JP4943463B2 - 投影システムの焦点面に対して基板の少なくとも1つのターゲット部分を配置する方法およびデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
− 放射ビームB(例えばUV放射又はEUV放射)を調節するように構成され、構築された照明システム(イルミネータ)ILと、
− パターニングデバイス(例えばマスク)MAを支持するように構築され、特定のパラメータに従ってパターニングデバイスを正確に位置決めするように構成された第一位置決め装置PMに接続された支持構造(例えばマスクテーブル)MTと、
− 基板(例えばレジストコートウェーハ)Wを保持するように構築され、特定のパラメータに従って基板を正確に位置決めするように構成された第二位置決め装置PWに接続された基板テーブル(例えばウェーハテーブル)WTと、
− パターニングデバイスMAによって放射ビームBに与えられたパターンを基板Wのターゲット部分C(例えば1つ又は複数のダイを含む)に投影するように構成された投影システム(例えば屈折投影レンズシステム)PSとを含む。
[00070] レベルセンサは、基板Wの高さ又は基板テーブルWTの区域の高さを測定して、高さデータを生成する。高さが測定される表面を基準位置へと運び、測定放射ビームで照明する。測定放射ビームは、90°未満の角度で測定される表面に当たる。入射角は高さ読み取り値誤差の角度に等しいので、測定放射ビームは同じ角度で表面から反射し、反射放射ビームを形成する。測定放射ビームと反射放射ビームは、測定面を規定する。レベルセンサは、測定面で反射放射ビームの位置を測定する。
Claims (3)
- 投影システムの焦点面に対して基板の少なくとも1つのターゲット部分を配置する方法であって、
前記基板の少なくとも一部の高さ測定を実行して、高さデータを生成すること、
指定された補正高さを使用して、補正した高さデータを計算すること、及び、
前記補正した高さデータに少なくとも部分的に基づいて、前記投影システムの前記焦点面に対して前記基板の前記ターゲット部分を配置すること、
を含み、
前記補正した高さデータが、
グリッド部分を有するグリッドを規定すること、
前記基板の表面の少なくとも上位3つの層の厚さに関するデータを備えるプロセススタックデータを入力すること、
前記基板の層スタックの見かけの高さと前記プロセススタックデータに基づく実際の最上層との差を計算することによって各グリッド部分のレベルセンサの高さ読み取り値誤差を計算すること、及び、
前記ターゲット部分における各グリッド部分の前記計算された読み取り値誤差を平均すること、により計算される、
方法。 - 前記基板の様々な部分の前記補正した高さデータを平均することによって、高さプロフィールを計算することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 放射の投影ビームを供給する放射システムと、
マスクを保持するマスクホルダを備えた第一オブジェクトテーブルと、
基板を保持する基板ホルダを備えた第二オブジェクトテーブルと、
前記オブジェクトホルダの1つによって保持されたオブジェクトの少なくとも1つの水平軸の周囲の垂直位置及び傾斜のうち少なくとも一方を測定して、位置信号を生成するレベルセンサと、
前記オブジェクトを所望の位置へと移動するために前記位置信号に応答するサーボシステムと、
を備えるリソグラフィ投影装置を使用して、デバイスを製造する方法であって、
パターンを有するマスクを前記第一オブジェクトテーブルに提供すること、
放射感応性層を有する基板を前記第二オブジェクトテーブルに提供すること、及び、
前記基板の少なくとも一部の高さ測定を実行して、高さデータを生成すること、
指定された補正高さを使用して、補正した高さデータを計算すること、及び、
前記補正した高さデータに少なくとも部分的に基づいて前記所望の位置を求め、前記サーボシステムを操作することによって、前記マスクの前記照射部分を前記基板の前記ターゲット部分に結像して、前記オブジェクトを前記所望の位置に維持すること、を含み、
前記補正した高さデータを計算することが、グリッド部分を有するグリッドを規定し、前記基板の表面の少なくとも上位3つの層の厚さに関するデータを備えるプロセススタックデータを入力し、前記基板の層スタックの見かけの高さと前記プロセススタックデータに基づく実際の最上層との差を計算することによって各グリッド部分のレベルセンサの高さ読み取り値誤差を計算し、前記ターゲット部分における各グリッド部分の前掲計算された読み取り値誤差を平均すること、を含む、
方法。
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