JP4870094B2 - 太陽電池用光吸収層及びその製造方法 - Google Patents

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Description

発明の詳細な説明
〔技術分野〕
本発明は、太陽電池用光吸収層及びその製造方法に関するもので、より詳細には、MOCVD方法を使用して化学当量比に近い造成比を有するCuInSe、CuGaSe及びCuIn1-xGaSe薄膜を多層に積層して太陽光の吸収能力を向上させることのできる、太陽電池用光吸収層及びその製造方法に関するものである。
〔背景技術〕
CuInSe(以下、“CIS”という)またはCuIn1−xGaSe(以下、“CIGS”という)の三元系薄膜は、最近活発に研究されている化合物半導体のうちの一つである。
これらCIS系薄膜太陽電池は、既存のシリコンを使用する太陽電池とは異なり、10ミクロン以下の厚さに制作可能で、長時間使用時、安定的な特性を有している。また、実験的に最高変換効率が19.8%と、他の太陽電池に比べ遙かに優れ、シリコンを代替できる低価高効率の太陽電池で、商業化の可能性がとても高い。
これに伴い、最近商業化のためにCIS薄膜を製造するための多様な方法が報告されている。そのうちの一つが、本発明の出願人が先出願した韓国特許出願第2004−29221号に詳しく記載されている。このような従来の技術によると、基板上に[MeIn−(μSeMe)]前駆体を使用した有機金属化学気相蒸着法によってInSe薄膜を形成し、InSe薄膜上に(hfac)Cu(DMB)前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってCuSe薄膜を形成した後、CuSe薄膜上に[MeIn−(μSeMe)]前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってCuInSe薄膜を製造するのである。また、CuInSe薄膜上に[MeGa−(μSeMe)]前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってCuIn1−xGaSe薄膜を製造するのである。
前述したように、CIS系薄膜太陽電池は20%に近い高いエネルギー変換効率を見せるが、効率をより増加させるためには、これらを多重薄膜に制作しなければならない。つまり、太陽光には光子エネルギーが約1.7eV(波長700nmの赤い光)から3.0eV(波長400nmの紫の光)の可視光線だけでなく、目に見えない豊富な紫外線と赤外線が含まれている。従って、このような多様なエネルギーの光を吸収するための高効率太陽電池制作には多重薄膜の制作技術が必需的である。
太陽光の全体スペクトロムを効率的に電気エネルギーに変換させるためには、エネルギーバンドギャップの異なる吸収層を多重に配列すればよい。CISを利用した太陽電池の理論的に予測されるエネルギー変換効率は、吸収層を2層にした時42%、3層にした時49%、4層にした時53%、そして多層にすると68%まで増加させることができると知られている。このように、吸収層の造成比を連続的に、または不連続的に変化させて作ったものをタンデムセル(Tandem Cell)という。しかし、CIS系化合物薄膜は多原子系物質で、多層薄膜を形成すると、上部層と下部層の境界面で原子たちが互いに拡散し、それ自体の特性を得ることができないという問題が多くて、これまでは高品質のタンデムセルを製造するのに多大なる難点があった。
〔発明の開示〕
〔技術的課題〕
本発明は、前記のような従来の技術的問題点を解決するために案出されたもので、多原子系薄膜であるCIS系化合物薄膜たちの上部層と下部層の間の境界面で原子たちの拡散がほとんどないCIS系多層薄膜の太陽電池用光吸収層及びその製造方法を提供するためのものである。
〔技術的解決方法〕
本発明の一実施例による太陽電池用光吸収層の製造方法は、基板上に、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素B及びVI族元素(以下、Xと表示する)を含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってBX構造式の化合物薄膜を蒸着する第1段階;前記BX構造式の化合物薄膜に、I族金属元素(以下、Aと表示する)を含む前駆体を供給する有機金属化学気相蒸着法によってAX構造式の化合物薄膜を形成する第2段階;前記AX構造式の化合物薄膜上に、III族元素C及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX構造式の化合物薄膜を蒸着する第3段階;及び前記ACX構造式の化合物薄膜上に、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着してACX/ABX構造式の多層薄膜を形成する第4段階とを含むことを特徴とする。この時、前記第2段階で蒸着されたAX構造式の化合物薄膜で、I族元素Aは適正化学当量比より過多含有されるようにし、第4段階でABX構造式の化合物薄膜を蒸着する時に補充され得るようにする。
これによって製造された太陽電池用光吸収層は、基板と、周期律表上のI族元素(以下、Aと表示する)、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素C及びVI族元素(以下、Xと表示する)とで構成されたACX構造式の化合物薄膜の第1層と、周期律表上のI族元素A、III族元素B及びVI族元素Xとで構成されたABX構造式の化合物薄膜の第2層とで構成されたACX/ABX構造式の多層薄膜となる。
本発明の他の実施例による太陽電池用光吸収層の製造方法は、基板上に、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素B及びVI族元素(以下、Xと表示する)を含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってBX構造式の化合物薄膜を蒸着する第1段階;前記BX構造式の化合物薄膜に、I族金属元素(以下、Aと表示する)を含む前駆体を供給する有機金属化学気相蒸着法によってAX構造式の化合物薄膜を形成する第2段階;前記AX構造式の化合物薄膜上に、III族元素C及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX構造式の化合物薄膜を蒸着する第3段階;前記ACX構造式の化合物薄膜上に、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着してACX/ABX構造式の多層薄膜を形成する第4段階;及び前記ABX構造式の化合物薄膜上に、I族金属元素Aを含む前駆体を供給してI族金属元素Aを補充した後、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX/ABX構造式の多層薄膜を形成する第5段階を含むことを特徴とする。この時、前記第2段階で形成されたAX構造式の化合物薄膜で、I族元素Aは適正化学当量比に合うようにする。
これによって製造された太陽電池用光吸収層は、基板と、周期律表上のI族元素(以下、Aと表示する)、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素C及びVI族元素(以下、Xと表示する)とで構成されたACX構造式の化合物薄膜の第1層と、周期律表上のI族元素A、III族元素B及びVI族元素Xとで構成されたABX構造式の化合物薄膜の第2層とで構成されたACX/ABX構造式の多層薄膜となる。
本発明で、前記第5段階のACX/ABX構造式の多層薄膜上に、III族元素C及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX/A(B、C)X構造式の多層薄膜を形成する第6段階を更に含む。これによって製造された太陽電池用光吸収層は、基板と、周期律表上のI族元素(以下、Aと表示する)、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素C及びVI族元素(以下、Xと表示する)とで構成されたACX構造式の化合物薄膜の第1層と、周期律表上のI族元素A、III族元素B、C及びVI族元素Xとで構成されたA(B、C)X構造式の化合物薄膜の第2層とで構成されたACX/A(B、C)X構造式の多層薄膜となる。
また、本発明で、前記第6段階のACX/A(B、C)X構造式の化合物多層薄膜上に、I族金属元素Aを含む前駆体を供給して多層薄膜にI族金属を補充した後、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着し、ACX/A(B、C)X/ABX構造式の多層薄膜を形成する第7段階を更に含む。これによって製造された太陽電池用光吸収層は、基板と、周期律表上のI族元素(以下、Aと表示する)、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素C及びVI族元素(以下、Xと表示する)とで構成されたACX構造式の化合物薄膜の第1層と、周期律表上のI族元素A、III族元素B、C及びVI族元素Xとで構成されたA(B、C)X構造式の化合物薄膜の第2層と、周期律表上のI族元素A、III族元素B及びVI族元素Xとで構成されたABX構造式の化合物薄膜の第3層とで構成されたACX/A(B、C)X/ABX構造式の多層薄膜となる。
本発明のまた他の実施例による太陽電池用光吸収層の製造方法は、基板上に、III族元素(以下、Bと表示する)及びVI族元素(以下、Xと表示する)を含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってBX構造式の化合物薄膜を蒸着する第1段階;前記BX構造式の化合物薄膜に、I族金属元素(以下、Aと表示する)を含む前駆体を供給する有機金属化学気相蒸着法によってAX構造式の化合物薄膜を形成する第2段階;前記AX構造式の化合物薄膜上に、III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着して第1p型半導体層を形成する第3段階;前記第1p型半導体層にPNまたはPIN異種接合を形成して第1セルを形成する第4段階;前記第1セル上に絶縁層を蒸着する第5段階;前記絶縁層上に、III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってBX構造式の化合物薄膜を蒸着する第6段階;前記BX構造式の化合物薄膜に、I族金属元素Aを含む前駆体を供給する有機金属化学気相蒸着法によってAX構造式の化合物薄膜を形成する第7段階;前記AX化合物薄膜上に、III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着して第2p型半導体層を形成する第8段階;及び前記第2p型半導体層にPNまたはPIN異種接合を形成して第2セルを作り、第1セル/絶縁層/第2セルの多層セルを形成する第9段階とを含み;第1セルと第2セルのABXはそのエネルギーバンドギャップがお互い異なることを特徴とする。
これによって製造された太陽電池用光吸収層は、基板と、周期律表上のI族元素(以下、Aと表示する)、III族元素(以下、Bと表示する)及びVI族元素(以下、Xと表示する)とで構成されたABX構造式の化合物薄膜と、その上層のPNまたはPIN異種接合を有する第1層と、前記第1層上に形成される絶縁性の第2層と、周期律表上のI族元素A、III族元素B及びVI族元素Xとで構成されたABX構造式の化合物薄膜と、その上層のPNまたはPIN異種接合を有する第3層とを含み、第1層と第3層のABX化合物薄膜はそのエネルギーバンドギャップがお互い異なるように構成される。
〔発明の実施のための最善の形態〕
以下、添付の図面を参照して、本発明による好ましい実施例の太陽電池用光吸収層の製造方法を説明する。本実施例は、本発明の権利範囲を限定するものでなく、単に例示のために提示されたものである。
図1は、本発明の第1実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程を概略的に示したフローチャートである。
図示されているように、基板上に、インジウム(In)及びセレニウム(Se)を含む単一前駆体、つまり[MeIn−(μSeMe)]を使用したMOCVD法によってInSe化合物薄膜を蒸着する(S101)。Meはメチル(methyl)を示し、μは、SeがInと二重にブリッジ(bridge)された結合になっていることを示している。エネルギーバンドギャップがより大きな吸収層が太陽電池の上部側となり、小さい方が後方電極に接触しなければならないので、基板は、透明電極にZnOまたはCdS薄膜の被さった基板を使用しなければならない。
段階S101で蒸着されたInSe化合物薄膜にCu1価前駆体(hfac)Cu(DMB)を供給するMOCVD法によってCuSe化合物薄膜を制作する(S102)。(hfac)はヘクサフルオロアセチルアセト(hexafluoroacetylaceto)の略称で、(DMB)は3、3−ジメチル(dimethyl)−1−ブテン(butene)の略称である。
段階S102で蒸着されたCuSe化合物薄膜上にGa及びSeを含む単一前駆体、つまり[MeGa−(μSeMe)]を使用したMOCVD法によってCuGaSe化合物薄膜を蒸着する(段階S103)。
段階S103で蒸着されたCuGaSe化合物薄膜上にIn及びSeを含む単一前駆体、つまり[MeIn−(μSeMe)]を使用したMOCVD法によってCuInSe化合物薄膜を蒸着して、CuGaSe/CuInSe多層薄膜を形成する(段階S104)。
この時、段階S102のCuSeにはCuが適正化学当量比より若干過多含有されるようにCu前駆体の量または工程条件を調節して、段階S104でIn及びSeの供給だけでも、CuInSe化合物薄膜が蒸着されるようにする。つまり、CuInSe化合物薄膜の蒸着時、CuGaSeに過多含有されたCuが上部に拡散されるようにして、CuGaSe/CuInSe多層薄膜を形成するのである。
本発明で薄膜成長のために使用された装置は低圧MOCVDである。本発明で使用された低圧MOCVD装置には、(hfac)Cu(DMB)、[MeIn−(μSeMe)]及び[MeGa−(μSeMe)]などの前駆体の入っているバブラー(bubbler)が多数個装着される。これによって、各前駆体の入っているバブラーを順次的に活用することによって、単一工程でCIS、CGS及びCIGSの多層薄膜を製造するのが可能である。
図2は、本発明の第2実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程を概略的に示したフローチャートである。
図示されているように、基板上にインジウム(In)及びセレニウム(Se)を含む単一前駆体、つまり[MeInー(μSeMe)]を使用したMOCVD法によってInSe化合物薄膜を蒸着する(S201)。Meはメチル(Methyl)を示すもので、μは、SeがInと二重にブリッジ(bridge)された結合になっていることを示す。基板は透明電極にZnOまたはCdS薄膜の被さったものである。
段階S201で蒸着されたInSe化合物薄膜にCu1価前駆体(hfac)Cu(DMB)を供給するMOCVD法によってCuSe化合物薄膜を制作する(S202)。(hfac)はヘクサフルオロアセチルアセト(hexafluoroacethlaceto)の略称で、(DMB)は3、3−ジメチル(dimethyl)−1−ブテン(butene)の略称である。
段階S202で制作されたCuSe化合物薄膜上にGa及びSeを含む単一前駆体、つまり[MeGa−(μSeMe)]を使用したMOCVD法によってCuGaSe化合物薄膜を蒸着する(段階S203)。
段階S203で蒸着されたCuGaSe化合物薄膜上にIn及びSeを含む単一前駆体、つまり[MeIn−(μSeMe)]を使用したMOCVD法によってCuInSe化合物薄膜を蒸着する(段階S204)。この時、供給される物質はInとSeだけでなく、下部層であるCuGaSeに含有されているCuの一部が拡散してCuInSe化合物薄膜を形成することになる。
段階S204で蒸着されたCuInSe化合物薄膜上にCu前駆体である(hfac)Cu(DMB)を供給してCuInSeに不十分に含有されたCuを補充する(段階S205)。次に、In及びSeを含む単一前駆体、つまり[MeIn−(μSeMe)]を使用したMOCVD法によってCuInSe化合物薄膜の蒸着が完成されるようにして、CuGaSe/CuInSe多層薄膜を完成する(段階S206)。この時、供給される物質はInとSeだけであるが、段階S205で補充されたCuの一部がCuInSe化合物薄膜形成に使用される。この時、段階S202のCuSeには、実施例1と異なり、Cuが適正化学当量比と合うように含有されるようCu前駆体の量または工程条件を調節する。
図3は、このような方法で製造されたCuGaSe/CuInSe多層薄膜のXRD結果である。比較のために、CuInSeとCuGaSeの単一薄膜に対する結果を添付した。CuGaSe/CuInSe薄膜のXRD回折模様で、26.62度のピークはCuInSeの(211)面に該当するもので、27.66度のピークはCuGaSeの(211)面に該当するものである。44.25度のピークはCuInSeの(220)と(204)面に該当するもので、45.64度と46.17度のピークは各々CuGaSeの(220)と(204)面に該当するものである。CuInSeの(220)と(204)面のピークは重なって現れる反面、CuGaSeの(220)と(204)面のピークは分離されて現れる理由は、CuInSeの場合、単位細胞の格子常数がa=c/2である反面、CuGaSeの場合はa>c/2と、圧縮歪曲が発生するためである。
図4は、本発明の第3実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程を概略的に示したフローチャートである。
段階S301乃至段階S306は第2実施例の段階S201乃至段階S206と同一で、製造されたCuGaSe/CuInSe多層薄膜上に、Ga及びSeを含む単一前駆体、つまり[MeGa−(μSeMe)]を使用したMOCVD法によってCuGaSe/CuIn1−xGaSe構造の多層薄膜を完成する(段階S307)。
図5は、本発明の第4実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程を概略的に示したフローチャートである。
段階S401乃至段階S407は第3実施例の段階S301乃至段階S307と同一で、製造されたCuGaSe/CuIn1−xGaSe構造の多層薄膜上に、Cu前駆体、つまり(hfac)Cu(DMB)を供給して多層薄膜にCuを補充する(段階S408)。次に、In及びSeを含む単一前駆体、つまり[MeIn−(μSeMe)]を使用したMOCVD法によってCuGaSe/CuIn1−xGaSe/CuInSe多層薄膜を形成する(段階S409)。
図6は、前述した第1及び第2実施例の方法で製造されたCuGaSe/CuInSe多層薄膜の断面図であり、図7は、第4実施例の方法で製造されたCuGaSe/CuIn1−xGaSe/CuInSe多層薄膜の断面図を示したものである。
図8(a)及び図8(b)は、第1乃至第4実施例の方法で製造された多層薄膜の構造及びエネルギーバンドを概略的に示したものである。図示されているように、電極たち(1,2)の間にN型半導体層(11,12,13)、絶縁層(14)、P型半導体層(15,16,17)がサンドイッチ構造で形成される。好ましくは、N型半導体層はZnO薄膜にドーピング濃度を異ならせて形成し、絶縁層(i)はCdS薄膜を使用し、P型半導体層は本発明の第1乃至第4実施例の方法で製造された多層薄膜である。CuGaSe/CuInSe、CuAlSe/CuGaSe/CuInSe、CuGaSe/CuIn1−xGaSe/GuInSe、CuAlSe/CuIn1−xAlSeなどの多層薄膜をP型半導体層に使用して、エネルギーバンドギャップがお互い異なる複数個の半導体層を形成する。これによって、多様なエネルギーの光を吸収することができ、太陽光の全体スペクトロムを効率的に電気エネルギーに変換させるのが可能になる。
図9は、本発明の第5実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程を概略的に示したフローチャートである。
前述した第1実施例の製造方法によってCuInSe化合物薄膜を形成してP型半導体層を製造する(段階S501)。
段階S501で形成されたCuInSe化合物薄膜のP型半導体層にCdS、ZnOなどの薄膜を形成してPNまたはPIN異種接合で作られた第1セルを完成する(段階S502)。
段階S502の第1セル上にバッファ層を蒸着する(段階S503)。バッファ層にはシリコン酸化物薄膜などの絶縁性物質を使用する。
段階S503で形成された第1セル/バッファ層上に、前述した第1実施例の製造方法のうち前駆体だけを変更してCuGaSe化合物薄膜を形成してP型半導体層を製造する(段階S504)。この時のP型半導体層はCuGaSe化合物薄膜に限定されず、第1セルのものとはエネルギーバンドギャップが異なるようにIII族元素を選択する。
段階S504で形成されたCuGaSe化合物薄膜のP型半導体層にCdS、ZnOなどの薄膜を形成してPNまたはPIN異種接合で作られた第2セルを完成する(段階S505)。
段階S505の第2セル上に絶縁層を蒸着した後、段階S501乃至段階S505の過程を繰り返すことによって、PIN/バッファ層/PIN/バッファ層/PIN構造の多層セルが完成される。
図10(a)及び図10(b)は、第5実施例の方法で製造された多層薄膜の構造及びエネルギーバンドを概略的に図示したものである。図示されているように、電極たち(1,2)の間にP型半導体層(21)、絶縁層(22)及びN型半導体層(23)とで構成された第1セルと;バッファ層(24)と;P型半導体層(25)、絶縁層(26)及びN型半導体層(27)とで構成された第2セルと;バッファ層(28)と;P型半導体層(29)、絶縁層(30)及びN型半導体層(31)とで構成された第3セルがサンドイッチ構造で形成される。好ましくは、N型半導体層はZnO薄膜で形成され、絶縁層(i)はCdS薄膜を使用し、P型半導体層はCuAlSe、CuGaSe、CuInSe、Cu(In、Ga)Seなどの化合物薄膜である。これらP型半導体層たちはエネルギーバンドギャップがお互い異なる複数個の半導体層を形成する。これによって、多様なエネルギーの光を吸収することができ、太陽光の全体スペクトロムを効率的に電気エネルギーに変換させることが可能になる。
これによって製造される太陽電池用光吸収層の一例は、CuAlSe/CdS/ZnO/バッファ層/CuGaSe/CdS/ZnO/バッファ層/Cu(In、Ga)Se/CdS/ZnO/バッファ層/CuInSe/CdS/ZnOで構成された多層薄膜となる。このように、太陽光の全体スペクトロムを効率的に電気エネルギーに変換させるためには、バッファ層の上部及び下部層の化合物薄膜を変更して、エネルギー帯間隔がお互い異なる化合物薄膜を有するように配列する。このような配列は、前述した例以外の多様な構造に変更可能なことは自明である。このように、上下層の間にバッファ層を使用すると、第1実施例乃至第4実施例でのようなIII族元素の原子番号の大きさを考慮しなくても安定した構造の多層薄膜を得ることができる。
このように、多層薄膜の界面で原子たちの間の相互拡散が発生せず、各々の特性を維持しながら薄膜が形成されるのは、本発明の出願人が先出願した韓国特許出願第2004−29221号に記載したような前駆体を使用した有機金属化学気相蒸着法で化合物薄膜を形成すると共に、原子の大きさの小さな原子で構成された薄膜の上部に相対的に原子の大きさの大きな原子で構成された薄膜を形成するからである。つまり、Gaを含むCuGaSeの上にInを含むCuIn1−xGaSeまたはCuInSe薄膜を形成するので、相対的に大きさの大きなInが下部層のGaに拡散されるのを防止する。一方、セルの間にバッファ層を使用して、上下層の原子に無関係に多層薄膜の光吸収層を製造することができるようになる。
上述のように、好ましい実施例を介して本発明について説明したが、本発明の技術思想はこれに限定されるものではない。つまり、前記実施例では太陽電池用光吸収層として使用される化合物薄膜にCuGaSe、CuIn1−xGaSe薄膜(但し、0≦x≦1)及びCuInSeなどを製造する工程に関して説明したが、これは化学周期律表上のI族、III族及びVI族の元素のなかから選択された元素から構成されたI−III−VI化合物中のいくつかの実施例であるだけである。
具体的な例を挙げて説明すると次のとおりである。
まず、第1段階で、基板上に、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素B及びVI族元素(以下、Xで表示する)を含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってBX構造式の化合物薄膜を蒸着する。III族元素(BまたはC)はAl、GaまたはInなど、周期律表で3族に属する元素を全て含み、VI族元素XはSe、SまたはTeなど、周期律表でVI族に属する全ての元素を含む。従って、成長したBX構造式の化合物薄膜は、InSe、GaSe、AlSe、InS、GaS、AlS、InTe、GaTeまたはAlTeなどである。
第2段階で、BX構造式の化合物薄膜に、I族金属元素(以下、Aと表示する)を含む前駆体を供給する有機金属化学気相蒸着法によってAX構造式の化合物薄膜を制作する。I族元素Aは、CuまたはAgなど周期律表でI族に属する全ての元素を含む。従って、成長したAX構造式の化合物薄膜はCuSe、CuS、CuTe、AgSe、AgSまたはAgTeなどである。
第3段階で、AX構造式の化合物薄膜上に、III族元素C及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX構造式の化合物薄膜を蒸着する。この時使用されるIII族元素CはIn、GaまたはAlなど周期律表で3族に属する元素中、第1段階で使用されたIII族元素Bより原子番号が小さいものである。
第4段階で、ACX構造式の化合物薄膜上に、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着して、ACX/ABX構造式の多層薄膜を形成する。この時使用されるVI族元素Xは第1段階の元素と同一であるが、III族元素には差がある。つまり、この時使用されるIII族元素Bは第3段階で選択されたIII族元素Cより原子番号が大きなIII族元素で、前述のように、蒸着されるIII族元素が下部層に拡散するのを防止するためのものである。
一方、多層薄膜を構成する原子で、III族だけでなく、I族及びVI族でも同じ原理が適用されることができる。つまり、上部層を構成するI族及びVI族原子番号が下部層より小さくないものを選択するようにする。
このような製造方法により、得られた多層薄膜はCuAlSe/CuGaSe、CuAlSe/CuInSe、CuGaSe/CuInSe、AgAlSe/AgGaSe、AgAlSe/AgInSe、AgGaSe/AgInSe、AgAlSe/CuGaSe、AgAlSe/CuInSe、AgGaSe/CuInSe、CuAlS/CuGaS、CuAlS/CuInS、CuGaS/CuInSe、CuAlSe/CuGaSe、CuAlS/CuInSe及びCuGaS/CuInSeなどで、以上で列挙していない多様なものが可能であることは自明である。従って、本発明の技術思想は、任意のACX/ABX構造式の多層薄膜を製造する方法を開示するものと解釈されるべきであり、界面での相互拡散を防止するために下部層のIII族元素Cより上層部のIII族元素Bの原子番号が大きなものでなければならない。このような思想はI族またはVI族でも同一に適用されることができる。
次に、第5段階で、第4段階のACX/ABX構造式の多層薄膜上に、I族金属元素Aを含む前駆体を供給してI族金属元素Aを補充した後、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX/ABX構造式の多層薄膜を形成する。
第6段階で、第5段階のACX/ABX構造式の多層薄膜上に、III族元素C及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX/A(B、C)X構造式の多層薄膜を形成する。
第7段階で、第6段階のACX/A(B、C)X構造式の化合物多層薄膜上に、I族金属元素Aを含む前駆体を供給して多層薄膜にI族金属を補充した後、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着して、ACX/A(B、C)X/ABX構造式の多層薄膜を形成する。
次は他の例である。
まず、第1段階として、基板上にIII族元素(以下、Bと表示する)及びVI族元素(以下、Xと表示する)を含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってBX構造式の化合物薄膜を蒸着する。
第2段階で、BX構造式の化合物薄膜に、I族金属元素(以下、Aと表示する)を含む前駆体を供給する有機金属化学気相蒸着法によってAX構造式の化合物薄膜を形成する。
第3段階で、AX構造式の化合物薄膜上に、III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着して第1p型半導体層を形成する。
第4段階で、第1p型半導体層にPNまたはPIN異種接合を形成して第1セルを形成する。
第5段階で、第1セル上にバッファ層に使用される絶縁層を蒸着する。
第6段階で、バッファ層上に、III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってBX構造式の化合物薄膜を蒸着する。
第7段階で、BX構造式の化合物薄膜に、I族金属元素Aを含む前駆体を供給する有機金属化学気相蒸着法によってAX構造式の化合物薄膜を形成する。
第8段階で、AX化合物薄膜上に、III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着して第2p型半導体層を形成する。
第9段階で、第2p型半導体層にPNまたはPIN異種接合を形成して第2セルを作り、第1セル/バッファ層/第2セルの多層セルを形成する。
この時、第1セルと第2セルのABXは、そのエネルギーバンドギャップがお互い異なるように構成する。例えば、第1セルと第2セルのABXを構成するIII族元素Bはお互い異なるIII族元素で構成するか、第1層と第3層のABX中の一つはCuIn1−xGaSe薄膜のようにIII族元素Bの位置に二つ以上のIII族元素を含有するようにする。
この時使用されるI族元素AはCuまたはAgなど周期律表で1族に属する全ての元素、III族元素BはAl、GaまたはInなど、周期律表で3族に属する全ての元素またはこれらの固溶体化合物、VI族元素XはSe、SまたはTeなど、周期律表でVI族に属する全ての元素を含む。従って、バッファ層を使用することによって、上下部層の原子番号の大きさを考慮する必要なく、多様な構造の多層薄膜を得ることができる。
本発明のIII族及びVI族元素を含む単一前駆体は「Me(III)−μ(VI)Me」タイプの前駆体に限定されず、本発明で提示されなかったいろいろなタイプの他の前駆体も可能であることは当業者には自明である。その理由を簡単に説明すると、周期律表上の同一族の元素が有する化学的特性はお互い類似しているので、他のタイプの前駆体を使用しても、全て類似した結果が現れるからである。同様に、Cuを含む前駆体も(hfac)Cu(DMB)に限定されるものでない。
〔産業上の利用可能性〕
このように、本発明によると多原子系薄膜であるI−III−VI族化合物半導体薄膜たちの上部層と下部層の間の境界面で原子たちの拡散がほとんどないI−III−VI族化合物半導体の多層薄膜を得ることができ、これによって太陽光の吸収能力をより向上させることができるようになる。
前記で説明し、図面に示された本発明の実施例は、本発明の技術的思想を限定するものと解釈されてはならない。本発明の技術分野で通常の知識を有した者は、本発明の技術的思想を多様な形態に改良変更することが可能なので、改良及び変更は通常の知識を有した者に自明なものである限り、本発明の保護範囲に属するものと見なすべきである。
本発明の第1実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程のフローチャートである。 本発明の第2実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程のフローチャートである。 本発明によって製造されたCuGaSe/CuInSe多層薄膜のXRD結果である。 本発明の第3実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程のフローチャートである。 本発明の第4実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程のフローチャートである。 本発明によって製造されたCuGaSe/CuInSe多層薄膜の断面図である。 本発明によって製造されたCuGaSe/CuInGa1−xSe多層薄膜の断面図である。 本発明よって製造された多層薄膜の構造及びエネルギーバンドの概念図である。 本発明の第5実施例による太陽電池用光吸収層の製造工程のフローチャートである。 本発明よって製造された多層薄膜の構造及びエネルギーバンドの概念図である。

Claims (12)

  1. 基板上に、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素B及びVI族元素(以下、Xと表示する)を含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってBX構造式の化合物薄膜を蒸着する第1段階;
    前記BX構造式の化合物薄膜に、I族金属元素(以下、Aと表示する)を含む前駆体を供給する有機金属化学気相蒸着法によってAX構造式の化合物薄膜を形成する第2段階;
    前記AX構造式の化合物薄膜上に、III族元素C及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX構造式の化合物薄膜を蒸着する第3段階;及び
    前記ACX構造式の化合物薄膜上に、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着してACX/ABX構造式の多層薄膜を形成する第4段階とを含み、
    前記I族元素AはCuまたはAgであり、前記III族元素BはAl、GaまたはIn元素であり、前記III族元素CはAl、GaまたはIn元素であり、前記VI族元素XはSe、SまたはTeであることを特徴とする太陽電池用光吸収層の製造方法。
  2. 前記第2段階で蒸着されたAX構造式の化合物薄膜で、I族元素Aは適正化学当量比より過多含有されていることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池用光吸収層の製造方法。
  3. 前記第4段階のACX/ABX構造式の多層薄膜上に、I族金属元素Aを含む前駆体を供給してI族金属元素Aを補充した後、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX/ABX構造式の多層薄膜を形成する第5段階を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池用光吸収層の製造方法。
  4. 前記第5段階のACX/ABX構造式の多層薄膜上に、III族元素C及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってACX/A(B、C)X構造式の多層薄膜を形成する第6段階を更に含むことを特徴とする請求項3に記載の太陽電池用光吸収層の製造方法。
  5. 前記第6段階のACX/A(B、C)X構造式の化合物多層薄膜上に、I族金属元素Aを含む前駆体を供給して多層薄膜にI族金属を補充した後、前記III族元素B及びVI族元素Xを含む単一前駆体を利用した有機金属化学気相蒸着法によってABX構造式の化合物薄膜を蒸着し、ACX/A(B、C)X/ABX構造式の多層薄膜を形成する第7段階を更に含むことを特徴とする請求項4に記載の太陽電池用光吸収層の製造方法。
  6. 前記第2段階で蒸着されたAX構造式の化合物薄膜で、I族元素Aは適正化学当量比に合っていることを特徴とする請求項3乃至5のいずれかに記載の太陽電池用光吸収層の製造方法。
  7. 前記I族元素Aは銅(Cu)、前記III元素Bはインジウム(In)、前記III族元素Cはガリウム(Ga)またはアルミニウム(Al)、前記VI族元素Xはセレニウム(Se)であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の太陽電池用光吸収層の製造方法。
  8. 請求項1に記載の太陽電池用光吸収層の製造方法によって得られる太陽電池用光吸収層であって、
    基板;
    前記基板上に形成され、周期律表上のI族元素(以下、Aと表示する)、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素C及びVI族元素(以下、Xと表示する)とで構成されたACX構造式の化合物薄膜の第1層;及び
    前記第1層上に形成され、周期律表上のI族元素A、III族元素B及びVI族元素Xとで構成されたABX構造式の化合物薄膜の第2層とで構成されたACX/ABX構造式の多層薄膜を含むことを特徴とする太陽電池用光吸収層。
  9. 前記I族元素Aは銅(Cu)、前記III族元素Bはインジウム(In)、前記III族元素Cはガリウム(Ga)またはアルミニウム(Al)、前記VI族元素Xはセレニウム(Se)であることを特徴とする請求項8に記載の太陽電池用光吸収層。
  10. 請求項に記載の太陽電池用光吸収層の製造方法によって得られる太陽電池用光吸収層であって、
    基板;
    前記基板上に形成され、周期律表上のI族元素(以下、Aと表示する)、III族(以下、BまたはCと表示し、BはCより原子番号が大きなもの)元素C及びVI族元素(以下、Xと表示する)とで構成されたACX構造式の化合物薄膜の第1層;及び
    前記第1層上に形成され、周期律表上のI族元素A、III族元素B、C及びVI族元素Xとで構成されたA(B、C)X構造式の化合物薄膜の第2層とを含んで構成されていることを特徴とする太陽電池用光吸収層。
  11. 前記第2層上に形成され、周期律表上のI族元素A、III族元素B及びVI族元素Xとで構成されたABX構造式の化合物薄膜の第3層を含んで構成されていることを特徴とする請求項10に記載の太陽電池用光吸収層。
  12. 前記I族元素Aは銅(Cu)、前記III族元素Bはインジウム(In)、前記III族元素Cはガリウム(Ga)またはアルミニウム(Al)、前記VI族元素Xはセレニウム(Se)であることを特徴とする請求項10または11に記載の太陽電池用光吸収層。
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