記測光可能時間として設定することを特徴とする。
請求項３に記載のカメラは、請求項２に記載のカメラにおいて、前記選択手段により前記第２測光優先度が選択されているとき、前記設定手段は、前記次回測光時間にマージンを加算した時間を前記測光可能時間として設定することを特徴とする。
請求項４に記載のカメラは、請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のカメラにおいて、前記測光手段による測光結果に基づいて適正露出値を演算する演算手段と、前記演算手段が前記適正露出値を演算するにあたり前記測光手段による測光結果が有効であるか否かを判定する有効性判定手段とを更に備え、前記選択手段により前記第３測光優先度が選択されているとき、前記測光制御手段は、前記測光手段による測光結果が前記有効性判定手段により有効であると判定されるまで前記測光禁止状態に切り替えないことを特徴とする。
請求項５に記載のカメラは、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載のカメラにおいて、前記測光手段による測光が終了したとき、前記測光制御手段は、前記測光可能時間が経過していなくても前記測光禁止状態に切り替えることを特徴とする。
請求項６に記載のカメラは、請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のカメラにおいて、前記測光素子は、蓄積型の測光素子で構成され、前記測光可能時間は、前記測光素子における蓄積時間であることを特徴とする。
請求項７に記載のカメラは、請求項１から請求項６のいずれか一項に記載のカメラにおいて、クイックリターンミラーを更に備え、前記測光制御手段は、前記クイックリターンミラーのミラーアップ動作開始に応じて前記測光禁止状態に切り替え、前記クリックリターンミラーのミラーダウン動作完了に応じて前記測光許可状態に切り替えることを特徴とする。

本発明によれば、撮影状況に応じて測光優先度を変更することができる。

以下、図を参照して本発明を実施するための最良の形態について説明する。図１は本発明によるカメラの一実施の形態を示す図であり、一眼レフデジタルスチルカメラの光学系の概略構成を示す図である。撮影レンズ１を通過した被写体光束は、クイックリターンミラー２で上方に反射され、拡散スクリーン３，コンデンサレンズ４，ペンタプリズム５を介して接眼レンズ６にて観察される。拡散スクリーン３によって拡散された光束の一部は、コンデンサレンズ４，ペンタプリズム５，測光用プリズム７及び測光用レンズ８を介して測光素子９に導かれる。

測光素子９は、例えば、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）などの蓄積型の測光センサで構成される。センサ画素が２次元的に配列され、それら複数の画素により、被写界を分割測光する。そして、測光素子９の測光出力に基づいて最適露出を与えるための露出値が演算される。

不図示のレリーズボタンが全押し操作（レリーズ操作）されると、ミラー２が跳ね上げられて撮影光路から退避し、上記演算された露出値に基づいて絞り３０およびシャッタ３１が駆動される。シャッタ３１の開放により被写体光束が撮像素子３２に導かれ、画像データが生成される。その後、シャッタ３１が閉じるとともに、絞り３０およびミラー２が初期状態に戻る。

４１は、選択されたフォーカスエリアを点灯表示するためのスーパーインポーズ用ＬＥＤであり、スーパーインポーズ用ＬＥＤ４１により発生された光は、スーパーインポーズ用プリズム４２を介して拡散スクリーン３に照射される。その結果、フォーカスエリアを示す表示が、被写体像に重畳されて観察される。なお、レリーズ操作時のミラー２の跳ね上げにより、撮影レンズ１を通過した光束の測光素子９までの光路が遮断される。また、、スーパーインポーズ点灯が行われると、スーパーインポーズ用ＬＥＤ４１からの光束の一部が測光素子９に到達し、点灯時には被写体輝度の正確な測定ができない。

図２は、図１に示したカメラの測光系の構成を示すブロック図である。上述した測光素子９は、測光回路１０に組み込まれているものとする。測光回路１０は、蓄積制御部１５からの制御信号に基づいて蓄積の開始／終了を行う。この蓄積動作により得られた測光出力はＡ／Ｄ変換部１１に入力される。なお、測光回路１０に設けられた出力アンプは、高出力が得られるゲインＨと、低出力であるがノイズが小さいゲインＬに切替可能となっている。

Ａ／Ｄ変換部１１は、測光回路１０から入力された測光出力信号をデジタル化された測光データへと変換し、そのデータを有効性判定部１２へと出力する。有効性判定部１２は、得られた測光データが適正数値の範囲内に収まっているか否かを判定し、収まっている場合には測光データを有効なデータと見なし、その測光データを露出演算部１７へと送る。一方、測光データが適正数値の範囲内に収まっていない場合には、その測光データは無効と判断し、基本的には測光をやり直す。露出演算部１７は、測光データに基づいて適正露出値を演算する。なお、有効性判定の方法について後述する。

蓄積時間設定部１３では、Ａ／Ｄ変換部１１の測光データを用いて次回測光時における蓄積時間を算出する。ゲイン決定部１４は、蓄積時間設定部１３の出力に基づいて、次回測光時における測光回路１０のゲイン（アンプゲイン）を決定する。なお、蓄積時間算出方法およびゲイン決定方法については後述する。

蓄積制御部１５はタイマを備えており、蓄積時間設定部１３で求められた蓄積時間を管理し、測光回路１０を制御する。測光禁止信号発生部１６は、情報管理部２２の指示により、レリーズ操作によるミラーアップやフォーカスエリア選択時等のスーパーインポーズ点灯に連動して測光禁止信号を発生する。また、ミラーダウン完了後およびスーパーインポーズ消灯後には、測光禁止信号を解除する。

なお、蓄積制御部１５に、測光禁止信号発生部１６から測光禁止信号が入力されると、測光回路１０が蓄積中であった場合には、蓄積時間の長さに応じて蓄積を中断し、蓄積開始から中断までの時間およびデータの読み込みを行う。また、ゲイン決定部１４は、蓄積中に測光禁止信号が入力されて蓄積が途中で中断されたと判定した場合には、その後の１回目の測光時のみゲイン切替のパラメータの変更を行う。

露出制御部１８は、レリーズ信号によってレリーズ操作を検知すると、ミラー２を跳ね上げ、露出演算部１７による適正露出値に基づいて絞り１９およびシャッター２０を適正値に制御する。フォーカスエリアセレクタ２１は、被写体の焦点をどこのエリアに合焦すべきかを選択するスイッチである。

情報管理部２２は、測光優先度選択部２４による測光優先度の設定を読み込み、その設定に応じた測光禁止信号発生の時間を管理する。また、フォーカスエリアセレクタ２１によるフォーカスエリアが切り替わる際に、フォーカスエリアに合わせてスーパーインポーズＬＥＤ２５の点灯制御を行う。さらに、露出制御部１８による露光時やスーパーインポーズ点灯の際には、測光禁止となる要因に合わせた時間を設けて、測光禁止信号要請を測光禁止信号発生部１６に対して行う。さらにまた、レリーズボタンや測光モードダイヤルなどの、カメラに搭載された様々なスイッチのとりまとめも行っている。

測光優先度選択部２４は、連写時に制限されてしまう測光に対し、どの程度連写速度を犠牲にして測光を優先させるかの度合いの選択を行うための入力部である。測光優先度合いの詳細については後述する。なお、Ａ／Ｄ変換部１１，有効性判定部１２、蓄積時間設定部１３，ゲイン決定部１４、蓄積制御部１５、測光禁止信号発生部１６、露出演算部１７、情報管理部２２は、全て１チップマイクロコンピュータ（マイコン）２３によって実現されている。

以上のように構成されたカメラにおいて、不図示のレリーズボタンが半押し操作されると、測光素子９の蓄積動作と、蓄積によって得られた測光データに基づく露出値演算とが繰り返し行われる。蓄積のたびに次回の蓄積における蓄積時間と上記アンプのゲインとが求められ、次回蓄積にあたってそれらの値が用いられる。蓄積時間は、基本的に被写界が明るいほど短くなる。

上記半押し操作に引き続いて全押し操作（レリーズ操作）がなされると、ミラー２がアップされて光路から待避するため、測光素子９に光が導かれなくなり、測光不能となる。すなわちミラーアップ動作は、測光に悪影響を与える動作といえる。そこで測光禁止信号発生部１６は、レリーズ操作に伴って測光禁止信号を発生する。この測光禁止信号によって蓄積が中断された場合、蓄積制御部１５は、その回の実際の蓄積時間に基づいて次回の蓄積時間を設定する。またゲイン決定部１４は、蓄積が中断されたと判断すると、その後の１回目の測光時のみゲイン切換のパラメータの変更を行う。具体的な蓄積時間およびゲインの決め方は後述するが、これらの変更により次回の測光の成功率（中断せずに済む可能性）を高めることができる。

加えて本実施形態では、測光優先度選択部２４を設けることにより、高速連写時の撮影状況に応じて、撮影者が自由に「測光追従の重要度」と「連写速度の重要度」の割合をマニュアルで選択できるようにした。そのため、高速連写時においても、撮影者がシチュエーション等に応じて、自由に「測光追従の重要度」と「連写速度の重要度」の割合を選択でき、必要に応じたより正確な露出値で露光された撮影結果や、より高速かつ安定した連写結果を得ることが可能となる。

例えば、カメラに設けられた表示部（不図示）に、図３に示すような連写時の測光優先度を設定するメニューを表示させ、測光優先度選択部２４を操作して設定変更を行う。以下に説明する実施形態では、図３に示すように、連写時測光優先度として、「ＡＥロック」、「弱（初期値）」、「中」および「測光優先」の４段階が設けられている場合を例に説明する。

「ＡＥロック」では、連写実行直前の測光値が連写中保持され、測光値は固定される。この場合、連写速度は最速に固定され、露出の制御値（シャッター速度と絞り値との関係）は一定に保たれる。もちろん、測光動作を行っても良いが、そのデータは露光には採用されない。

「弱（初期値）」では、測光可能時間は初期設定のまま変更せずに連写速度を最速に保ちつつ、最速の場合の限られた測光可能時間の中で測光を行う。ただし、その測光可能時間の間に蓄積が終了したならば直ちに次の動作に入る。この設定の場合、被写体輝度が低く、測光素子９の蓄積時間が長くなる場合には、測光可能時間内に蓄積が終了せずに測光データに誤差が生じ、輝度変化に対する測光値の追従が遅くなったり、途中で測光値がロックされたりする可能性が高くなる。

「中」では、連写時の測光可能時間を初期設定よりも多少長く設定する。この場合、被写体輝度が低い時には測光可能時間いっぱいまで蓄積動作が行われ、連写速度が多少遅くなる。ただし、上述した「弱」設定に比べて被写体輝度変化に対する追従性が良くなり、途中でロックされる可能性も低くなる。

「測光優先」では、測光素子９による蓄積が中断無く行われ、さらに、測光データが有効と判定されるまで蓄積が行われる。そのため、常に適正な露出制御で露光が可能となるが、連写速度は蓄積時間に左右される。例えば、被写体輝度が低い場合や、輝度が急激に変化して測光データが無効となってしまう場合においては、連写速度が遅くなる方にばらつきやすくなる。

《連写時測光に関するタイムチャートの説明》
図４、５は、連写時の測光に関するタイムチャートを示したものである。図４は、測光素子９による蓄積がミラーアップ動作により制限される場合、すなわち蓄積が中断される場合のタイムチャートで、上述した連写時測光優先度の「ＡＥロック」または「弱」が選択された場合には、一般的にこのようなタイムチャートとなる。一方、図５は、蓄積が中断されない場合のタイムチャートであり、連写時測光優先度として「中」または「測光優先」が選択された場合にはこのような状態となる。

（蓄積中断が有る場合）
図４に示すように、カメラの露光動作の無い通常時（図４の時刻(a)から時刻(b)まで）においては、蓄積時間Tintで測光素子９の蓄積動作が実行される。なお、蓄積時間Tintの算出方法については後述する。蓄積制御部１５に設けられたタイマは、測光素子９の蓄積開始と同時に蓄積経過時間の測定を開始する。

時刻(c)においてカメラのレリーズボタンが全押しされると、撮影制御が開始され、時刻(d)においてミラーアップ動作が開始される。このミラーアップ動作により測光素子９は被写体光束が遮断されるので、ミラーアップ開始に同期して測光禁止信号発生部１６から測光禁止信号が発せられる。その結果、測光が禁止される。ミラーアップ後の撮影が終了すると、時刻(e)においてミラーダウン動作が開始される。

そして、時刻(f)にミラーダウン動作が完了すると、測光禁止信号発生部１６により測光禁止信号が解除され、測光が再開される。このとき、蓄積が中断されてしまう場合に備えて、蓄積経過時間の計測を開始する。連写が実行されているので、連写速度に応じた測光可能時間（Tintena）が経過する時刻(g)において、撮影のための再度ミラーアップ動作が開始されて測光禁止状態となる。

時刻(f)のミラーダウン完了から時刻(g)のミラーアップ開始までの時間が、連写時の測光可能時間Tintenaであり、設定が「ＡＥロック」、「弱」の場合には、この測光可能時間Tintenaは最短時間である測光可能基準時間Tintbaseに固定されることになる。図４に示す例では、通常時の蓄積時間Tintは測光可能時間Tintenaよりも長くなっている。また、より高速な連写が求められた場合には、測光可能時間Tintenaをより短く設定する必要がある。

そのため、連写時も被写体輝度は変化せず一定であるとした場合、測光可能時間Tintenaが経過した時点（時刻(g)）で測光素子９による蓄積が中断され、必ずしも適正な露出値が決まるとは限らない。中断が発生した場合の蓄積経過時間をTintbrkとする。もちろん、被写体輝度が高くて測光可能時間Tintena内に蓄積が終了すれば、測光優先度が「ＡＥロック」または「弱」であっても蓄積中断は起こらない。

（蓄積中断が無い場合）
図５は蓄積中断が無い場合のタイムチャートであるが、この場合も被写体輝度に関しては図４の場合と同様であるとして図示しているので、通常の動作（時刻(a)〜(d)の動作）は図４の場合と同じになる。図５は「中」の場合を例に示したものであり、測光可能時間Tintenaは図４の場合（測光可能基準時間Tintbase）よりも長く設定されていて、（測光可能時間Tintena）＞（通常時の蓄積時間Tint）のようになっている。そのため、図５ではミラーアップ開始時刻を(g')のように表記する。その他の時刻(a)〜(f)に関しては、図４の場合と同様である。

この場合も被写体輝度が変化しないとすると、図５の連写時の蓄積時間も通常時の蓄積時間Tintと同じになり、測光可能時間Tintenaが経過する前に測光素子９の蓄積が終了することになる。そのため、蓄積中断が発生しない。このように、「中」または「測光優先」に設定した場合には、測光可能時間Tintenaがより長く設定されるため蓄積中断無しに測光が行われる可能性が高くなる。ただし、測光可能時間Tintenaは後述するように実際の蓄積時間に基づいて算出されるため連写の間隔が長くなってしまい、その結果、連写速度は遅くなる。

図５に示す例では、測光可能時間Tintenaが経過するまでミラーアップを開始しないようにしたが、蓄積完了後すぐにミラーアップを開始するようにしても良い。なお、被写体輝度が非常に低くて蓄積時間が測光可能時間Tintenaを超えてしまうような場合には、測光可能時間Tintenaが経過した時点で測光素子９の蓄積が中断されるため、測光優先度が「中」であっても蓄積中断が発生することになる。

なお、「測光優先」が選択されている場合には、測光可能時間Tintenaを極端に長い時間に設定しておき、実際には、測光素子９により蓄積を行って、測光データが有効と判定された時点で、有効データが得られたことを伝達して、測光可能時間Tintenaが経過した場合と同様な動作に移行させる。

《フローチャートの説明》
次に、カメラの動作をフローチャートを参照して説明する。
［メインフロー］
図６はカメラのマイコン２３で処理されるプログラムのメインフローチャートを示す図である。カメラのレリーズボタンが半押し操作されることにより本プログラムが実行される。

まず、ステップＳ１０１において、蓄積途中中断フラグＩＣＵＴを０に初期化する。次にステップＳ１０２において、測光間隔であるか否かを測光開始要求フラグにより判断する。測光間隔に達していない場合には測光動作を行わずにステップＳ１１０に進み、測光間隔に達している場合には測光を行うべくステップＳ１０３に進む。なお、測光開始要求フラグは、測光間隔毎に発生するタイマ割り込みにより実行される割込処理（後述する）おいてセットされる。この割込処理は、測光禁止信号の発生に同期して優先的に処理される。

ステップＳ１０３では、後のステップＳ１０６によって求められた蓄積時間およびゲインに基づいて測光素子９の蓄積を行い被写界の測光を行う。すなわち、測光素子９による蓄積を開始するとともに、蓄積経過時間の計測を開始する。なお、電源立ち上げ後の初回測光では、ステップＳ１０６を一度も通過していないため蓄積時間及びゲインが不定の状態であるが、電源立ち上げ時に初期値として、例えば蓄積時間＝１msec、ゲイン＝Ｌを設定する。ステップＳ１０３の蓄積処理が終了したならばステップＳ１０４に進んで測光開始要求フラグをクリアし、その後、ステップＳ１０５において測光出力のＡ／Ｄ変換を行って測光データを数値化する。

ステップＳ１０６では、ステップＳ１０５で数値化された測光データを基づいて、次回測光時の蓄積時間とゲインを算出する。ステップＳ１０７では得られた測光データが適正数値の範囲内であるかを判定し、測光データが有効であるか無効であるかの判定（有効性判定）を行う。なお、ステップＳ１０６における蓄積時間およびゲインの算出方法、および、ステップＳ１０７における有効性判定の詳細については後述する。

ステップＳ１０８では、ステップＳ１０７の判定結果が有効であったか否かを判定する。そして、ステップＳ１０７の判定結果が有効の場合にはステップＳ１０９へ進み、無効である場合にはステップＳ１１１に進む。

測光データの判定結果が有効であってステップＳ１０８からステップＳ１０９に進んだ場合、蓄積経過時間の計測を終了し、測光処理に対しては、測光可能時間Tintenaが経過したのと同様の処理に移行できるようにする。ただし、この場合、連写速度は蓄積経過時間計測用タイマとは別のタイマで管理されているとする。ステップＳ１０９では、得られた測光データに基づいて、公知の手法により適正露出値の演算を行う。なお、上述した測光優先度選択部２４または不図示のＡＥロック操作ボタン等の操作によりＡＥロックされている場合には、露出演算に用いる測光データを更新せず、既に保持されている測光データを使用して演算を行う。

ステップＳ１１０では、半押し解除後に所定時間経過したかどうかを半押しタイマにより判定し、半押し継続中または所定時間内であった場合にはステップＳ１１１へ進み、タイマ切れであった場合にはプログラムを終了する。ステップＳ１１１では、蓄積途中での中断があったか否かを判定する。そして、中断があった場合にはステップＳ１０４へ進み、中断がなかった場合にはステップＳ１０１へ進む。

［レリーズボタン全押し、または測光可能時間タイムアップによる割込処理］
レリーズボタンが半押し操作されると上述したメインフローが実行され、図４，５の時刻(c)においてレリーズボタンが全押し操作されか、図４の時刻(g)または図５の時刻(g')において測光可能時間Tintenaの計測がタイムアップしたときに、図７に示す割込処理が実行される。まず、ステップＳ２０１では、測光禁止信号発生部１６から測光禁止信号を発生させて測光禁止設定を行う（図４，５の時刻(d)に対応）。

ステップＳ２０２では、露出制御部１８による制御を行って露光動作をする。このときの露出制御は、メインフローのステップＳ１０９で算出された露出値に基づいて行われ、ミラー２、絞り１９およびシャッター２０が適正に制御される。ステップＳ２０３では、図４，５の時刻(f)からの測光に備えて、測光可能時間Tintenaの算出を行う。ステップＳ２０３の具体的な処理は後述するが、この処理により、測光優先度選択部２４により設定された測光優先度に応じて、測光可能時間Tintenaが設定される。

ステップＳ２０４では、測光禁止信号を解除する測光許可設定を行う。この、測光許可設定は、図４，５のタイムチャートでは時刻(f)または(h)に行われることになる。具体的な処理としては、測光禁止信号発生部１６からの測光禁止信号の発生を中止する。ステップＳ２０５では、レリーズボタンの全押し信号がオンかオフか、すなわち連写操作が継続されているか否かを判定する。ここで、レリーズボタンの全押し信号がオフと判定されると（図４，５の時刻(h)に対応する）、図７の割込処理を終了してメインフローに戻る。一方、連写継続中で全押し信号がオンと判定されると（図４，５の時刻(f)に対応する）、ステップＳ２０６へ進んで測光可能時間の計測を開始し、メインフローへと戻る。

（測光可能時間算出処理）
図８は、図７のステップＳ２０３における測光可能時間算出処理の詳細を示すフローチャートである。ここでは、メインフローのステップＳ１０６で算出された次回蓄積時間に基づいて処理が行われる。

ステップＳ３０１では、次回蓄積時間が連写速度によって決まる最短測光可能時間よりも長いか否かを判定する。次回蓄積時間が最短測光可能時間以下の場合、すなわち、蓄積中断が発生しない場合には、設定されている測光優先度に関係なくＮＯと判定されてステップＳ３０３へ進む。ステップＳ３０３では、測光可能時間Tintenaとして、連写速度によって決まる最短測光可能時間（＝連写時測光可能時間基準Tintbase）をセットする。

一方、次回蓄積時間が最短測光可能時間よりも長い場合には、すなわち、次回蓄積が中断される場合には、ステップＳ３０１でＹＥＳと判定されてステップＳ３０２へ進む。ステップＳ３０２では、設定されている測光優先度が「ＡＥロック」または「弱」、「中」、「測光優先」のいずれであるかを判定する。ステップＳ３０２で「ＡＥロック」または「弱」と判定されると、ステップＳ３０３へ進む。すなわち、連写速度を最速に保持しなくてはならない場合には、測光可能時間Tintenaとして最短測光可能時間Tintbaseをセットする。図４に示したタイムチャートは、ステップＳ３０３のように設定した場合を示す。

ステップＳ３０２において測光優先度が「中」と判定されると、すなわち測光優先度設定が「中」でかつ次回蓄積が中断される可能性がある場合には、ステップＳ３０４へ進む。ステップＳ３０４では、測光中断がある程度避けられるように、次回蓄積時間に数msec程度のマージンαを加算した値を測光可能時間Tintenaとしてセットする。ただし、測光優先度「中」は完全測光優先ではないので、測光可能時間Tintenaには上限（例えば、７０msec）を持たせておく。

ステップＳ３０２において測光優先度が「測光優先」と判定されると、すなわち「測光優先」であってかつ次回蓄積が中断される可能性がある場合には、ステップＳ３０５へ進む。ステップＳ３０５では、測光可能時間Tintenaとして設定可能な最大値（例えば、３９０msec）をセットし、事実上、測光データが有効となるまで測光ができるように設定する。

なお、（次回蓄積時間）≦（最短測光可能時間）の場合であっても、前述したように、測光可能時間Tintenaの経過を待たずに、蓄積終了ととともに測光禁止状態にしてミラーアップ・露光動作に移行するような動作を採用した場合には、ステップＳ３０１を省略してもかまわない。

［測光許可割込処理］
図９は、測光禁止信号が解除された時に実行される割込処理を示すフローチャートである。この割込処理は、図４，５のタイムチャートの時刻(f)，(h)に実行されるものであって、図７におけるステップＳ２０４の測光許可設定に応じて実行される。なお、この割込処理は、メインフローチャート実行中においても、測光禁止信号が解除された時に同期して優先的に処理される。

ステップＳ４０１では、測光禁止信号の次回の変化（例えば、図４の時刻(g)における許可から禁止への変化）の時に測光禁止割り込みに入るように、割り込み先を測光禁止にセットする。ステップＳ４０２では、測光禁止信号の解除を受けつけたことを示すために、測光禁止フラグをクリアする。ステップＳ４０３では、測光禁止の解除とともに直ちに蓄積が開始できるように、測光開始要求フラグをセットする。

ステップＳ４０４では、測光間隔計測を再開させるために測光間隔計測用タイマを開始させ、その後、図６のメインフローに戻る。上述したステップＳ４０３で測光開始要求フラグがセットされたため、メインフローに戻ると、ステップＳ１０２でＹＥＳと判定されてステップＳ１０３の蓄積処理が開始される。そして、蓄積が終了すると、ステップＳ１０２において測光開始要求フラグがクリアされる。

［測光禁止割込処理］
ミラーアップ開始時に測光禁止信号が発生すると、すなわち、図４，５の時刻(d)，(g)，(g')になると、図１０に示す割込処理が実行される。なお、メインフローが実行中であっても、測光禁止信号が測光禁止信号発生部１６から発生されると、それに同期して本フローチャートが優先的に処理される。

ステップＳ５０１では、測光禁止信号の次回の変化の時、すなわち、測光禁止信号が解除されて許可状態になる時に測光許可割り込みに入るように、割り込み先を測光許可にセットする。ステップＳ５０２では、測光禁止信号の結果を受け付けたことを示す測光禁止フラグをセットする。ステップＳ５０３では、測光間隔を計測するタイマを停止する。なお、測光間隔計測を停止させる理由は、測光禁止信号の発生により測光間隔が保てなくなること、さらには、測光禁止信号が解除された時に、直ちに測光が開始できるようにするためである。

ステップＳ５０４では、測光素子９が蓄積中であるか否かを判定し、蓄積中と判定されるとステップＳ５０５へ進み、蓄積中でないと判定されると図１０の割込処理を終了して図６のメインフローへ戻る。すなわち、図４，５の時刻(g)，(g')に割込処理が実行された場合にはステップＳ５０５へ進み、時刻(d)に割込処理が実行された場合にはメインフローへ戻る。

ステップＳ５０５では、計測されている蓄積時間が「長」か「短」かを判定する。ここで、「短」とは、蓄積時間が次のような条件を満たす場合である。すなわち、蓄積を中断しなくても実際にミラー２等が動き出すまでに蓄積が確実に終了する場合（例えば、１msec以下）である。一方、「長」とは、「短」の場合とは反対に蓄積が確実に終了しない場合（例えば、１msecより大）である。

ステップＳ５０５で「短」と判定されると、図１０の割込処理を終了してメインフローへと戻る。すなわち、蓄積時間が「短」である場合には蓄積をそのまま続行し、通常に蓄積終了となるまで測光を継続させる。

一方、ステップＳ５０５で「長」と判定されると、すなわち蓄積時間が長い場合には、ステップＳ５０６に進んで蓄積を停止した後に、ステップＳ５０７において蓄積経過時間計測タイマを停止する。そして、ステップＳ５０８において蓄積経過時間計測タイマのカウンタ値を読み込み、そのカウンタ値をステップＳ５０９において実際の計算で扱う実時間に変換する。ステップＳ５１０では、蓄積時間（次回蓄積時間）をステップＳ５０９で算出された実蓄積時間で置き換える。その後、ステップＳ５１１において蓄積途中中断フラグＩＣＵＴを１にセットし、図６のメインフローに戻る。

［次回蓄積時間およびゲイン算出処理］
次に、図６に示したメインフローのステップＳ１０６における次回蓄積時間およびゲイン算出処理について、図１１のフローチャートを用いて説明する。このサブルーチンが呼び出される前には、電源立ち上げ後少なくとも一回は測光が行われ、その測光データが直前の測光データとしてメモリに記憶されている。まず、ステップＳ６０１ではVomaxを求める。Vomaxは、測光データの内の信号成分が最大である領域の測光データである。なお、後述する有効性判定処理において算出されるVomaxをメモリに格納しておき、それをそのまま用いるようにしても良い。

ステップＳ６０２では、Vomaxが測光素子９の飽和出力電圧値Vovよりも小さいか否か、すなわち、測光データの中にオーバーフローしているものが有るか否かを判定する。なお、有効性判定処理のステップＳ９０２の判定結果であるオーバーフローフラグOVをメモリに格納しておき、それをそのまま用いるようにしても良い。測光データがオーバーフローしていない（Vomax＜Vov）と判定されると、ステップＳ６０３へ進んで通常処理により次回の蓄積時間Tintを算出する。一方、オーバーフローしていた場合（Vomax≧Vov）には、ステップＳ６０４へ進んでオーバーフロー処理により次回の蓄積時間Tintを算出する。ステップＳ６０３およびＳ６０４の具体的処理方法については後述する。

ステップＳ６０５では、蓄積途中中断フラグＩＣＵＴが１か否か、すなわち、測光蓄積中に測光禁止割り込みが入ったか否かを判定する。測光禁止割り込みが入ったときに蓄積中であった場合、図１０のステップＳ５１１において蓄積途中中断フラグＩＣＵＴが１にセットされる。その結果、その場合にはステップＳ６０５でＹＥＳと判定されて、ステップＳ６０７に進む。一方、蓄積途中に中断が入らなかった場合（ＩＣＵＴ＝０）には、ステップＳ６０５でＮＯと判定されてステップＳ６０６へ進む。

ステップＳ６０６では、測光回路１０のゲイン切換用パラメータintＬmaxおよびintＨminを次式（１），（２）のように設定する。後述するように、ゲイン切換用パラメータintＬmaxおよびintＨminはステップＳ９０３またはＳ９０４で算出された次回蓄積時間Tintと比較され、その比較結果に基づいて次回測光における測光回路１０のゲインが高ゲイン（Ｈ）または低ゲイン（Ｌ）のいずれかに切り換えられる。Intx0およびintn0の典型的な値としては、intx0＝８０msecおよびintn0＝１０msecのような値が用いられる。
intＬmax＝intx0 …（１）
intＨmin＝intn0 …（２）

蓄積途中中断があってステップＳ６０７に進んだ場合には、ゲイン切換用パラメータintＬmaxおよびintＨminを次式（３），（４）のように設定する。intx1およびintn1の典型的な値としては、intx1＝４０msecおよびintn1＝５msecのような値が用いられる。
intＬmax＝intx1 …（３）
intＨmin＝intn1 …（４）

なお、蓄積途中中断があった場合には、本来と異なる処理が行わなければならないが、上述したように蓄積時間が「短」の場合には蓄積を中断しないため通常と同様の処理で扱える。ステップＳ６０８では、測光回路１０の現在のゲインが高ゲイン（Ｈ）であって、かつ、算出された次回蓄積時間TintがintＬmaxよりも大きいか否かを判定する。ただし、intＬmaxとしては、途中中断があった場合には式（３）が用いられ、途中中断がなかった場合には式（１）が用いられる。

ステップＳ６０８でＹＥＳと判定されると、すなわち、ゲインがＬで次回蓄積時間TintがintＬmaxよりも大きい場合には、ステップＳ６１０へ進んでゲインをＨに切り換え、算出された次回蓄積時間Tintを測光回路１０のゲイン定数ＶＬで割った値で次回蓄積時間Tintを置き換える。ここで、ゲイン定数ＶＬはゲインＨの出力がゲインＬの出力の何倍であるかを示すものであり、例えば、ＶＬ＝４のように設定される。

一方、ステップＳ６０８でＮＯと判定された場合には、ステップＳ６０９へ進んで、現在の測光回路１０のゲイン設定がＨで、かつ、算出された次回蓄積時間TintがintＨminより小であるか否かを判定する。ステップＳ６０９でＹＥＳと判定されると、すなわち、ゲインがＨで次回蓄積時間TintがintＨminより小である場合には、ステップＳ６１２へ進んでゲインをＬに切り換え、算出された次回蓄積時間Tintをゲイン定数ＶＬ倍した値で置き換える。

このように、ゲインＬで算出された次回蓄積時間Tintが長い場合には、ゲインＨへ切り換えて次回蓄積時間Tintを短くすることにより蓄積時間の短縮化を図る。逆に、ゲインＨで算出された次回蓄積時間Tintが短い場合には、ゲインをＬに切り換えて次回蓄積時間Tintを長くすることで、よりＳ／Ｎ特性の良いゲインＬを使用するようにしている。また、ゲイン切換に際してヒステリシスを設けることにより、測光ばらつきや輝度が切換点付近で微妙に変化した場合についても、安定した制御が行われるようになっている。

さらに、測光蓄積中に測光禁止割込が入った場合には、それらの切換点を蓄積時間の短い方にシフトさせることにより、次回蓄積時間に要する時間を通常状態より短くするようにしている（ステップＳ６１０）。これは、測光禁止割込が入った場合には、レリーズ全押しされることにより露光状態に入ったことを示しているので、測光禁止が解除になった後に速やかに次回測光が行えるようにするためである。

特に、高速連写モードであった場合などには、１回目の露光が終わりミラーがダウンして測光禁止が解除されても、その後すぐに２回目の露光が始まり再び測光禁止に入る場合がある。このような状態に備えるために、測光禁止信号解除後の１回目の測光では、測光にかかる時間を通常よりも短くするようにしている。なお、測光禁止信号解除後の２回目からの測光では、１回目の測光が終了して最新の測光データが既に得られているので、再びＳ／Ｎ比の良い通常状態に戻るようにしている。

次に、ステップＳ６０９でＮＯと判定された場合には、ステップＳ６１１へ進んで、算出された次回蓄積時間Tintが、測光回路１０の最小蓄積時間int minよりも短いか否かを判定する。ステップＳ６１１でＹＥＳと判定されると、ステップＳ６１３に進んで次回蓄積時間Tintを最小蓄積時間int minに設定しメインフローに戻る。

一方、ステップＳ６１１でＮＯと判定された場合にはステップＳ６１４へ進み、算出された次回蓄積時間Tintが測光回路１０の最大蓄積時間int maxより大きいか否かを判定する。ステップＳ６１４でＹＥＳと判定されると、ステップＳ６１５へ進んで次回蓄積時間Tintを最大蓄積時間int maxに設定し、ＮＯと判定されるとメインフローに戻る。なお、最小蓄積時間int minおよび最大蓄積時間int maxは、例えば、int min＝１μsec、int max＝１００msecのように設定される。

（通常処理）
図１２は、図１１のステップＳ６０３で実行される通常処理の一例を示すフローチャートであり、前回の蓄積時間Tint’に基づいて次回蓄積時間Tintを算出する。ステップＳ７０１では、測光回路１０のゲインがＨかＬかを判定し、Ｈである場合にはステップＳ７０３へ進み、Ｌである場合にはステップＳ７０２へと進む。ゲインがＬであってステップＳ７０２に進んだ場合には、ステップＳ７０２においてVomax＜VnLか否かを判定する。ここで、VnLは、ゲインＬの場合の測光出力のノイズレベルである。すなわち、全ての領域の測光出力がゲインＬのノイズレベルVnLよりも小さい否かを判定する。

Vomax＜VnLである場合（Ｙｅｓ）、すなわち全ての領域の測光出力がゲインＬのノイズレベルVnLよりも小さいには、ステップＳ７０２からステップＳ７０５に進む。ステップＳ７０５では、次式（５）により次回蓄積時間Tintを算出する。
Tint＝Tint’・VovL／VnL …（５）

なお、VovLはゲインＬでの飽和出力電圧であり、標準的な値は約３．４Ｖである。また、ゲインＬの場合の測光出力のノイズレベルVnLの標準的な値は約４０ｍＶである。この場合、測光出力値がかなり小さいので、次回蓄積時間Tintは、前回の蓄積時間Tint’の８０倍程度大きい値に設定されることになる。

一方、ステップＳ７０２においてVomax≧VnLと判定されてステップＳ７０４へ進んだ場合には、次式（６）により次回蓄積時間Tintを算出する。
Tint＝Tint’・Vagc／Vomax …（６）
ここで、Vagcは次回測光における測光データのVomax（最大信号）の目標レベルであり、測光回路１０の飽和出力電圧VovLよりやや低い値に設定される。標準的な値としては、VovL＝３．４Ｖ、Vagc＝３．０Ｖである。

次いで、ステップＳ７０１でゲインがＨであると判定されてステップＳ７０３に進んだ場合について説明する。ステップＳ７０３では、Vomax（最大信号）がゲインＨの場合の測光出力のノイズレベルVnHよりも小さいか否か、すなわち、全ての領域の測光出力がゲインＨのノイズレベルよりも小さい否かを判定する。ステップＳ７０３でVomax＜VnHと判定されるとステップＳ７０６へ進み、Vomax≧VnHと判定されるとステップＳ７０４へ進む。ステップＳ７０６では、次回蓄積時間Tintを、次式（７）により算出する。
Tint＝Tint’・VovH／VnH …（７）
ここで、VovHはゲインＨでの飽和出力電圧で、標準的な値は約３．４Ｖである。また、VnHの標準的な値は、約１６０ｍＶである。

（オーバーフロー処理）
図１３は、図１１のステップＳ６０４におけるオーバーフロー処理、すなわち、前回の測光出力の最大値Vomaxがオーバーフローした場合の、次回蓄積時間Tintを求めるための処理の一例を示すフローチャートである。ステップＳ８０１では、測光領域の内でオーバーフローしている画素数がいくつあるかをカウントし、その数を変数ovfとして記憶する。ここで、オーバーフローしている画素数とは、ゲインＬの場合には出力がVovL以上である画素の数であって、ゲインＨの場合には出力がVovH以上である画素の数である。

ステップＳ８０２では、変数ovfがｐｘ／１６よりも小さいか否かを判定する。ここで、ｐｘは測光領域の画素数である。ステップＳ８０２でovf＜ｐｘ／１６と判定されると、ステップＳ８０３へ進んで次回蓄積時間Tintを前回蓄積時間Tint’の１／２に設定し、逆にovf≧ｐｘ／１６と判定されるとステップＳ８０４へ進む。ステップＳ８０４では、変数ovfがｐｘ／８よりも小さいか否かを判定する。ステップＳ８０４でovf＜ｐｘ／８と判定されるとステップＳ８０５へ進んで次回蓄積時間Tintを前回蓄積時間Tint’の１／４に設定し、逆にovf≧ｐｘ／８と判定されるとステップＳ８０６へ進む。

ステップＳ８０６では、変数ovfがｐｘ／４よりも小さいか否かを判定する。ステップＳ８０６でovf＜ｐｘ／４と判定されると、ステップＳ８０７へ進んで次回蓄積時間Tintを前回蓄積時間Tint’の１／８に設定する。一方、ステップＳ８０６でovf≧ｐｘ／４と判定されると、ステップＳ８０８へ進んで次回蓄積時間Tintを前回蓄積時間Tint’の１／１６に設定する。このように、前回の測光出力の最大値Vomaxがオーバーフローした場合には、オーバーフローしている画素の数が多いほど次回蓄積時間Tintを短く設定する。

［有効性判定処理］
図１４は、図６に示したステップＳ１０７の有効性判定処理の一例を示すフローチャートである。ステップＳ９０１では、信号成分が最大である領域の測光データVomax、および、信号成分が最小である領域の測光データVominを求める。ステップＳ９０２では、Vomaxが測光素子９の飽和出力電圧値Vovより小さいか否かを判定する。ステップＳ９０２においてVomax＜Vovと判定された場合、全ての測光データが飽和出力以下となっているので、ステップＳ９０３へ進みオーバーフローフラグOVに０を代入する。一方、Vomax≧Vovと判定された場合、少なくとも１領域（１画素）の測光出力がオーバーフローしているので、ステップＳ９０４へ進みオーバーフローフラグOVに１を代入する。

ステップＳ９０５では、得られたVominの値がVnn以上であるか否かを判定する。ここで、Vnnは、測光素子９を含めた測光回路１０のアンダーフロー電圧値であり、測光データがこのVnn以下であるときには、信号成分よりもノイズ成分の方が大きくデータに信頼性がないことを示している。アンダーフロー電圧値Vnnは、ゲインＨおよびゲインＬ毎にカメラ内のメモリに記憶されており、測光を行った際のゲインに応じてそれらの中から適切な値が用いられる。

ステップＳ９０５においてVomin≧Vnnと判定された場合、全ての測光データがアンダーフロー電圧値Vnn以上であるので、ステップＳ９０６へ進んでアンダーフローフラグUNに０を代入する。一方、Vomin＜Vnnと判定された場合には、少なくとも１領域はアンダーフローしているので、ステップＳ９０７へ進んでアンダーフローフラグUNに１を代入する。

次に、ステップＳ９０８において、Vomaxが測光データの有効性を示す値Vok以上であるか否かを判定する。Vomax≧Vokであるときには、被写界内に輝度差があった場合でも、適正露出演算に影響を及ぼす程度の暗部の領域の測光出力が測光データとして十分なＳ／Ｎ比を得ることができる。従って、この場合には測光データが有効であると判定して、ステップＳ９０９へ進み、有効性フラグOKに１を代入する。

一方、Vomax＜Vokであった場合には、全ての測光データがVokより小さいので有効でないと判定し、ステップＳ９１０へ進み有効性フラグOKに０を代入する。なお、VokはゲインＨ、ゲインＬ毎にカメラ内の不図示の不揮発性メモリに記憶されており、測光を行ったゲインに応じてそれらの中から適切な値が用いられる。

ステップＳ９１１では、OV＝０かつUN＝０、つまり測光データがオーバーフローもアンダーフローもしていないか否かを判定する。ステップＳ９１１でＹＥＳと判定されると、全ての測光データが測光可能範囲内に収まっているのでこの測光結果を最終的に有効と見なし、ステップＳ９１６に進んで最終有効フラグMOKに１を代入する。

一方、ステップＳ９１１でＮＯと判定された場合には、ステップＳ９１２へ進んでOV＝０かつOK＝１であるか否かを判定する。ステップＳ９１２でＹＥＳと判定された場合、アンダーフローはしているがオーバーフローはしておらず、かつVomax≧Vokを満足しているので、測光データが適正露出演算に使用可能であることを示している。従って、この場合にもステップＳ９１６へ進みMOK＝１とする。ステップＳ９１２でＮＯと判定された場合には、ステップＳ９１３へ進む。

ステップ９１３では、OV＝０かつint maxであるか否か、つまりオーバーフローはしておらず、かつ蓄積時間Tintが最大値であったかどうかを判定する。ステップ９１３でＹＥＳと判定された場合、Vomax≧Vokは満足していないが、蓄積時間が最大であったのでこれ以上測光出力レベルを上げられなかったことを示している。従って、この場合には可能な限りの出力レベル調整が行われており、これ以上の改善は望めないことからステップＳ９１６へ進んでMOK＝１と設定する。

ステップＳ９１３でＮＯと判定された場合には、ステップＳ９１４に進んでOV＝１かつint minであるか否か、つまりオーバーフローしており、かつ蓄積時間Tintが最小値であったかどうかを判定する。ステップＳ９１４でＹＥＳと判定された場合、Vomax＜Vovは満足していないが、蓄積時間が最小であったのでこれ以上測光出力レベルを下げられなかったことを示している。従って、この場合には可能な限りの出力レベル調整が行われており、これ以上の改善は望めないことからステップＳ９１６においてMOK＝１と設定する。ステップＳ９１４でＮＯと判定された場合には、出力レベル調整が不十分だったと見なしてステップＳ９１５においてMOK＝０として処理を終了する。

上述したように、本実施の形態では以下のような作用効果を奏する。
（ａ）測光優先度選択部２４により選択された測光優先度に基づいて、測光可能時間を設定するようにしたので、撮影者がシチュエーションに応じて「連写速度の重要度」と「測光追従の重要度」とを自由に変更することができる。その結果、連写時においても、必要に応じたより正確な露出値で露光された撮影結果を得たり、より高速かつ安した連写結果を得ることが可能となる。また、クイックリターンミラーの動作に同期して測光禁止指令および測光許可指令を発生するようにしたので、一眼レフカメラにおける連写撮影時においても、同様の効果を奏することができる。
（ｂ）測光結果に基づいて算出される次回測光時間と選択された測光優先度とに基づいて、測光可能時間を設定するようにしたので、被写体輝度変化に対する追従性が向上する。
（ｃ）「測光優先」が選択された場合、測光結果が有効と判定されるまでは測光禁止とされないようにしたので、蓄積中断の無い正確な測光を行うことができる。
（ｄ）測光可能時間が経過していなくても、測光終了とともに測光禁止信号を発生するようにしたので、連写速度の低下を抑えつつ適正露出による撮影が行うことができる。
（ｅ）

上述した実施の形態では、測光が不能となるミラーアップに連動した測光制御について説明したが、スーパーインポーズ用ＬＥＤ４１が点灯された時や、ＡＦ補助光が発光された時などのように測光に影響がでる状況においても、本発明は適用できる。その場合、ＬＥＤ点灯やＡＦ補助光点灯に連動して測光禁止信号が発生される。本実施の形態では、測光禁止を信号として扱ったが、測光の禁止を示すものとしてはマイコン内部のフラグであったり、マイコン外部から入力されるホットラインなどの測光禁止を伝えるものであればかまわない。

また、測光素子としては蓄積型の測光素子を用いたが、蓄積型以外の測光素子を用いた場合にも、同様に適用することができる。さらに、本発明の特徴を損なわない限り、本発明は上記実施の形態に何ら限定されるものではない。

本発明によるカメラの一実施の形態を示す図であり、一眼レフデジタルスチルカメラの光学系の概略構成を示す図である。 測光系の構成を示すブロック図である。 カメラの表示部に表示された測光優先度設定メニューの一例を示す図である。 連写時の動作を示すタイムチャートであり、測光素子９による蓄積が中断される場合を示している。 連写時の動作を示すタイムチャートであり、測光素子９による蓄積が中断され無い場合を示している。 メインフローチャートを示す図である。 レリーズボタン全押しまたは測光可能時間タイムアップによる割込処理のフローチャートである。 測光可能時間算出処理の詳細を示すフローチャートである。 測光禁止信号が解除された時に実行される割込処理を示すフローチャートである。 測光禁止割込処理を示すフローチャートである。 次回蓄積時間およびゲイン算出処理を示すフローチャートである。 図１１のステップＳ６０３における通常処理の詳細を示すフローチャートである。 図１１のステップＳ６０４におけるオーバーフロー処理の詳細を示すフローチャートである。 図６のステップＳ１０７における有効性判定処理の詳細を示すフローチャートである。

符号の説明

２：クイックリターンミラー、１０：測光回路、１１：Ａ／Ｄ変換部、
１２：有効性判定部、１３：蓄積時間設定部、１４：ゲイン決定部、
１５：蓄積制御部、１６：測光禁止信号発生部、１７：露出演算部、
１８：露出制御部、１９：絞り、２０：シャッター、
２１：フォーカスエリアセレクタ、２２：情報管理部、
２３：マイコン、２４：測光優先度選択部、
２５：スーパーインポーズ用ＬＥＤ

Claims (7)

1. 測光素子を用いて被写界の測光を行う測光手段と、
   前記測光手段による測光を許可する測光許可状態と、前記測光手段による測光を禁止する測光禁止状態とを切り替える測光制御手段と、
   第１測光優先度と、前記第１測光優先度より測光優先度が高い第２測光優先度と、前記第２測光優先度より測光優先度が高い第３測光優先度とからいずれかの測光優先度を選択する選択手段と、
   前記選択手段により前記第１測光優先度が選択されているとき、連写速度に応じて決まる第１測光可能時間を前記測光許可状態における測光可能時間として設定し、
   前記選択手段により前記第２測光優先度が選択されているとき、前記第１測光可能時間より長い第２測光可能時間を前記測光可能時間として設定し、
   前記選択手段により前記第３測光優先度が選択されているとき、前記第２測光可能時間より長い第３測光可能時間を前記測光可能時間として設定する設定手段とを備えること
   を特徴とするカメラ。
2. 請求項１に記載のカメラにおいて、
   前記測光手段による測光結果に基づいて次回測光時の測光時間である次回測光時間を算出する算出手段と、
   前記次回測光時間が前記第１測光可能時間以下であるか否かを判定する判定手段とを更に備え、
   前記次回測光時間が前記第１測光可能時間以下であると前記判定手段により判定された場合、前記設定手段は、前記選択手段により選択されている測光優先度にかかわらず、前記第１測光可能時間を前記測光可能時間として設定し、
   前記次回測光時間が前記第１測光可能時間より長いと判定された場合、前記設定手段は、前記選択手段により前記第１測光優先度が選択されているときは前記第１測光可能時間を前記測光可能時間として設定し、前記選択手段により前記第２測光優先度が選択されているときは前記第２測光可能時間を前記測光可能時間として設定し、前記選択手段により前記第３測光優先度が選択されているときは前記第３測光可能時間を前記測光可能時間として設定すること
   を特徴とするカメラ。
3. 請求項２に記載のカメラにおいて、
   前記選択手段により前記第２測光優先度が選択されているとき、前記設定手段は、前記次回測光時間にマージンを加算した時間を前記測光可能時間として設定すること
   を特徴とするカメラ。
4. 請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のカメラにおいて、
   前記測光手段による測光結果に基づいて適正露出値を演算する演算手段と、
   前記演算手段が前記適正露出値を演算するにあたり前記測光手段による測光結果が有効であるか否かを判定する有効性判定手段とを更に備え、
   前記選択手段により前記第３測光優先度が選択されているとき、前記測光制御手段は、前記測光手段による測光結果が前記有効性判定手段により有効であると判定されるまで前記測光禁止状態に切り替えないこと
   を特徴とするカメラ。
5. 請求項１から請求項４のいずれか一項に記載のカメラにおいて、
   前記測光手段による測光が終了したとき、前記測光制御手段は、前記測光可能時間が経過していなくても前記測光禁止状態に切り替えること
   を特徴とするカメラ。
6. 請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のカメラにおいて、
   前記測光素子は、蓄積型の測光素子で構成され、
   前記測光可能時間は、前記測光素子における蓄積時間であること
   を特徴とするカメラ。
7. 請求項１から請求項６のいずれか一項に記載のカメラにおいて、
   クイックリターンミラーを更に備え、
   前記測光制御手段は、前記クイックリターンミラーのミラーアップ動作開始に応じて前記測光禁止状態に切り替え、前記クリックリターンミラーのミラーダウン動作完了に応じて前記測光許可状態に切り替えること
   を特徴とするカメラ。
   

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