JP4829452B2 - 製品内の異物を検出する装置および方法 - Google Patents
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Description
本発明は、製品特に食料品内の異物を検出する装置に関する。また本発明は、この装置を利用した方法に関する。
【0002】
またさらに本発明は、製品を構成する材料の性状及び量の変化、特に材料の欠落、欠陥及び不均一性などを検出する装置に関する。本発明は、またこの装置を利用した方法に関する。
【0003】
現在、食品業界は、品質を向上させるために、例えば食品が市場に流通するまでに異物が食品に混入する可能性を出来るだけ減少させるための努力をしている。
【0004】
ここで言う「異物」とは、骨片、ガラスの破片、ゴム、砂、石、毛髪、虫などの食料品に望ましくない製品又は製品以外の全ての固形物を含む。現在、食品業界で行われているある種の異物を検出する方法は、非常に費用が掛かり、検出できる異物も磁力体、基準となる色、大きさ及び重量を逸脱する製品に限られている。このような方法の例としては、接眼鏡検査及びX線検査などが挙げられる。
【0005】
日本特許公報第63−285487号に食料品中の金属を検出する方法が開示されている。この発明は、食品の形状及びサイズに関係なく、放電を発生させるためにマイクロ波を食品に照射し、放電を検出することによって金属を検出することを目的としている。
【0006】
Hoskens氏等によるWO96/21153号に照射可能な物体を介して任意の波長の放射線を照射して該物体の品質を検出する装置が開示されている。この装置は、被照射可能な物体の一側部から平行に放射する手段と、該物体を通過する放射線を受け且つそれから送信信号を発生させる手段と、この信号から肉片の骨組織など、物体の品質に関する情報を得る手段とから構成されている。
【0007】
この送信信号から得られる情報によって、被検査製品の質量(mass)が決められ、この質量は高さと密度の関数であり、質量と放射減衰との間に相関関係が存在し、これにより製品の不均一性も検出される。
【0008】
この装置には、製品中の多数の異なる種類の異物を検出することが不可能又は非常に困難であるという問題点がある。金属又は高密度の粒子を低密度の材料からなる製品から検出するのは容易であるが、異物が材料と同程度の密度を有する場合、検出するのは困難である。
【0009】
さらに現代の方法が抱える問題点として、製造工程において完成品上の異物をオンラインで検出することが困難であるということがあり、これにより検出方法は、製造工程後に迅速に、密閉された場所で且つ丁寧に行われなければならない。
【0010】
本発明の第1の目的は、上述の問題点を克服した製品特に食料品中の異物を検出する装置及び方法を提供することである。
この第1の目的は、添付の請求項1に記載の検出装置によって達成される。
さらにこの第1の目的は、請求項8記載の方法によって達成される。
【0011】
本発明の第2の目的は、材料の品質及び量の変化を検出する装置及び方法を提供することである。
第2の目的は、請求項13記載の装置によって達成される。
さらにこの第2の目的は、請求項20記載の方法によって達成される。
本発明による利点は、非常に多くの種類の異物を検出できるということである。
また本発明による別の利点は、迅速に測定、検出及び評価ができるということである。
さらに本発明には、安価に且つ容易に行うことができ、既存の生産施設に組み込むことができるという利点もある。
本発明はまたさらに製品を傷つけずに最終処理後に異物を検出することができるという利点もある。
さらに本発明の方法及び装置は、異なる誘電率を有する2つの成分からなる製品であっても製品中の材料品質及び量を検出することができるという利点がある。
【0012】
図1は製品1の異物を検出するための本発明による装置10を示す。本発明の装置は、第1のアンテナ11と、第2のアンテナ12とからなり、第1アンテナ11が、マイクロ波領域にある電磁信号13’を送信する。送信された信号13’の少なくとも1部は、被検査製品を通過する。信号が製品1を通過した後、信号13’’が第2アンテナで受信される。
【0013】
第1及び第2アンテナ11、12は、少なくとも2つ、好ましくは周波数チャネルと呼ばれるいくつかの隣接する周波数ブロックにある例えば400以上の異なる周波数を有する。図2に詳しく説明するアンテナは、ネットワークアナライザーなどのマイクロ波回路14に接続されている。マイクロ波回路14は、第1アンテナ11に送信される信号13’を供給するマイクロ波発信器15と第2アンテナ12に受信された13’’の振幅|A|及び又は位相φ等の特定のパラメーターを収集し且つ測定するベクトル電圧計などのマイクロ波測定システム16とからなる。
【0014】
被検査製品1は、輸送システム17上で搬送され、この搬送システムは、例えば搬送装置19上のキャリアーと、搬送ベルトと、垂直方向に延びたパイプとからなる。
【0015】
ここで詳述する態様では、製品は第1と第2アンテナ11、12の間のギャップを通過し、送信信号の少なくとも1部が製品の全体を通過する。キャリアー18上の製品1は、モーター駆動のカートによって開放された空間を移動する。1つ以上の周波数チャネルのマイクロ波領域にある予め選択された数の周波数を有する複数の信号が、第1アンテナから送信され、ネットワークアナライザー14で測定するために第2アンテナで受信される。製品が第1の方向Xにある距離を移動する予め定められた時間が経過した後、新たに測定が行われる。
【0016】
アンテナ装置は、少なくとも1つの周波数チャネルから構成され、このチャネル内で少なくとも2つの別個の周波数が送信されるようにしてもよい。これは各周波数チャネルのために別個アンテナ又はアンテナセクションを用いて実施しても良く、各周波数チャネル内で送信された各信号の周波数が、マイクロ波発信器15によって制御される。
【0017】
第1アンテナ11の好ましい態様を示す。アンテナ11は、複数の周波数チャネルf1−f6の信号を送信する。この種のアンテナは、容量結合されたパッチを有するパッチ式アンテナである。各周波数チャネルの中間周波数を表1に示す。
【0018】
この種のパッチアンテナは、製造が安価であり、所望の数のチャネルを得るための制御が容易にでき、各チャネルは個々の周波数を有する少なくとも2つの信号を含むように制御することが可能である。第2アンテナ12は送信された信号を受けるために第1アンテナ11と同じ特徴を有する。
【0019】
【表1】
表1:中央周波数の波形の略式のレイアウトを表1の異なるチャネルf1−f6を参照した破線として図2に例示する。
【0020】
このタイプのアンテナ11を使用することにより、上述した装置10において、誘電関数を含んでいる情報が第1方向Xと選択された周波数の関数として被検査製品内で得ることができる。
【0021】
本発明では、誘電率に関する上述した情報を検索する少なくとも一つのチャネル内の別々の周波数を伴う少なくとも二つの信号を有していることが不可欠である。これは次の説明からより明白となろう。
【0022】
本発明の背後にある基本的理論は、被検査製品の誘電率の変化によってもたらされる異物、汚染物、損傷(割れ目等)のような差異を検出することにある。これはそれ自体少なくとも部分的に誘電体からなる前記製品に信号を少なくとも部分的に通過させることによって実行される。
【0023】
被検査製品の誘電率を決定するために使用される振幅|A|および/または位相φのような前記パラメータからのパラメータ値は、前記マイクロ波測定システム16内で測定される。被測定パラメータ値が、被送信信号の対応値と比較され、各周波数チャネル内の各周波数に対する比較値を得る。
【0024】
次に、各比較値が、マイクロ波回路14に利用可能な、例えば前記マイクロ波回路14内のメモリ20に記憶された参照値と比較される。参照値は、製品の試験されるタイプの参照サンプルを通過する受信信号からパラメータを測定することによって得られるのが好ましく、この参照サンプルは、周波数の関数として誘電関数のプロフィールによって説明されたような製品を通るマイクロ波送信の特性の変化を生ぜしめる異物ないし他の欠陥のないものである。
【0025】
時々、このような「クリーン」な参照サンプルを得ることが困難であり、従って、参照値は複数の製品のパラメータ値を測定し、各パラメータ値に対する平均値として統計的に計算し、また各周波数に対して参照値として使用することによって得られるのが好ましい。前記計算された参照値を得るために測定される一般的な製品の数は、約100個である。
【0026】
別の方法として、参照値は、製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ11と12の送信および受信特性の評価で得ることができる。
【0027】
図3は被試験製品1が通される測定ギャップの側面図である。製品の左側部には第1アンテナ11が配され、また右側部には第2アンテナが配されている。信号30が前記第1アンテナ11から送信され、また前記第2アンテナ12によって受信される。関数x,s(x)としての受信信号は、
【0028】
s(x) =|A|eiψで表わされ、式中、|A|は受信信号の振幅であり、またψは位相である。位相ψは、
【0029】
【数1】
に比例し、式中、zは第1と第2アンテナ11、12間の距離であり、kzはzの方向の伝搬定数であり、またnは整数で、ギャップ内の完全列の数を意味する。次に、伝搬定数は、
【数2】
に等しい、式中、ωはマイクロ波信号の周波数fに関連するマイクロ波信号の角周波数で、ω=2πfである。ε(ω)はこの角周波数に対応する誘電関数であり、またμはこの角周波数に対応する特定測定ギャップ内の物質の透磁率である。1個の信号を送信することにより、振幅の絶対値と受信信号の位相のずれを決定する可能性があるが、上記誘電関数を一義に決定することは不可能である、というのは位相測定では360度の単位で波列の係数を決定することができるだけだからである。従って、測定ギャップ内で完全な波列の整数値は1回の測定で知ることができない。
【0030】
図3に、最後の不完全周期33に先行する2つの完全な振動周期31、32を有する第1の送信信号30を実線で示す。最後の不完全周期33に先行する2つの完全な振動周期31、32を有する第1の送信信号30とは異なる周波数で、破線で示す第2の信号を加えると、伝搬時間は図4に示すように、異なる数の発信周期を仮定して上記誘電関数をプロットすることで決定することができる。
【0031】
被検査製品において、上記誘電関数が未知であるが、クリーン製品に属する既知の部分εproduct(ω,ξ)と、異物のマイクロ波送信特性に属する未知の部分εforeign body(ω,ξ)として表わすことができる。異物の誘電関数には異物の散乱、回折、吸収、反射および送信効果が含まれる。従って、誘電関数は周波数ωに大きく依存し(回折ローブが周波数と共に変位するので)、観察の角度ξ(シャープなエッジが存在すれば)と共に変化する。従って、被測定送信信号は、製品内の異物量(η=0の場合製品中に異物がない)を表すηの関係する次式に分解される。
【0032】
εtot = (1−η)・εproduct + η・εforeign body (I)
式中、ηは0と1の間で変化し、被検査製品内に存在する異物の量に依存する。
【0033】
送信マイクロ波信号S21の振幅|A|と位相φは、全周波数と各変位xについて測定され、複雑な変数(S 21 =|A|exp[iφ])の二次元グラフを得る。ここでは製品中の組成の変化が容易に検知できる。
【0034】
図4は信号13’が前記第1アンテナ11から送信され、製品1を通るときに何が発生するかを示している。前記製品の内部において、金属、石等のような異物60の小片が、信号の受信アンテナ12に至る途中で信号の通過を妨害する。受信信号13”はこの場合、回折または散乱されて、干渉パターンが発生する。これは主として変位と周波数の関数として振幅|A|内の特徴的パターンとして検出可能である。
【0035】
信号処理部分の主用目的は、データの適切なフィルタリングと、両方向における、すなわち、(1)異物を純粋な製品に割り当てること、および(2)汚染製品を通過させることで、推定量誤差を最少にする非汚染製品から汚染製品を見分けることができる閾値の定義である。明らかに、ある許容差が(1)に与えられ、一方(2)は可能な限り小さくしなければならない。簡単なクラスの製品と異物(すなわち、同質のもの、湿った製品および乾燥した異物)に対して、式(I)を直接適用して、純粋な製品の上記誘電関数を純粋な製品からの測定データと置換し、測定基準と測定製品間の差を計算することで十分である。残差の平均二乗は、ある一定の閾値を超えなければ、製品は合格と考えられ、そうでなければ不合格である。
【0036】
図5a乃至5cは、いかにして有効な値が回折パターン内に含まれた情報を特に使用して得ることができるかを示している。図5aは周波数fの倍数に対する特定変位x=x 1 に対するダンピング値|S 21 |を示し、カーブ70が得られる。このダンピング|S21|に「高速フーリエ変換」(FFT)を適用することによって、図5bに示すような結果が得られる。この結果は、適切なフィルタリング技術に付され、所望の情報が含まれているウインドウ71を選択する。これらのタイプのフィルタリング技術は当該技術に習熟した人にとっては周知であり、従って、本明細書においてはこれ以上の説明は省略する。
【0037】
図5cは周波数fの関数としてダンピング|S21|(x1)に戻る図5b中のフィルター処理されたFFTスペクトルの再変換後に得られるカーブ73を示す。閾値74も示しているが、各周波数に対する閾値よりも低い値が許容され、それゆえに、閾値よりも高い値は許容できず、またマイクロ波回路14からの警告信号を形成し、ここでFFT処理が実行される。
【0038】
材料内の異物を検出するための上述した装置および方法は、前記材料が異なる誘電率を有する少なくとも二つの異なる要素からなっていれば、材料の特性と内容のモニターと検出の分野内でも使用される。この種の材料の一例は、内部に気泡を有するプラスチック部材のような材料内の空隙を有している材料である。これらのタイプの欠陥は、本発明の装置と方法を使用することによって容易に検出される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の装置を示す。
【図2】図1に示した装置に使用されるアンテナ装置を示す。
【図3】本発明によるアンテナ構造の側面図。
【図4】検査される製品の回折/拡散を例示するアンテナ構造の側面図
【図5a−5c】本発明による回折測定に関する情報を抽出するための方法を示す。
Claims (24)
- マイクロ波レンジ内の異なる周波数(f1−f5)の少なくとも二つの信号からなる電磁信号(13’)を送信するための第1アンテナ(11)と、
前記第1アンテナ(11)から発信され、少なくとも一部が製品(1)を通過する信号(13”)を受信するための第2アンテナ(12)とを含む、前記製品内の異物を検出するための装置(10)において、
各信号(13’、13”)が振幅情報と位相情報とを含み、さらに、前記装置が前記第1及び第2アンテナ間に設けられたオープン構造のギャップであって、これによって製品(1)が方向(X)にギャップを通って搬送されるように製造ラインが前記ギャップ内に配置される、前記ギャップと
前記受信信号(13”)の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数(f1−f5)に対して測定するための装置(16)であって、この測定は、この装置において前記製品(1)の前記方向(X)の移動に対して前記受信信号(13”)の前記少なくとも振幅情報と位相情報を得るために前記方向(X)に前記製品が移動している間の予め定められた期間で実施される、測定装置(16)と、
前記受信信号(13”)の少なくとも前記測定された振幅情報と位相情報を前記送信信号(13’)の対応する振幅情報と位相情報と比較し、方向(X)の製品(1)の各移動に対して且つ前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対して比較値を得る手段(14)と、
前記装置内のメモリ(20)に記憶された参照値に基づいて各比較値を分析する手段(14)と、
前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発信し、前記製品中の異物を検出する手段と、を具備することを特徴とする検出装置。 - 各参照値が前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対して前記送信信号(13’)の少なくとも前記振幅情報と位相情報の測定から得られることを特徴とする請求項1記載の検出装置。
- 各参照値が、前記周波数の各々に対する前記送信信号(13’)の前記振幅情報と前記位相情報の前記周波数(f1−f5)の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から導出され、前記受信参照信号が少なくとも部分的に参照製品を通過し、前記参照製品には異物が全く含まれていないことを特徴とする請求項1記載の検出装置。
- 各参照値が、前記送信信号(13’)の前記振幅情報と位相情報と、前記周波数(f1−f5)の各々に対する受信参照信号の振幅位相情報との比較から得られ、前記受信参照信号が製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ(11)と(12)の送信および受信特性の評価によって得られることを特徴とする請求項1に記載の検出装置。
- 前記分析手段(14)が各参照値の前記振幅情報と位相情報とを、分離周波数における各受信信号と比較することを特徴とする請求項1乃至4いずれか1項に記載の検出装置。
- 前記装置がオンライン検出に適用可能であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の検出装置。
- 前記装置が前記製品(1)を前記第1アンテナ(11)と前記第2アンテナ(12)間を搬送させるコンベヤ手段(17)を備えていることを特徴とする請求項6に記載の検出装置。
- 第1アンテナ(11)からマイクロ波レンジ内の異なる周波数(f1−f5)の少なくとも二つの信号からなる電磁信号(13’)を送信する工程と、
前記第1アンテナ(11)から送信され、少なくとも一部が製品(1)を通過する前記信号(13’)を第2アンテナ(12)で受信する工程とからなる前記製品(1)内の異物を検出する方法において、前記方法が、さらに
前記第1アンテナ(11)と第2アンテナ(12)との間に設けられたギャップを介して方向(X)に前記製品(1)を搬送する工程と、
各送信された異なる周波数に対する振幅情報と位相情報からなる参照値をメモリ(20)に記憶する工程と、
前記受信信号の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数(f1−f5)に対して測定する工程であって、この測定は、前記製品(1)の前記方向(X)の移動に対して前記受信信号(13”)の前記少なくとも振幅情報と位相情報を得るために前記方向(X)に前記製品が移動している間の予め定められた期間で実施される、測定工程と、
前記受信信号(13”)の少なくとも前記測定された振幅情報と位相情報を前記送信信号(13’)の対応する振幅情報と位相情報と比較し、方向(X)の製品(1)の各移動に対して且つ前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対して比較値を得る工程と、
前記メモリ(20)から前記参照値の一つを使用して各比較値を分析する工程と、
前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発し、前記製品中の異物を検出する工程と、を含むことを特徴とする検出方法。 - 各参照値を前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対して前記送信信号(13’)の少なくとも前記振幅情報と位相情報の測定から得らる工程をさらに含むことを特徴とする請求項8に記載の検出方法。
- 各参照値を前記周波数の各々に対して前記送信信号(13’)の前記振幅情報と前記位相情報の前記周波数(f1−f5)の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から得る工程をさらに含み、前記受信参照信号が少なくとも部分的に参照製品を通過し、前記参照製品が異物を含まないことを特徴とする請求項9に記載の検出方法。
- 各参照値を前記送信信号(13’)の前記振幅情報と位相情報と、前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から得る工程をさらに含み、前記受信参照信号が、製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ(11)と(12)の送信および受信特性の評価によって得られることを特徴とする請求項8に記載の検出方法。
- 各比較値を分析する工程が、各受信信号の振幅情報と位相情報を対応する参照値と比較することによって実行されることを特徴とする請求項8乃至11いずれか1項に記載の検出方法。
- マイクロ波レンジ内の異なる周波数(f1−f5)の少なくとも二つの信号からなる電磁信号(13’)を送信するための第1アンテナ(11)と、
前記第1アンテナ(11)から発信された信号(13”)を受信するための第2アンテナ(12)とからなり、前記受信信号(13”)が少なくとも一部が製品(1)を通過する前記製品内の材料特性及び内容物の変化を検出するための装置(10)において、
各信号(13’、13”)が振幅情報と位相情報とを含み、さらに、
前記第1及び第2アンテナ間に設けられたオープン構造のギャップであって、これによって製品(1)が方向(X)にギャップを通って搬送されるように製造ラインが前記ギャップ内に配置される、前記ギャップと、
前記受信信号(13”)の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数(f1−f5)に対して測定するための装置(16)であって、この測定は、この装置において前記製品(1)の前記方向(X)の移動に対して前記受信信号(13”)の前記少なくとも振幅情報と位相情報を得るために前記方向(X)に前記製品が移動している間の予め定められた期間で実施される、測定装置(16)と、
前記受信信号(13”)の少なくとも前記測定された振幅情報と位相情報を前記送信信号(13’)の対応する振幅情報と位相情報と比較し、方向(X)の製品(1)の各移動に対して且つ前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対して比較値を得る手段(14)と、
前記装置内のメモリ(20)に記憶された参照値に基づいて各比較値を分析する手段(14)と、
前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発信し、前記製品中の異物を検出する手段と、を具備することを特徴とする検出装置。 - 各参照値が前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対して前記送信信号(13’)の少なくとも前記振幅情報と位相情報の測定から得られることを特徴とする請求項13記載の検出装置。
- 各参照値が、前記周波数の各々に対する前記送信信号(13’)の前記振幅情報と前記位相情報の前記周波数(f1−f5)の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から導出され、前記受信参照信号が少なくとも部分的に参照製品を通過し、前記参照製品は所望の材料特性と内容物を含むことを特徴とする請求項13記載の検出装置。
- 各参照値が、前記送信信号(13’)の前記振幅情報と位相情報と、前記周波数(f1−f5)の各々に対する受信参照信号の振幅位相情報との比較から得られ、前記受信参照信号が製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ(11)と(12)の送信および受信特性の評価によって得られることを特徴とする請求項13に記載の検出装置。
- 前記分析手段(14)が各参照値の前記振幅情報と位相情報とを、分離周波数における各受信信号と比較することを特徴とする請求項13乃至16いずれか1項に記載の検出装置。
- 前記装置がオンライン検出に適用可能であることを特徴とする請求項13乃至17のいずれか1項に記載の検出装置。
- 前記装置が前記製品(1)を前記第1アンテナ(11)と前記第2アンテナ(12)間を搬送させるコンベヤ手段(17)を備えていることを特徴とする請求項18に記載の装置。
- 第1アンテナ(11)からマイクロ波レンジ内の異なる周波数(f1−f5)の少なくとも二つの信号からなる電磁信号(13’)を送信する工程と、
前記第1アンテナ(11)から送信され、少なくとも一部が製品(1)を通過する前記信号(13’)を第2アンテナ(12)で受信する工程とからなる製品(1)内の材料特性及び内容物の変化を検出する方法において、前記方法が、さらに
前記第1アンテナ(11)と第2アンテナ(12)との間に設けられたギャップを介して方向(X)に前記製品(1)を搬送する工程と、
各送信された異なる周波数に対する振幅情報と位相情報からなる参照値をメモリ(20)に記憶する工程と、
前記受信信号の少なくとも前記振幅情報と位相情報を各々別々の周波数(f1−f5)に対して測定する工程であって、この測定は、前記製品(1)の前記方向(X)の移動に対して前記受信信号(13”)の前記少なくとも振幅情報と位相情報を得るために前記方向(X)に前記製品が移動している間の予め定められた期間で実施される、測定工程と、
前記受信信号(13”)の少なくとも前記測定された振幅情報と位相情報を前記送信信号(13’)の対応する振幅情報と位相情報と比較し、方向(X)の製品(1)の各移動に対して且つ前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対して比較値を得る工程と、
前記メモリ(20)から前記参照値の一つを使用して各比較値を分析する工程と、
前記比較値が前記参照値から所定量異なるときに信号を発し、前記製品中の異物を検出する工程と、を含むことを特徴とする検出方法。 - 各参照値を前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対して前記送信信号(13’)の少なくとも前記振幅情報と位相情報の測定から得られる工程をさらに含むことを特徴とする請求項20に記載の方法。
- 各参照値を前記周波数の各々に対して前記送信信号(13’)の前記振幅情報と前記位相情報の前記周波数(f1−f5)の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から得る工程をさらに含み、前記受信参照信号が少なくとも部分的に参照製品を通過し、前記参照製品が異物を含まないことを特徴とする請求項20に記載の方法。
- 各参照値を前記送信信号(13’)の前記振幅情報と位相情報と、前記別々の周波数(f1−f5)の各々に対する受信参照信号の振幅情報と位相情報との比較から得る工程をさらに含み、前記受信参照信号が、製品を通るマイクロ波送信のためのモデルと、アンテナ11と12の送信および受信特性の評価によって得られることを特徴とする請求項20に記載の方法。
- 各比較値を分析する工程が、各受信信号の振幅情報と位相情報を対応する参照値と比較することによって実行されることを特徴とする請求項20乃至23いずれか1項に記載の方法。
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---|---|
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---|---|---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021067481A (ja) * | 2019-10-18 | 2021-04-30 | 八光オートメーション株式会社 | 木材検査装置 |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE517701C2 (sv) * | 2000-08-31 | 2002-07-02 | October Biometrics Ab | Anordning, metod och system för att mäta distrubution av valda egenskaper i ett material |
DE10100664A1 (de) * | 2001-01-09 | 2002-07-11 | Hauni Maschinenbau Ag | Verfahren zum Prüfen eines Produktionsmaterials |
US8243876B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-08-14 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
US8837669B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-09-16 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
US8451974B2 (en) | 2003-04-25 | 2013-05-28 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items |
GB0525593D0 (en) | 2005-12-16 | 2006-01-25 | Cxr Ltd | X-ray tomography inspection systems |
US20050058242A1 (en) | 2003-09-15 | 2005-03-17 | Peschmann Kristian R. | Methods and systems for the rapid detection of concealed objects |
US9113839B2 (en) | 2003-04-25 | 2015-08-25 | Rapiscon Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
US7949101B2 (en) | 2005-12-16 | 2011-05-24 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
US8223919B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-07-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
JP2006200985A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Mie Tsuda Denki Sangyo Kk | 受信アンテナ、非破壊検査装置及び非破壊検査の検査方法 |
EP1853900A1 (en) | 2005-02-18 | 2007-11-14 | Food Radar System in Sweden AB | A system and method for detecting foreign objects in a product |
US7343827B2 (en) * | 2005-11-08 | 2008-03-18 | M-I L.L.C. | System and process for break detection in porous elements for screening or filtering |
US9310323B2 (en) | 2009-05-16 | 2016-04-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for high-Z threat alarm resolution |
US9514336B2 (en) * | 2009-12-17 | 2016-12-06 | Symbol Technologies, Llc | Method and system for adaptive operation of a power amplifier of a radio frequency identification (RFID) reader device |
US9201125B2 (en) * | 2010-10-08 | 2015-12-01 | Muller Martini Holding Ag | Device for the continuous quality control of applied elements |
WO2012153793A1 (ja) * | 2011-05-10 | 2012-11-15 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 物質の状態の測定、検出方法及び検出装置 |
FR2985025B1 (fr) * | 2011-12-23 | 2014-12-12 | Maf Agrobotic | Dispositif et procede de detection non destructive de defauts dans des fruits et legumes |
ITMI20120389A1 (it) * | 2012-03-13 | 2013-09-14 | Giovanni Raspa | Procedimento e apparato per il controllo-qualita' di manufatti |
EP2941775A4 (en) | 2013-01-07 | 2016-08-24 | Rapiscan Systems Inc | X-RAY SCANNING DEVICE WITH PARTIAL ENERGY DISCRIMINATION DETECTOR ARRAY |
US9557427B2 (en) | 2014-01-08 | 2017-01-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Thin gap chamber neutron detectors |
US10345479B2 (en) | 2015-09-16 | 2019-07-09 | Rapiscan Systems, Inc. | Portable X-ray scanner |
JP6662798B2 (ja) * | 2017-02-03 | 2020-03-11 | 日本電信電話株式会社 | 誘電率測定システム、装置および方法 |
DE102018129274A1 (de) * | 2018-11-21 | 2020-05-28 | Sick Ag | Verfahren zur Detektion eines Zielobjekts |
IT202000005458A1 (it) * | 2020-03-13 | 2021-09-13 | Torino Politecnico | Sistema e metodo per individuare spazialmente corpi estranei all'interno di un prodotto in base a caratteristiche dielettriche di detto prodotto |
SE544625C2 (en) | 2020-04-14 | 2022-09-27 | Epiroc Rock Drills Ab | Arrangement, drill rig and method therein for detection of water in material flow |
RU2759151C1 (ru) * | 2020-11-18 | 2021-11-09 | Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации | Свч-устройство для определения электрофизических параметров и оценки дефектов в многослойных диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытиях |
DE102021126221A1 (de) * | 2021-10-08 | 2023-04-13 | Endress+Hauser Flowtec Ag | Verfahren zur Unterscheidung zwischen dem Vorliegen eines Fremdkörpers oder einer Gasblase in einem Medium und entsprechendes System |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0427852A (ja) * | 1990-05-24 | 1992-01-30 | Omron Corp | 物体識別システム |
JPH05113412A (ja) * | 1991-04-02 | 1993-05-07 | Texaco Dev Corp | 二重周波数マイクロ波による含水率測定手段及び方法 |
JPH08193962A (ja) * | 1994-07-08 | 1996-07-30 | Inst Fr Petrole | 多相流量測定 |
WO2000009983A2 (en) * | 1998-07-30 | 2000-02-24 | Malcam Ltd. | Device and method for non-invasively measuring and determining moisture content and density of loose and packaged tobacco |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4326163A (en) | 1980-01-30 | 1982-04-20 | Brooke Robert L | High speed bulk grain moisture measurement apparatus |
DE3531893A1 (de) | 1985-09-06 | 1987-03-19 | Siemens Ag | Verfahren zur bestimmung der verteilung der dielektrizitaetskonstanten in einem untersuchungskoerper sowie messanordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
CA2063717C (en) * | 1989-08-15 | 2002-10-08 | Nicholas George Cutmore | Moisture content by microwave phase shift and mass/area |
JPH04507292A (ja) * | 1989-08-15 | 1992-12-17 | コモンウエルス サイエンティフィック アンド インダストリアル リサーチ オーガニゼイション | マイクロ波移相と質量/面積とによる水分含有量 |
DE4311103A1 (de) | 1993-04-05 | 1994-10-06 | Komi Koppelberg & Migl Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Fehlern bei Glaskörpern |
NL9500018A (nl) | 1995-01-04 | 1996-08-01 | Proval Beheer B V | Inrichting voor het door middel van straling bepalen van de hoedanigheid van doorstraalbare lichamen. |
US5845529A (en) * | 1995-07-18 | 1998-12-08 | Malcam Ltd. | Device and method for determining the moisture content of material |
SE512315C2 (sv) | 1997-01-17 | 2000-02-28 | Lars Baaaath | Sätt att med radiovågsteknik kartlägga inhomogeniteter i trä |
DE29719600U1 (de) | 1997-11-05 | 1998-01-02 | Rgi Industriemesgeraete Gmbh | Vorrichtung zur Erfassung von Inhomogenitäten, insbesondere von Fremdkörpern, in einer zu kontrollierenden Materialienschicht |
-
1999
- 1999-09-17 SE SE9903348A patent/SE517315C2/sv not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-02-18 US US09/506,832 patent/US6456093B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-14 JP JP2001523846A patent/JP4829452B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0427852A (ja) * | 1990-05-24 | 1992-01-30 | Omron Corp | 物体識別システム |
JPH05113412A (ja) * | 1991-04-02 | 1993-05-07 | Texaco Dev Corp | 二重周波数マイクロ波による含水率測定手段及び方法 |
JPH08193962A (ja) * | 1994-07-08 | 1996-07-30 | Inst Fr Petrole | 多相流量測定 |
WO2000009983A2 (en) * | 1998-07-30 | 2000-02-24 | Malcam Ltd. | Device and method for non-invasively measuring and determining moisture content and density of loose and packaged tobacco |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021067481A (ja) * | 2019-10-18 | 2021-04-30 | 八光オートメーション株式会社 | 木材検査装置 |
JP7366362B2 (ja) | 2019-10-18 | 2023-10-23 | 八光オートメーション株式会社 | 木材検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE9903348D0 (sv) | 1999-09-17 |
SE517315C2 (sv) | 2002-05-21 |
JP2003509689A (ja) | 2003-03-11 |
US6456093B1 (en) | 2002-09-24 |
SE9903348L (sv) | 2001-03-18 |
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