JP4904169B2 - 線条表面検査装置 - Google Patents
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前記光源から出力された検査光を、前記被検査線条の幅方向が長軸となり長手方向が短軸となる細長いスリット形状の検査光であって、前記長軸が前記検査線条の線径よりも大きく、かつ長軸方向の強度が均一の検査光に整形して前記被検査線条に照射する光学処理部と、前記被検査線条に照射された前記検査光の反射光を受光する平面状の受光面を備える複数の受光素子を、各受光素子の端部同士を接続させることにより、前記被検査線条の少なくとも半周を死角なく囲むように配置した一組の受光素子を有する受光部と、
を備え、
前記光学処理部及び前記受光部は、前記被検査線条の軸方向の異なる位置において前記被検査線条を中心に同心円状に少なくとも2組配置されており、
前記受光部を構成する一組の受光素子のうち、上記検査線条を挟んで互いに対向する一対の受光素子は、それぞれ前記被検査線条の中心から受光素子の受光面までの距離が等しくなるように配置され、前記各受光素子の平面状の受光面に入射される反射光の集光角θは、受光面の幅をWとし、被検査線条の反射面から受光面までの距離をlとしたときに
θ≦2tan −1 (W/2l)
となることを特徴とする。
この態様では、光源から出力された検査光を、被検査線状の長手方向の長さが短く細くなるように整形して細いスリット形状にする。このように検査光を細いスリット状にして、スリット状の検査光が被検査線条を横断するように照射することにより、被検査線条の長手方向の解像度をあげることができ、変色や汚れの大きさが小さい、微細な汚れであっても検出可能となる。
この態様では、検査光の被検査線状の長手方向の焦点を絞り込むことにより、検査光を細いスリット状に整形する。このように検査光の短軸を細いスリット状に絞り込むことにより、被検査線条の長手方向の解像度をあげることができ、変色や汚れの大きさが小さい、微細な汚れであっても検出可能となる。
図2は、本発明による検査光の光学系による整形処理の一例を説明するための模式図である。(a)は、光学系12を、被検査対象となる被検査線条80の横方向からみた模式図である。(b)は、(a)に示す光学系12を被検査線条80の真上から見た図を示す。図2(b)の左側には、光学系により整形された検査光の外形を示している。
投光部11からの検査光30の照射角度についても、適正な角度が存在する。図3に検査光の照射角度と信号変化率の関係を示す。図3(a)は、検査光30の照射角度αの変化に伴う受光信号の変化率を示すグラフであり、(b)は(a)のグラフの横軸である被検査線条に対する照射角度を示す図である。投光部11から照射される検査光30と被検査線条80の為す角α(入射角=90−α)を変化させた場合の、受光信号の変化率を示している。受光信号の変化率とは、被検査線条に汚点(基準黒点)がない場合の受光電圧v1と汚点がある場合の受光電圧v2の変化率(v1−v2)/v1を示している。信号変化率が大きいほど、汚点感知能力が高いことを意味する。光学素子1のグラフは、被検査線条80の真上の光学センサによる測定結果を示し、光学素子2のグラフは、45°の角度に被検査線条の真上を基点として45°の位置に配置された光学センサによる測定結果を示している。
図6に、被検査線条上の円周上における黒点の位置(角度βで表す)と受光電圧の関係を示す。図6(a)は、黒点(汚点)の円周上の位置を示す角度βを説明するための概念図である。投光部からみて、被検査線条80の真上の位置(黒点81の位置)を基点(β=0°)として、中心から基点に向かう線分と中心から黒点に向かう線分の為す角βにより、被検査線条80の円周上の黒点の位置を定義している。左右対象であるので、黒点82と83は、同じ位置として扱われる。従って0°≦β≦90°となる。すなわち、黒点の幅方向(円周上)の位置は、被検査線条80の真上の位置を基点として、そこからのずれ角βで表される。図6(b)は、黒点の位置とそれに対する受光信号の測定結果を示すグラフである。被検査線条から受光部までの距離(光路)lが11mm、17mmの場合の測定結果を示している。黒点の位置を示す角度βは、左右対称であり受光電圧は同じであるので、グラフでは片方しか測定していない。
11:投光部11、光学系
12:光学系(光学処理部)
13: シリンドリカル凸レンズ
14: シリンドリカル凹レンズ
15: 第2のシリンドリカル凸レンズ
20〜25:受光部
20a〜20f、21a〜21f、22a〜22d、23a〜23d、24a〜24d、25a〜25f:光学センサ(光学素子)
25 感知部
30、31、32、33、34、35:検査光
40、41:不感帯領域
51〜54:検査部
80:被検査線条
Claims (12)
- 被検査線条の表面に照射する検査光を出力する光源と、
前記光源から出力された検査光を、前記被検査線条の幅方向が長軸となり長手方向が短軸となる細長いスリット形状の検査光であって、前記長軸が前記検査線条の線径よりも大きく、かつ長軸方向の強度が均一の検査光に整形して前記被検査線条に照射する光学処理部と、
前記被検査線条に照射された前記検査光の反射光を受光する平面状の受光面を備える複数の受光素子を、各受光素子の端部同士を接続させることにより、前記被検査線条の少なくとも半周を死角なく囲むように配置した一組の受光素子を有する受光部と、
を備え、
前記光学処理部及び前記受光部は、前記被検査線条の軸方向の異なる位置において前記被検査線条を中心に同心円状に少なくとも2組配置されており、
前記受光部を構成する一組の受光素子のうち、前記被検査線条を挟んで互いに対向する一対の受光素子は、それぞれ前記被検査線条の中心から受光素子の受光面までの距離が等しくなるように配置され、
前記各受光素子の平面状の受光面に入射される反射光の集光角θは、受光面の幅をWとし、被検査線条の反射面から受光面までの距離をlとしたときに、
θ≦2tan −1 (W/2l)
となることを特徴とする線条表面検査装置。 - 前記光学処理部は、前記出力部から出力された前記検査光を、前記被検査線条の長手方向が短軸となるように焦点を絞り込むことにより、前記検査光を細長いスリット形状に整形して前記被検査線条に照射することを特徴とする請求項1に記載の線条表面検査装置。
- 前記光学処理部は、前記検査光の焦点を前記短軸方向に絞り込むシリンドリカル凸レンズと、該絞り込んだ検査光を平行光に変換するシリンドリカル凹レンズと、前記平行光に変換された検査光を、さらに前記短軸方向に焦点を絞り、スリット状のスポット光として前記被検査線条に照射する集光用レンズを備えることを特徴とする請求項2に記載の線条表面検査装置。
- 前記光学処理部は、前記被検査線条に照射される前記検査光を、長手方向が3乃至6mm、短軸方向の長さが0.2mm以下となるように整形することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の線条表面検査装置。
- 前記集光用レンズの焦点距離が100mm以上であることを特徴とする請求項2または3に記載の線条表面検査装置。
- 前記光源と、該光源からの検査光を整形して前記被検査線条に照射する前記光学処理部と、該光学処理部から照射され前記被検査線条により反射された前記検査光を受光する前記受光部とを一組とする検査部が複数組配置されており、
前記複数組の検査部は、該各検査部が互いに前記被検査線条の長手方向の位置及び被検査線条の長手方向を中心軸とした場合の角度を変えて配置されており、前記複数組の検査部の前記受光部の組み合わせにより、全体として前記被検査線条の周囲を取り囲むように複数組配置されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の線条表面検査装置。 - 前記検査部を3組備え、前記各検査部は、それぞれ前記被検査線条の長手方向を軸としてそれぞれ120°角度をずらして配置されていることを特徴とする請求項6に記載の線条表面検査装置。
- 前記検査部を4組備え、前記各検査部は、それぞれ前記被検査線条の長手方向を軸としてそれぞれ90°角度をずらして配置されていることを特徴とする請求項6に記載の線条表面検査装置。
- 前記検査部を6組備え、前記検査部は、それぞれ前記被検査線条の長手方向を軸としてそれぞれ60°角度をずらして配置されていることを特徴とする請求項6に記載の線条表面検査装置。
- 前記検査光が、前記被検査線条への入射角が20°乃至40°の範囲内で照射されることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の線条表面検査装置。
- 前記受光部の前記受光素子は、被検査線条から10mm乃至30mmの範囲内の距離に配置されることを特徴とする請求項10に記載の線条表面検査装置。
- さらに前記被検査線条に照射された検査光を受光するモニタ用受光素子を備え、前記モニタ用受光素子で受光した受光量に応じて、前記受光部の検知電圧の増幅率を制御することを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の線条表面検査装置。
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