JP4874254B2 - 光fmcw後方散乱測定システムの校正 - Google Patents
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Description
本発明は、特に光FMCW後方散乱測定システムのようなFMCW後方散乱測定システムを校正する方法に関し、当該システムは励起兼分析部、及び伸長センサを備え、当該センサは第1端及び第2端を有し、当該励起兼分析部は周波数変調光信号を変調周波数fmで励起し、センサの第1端から受信するセンサ信号を分析するように構成され、当該センサはデータ信号を周波数変調光信号に基づいて捕捉するように構成され、周波数変調光信号から、第1端と第2端との間のセンサ長に沿ったセンサの空間分布測定ポイントの物理パラメータを抽出することができる。
本発明は、例えば空間分布物理パラメータ、例えば温度、湿度、力の測定を、大規模施設において、例えば道路に沿って、トンネルの中で、地下鉄またはケーブルの中で、産業設備の中で行なうような用途において有用である。
先行技術によるシステムに関する他の問題は、システムが次の項目のうちの一つ以上の項目に起因する測定誤差の誤差要因を含むことである。
a1)FMCWによる温度測定法は、例えば光ファイバからのラマン後方散乱光をレーザ変調周波数(fm)の関数として測定することにより行なわれる。ファイバ長の関数として表わされるラマン光の後方散乱曲線は、光電検出した信号を逆フーリエ変換した計算値に基づいて描かれる。この逆フーリエ変換アルゴリズムでは、fm=0Hzと最大レーザ変調周波数との間の周波数を有する後方散乱信号に対する複素パラメータの測定が必要になる。逆フーリエ変換に関する第1周波数ポイント(DC値)の測定は困難である。その理由は、この値には、光電検出した信号の従前の定常成分が重なるからである。
FMCWラマン法では、非常に弱いラマン後方散乱光信号(ピコワット範囲にまで低下する)を周波数変調レーザ光の関数として広い周波数帯域(fmは、例えば0Hzから最大100MHzまでの範囲とすることができる)に渡って、ファイバを通して測定する必要がある。レーザ光の強度の平均値は一定である。検出される信号が弱いために、光学部品(レーザ、光電検出器、フィルタなど)及び電子部品(アンプ、ミキサ、フィルタなど)の許容誤差が大きな影響を後方散乱曲線、及び結果としての温度曲線の精度に与える。同様に、光学部品及び電子部品の非線形動作によって歪みが周波数データに生じる。その結果、非線形歪みが温度プロファイルに沿って生じ、これにより温度測定システムの精度が低下する。
異なる測定チャネルの間のクロストークによって、更に別の誤差がランダムノイズとして発生し、更に非線形干渉が温度プロファイルに発生する(例えば、図10及び該当する説明を参照)。
光学部品及び電子部品のエージング効果によっても、ラマン散乱光検出信号が弱いことに起因する測定機器の精度及び安定性、更には、周波数信号と温度プロファイルとの間の上述したFMCW測定依存性に影響が及ぶ。
光センサラインに変化が生じる場合、前に行なわれた校正はもはや有効ではなくなってしまう。これは、周波数データのDC値に影響が及ぶことによって主として生じる。
本発明は、光FMCW後方散乱測定システムのようなFMCW後方散乱測定システムを校正する方法であって、当該システムは、励起兼分析部及び伸長センサを備え、センサは第1端及び第2端を有し、励起兼分析部は、周波数変調光信号を変調周波数fmで励起し、センサの第1端から受信するセンサ信号を分析するように構成され、センサは、データ信号を周波数変調光信号に基づいて捕捉するように構成され、周波数変調光信号から、第1端と第2端との間のセンサ長に沿ったセンサの空間分布測定ポイントの物理パラメータを抽出することができ、当該方法は、A.前記受信したセンサ信号を、振幅部分及び位相角部分によって表現される前記変調周波数fmの関数としての複素受信電気信号に変換するステップと、B.前記受信電気信号の変換を行なって、前記センサの第1端と第2端との間の位置、及び前記第2端よりも先の位置の関数としての後方散乱信号を供給するステップと、C.前記位置の関数としての前記後方散乱信号に基づいて、前記第2端よりも先の前記後方散乱信号を表わす曲線の特性を求めるステップと、D.前記曲線において所定の依存性を示す前記受信電気信号の前記振幅部分、及び前記受信電気信号の前記位相角部分を補正するステップと、E.ステップBを補正済み受信電気信号に基づいて繰り返すステップと、を含む。
ステップAで「変調周波数fmの関数としての受信電気信号」と表現される複素測定信号(周波数データ)と、ステップBで「センサの第1端と第2端との間の位置、及び第2端よりも先の位置の関数としての後方散乱信号」と表現される後方散乱曲線との間では、固有の数学的変換手順、すなわち逆フーリエ変換が行なわれる。数学的変換の高速計算のための実際のツールはそれぞれ、高速フーリエ変換(FFT)、及び逆高速フーリエ変換(IFFT)である。以下の説明では、これらの略語を使用する。後方散乱曲線を解析することにより、複素周波数データの特性についての結論が得られる。
任意の補正校正の結果は、システムのメモリに保存すると便利であり、当該結果は、同じタイプの(しかしながら、他の補正係数を用いる)別の補正校正、または別のタイプ(例えば、「DC誤差補正」対「周波数校正」)の別の補正校正の基礎として(後の時点において)使用される。
特定の実施形態では、FMCW後方散乱測定システムは光FMCW後方散乱測定システムである。
光ヘテロダイン測定法(optical heterodyne measurement technology)を光FMCW後方散乱測定システムに使用することにより、励起信号及び後方散乱信号の混合を、例えばマイケルソン干渉計からの出射光路において行なう。この種類の光FMCW方式は「OFDR方式」または「コヒーレントFMCW方式(coherent FMCW techniques)」とも呼ばれる(例えば、Journal of Lightwave Technology, 第11巻, No.8, 1993年8月に掲載されたユー・グロンビッツァ(U. Glombitza),イー・ブリンクメイヤー(E. Brinkmeyer)による「シングルモード高密度光導波路を特性化するコヒーレント周波数領域反射率測定法」と題する記載を参照)。
1.平均値、及び/又は
2.勾配(傾斜)
によって変わる形で、周波数領域の
3.DC値(fm=0)のレベルの絶対値、及び
4.位相特性の位相オフセット
を変更することができることを意味するものとする。
一つの実施形態では、レーザの周波数変調においては、異なる周波数のレーザ光の強度を変調する。測定サイクルごとに、レーザ周波数が0Hzと最大周波数、通常100MHzとの間で変化する(チャープされる)。周波数範囲は、光FMCW計測装置の空間分解能に対応するように設定される。異なる周波数ステップのレーザ出力光の強度の平均値は通常、一定である。周波数測定ポイントの数は、ファイバ長によって変わり、周波数間隔はFMCW計測装置の空間分解能によって変わる。
一つの実施形態においては、ステップD1では、前記初期補正量ΔH0(0)は、後方散乱曲線のノイズの平均値の0からの変位量によって決まる。
一つの実施形態においては、ステップD2では、前記初期オフセット値Δφ0(0)は、周波数fm→0Hzとして位相角データを線形外挿することにより求めることができる。
a)ステップD1のDC値補正手順、及び
b)ステップD2の位相オフセット補正手順
に関する補正係数である。
一つの実施形態においては、「自動システム校正」は、複数の測定サイクルの或る部分、主要部分、または全てにおいて行われる。
一つの実施形態では、本方法は更にA1及びA2のステップを含み、ステップA1では、fm=0近傍の前記変調周波数fmの関数としての受信電気信号の位相角のオフセット値を求め、ステップA2では、前記位相角データの補正を前記オフセット値に基づいて行なう。従って、測定物理パラメータプロファイルの精度を更に高くすることができる。
前記校正が、センサの光学特性のようなセンサの特性が変化するときに行なわれる場合、センサの長さ、減衰率、化学組成(従って散乱特性)などのようなセンサの特性が確実に校正の対象となる。
一つの実施形態では、前記校正方法は、反ストークス光を表わす信号に対してだけでなくストークス信号に対しても行なわれる。
一つの実施形態では、センサの長さに沿ったセンサの空間分布測定ポイントの抽出物理パラメータを使用してセンサの長さに沿ったセンサの温度プロファイルを計算する。別の構成として、湿度、腐食、硫黄、圧力、力、放射などのような他のパラメータを計算することができる。
一つの実施形態では、受信センサ信号はストークス・ラマン後方散乱信号を含む。一つの実施形態では、受信センサ信号は反ストークス・ラマン後方散乱信号を含む。一つの実施形態では、温度プロファイルの計算はストークス・ラマン後方散乱信号及び反ストークス・ラマン後方散乱信号に基づいて行なわれる。
一つの実施形態では、センサは、測定部に直列に接続することができる基準部を含む。一つの実施形態では、基準部は明確に特性化され、かつ明確に規定された長さを有し、更には明確に規定された温度で適宜格納される光ファイバである。
本発明は更に、光FMCW後方散乱測定システムのようなFMCW後方散乱測定システムに関するものであり、FMCW後方散乱測定システムはコンピュータ読み取り可能な媒体を備え、コンピュータ読み取り可能な媒体はコンピュータ読み取り可能なプログラムコードを格納しており、「発明を実施するための最良な形態」欄に記載され、かつ請求項に記載される校正方法を実行する。
図1は光FMCW測定システムの模式図を示し、光FMCW測定システムは励起兼分析ユニット及び光センサを備える。
2.1 測定データ
標準化された後方散乱曲線SR(z)の計算は、測定複素周波数曲線(例えば、複素データの絶対値及び位相をそれぞれ表わす実部及び虚部を含む)を逆フーリエ変換することにより行なわれる(以下の等式(I)を参照)。変換を行なうために、(複素)データを、開始周波数(例えば0Hz)から終了周波数(例えば100MHz)までのレーザ変調周波数fmの関数として測定する必要がある。レーザ変調周波数fmにおいて、標準化された位置周波数を表わす変数は、次式(数1)、
ラマン後方散乱信号の時間(t)依存強度dPR(t)は次式のように表わすことができる。
レーザの正弦波強度変調を取り入れることにより、励起兼分析ユニットが受信する信号を次式のように表わすことができる。
逆フーリエ変換では、
図3は、DC誤差がラマン後方散乱温度測定システムのストークス信号及び反ストークス信号に与える影響を示し、図3a及び3bは、DC誤差を含む場合(それぞれ左図の31,33)、及びDC誤差を含まない場合(それぞれ右図の32,34)のストークスチャネル31,32、及び反ストークスチャネル33,34をそれぞれ示す。
ラマン測定検出信号の正しいDC値は、異なる個別の測定を行なってこのDC値を計算するためのパラメータを求めることにより得られる。FMCW(周波数変調連続波)を周波数領域の形式にすることにより、ラマン後方散乱光の位相遅延項をファイバに沿って測定することができる。(IFFTの後の)空間領域では、該当する信号はラマン光のグループ速度項である。レーザ光源の変調特性(固定動作点での異なる周波数による強度変調)に起因して、fm=0Hz(DC値)での複素検出信号は更に別の項を含み、この項はラマン後方散乱光の位相遅延項とは関係がない。この項はIFFTには望ましくなく、かつ上述のDC誤差を生じさせる。このDC誤差は非常に大きな影響を及ぼし、かつ後方散乱曲線に変動を生じさせ、更には温度曲線の計算に変動を生じさせる。
第3の測定をf=f1(例えば8KHz)で行なうことにより、UDC1と表記されるDC値を測定する。レーザの動作点により生じるDC値のみが測定される(例えば、電子的に直流結合させる)。
以下に、部品の許容誤差及び部品の非線形動作に起因する複素受信周波数データの位相誤差を補正する手順について説明する。
図4aは(大きな)位相誤差を複素周波数測定データに含む例を示している。参照番号41で示す最も上の図は、複素測定信号411,412(それぞれ反ストークス信号及びストークス信号を測定ポイントの関数として表わしている)の両方の振幅(電圧単位で表記され、光検出信号の強度に比例する)を周波数の関数として示している。中央の図42は、フーリエ変換を行なった後の後方散乱曲線421,422(それぞれ反ストークス曲線及びストークス曲線を表わしている)、すなわち光パワー[dB]対位置[m](すなわち、励起兼分析ユニットからの距離)の測定値を示している。1450nm近傍の曲線のねじれ(kink)423は、ファイバ端近傍の位相誤差に起因する影響を示している。位相誤差によって、変動を持つ非線形動作が、最も下の図43に示す温度[℃]曲線対位置[m]のデータにも生じる。温度上昇が、2000m近傍のピーク431によって示される。
センサを校正手順に取り入れると有利である。光導波路の後方散乱特性は複素受信周波数データの生成過程に影響を与えるので、装置(励起兼分析部)に起因する誤差の値は一定にはならない。更に、これらの誤差の値が温度プロファイルに与える影響は異なる。励起兼分析部の校正は、センサの特性が変化する(センサの取り替えに起因する、または励起兼分析部に接続されるセンサの物理特性の変化に起因する)場合には繰り返す必要がある。別の表現をすると、測定システムの再校正は、センサを異なる物理特性(長さ、化学組成、減衰率などを含む)を持つ別のセンサに置き換える場合には(少なくとも)実施する必要がある。
1.平均後方散乱データの直線表示におけるファイバ端よりも先のノイズの平均値が正である場合、DC値補正手順に関する残留誤差補正係数を小さくする必要があり、負の場合には大きくする必要がある。
6.1 序論
光学部品及び電子部品の非線形動作によって歪みが周波数データに生じる。その結果、非線形歪みが温度プロファイルにも生じ、これにより温度測定システムの精度が低下する。これらの種類の誤差は、最大±1Kのわずかな非線形オフセットを温度プロファイルに沿って生じさせる。特に、高い温度精度を必要とするセンサ用途では、更に別の校正手順が必要になる。
この数学的フレームワークに基づいて、複素周波数データを計算することができる。重要なのは、例えば特定の標準光ファイバに関連するセンサ特性が判明していることであり、これらのセンサ特性を例えばファイバの測定値から、既に校正されている測定機器を使用して抽出することができることである。
次の等式はラマン後方散乱曲線を位置の関数として表わし、複素周波数関数を、フーリエ変換を使用することにより求める数学的基礎である。
光ファイバ設定部(校正ファイバ)の光学パラメータ(ファイバ長、ラマン後方散乱係数、減衰率、挿入損失、及びフレネル反射率)は、光時間領域反射計(OTDR)を使用する市販の光学機器によって測定することができる(例えば、Erhard Grimm, Walter Nowak, “Lichtwellenleitertechnik”,Huthig−Verlagを参照)。フレネル反射率が与える影響は、リターンロスが小さい光プラグを使用し、光ファイバ端を直角に切断することにより小さくすることができる。
光センサの特性、例えば光コネクタ、可能であればスプライス、コーティング、減衰率、及びファイバの長さなどを含む光ファイバの特性は、測定結果に影響を与える。これらの特性は複素受信周波数データ(例えば、ラマン後方散乱により得られる)に直接影響を与える。理想的には、これらの影響は補正することができ、かつセンサを変更する(新規のセンサ特性が正確に特性化され、かつ明らかになっていると仮定する)ときにこれらの影響によって問題が生じるようなことがあってはならない。実際には、補正の精度が有限であるので、残留誤差が正常な校正手順に含まれ(機器が既知の特性を有する標準のセンサによって校正される場合)、誤差が生成物理特性(例えば、温度プロファイル)に含まれることになる。理想的には、再校正を、別のセンサが励起兼分析ユニットに接続されるたびに実行する必要がある。この操作は長い時間を必要とし、かつ実用的ではない(特に、既に実装されている機器に関して)。
図6は長さが100mの導波路センサのラマン反ストークス光の測定値を示し、図6aは後方散乱曲線(対数目盛)を示し、図6bは、フーリエ変換した結果の該当する周波数信号(複素測定信号の振幅関数)を示している。
図10は、複数の測定チャネルの間のクロストークが、結果として得られる後方散乱曲線(曲線は全て、縦軸のY軸の対数目盛で示される)に与える影響を示し、図10aは、異なるチャネル(反ストークスチャネル及びストークスチャネル)の間のクロストークを示し、図10bは、レーザモジュールから異なる測定チャネルの受光ボードへの「純粋な」クロストークを示している。この場合、光信号は受光ボードの光検出器に達することができない。図10cは、電気クロストークがない場合の測定信号を周波数の関数として示し、図10d及び11eは、クロストーク誤差を含む場合と含まない場合との光ファイバの後方散乱曲線をそれぞれ示している。
この複雑なクロストーク信号はDSPシステムに保存することができる。誤差補正は、測定信号(図10a)を純粋なクロストーク信号(図10b)から単に複素減算することにより行なわれる。この演算の結果を図10cに示し、図10cは、電気クロストークが無い状態の測定信号を周波数の関数として示している(対数目盛で)。
9.1 ハードウェア校正
適切なハードウェア校正手順を開発することにより得られる基本的な考え方は、誤差を分離して誤差要因の補正の実行を可能にするということである。
1.電気クロストークに起因する加法的な周波数誤差
2.部品の許容誤差に起因する位相オフセット誤差
3.逆フーリエ変換公式に関するDC値を高精度で測定する際の問題に起因するDC誤差
4.物理的に限界のある精度に起因する補正ステップ2.及び3.の残留誤差
5.部品の非線形動作に起因する乗法的な周波数誤差
基本的に、他の補正シーケンスを使用することができるが、上述のシーケンスが技術的観点から好ましい。
ハードウェア校正の後、次の手順を温度校正とすると有利であり、この温度校正は、光ファイバ特性に基づいて次のシーケンスで行なわれる。
1.ファイバコーティングの温度依存性を求める。
2.温度絶対値を求める。
3.感度を求める。
図9は校正手順の好適な組み合わせの例を示している。
一つの実施形態では、校正方法は次のステップを含み、これらのステップは測定システムのDSPにおいてソフトウェアで行なう自動校正手順の一部分である。
クロストークを除去するために、クロストークを特定の測定手順(第8節を参照)によりシステム製造期間において求める。測定の結果は専用システムに記憶される。正常動作の各測定サイクルでは、記憶されたクロストークを測定複素周波数データから減算する。
位相オフセットは線形近似(第4節を参照)によりシステム製造期間において求めるか、または正常動作の各測定サイクルにおいてオンライン測定値として求める。近似によってわずかな誤差を含み易い結果は、ステップ4が既に行なわれている場合には、ノイズ基準を適用する自動システム校正により求まる第2補正係数によって改善される。
真のFFT−DC値(第3節を参照)を求める特定の方法としてのDC値補正は、正常動作の各測定サイクルにおいて自動的に(オンラインで)行なわれる。DC補正手順では、ステップ4が既に行なわれている場合には、ノイズ基準を適用する自動システム校正の結果を考慮に入れる。
位相オフセット補正及びDC値補正の残留誤差は自動システム校正(第5節を参照)により求めることができる。記載の繰り返し方法において、定義ルールを使用して補正係数を収束基準が満たされるまで変更することにより、後方散乱曲線の線形化が行なわれる。自動システム校正は製造期間において行ない、かつ試運転及びメンテナンスの間に繰り返して異なるファイバ効果またはエージング効果を考慮に入れる必要がある。自動システム校正の結果は更にシステムに記憶され、正常動作の各測定サイクルのステップ2及び3に適用される。
周波数校正(第6節を参照)では、位相オフセット及びDC値には、理想の結果からずれたゼロヘルツ超の測定周波数における位相特性及び振幅特性が含まれていることを考慮に入れる。補正データは専用システムの製造期間における特定の測定において求めることができ、システムに記憶される。正常動作の各測定サイクルにおいて、このデータは、DC値補正及び位相オフセット補正の後の周波数データに適用される。
補正データ(第9.2節を参照)は、専用システムを製造している間の特定の測定において求めることができ、システムに記憶される。
フィールド校正は、ソフトウェア手順のみによるステップ4の繰り返しであり、他のリソースを利用することはない。分析ユニットは、この目的のために開放にする必要はない。再校正を行なう結果、システムがファイバの変化によって変更される場合のDC値に主として影響を与えるフィードバック効果、及び分析ユニットのエージング効果が除去される。
上記の「背景技術」欄で説明した先行技術の問題(ポイントa)−e))を参照しながら、次の例では、これらの問題の解決法について説明する。
a1)求めることが困難なfm=0での後方散乱信号の値(DC値)。
a2)センサ特性によって変わるDC値。
b)は位相オフセット補正手順(部品の許容誤差:上記の第4及び第5節を参照)によって、更には周波数校正手順(部品の非線形動作:上記の第6節を参照)によって補正される。
1.まず、測定チャネル間の相対位相シフトを、周波数データの位相特性の一定位相誤差として求める。この位相シフトは測定結果の精度に最も大きな影響を与える。このシフトは、位相特性全体に適用される「位相オフセット補正手順」により補正される。この手順は、fm=0Hzに対応する測定位相角を近似することにより行なわれる。近似はわずかな誤差を生じ易い(上記の第4節を参照)。残留誤差は、「自動システム校正」と呼ばれる線形化手順(上の第5節を参照)の結果を使用することにより除去される。
2.第2ステップでは、測定周波数>0Hzにおける位相特性及び振幅特性の非線形性を、「周波数校正手順」(上記の第6節を参照)を使用することにより除去する。
c)はクロストーク補正手順(上記の第8節を参照)によって補正される。
d)電子部品のエージング効果に起因する誤差
d)は、ハードウェア校正(上記の第9.1節を参照)を、変更が為されていると考えられるたびに適宜繰り返すことにより補正される。
e)は、後方散乱曲線を線形化し、かつノイズ特性に関する基準を適用する自動システム校正(上記の第5節を参照)により補正される。
Claims (22)
- 光FMCW後方散乱測定システムを校正する方法であって、該システムは、第1端及び第2端を有する伸長センサと、周波数変調光信号を変調周波数fmで励起し、前記センサの第1端から受信するセンサ信号を分析するように構成された励起兼分析部とを備え、前記センサは、データ信号を前記周波数変調光信号に基づいて捕捉するように構成され、前記周波数変調光信号から、前記第1端と前記第2端との間のセンサ長に沿ったセンサの空間分布測定ポイントの物理パラメータを抽出することができ、当該方法は、
A.前記受信したセンサ信号を、振幅部分及び位相角部分によって表現される前記変調周波数fmの関数としての複素受信電気信号に変換するステップと、
B.前記受信電気信号の変換を行なって、前記センサの第1端と第2端との間の位置、及び前記第2端よりも先の位置の関数としての後方散乱信号を供給するステップと、
C.前記位置の関数としての前記後方散乱信号に基づいて、前記第2端よりも先の前記後方散乱信号を表わす曲線の特性を求めるステップと、
D.前記曲線において所定の依存性を示す前記受信電気信号の前記振幅部分、及び前記受信電気信号の前記位相角部分を補正するステップであって、f m =0での初期補正量ΔH 0 (0)によって前記受信電気信号の前記振幅部分を補正するサブステップD1と、f m =0での前記位相角の初期オフセット値Δφ 0 (0)によって前記受信電気信号の前記位相角部分を補正するサブステップD2とを含むステップと、
E.前記ステップBを補正済み受信電気信号に基づいて繰り返すステップと、
F.前記ステップC,D,Eを所定の基準が満たされるまで適宜繰り返すステップと、
を備える、方法。 - 前記ステップFにおいて、前記所定の基準は、前記センサの前記第2端よりも先の前記後方散乱信号を表わす前記曲線がほぼ0の勾配を有する直線によって近似されることである、請求項1記載の方法。
- 前記勾配は、標準誤差(samples)で0.5未満であり、例えば標準誤差で0.05未満、標準誤差で0.005未満である、請求項2記載の方法。
- 前記所定の基準は、前記第2端よりも先の前記後方散乱信号の一部分または全てに関するサンプル群の平均値が標準誤差で0.5未満であるという基準であり、例えば標準誤差で0.05未満であるという基準である、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記ステップD1において、前記初期補正量ΔH0(0)は、所定の値、例えば推定値に設定される、請求項1記載の方法。
- 前記ステップD1において、前記初期補正量ΔH0(0)は、後方散乱曲線におけるノイズの平均値の0からの変位量によって決まる、請求項1又は5記載の方法。
- 前記ステップD2において、前記初期オフセット値Δφ0(0)は所定の値に設定される、請求項1記載の方法。
- 前記ステップD2において、前記初期オフセット値Δφ0(0)は、fm→0Hzとして位相角データを線形外挿することにより求められる、請求項1又は7記載の方法。
- 前記ステップA,B,C,D,Eの校正手順は各測定サイクルにおいて行なわれる、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の方法。
- 前記ステップDは更に、
残留補正係数ΔHres(0)を求めるサブステップD3と、残留オフセット値Δφres(0)を求めるサブステップD4とを含み、両方のサブステップは、それぞれ、サブステップD1の前記初期補正量ΔH0(0)による補正、及びサブステップD2の前記初期オフセット値Δφ0(0)による補正後に、前記振幅部分及び前記位相角部分をそれぞれ表わす前記変調周波数fmの関数としてのデータから計算される後方散乱データに基づいて行なわれ、サブステップD3では、前記残留補正係数ΔHres(0)の値は、前記センサの前記第2端よりも先の前記後方散乱信号の平均レベルの平均値に基づいて求められ、サブステップD4では、前記残留オフセット値Δφres(0)の値は、前記センサの前記第2端よりも先の前記後方散乱信号の勾配の値に基づいて求められる、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の方法。 - 前記ステップD3及びD4は、5回よりも多くの測定、10回よりも多くの測定、20回よりも多くの測定のような複数回の測定により得られる後方散乱曲線を平均することにより行なわれる、請求項10記載の方法。
- 前記校正は、既知の特性を有する標準化された光センサを使用して行なわれる、請求項1乃至11のいずれか一項に記載の方法。
- 前記校正は、センサの光学特性のような特性が変化する場合か、またはシステムの他の特性が変化した、もしくは変化したと考えられる場合に行なわれる、請求項10又は11に記載の方法。
- 前記測定システムは、空間分布温度プロファイルの測定を行うためのラマン後方散乱測定システムである、請求項1乃至13のいずれか一項に記載の方法。
- 前記校正方法は、ストークス信号及び反ストークス信号を表わす信号に対して行なわれる、請求項1乃至14のいずれか一項に記載の方法。
- クロストーク補正手順を更に備え、該クロストーク補正手順は、
G1.前記測定システムの複数の測定チャネル間のクロストークをシステム製造期間において特定の測定手順を使用して求め、求めたクロストークの値を格納するステップと、
G2.正常動作の各測定サイクル内で、記憶されたクロストークデータを測定複素周波数データから減算するステップと、
を含む、請求項1乃至15のいずれか一項に記載の方法。 - 前記ステップG1及びG2は、他の補正校正ステップよりも前に行なわれる、請求項16記載の方法。
- 前記センサは、測定部に直列に接続することができる基準部を含む、請求項1乃至17のいずれか一項に記載の方法。
- 周波数領域と空間領域との間の理論的な畳み込みを考慮する複数のステップであって、
予測複素周波数曲線を数学モデルに基づいて求め、算出された複素周波数関数SRに対する、FMCW後方散乱測定システムの測定データSRMの複素比により構成される複素周波数誤差関数を求めてメモリに保存するステップH1と、
次の測定サイクルの最初に、前記測定された周波数データSRMを前記複素周波数誤差関数で補正するステップH2と、
を含む複数のステップを更に備える、請求項1乃至18のいずれか一項に記載の方法。 - ステップG1及びG2は、他の補正校正ステップの後に行なわれる、請求項19記載の方法。
- コンピュータ読み取り可能な媒体を備える光FMCW後方散乱測定システムであって、前記コンピュータ読み取り可能な媒体は、コンピュータ読み取り可能なプログラムコードを格納しており、請求項1乃至20のいずれか一項に記載の校正方法を実行する、光FMCW後方散乱測定システム。
- コンピュータ読み取り可能なプログラムを格納するコンピュータ読み取り可能な媒体であって、前記プログラムをコンピュータで実行すると、前記プログラムによって請求項1乃至20のいずれか一項に記載の校正方法を実行することができる、コンピュータ読み取り可能な媒体。
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Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101270700B1 (ko) * | 2006-11-15 | 2013-06-03 | 삼성전자주식회사 | 광시야각 구현 방법 및 장치 |
EP2017593B1 (en) * | 2007-07-20 | 2013-09-04 | LIOS Technology GmbH | Method and system for determining a physical property as a function of position |
US7769252B2 (en) | 2008-02-08 | 2010-08-03 | Weatherford/Lamb, Inc. | Location marker for distributed temperature sensing systems |
JP5150445B2 (ja) * | 2008-10-03 | 2013-02-20 | 株式会社フジクラ | 光ファイバセンサ装置および温度とひずみの計測方法と光ファイバセンサ |
DE102009043546A1 (de) * | 2009-09-30 | 2011-03-31 | Lios Technology Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur ortsaufgelösten Messung mechanischer Größen, insbesondere mechanischer Schwingungen |
DE102010016640B4 (de) | 2010-04-26 | 2016-02-18 | Bundesanstalt für Materialforschung und -Prüfung (BAM) | System und Verfahren zur quasi-verteilten Messung einer Meßgröße |
DE102010024178A1 (de) * | 2010-06-17 | 2011-12-22 | Lios Technology Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur ortsaufgelösten Messung einer physikalischen Größe |
JP5152540B2 (ja) * | 2010-06-22 | 2013-02-27 | 横河電機株式会社 | 光ファイバ温度分布測定装置 |
US8682585B1 (en) | 2011-07-25 | 2014-03-25 | Clean Power Research, L.L.C. | Computer-implemented system and method for inferring operational specifications of a photovoltaic power generation system |
US9411073B1 (en) | 2011-07-25 | 2016-08-09 | Clean Power Research, L.L.C. | Computer-implemented system and method for correlating satellite imagery for use in photovoltaic fleet output estimation |
US9880230B1 (en) | 2011-07-25 | 2018-01-30 | Clean Power Research, L.L.C. | System and method for inferring operational specifications of a photovoltaic power generation system using net load with the aid of a digital computer |
US8818199B2 (en) * | 2012-02-06 | 2014-08-26 | Adtran, Inc. | Correlation systems and methods with error compensation |
US9116076B2 (en) | 2012-02-06 | 2015-08-25 | Adtran, Inc. | Systems and methods for canceling electrical crosstalk from measurements of optical signals |
US9574949B2 (en) * | 2012-02-17 | 2017-02-21 | Roctest Ltd | Automated system and method for testing the efficacy and reliability of distributed temperature sensing systems |
DE102012006420A1 (de) * | 2012-03-30 | 2013-10-02 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Temperatursensor sowie Verfahren zum Messen einer Temperaturänderung |
US10409925B1 (en) | 2012-10-17 | 2019-09-10 | Clean Power Research, L.L.C. | Method for tuning photovoltaic power generation plant forecasting with the aid of a digital computer |
WO2015025009A1 (de) * | 2013-08-22 | 2015-02-26 | Elmos Semiconductor Ag | Verfahren zur kalibrierung einer vorrichtung zur vermessung einer optischen signalübertragungsstrecke |
US20150085610A1 (en) * | 2013-09-25 | 2015-03-26 | Baker Hughes Incorporated | Fiber optic distributed acoustic measurements via fmcw interrogation |
DE102014101105B3 (de) * | 2014-01-29 | 2015-06-11 | Bundesrepublik Deutschland, Vertreten Durch Den Bundesminister Für Wirtschaft Und Energie, Dieser Vertreten Durch Den Präsidenten Der Bundesanstalt Für Materialforschung Und -Prüfung (Bam) | Vorrichtung und Verfahren zur Reflexionsunterdrückung bei der Messung einer Messgröße mittels einer optischen Faser |
US10789396B1 (en) | 2014-02-03 | 2020-09-29 | Clean Power Research, L.L.C. | Computer-implemented system and method for facilitating implementation of holistic zero net energy consumption |
US10719636B1 (en) | 2014-02-03 | 2020-07-21 | Clean Power Research, L.L.C. | Computer-implemented system and method for estimating gross energy load of a building |
US10719789B1 (en) | 2014-02-03 | 2020-07-21 | Clean Power Research, L.L.C. | Computer-implemented method for interactively evaluating personal energy-related investments |
US10747914B1 (en) | 2014-02-03 | 2020-08-18 | Clean Power Research, L.L.C. | Computer-implemented system and method for estimating electric baseload consumption using net load data |
JP5975064B2 (ja) | 2014-05-13 | 2016-08-23 | 横河電機株式会社 | 光ファイバ温度分布測定装置 |
JP6206348B2 (ja) * | 2014-07-07 | 2017-10-04 | 横河電機株式会社 | 光ファイバ温度分布測定装置 |
US10332021B1 (en) | 2015-02-25 | 2019-06-25 | Clean Power Research, L.L.C. | System and method for estimating indoor temperature time series data of a building with the aid of a digital computer |
US10339232B1 (en) | 2015-02-25 | 2019-07-02 | Clean Power Research, L.L.C. | Computer-implemented system and method for modeling building heating energy consumption |
US10156554B1 (en) | 2015-02-25 | 2018-12-18 | Clean Power Research, L.L.C. | System and method for determining infiltration of a building through empirical testing using a CO2 concentration monitoring device |
US11921478B2 (en) * | 2015-02-25 | 2024-03-05 | Clean Power Research, L.L.C. | System and method for estimating periodic fuel consumption for cooling of a building with the aid of a digital computer |
US10203674B1 (en) | 2015-02-25 | 2019-02-12 | Clean Power Research, L.L.C. | System and method for providing constraint-based heating, ventilation and air-conditioning (HVAC) system optimization with the aid of a digital computer |
DE102015103139B3 (de) * | 2015-03-04 | 2016-08-11 | Aiq Dienstleistungen Ug (Haftungsbeschränkt) | Verteilte optische Messvorrichtungen und Verfahren zum Ausführen einer Messung |
US10775246B2 (en) | 2018-03-09 | 2020-09-15 | Viavi Solutions Inc. | Single-band distributed temperature sensing |
CN108414114A (zh) * | 2018-03-26 | 2018-08-17 | 李青 | 一种光纤温度传感探头及光纤温度传感系统 |
CN109375197B (zh) * | 2018-10-23 | 2023-02-10 | 哈尔滨工程大学 | 一种小尺寸矢量阵低频散射校正方法 |
KR20200086512A (ko) * | 2019-01-09 | 2020-07-17 | 한국전자통신연구원 | 패턴 기반 복조 방식의 백스캐터 통신 방법 및 장치 |
US11500100B2 (en) * | 2019-04-15 | 2022-11-15 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time-of-flight measurements using linear inverse function |
EP3929548A1 (en) * | 2020-06-22 | 2021-12-29 | Heraeus Electro-Nite International N.V. | Device and method for measuring a temperature of a molten metal |
CN115347951B (zh) * | 2022-10-19 | 2022-12-16 | 高勘(广州)技术有限公司 | 光缆探测工具的校验方法、装置、设备及存储介质 |
CN116756477B (zh) * | 2023-08-23 | 2023-12-26 | 深圳市志奋领科技有限公司 | 基于菲涅尔衍射边缘特性的精密测量方法 |
CN117168331B (zh) * | 2023-11-02 | 2024-01-02 | 山西锦烁生物医药科技有限公司 | 基于光纤传感器的天然冰场冰层厚度实时检测方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08338786A (ja) * | 1995-06-12 | 1996-12-24 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光反射測定方法 |
JP2005147900A (ja) * | 2003-11-17 | 2005-06-09 | Japan Aerospace Exploration Agency | Ofdr方式の歪連続分布計測装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4777661A (en) | 1986-09-22 | 1988-10-11 | Simmonds Precision Products, Inc. | Apparatus and method for self-referencing and multiplexing intensity modulating fiber optic sensors |
US5272334A (en) | 1991-10-17 | 1993-12-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Device for detecting a temperature distribution having a laser source with temperature and wavelength adjusting means |
KR0133488B1 (en) | 1993-01-06 | 1998-04-23 | Toshiba Kk | Temperature distribution detector using optical fiber |
ATE164004T1 (de) * | 1994-07-16 | 1998-03-15 | Felten & Guilleaume Energie | Verfahren zur auswertung optisch rückgestreuter signale zur bestimmung eines streckenabhängigen messprofils eines rückstreumediums |
DE19521771A1 (de) * | 1995-06-20 | 1997-01-02 | Jan Michael Mrosik | FMCW-Abstandsmeßverfahren |
AU2003220156B2 (en) * | 2002-03-06 | 2008-07-31 | Aspectrics, Inc. | Method and apparatus for radiation encoding and analysis |
US20030234921A1 (en) | 2002-06-21 | 2003-12-25 | Tsutomu Yamate | Method for measuring and calibrating measurements using optical fiber distributed sensor |
US7359062B2 (en) * | 2003-12-09 | 2008-04-15 | The Regents Of The University Of California | High speed spectral domain functional optical coherence tomography and optical doppler tomography for in vivo blood flow dynamics and tissue structure |
DE10360485B4 (de) | 2003-12-22 | 2005-11-24 | Airbus Deutschland Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Temperaturüberwachung entlang einer Messleitung |
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