JP4813909B2 - 集積回路およびそのテスト方法 - Google Patents

Description

この発明は集積回路に関し、より詳しくは、複数の内部配線とそれらの内部配線にそれぞれ対応して設けられた複数のパッドとを有する集積回路に関する。

また、この発明は、そのような集積回路のテストを行うテスト方法に関する。

液晶表示パネル（ＴＦＴ−ＬＣＤ）を駆動するための集積回路（「液晶ドライバ」とも呼ばれる。）１０１は、例えば図４に示すように構成されている。すなわち、この集積回路１０１は、駆動すべき液晶表示パネルのライン数（解像度）に応じて複数配列された液晶駆動回路１０３，１０３，…と、それらの液晶駆動回路１０３，１０３，…が駆動信号をそれぞれ出力する配線１０６，１０６，…と、それらの配線１０６，１０６，…にそれぞれ接続された出力パッド１０２，１０２，…とを、基板１０９上に備えている。出力パッド１０２，１０２，…は、基板１０９の一辺１０９ａに沿って千鳥状に配列されている。これにより、基板１０９の辺１０９ａに沿った方向に関して出力パッド１０２のピッチを狭くしながら、出力パッド１０２間のリークを防止するようになっている。これは、液晶表示パネルのライン数（解像度）が増加するのに応じて、それを駆動する液晶ドライバの出力数も増加させる要請に応えるためである。図５に示すように、実装時には、出力パッド１０２，１０２，…に対して液晶表示パネルの配線端子１０５，１０５，…が一括して接続される。

一般的には、実装前に、図６に示すように、各出力パッド１０２，１０２，…にそれぞれテスト用プローブ１０４，１０４，…が接触され、液晶駆動回路１０３，１０３，…の動作テストが行われる。しかしながら、液晶表示パネルのライン数（解像度）が増加するのにつれて、多数のテスト用プローブを用いたテストは困難になってきている。

そこで、例えば特許文献１（特開昭５９−１９１３４０号公報）には、外部より初期設定されるカウンタ回路の出力に基づいて動作する選択回路を備え、内部回路の信号が上記選択回路によって選択されて外部出力端子（パッド）に出力されるような集積回路が提案されている。同様に、特許文献２（特開平６−３４２８３５号公報）には、外部から供給される信号に基づいて動作する切替手段を備え、内部回路からの信号接続線を上記切替手段によって切り替えて入出力用パッドに接続する集積回路が提案されている。これらの集積回路では、テスト用プローブの数を減らすことができ、テストを容易化することができる。
特開昭５９−１９１３４０号公報 特開平６−３４２８３５号公報

しかしながら、上述の各集積回路では、内部回路からテスト用プローブが接触されるパッドまでの経路についてはテストが行われるが、内部回路からテスト用プローブが接触されないパッドまでの経路についてはテストが行われないという問題がある。このため、例えばテスト用プローブが接触されなかったパッドが欠損していたり、そのパッドと他のパッドとの間で短絡やリークがあったりした場合でも、異常が検出されないという不都合な結果を招く。

そこで、この発明の課題は、テスト用プローブの数を減らすことができ、しかもテストが行われない経路の発生を回避できる集積回路を提供することにある。

上記課題を解決するため、この発明の集積回路は、
信号を伝える複数の内部配線と、
上記内部配線にそれぞれ対応して設けられた複数のパッドと、
上記パッドの対毎にそれぞれ対応して設けられた切替回路と
を備え、
上記パッドの対のうちの第１のパッドは、そのパッドの対に対応する上記内部配線の対のうちの第１の内部配線に電気的に接続され、
上記切替回路は、上記パッドの対のうちの第２のパッドに接続された共通端子と、制御信号に応じて上記共通端子に択一的に導通される２つの接点とを備え、上記２つの接点のうちの一方の接点は、上記内部配線の対のうちの第２の内部配線に接続されるとともに、上記２つの接点のうちの他方の接点は、上記第１の内部配線とは別の配線を介して上記第１のパッドに接続されていることを特徴とする。

この発明の集積回路では、テスト時に、上記パッドの各対の第２のパッドにそれぞれテスト用プローブが接触される。そして、上記切替回路が制御信号に応じて、上記第２のパッドに接続された共通端子と、上記２つの接点のうちのいずれか一つとが択一的に導通される。上記切替回路によって上記共通端子と上記２つの接点のうちの上記一方の接点とが導通された状態では、上記テスト用プローブは、上記第２のパッド、切替回路の上記共通端子と上記一方の接点、第２の内部配線を順に介して内部回路と電気的に接続される。したがって、上記テスト用プローブによって上記内部回路が第２の内部配線に伝える信号のテストが行われる。一方、上記切替回路によって上記共通端子と上記２つの接点のうちの上記他方の接点とが導通された状態では、上記テスト用プローブは、上記第２のパッド、切替回路の上記共通端子と上記他方の接点、上記別の配線、第１のパッド、第１の内部配線を順に介して内部回路と電気的に接続される。したがって、上記テスト用プローブによって上記内部回路が第１の内部配線に伝える信号のテストが行われる。このようにして、時分割でテストが行われる。

この発明の集積回路では、テスト時に、上記パッドの各対の第２のパッドにそれぞれテスト用プローブを接触するだけであるから、従来の一般的な集積回路のテストを行う場合に比して、テスト用プローブの数を半減することができる。しかも、内部回路から第２の内部配線を経てテスト用プローブが接触されるパッド（つまり、第２のパッド）までの経路についてテストが行われるだけでなく、内部回路から第１の内部配線を経てテスト用プローブが接触されないパッド（つまり、第１のパッド）までの経路についてもテストが行われる。したがって、テストが行われない経路の発生を回避できる。この結果、例えばテスト用プローブが接触されなかったパッド（つまり、第１のパッド）が欠損していたり、そのパッドと他のパッドとの間で短絡やリークがあったりした場合は、異常が検出される。

一実施形態の集積回路では、上記パッドの各対の第１のパッドと第２のパッドは、基板上で一方向に沿って、互いに同じピッチで、かつ１／２ピッチだけずらして互いに平行に並べて配置されていることを特徴とする。

この一実施形態の集積回路では、上記パッドの各対の第１のパッドと第２のパッドは、いわゆる千鳥状に配列されている。これにより、上記一方向に関して出力パッドのピッチを狭くしながら、出力パッド間のリークを防止することができ。したがって、液晶表示パネルのライン数（解像度）が増加するのに応じて、それを駆動する液晶ドライバの出力数を増加させる要請に応えることができる。

一実施形態の集積回路は、上記各切替回路に対して共通に上記制御信号を供給する制御信号供給線を備えたことを特徴とする。

この一実施形態の集積回路では、上記制御信号供給線を通して上記各切替回路に対して共通に上記制御信号を供給することができる。これにより、上記各切替回路を同時に切り替えることができ、したがって、テストが容易に行われる。

なお、上記制御信号供給線に接続された制御信号パッドを備え、テスト時に上記制御信号パッドに制御信号供給用プローブを接触させて、この集積回路の外部から上記制御信号を上記各切替回路に対して供給するのが望ましい。

この発明の集積回路のテスト方法は、上記集積回路のテストを行うテスト方法であって、
上記パッドの各対の第２のパッドにそれぞれテスト用プローブを接触させ、
上記制御信号によって上記切替回路を制御して、上記共通端子と、上記２つの接点のうちのいずれか一方とを切り替えて互いに導通させて、上記集積回路の上記第１の内部配線が伝える信号のテストと上記第２の内部配線が伝える信号のテストとを時分割で行うことを特徴とする。

この発明のテスト方法では、上記切替回路によって上記共通端子と上記２つの接点のうちの上記一方の接点とが導通された状態では、上記テスト用プローブは、上記第２のパッド、切替回路の上記共通端子と上記一方の接点、第２の内部配線を順に介して内部回路と電気的に接続される。したがって、上記テスト用プローブによって上記内部回路が第２の内部配線に伝える信号のテストが行われる。一方、上記切替回路によって上記共通端子と上記２つの接点のうちの上記他方の接点とが導通された状態では、上記テスト用プローブは、上記第２のパッド、切替回路の上記共通端子と上記他方の接点、上記別の配線、第１のパッド、第１の内部配線を順に介して内部回路と電気的に接続される。したがって、上記テスト用プローブによって上記内部回路が第１の内部配線に伝える信号のテストが行われる。このようにして、時分割でテストが行われる。

以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。

図１は、この発明の集積回路の一実施形態である液晶ドライバ１の構成を示している。

この液晶ドライバ１は、駆動すべき液晶表示パネル（図示せず）のライン数（解像度）に応じて複数配列された内部回路としての液晶駆動回路３−１，３−２，…と、それらの液晶駆動回路３−１，３−２，…がそれぞれ駆動信号を出力する配線６−１，６−２，…と、それらの配線６−１，６−２，…にそれぞれ対応して設けられた出力パッド２−１，２−２，…とを、基板９上に備えている。なお、奇数番目の配線６−１，６−３，…が第１の内部配線、偶数番目の配線６−２，６−４，…が第２の内部配線にそれぞれ相当する。

出力パッド２−１，２−２，…は、基板９の一辺９ａに沿って千鳥状に配列されている。詳しくは、第１のパッドとしての奇数番目の出力パッド２−１，２−３，…と、第２のパッドとしての偶数番目の出力パッド２−２，２−４，…とが基板９上で辺９ａが延びる一方向に沿って、互いに同じピッチで、かつ１／２ピッチだけずらして互いに平行に２列に並べて配置されている。これにより、図４に示した一般的な液晶ドライバと同様に、辺９ａが延びる一方向に関して出力パッドのピッチを狭くしながら、出力パッド間のリークを防止することができる。したがって、液晶表示パネルのライン数（解像度）が増加するのに応じて、それを駆動する液晶ドライバの出力数を増加させる要請に応えることができる。

出力パッドの対（２−１，２−２），（２−３，２−４），…毎に、切替回路１０がそれぞれ対応して設けられている。この例では、各切替回路１０は、第２のパッドとしての偶数番目の出力パッド２−２，２−４，…と、偶数番目の液晶駆動回路３−２，３−４，…との間にそれぞれ配置されている。各切替回路１０は、図１中に模式的に示すように、１つの共通端子Ａと、この共通端子Ａに択一的に導通される２つの接点Ｂ，Ｃとを有する１回路２接点型のスイッチとして機能する。このような切替回路は、例えば公知のバイポーラ論理素子によって構成される。

基板９上で、第１の内部配線としての奇数番目の配線６−１，６−３，…は、対応する第１のパッドとしての奇数番目の出力パッド２−１，２−３，…にそれぞれ電気的に接続されている。また、第２の内部配線としての偶数番目の配線６−２，６−４，…は、対応する切替回路１０の一方の接点Ｃにそれぞれ接続されている。

各切替回路１０の共通端子Ａは、基板９上にそれぞれ設けられた配線８によって、対応する第２のパッドとしての偶数番目の出力パッド２−２，２−４，…にそれぞれ電気的に接続されている。また、各切替回路１０の他方の接点Ｂは、基板９上にそれぞれ設けられた配線７によって、対応する第１のパッドとしての奇数番目の出力パッド２−１，２−３，…にそれぞれ電気的に接続されている。

また、基板９上には、切替回路１０，１０の並びに沿って、各切替回路１０に対して共通に制御信号Ｓを供給する制御信号供給線１１が設けられている。この例では、この制御信号供給線１１は、図示しないパッド（これを「制御信号パッド」と呼ぶ。）に接続されている。テスト時には、上記制御信号パッドに制御信号供給用プローブを接触させて、この液晶ドライバ１の外部から制御信号を各切替回路１０に対して供給するようになっている。これにより、各切替回路１０を同時に切り替えることができる。なお、各切替回路１０は、テスト時以外の通常動作時、つまりノーマル状態では、共通端子Ａと接点Ｃとを導通させるよう設定されている。

この液晶ドライバ１のテストは次のようにして行われる。

図２に示すように、テスト時には、第２のパッドとしての偶数番目の出力パッド２−２，２−４，…にそれぞれテスト用プローブ４，４，…が接触される。そして、切替回路１０が、制御信号供給線１１を通して供給される制御信号に応じて、共通端子Ａと接点Ｃとを導通させ、または共通端子Ａと接点Ｂとを導通させる。

図２中に示すように、各切替回路１０の共通端子Ａと接点Ｃとが導通された状態になったものとする。この場合、例えば左端の出力パッドの対（２−１，２−２）に関して説明すれば、テスト用プローブ４は、第２のパッドとしての偶数番目の出力パッド２−２、配線８、切替回路１０の共通端子Ａと接点Ｃ、配線６−２を介して偶数番目の液晶駆動回路３−２と電気的に接続される。したがって、テスト用プローブ４によって、偶数番目の液晶駆動回路３−２が対応する配線６−２に出力する駆動信号のテストが行われる。他の出力パッドの対（２−３，２−４），…でも同様に、偶数番目の液晶駆動回路３−４，…がそれぞれ対応する配線６−４，…に出力する駆動信号のテストがそれぞれ行われる。

一方、図３中に示すように、各切替回路１０の共通端子Ａと接点Ｂとが導通された状態になったものとする。この場合、例えば左端の出力パッドの対（２−１，２−２）に関して説明すれば、テスト用プローブ４は、第２のパッドとしての偶数番目の出力パッド２−２、配線８、切替回路１０の共通端子Ａと接点Ｂ、配線７、出力パッド２−１、配線６−１を介して奇数番目の液晶駆動回路３−１と電気的に接続される。したがって、テスト用プローブ４によって、奇数番目の液晶駆動回路３−１が対応する配線６−１に出力する駆動信号のテストが行われる。他の出力パッドの対（２−３，２−４），…でも同様に、奇数番目の液晶駆動回路３−３，…がそれぞれ対応する配線６−３，…に出力する駆動信号のテストがそれぞれ行われる。

この液晶ドライバ１のテストでは、出力パッドの各対（２−１，２−２），（２−３，２−４），…のうち偶数番目の出力パッド２−２，２−４，…にそれぞれテスト用プローブ４，４，…を接触するだけであるから、図４に示した従来の一般的な集積回路のテストを行う場合に比して、テスト用プローブ４の数を半減することができる。

しかも、この液晶ドライバ１のテストでは、例えば左端の出力パッドの対（２−１，２−２）に関して説明すれば、偶数番目の液晶駆動回路３−２から対応する配線６−２を経てテスト用プローブ４が接触されるパッド（つまり、出力パッド２−２）までの経路についてテストが行われるだけでなく、奇数番目の液晶駆動回路３−１から対応する配線６−１を経てテスト用プローブが接触されないパッド（つまり、出力パッド２−１）までの経路についてもテストが行われる。したがって、テストが行われない経路の発生を回避できる。この結果、例えばテスト用プローブ４，４，…が接触されなかったパッド（つまり、奇数番目の出力パッド２−１，２−３，…）が欠損していたり、その出力パッド２−１，２−３，…と他のパッドとの間で短絡やリークがあったりした場合は、異常が検出される。

例えば、図２に示した状態（各切替回路１０の共通端子Ａと接点Ｃとが導通された状態）でのテスト時に、液晶駆動回路３−１の出力と液晶駆動出力３−２の出力とを互いに異なったレベルに設定する。例えば液晶駆動回路３−１の出力を１０Ｖに設定し、液晶駆動回路３−２の出力を０Ｖに設定する。このように設定した場合、もしテストされる出力パッド３−２と他の出力パッド３−１との間でリークがあれば、テスト用プローブ４で測定されるレベルが期待値（上のテスト時には、期待値は０Ｖである。）から外れる。したがって、異常が検出される。

既述のように、各切替回路１０は、テスト時以外の通常動作時、つまりノーマル状態では、共通端子Ａと接点Ｃとを導通させるよう設定されている。これにより、液晶表示パネル（図示せず）にこの液晶ドライバ１が接続された状態（従来例に関して図５に示したのと同様な実装状態）では、各液晶駆動回路３−１，３−２，…が出力した駆動信号は、それぞれ対応する配線６−１，６−２，…を経て、対応する出力パッド２−１，２−２，…に出力される。したがって、上記液晶表示パネルがこの液晶ドライバ１によって良好に駆動される。

以上では、この発明を一実施形態として液晶ドライバに適用した例について説明したが、この発明の適用対象はこれに限られるものではない。この発明は様々タイプの集積回路に広く適用することができる。また、パッドは、内部配線からの信号を出力するものに限られず、入力するものであっても良い。

この発明の集積回路の一実施形態である液晶ドライバの構成を示す図である。 上記液晶ドライバのテスト時の一つの状態を示す図である。 上記液晶ドライバのテスト時の別の状態を示す図である。 従来の一般的な液晶ドライバの構成を示す図である。 図４の一般的な液晶ドライバを液晶表示パネルに接続した実装状態を示す図である。 図４の一般的な液晶ドライバのテスト時の状態を示す図である。

１ 液晶ドライバ
２−１，２−２，… 出力パッド
３−１，３−２，… 液晶駆動回路
４ テスト用プローブ
６−１，６−２，…，７，８ 配線
９ 基板
１０ 切替回路
１１ 制御信号供給線

Claims (4)

1. 信号を伝える複数の内部配線と、
   上記内部配線にそれぞれ対応して設けられた複数のパッドと、
   上記パッドの対毎にそれぞれ対応して設けられた切替回路と
   を備え、
   上記パッドの対のうちの第１のパッドは、そのパッドの対に対応する上記内部配線の対のうちの第１の内部配線に電気的に接続され、
   上記切替回路は、上記パッドの対のうちの第２のパッドに接続された共通端子と、制御信号に応じて上記共通端子に択一的に導通される２つの接点とを備え、上記２つの接点のうちの一方の接点は、上記内部配線の対のうちの第２の内部配線に接続されるとともに、上記２つの接点のうちの他方の接点は、上記第１の内部配線とは別の配線を介して上記第１のパッドに接続されていることを特徴とする集積回路。
2. 請求項１に記載の集積回路において、
   上記パッドの各対の第１のパッドと第２のパッドは、基板上で一方向に沿って、互いに同じピッチで、かつ１／２ピッチだけずらして互いに平行に並べて配置されていることを特徴とする集積回路。
3. 請求項１に記載の集積回路において、
   上記各切替回路に対して共通に上記制御信号を供給する制御信号供給線を備えたことを特徴とする集積回路。
4. 請求項１乃至３のいずれか一つに記載の集積回路のテストを行うテスト方法であって、
   上記パッドの各対の第２のパッドにそれぞれテスト用プローブを接触させ、
   上記制御信号によって上記切替回路を制御して、上記共通端子と、上記２つの接点のうちのいずれか一方とを切り替えて互いに導通させて、上記集積回路の上記第１の内部配線が伝える信号のテストと上記第２の内部配線が伝える信号のテストとを時分割で行うことを特徴とするテスト方法。

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