JPH06288853A - プロセス計装ラック - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明はプロセス計装ラック内に設けられて
いる各差圧センサや各圧力センサの異常の前兆を常時検
出し、これによってセンサ異常に起因するプラントの運
転異常を未然に防止する。 【構成】 中央処理回路３１によって圧力計測部５から
の各検出信号、各テスト検出信号によって構成される測
定データと、環境計測部６からの環境データとを取り込
んで推移データおよびこの推移データの変化率を演算
し、これらをデータ記憶回路３２に格納するとともに、
これら現時点の推移データや推移データの変化率と、過
去の推移データや推移データの変化率とが所定の異常判
定条件を満たしているとき、圧力計測部５を構成してい
る各差圧センサ１５または各圧力センサ１８の異常と判
定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は原子力発電所なでにおい
て差圧センサや圧力センサを収納するプロセス計装ラッ
クに関する。

【０００２】

【従来の技術】原子力発電所なでにおいて差圧センサや
圧力センサを収納するプロセス計装ラックとして、従
来、図４に示すラックが知られている。

【０００３】このプロセス計装ラック１０１はケース１
０２と、圧力取込み部１０３と、ドレイン部１０４と、
圧力計測部１０５と、中継端子箱１０６とを備えてお
り、原子力発電所における原子炉水位および原子炉圧力
などの各部プロセス量を計測して各種の検出信号を生成
し、これを制御盤１０７の受信機器（図示は省略する）
に伝送する。

【０００４】ケース１０２は所定の大きさに形成される
矩形状の箱であり、その内部に圧力取込み部１０３と、
圧力計測部１０５と、ドレイン部１０４と、中継箱１０
６とを収納している。

【０００５】圧力取込み部１０３はプロセスから圧力伝
達媒体となる流体を取り込む複数の流入配管１０８と、
これらの各流入配管１０８を介して導かれた流体の圧力
開閉を行なう複数の常開型のラック元弁１０９と、これ
らの各ラック元弁１０９を介して流体を取込み、これを
前記圧力計測部１０５と、ドレイン部１０４とに導く複
数の配管１１０とを備えており、各ラック元弁１０９が
開状態にされているとき、各流入配管１０３を介してプ
ロセスから流体を取込み、各配管１１０を介してこれら
の各流体を前記圧力計測部１０５と、ドレイン部１０４
とに導く。

【０００６】ドレイン部１０４は前記圧力取込み部１０
３を構成する前記各配管１１０の端末に設けられ、流体
の排出を行なうときに開状態にされる複数の常閉型のド
レイン弁１１１と、これの各ドレイン弁１１１から排出
された各流体をケース１０２外に排出するドレイン配管
１１２とを備えており、各ドレイン弁１１１が開状態に
されたとき、各配管１１０内の流体をドレイン配管１１
２を介してケース１０２外に排出する。

【０００７】また、圧力計測部１０５は複数の弁によっ
て構成され、前記各配管１１０のうち、各組の配管１１
０を介して導かれる流体の圧力を開閉する複数のマニホ
ールド弁１１３と、これらの各マニホールド弁１１３を
介して導かれる流体の差圧を検出して検出信号を生成す
る複数の差圧センサ１１４と、これらの各差圧センサ１
１４のテストを行なうとき、前記マニホールド弁１１３
が閉じられた後、開状態にされてテスト圧力を前記各差
圧センサに導く複数の常閉型のテスト弁１１５と、前記
各配管１１０を介して供給される流体の圧力を開閉する
複数の常開型の計器元弁（但し、この図４においては、
１つののみ表示している）１１６と、これらの各計器元
弁１１６を介して導かれる流体の圧力を検出して検出信
号を生成する複数の圧力センサ（但し、この図４におい
ては、１つののみ表示している）１１７と、これらの各
圧力センサ１１７のテストを行なうとき、前記各計器元
弁１１６が閉じられた後、開状態にされてテスト圧力を
前記各圧力センサ１１７に導く複数の常閉型のテスト弁
（但し、この図４においては、１つののみ表示してい
る）１１８と備えている。

【０００８】そして、この圧力計測部１０５は各マニホ
ールド弁１１３および各計器元弁１１６が開状態にされ
ているとき、各差圧センサ１１４および各圧力センサ１
１７によって前記圧力取込み部１０３の各配管１１０を
介して導かれる流体の差圧および圧力を計測して複数の
検出信号を生成し、これを前記中継端子箱１０６に供給
し、また各マニホールド弁１１３および各計器元弁１１
６が閉状態にされるとともに、各テスト弁１１５、１１
８が開状態にされているとき、各差圧センサ１１４およ
び各圧力センサ１１７によってテスト流体の差圧および
圧力を計測して複数のテスト検出信号を生成し、これを
前記中継端子箱１０６に供給する。

【０００９】中継端子箱１０６は前記圧力計測部１０５
から出力される各検出信号および各テスト検出信号を取
り込んで前記制御盤１０７の受信機器に伝送する複数の
信号端子と、前記制御盤１０７から出力される電源電圧
を取り込んで前記圧力計測部１０５に供給する複数の電
源端子とを備えており、前記制御盤１０７から出力され
る電源電圧を取り込んで前記圧力計測部１０５を動作さ
せるとともに、この圧力計測部１０５から出力される各
検出信号や各テスト検出信号を取り込んで前記制御盤１
０７の受信機器に伝送する。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したプ
ロセス計装ラック１０１に収納されている各差圧センサ
１１４や各圧力センサ１１７は原子炉水位や原子炉圧力
など重要なパラメータを測定しており、センサの異常な
挙動がプラントの運転に大きな影響を与えるため、非常
に高い信頼性が要求される。

【００１１】このため、予防保全として、各差圧センサ
１１４や各圧力センサ１１７の異常な挙動が発生する前
にこれら各差圧センサ１１４や各圧力センサ１１７の異
常状態を事前に発見して対処する必要があるが、現状で
は、劣化事象または異常事象の事前検出が困難であるこ
とから、年１回程度の定期検査で性能確認などの点検を
行なってこれらの各差圧センサ１１４や各圧力センサ１
１７が正常に動作するかどうかを診断しているに過ぎな
い。

【００１２】つまり、各差圧センサ１１４や各圧力セン
サ１１７について、異常な挙動を示す前兆として、温度
変化に対し、検出信号の顕著な変化があるかどうか、湿
度変化に対し、検出信号の顕著な変化があるかどうか、
基準圧を大気として場合に、気圧変化に対し、検出信号
のキャンセル化が行われているかどうか、電源電圧変動
に対し、検出信号の顕著な変化があるかどうかなどであ
るが、現状での１次診断では、これらのパラメータを加
味せずに、較正試験データのみで異常の判断を行なって
いるに過ぎない。

【００１３】そして、定期検査時の点検の際には、試験
動作によって得られる較正試験データと、それまでのに
得られた過去の較正試験データとを比較することで計器
の経年変化や劣化等の診断を行なっているが、このよう
な診断を行なうためには、かなりの経験と、知見とが必
要である。

【００１４】また、較正試験データの評価を１次診断と
して、保守・調整員が実施し、これらの診断を含む較正
試験に要する時間が多大であるとともに、現場で作業を
行なわなければならないため、保守・調整員の被曝が問
題になる恐れがある。

【００１５】さらに、これらの各差圧センサ１１４や各
圧力センサ１１７からの検出信号をプラントの安全系に
使用しているため、常用系と、診断系とを電気的、物理
的に分離することが要求されていることから、診断系を
別処理系とした場合、この別処理系の異常が常用系とな
っている安全系側に影響を及ぼさないことが必須要件と
なっている。

【００１６】本発明は上記の事情に鑑み、プロセス計装
ラック内に設けられている各差圧センサや各圧力センサ
の周辺の環境条件を加味してこれら各差圧センサや各圧
力センサの異常の前兆を常時検出することができ、これ
によってセンサ異常に起因するプラントの運転異常を未
然に防止することができるプロセス計装ラックを提供す
ることを目的としている。

【００１７】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、制御対象となるプロセスのプロセス量を
計測する各種センサを収納するプロセス計装ラックにお
いて、前記各種センサの使用環境を計測してこの計測結
果を環境データとして出力する環境計測部と、前記各種
センサから出力される計測データと前記環境計測部から
出力される環境データとを取り込んで前記各種センサの
環境を加味した前記計測データの推移データまたはその
変化率データを演算する推移・変化率演算部と、この推
移・変化率演算部によって得られた推移データまたはそ
の変化率データを蓄積するデータ記憶部と、このデータ
記憶部に格納されている過去の推移データまたはその変
化率データと前記推移・変化率演算部で得られた現在の
推移データまたはその変化率データとを比較判定して予
め設定されいてる異常判断条件が満たされているとき、
異常検出信号を生成して外部に出力する診断部とを備え
たことを特徴としている。

【００１８】

【作用】上記の構成において、推移・変化率演算部によ
って各種センサから出力される計測データと前記各種セ
ンサの使用環境が計測用として配置された環境計測部か
ら出力される環境データとが取り込まれて前記各種セン
サの環境を加味した前記計測データの推移データまたは
その変化率データが演算され、データ記憶部によって前
記推移・変化率演算部で得られた推移データまたはその
変化率データが蓄積されるとともに、診断部によって前
記データ記憶部に格納されている過去の推移データまた
はその変化率データと、前記推移・変化率演算部で得ら
れた現在の推移データまたはその変化率データとが比較
判定されて予め設定されいてる異常判断条件が満たされ
ているとき、異常検出信号が生成されて外部に出力され
る。

【００１９】

【実施例】図１は本発明によるプロセス計装ラックの一
実施例を示すブロック図である。

【００２０】この図に示すプロセス計装ラック１はケー
ス２と、圧力取込み部３と、ドレイン部４と、圧力計測
部５と、環境計測部６と、中継端子箱７とを備えてお
り、原子力発電所における原子炉水位および原子炉圧力
などの各部プロセス量を計測して各種の検出信号を生成
し、この検出信号を常時診断しながら、制御盤８の受信
機器に伝送する。

【００２１】ケース２は所定の大きさに形成される矩形
状の箱であり、その内部に圧力取込み部３と、圧力計測
部５と、ドレイン部４と、中継箱７とを収納している。

【００２２】圧力取込み部３はプロセスから圧力伝達媒
体となる流体を取り込む複数の流入配管９と、これらの
各流入配管９を介して導かれた流体の圧力開閉を行なう
複数の常開型のラック元弁１０と、これらの各ラック元
弁１０を介して流体を取込み、これを前記圧力計測部５
と、ドレイン部４とに導く複数の配管１１とを備えてお
り、各ラック元弁１０が開状態にされているとき、各流
入配管９を介してプロセスから流体を取込み、各配管１
１を介してこれらの各流体を前記圧力計測部５と、ドレ
イン部４とに導く。

【００２３】ドレイン部４は前記圧力取込み部３を構成
する前記各配管１１の端末に設けられ、流体の排出を行
なうときに開状態にされる複数の常閉型のドレイン弁１
２と、これの各ドレイン弁１２から排出された各流体を
ケース２外に排出するドレイン配管１３とを備えてお
り、各ドレイン弁１２が開状態にされたとき、各配管１
１内の流体をドレイン配管１３を介してケース２外に排
出する。

【００２４】また、圧力計測部５は複数の弁によって構
成され、前記各配管１１のうち、各組の配管１１を介し
て導かれる流体の圧力を開閉する複数のマニホールド弁
１４と、これらの各マニホールド弁１４を介して導かれ
る流体の差圧を検出して検出信号を生成する複数の差圧
センサ１５と、これらの各差圧センサ１５のテストを行
なうとき、前記マニホールド弁１４が閉じられた後、開
状態にされてテスト圧力を前記各差圧センサ１５に導く
複数の常閉型のテスト弁１６と、前記各配管１１を介し
て供給される流体の圧力を開閉する複数の常開型の計器
元弁（但し、この図１においては、１つののみ表示して
いる）１７と、これらの各計器元弁１７を介して導かれ
る流体の圧力を検出して検出信号を生成する複数の圧力
センサ（但し、この図１においては、１つののみ表示し
ている）１８と、これらの各圧力センサ１８のテストを
行なうとき、前記各計器元弁１７が閉じられた後、開状
態にされてテスト圧力を前記各圧力センサ１７に導く複
数の常閉型のテスト弁（但し、この図１においては、１
つののみ表示している）１９と備えている。

【００２５】そして、この圧力計測部５は各マニホール
ド弁１４および各計器元弁１７が開状態にされていると
き、各差圧センサ１５および各圧力センサ１８によって
前記圧力取込み部３の各配管１１を介して導かれる流体
の差圧および圧力を計測して複数の検出信号を生成し、
これを前記中継端子箱７に供給し、また各マニホールド
弁１４および各計器元弁１７が閉状態にされるととも
に、各テスト弁１６、１９が開状態にされているとき、
各差圧センサ１５および各圧力センサ１８によってテス
ト流体の差圧および圧力を計測して複数のテスト検出信
号を生成し、これを前記中継端子箱７に供給する。

【００２６】また、環境計測部６はケース２内の温度を
計測して温度検出信号を生成する温度計２０と、ケース
２内の気圧を計測して気圧検出信号を生成する気圧計２
１と、ケース２内の湿度を計測して湿度検出信号を生成
する湿度計２２とを備えており、ケース２内の温度およ
び気圧、湿度を常時検出してこの検出動作によって得ら
れた温度検出信号と、気圧検出信号と、湿度検出信号と
を環境データとして前記中継端子箱７に供給する。

【００２７】前記中継端子箱７は図２に示す如く絶縁回
路２３と、制御回路２４とを備えており、前記圧力計測
部５から出力される各検出信号および各テスト検出信号
を取り込み、これを制御盤８の受信機器に供給するとと
もに、前記環境計測部６から出力される環境データを取
り込んで、前記各検出信号、各テスト検出信号によって
構成される測定データおよび前記環境データの推移デー
タ（現時点の環境データおよび測定データを平均化処理
して得られる処理周期毎（ＣＴ）のデータ、秒単位毎
（ＳＴ）のデータ、分単位毎（ＭＩＮＴ）のデータ、時
単位毎（ＨＴ）のデータ、日単位毎（ＤＴ）のデータ、
月単位毎（ＭＴ）のデータ、年単位毎（ＹＴ）のデー
タ）を作成するとともに、この推移データの変化率を演
算し、これら現時点の推移データや推移データの変化率
と、過去の推移データや推移データの変化率とが規定値
以上の偏差を持ち、これが規定時間以上継続していると
き、前記圧力計測部５を構成している各差圧センサ１５
または各圧力センサ１８のうち、異常となっているセン
サがあることを示す表示信号や警報信号を生成してこれ
を外部に伝送する。

【００２８】絶縁回路２３は前記圧力計測部５から出力
される各検出信号および各テスト検出信号を取り込み、
これを電気的に絶縁しながら２つに分離して、その一方
を制御盤８の受信機器に供給するとともに、他方を測定
データとして制御回路２４に供給する。

【００２９】制御回路２４は図３に示す如く入力部３０
と、中央処理回路３１と、データ記憶回路３２とを備え
ており、入力部３０によって前記絶縁回路２３から出力
される測定データと、前記環境計測部６から出力される
環境データと、前記制御盤８から出力される電源電圧の
値を示す電源電圧値信号（この電源電圧値信号は前記環
境データの一部となる）とを取り込んで、これら測定デ
ータおよび環境データの推移データを作成するととも
に、この推移データの変化率を演算し、これら現時点の
推移データや推移データの変化率と、過去の推移データ
や推移データの変化率とが規定値以上の偏差を持ち、こ
れが規定時間以上継続しているとき、前記圧力計測部５
を構成している各差圧センサ１５または各圧力センサ１
８のうち、異常となっているセンサがあることを示す表
示信号や警報信号を生成してこれを外部に伝送する。

【００３０】入力部３０は前記絶縁回路２３から出力さ
れる測定データを取り込む第１入力回路３３と、この第
１入力回路３３と電気的に分離され、前記環境計測部６
から出力される環境データと、前記制御盤８から出力さ
れる電源電圧の値を示す電源電圧値信号とを取り込む第
２入力回路３４とを備えており、前記環境計測部６から
出力される環境データと前記制御盤８から出力される電
源電圧の値を示す電源電圧値信号とを取り込み、これを
環境データとして中央処理回路３１に供給するととも
に、この環境データが第１入力回路３３に影響するのを
防止しながら、前記絶縁回路２３から出力される測定デ
ータを取り込んで、これを前記中央処理回路３１に供給
する。

【００３１】中央処理回路３１は各種の処理を行なうマ
イクロプロセッサによって構成され、測定データおよび
環境データの推移データを作成して前記データ記憶回路
３２に格納する推移データ編集機能部３５と、環境デー
タに基づいて推移データ編集機能部３５で得られた推移
データの変化率（一定温度幅、一定湿度幅、一定気圧
幅、一定電源幅に対する推移データの変化率）を演算し
て前記データ記憶回路３２に格納する変化率演算機能部
３６と、この変化率演算機能部３６および前記推移デー
タ編集機能部３５によって得られた現時点の推移データ
や推移データの変化率と、前記データ記憶回路３２に記
憶されている過去の推移データや推移データの変化率と
に基づいて前記差圧センサ１５および各圧力センサ１８
が正常に動作しているかどうかを診断する診断機能部３
７とを備えている。

【００３２】そして、この中央処理回路３１は前記入力
部３０から出力される測定データと、環境データとを取
り込むととも、これを編集して推移データを作成し、こ
れを前記データ記憶回路３２に格納するとともに、前記
環境データに基づいて前記推移データの変化率を演算し
てこれを前記データ記憶回路３２に格納し、さらに現時
点の推移データや推移データの変化率と、前記データ記
憶回路３２に記憶されている過去の推移データや推移デ
ータの変化率とに基づいて前記差圧センサ１５および各
圧力センサ１８が正常に動作しているかどうかを診断
し、この診断結果を外部に伝送する。

【００３３】なお、この場合、測定データや環境データ
か推移データを編集するときに使用されるデータ移動の
規定時間はデータ評価に必要なデータ量と、データ記憶
回路３２のメモリ容量などとの関係から任意に設定でき
るようにされている。

【００３４】また、データ記憶回路３２は前記中央処理
回路３１の推移データ編集機能部３５から出力される推
移データを取り込んで記憶するとともに、記憶している
推移データ群を過去の推移データとして前記診断機能部
３７に供給する推移データメモリ回路３８と、前記中央
処理回路３１の変化率演算機能部３６から出力される変
化率データを取り込んで記憶するとともに、記憶してい
る変化率データ群を過去の変化率データとして前記診断
機能部３７に供給する変化率データメモリ回路３９とを
備えており、前記中央処理回路３１の推移データ編集機
能部３５や変化率演算機能部３６から出力される推移デ
ータや変化率データを取り込んで、これらを累積的に記
憶するとともに、記憶している過去の推移データ群や変
化率データ群を読み出してこれを前記中央処理回路３１
の診断機能部３７に供給する。

【００３５】次に、図１〜図３に示す各ブロック図を参
照しながら、この実施例の制御回路２４の診断動作を説
明する。

【００３６】まず、絶縁回路２３によって圧力計測部５
から出力される各検出信号や各テスト検出信号が取り込
まれて制御盤８の受信機器に伝送されるとともに、前記
各検出信号や各テスト検出信号が測定データとして制御
回路２４に入力される一方、環境計測部６から出力され
る温度検出信号、気圧検出信号、湿度検出信号と、電源
電圧に基づいて得られる電源電圧値信号とが環境データ
として前記制御回路２４に入力される。

【００３７】そして、制御回路２４の入力部３０によっ
てこれら測定データや環境データが取り込まれて推移デ
ータ編集機能部３５に入力されると、この推移データ編
集機能部３５によって現時点の測定データ（瞬時値デー
タ）および環境データ（瞬時値データ）が所定の周期毎
に順次、平均化されて、処理周期毎（ＣＴ）のデータ
と、秒単位毎（ＳＴ）のデータと、分単位毎（ＭＩＮ
Ｔ）のデータと、時単位毎（ＨＴ）のデータと、日単位
毎（ＤＴ）のデータと、月単位毎（ＭＴ）のデータと、
年単位毎（ＹＴ）のデータとが作成される。

【００３８】この場合、瞬時値データが順次、平均化さ
れて処理周期毎（ＣＴ）のデータが作成され、この処理
周期毎（ＣＴ）のデータが規定時間（例えば、約１０分
程度）以上経過したとき、これら処理周期毎（ＣＴ）の
データが秒単位で平均化演算されて秒単位毎（ＳＴ）の
データが作成され、以下同様に、時単位毎（ＨＴ）のデ
ータ、日単位毎（ＤＴ）のデータ、月単位毎（ＭＴ）の
データ、年単位毎（ＹＴ）のデータについても、データ
の平均化処理が行なわれた後、秒単位毎（ＳＴ）のデー
タ→、分単位毎（ＭＩＮＴ）のデータ→、時単位毎（Ｈ
Ｔ）のデータ→、日単位毎（ＤＴ）のデータ→、月単位
毎（ＭＴ）のデータ→、年単位毎（ＹＴ）のデータなる
順序で、データが推移されて、この推移処理によって得
られた推移データが前記瞬時値データとともに前記デー
タ記憶回路３２と前記変化率演算機能部３６に供給され
る。

【００３９】これによって、データ記憶回路３２の推移
データメモリ回路３８によって前記推移データが取り込
まれて、処理周期毎（ＣＴ）のデータエリア、秒単位毎
（ＳＴ）のデータエリア、時単位毎（ＨＴ）のデータエ
リア、日単位毎（ＤＴ）のデータエリア、月単位毎（Ｍ
Ｔ）のデータエリア、年単位毎（ＹＴ）のデータエリア
に各々、格納される。

【００４０】また、この動作と並行して、変化率演算機
能部３６によって前記推移データ編集機能部３５から出
力される推移データが取り込まれて一定温度幅、一定湿
度幅、一定気圧幅、一定電源幅に対し、処理周期毎（Ｃ
Ｔ）、秒単位毎（ＳＴ）、分単位毎（ＭＩＮＴ）、時単
位毎（ＨＴ）、日単位毎（ＤＴ）、月単位毎（ＭＴ）、
年単位毎（ＹＴ）の変化率が演算された後、これらの各
変化率データがデータ記憶回路３２の変化率データメモ
リ回路３９に供給されて記憶されるともとに、診断機能
部３７に供給される。

【００４１】そして、診断機能部３７によって前記変化
率演算機能部３６から出力される各変化率データと、前
記推移データ編集機能部３５から出力される各推移デー
タと、前記データ記憶回路３２の推移データメモリ回路
３８に格納されている過去の推移データと、前記データ
記憶回路３２の変化率データメモリ回路３９に格納され
いる過去の各変化率データとに基づいて以下に述べる比
較処理が行なわれて各差圧センサ１５および各圧力セン
サ１８の良否が診断される。

【００４２】まず、各差圧センサ１５や各圧力センサ１
８の測定に影響を与える環境条件として以下に示す条件
があることから、これらの環境条件は異常な挙動を示す
前兆として、顕在化するとが考えられるため、これらの
パラメータに対して各差圧センサ１５や各圧力センサ１
８の検出信号と、環境条件の変化の割合を演算で異常の
診断を行なう診断条件としている。

【００４３】（１）温度変化に対し、検出信号が顕著に
変化するかどうか。

【００４４】（２）湿度変化に対し、検出信号の感度が
顕著に変化するかどうか。

【００４５】（３）基準圧として大気を使用している場
合、気圧が変化したとき、検出信号の変化がキャンセル
されるかどうか。

【００４６】（４）電源電圧変動に対し、検出信号の感
度が顕著に変化するかどうか。

【００４７】この結果、この診断機能部３７において
は、各差圧センサ１５および各圧力センサ１８のうち、
各差圧センサ１５および各圧力センサ１８毎に、現在の
推移データや変化率データと、過去の推移データや変化
率データとが比較され、規定値以上の偏差が規定時間以
上継続しているとき、異常が発生したと判定され、異常
となっているセンサがあることを示す表示信号や警報信
号が生成されてこれが外部に伝送される。

【００４８】また、現在の推移データや変化率データ、
過去の推移データ、過去の変化率データに基づいて同一
測定箇所の信号データの比較が行なわれたり、類似測定
箇所の信号データの比較が行なわれたりし、現在の信号
データと、過去の信号データとの間に規定値以上の偏差
があり、これが規定時間以上継続しているとき、異常が
発生したと判定され、異常となっているセンサがあるこ
とを示す表示信号や警報信号が生成されてこれが外部に
伝送される。

【００４９】また、推移データがプラント異常を考慮し
た規定値以上変化しているとき、プラントイベントタイ
ミング信号が生成されて、これが推移データ編集機能部
３５に供給されて、処理周期毎（ＣＴ）のデータの規定
時間が延長されるとともに、測定データが自動的に外部
に伝送される。

【００５０】このようにこの実施例においては、圧力計
測部５から出力される各検出信号および各テスト検出信
号を取り込み、これを制御盤８の受信機器に供給すると
ともに、前記環境計測部６から出力される環境データな
どを取り込んで、これら環境データおよび前記各検出信
号、前記テスト検出信号によって構成される測定データ
の推移データを作成するとともに、この推移データの変
化率を演算し、これら現時点の推移データや推移データ
の変化率と、過去の推移データや推移データの変化率と
が規定値以上の偏差を持ち、これが規定時間以上継続し
ているとき、前記圧力計測部５を構成している各差圧セ
ンサ１５または各圧力センサ１８のうち、異常となって
いるセンサがあることを示す表示信号や警報信号を生成
してこれを外部に伝送するようにしたので、プロセス計
装ラック１内に設けられている各差圧センサ１５や各圧
力センサ１８の周辺の環境条件を加味してこれら各差圧
センサ１５や各圧力センサ１８の異常の前兆を常時検出
することができ、これによってセンサ異常に起因するプ
ラントの運転異常を未然に防止することができる。

【００５１】また、実施例においては、プロセス計装ラ
ック１内の各差圧センサ１５や各圧力センサ１８の異常
診断を行なうようにしているが、原子力発電プラントの
ような安全系においては、１つのプロセスの測定を設備
の分離区分から複数の差圧センサや圧力センサによって
測定している場合、各系の測定データを各々、取り込ん
で上述した方法と同じ手法でデータの比較を行なって異
常診断を行なうことにより、データの数量を多くするこ
とができ、これによって高い精度で診断を行なうことが
できる。

【００５２】また、異常診断の判断手法として、上述し
た実施例では、環境条件に対する測定データの現在の変
化率データと過去の変化率データを比較しているが、温
度単独などの比較に代えて温度や電源電圧などを組み合
わせた総合判断による比較方法を用いて行なうようにし
ても良い。

【００５３】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、プ
ロセス計装ラック内に設けられている各差圧センサや各
圧力センサの周辺の環境条件を加味してこれら各差圧セ
ンサや各圧力センサの異常の前兆を常時検出することが
でき、これによってセンサ異常に起因するプラントの運
転異常を未然に防止することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるプロセス計装ラックの一実施例を
示すブロック図である。

【図２】図１に示す中継端子箱の詳細な回路構成例を示
すブロック図である。

【図３】図２に示す制御回路の詳細な回路構成例を示す
ブロック図である。

【図４】従来から知られているプロセス計装ラックの一
例を示すブロック図である。

【符号の説明】

１ プロセス計装ラック ２ ケース ３ 圧力取込み部 ４ ドレイン部 ５ 圧力計測部 ６ 環境計測部 ７ 中継端子箱 ８ 制御盤 １５ 差圧センサ（各種センサ） １８ 圧力センサ（各種センサ） ２０ 温度計 ２１ 気圧計 ２２ 湿度計 ２３ 絶縁回路 ２４ 制御回路 ３０ 入力部 ３１ 中央処理回路 ３２ データ記憶回路（データ記憶部） ３３ 第１入力回路 ３４ 第２入力回路 ３５ 推移データ編集機能部（推移・変化率演算部） ３６ 変化率演算機能部（推移・変化率演算部） ３７ 診断機能部（診断部） ３８ 推移データメモリ回路 ３９ 変化率データメモリ回路

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 制御対象となるプロセスのプロセス量を
   計測する各種センサを収納するプロセス計装ラックにお
   いて、 前記各種センサの使用環境を計測してこの計測結果を環
   境データとして出力する環境計測部と、 前記各種センサから出力される計測データと前記環境計
   測部から出力される環境データとを取り込んで前記各種
   センサの環境を加味した前記計測データの推移データま
   たはその変化率データを演算する推移・変化率演算部
   と、 この推移・変化率演算部によって得られた推移データま
   たはその変化率データを蓄積するデータ記憶部と、 このデータ記憶部に格納されている過去の推移データま
   たはその変化率データと前記推移・変化率演算部で得ら
   れた現在の推移データまたはその変化率データとを比較
   判定して予め設定されいてる異常判断条件が満たされて
   いるとき、異常検出信号を生成して外部に出力する診断
   部と、 を備えたことを特徴とするプロセス計装ラック。