JP4930834B2 - 形状測定方法 - Google Patents
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Description
また、前記第1位置ずれ(Δd1)および前記第2位置ずれ(Δd2)は、それぞれ測定画像の前記所定画像位置に対応する画像の光強度分布の中心から求めることが好ましい。
3 投影レンズ 4 撮像レンズ
5 ハーフミラー 6 第1撮像装置
7 全反射ミラー 8 第2撮像装置
9 演算処理装置
Claims (6)
- 被検物に所定の投影パターンを投影するパターン投影工程と、
同一位置に合焦点を有し、異なる開口数を有する第1の撮像系と第2の撮像系とにより前記投影パターンが投影された前記被検物を撮像する第1の撮像工程と、
前記第1の撮像系と前記第2の撮像系との位置関係を保ったまま、前記被検物との間隔を変えて前記第1の撮像系と前記第2の撮像系とにより前記投影パターンが投影された前記被検物を撮像する第2の撮像工程と、
前記第1の撮像工程において取得された前記投影パターンの所定位置における前記第1の撮像系により取得された像と前記第2の撮像系により取得された像の位置ずれ量と、前記第2の撮像工程において取得された前記投影パターンの前記所定位置における前記第1の撮像系により取得された像と前記第2の撮像系により取得された像の位置ずれ量とに基づいて、前記被検物の像の合焦位置を算出する測定工程とを有することを特徴とする形状測定方法。 - 前記投影パターンの前記所定位置における前記第1の撮像系により取得された像と前記第2の撮像系により取得された像の位置ずれ量は、それぞれの前記像の光強度分布の中心から求めることを特徴とする請求項1に記載の形状測定方法。
- 前記測定工程において算出された前記被検物の像の合焦位置において前記第1の撮像系または前記第2の撮像系により取得された前記被検物の像に基づいて前記被検物の三次元形状を求める形状測定工程をさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載の形状測定方法。
- 被検物に所定の投影パターンを投影するパターン投影系と、前記投影パターンが投影された前記被検物を撮像する第1の開口数を有した第1撮像系と、前記第1撮像系と同一光軸上において前記投影パターンが投影された前記被検物を撮像する第2の開口数を有した第2撮像系と、前記被検物に対する前記第1および第2撮像系の光軸方向の相対位置を調整する位置調整器とを備えた形状測定器を用いて前記被検物の三次元形状を測定する方法であって、
前記位置調整器により前記被検物を前記第1および第2撮像系に対して第1の光軸方向位置(Z1位置)に位置させた状態で、前記被検物に前記パターン投影系により前記投影パターンを投影し、
前記第1撮像系により前記被検物に投影された前記投影パターンを撮像して第1(Z1)測定画像を取得し、
前記第2撮像系により前記被検物に投影された前記投影パターンを撮像して第2(Z1)測定画像を取得し、
前記位置調整器により前記被検物に対する前記第1および第2撮像系の光軸方向の相対位置を移動させて第2の光軸方向位置(Z2位置)に位置させた状態で、前記被検物に前記パターン投影系により前記投影パターンを投影し、
前記第1撮像系により前記被検物に投影された前記投影パターンを撮像して第1(Z2)測定画像を取得し、
前記第2撮像系により前記被検物に投影された前記投影パターンを撮像して第2(Z2)測定画像を取得し、
前記被検物の測定画像の所定画像位置における、前記第1(Z1)測定画像と前記第2(Z1)測定画像との画像面上での第1位置ずれ(Δd1)と、前記第1(Z2)測定画像と前記第2(Z2)測定画像との画像面上での第2位置ずれ(Δd2)とから、前記所定画像位置に対して合焦する合焦位置(Z0)を求め、
前記所定画像位置における前記合焦位置(Z0)での測定画像から前記所定画像位置の光軸方向位置を求め、
前記被検物の三次元形状を求めることを特徴とする形状測定方法。 - 前記第1位置ずれ(Δd1)と前記第2位置ずれ(Δd2)との差が最も小さくなる光軸方向位置を前記合焦位置(Z0)とし、前記被検物の三次元形状を求める部分における全ての画像位置について前記合焦位置(Z0)を求めるとともに前記全ての画像位置における前記合焦位置(Z0)での測定画像から前記全ての画像位置の光軸方向位置を求め、前記被検物の三次元形状を求めることを特徴とする請求項4に記載の形状測定方法。
- 前記第1位置ずれ(Δd1)および前記第2位置ずれ(Δd2)は、それぞれの測定画像の前記所定画像位置に対応する画像の光強度分布の中心から求めることを特徴とする請求項4または5に記載の形状測定方法。
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