JP4882681B2 - 半導体レーザ、光ピックアップおよび光ディスク装置 - Google Patents
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Description
この発明が解決しようとする他の課題は、この半導体レーザを光源に用いた光ピックアップおよび光ディスク装置を提供することである。
この発明が解決しようとするさらに他の課題は、窒化物系III−V族化合物半導体層上に電極を形成した後にアロイ工程を行わない場合に、電極が劈開時などに剥がれたり、剥がれかかったりするのを有効に防止することができ、この電極に起因する故障を防止することができる、窒化物系III−V族化合物半導体を用いた半導体レーザ、発光ダイオード、電子走行素子などを含む半導体装置およびその製造方法を提供することである。
レーザ構造が形成されたn型GaN基板101を劈開して共振器端面を形成する際に、この共振器端面付近のp側電極113が剥がれたり、剥がれかかった状態となるのを防止するためには、(1)p側電極113の形成後にアロイ工程を導入してp型GaNコンタクト層109とp側電極113との密着性を向上させること、(2)劈開時の応力を低減すること、(3)劈開時の応力をp側電極113とp型GaNコンタクト層109との界面に伝えないようにすること、などの対策が考えられる。(1)では、p型GaNコンタクト層109とp側電極113とのアロイ化(合金化)を行うことによって一般的には密着性を向上させることができるが、すでに述べたようにp側電極113のコンタクト抵抗が悪化するという弊害がある。また、(2)、(3)では、劈開時には硬いGaN系半導体結晶を割ることになるので、ある程度の応力を発生させる必要があり応力低減には限界がある一方、n型GaN基板101の厚さを小さくすることで応力を低減することは可能であるが、こうするとn型GaN基板101が割れやすくなり、歩留まりが著しく低下する。従って、アロイを行わない(ノンアロイ)条件で、劈開時の応力をp側電極113とp型GaNコンタクト層109との界面に伝えず、かつ、p側電極113のコンタクト抵抗の低減を実現する特有の電極構造が必要となる。
この対策は、リッジストライプ110上にp側電極113を形成する場合だけでなく、窒化物系III−V族化合物半導体層上にアロイ工程を伴わずに電極を形成する半導体レーザであれば同様に有効であり、より一般的には、半導体レーザだけでなく、発光ダイオードやFETなどの電子走行素子を含む各種の半導体装置において窒化物系III−V族化合物半導体層上にアロイ工程を伴わずに電極を形成する場合に有効である。
レーザ構造を形成する窒化物系III−V族化合物半導体層上に電極がそれらの界面で合金化することなく設けられている半導体レーザにおいて、
上記電極の少なくとも一部分が、n層(nは2以上の整数)の金属膜を含む金属積層膜からなり、
上記金属積層膜の合計の厚さが300nm以上であり、かつ、上記金属積層膜の下からi番目の金属膜の剛性率および厚さをそれぞれGi およびti とし、上記金属積層膜の等価平均剛性率を
ことを特徴とするものである。
基板上にレーザ構造を形成する窒化物系III−V族化合物半導体層を成長させる工程と、
上記窒化物系III−V族化合物半導体層上に、合金化処理を伴うことなく電極を形成し、この際、この電極の少なくとも一部分を、n層(nは2以上の整数)の金属膜を含む金属積層膜であって、上記金属積層膜の合計の厚さが300nm以上であり、かつ、上記金属積層膜の下からi番目の金属膜の剛性率および厚さをそれぞれGi およびti とし、上記金属積層膜の等価平均剛性率を
ことを特徴とする半導体レーザの製造方法である。
光源に半導体レーザを用いた光ピックアップにおいて、
上記半導体レーザとして、
レーザ構造を形成する窒化物系III−V族化合物半導体層上に電極がそれらの界面で合金化することなく設けられている半導体レーザにおいて、
上記電極の少なくとも一部分が、n層(nは2以上の整数)の金属膜を含む金属積層膜からなり、
上記金属積層膜の合計の厚さが300nm以上であり、かつ、上記金属積層膜の下からi番目の金属膜の剛性率および厚さをそれぞれGi およびti とし、上記金属積層膜の等価平均剛性率を
ことを特徴とするものである。
光源に半導体レーザを用いた光ディスク装置において、
上記半導体レーザとして、
レーザ構造を形成する窒化物系III−V族化合物半導体層上に電極がそれらの界面で合金化することなく設けられている半導体レーザにおいて、
上記電極の少なくとも一部分が、n層(nは2以上の整数)の金属膜を含む金属積層膜からなり、
上記金属積層膜の合計の厚さが300nm以上であり、かつ、上記金属積層膜の下からi番目の金属膜の剛性率および厚さをそれぞれGi およびti とし、上記金属積層膜の等価平均剛性率を
ことを特徴とするものである。
好適には、電極を構成する金属積層膜の合計の厚さが500nm以上であり、かつ、Ge ≦50GPaであるが、これに限定されるものではない。
Pd 11.3 5.11
Pt 16.8 6.1
Au 7.8 2.7
Ti 11.57 4.38
Ni 21.9 8.39
Al 7.03 2.61
Ag 8.27 3.03
Sn 4.99 1.84
GaN(参考) 15
光ディスク装置には、再生(読み出し)専用のもの、記録(書き込み)専用のもの、再生および記録が可能なもののいずれも含まれ、再生および/または記録の方式も特に問わない。光ピックアップはこのような光ディスク装置に用いて好適なものである。
窒化物系III−V族化合物半導体層上に電極がそれらの界面で合金化することなく設けられている半導体装置において、
上記電極の少なくとも一部分が、n層(nは2以上の整数)の金属膜を含む金属積層膜からなり、
上記金属積層膜の合計の厚さが300nm以上であり、かつ、上記金属積層膜の下からi番目の金属膜の剛性率および厚さをそれぞれGi およびti とし、上記金属積層膜の等価平均剛性率を
ことを特徴とするものである。
基板上に窒化物系III−V族化合物半導体層を成長させる工程と、
上記窒化物系III−V族化合物半導体層上に、合金化処理を伴うことなく電極を形成し、この際、この電極の少なくとも一部分を、n層(nは2以上の整数)の金属膜を含む金属積層膜であって、上記金属積層膜の合計の厚さが300nm以上であり、かつ、上記金属積層膜の下からi番目の金属膜の剛性率および厚さをそれぞれGi およびti とし、上記金属積層膜の等価平均剛性率を
ことを特徴とする半導体装置の製造方法である。
第5および第6の発明においては、上記以外のことは、その性質に反しない限り、第1〜第4の発明に関連して説明したことが成立する。
図1はこの発明の第1の実施形態によるGaN系半導体レーザを示す。
図1に示すように、このGaN系半導体レーザにおいては、n型GaN基板1上に、n型AlGaNクラッド層2、n型GaN光導波層3、アンドープのGa1-x Inx N(量子井戸層)/Ga1-y Iny N(障壁層、x>y)多重量子井戸構造の活性層4、アンドープInGaN光導波層5、アンドープAlGaN光導波層6、p型AlGaN電子障壁層7、p型GaN/アンドープAlGaN超格子クラッド層8およびp型GaNコンタクト層9が順次積層されている。n型AlGaNクラッド層2およびn型GaN光導波層3には、n型不純物として例えばSiがドーピングされている。また、p型AlGaN電子障壁層7、p型GaN/アンドープAlGaN超格子クラッド層8を構成するp型GaN層およびp型GaNコンタクト層9には、p型不純物として例えばMgがドーピングされている。p型GaN/アンドープAlGaN超格子クラッド層8の上部およびp型GaNコンタクト層9には、一方向(共振器長方向)に直線状に延在してリッジストライプ10が形成されている。このリッジストライプ10の両側面およびその外側の部分のp型GaN/アンドープAlGaN超格子クラッド層8上に延在してSiO2 膜11およびその上のアンドープSi膜12が形成されている。リッジストライプ10のp型GaNコンタクト層9にオーミックコンタクトしてp側電極13が形成されている。このp側電極13はアンドープSi膜12上に延在して形成され、また、一方の共振器端面から他方の共振器端面にわたっ、すなわち共振器長方向の全長にわたって形成されている。一方、n型GaN基板1の裏面にn側電極14がオーミックコンタクトして形成されている。
まず、n型GaN基板1上に、例えば有機金属化学気相成長(MOCVD)法により、n型AlGaNクラッド層2、n型GaN光導波層3、活性層4、アンドープInGaN光導波層5、アンドープAlGaN光導波層6、p型AlGaN電子障壁層7、p型GaN/アンドープAlGaN超格子クラッド層8およびp型GaNコンタクト層9を順次エピタキシャル成長させる。ここで、Inを含まない層であるn型AlGaNクラッド層2、n型GaN光導波層3、アンドープAlGaN光導波層6、p型AlGaN電子障壁層7、p型GaN/アンドープAlGaN超格子クラッド層8およびp型GaNコンタクト層9の成長温度は例えば1000℃程度とし、Inを含む層であるGa1-x Inx N/Ga1-y Iny N多重量子井戸構造の活性層4およびアンドープInGaN光導波層5の成長温度は例えば700〜800℃、例えば730℃とするが、これに限定されるものではない。
この後、レーザ構造が形成されたn型GaN基板1を劈開によりバー状に加工して一対の共振器端面を形成し、必要に応じて端面コーティングを施し、さらにこのバーをチップ化する。この共振器端面を形成するための劈開時には、p側電極13のうちの共振器端面から共振器長方向に少なくとも100μm以内の部分が、上述のように合計の厚さが300nm以上でかつGe ≦55GPaの金属積層膜により構成されていることにより、p側電極13が剥がれるのを有効に防止することができる。
以上により、図1に示すGaN系半導体レーザが製造される。
p側電極13を(Pd/Pt)/(Ti/Pt/Au/Pt)=(50nm/100nm)/(10nm/100nm/200nm/100nm)の6層の金属膜の金属多層膜により形成した。この金属多層膜の合計の厚さは50+100+10+100+200+100=560nm、この金属多層膜の等価平均剛性率は
Ge =(5.11×1010×50×10-9+6.1×1010×100×10-9+4.38×1010×10×10-9+6.1×1010×100×10-9+2.7×1010×200×10-9+6.1×1010×100×10-9)/(50×10-9+100×10-9+10×10-9+100×10-9+200×10-9+100×10-9)
=26693/(560×10-9)
=4.766×1010Pa
=47.66GPa
であり、金属多層膜の合計の厚さが300nm以上でかつGe ≦55GPaの条件を満たす。
このようにp側電極13が(Pd/Pt)/(Ti/Pt/Au/Pt)=(50nm/100nm)/(10nm/100nm/200nm/100nm)の6層の金属膜の金属多層膜からなる場合の共振器端面付近のp側電極13およびリッジストライプ10の部分の断面TEM写真を図2に示す。図2に示すように、劈開により形成された共振器端面付近のp側電極13(図2中では単に電極と示す)とp型GaNコンタクト層9(図2中では単に半導体と示す)との間には隙間が観測されない。また、この図2に示す構造のGaN系半導体レーザにおいて高出力を得るために電流を増加させた場合の共振器端面付近のp側電極13の様子を観測したところ、p側電極13の剥がれは観測されず、p側電極13の破壊は何ら観測されなかった。
p側電極13を(Pd/Pt)/(Ti/Pt/Ni)=(50nm/100nm)/(10nm/100nm/100nm)の5層の金属膜からなる従来の金属多層膜により形成した。この金属多層膜の合計の厚さは50+100+10+100+100=360nm、この金属多層膜の等価平均剛性率は
Ge =(5.11×1010×50×10-9+6.1×1010×100×10-9+4.38×1010×10×10-9+6.1×1010×100×10-9+8.39×1010×100×10-9)/(50×10-9+100×10-9+10×10-9+100×10-9+100×10-9)
=23583/(360×10-9)
=6.55×1010Pa
=65.5GPa
であり、金属多層膜の合計の厚さが300nm以上でかつGe ≦55GPaの条件を満たさない。
このようにp側電極13が(Pd/Pt)/(Ti/Pt/Ni)=(50nm/100nm)/(10nm/100nm/100nm)の5層の金属膜の金属多層膜からなる場合の共振器端面付近のp側電極13およびリッジストライプ10の部分の断面TEM写真は図15に示すとおりであり、すでに述べたように、劈開により形成された共振器端面付近のp側電極13に劈開時に引っ張られた形跡が観測されるとともに、p側電極13とp型GaNコンタクト層9との間に10nm程度の厚さの隙間が観測された。また、図16に示すように、この構造のGaN系半導体レーザにおいて高出力を得るために電流を増加させた場合の共振器端面付近のp側電極13の様子を観測したところ、共振器端面付近のp側電極13はほとんど剥がれ、破壊された。
図3に示すように、このGaN系半導体レーザは、アンドープAlGaN光導波層6の上部、p型AlGaN電子障壁層7、p型GaN/アンドープAlGaN超格子クラッド層8およびp型GaNコンタクト層9にリッジストライプ10が形成されていることを除いて、第1の実施形態によるGaN系半導体レーザと同様な構成を有する。
図6に示すように、このGaN系半導体レーザにおいては、p型AlGaN電子障壁層7とp型GaN/アンドープAlGaN超格子クラッド層8との間に、p型GaN層の間にp型InGaN層を挟んだ構造の可飽和吸収層15が設けられている。p型GaN/アンドープAlGaN超格子クラッド層8およびp型GaNコンタクト層9に形成されたリッジストライプ10の両側には溝16、17が形成されている。これらの溝16、17の外側の部分のp型GaNコンタクト層9上に例えばSiO2 膜のような絶縁膜18が形成されている。また、リッジストライプ10の両側面、溝16、17およびその外側の部分の絶縁膜18上に延在してSiO2 膜11およびその上のアンドープSi膜12が形成されている。リッジストライプ10のp型GaNコンタクト層9にオーミックコンタクトしてp側電極13が形成されている。このp側電極13は溝16、17の外側の部分のアンドープSi膜12上に延在して形成されている。
このGaN系半導体レーザの上記以外の構成は、第1の実施形態によるGaN系半導体レーザと同様である。
この後、第1の実施形態と同様にして劈開以降の工程を進め、目的とするGaN系半導体レーザを製造する。
1/τs =1/τr +1/τnr
この式から、非発光再結合寿命時間τnrが短くなると、キャリア寿命時間τs も短くなることが分かる。
図12に示すように、このGaN系半導体レーザは、溝16、17の底面が可飽和吸収層15の上面と下面との間に位置していることを除いて、第3の実施形態によるGaN系半導体レーザと同様な構成を有する。この場合、溝16、17の底面および側面下部の近傍の可飽和吸収層15にエッチングダメージが生じている。
この第4の実施形態によれば、第1および第3の実施形態と同様な利点を得ることができる。
図13に示すように、このGaN系半導体レーザは、溝16、17の底面が可飽和吸収層15の下面より下側に位置していることを除いて、第3の実施形態によるGaN系半導体レーザと同様な構成を有する。この場合、溝16、17の側面近傍の可飽和吸収層15にエッチングダメージが生じている。
この第5の実施形態によれば、第1および第3の実施形態と同様な利点を得ることができる。
例えば、上述の実施形態において挙げた数値、構造、基板、プロセスなどはあくまでも例に過ぎず、必要に応じて、これらと異なる数値、構造、基板、プロセスなどを用いてもよい。
また、必要に応じて、上述の第1〜第5の実施形態のうちの二以上を組み合わせてもよい。
なお、溝16、17の底面から可飽和吸収層15の上面までの距離t2 をt2 >105nmに選び、これらの溝16、17にイオン注入を行うことによりこれらの溝16、17の底面の下方の可飽和吸収層15に例えばドライエッチングによるエッチングダメージと同程度の損傷を生じさせることによっても、可飽和吸収層15のキャリア寿命時間の低減を十分に図ることが可能である。
Claims (9)
- レーザ構造を形成する窒化物系III−V族化合物半導体層を有し、
上記窒化物系III−V族化合物半導体層は、
n側クラッド層と、
上記n側クラッド層上のn側光導波層と、
上記n側光導波層上の活性層と、
上記活性層上のp側光導波層と、
上記p側光導波層上の電子障壁層と、
上記電子障壁層上のp側クラッド層と、
上記p側クラッド層上のp型コンタクト層とを有し、
上記p側光導波層の上部、上記電子障壁層、上記p側クラッド層および上記p型コンタクト層にリッジストライプが形成されてこのリッジストライプの中に上記電子障壁層が完全に含まれており、
上記電子障壁層と上記リッジストライプの両側の部分の底面との間の距離が10nm以上であり、
上記p型コンタクト層上にp側電極がそれらの界面で合金化することなく設けられ、
上記p側電極の少なくとも一部分が、n層(nは2以上の整数)の金属膜を含む金属積層膜からなり、
上記金属積層膜の合計の厚さが300nm以上であり、かつ、上記金属積層膜の下からi番目の金属膜の剛性率および厚さをそれぞれGi およびti とし、上記金属積層膜の等価平均剛性率を
- 上記金属積層膜の合計の厚さが500nm以上であり、かつ、G e ≦50GPaである請求項1記載の半導体レーザ。
- 上記金属積層膜がPd、PtおよびNiからなる群より選ばれた少なくとも1種類の金属を含む請求項1または2記載の半導体レーザ。
- 上記金属積層膜を構成する上記n層の金属膜が互いに混ざり合っていない請求項1〜3のいずれか一項記載の半導体レーザ。
- 上記金属積層膜がPd、PtおよびNiからなる群より選ばれた少なくとも2種類の金属を含む請求項1または2記載の半導体レーザ。
- 上記金属積層膜を構成する上記n層の金属膜が互いに混ざり合っていない請求項5記載の半導体レーザ。
- 上記p側電極のうちの共振器端面から共振器長方向に少なくとも100μm以内の部分が上記金属積層膜からなる請求項1〜6のいずれか一項記載の半導体レーザ。
- 光源に半導体レーザを用い、
上記半導体レーザとして、
レーザ構造を形成する窒化物系III−V族化合物半導体層を有し、
上記窒化物系III−V族化合物半導体層は、
n側クラッド層と、
上記n側クラッド層上のn側光導波層と、
上記n側光導波層上の活性層と、
上記活性層上のp側光導波層と、
上記p側光導波層上の電子障壁層と、
上記電子障壁層上のp側クラッド層と、
上記p側クラッド層上のp型コンタクト層とを有し、
上記p側光導波層の上部、上記電子障壁層、上記p側クラッド層および上記p型コンタクト層にリッジストライプが形成されてこのリッジストライプの中に上記電子障壁層が完全に含まれており、
上記電子障壁層と上記リッジストライプの両側の部分の底面との間の距離が10nm以上であり、
上記p型コンタクト層上にp側電極がそれらの界面で合金化することなく設けられ、
上記p側電極の少なくとも一部分が、n層(nは2以上の整数)の金属膜を含む金属積層膜からなり、
上記金属積層膜の合計の厚さが300nm以上であり、かつ、上記金属積層膜の下からi番目の金属膜の剛性率および厚さをそれぞれG i およびt i とし、上記金属積層膜の等価平均剛性率を
- 光源に半導体レーザを用い、
上記半導体レーザとして、
レーザ構造を形成する窒化物系III−V族化合物半導体層を有し、
上記窒化物系III−V族化合物半導体層は、
n側クラッド層と、
上記n側クラッド層上のn側光導波層と、
上記n側光導波層上の活性層と、
上記活性層上のp側光導波層と、
上記p側光導波層上の電子障壁層と、
上記電子障壁層上のp側クラッド層と、
上記p側クラッド層上のp型コンタクト層とを有し、
上記p側光導波層の上部、上記電子障壁層、上記p側クラッド層および上記p型コンタクト層にリッジストライプが形成されてこのリッジストライプの中に上記電子障壁層が完全に含まれており、
上記電子障壁層と上記リッジストライプの両側の部分の底面との間の距離が10nm以上であり、
上記p型コンタクト層上にp側電極がそれらの界面で合金化することなく設けられ、
上記p側電極の少なくとも一部分が、n層(nは2以上の整数)の金属膜を含む金属積層膜からなり、
上記金属積層膜の合計の厚さが300nm以上であり、かつ、上記金属積層膜の下からi番目の金属膜の剛性率および厚さをそれぞれG i およびt i とし、上記金属積層膜の等価平均剛性率を
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