JP4886485B2 - 弾性波デバイスおよびその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は弾性波デバイスおよびその製造方法に関し、特に弾性波素子の機能領域上が中空である封止部を有する弾性波デバイスおよびその製造方法に関する。
弾性波デバイスは電磁波を利用する電気電子機器の信号フィルタとして多方面に用いられている。例えば、携帯電話端末等の無線通信機器の送受信フィルタやテレビ、ビデオテープレコーダ等の映像用周波数フィルタとして用いられる。弾性波デバイスは、チップである弾性波素子が樹脂等の封止部に封止されている。弾性波素子のひとつである弾性表面波素子は、LiNbOやLiTaO等の圧電基板上に、櫛型電極等の弾性表面波を励振する電極が形成されている。弾性表面波は圧電基板の表面を伝搬するため、弾性波が振動する機能領域である圧電基板表面および電極上は空洞とする必要がある。このように、圧電基板表面および電極上には厚い保護膜を設けられないため、信頼性確保のためには弾性波素子を気密封止することが求められる。
特許文献1から特許文献3のように、弾性波デバイスの低コスト化のため、弾性波素子が形成された基板上に封止部を形成しウエハレベルパッケージ(WLP)を形成する方法が用いられている。
まず、切断領域に第1封止部22および第2封止部24が形成されない従来例1に係る弾性波デバイスの製造方法について説明する。図1(a)から図2(i)は従来例1に係る弾性波デバイスの製造工程を示した図である。図1(a)を参照に、基板10上に櫛型電極12、櫛型電極12に接続する配線14および切断領域42(ウエハを個片化するための領域)の金属パターン18とを形成する。基板10、櫛型電極12および配線14上に保護膜20を形成する。保護膜20の所定領域を除去し、貫通領域44(貫通電極を形成すべき領域)の配線14上にバリア層16を形成する。図1(b)を参照に、機能領域40(弾性波が振動する領域)、切断領域42および貫通領域44がそれぞれ第1非被覆部50、第2非被覆部52および第3非被覆部54(封止樹脂が被覆されていない部分)となるように第1封止部22を形成する。
図1(c)を参照に、第1封止部22上に例えば光感光性樹脂フィルムを貼り付け、第2封止部24を形成する。図1(d)を参照に、マスク32を介し第2封止部24に紫外線(UV光)を照射する。図1(e)を参照に、現像することにより、UV光が照射された領域の第2封止部24は残存し、第2非被覆部52、第3非被覆部54および中空である空洞60が形成される。
図2(f)を参照に、第3非被覆部54に貫通電極28を形成する。図2(g)を参照に、貫通電極28上に半田ボール30を形成する。図2(h)を参照に、ブレード36を用い、切断領域42で基板10を切断する。図2(i)を参照に、これにより、従来例1に係る弾性波デバイスが完成する。
次に、切断領域42に第1封止部22および第2封止部24が形成されている従来例2に係る弾性波デバイスの製造方法について説明する。図3(a)から図4(h)は従来例2に係る弾性波デバイスの製造工程を示した図である。図3(a)を参照に、機能領域40、貫通領域44がそれぞれ第1非被覆部50および第3非被覆部54となるように第1封止部22を形成する。従来例1の図1(b)と異なり切断領域42には第1封止部22が残存している。
図3(b)を参照に、第1封止部22上に光感光性樹脂フィルムを貼り付け、第2封止部24を形成する。図3(c)を参照に、マスク32を介し第2封止部24に紫外線(UV光)を照射する。図3(d)を参照に、現像することにより、UV光が照射された領域の第2封止部24は残存し、第3非被覆部54、空洞60が形成される。従来例1の図1(e)と異なり切断領域42には第2封止部24が残存している。
図4(e)を参照に、第3非被覆部54に貫通電極28を形成する。図4(f)を参照に、貫通電極28上に半田ボール30を形成する。図4(g)を参照に、ブレード36を用い、切断領域42で基板10、第1封止部22および第2封止部24を切断する。図4(h)を参照に、これにより、従来例2に係る弾性波デバイスが完成する。
従来例1および従来例2によれば、第1封止部22が機能領域40上に中空を有し、第2封止部24で蓋をしているため、弾性波素子を気密封止することができる。また、半田ボール30は貫通電極28を介し弾性波素子に接続していることにより、半田ボール30を用いフリップチップ実装することにより、弾性波素子の電気信号を外部に入出力することができる。
特開平9−232900号公報 特開2002−261582号公報 特開2003−37471号公報
従来例1においては、図2(h)のように、ウエハを個片化しチップとする場合、切断領域42の第1封止部22および第2封止部24が除去されているため、切断するための負荷は小さい。しかしながら、切断領域42に封止部が設けられていないと、図1(e)において基板10を封止してから図2(h)において基板を切断する工程の間の工程で切断領域42に異物が付着してしまうことがある。例えば、図2(f)において貫通電極28に用いる金属や図2(g)において半田ボール30に用いる半田が切断領域42の第2非被覆部52に落ち込んでしまう。これを解決するために、切断領域42と貫通電極28との間隔を広げるとチップサイズが大きくなってしまう。
一方、従来例2においては、図3(a)から図4(e)のように切断領域42に第1封止部22および第2封止部24を残存させた場合、図4(e)および図4(f)のように、例えば貫通電極28や半田ボール30を形成する際、金属や半田が切断領域42に落ち込むことはない。しかしながら、第1封止部22や第2封止部24を硬化させる加熱工程や半田のリフロー工程において、第1封止部22および第2封止部24の収縮圧力によりウエハが反ってしまう。
本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、製造工程途中における切断領域への異物の付着やウエハ反りを抑制することを目的とする。
本発明は、弾性波素子が形成された基板上に、前記弾性波素子の弾性波が振動する機能領域が第1封止部で被覆されない第1非被覆部および個片化するための切断領域が前記第1封止部で被覆されない第2非被覆部となるように前記第1封止部を形成する工程と、前記第1非被覆部および前記第2非被覆部に第2封止部で蓋をし、前記機能領域が前記第1封止部と前記第2封止部とにより封止されるように、前記第1封止部上に第2封止部を形成する工程と、前記第2非被覆部を分割するように前記基板および前記第2封止部を切断する工程と、を有することを特徴とする弾性波デバイスの製造方法である。本発明によれば、製造工程中、切断領域が第2封止部により蓋をされているため、製造工程における切断領域への異物の付着を抑制することができる。また、切断領域の第2非被覆部が応力を緩和するためウエハ反りを抑制することができる。
上記構成において、前記第1封止部を形成する工程は、貫通電極が形成されるべき領域が前記第1封止部と前記第2封止部とで被覆されない第3非被覆部となるように前記第1封止部を形成する工程であり、前記第2封止部を形成する工程は、前記貫通電極が形成されるべき領域が前記第3非被覆部となるように前記第2封止部を形成する工程であり、前記第3非被覆部に貫通電極を形成する工程を有する構成とすることができる。この構成によれば、貫通電極を形成する際の切断領域への異物の付着を抑制することができる。
本発明は、弾性波素子が形成された基板上に、前記弾性波素子の弾性波が振動する機能領域が第1封止部で被覆されない第1非被覆部となるように前記第1封止部を形成する工程と、前記第1非被覆部に第2封止部で蓋をするように、かつ個片化するための切断領域の前記第1封止部上が前記第2封止部で被覆されない第2非被覆部となるように、前記第1封止部上に前記第2封止部を形成する工程と、前記第2非被覆部に第3封止部で蓋をし、前記機能領域が前記第1封止部と前記第2封止部と前記第3封止部とにより封止されるように、前記第2封止部上に前記第3封止部を形成する工程と、前記第2非被覆部を分割するように前記基板、前記第1封止部および前記第3封止部を切断する工程と、を有することを特徴とする弾性波デバイスの製造方法である。本発明によれば、製造工程中、切断領域が第3封止部により蓋をされているため、製造工程における切断領域への異物の付着を抑制することができる。また、切断領域の第2非被覆部が応力を緩和するためウエハ反りを抑制することができる。
上記構成において、前記第1封止部を形成する工程は、貫通電極が形成されるべき領域が前記第1封止部と前記第2封止部と前記第3封止部とで被覆されない第3非被覆部となるように前記第1封止部を形成する工程であり、前記第2封止部を形成する工程は、前記貫通電極が形成されるべき領域が前記第3非被覆部となるように前記第2封止部を形成する工程であり、前記第3封止部を形成する工程は、前記貫通電極が形成されるべき領域が前記第3非被覆部となるように前記第3封止部を形成する工程であり、前記第3非被覆部に貫通電極を形成する工程を有する構成とすることができる。この構成によれば、貫通電極を形成する際の切断領域への異物の付着を抑制することができる。
上記構成において、前記第1封止部を形成する工程は、光感光性樹脂を形成する工程と、露光することで前記第1非被覆部を形成する工程と、を含む構成とすることができる。この構成によれば、第1封止部に簡単に第1非被覆部を形成することができる。
上記構成において、前記光感光性樹脂を形成する工程は、エポキシ製ネガレジストを塗布する工程を含む構成とすることができる。この構成によれば、第1封止部として簡単に光感光性樹脂を形成することができる。
上記構成において、前記第2封止部を形成する工程は、フィルム状の光感光性樹脂シートを前記第1封止部上に形成する工程を含む構成とすることができる。この構成によれば、非被覆部内に樹脂が付着することなく第2封止部で第1非被覆部を蓋をし、中空構造の空洞を形成することができる。
上記構成において、前記貫通電極を形成する工程は、前記第3非被覆部に電気メッキ法により前記貫通電極を形成する工程を含む構成とすることができる。
上記構成において、前記貫通電極上に半田ボールを形成する工程を有する構成とすることができる。この構成によれば、貫通電極上に半田ボールを形成する際、切断領域への異物の付着を抑制することができる。
本発明は、弾性波素子が形成された基板と、前記弾性波素子の弾性波が振動する機能領域が第1封止部で被覆されない第1非被覆部となるように前記基板上に設けられた前記第1封止部と、前記第1非被覆部が中空となるように前記第1封止部上に設けられた第2封止部と、を具備し、前記第1封止部と前記第2封止部とは前記機能領域を封止し、前記第1封止部の側面は、前記基板および前記第2封止部の側面より内側にあることを特徴とする弾性波デバイスである。本発明によれば、弾性波デバイスの製造工程において、切断領域が第2封止部により蓋をされているため、製造工程における切断領域への異物の付着を抑制することができる。また、切断領域の非被覆部が応力を緩和するためウエハ反りを抑制することができる。
上記構成において、前記第1封止部および前記第2封止部を貫通し前記弾性波素子に接続する貫通電極を具備する構成とすることができる。この構成によれば、貫通電極を形成する際の切断領域への異物の付着を抑制することができる。
本発明は、弾性波素子が形成された基板と、前記弾性波素子の弾性波が振動する機能領域が第1封止部で被覆されない第1非被覆部となるように前記基板上に設けられた前記第1封止部と、前記第1非被覆部が中空となるように前記第1封止部上に設けられた第2封止部と、前記第2封止部上に設けられた第3封止部と、を具備し、前記第1封止部と前記第2封止部と前記第3封止部とは前記機能領域を封止し、前記第2封止部の側面は、前記基板、前記第1封止部および前記第3封止部の側面より内側にあることを特徴とする弾性波デバイスである。本発明によれば、弾性波デバイスの製造工程において、切断領域が第3封止部により蓋をされているため、製造工程における切断領域への異物の付着を抑制することができる。また、切断領域の非被覆部が応力を緩和するためウエハ反りを抑制することができる。
上記構成において、前記第1封止部、前記第2封止部および前記第3封止部を貫通し前記弾性波素子に接続する貫通電極を具備する構成とすることができる。この構成によれば、貫通電極を形成する際の切断領域への異物の付着を抑制することができる。
上記構成において前記第1封止部および前記第2封止部は樹脂からなる構成とすることができる。また、上記構成において、前記貫通電極は、Ag、Cu、Ni、SnAgおよびSnAgCuの少なくとも1種類以上の導体を有する構成とすることができる。
上記構成において、前記貫通電極上に半田ボールを具備する構成とすることができる。この構成によれば、貫通電極上に半田ボールを形成する際、切断領域への異物の付着を抑制することができる。
本発明によれば、製造工程において切断領域が蓋をされているため、切断領域への異物の付着やウエハ反りを抑制することができる。
以下、図面を参照に本発明の実施例について説明する。
図5(a)から図6(h)は実施例1に係る弾性波デバイスの製造工程の断面図を示す図である。図5(a)を参照に、LiTaO(タンタル酸リチウム)からなる圧電基板10上に櫛型電極12と櫛型電極12に接続する配線14と切断領域42の金属パターン18をAl(アルミニウム)−Cu(銅)を用い形成する。櫛型電極12は圧電基板10の弾性表面波を励振する電極であり弾性波素子を構成する。基板10、櫛型電極12および配線14上にSiO(酸化シリコン)膜からなる保護膜20を形成する。保護膜20の所定領域を除去し、貫通電極を形成すべき貫通領域44の配線14上にTi(チタン)/Au(金)からなるバリア層16を形成する。基板10上にエポキシ製永久ネガレジストを30μmスピン塗布する。露光および現像を行うことにより、機能領域40、切断領域42、貫通領域44の第1封止部22を除去する。これにより、樹脂が被覆していない第1非被覆部50、第2非被覆部52および第3非被覆部54が形成される。このように、機能領域40が第1非被覆部50に、切断領域42が第2非被覆部52に、貫通領域44が第3非被覆部54が形成されるように第1封止部22を形成する。
図5(b)を参照に、第2封止部24として30μmの膜厚を有するエポキシ製永久ネガフィルムレジストを第1封止部22上にテンティング法を用い貼り付ける。図5(c)を参照に、マスク32を用いUV光34を第2封止部24に照射する。図5(d)を参照に、現像することにより、貫通領域44に第1封止部22と第2封止部24との第3非被覆部54が形成され、機能領域40および切断領域42上には第2封止部24で蓋をされた空洞60および62が形成される。第2封止部24を熱硬化させるためのポストベークを250℃で1時間行う。ポストベークでの4インチのウエハの反りは約200μmであった。
図6(e)を参照に、第3非被覆部54内に電気メッキ法を用い膜厚が約50μmのNi(ニッケル)を形成する。Ni表面にAu(金)のフラッシュメッキを施しNiからなる貫通電極28が完成する。図6(f)を参照に、貫通電極28上にSnAgCu(錫銀銅)半田ペーストをマスク印刷およびリフローし半田ボール30を形成する。半田ボール30形成時のリフロー後のウエハの反りは約200μmであり、リフロー前とほとんど変わらなかった。
図6(g)を参照に、切断領域42で第2封止部24および基板10をダイシング法を用いブレード36で切断する。このとき第1封止部22および第2封止部24の剥離は観察されなかった。以上により図6(h)のような弾性波デバイスが完成する。図6(h)を参照に、このようにして作成された弾性波デバイスは、第1封止部22の側面T1が基板10および第2封止部24の側面T2より内側にある。実施例1では、切断領域42の幅を約100μmとし、側面T1とT2との距離W1を5μmから10μm程度とした。
実施例1に係る製造工程は、図5(a)のように、弾性波素子が形成された基板10上に、機能領域40が第1非被覆部50に、切断領域42が第2非被覆部52になるように第1封止部を形成する。図5(d)のように、第1非被覆部50および第2非被覆部52に蓋をし中空(空洞60)になるように第1封止部22上に第2封止部24を形成する。図6(g)のように、第2非被覆部52を分割するように基板10および第2封止部24を切断する。以上のような工程により、図6(e)および図6(f)のように、貫通電極28や半田ボール30を形成する際には切断領域42は第2封止部24により蓋をされている。このため、従来例1のように、切断領域42に異物等が付着することを抑制することができる。また、図5(d)のポストベークや図6(f)の半田リフローの際に生じる第1封止部22および第2封止部24の収縮応力は、切断領域42の空洞62により緩和されるためウエハの反りを小さくすることができる。
また、図5(a)から図5(g)のように、第1封止部22を形成する工程および第2封止部24を形成する工程において、貫通領域44が第3非被覆部54となるように第1封止部22および第2封止部24を形成する。そして、図6(e)のように、第3非被覆部54に弾性波素子に電気的に接続する貫通電極28を形成する。これにより、第1封止部22と第2封止部24とを貫通し弾性波素子に配線14を介し電気的に接続する貫通電極28を形成することができる。よって、第2封止部24の上面から電気信号を取り出すことができる。また、貫通電極28を形成する際の切断領域42への異物の付着を抑制することができる。
図7(a)から図9(j)は実施例2に係る弾性波デバイスの製造工程の断面図を示す図である。図7(a)を参照に、基板10上に膜厚が約30μmの第1封止部22を形成する。実施例1の図5(a)に対し切断領域42には第2非被覆部を設けず、第1封止部22を残存させる。その他の工程は実施例1の図5(a)と同じであり説明を省略する。
図7(b)を参照に、第1封止部22上に膜厚が約30μmの第2封止部24を形成する。図7(c)を参照に、マスク32を介し第2封止部24に紫外線(UV光)を照射する。図7(d)を参照に、第2封止部24に第2非被覆部52および第3非被覆部54が形成される。実施例1の図5(d)に対し、切断領域42に第2非被覆部52が形成される。その他の工程は実施例1の図5(d)と同じである。
図8(e)を参照に、第3封止部26として30μmの膜厚を有するエポキシ製永久ネガフィルムレジストを第2封止部24上にテンティング法を用い貼り付ける。図8(f)を参照に、露光および現像を行うことにより、貫通領域44に第1封止部22、第2封止部24および第3封止部26の第3非被覆部54を形成する。切断領域42上は第3封止部26で蓋をし、空洞62を形成する。
図8(g)を参照に、実施例1の図6(e)と同じように第3非被覆部54内に貫通電極28を形成する。図8(h)を参照に、実施例1の図6(f)と同じように貫通電極28上に半田ボールを形成する。
図9(i)を参照に、実施例1の図6(g)と同じように、切断領域42で第3封止部26、第1封止部22および基板10をダイシング法を用いブレード36で切断する。このとき第1封止部22および第2封止部24の剥離は観察されなかった。図9(j)を参照に、このようにして作成された弾性波デバイスは、第2封止部24の側面T1が基板10、第1封止部22および第2封止部24の側面T2より内側にある。
実施例2の製造工程は、図7(a)のように、基板10上に、機能領域40が第1非被覆部50となるように第1封止部22を形成する。図7(d)のように、第1非被覆部50に蓋をし第1非被覆部50が中空になるように、かつ切断領域42の第1封止部22上が第2非被覆部52となるように、第1封止部22上に第2封止部24を形成する。図8(f)のように、第2非被覆部52に蓋をするように第2封止部24上に第3封止部26を形成する。図9(i)のように、第2非被覆部52を分割するように基板10、第1封止部22および第3封止部26を切断する。以上のような工程により、図9(g)および図9(h)のように、貫通電極28や半田ボール30を形成する際には切断領域42は第3封止部26により蓋をされている。このため、実施例1と同様に、切断領域42に異物等が付着することを抑制することができる。また、図7(d)および図8(f)のポストベークや図8(h)の半田リフローの際に生じる第1封止部22、第2封止部24および第3封止部26の収縮応力は、切断領域42の空洞62により緩和されるためウエハの反りを小さくすることができる。
また、図8(f)のように、実施例1の第1封止部22および第2封止部24を形成する工程に加え、実施例2では、第3封止部26を形成する工程において、貫通電極が形成されるべき貫通領域44が第3非被覆部54となるように第3封止部26を形成する。そして、図8(g)のように、第3非被覆部54に弾性波素子に電気的に接続する貫通電極28を形成する。これにより、第1封止部22から第3封止部26を貫通し弾性波素子に配線14を介し電気的に接続する貫通電極28を形成することができる。よって、第3封止部26の上面から電気信号を取り出すことができる。また、貫通電極28を形成する際の切断領域42への異物の付着を抑制することができる。
実施例1および実施例2においては、第1封止部22を形成する際に、図5(b)および図7(b)のように、光感光性樹脂を形成する。図5(c)および図7(c)のように露光することで第1非被覆部50を形成する。このような工程により、第1封止部22に簡単に第1非被覆部50を形成することができる。
また、光感光性樹脂の形成は、図5(b)および図7(b)のように、エポキシ製ネガレジストを塗布することにより形成することができる。これにより、第1封止部22として簡単に光感光性樹脂を形成することができる。
さらに、第2封止部を形成する際に、図5(b)および図7(b)のように、フィルム状の光感光性樹脂シートを第1封止部22上に形成することができる。これにより、第1非被覆部50内に樹脂が付着することなく第2封止部24で第1非被覆部50を蓋をし、中空構造の空洞60を形成することができる。
さらに、図6(e)および図8(g)において、貫通電極28を形成する工程として、第3非被覆部54に電気メッキ法によりNiを形成する工程について説明した。貫通電極28は例えばAg(銀)、Cu(銅)、SnAg(錫銀)またはSnAgCu(錫銀銅)の少なくとも1種類以上の導体を有することができる。また、電気メッキ法以外の方法で、例えば印刷法等により貫通電極28を形成することもできる。
さらに、実施例1および実施例2によれば、図6(f)および図8(h)のように、貫通電極28上に半田ボール30を形成する際、切断領域42への異物の付着を抑制することができる。半田ボール30としては例えばSnAg半田やSnAgCu(錫銀銅)半田を用いることができる。
実施例1および実施例2においては、LiTaO(タンタル酸リチウム)基板10を用いた弾性表面波素子を例に説明したが、LiNbO(ニオブ酸リチウム)基板10等の圧電基板を用いた弾性表面波素子であってもよい。また、弾性波素子は弾性表面波素子に限られない。例えば、FBAR(Film bulk acoustic resonator)は、弾性波が振動する機能領域上を空洞とすることが求められる。よって、弾性波素子はFBARであってもよい。
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
図1(a)から図1(e)は従来例1に係る弾性表面波デバイスの製造工程を示す断面図(その1)である。 図2(f)から図2(i)は従来例1に係る弾性表面波デバイスの製造工程を示す断面図(その2)である。 図3(a)から図3(d)は従来例2に係る弾性表面波デバイスの製造工程を示す断面図(その1)である。 図4(e)から図4(h)は従来例2に係る弾性表面波デバイスの製造工程を示す断面図(その2)である。 図5(a)から図5(d)は実施例1に係る弾性表面波デバイスの製造工程を示す断面図(その1)である。 図6(e)から図6(h)は実施例1に係る弾性表面波デバイスの製造工程を示す断面図(その2)である。 図7(a)から図7(d)は実施例2に係る弾性表面波デバイスの製造工程を示す断面図(その1)である。 図8(e)から図8(h)は実施例2に係る弾性表面波デバイスの製造工程を示す断面図(その2)である。 図9(i)および図9(j)は実施例2に係る弾性表面波デバイスの製造工程を示す断面図(その3)である。
符号の説明
10 基板
12 櫛型電極
14 配線
16 バリア層
18 金属パターン
20 保護膜
22 第1封止部
24 第2封止部
26 第3封止部
28 貫通電極
30 半田ボール
32 マスク
34 UV光
36 ブレード
40 機能領域
42 切断領域
44 貫通領域
50 第1非被覆部
52 第2非被覆部
54 第3非被覆部
60 空洞
62 空洞
64 空洞

Claims (16)

  1. 弾性波素子が形成された基板上に、前記弾性波素子の弾性波が振動する機能領域が第1封止部で被覆されない第1非被覆部および個片化するための切断領域が前記第1封止部で被覆されない第2非被覆部となるように前記第1封止部を形成する工程と、
    前記第1非被覆部および前記第2非被覆部に第2封止部で蓋をし、前記機能領域が前記第1封止部と前記第2封止部とにより封止されるように、前記第1封止部上に第2封止部を形成する工程と、
    前記第2非被覆部を分割するように前記基板および前記第2封止部を切断する工程と、を有することを特徴とする弾性波デバイスの製造方法。
  2. 前記第1封止部を形成する工程は、貫通電極が形成されるべき領域が前記第1封止部と前記第2封止部とで被覆されない第3非被覆部となるように前記第1封止部を形成する工程であり、
    前記第2封止部を形成する工程は、前記貫通電極が形成されるべき領域が前記第3非被覆部となるように前記第2封止部を形成する工程であり、
    前記第3非被覆部に貫通電極を形成する工程を有することを特徴とする請求項1記載の弾性波デバイスの製造方法。
  3. 弾性波素子が形成された基板上に、前記弾性波素子の弾性波が振動する機能領域が第1封止部で被覆されない第1非被覆部となるように前記第1封止部を形成する工程と、
    前記第1非被覆部に第2封止部で蓋をするように、かつ個片化するための切断領域の前記第1封止部上が前記第2封止部で被覆されない第2非被覆部となるように、前記第1封止部上に前記第2封止部を形成する工程と、
    前記第2非被覆部に第3封止部で蓋をし、前記機能領域が前記第1封止部と前記第2封止部と前記第3封止部とにより封止されるように、前記第2封止部上に前記第3封止部を形成する工程と、
    前記第2非被覆部を分割するように前記基板、前記第1封止部および前記第3封止部を切断する工程と、を有することを特徴とする弾性波デバイスの製造方法。
  4. 前記第1封止部を形成する工程は、貫通電極が形成されるべき領域が前記第1封止部と前記第2封止部と前記第3封止部とで被覆されない第3非被覆部となるように前記第1封止部を形成する工程であり、
    前記第2封止部を形成する工程は、前記貫通電極が形成されるべき領域が前記第3非被覆部となるように前記第2封止部を形成する工程であり、
    前記第3封止部を形成する工程は、前記貫通電極が形成されるべき領域が前記第3非被覆部となるように前記第3封止部を形成する工程であり、
    前記第3非被覆部に貫通電極を形成する工程を有することを特徴とする請求項3記載の弾性波デバイスの製造方法。
  5. 前記第1封止部を形成する工程は、
    光感光性樹脂を形成する工程と、露光することで前記第1非被覆部を形成する工程と、を含むことを特徴とする請求項1から4のいずれか一項記載の弾性波デバイスの製造方法。
  6. 前記光感光性樹脂を形成する工程は、エポキシ製ネガレジストを塗布する工程を含むことを特徴とする請求項5記載の弾性波デバイスの製造方法。
  7. 前記第2封止部を形成する工程は、フィルム状の光感光性樹脂シートを前記第1封止部上に形成する工程を含むことを特徴とする請求項1から4のいずれか一項記載の弾性波デバイスの製造方法。
  8. 前記貫通電極を形成する工程は、前記第3非被覆部に電気メッキ法により前記貫通電極を形成する工程を含むことを特徴とする請求項2または4記載の弾性波デバイスの製造方法。
  9. 前記貫通電極上に半田ボールを形成する工程を有することを特徴とする請求項2または4記載の弾性波デバイスの製造方法。
  10. 弾性波素子が形成された基板と、
    前記弾性波素子の弾性波が振動する機能領域が第1封止部で被覆されない第1非被覆部となるように前記基板上に設けられた前記第1封止部と、
    前記第1非被覆部が中空となるように前記第1封止部上に設けられた第2封止部と、を具備し、
    前記第1封止部と前記第2封止部とは前記機能領域を封止し、
    前記第1封止部の側面は、前記基板および前記第2封止部の側面より内側にあることを特徴とする弾性波デバイス。
  11. 前記第1封止部および前記第2封止部を貫通し前記弾性波素子に接続する貫通電極を具備することを特徴とする請求項10記載の弾性波デバイス。
  12. 弾性波素子が形成された基板と、
    前記弾性波素子の弾性波が振動する機能領域が第1封止部で被覆されない第1非被覆部となるように前記基板上に設けられた前記第1封止部と、
    前記第1非被覆部が中空となるように前記第1封止部上に設けられた第2封止部と、
    前記第2封止部上に設けられた第3封止部と、を具備し、
    前記第1封止部と前記第2封止部と前記第3封止部とは前記機能領域を封止し、
    前記第2封止部の側面は、前記基板、前記第1封止部および前記第3封止部の側面より内側にあることを特徴とする弾性波デバイス。
  13. 前記第1封止部、前記第2封止部および前記第3封止部を貫通し前記弾性波素子に接続する貫通電極を具備することを特徴とする請求項12記載の弾性波デバイス。
  14. 前記第1封止部および前記第2封止部は樹脂からなることを特徴とする請求項10から13のいずれか一項記載の弾性波デバイス。
  15. 前記貫通電極は、Ag、Cu、Ni、SnAgおよびSnAgCuの少なくとも1種類以上の導体を有することを特徴とする請求項11または13記載の弾性波デバイス。
  16. 前記貫通電極上に半田ボールを具備することを特徴とする請求項11または13記載の弾性波デバイス。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8436514B2 (en) * 2007-10-30 2013-05-07 Kyocera Corporation Acoustic wave device comprising an inter-digital transducer electrode
KR101166637B1 (ko) * 2007-12-14 2012-07-18 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 표면파 장치 및 그 제조방법
JP5588836B2 (ja) * 2010-11-12 2014-09-10 太陽誘電株式会社 弾性波デバイス
CN103460599B (zh) 2011-03-28 2016-08-17 株式会社村田制作所 电子部件及其制造方法
JP5873311B2 (ja) 2011-11-29 2016-03-01 太陽誘電株式会社 弾性波デバイス及び多層基板
JP6261867B2 (ja) 2013-01-25 2018-01-17 太陽誘電株式会社 弾性波デバイスの製造方法
JP6646089B2 (ja) * 2018-02-22 2020-02-14 京セラ株式会社 弾性波装置および回路基板

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3634055B2 (ja) 1996-02-26 2005-03-30 株式会社日立国際電気 弾性表面波装置及びその製造方法
JP2000114918A (ja) * 1998-10-05 2000-04-21 Mitsubishi Electric Corp 表面弾性波装置及びその製造方法
JP2001053178A (ja) * 1999-06-02 2001-02-23 Japan Radio Co Ltd 電子回路装置が封止され回路基板に実装される電子部品及びその製造方法
DE10006446A1 (de) * 2000-02-14 2001-08-23 Epcos Ag Verkapselung für ein elektrisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung
US6703768B2 (en) * 2000-09-27 2004-03-09 Citizen Watch Co., Ltd. Piezoelectric generator and mounting structure therefor
JP2002261582A (ja) 2000-10-04 2002-09-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波デバイスおよびその製造方法ならびにそれを用いた回路モジュール
JP3772702B2 (ja) 2001-07-23 2006-05-10 松下電器産業株式会社 弾性表面波装置の製造方法
KR100431181B1 (ko) * 2001-12-07 2004-05-12 삼성전기주식회사 표면 탄성파 필터 패키지 제조방법
JP4179038B2 (ja) * 2002-06-03 2008-11-12 株式会社村田製作所 表面弾性波装置
KR100541084B1 (ko) * 2003-08-20 2006-01-11 삼성전기주식회사 표면 탄성파 필터 패키지 제조방법 및 그에 사용되는패키지 시트
CN100550618C (zh) * 2004-07-14 2009-10-14 株式会社村田制作所 压电器件及制作方法
JP2006217225A (ja) 2005-02-03 2006-08-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波デバイスの製造方法
KR100691160B1 (ko) * 2005-05-06 2007-03-09 삼성전기주식회사 적층형 표면탄성파 패키지 및 그 제조방법

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