JP4881792B2 - 光学素子、複合光学素子及び光学素子の製造方法 - Google Patents

光学素子、複合光学素子及び光学素子の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4881792B2
JP4881792B2 JP2007142225A JP2007142225A JP4881792B2 JP 4881792 B2 JP4881792 B2 JP 4881792B2 JP 2007142225 A JP2007142225 A JP 2007142225A JP 2007142225 A JP2007142225 A JP 2007142225A JP 4881792 B2 JP4881792 B2 JP 4881792B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical element
periodic structure
ridges
dielectric
phase plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007142225A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008298869A (ja
Inventor
和博 梅木
利通 名須川
秀明 平井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Optical Industries Co Ltd
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Optical Industries Co Ltd
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Optical Industries Co Ltd, Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Optical Industries Co Ltd
Priority to JP2007142225A priority Critical patent/JP4881792B2/ja
Publication of JP2008298869A publication Critical patent/JP2008298869A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4881792B2 publication Critical patent/JP4881792B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Optical Head (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Description

本発明は、光学素子、複合光学素子及び光学素子の製造方法に関する。
位相板は、光学素子の一種で、互いに直交する偏光成分間に位相差を与える光学的機能を持ち、位相差板、波長板などとも呼ばれている。これらの位相差板は、光ピックアップ装置、画像投射装置、画像形成装置、液晶パネルなど種々の光学装置に用いられている。従来、位相板は、人造または天然の、ルチル、方解石、水晶など「複屈折性を示す一軸異方性結晶」を用いたものが知られているが、人造のものは「結晶を均一に成長させる」ことが難しく非常に高価になる。天然の結晶は「光学的に均一で大きな形状のもの」が入手困難で高価である。また、このような「結晶材料を用いた位相板」は、波長により位相差形成特性が特定され、動作波長範囲が狭いという問題もあった。
位相板の用途拡大に伴い、構造性複屈折を利用した構造性複屈折波長板が開発され、広帯域の波長範囲に対して機能できる位相板として、波長よりも小さいピッチの凹凸の周期構造の誘電体で形成されたサブ波長構造(SWS)による位相板が提案されている。例えば、特許文献1には、サブ波長構造をガラス基板の表面構造として形成した位相板が開示されている。特許文献2には平行平板を基板として平面状に格子構造を転写した位相板が開示されているが、平行平板や格子構造を転写される部分の材質に関しては全く記載されていない。特許文献3には、複数の波長の光を位相差調整できる波長板が提案されている。特許文献
非特許文献1には、サブ波長構造の形成方法として、樹脂バルク材を用いる熱式ナノインプリント方法が開示されている。この熱式ナノインプリント方法は、比較的容易に樹脂製のサブ波長構造を形成できる。
特開2005− 44429号公報 特開2005−106901号公報 特開2004−258297号公報 KONICA MINOLTA TECHNOLOGY REPORT VOL.2(2005) p97−100 「ナノインプリント技術を利用したサブ波長構造広帯域波長板の作製」
位相板の材料を光学材料として多用されているPMMA(ポリメタクリル酸メチル)樹脂とする場合を想定すると、サブ波長構造により互いに直交する偏光成分に対して与えられる位相差は、サブ波長の周期構造の凹部の溝幅に対する凹部の深さ(凸部の高さでもある。)の比であるアスペクト比に比例するため、例えば1/2波長の位相差を実現するためにはアスペクト比が10近くなる。このような位相板は、薄い上にアスペクト比の大きい構造のため、製造工程中又は光学機器への取付け中に破損や変形が起こりやすく、周期構造の形状維持が難しいという問題がある。このような問題は、サブ波長の周期構造を持つ光学素子全般の問題であった。
ガラスや屈折率の大きな他の無機材料を誘電体材料として利用した場合でも、サブミクロンの周期構造における凸部は、樹脂製の位相板ほどでないにしても、製造工程中や光学機器への取付け中の摩耗や破損による光学特性の変化が問題となる。また、熱可塑性のない材料では、上述の熱式ナノインプリント方法がそのままでは適用できない。
本発明の目的は、上記課題を踏まえ、製造工程中又は光学機器への取付け中などに周期構造の形状維持が容易な丈夫な構造をした光学素子及びこの光学素子を備えた複合光学素子、並びに光学素子の製造方法を提供することである。
上記課題を解決するため本発明者等は、以下の発明を完成した。
本発明は、サブ波長のピッチを有する凹条と凸条の周期構造を持つ誘電体からなり、周期構造の凹部に、隣接する凸条同士を結合する支柱を設けた光学素子であって、
前記支柱の間隔は、支柱の幅を(X)としたとき、下記式(1)
Ln(Y)=Ln(18.7)+1.22(X)・・・・式(1)
で表される(Y)以上であることを特徴とする光学素子である。
好ましい本発明は、前記支柱が、凹条に所定間隔で周期的に配置されていることを特徴とする前記光学素子である。
好ましい本発明は、前記支柱の配列が、光学素子の周期構造を上部から見た際に、周期構造に対し垂直な配置、周期構造に対し斜行した配置、周期構造方向に対し千鳥状の配置のいずれかであることを特徴とする前記光学素子である。
好ましい本発明は、前記凹条中の支柱の間隔が、使用される波長より広いことを特徴とする前記光学素子である。
好ましい本発明は、前記凹条の溝深さは、前記凹条の幅以上であることを特徴とする前記光学素子である。
好ましい本発明は、前記支柱の高さが、凸条の高さ以下であることを特徴とする前記光学素子である。
好ましい本発明は、凹条及び凸条の断面形状が、それぞれ矩形を含む多角形、又はU字形であることを特徴とする前記光学素子である。
好ましい本発明は、凹条及び凸条が、直線状、円形状、楕円形状及び多角形状のいずれかであることを特徴とする前記光学素子である。
本発明は、表面に前記光学素子を備えたことを特徴とする複合光学素子である。
好ましい本発明は、前記光学素子が、表面の一部に配置されていることを特徴とする前記複合光学素子である。
本発明は、誘電体表面に可塑性の硬化型樹脂前駆体を配置する工程と、前記誘電体表面に配置された硬化型樹脂前駆体を成形型により誘電体表面の周期構造の凸条及び隣接する凸条同士を結合する支柱に相当する位置に配置する工程と、周期構造の凸条及び支柱に相当する位置に配置された硬化型樹脂前駆体を硬化させて硬化型樹脂の凸部を形成する工程と、硬化型樹脂の凸部を形成された誘電体の凸部を形成されていない表面の一部をドライエッチングにより除去し凹条を形成する工程と、凹条を形成された誘電体から硬化型樹脂を除去する工程とを含むことを特徴とする前記光学素子の製造方法である。
本発明は、誘電体表面にフォトレジスト樹脂を配置する工程と、前記誘電体表面に配置されたフォトレジスト樹脂を露光して、誘電体表面の周期構造の凸条及び隣接する凸条同士を結合する支柱に相当する位置にレジストパターンを形成する工程と、レジストパターンを形成された誘電体のレジストパターンを形成されていない表面の一部をドライエッチングにより除去し凹条を形成する工程と、凹条を形成された誘電体表面からフォトレジスト樹脂を除去する工程とを含むことを特徴とする前記光学素子の製造方法である。
本発明によれば、製造工程中又は光学機器への取付け中などに周期構造の形状維持が容易な丈夫な構造をした光学素子及びこの光学素子を備えた複合光学素子の提供、並びに光学素子の製造方法を提供することができる。
本発明を実施するための最良の形態を必要に応じて図面を参照にして説明する。なお、いわゆる当業者は特許請求の範囲内における本発明を変更・修正をして他の実施形態をなすことは容易であり、これらの変更・修正はこの特許請求の範囲に含まれるものであり、以下の説明はこの発明の好ましい形態における例であって、この特許請求の範囲を限定するものではない。
(実施形態1)
本発明の光学素子は、サブ波長の厚さを有する凹条と凸条の周期構造を持津誘電体からなり、周期構造の凹条中に、隣接する凸条同士を結合する支柱を設けている。図1に本発明の光学素子の例を実施形態1の位相板として示す。図1(a)は、本発明の位相板の一部を表す平面図である。図1(b)は、そのa1−a1断面の断面図、図1(c)は、b1−b1断面の断面図である。従来の位相板は、図5に示すように、図1(a)における縦横の格子状の凸条のうち、横方向の凸条がない状態のものである。本発明の位相板は、図1に示すように、周期構造の隣接する凸条の間に、凸条と同じ高さの支柱が存在し、これが凸条の周期構造方向への応力に対して抗力を発揮する構造となっている。別の表現をすれば、この構造は、縦横の格子状に凸条が形成されているので、凸条に応力がかかっても、従来の位相板の凸条のように周期構造方向の強度が特に弱いということがない。図1においては、アスペクト比(h/S)を5程度としているが、これが10以上になれば格段に強度差が出てくる。
図1において周期構造の凹凸は断面形状が矩形波形状であり、このような矩形波状の凹凸が、図面に直交する方向へ均一な断面形状で形成されている。従って、周期構造における凸部は図面に直交する方向に長い「凸条」をなし、凹部は図面に直交する方向に長い「凹条」又は「溝」をなす。凸条をなす凸部を「ランド」と呼び、凹条をなす凹部を「スペース」と呼ぶ。
断面矩形波状の周期構造の間隔(ピッチ)PXは、図に示すように、1対をなすランドとスペースのランド幅Lとスペース幅Sの和(L+S)となる。また、スペース底部に対するランドの高さを溝深さhとする。
このとき、フィリングファクタは(L/PX)、アスペクト比は(h/S)である。即ち、フィリングファクタが大きいことは、ピッチPXに占めるランド幅Lが大きいことを意味し、アスペクト比が大きいほど、スペース幅Sに対する溝深さhが大きい。アスペクト比は、周期構造形成の容易さ、周期構造の強度等の観点から10よりも小さいこと、より好ましくは、5程度以下が望ましい。しかし、位相板としての性能、偏光の選択性、位相差の選択の自由度等からは、アスペクト比が大きい方が好ましく、アスペクト比は、1以上、より好ましくは3以上とすることが現実的である。
支柱は、それぞれの凹条において所定間隔で周期的に配置されていることが好ましい。支柱の間隔を周期的にすることで、位相板の凸条の強度を平準化出来る。
支柱の間隔PYは、位相板を作用させようとしている光の波長の周期より広いことが好ましい。光の波長の周期以下であると、この支柱自身が位相板の作用を発揮し、本来の周期構造から想定される位相板の機能を変化させてしまう可能性があるからである。なお、支柱による光の回折作用を考慮すると、支柱の間隔PYは、光の波長の周期の3倍以上、特に5倍以上とすることが好ましい。さらに、支柱の幅LYが1μm以上であるときには、支柱の間隔PYは20μm以上であることが好ましい。
図14には、支柱の幅LYをパラメータとして、支柱の間隔PYに対する位相板の効率の計算結果のグラフを示した。なお、グラフにおける計算の前提条件を下に示した。
(前提条件)
周期構造のピッチPX:0.5μm
周期構造の凸条の幅L:0.2ミクロン
周期構造の凹条の溝深さh:2.5μm
フィリングファクタ(L/PX):0.4
使用光線の波長:808nm
位相差板の屈折率:1.45
効率の対象:0次透過率
支柱の幅LY:0.2〜2ミクロン(パラメータとしている。)
支柱の間隔PY:変数。
グラフから判るように、この条件下では、支柱の幅LYが0.2μmのときは、支柱の間隔PYが約2μmで効率70%以上とすることが出来る。そして、支柱の間隔PYが10μm以上であれば、ほとんど支柱の影響がない。支柱の幅LY間隔PYが10ミクロンの場合においても、支柱の間隔PYを20μm以上とすれば、ほとんど支柱の影響を受けない。
偏光の透過率が97%以上となるようにするための支柱の幅と支柱間のピッチには、相関関係があり、支柱幅(X)を0.2,0.5,1.0,2.0μmとしたときの支柱間のピッチ(Y)は、それぞれおよそ20,40,70,200μm以上とすれば十分である。この関係は、概略下式で表すことが出来る。
Ln(Y)=Ln(18.7)+1.22X
(実施形態2)
本発明の光学素子の実施形態2として、図2に例示する位相板がある。この位相板は、図1に示した位相板とは支柱の高さが異なっている。図1(b)と図2(b)にその違いが表されているように、この実施形態の位相板は、支柱の高さが(h/N)である。なお、ここでNは1より大きな数である。Nとしては、3、好ましくは2以下とすることが望ましい。このように支柱の高さを周期構造の凸条より低くすることにより、支柱による位相差形成の効果を低減でき、図14で示した効率(0次透過率)を向上させることが出来る。しかし、支柱の高さが低すぎれば、当然周期構造の凸条の強度保持には不利に働く。そこで、支柱の高さh/Nは、凸条の高さhの1/1から1/3程度とすることが好ましい。
(実施形態3)
本発明の光学素子の実施形態3として、図3に例示する位相板がある。この位相板は、図2に示した位相板の変形で、支柱の断面形状が矩形ではなく、図3(b)、(c)に示すように上部が略U字形になっている。周期構造の凸条と支柱は結合しているが、これは凸条が図の左右からの応力により破壊や変形することを防ぐためである。この目的からすれば、支柱の断面形状は、上部がU字形や三角形などとなっていても良い。とくに略U字形となった構造は製作の容易製から好ましい形状である。
(実施形態4)
本発明の光学素子の実施形態4として、図4に例示する位相板がある。この位相板は、支柱の配置を工夫した位相板である。実施形態4の位相板は、図4に示すように周期構造のそれぞれの凹条における支柱の配置が隣の凹条における位置とは独立して配置されている。図4(a)に示すように、この位相板の支柱の配置は、隣り合う凹条で支柱間隔のほぼ1/2だけ周期的にずれている。これを千鳥構造の支柱配置と呼ぶ。このように、支柱は、それぞれの凹条において独立に配置しても良い。
(実施形態5)
本発明の光学素子の実施形態5として、図5に例示する位相板がある。この位相板は、別の面から支柱の配置を工夫した位相板である。この位相板は、図5(a)の平面図に示すように、支柱が周期構造に対し直角に配置されていないことが特徴である。図5に示す例では、支柱が平面図上で直線的に配置されているが、支柱の配置は、平面図上で同心円を描いたり、波状の曲線を描くようにしても良い。実施形態4,5に示す支柱の形態は、追って説明する周期構造の凸条と凹条が直線状でなく、円形状や楕円形状のようなときに効果的な配置である。
(実施形態6)
本発明の光学素子の実施形態6として、図1に例示する位相板の凸条及び凹条の断面形状における角部の、少なくとも一方が丸みを帯びたU字形となった位相板がある。図7には、凸条及び凹条の断面形状が矩形図7(a)及びU字形図7(b)の断面形状を持った位相板の部分断面図を示した。特に、凹条の溝の奥に当たる角部は製作上、U字形になりやすい。このような位相板でも特に問題はなく、製作の精度を考慮すれば、むしろ現実的な形態である。
(実施形態7)
本発明の光学素子の実施形態7として、図8(b)に例示するように、位相板の凸条及び凹条における条の方向の全体形状として、凸条及び凹条が円形となったものがある。図1においては、位相板の一部の微細構造を示しているので、周期構造は平行な直線として描かれている。位相板の周期構造は全体として平行な直線状の凹条と凸条の繰り返し(図8(a)参照)でもよいが、凹条と凸条の繰り返しは、同心円を描く円形の凹条と凸条の繰り返しによる周期構造でもよい。この全体としての周期構造の形状は、その他にも楕円形状(図8(c)参照)や正方形、六角形、八角形などの多角形状(図8(d)参照)などでもよい。位相板としては、微細な部分でほぼ同じ形状の凹条と凸条が繰り返される周期構造が形成されていればよい。なお、図8においては、図8(a)〜(d)は、凹条中の支柱を図示しているが、支柱の配置は、凸条の強度が保たれるようにすればよく、それぞれの間隔をほぼ同じようにしておくことが好ましい。
[位相板を備えた複合光学素子]
(実施形態8)
本発明の実施形態8として、本発明の光学素子、例えば位相板を備えた複合光学素子がある。本発明の位相板も光学素子の一種ではあるが、この位相板は、他の光学素子、例えば偏光分離素子、プリズム、レンズあるいは他の位相板と組み合わせて使用される場合がある。一方で、本発明の位相板は非常に薄い構造とすることが出来るので、他の光学素子の表面に形成又は配置することが好ましい。このようにすれば、位相板の支持体が省略でき、素子の組み合わせを小型化出来る。又、個々の光学素子の組み合わせに比べ光を効率よく利用できる。なお、他の光学素子の表面に位相板を配置するときは、必要な部分のみに位相板を備えていればよい。
[光学素子の製造方法]
(実施形態9)
実施形態9は、本発明の光学素子である位相板の製造方法であり、以下の工程を含む。まず、(1)誘電体表面に可塑性の硬化型樹脂前駆体を配置する工程と、(2)配置された硬化型樹脂前駆体を成形型により誘電体表面の前記周期構造の凸条及び支柱に相当する位置に配置する工程と、(3)周期構造の凸条及び支柱に相当する位置に配置された硬化型樹脂前駆体を硬化させて硬化型樹脂の凸条を形成する工程と、(4)硬化型樹脂の凸条を形成された誘電体の凸条を形成されていない表面の一部をドライエッチングにより除去し凹条を形成する工程と、(5)凹条を形成された誘電体から硬化型樹脂を除去する工程とを含む。
実施形態9の位相板の製造方法を、図9〜11を参照にしながら説明する。まず、位相板の周期構造を形成するための成形型を作製する。成形型の作成方法を図9,10に示した。図9はシリコン製成形型、図10は石英製成形型の製作例である。図9はシリコン製成形型の製作例で説明すると、まず、目的とする位相板の周期構造面より少し大きめのシリコン基板上に電子線描画用フォトレジスト樹脂(レジストと略称することがある。)を塗布し、電子線により周期構造及び支柱に対応する模様を描画する。この場合、目的とする位相板の周期構造における凹条に対応する部分にレジストが残るように電子線描画する。
次の工程で、電子線描画されたレジスト塗布基板をリンスし、不要な部分のレジストを除去する。これにより、レジストによる周期構造及び支柱のマスクがシリコン基板上に現像される。
次の工程で、周期構造及び支柱のマスクが施されたシリコン基板の表面をKOH溶液でアルカリウェットエッチングし、マスクされていない表面部分を垂直にエッチングする。エッチングによりシリコン基板表面が露出している部分のみに垂直な凹部が形成される。なお、この実施例では、アルカリウェットエッチングで凹部を形成したが、ドライエッチング法によって凹部を形成してもよい。
最後に、マスクとして残留していたレジストを剥離する。レジストの剥離は、酸素ガスプラズマによる方法やCAROS洗浄法(硫酸と過酸化水素水の混合液による洗浄法)などによればよい。できあがった周期構造及び支柱の成形型は、図9(4)を参照すれば、ピッチPが目的とする位相板の周期構造と同じで、凸部の幅(ライン幅L)が目的とする位相板の周期構造の凹部(溝)の幅(スペース幅S)に相当するようにする。成形型の凸部の高さ(溝の深さD)は、目的とする位相板の周期構造における凸部の高さ(溝の深さ)と同じにする必要はなく、位相板の周期構造形成時のマスク用の樹脂の厚さに相当する厚さがあればよい。なお、支柱部分は位相板の周期構造の凸部と同じようにして形成できる考えておけばよい。
石英製成形型の製造方法を図10に示した。この場合は、基板としてシリコンの代わりに石英を用い手いるところが異なっている。石英をエッチングするため、図10(3)に示すようにドライエッチング法を採用している。エッチングガスとしては、C,CHFなどのガスを用いて垂直にエッチングする。エッチング装置としては、RIE,NlD,TCPなどが利用できる。その他はほとんどシリコン製成形型と同じようにして石英製成形型が製造できる。周期構造の構成についてもシリコン製成形型と同じである。成形型は、位相板製作時に成形型の上から紫外線を照射しマスク樹脂を硬化させる場合に備え、紫外線透過性の高い材料で製作することが好ましい。
次に、図11の工程[a]〜[i]を参照しながらシリコン製の位相板の製作工程について説明する。まず、ガラス基板上にスパッタリングによりシリコン膜を形成する(工程[a])。このシリコン膜の厚さは、後述のガラス基板をエッチングする際に目的とする位相板の周期構造における凹凸を形成する際に機能する厚さがあればよい。ガラス基板の厚さは、目的とする位相板の支持体の役目もあるので、0.05〜2mm、好ましくは0.1〜0.5mm程度とすればよい。
次いで、シリコン膜を形成したガラス基板上に硬化前の可塑性のある紫外線硬化樹脂の樹脂層を形成する(工程[b])。この樹脂層の厚さは、次の工程である成形型を樹脂層に押し当てて樹脂層に周期構造を転写する際に、成形型内に樹脂が十分に流れ込み、成形型内に入りきれない樹脂が大量にはみ出さない程度がよい。具体的な樹脂層の厚さは、成形型の溝の深さより僅かに厚い程度がよい。
樹脂層を形成したガラス基板上に石英製の成形型を押し当てて、成形型の周期構造を樹脂層に転写する。この際、成形型の凹部に十分に樹脂が入り込み、かつ成形型の凸部とシリコン薄膜との間には樹脂層ができるだけ残らない程度に、ガラス基板に成形型を押圧する。ガラス基板に成形型を押圧して樹脂に周期構造を転写した状態で、紫外線硬化樹脂に紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させる(工程[c])。この場合、成形型が石英製であれば、成形型の上から紫外線を照射できる。硬化型樹脂が熱硬化型である場合は、熱をかけて樹脂を硬化させればよいので、シリコン製成形型を用いてもよい。
周期構造を破壊しないように注意して、ガラス基板から成形型を真上に引き抜くと、ガラス基板上に成形型の凹部に対応する樹脂製のマスクパターンが形成されている(工程[d])。しかし、同時に成形型の凹部に対応する部分以外にも薄い樹脂層が残っている場合が多いので、これを除去するため、成形型製造時に行ったような酸素ドライエッチングを行う(工程[e])。ここでは、残っている樹脂層のみを除去し、形成されたマスクパターンは出来るだけ変化させないように、必要最小限のエッチング操作をする。
マスクされていない部分にシリコン膜が露出したら、シリコン膜のエッチングを行う(工程[f])。シリコン膜のエッチングには、SF6,CHFなどのガスが用いられる。
シリコン膜がエッチングされたら、次にガラス基板のエッチングを行う(工程[g])。ガラス基板のエッチングは、C、Arガスを用いる。エッチングの深さは、ガラス基板の深さで測定し、目的とする位相板の凹条の深さに調整する。
ガラス基板のエッチングが終わったら、凸条の先端に付着している残樹脂とシリコンを除去する(工程[h])。アルカリ(KOH)溶液で洗浄してやればシリコンが剥離するので、簡単に除去することが出来る。これで、本発明のガラス製位相板ができあがる(工程[i])。
(実施形態10)
実施形態10においては、ガラス基板上にTa製の位相差板を形成する方法である。実施形態9に示した、ガラス基板上にガラス製の位相差板を形成する方法に類似しているので、図12の工程[a]〜[g]を参照しながら相違点を中心に説明する。
まず、ガラス基板上にTa膜を形成する(工程[a])。Ta膜は、シリコン膜同様スパッタリングで形成できる。Ta膜の厚さは、少なくとも目的とする位相板の周期構造における凹凸の深さより厚いものとする。具体的には、0.5μm以上好ましくは1ミクロン以上、さらに好ましくは3μm以上とする。ガラス基板は実施形態9と同じでよい。
次に、Ta膜を形成したガラス基板上に紫外線硬化樹脂層を形成し(工程[b])、成形型で押圧し、紫外線照射して紫外線硬化樹脂を硬化させ(工程[c])、樹脂マスクパターンを形成し(工程[d])、Ta膜上に残った余分の樹脂を酸素エッチングにより除去する工程(工程[e])は実施形態9と同じである。なお、この場合Ta膜は紫外線透過性があるので、紫外線はガラス基板側から照射することも出来る。その場合、成形型としてシリコン製成形型を利用することも出来る。
マスクパターンの完成したガラス基板表面のTa膜を実施形態9のガラスエッチング(図11の工程[g])と同様の操作でエッチングする(工程[f])。Ta膜を目的とする位相板の周期構造の深さまでエッチングしたら、樹脂マスクを剥離して(工程[g])目的とするTa製位相板が完成する。なお、樹脂マスクの剥離は酸素エッチングによればよい。
(実施形態11)
この実施形態11の位相板の製造方法は、(1)誘電体表面にフォトレジスト樹脂を配置する工程と、(2)配置されたフォトレジスト樹脂を露光して、誘電体表面の前記周期構造の凸条及び支柱に相当する位置にレジストパターンを形成する工程と、(3)レジストパターンを形成された誘電体のレジストパターンを形成されていない表面の一部をドライエッチングにより除去し凹条を形成する工程と、(4)凹条を形成された誘電体表面からフォトレジスト樹脂を除去する工程とを含む。
この位相板の製造方法についても、実施形態9に示した位相板の製造方法との相違点を中心に説明する。実施形態11の位相板の製造方法を、図13の工程[a]〜[g]として示した。ガラス基板上にシリコン膜を形成する工程は実施形態9と同じである(工程[a])。シリコン膜上に樹脂層を形成する工程においては、フォトレジスト樹脂層を形成する(工程[b])。そして、露光によってマスクパターンを形成する(工程[c])。マスクパターンは、実施形態9と同様目的とする位相板の凸条及び支柱部がマスクされるように描画する。マスクパターンを形成されたガラス基板は、マスクされていないシリコン表面を実施形態9の工程[f]〜[i]と同じように、シリコンのエッチング(工程[d])、ガラス基板のエッチング(工程[e])、樹脂及びシリコンの剥離(工程[f])を施されガラス製位相板となる(工程[g])。
本発明の位相板の例(1) 本発明の位相板の例(2) 本発明の位相板の例(3) 本発明の位相板の例(4) 本発明の位相板の例(5) 従来の位相板 位相板の断面形状 位相板の周期構造全体の概念平面図 シリコン製成形型作製プロセス 石英製成形型作製プロセス 位相板の製作工程、1)ナノインプリント/ガラス基板 位相板の製作工程、2)ナノインプリント/Ta/ガラス基板 位相板の製作工程、3)フォトレジスト/ガラス基板 支柱の間隔に対する光の透過効率
符号の説明
L:周期構造の凸条の厚さ(X軸方向の凸条の幅)
LY:支柱の厚さ(Y軸方向の支柱の幅)
S:周期構造の凹条の厚さ(溝の幅)
h:周期構造の凸条の高さ(凹条又は溝の深さ)
PX:周期構造の周期(X軸方向のピッチ)
PY:支柱の溝方向における間隔(Y軸方向のピッチ)
h/N,d:支柱の高さ

Claims (12)

  1. サブ波長のピッチを有する凹条と凸条の周期構造を持つ誘電体からなり、周期構造の凹条中に、隣接する凸条同士を結合する支柱を設けた光学素子であって、
    前記支柱の間隔は、支柱の幅を(X)としたとき、下記式(1)
    Ln(Y)=Ln(18.7)+1.22(X)・・・・式(1)
    で表される(Y)以上であることを特徴とする光学素子。
  2. 前記支柱は、凹条中に所定間隔で周期的に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の光学素子。
  3. 前記支柱の配列は、光学素子の周期構造を上部から見た際に、周期構造に対し垂直な配置、周期構造に対し斜行した配置、周期構造方向に対し千鳥状の配置のいずれかであることを特徴とする請求項1又は2に記載の光学素子。
  4. 前記凹条中の支柱の間隔は、使用される波長より広いことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の光学素子。
  5. 前記凹条の溝深さは、前記凹条の幅以上であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の光学素子。
  6. 前記支柱の高さは、凸条の高さ以下であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の光学素子。
  7. 前記凹条及び凸条の断面形状は、それぞれ矩形を含む多角形又はU字形であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の光学素子。
  8. 前記凹条及び凸条は、直線状、円形状、楕円形状及び多角形状のいずれかであることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の光学素子。
  9. 表面に請求項1〜8のいずれか一項に記載の光学素子を備えたことを特徴とする複合光学素子。
  10. 前記光学素子が、表面の一部に配置されていることを特徴とする請求項9に記載の複合光学素子。
  11. 誘電体表面に可塑性の硬化型樹脂前駆体を配置する工程と、
    前記誘電体表面に配置された硬化型樹脂前駆体を成形型により誘電体表面の周期構造の凸条及び隣接する凸条同士を結合する支柱に相当する位置に配置する工程と、
    前記周期構造の凸条及び支柱に相当する位置に配置された硬化型樹脂前駆体を硬化させて硬化型樹脂の凸条を形成する工程と、
    硬化型樹脂の凸条を形成された誘電体の凸条を形成されていない表面の一部をドライエッチングにより除去し凹条を形成する工程と、
    凹条を形成された誘電体から硬化型樹脂を除去する工程とを含むことを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載の光学素子の製造方法。
  12. 誘電体表面にフォトレジスト樹脂を配置する工程と、
    前記誘電体表面に配置されたフォトレジスト樹脂を露光して、誘電体表面の周期構造の凸条及び隣接する凸条同士を結合する支柱に相当する位置にレジストパターンを形成する工程と、
    レジストパターンを形成された誘電体のレジストパターンを形成されていない表面の一部をドライエッチングにより除去し凹条を形成する工程と、
    凹条を形成された誘電体表面からフォトレジスト樹脂を除去する工程とを含むことを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載の光学素子の製造方法。
JP2007142225A 2007-05-29 2007-05-29 光学素子、複合光学素子及び光学素子の製造方法 Expired - Fee Related JP4881792B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007142225A JP4881792B2 (ja) 2007-05-29 2007-05-29 光学素子、複合光学素子及び光学素子の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007142225A JP4881792B2 (ja) 2007-05-29 2007-05-29 光学素子、複合光学素子及び光学素子の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008298869A JP2008298869A (ja) 2008-12-11
JP4881792B2 true JP4881792B2 (ja) 2012-02-22

Family

ID=40172479

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007142225A Expired - Fee Related JP4881792B2 (ja) 2007-05-29 2007-05-29 光学素子、複合光学素子及び光学素子の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4881792B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5109520B2 (ja) * 2007-07-27 2012-12-26 セイコーエプソン株式会社 光学素子、液晶装置、液晶装置用マザー基板、及び電子機器、並びにワイヤグリッド偏光素子
JP5574602B2 (ja) * 2008-12-26 2014-08-20 株式会社フォトニックラティス 多値波長板
JP5527074B2 (ja) * 2009-11-16 2014-06-18 セイコーエプソン株式会社 偏光素子及びプロジェクター
JP5526851B2 (ja) * 2010-02-19 2014-06-18 セイコーエプソン株式会社 偏光素子及びプロジェクター
JP5463947B2 (ja) * 2010-02-19 2014-04-09 セイコーエプソン株式会社 偏光素子及びプロジェクター
JP2012189773A (ja) * 2011-03-10 2012-10-04 Sony Chemical & Information Device Corp 偏光素子
JP2017129789A (ja) * 2016-01-21 2017-07-27 アオイ電子株式会社 回折格子、分光イメージング装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002028899A (ja) * 2000-07-17 2002-01-29 Kansai Tlo Kk マイクロ構造体及びその製造方法並びにマイクロ構造体の応用装置並びにその製造方法
JP2003207636A (ja) * 2002-01-15 2003-07-25 Ricoh Co Ltd 波長板、光ピックアップ装置及び光ディスク装置
JP2004062148A (ja) * 2002-06-04 2004-02-26 Canon Inc 光学部品及びその製造方法
JP4403035B2 (ja) * 2004-07-28 2010-01-20 株式会社リコー 偏光分離素子、光ピックアップ、光ディスク装置、及び偏光分離素子の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008298869A (ja) 2008-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4881792B2 (ja) 光学素子、複合光学素子及び光学素子の製造方法
US7704684B2 (en) Methods and devices for fabricating three-dimensional nanoscale structures
RU2514152C2 (ru) Оптический элемент, устройство отображения, противоотражающий оптический компонент и мастер-форма
JP5023324B2 (ja) カラーフィルタ装置及びその製造方法
JP5266059B2 (ja) 回折格子の製造方法
JP4999556B2 (ja) 表面に微細凹凸形状をもつ光学素子の製造方法
JP5706169B2 (ja) 偏光解消素子及びその素子を用いた光学機器
KR101259537B1 (ko) 광학 소자, 편광 필터, 광 아이솔레이터 및 광학 장치
KR100868846B1 (ko) 나노 와이어 그리드 편광자 및 그 제조방법
KR20070012438A (ko) 광학 부재 및 그의 제조방법
WO2016107081A1 (zh) 一种圆偏振片及其制备方法、以及一种显示面板
JP2008052108A (ja) スラブ型2次元フォトニック結晶構造の製造方法
US9272463B2 (en) Mold for nano-imprinting, method for forming diffraction grating, and method for producing optical device including diffraction grating
JP2010102008A (ja) フォトマスク及び鋸歯型パターン製造方法
JP4999401B2 (ja) 表面に微細凹凸形状をもつ光学素子の製造方法
US20120307368A1 (en) Optical element and method of manufacturing optical elements
JP2007193252A (ja) 3次元フォトニック結晶体の作製方法
JP2020522023A (ja) 高さ調整された光回折格子を製造する方法
JP6309257B2 (ja) 光学素子の形成方法及び光学素子
JP2009192586A (ja) ワイヤグリッド型偏光素子及びそれを用いた表示装置
JP4113478B2 (ja) 2次元フォトニック結晶光デバイスの製造方法
JP2007108190A (ja) フォトニック結晶及びフォトニック結晶の作製方法
JP4116324B2 (ja) 偏光分離素子およびその製造方法
JP6063365B2 (ja) 微細パターンの形成方法及び光学素子の形成方法
JP4649609B2 (ja) 光回折格子素子の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110614

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110615

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110811

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110830

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111006

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111108

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111205

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4881792

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141209

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees