JP4822903B2 - 二分子膜の形成装置及びその形成方法 - Google Patents
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Description
そこで本発明は、所望する膜面積を形成し維持する二分子膜の形成装置及びその形成方法を提供することを目的とする。
図1は、本発明に係る第1の実施形態における二分子膜の形成装置の基本的な構成を模式に示す図である。尚、以下の各実施形態において、二分子膜7の膜面積とは、図9(c)の断面構成図に示すように、分子膜70の外周にある周辺部(断面が三角形)を除く、実質的な二分子膜部分Oの面積を膜面積と称している。さらに、二分子膜7から電気化学的信号として検出される膜状態を示す信号には、膜の厚さ情報、膜電位、膜面積情報及び、周波数と電圧の相互依存性(パラメータ)の情報を含んでいる。
この二分子膜形成部1において、例えば、インクジェットノズルを用いた形成方法等の適宜な方法を用いて、容器5の基板6に開口された微小な貫通孔を塞ぐように脂質液を供給する。例えば、二分子膜7を形成する脂質溶液として、モノオレイン/デカン(5wt%)の混合液を用いる。この供給された脂質液は、貫通孔で拡がり、脂質膜又は分子膜(膜厚が厚い)を形成する。この時の分子膜の中央は、二分子膜となっている場合もある。
図4に示す本実施形態の二分子膜形成装置は、前述した第2の実施形態における膜面積を照明する方向が異なる光透過式光学観測を行う構成である。ここで、図4に示す構成部位において、前述した図3に示した構成部位と同等のものには同じ参照符号を付して、その説明を省略する。
図5に示す本実施形態の二分子膜形成装置は、膜状態を電位差信号により測定する測定装置が設けられた構成である。ここで、図5に示す構成部位において、前述した図1に示した構成部位と同等のものには同じ参照符号を付して、その詳細な説明を省略する。
図6に示す本実施形態の二分子膜形成装置は、電気化学的信号に位相が反転した周波数信号を加算してその変化を測定する測定装置が設けられた構成である。ここで、図6に示す構成部位において、前述した図1に示した構成部位と同等のものには同じ参照符号を付して、その詳細な説明を省略する。
図7に示す本実施形態の二分子膜形成装置は、電気化学的信号におけるピーク電圧と印加した交流電圧との差分による周波数減衰測定を行う測定装置が設けられた構成である。ここで、図7に示す構成部位において、前述した図1に示した構成部位と同等のものには同じ参照符号を付して、その詳細な説明を省略する。
図8に示す本実施形態の二分子膜形成装置は、二分子膜7のキャパシタンス変化に着目した二分子膜7の膜状態を測定する周波数位相変化測定の構成である。ここで、図8に示す構成部位において、前述した図1に示した構成部位と同等のものには同じ参照符号を付して、その詳細な説明を省略する。
Claims (11)
- 任意の周波数を有する印加電圧を可変可能に生成する交流電圧印加装置と、
前記印加電圧を分子膜に印加し、所望する二分子膜の膜面積を含む膜状態を形成する二分子膜形成部と、を具備することを特徴とする二分子膜の形成装置。 - 任意の周波数を有する印加電圧を生成する交流電圧印加装置と、
前記交流電圧印加装置の前記印加電圧を分子膜に印加して、二分子膜の膜面積を含む膜状態を可変させる二分子膜形成部と、
前記二分子膜の膜状態を観測し、観測結果を示す信号を生成する二分子膜観測部と、
前記二分子膜観測部から受信した前記観測結果を示す信号に基づき、所望する膜状態となるように、前記交流電圧印加装置が生成する前記印加電圧の電圧値および周波数の少なくともいずれか一方を設定制御する制御部と、
を具備することを特徴とする二分子膜の形成装置。 - 前記交流電圧印加装置は、前記二分子膜形成部の入力側に接続する高インピーダンス変換部を具備することを特徴とする請求項2に記載の二分子膜の形成装置。
- 前記二分子膜観測部は、
前記二分子膜形成部に注入された脂質による分子膜又は二分子膜の膜状態における光学的特徴及びその経時的な変化を観測するための光学的観測機能を具備することを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の二分子膜の形成装置。 - 前記光学的観測機能は、
前記二分子膜形成部に注入された脂質による分子膜又は二分子膜を照明する照明部と、
前記照明部により照明された前記分子膜又は前記二分子膜の膜状態を撮像する撮像部と、を具備することを特徴とする請求項4に記載の二分子膜の形成装置。 - 前記二分子膜観測部は、
前記二分子膜形成部に注入された脂質による分子膜又は二分子膜の電気化学的特性及びその経時的な変化を計測するための電気化学的測定装置であることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の二分子膜の形成装置。 - 前記電気化学的測定装置は、
前記電気化学的特性に基づく交流信号から周波数成分を除去する周波数除去回路と、
前記周波数除去回路により交流成分が除去された前記電気化学的特性における直流電圧値と、前記交流電圧印加装置から前記二分子膜に出力された印加電圧値との電位差を測定する電位差測定回路と、
で構成されることを特徴とする請求項6に記載の二分子膜の形成装置。 - 前記電気化学的測定装置は、
前記交流電圧印加装置から出力された任意の周波数を有する印加電圧を反転した反転信号を生成する補正回路と、
前記電気化学的特性に基づく交流信号と前記補正回路により生成された反転信号を加算してその変化分を取り出す加算回路と、
で構成されることを特徴とする請求項6に記載の二分子膜の形成装置。 - 前記電気化学的測定装置は、
前記電気化学的特性に基づく交流信号のピーク電圧を保持する第1の保持回路と、
前記第2の保持回路の保持タイミングと同期して、前記交流電圧印加装置から出力された任意の周波数を有する印加電圧のピーク電圧を保持する第2の保持回路と、
前記第1の保持回路に保持されたピーク電圧と、前記第2の保持回路に保持されたピーク電圧との差分を取る差分回路と、
で構成されることを特徴とする請求項6に記載の二分子膜の形成装置。 - 前記電気化学的測定装置は、
前記電気化学的信号に対して予め定めたタイミングで第1のトリガ信号を発生する第1の周波数位相検出トリガ発生回路と、
前記交流電圧印加装置から出力された任意の周波数を有する印加電圧に対して前記タイミングで第2のトリガ信号を発生する第2の周波数位相検出トリガ発生回路と、
前記第1のトリガ信号と前記第2のトリガ信号との位相差を算出する位相差算出回路と、
で構成されることを特徴とする請求項6に記載の二分子膜の形成装置。 - 二分子膜に任意周波数を有する電圧を印加し、
前記二分子膜の光学的若しくは電気化学的特性及びそれらの経時的な変化を観測し、
前記観測された前記二分子膜の前記光学的若しくは電気化学的特性に基づき生成された信号を受信すると共に、前記二分子膜に印加される前記任意周波数を有する電圧の周波数及び電圧値の再設定を行い、
前記二分子膜に再設定された任意周波数を有する電圧を印加して、前記二分子膜の膜面積を含む膜状態を形成維持することを特徴とする二分子膜の形成方法。
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