JP4896173B2 - 試験装置 - Google Patents
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Description
Claims (9)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
与えられる試験プログラムに基づいて、前記被試験デバイスに供給する試験パターンを生成するパターン発生部と、
前記被試験デバイスを駆動する電力を供給する電源回路と、
前記被試験デバイスの駆動状態に基づいて前記被試験デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記電源回路は、
電源電流を出力する電源部と、
前記電源部から前記電源電流を受け取り、負荷が消費する負荷電流を前記負荷に供給するドライバ部と、
前記電源部により充電され、前記負荷電流が前記電源電流より大きい場合に、補助電流を前記ドライバ部に供給するコンデンサ部と
を有し、
前記パターン発生部は、前記試験プログラムにより生成される試験パターンが、前記負荷電流の最大値および前記コンデンサ部の容量値により定まる、前記負荷電流の最大値を供給できる最大時間より長い時間、前記被試験デバイスに前記負荷電流の最大値を供給させる試験パターンである場合に、その旨を使用者に通知する試験装置。 - 前記電源回路は、前記電源部が出力する前記電源電流を前記ドライバ部に伝送する伝送路を更に備え、
前記コンデンサ部は、前記伝送路と基準電位との間に設けられる
請求項1に記載の試験装置。 - 前記電源回路は、
前記コンデンサ部および前記伝送路の接続点における電圧を検出する電圧検出部と、
前記電圧検出部が検出した電圧が、予め定められた下限電圧より小さくなった場合にその旨を出力する判定部と
を更に備える請求項2に記載の試験装置。 - 前記電源回路は、
前記ドライバ部に供給される電源電圧を、前記ドライバ部が出力する電圧に基づいて制御することで、前記ドライバ部が消費する消費電流を低減する電圧制御部を更に備える
請求項2または3に記載の試験装置。 - 前記電圧制御部は、前記ドライバ部に供給される電源電圧を、前記ドライバ部が出力する電圧の変動に追従して変動させることで、前記ドライバ部における前記消費電流を低減する
請求項4に記載の試験装置。 - 前記電源回路は、正側の電源電圧を前記ドライバ部に供給する正側の前記電圧制御部、及び、負側の電源電圧を前記ドライバ部に供給する負側の前記電圧制御部を有し、
前記伝送路は、分岐して前記正側の電圧制御部および前記負側の電圧制御部に接続され、
前記コンデンサ部は、前記伝送路において、前記正側の電圧制御部および前記負側の電圧制御部への分岐点と、前記電源部との間に接続される
請求項4または5に記載の試験装置。 - 前記電源部は、
前記ドライバ部に正側の電源電圧を供給する正側電源と、
前記ドライバ部に負側の電源電圧を供給する負側電源と
を有し、
前記コンデンサ部は、
前記正側電源および前記ドライバ部の正側電源端子の間で充放電される正側コンデンサと、
前記負側電源および前記ドライバ部の負側電源端子の間で充放電される負側コンデンサと
を有する
請求項1から5のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記電源回路は、前記電源回路の電源をオフとするときに、前記コンデンサ部を放電させる放電部を更に備える
請求項1から7のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記電源回路は、
与えられるデジタル値に応じた入力電圧を生成して前記ドライバ部に供給する電圧設定部と、
入力側と出力側とが電気的に絶縁され、前記入力側に与えられる前記デジタル値を、前記出力側から前記電圧設定部に供給するアイソレータと、
を更に有し、
前記電源部は、入力側と出力側とが電気的に絶縁され、前記入力側に与えられる電圧に応じた電圧を前記出力側から出力する
請求項1から8のいずれか一項に記載の試験装置。
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