JP4829143B2 - 温度検出回路 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体回路の温度特性を利用した温度検出回路に関する。
図5は、一般的な温度検出回路の概略を示す図である(特許文献1参照)。
この温度検出回路は、温度センサ回路200、基準電圧回路300、コンパレータ400、正の電源端子500、負の電源端子600、出力端子700により構成されている。温度センサ回路200は、一端を正の電源端子500に、他の一端を負の電源端子600に、残りの一端を温度センサ回路200の出力端子として、コンパレータ400のプラス入力端子に接続されており、温度の上昇に応じて出力電圧が低下する特性を持つ。基準電圧回路300は、負極を負の電源端子600に、正極をコンパレータ400のマイナス入力端子に接続されており、所定温度において温度センサ回路200の出力電圧と等しい基準電圧を出力する。コンパレータ400は、一端を正の電源端子500に、他の一端を負の電源端子600に、出力端子を出力端子700に接続されており、温度センサ回路200の出力電圧と基準電圧回路300の基準電圧を比較し、温度検出信号(負電源電位)または温度非検出信号(正電源電位)を出力する。
次に、図5に示す温度検出回路の動作について説明する。
温度が所定温度よりも低い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より大きいため、コンパレータ400は温度非検出信号を出力する。温度が所定温度よりも高い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より小さいため、コンパレータ400は温度検出信号を出力する。従って、所定温度以上であるか否かによって、出力論理を切り替える動作を行い、所定温度を検出することができる。
特開2001−165783号公報
しかし、上述した温度検出回路では、電源の起動直後、温度センサ回路200の出力電圧や基準電圧回路300の基準電圧が不十分に出力されている状態において、温度センサ回路200の出力電圧と基準電圧回路300の基準電圧の立ち上がり速度の関係により、温度に関らず温度検出信号を出力するような誤動作してしまうという問題がある。
本発明は、電源の起動時における温度検出回路の誤動作を防ぐことを目的とする。
本発明は、ある温度以上であるか否かによって、出力論理を切り替える動作をする温度検出回路において、少なくとも、1個以上の温度の上昇に応じて出力電圧が低下する特性を持つ温度センサ回路と、1個以上の基準電圧を出力する基準電圧回路と、1個以上の前記温度センサ回路の出力電圧と前記基準電圧とを比較して、所定温度を境に反転する信号を出力するコンパレータと、前記コンパレータの出力端子電圧と正電源を入力信号として制御する誤動作防止回路を含み、特に、前記温度センサ回路の出力電圧や前記基準電圧が不十分に出力されている状態において、前記誤動作防止回路が動作することを特徴とする温度検出回路を提供する。
本発明により、電源の起動直後における温度検出回路の誤動作を防ぐことができる。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
[実施形態1]
まず、第1の実施形態の温度検出回路について説明する。図1は第1の実施形態の温度検出回路の回路図である。
第1の実施形態の温度検出回路は、誤動作防止回路100、温度センサ回路200、基準電圧回路300、コンパレータ400、正の電源端子500、負の電源端子600、出力端子700により構成されている。
温度センサ回路200は、一端を正の電源端子500に、他の一端を負の電源端子600に、残りの一端を前記温度センサ回路の出力端子として、コンパレータ400のプラス入力端子に接続されている。温度センサ回路200は、例えば複数個のトランジスタからなるダーリントン回路と、前記ダーリントン回路に給電する定電流回路によって構成され、温度の上昇に応じて出力電圧が低下する特性を持つ。また、抵抗など温度特性を持つ素子を組み合わせによって構成されていても良い。
基準電圧回路300は、負極を負の電源端子600に、正極をコンパレータ400のマイナス入力端子に接続されている。基準電圧回路300の基準電圧は、ヒューズトリミングやEEPROMによって抵抗やMOSトランジスタ等の素子サイズを変更することによって調整され、所定温度において温度センサ回路200の出力電圧と等しい基準電圧を出力する。コンパレータ400は、一端を正の電源端子500に、他の一端を負の電源端子600に、出力端子を出力端子700に接続されている。コンパレータ400は、温度センサ回路200の出力電圧と基準電圧回路300の基準電圧を比較し、温度検出信号(負の電源電位)または温度非検出信号(正の電源電位)を出力する。
誤動作防止回路100は、一端を正の電源端子500に、他の一端を出力端子700に接続されている。誤動作防止回路100は、正の電源端子500と出力端子700との接続を開閉する機能を持ち、電源の起動直後、温度センサ回路200の出力電圧や基準電圧回路300の基準電圧が不十分に出力されている状態において、出力端子700と正の電源端子500とを短絡状態にし、温度センサ回路200の出力電圧や基準電圧回路300の基準電圧が十分に出力された状態においては、出力端子700と正の電源端子500とを開放状態にする。
次に、この温度検出回路の動作を説明する。
まず、電源の起動直後において、温度センサ回路200の出力電圧および基準電圧回路300の基準電圧は、0Vから徐々に立ち上がる。このように温度センサ回路200の出力電圧と基準電圧回路300の基準電圧が不十分に出力されている状態において、誤動作防止回路100は出力端子700と正の電源端子500とを短絡させるため、出力端子700は強制的に温度非検出信号を出力する。次に、電源の起動から十分に時間が経過した後において、温度センサ回路200の出力電圧と基準電圧回路300の基準電圧が十分に出力されている状態において、誤動作防止回路100は出力端子700と正の電源端子500とを開放させる。従って、温度が所定温度よりも低い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より大きいため、出力端子700は温度非検出信号を出力する。温度が所定温度よりも高い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より小さいため、出力端子700は温度検出を出力する。
このように、所定温度以上であるか否かによって、出力論理を切り替える動作を行い、所定温度を検出することができる。
このような温度検出回路によると、電源の起動時に温度センサ回路200の出力電圧と基準電圧回路300の基準電圧が不十分に出力されている状態において、温度センサ回路200の出力電圧の立ち上がり時間が、基準電圧回路300の基準電圧の立ち上がり時間よりも遅いなどの原因により、所定温度未満であるにも関らず、温度センサ回路200の出力電圧が基準電圧回路300の基準電圧よりも低くなる状態が起こる場合に、コンパレータが温度検出信号を出力することを防ぐことができる。即ち、温度検出回路の誤動作を防ぐことができる。
他にコンパレータ400のプラス入力端子を正電源端子500と短絡させることや、コンパレータ400のマイナス入力端子を負の電源端子600に短絡させることも考えられるが、より確実に出力端子700が温度非検出信号を出力するには、出力端子700を正の電源端子500に短絡させておいた方が良い。
[実施形態2]
次に、第2の実施形態の温度検出回路について説明する。図2は第2の実施形態の温度検出回路の回路図である。
第2の実施形態の温度検出回路は、第1の実施形態の温度検出回路と比較すると、誤動作防止回路がコンデンサ101で構成されている点で相違する。コンデンサ101は、一端を正の電源端子500に、他の一端を出力端子700に接続されている。
次に、この温度検出回路の動作を説明する。
まず、電源の起動直後において、正の電源端子500から出力端子700を見込む系は、コンデンサ101とコンパレータ400の出力抵抗とでHPFを構成しているため、電源の瞬時の変動に対してのみ、出力端子700は追従するように変化させられる。そのため、コンデンサ101により出力端子700は正の電源端子500に短絡され、出力端子700は強制的に温度非検出信号を出力する。次に、電源の起動から十分に時間が経過した後において、コンデンサ101はコンパレータ700の負荷として駆動されるだけであるため、出力端子700に正の電源端子500による影響を及ぼさない。そのため、温度が所定温度よりも低い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より大きいため、出力端子700は温度非検出信号を出力する。温度が所定温度よりも高い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より小さいため、出力端子700は温度検出を出力する。
このように、所定温度以上であるか否かによって、出力論理を切り替える動作を行い、所定温度を検出することができる。
このような温度検出回路によると、電源の起動時に温度センサ回路200の出力電圧と基準電圧回路300の基準電圧が不十分に出力されている状態において、誤動作を防ぐことができる。
[実施形態3]
次に、第3の実施形態の温度検出回路について説明する。図3は第3の実施形態の温度検出回路の回路図である。
第3の実施形態の温度検出回路は、第1の実施形態の温度検出回路と比較すると、誤動作防止回路がMOSトランジスタ111、定電流回路121、コンデンサ102で構成されている点で相違する。MOSトランジスタ111は、ソース端子を正の電源端子500に、ドレイン端子を出力端子700に、ゲート端子を定電流回路121とコンデンサ102に接続されている。定電流回路121の他の一端は、正の電源端子500と接続されている。コンデンサ102の他の一端は、負の電源端子600と接続されている。
次に、この温度検出回路の動作を説明する。
まず、電源の起動直後において、定電流121は、ほとんど電流を流しておらず、コンデンサ102の両端に発生する電圧は0Vであり、MOSトランジスタ111のゲートは負の電源端子600と短絡される。MOSトランジスタ111はONするため、出力端子700は正の電源端子500に短絡され、出力端子700は強制的に温度非検出信号を出力する。次に、電源の起動から十分に時間が経過した後において、コンデンサ102は定電流121により電荷をチャージされることで、MOSトランジスタ111のゲート電位は徐々に上昇する。MOSトランジスタのゲート・ソース間電圧がMOSトランジスタ111の閾値電圧をVthよりも小さくなったとき、MOSトランジスタ111はOFFする。MOSトランジスタ111がOFFした状態では、出力端子700は正の電源端子500から開放される。そのため、温度が所定温度よりも低い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より大きいため、出力端子700は温度非検出信号を出力する。温度が所定温度よりも高い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より小さいため、出力端子700は温度検出を出力する。
このように、所定温度以上であるか否かによって、出力論理を切り替える動作を行い、所定温度を検出することができる。
このような温度検出回路によると、電源の起動時に温度センサ回路200の出力電圧と基準電圧回路300の基準電圧が不十分に出力されている状態において、誤動作を防ぐことができる。
ここで、MOSトランジスタ111は定電流121とコンデンサ102によって制御しているが、電源電圧や温度センサ回路200の出力電圧、または基準電圧回路300の基準電圧が十分に出力されていることを検知した信号により、MOSトランジスタ111をOFFするように制御してもよく、同一チップ内の他ブロックの信号を用いて制御しても良い。
[実施形態4]
次に、第4の実施形態の温度検出回路について説明する。図4は第4の実施形態の温度検出回路の回路図である。
第4の実施形態の温度検出回路は、第1の実施形態の温度検出回路と比較すると、誤動作防止回路がMOSトランジスタ112と制御端子800で構成されているという点で相違する。MOSトランジスタ112はソース端子を正の電源端子500に、ドレイン端子を出力端子700に、ゲート端子を制御端子800に接続される。制御端子800は、マイコンなどチップ外のデバイスからの信号が入力される。
次に、この温度検出回路の動作を説明する。
まず、電源の起動直後において、制御端子に外部から負の電源電位が与えられれば、MOSトランジスタ112がONするため、出力端子700は正の電源端子500に短絡され、出力端子700は強制的に温度非検出信号を出力する。また、電源の起動から十分に時間が経過した後において、制御端子に外部から正の電源電位が与えられれば、MOSトランジスタ112がOFFするため、出力端子700は正の電源端子500から開放される。そのため、温度が所定温度よりも低い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より大きいため、出力端子700は温度非検出信号を出力する。温度が所定温度よりも高い場合、温度センサ回路200の出力電圧は前記基準電圧より小さいため、出力端子700は温度検出を出力する。
このように、所定温度以上であるか否かによって、出力論理を切り替える動作を行い、所定温度を検出することができる。
このような温度検出回路によると、電源の起動時に温度センサ回路200の出力電圧と基準電圧回路300の基準電圧が不十分に出力されている状態において、誤動作を防ぐことができる。
第1の実施形態の温度検出回路を示す図である。 第2の実施形態の温度検出回路を示す図である。 第3の実施形態の温度検出回路を示す図である。 第4の実施形態の温度検出回路を示す図である。 一般的な温度検出回路を示す図である。
符号の説明
100 ・・・ 誤動作防止回路
101、102 ・・・ コンデンサ
111、112 ・・・ MOSトランジスタ
121 ・・・ 定電流源
200 ・・・ 温度センサ回路
300 ・・・ 基準電圧回路
400 ・・・ コンパレータ
500 ・・・ 正の電源端子
600 ・・・ 負の電源端子
700 ・・・ 出力端子
800 ・・・ 制御端子

Claims (1)

  1. ある温度以上であるか否かによって、出力論理を切り替える動作をする温度検出回路において、
    温度に応じて出力電圧が変化する温度センサ回路と、
    基準電圧を出力する基準電圧回路と、
    前記温度センサ回路の出力電圧と前記基準電圧とを比較して、所定の温度を境に反転する信号を出力するコンパレータと、
    前記コンパレータの出力端子に接続した誤動作防止回路と、を備え、
    前記誤動作防止回路は、
    電源端子と接地端子との間に設けられた定電流源と容量の直列回路と、
    前記電源端子と前記コンパレータの出力端子との間に設けられ、ゲートを前記定電流源と前記容量の接続点に接続されたMOSトランジスタと、で構成され、
    前記直列回路は、電源起動後の所定時間において前記MOSトランジスタをオンすることによって、前記コンパレータの出力端子を前記電源端子の電圧にする、
    ことを特徴とする温度検出回路。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4863818B2 (ja) * 2006-08-29 2012-01-25 セイコーインスツル株式会社 温度センサ回路
JP2009058438A (ja) * 2007-08-31 2009-03-19 Toshiba Corp 温度検出回路
JP5034919B2 (ja) * 2007-12-13 2012-09-26 富士電機株式会社 温度センサ回路
JP2010151458A (ja) * 2008-12-24 2010-07-08 Seiko Instruments Inc 温度検出回路
DE102009023354B3 (de) 2009-05-29 2010-12-02 Austriamicrosystems Ag Schaltungsanordnung und Verfahren zur Temperaturmessung
JP5389635B2 (ja) * 2009-12-25 2014-01-15 セイコーインスツル株式会社 温度検出システム
US8995218B2 (en) 2012-03-07 2015-03-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
DE102013226763A1 (de) 2013-12-19 2015-06-25 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Sicherheitsschaltungsanordnung für eine elektrische Antriebseinheit
JP6450184B2 (ja) * 2014-12-24 2019-01-09 エイブリック株式会社 過熱検出回路及び半導体装置
CN110782857A (zh) * 2019-11-15 2020-02-11 Tcl华星光电技术有限公司 一种显示装置及其驱动方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50107318A (ja) * 1974-02-01 1975-08-23
JPH04314078A (ja) * 1991-04-12 1992-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 温度異常検出装置
DE19841202C1 (de) * 1998-09-09 2000-03-02 Siemens Ag Temperatursensor
JP3823622B2 (ja) * 1999-08-05 2006-09-20 富士電機デバイステクノロジー株式会社 過熱保護回路
US6184746B1 (en) * 1999-08-13 2001-02-06 Advanced Micro Devices, Inc. PLL power supply filter (with pump) having a wide voltage range and immunity to oxide overstress
JP2001165783A (ja) * 1999-12-14 2001-06-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 温度検出回路
KR100560652B1 (ko) * 2003-01-14 2006-03-16 삼성전자주식회사 전원 전압과 온도 변화에 둔감한 온도 검출 회로
CN2677895Y (zh) * 2003-09-03 2005-02-09 上海复旦微电子股份有限公司 一种温度测量电路
JP2005134145A (ja) * 2003-10-28 2005-05-26 Seiko Instruments Inc 温度センサ回路
JP4669292B2 (ja) * 2005-01-20 2011-04-13 株式会社日立製作所 半導体装置

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