JP4875880B2 - 最新のhitスキッドデータ収集法 - Google Patents
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Description
1.°K=273.15+℃
2.°K=5/9°F+255.3)
Pressure Decay Rate(He)=0.385×Pressure Decay Rate(air)
12 概略図
13 発電機
14 ヘッダ
15 固定子バーシステム
16 コンピュータ
17 冷却ドレンパイプ
18 閉止弁
19 開口、穴
20 第2チューブ、パイプ
21 ケーブル、第2ケーブル、第3ケーブル、第4ケーブル
22 直角チューブ、パイプ
23 開口
24 ホース
25 発電機修理用フィールドステーション
26 HITスキッド
27 直線チューブ、パイプ
28 既知の容積のホース
29 第1開口
30 チューブ、パイプ
31 第2開口
32 第2直角チューブ、パイプ
33 第2直線チューブ、パイプ
34 圧力トランスデューサ
35 第1開口
36 第1コネクタ
37 第2開口
38 第2コネクタ
39 コネクタ
49 BXケーブル
50 センサアレイ、アダプタ
51 ディスプレイ
52 位置
54 位置
56 コネクタ
58 金属球端部
60 コネクタ
A コネクタ
B コネクタ
C コネクタ
D コネクタ
E コネクタ
YCD 開口
YCF 開口
YCFD 開口
YCFF 開口
Claims (9)
- 潜在的な漏れについて発電機の液冷固定子バーシステム(15)を試験する際に、「HIT」(液圧完全性試験)スキッド(26)とともに使用する試験システムであって、
前記発電機が、前記固定子バーシステム(15)に接続された、ヘッダ(14)及び複数の冷却ドレンパイプ(17)を含む冷却配管(14、17)を備えており、
前記試験システムは、
前記ヘッダの注入口に解除可能に接続され、前記液圧完全性試験スキッド(26)にホース(24)を介して接続される第1パイプ(20、22)と、
前記ヘッダの排出口に解除可能に接続され、複数の圧力/真空センサ(34)を含む第2パイプ(30、32)と、
前記冷却ドレンパイプ(17)の1つの下部に解除可能に接続された第1のドレンパイプ(27)および前記冷却ドレンパイプの他の1つの下部に解除可能に接続された第2のドレンパイプ(33)と、
前記第1のパイプ(20、22)、前記第2のパイプ(30、32)、前記第1のドレンパイプ(27)および前記第2のドレンパイプ(33)のそれぞれを介して前記発電機の冷却配管内に挿入されたセンサアレイ(50)であって、各々が複数の温度センサ(52、54)を備える、センサアレイ(50)と、
圧力、真空、および温度のデータを取得し解析して、前記発電機の固定子バーシステム(15)から漏れているかどうかを判定するために前記センサ(52、54)に結合された処理回路(16)と
を備える、試験システム。 - 前記処理回路(16)は、前記圧力、真空、および温度用のセンサ(34、52、54)によって収集された前記データを用いて圧力降下試験および真空降下試験を実施し、それによって前記固定子バーシステム(15)から漏れているかどうかを判定する、請求項1記載の試験システム。
- 前記処理回路(16)は、前記圧力降下試験および真空降下試験を実施する解析ソフトウエアを含むコンピュータ(16)である、請求項2記載の試験システム。
- ワンタッチ接続継手を使用して、前記第1パイプ(20、22)は、HITスキッドおよび前記発電機の冷却配管に解除可能に接続され、前記第2パイプ(30、32)およびドレンパイプ(27、33)は、前記発電機の冷却配管(14、17)に解除可能に接続される、請求項1記載の試験システム。
- 前記温度、圧力、および真空用のセンサ(52、54、34)は、前記第1、第2、およびドレンパイプ(22、32、27、33)内および前記発電機の冷却配管(14、17)内で、ねじ込みおよびエポキシによって固定されたコネクタ(38)を有するケーブル(21)を介して前記処理回路(16)に接続される、請求項1記載の試験システム。
- 前記センサアレイ(50)はそれぞれ、温度を感知するための複数の熱電対(52、54)が挿入されたBXケーブル(49)を含む、請求項1記載の試験システム。
- 前記センサアレイ(50)はそれぞれ、前記BXケーブル(49)の一端に取り付けられたコネクタ(56)と、前記BXケーブル(49)の他端に取り付けられた金属球(58)とをさらに備える、請求項6記載の試験システム。
- 前記温度、圧力、および真空用のセンサ(52、54、34)はそれぞれ、前記センサ(52、54、34)からの複数の示度から収集されたデータの平均値として前記コンピュータ(16)でそれぞれ使用される温度、圧力、および真空のデータを提供する、請求項3記載の試験システム。
- 前記第1パイプ(20、22)に結合される既知の容積(28)をさらに含み、前記解析回路(16)は、前記圧力降下試験および真空降下試験を実施する際に前記既知の容積(28)を使用して、前記固定子バーシステム(15)から漏れているかどうかを判定する、請求項2記載の試験システム。
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