JP4880335B2 - 半導体x線検出器を較正する方法 - Google Patents
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Description
システムレベル概要
図1は、調整可能なバイアスを有する半導体X線検出器のゲイン画像を生成するシステムのシステムレベル概要を示すブロック図である。システム100は、当技術分野において検出器上にX線ビームを投射せずに半導体X線検出器を較正するのを必要とする当技術分野における必要性を解決する。
実施形態の方法
前のセクションでは、実施形態の動作のシステムレベル概要を説明している。このセクションでは、一連のフローチャートを参照してそのような実施形態の特定の方法を説明する。フローチャートを参照して本方法を説明することによって、当業者は、適当なコンピュータ上で本方法を実施するような命令を含みかつコンピュータ可読媒体からの命令を実行するようなプログラム、ファームウェア又はハードウェアを開発することが可能になる。同様に、サーバ・コンピュータプログラム、ファームウェア又はハードウェアによって行われる本方法はまた、コンピュータ実行可能命令で構成される。方法200〜700は、図8のコンピュータ802のようなコンピュータ上で実行されるプログラムによって行われるか、又は該コンピュータの一部であるファームウェア又はハードウェアによって行われる。
ハードウェア及び動作環境
図8は、異なる実施形態を実施することができるハードウェア及び動作環境800のブロック図である。図8の説明は、それに関連して幾つかの実施形態を実施することができるコンピュータハードウェアの概要及び適当なコンピュータ環境を示す。実施形態は、コンピュータ実行可能命令を実行するコンピュータに関して説明する。しかしながら、幾つかの実施形態は、コンピュータ実行可能命令を読出し専用メモリで実行するコンピュータハードウェアで完全に実行することができる。幾つかの実施形態はまた、タスクを行う遠隔装置が通信ネットワークを介してリンクされているクライアント/サーバコンピュータ環境で実施することができる。プログラムモジュールは、分散型コンピュータ環境におけるローカル及び遠隔記憶装置の両方内に設置することができる。
実施
図10〜図13を参照すると、図5に関して説明した方法に関連させて特定の実施を説明する。
結論
X線較正及び正規化システムを説明している。本明細書では、特定の実施形態を図示しかつ説明してきたが、同様の目的を達成するように適合させたあらゆる配置を図示した特定の実施形態に置き換えることができることは、当業者には明らかであろう。本出願は、あらゆる改良又は変形に及ぶことを意図している。例えば、手続き形用語で説明しているが、必要な関係をもたらすオブジェクト指向設計環境又は他のあらゆる設計環境で実施することができることは、当業者には明らかであろう。
102 スクラバ
104 半導体X線検出器
106 バイアス調整器
108 平面領域X線曝露シミュレータ
110 ゲイン画像
Claims (8)
- 半導体X線検出器(104)からの少なくとも1つの画像を較正するのに適した、該半導体X線検出器(104)のゲイン画像(110)を生成する方法(200)であって、
前記半導体X線検出器(104)をスクラビングするステップ(202)と、
前記半導体X線検出器(104)の調整バイアスを基準にして該半導体X線検出器(104)の平面領域X線曝露をシミュレーションして(204)、該半導体X線検出器(104)のゲイン画像(110)を生成するステップと、
を含む方法。 - 前記シミュレーションするステップ(204)が、
前記半導体X線検出器(104)のバイアスを調整するステップ(302)と、
遅延期間後に前記半導体X線検出器(104)を読取って(306)、該半導体X線検出器(104)のゲイン画像(110)を生成するステップと、
をさらに含む、請求項1記載の方法。 - 前記バイアスを調整するステップ(302)が、
前記半導体X線検出器(104)の共通接点における共通電位を変更するステップ(504)、
をさらに含む、請求項2記載の方法。 - 前記共通電位を変更するステップが、
低ダイナミックレンジから高ダイナミックレンジまでの複数の階調度で前記共通電位を変更するステップ、
をさらに含む、請求項3記載の方法。 - 前記半導体X線検出器(104)が、光ダイオード(1318、1320、1322、1324)のアレイをさらに含み、前記スクラビングするステップ(204)が、
前記検出器(104)の各光ダイオードを既知電圧に充電させるステップ(612)、
をさらに含む、請求項1記載の方法。 - 該方法が、
前記ゲイン画像(110)から前記半導体X線検出器(104)を較正するステップ(700)、
をさらに含む、請求項1記載の方法。 - 前記半導体X線検出器(104)が医用半導体X線検出器(104)である、請求項1乃至6のいずれかに記載の方法。
- 該方法(200)が、バックグラウンド処理として行われる、請求項1記載の方法(200)。
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