JP4826919B2 - 有機エレクトロルミネッセンス素子の陰極を構成する金属膜 - Google Patents

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この発明は、各種電子機器、情報機器のディスプレイなどに使用される有機エレクトロルミネッセンス素子(以下、有機EL素子という)の陰極を構成する金属膜関するものである。
近年、各種電子機器、情報機器のディスプレイなどに有機EL素子が使用されるようになってきた。この有機EL素子は、一般に、図1の断面図に示される積層構造を有するとされている(特許文献1参照)。図1において、1は基板、2は陽極、3はホール注入膜、4は発光膜、5は陰極であって、この陰極5は第1金属膜6aおよび第2金属膜6bからなる金属膜6並びに酸化物導電膜7から構成されている。9は有機EL膜であって、この有機EL膜9はホール注入膜3および発光膜4から構成されている。かかる構造を有する有機EL素子の陽極2と陰極5の間に直流電圧8を印加し発光膜4を発光させている。
金属膜6を構成する第1金属膜6aは仕事関数の小さい金属(以下、低仕事関数金属という)からなり、第2金属膜6bは仕事関数の大きい金属(以下、高仕事関数金属という)からなっている。低仕事関数金属としてMg,Ca,Ba,Li,Cs、Srなどのアルカリ土類金属が知られており、高仕事関数金属としてNi,Os,Pt,Pd,Al,Au,Rhなどが知られている。さらに、ホール注入膜3として3,4−ポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンサルフォンート(PEDT/PSS)が用いられている。このPEDT/PSSには硫黄(S)が含まれており、このホール注入層3に含まれる硫黄(S)が発光膜4を拡散し通過して第1金属膜6aのアルカリ土類金属と反応して硫化物(CaS、BaS、SrS、MgS、LiSなど)を生成することから陰極の寿命特性が大幅に低下すると共に初期の輝度が低下する。
これを阻止するために低仕事関数金属に高仕事関数金属を添加して合金化した第1金属膜6aを形成することにより第1金属膜6aにおける硫化物の生成を抑えることができるとされている。具体的には、第1金属膜6aを低仕事関数金属:5〜70質量%を含み、残部が高仕事関数金属からなる成分組成の合金膜とすることにより硫化物の生成を抑制することができ、陰極の寿命特性の低下を阻止することができるとされている。
一方、第2金属膜6bは高仕事関数金属のみからなり低仕事関数金属を含まないことが最も好ましいが、少量の低仕事関数金属を含む合金であっても良いとされている。
そして、第1金属膜6aおよび第2金属膜6bからなる金属膜6を成膜するには、まず、高仕事関数金属(例えば、Al)を入れた蒸着用ボートと低仕事関数金属(例えば、Ba)を入れた蒸着用ボートを用意し、次いで高仕事関数金属(例えば、Al)と低仕事関数金属(例えば、Ba)の蒸着レートが所定の比率になるように電流を制御しながら共蒸着を行うことにより第1金属膜6aを形成し、引き続いて低仕事関数金属(例えば、Ba)を入れた蒸着用ボートのシャッターのみを閉じて高仕事関数金属(例えば、Al)のみの蒸着を行い、第2金属膜6bを形成することにより作製している。
2005−135624号公報
しかし、従来の低仕事関数金属:5〜70質量%を含有し、残部が高仕事関数金属からなる第1金属膜6aは硫化物の生成を有る程度抑えることができてもその作用は十分ではなく、硫化物の生成を一層少なく抑える必要があった。
そこで、本発明者らは、かかる要求を満たすべく研究を行った結果、
(イ)Ba:30〜70質量%となるように含有し、残部がAlおよび不可避不純物からなる成分組成を有する従来の第1金属膜6aに、さらに酸素:0.05〜1質量%を含有した成分組成の合金膜を第1金属膜6aとして使用すると、硫化物の生成を一層低く抑えることができる、
(ロ)このBa:30〜70質量%、酸素:0.05〜1質量%を含有し、残部がAlおよび不可避不純物からなる成分組成を有する合金膜は、Ba:30〜70質量%となるように含有し、残部がAlおよび不可避不純物からなる成分組成を有する蒸着用出発材料を作製し、酸素を微量含む真空雰囲気中で真空蒸着することにより成膜することができるが、Ba:30〜70質量%を含有し、さらに酸素:0.05〜1質量%を含有し、残部がアルミニウムおよび不可避不純物からなる組成を有するターゲットを作製し、このターゲットを用いてスパッタリングすることによっても成膜することができ、その他任意の方法で成膜することができる、という研究結果が得られたのである。
この発明は、かかる研究結果に基づいて成されたものであって、
(1)Ba:30〜70質量%を含有し、さらに酸素:0.05〜1質量%を含有し、残部がアルミニウムおよび不可避不純物からなる組成を有し、硫黄(S)含有のホール注入膜を有する有機EL素子の陰極を構成する金属膜、
(2)Ba:30〜70質量%を含有し、さらに酸素:0.05〜1質量%を含有し、残部がアルミニウムおよび不可避不純物からなる組成を有する蒸着膜からなり、硫黄(S)含有のホール注入膜を有する有機EL素子の陰極を構成する金属膜、
(3)Ba:30〜70質量%を含有し、さらに酸素:0.05〜1質量%を含有し、残部がアルミニウムおよび不可避不純物からなる組成を有するスパッタリング膜からなり、硫黄(S)含有のホール注入膜を有する有機EL素子の陰極を構成する金属膜、に特徴を有するものである。
一般に、有機EL素子の陰極を構成する金属膜の成分組成を、Ba:5〜70質量%、残部:Alおよび不可避不純物からなる成分組成とすることはすでに知られているが、この発明の有機EL素子の陰極を構成する金属膜に含まれるBaを30質量%以上としたのは酸素を含有していても金属膜の仕事関数が大きくならないようにするためである。
また、この発明の有機EL素子の陰極を構成する金属膜に含まれる酸素を0.05〜1質量%にしたのは、酸素含有量が0.05質量%未満ではBaSの生成を十分に阻止することができないので好ましくなく、一方、酸素を1質量%を越えて含有するとAlが形成されて金属層の電子放出特性が低下するので好ましくない理由によるものである。
この発明の有機EL素子の用いることにより有機EL素子の性能および寿命が向上し、各種電子機器、情報機器のディスプレイ産業の発展に大いに貢献し得るものである。
実施例1
縦:20mm、横:20mm、厚さ:0.5mmの寸法を有する表面研磨したガラス基板上に、スパッタ法を用いて厚み:150nmのITO陽極膜を形成し、その上にポリエチレンジオキシチオフェンおよびポリスチレンスルフォン酸からなる厚み50nmのホール注入膜を形成し、このホール注入膜の上にポリフルオレイン酸からなる50nmの発光膜を形成した。
この発光膜の上にさらに表1に示される成分組成を有し厚さ:5nmを有する本発明蒸着第1金属膜1〜7、比較蒸着第1金属膜1〜5および従来蒸着第1金属膜1を成膜し、これら蒸着第1金属膜の上にさらに純Alからなる厚さ:10nmを有する蒸着第2金属膜を成膜することにより合計の厚さが15nmを有する陰極膜を成膜し、最後に、前記蒸着第2金属膜の上に通常のスパッタ法により厚さ:200nmのITO膜を成膜し、有機FL素子1〜13を作製した。
なお、本発明蒸着第1金属膜1〜7、比較蒸着第1金属膜1〜5および従来蒸着第1金属膜1は、原料を不活性ガス雰囲気中で高周波溶解して溶湯を作製し、この溶湯を鋳造してインゴットを作製し、このインゴットを粉砕して粉末とし、得られた粉末をさらに分級したのち酸素:10体積%含有の乾燥窒素雰囲気中で一定時間放置して粉末中の酸素含有量を調整し、この酸素含有量を調整した粉末を800℃、40MPaでホットプレスを行い、表1に示される成分組成を有する蒸着用出発材を予め作製しておき、この蒸着用出発材を用いて真空雰囲気中でエレクトロンビーム蒸着により成膜することにより作製した。
このようにして得られた有機FL素子1〜13の陽極と陰極の間に7Vの電圧をかけ、ITO陽極膜側から発光を観察し、本発明蒸着第1金属膜1を成膜した有機FL素子の電圧印加初期の輝度を100とし、他の素子の初期輝度の相対値を測定し、その結果を表2に示した。また、各素子の輝度が初期輝度の半分になる時間を有機FL素子の寿命として表2に示した。
Figure 0004826919
Figure 0004826919
表1〜2に示される結果から、表1の本発明蒸着第1金属膜1〜7を成膜した有機FL素子1〜7は、表1の従来蒸着第1金属膜1を成膜し有機EL素子13に比べて初期輝度の相対値が高く、さらに寿命が長いことがわかる。一方、この発明の条件から外れた表1の比較蒸着第1金属膜1〜5を成膜し有機EL素子8〜12は初期輝度の相対値および寿命の内のいずれか一方が低く好ましくないことがわかる。
実施例2
縦:20mm、横:20mm、厚さ:0.5mmの寸法を有する表面研磨したガラス基板上に、スパッタ法を用いて厚み:150nmのITO陽極膜を形成し、その上にポリエチレンジオキシチオフェンおよびポリスチレンスルフォン酸からなる厚み50nmのホール注入膜を形成し、このホール注入膜の上にポリフルオレイン酸からなる50nmの発光膜を形成した。
この発光膜の上にさらに表3に示される成分組成を有し厚さ:5nmを有する本発明スパッタ第1金属膜1〜7および比較スパッタ第1金属膜1〜5を成膜し、これらスパッタ第1金属膜の上にさらに純Alからなる厚さ:10nmのスパッタ第2金属膜を成膜することにより合計の厚さが15nmを有する陰極膜を成膜し、最後に、前記スパッタ第2金属膜の上に通常のスパッタ法により厚さ:200nmのITO膜を成膜し、有機FL素子を作製した。
なお、本発明スパッタ第1金属膜1〜7および比較スパッタ第1金属膜1〜5は下記の方法で成膜した。
まず、原料を不活性ガス雰囲気中で高周波溶解して溶湯を作製し、この溶湯を鋳造してインゴットを作製し、このインゴットを粉砕して粉末とし、得られた粉末を分級したのち、大気中に一定時間放置し、この一定時間放置した合金粉末を温度:800℃、圧力:40MPaにて2時間保持する条件のホットプレスを行い、得られたホットプレス体を機械加工することにより表3に示される成分組成を有し直径:125mm、厚さ:5mmの寸法を有するターゲットを作製した。
このターゲットをDC電源を用いたマグネトロン式スパッタリング装置に取り付け、5×10−5Paになるまで排気し、この状態でArガスを毎分30cmの流速で導入し、弁の開度を調節してAr(圧力:0.5Pa)雰囲気とし、出力:1000Wの高周波電力を投入し、厚さ:5nmを有する本発明スパッタ第1金属膜1〜7および比較スパッタ第1金属膜1〜5を成膜した。
このようにして得られた有機FL素子の陽極と陰極の間に7Vの電圧をかけ、ITO膜側から発光を観察し、実施例1で作製した本発明蒸着第1金属膜1を成膜した有機FL素子の電圧印加初期の輝度を100とし、実施例2で作成した本発明スパッタ第1金属膜1〜7および比較スパッタ第1金属膜1〜5を成膜した他の素子の初期輝度の相対値を測定し、その結果を表4に示した。また、各素子の輝度が初期輝度の半分になる時間を有機FL素子の寿命として表4に示した。
Figure 0004826919
Figure 0004826919
表3〜4に示される結果から、表3の本発明スパッタ第1金属膜1〜7を成膜した有機FL素子14〜20は、実施例1で作製した表1の従来蒸着第1金属膜1を成膜し有機EL素子13に比べて初期輝度の相対値が高く、さらに寿命が長いことがわかる。一方、この発明の条件から外れた表3の比較スパッタ第1金属膜1〜5を成膜し有機EL素子21〜25は初期輝度の相対値および寿命の内のいずれか一方が低く好ましくないことがわかる。
有機EL素子の積層構造を示す断面説明図である。
符号の説明
1:基板、2:陽極、3:ホール注入膜、4:発光膜、5:陰極、6a:第1金属膜、6b:第2金属膜、7:酸化物導電膜、9:有機EL膜

Claims (3)

  1. Ba:30〜70質量%を含有し、さらに酸素:0.05〜1質量%を含有し、残部がアルミニウムおよび不可避不純物からなる組成を有することを特徴とする、硫黄(S)含有のホール注入膜を有する有機エレクトロルミネッセンス素子の陰極を構成する金属膜。
  2. 前記金属膜は蒸着膜であることを特徴とする請求項1記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の陰極を構成する金属膜。
  3. 前記金属膜はスパッタリング膜であることを特徴とする請求項1記載の有機エレクトロルミネッセンス素子の陰極を構成する金属膜。
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