JP4853420B2 - 光学測定装置 - Google Patents
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Description
「ナノドロップ ND−1000 オーバービュー (NanoDrop ND-1000 Overview)」、米国ナノドロップ・テクノロジーズ社 (NanoDrop Technologies)、インターネット<http://www.nanodrop.com/nd-1000-overview.html>、[平成19年7月24日検索]
前記試料載置台上の液体試料を拭き取るための筒状の清掃用ウエスと、
前記清掃用ウエスの内部に装入される、少なくとも一面に拭き取り平面を有する、ゴムブロックから成るサポート部と、
前記サポート部を水平方向に旋回させることにより、前記試料載置台上の液体試料を拭き取るための拭取位置と該拭取位置から退避した退避位置との間で移動させる移動手段と、
前記清掃用ウエスを前記サポート部に保持するための弾性手段と、
を備え、
前記弾性手段が、前記ゴムブロックの側面のうち前記移動手段による旋回方向両側の側面に設けられた一対のアーチ形のバネである
ことを特徴とする。
11…試料滴下台
12…液体試料
13…ベース
14、44…ヘッド
15…支持柱
16…光源
17…平面鏡
18…集光レンズ
19…スリット
20…回折格子
21…検出器
22…窓板
23…窓板ホルダ
31、41…アーム
32…サポータ
33…ゴムブロック
34…回転軸
35…アーチバネ
36…バネ
37…レール
38…凸起部
39…屈曲部
40…ウエス
Claims (2)
- 試料載置台に載置した液体試料に測定光を照射し、前記液体試料を透過する光を測定する光学測定装置において、
前記試料載置台上の液体試料を拭き取るための筒状の清掃用ウエスと、
前記清掃用ウエスの内部に装入される、少なくとも一面に拭き取り平面を有する、ゴムブロックから成るサポート部と、
前記サポート部を水平方向に旋回させることにより、前記試料載置台上の液体試料を拭き取るための拭取位置と該拭取位置から退避した退避位置との間で移動させる移動手段と、
前記清掃用ウエスを前記サポート部に保持するための弾性手段と、
を備え、
前記弾性手段が、前記ゴムブロックの側面のうち前記移動手段による旋回方向両側の側面に設けられた一対のアーチ形のバネである
ことを特徴とする光学測定装置。 - 前記アーチ形のバネが、該ゴムブロックを保持するゴムブロック保持部と一体に作製された板金加工品である
ことを特徴とする請求項1に記載の光学測定装置。
Priority Applications (3)
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---|---|---|---|
JP2007194116A JP4853420B2 (ja) | 2007-07-26 | 2007-07-26 | 光学測定装置 |
EP08160947.1A EP2023123B1 (en) | 2007-07-26 | 2008-07-23 | Optical Measurement Apparatus |
US12/178,239 US8151396B2 (en) | 2007-07-26 | 2008-07-23 | Liquid-sample wiping mechanism and wipe-material holding mechanism for optical measurement apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007194116A JP4853420B2 (ja) | 2007-07-26 | 2007-07-26 | 光学測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2009031074A JP2009031074A (ja) | 2009-02-12 |
JP4853420B2 true JP4853420B2 (ja) | 2012-01-11 |
Family
ID=40401745
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007194116A Active JP4853420B2 (ja) | 2007-07-26 | 2007-07-26 | 光学測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP4877137B2 (ja) * | 2007-08-02 | 2012-02-15 | 株式会社島津製作所 | 光学測定装置用拭き取り機構 |
-
2007
- 2007-07-26 JP JP2007194116A patent/JP4853420B2/ja active Active
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