JP4811641B2 - ピークホールド回路 - Google Patents
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Description
複数のパラメータのうち設定されたパラメータが入力され、このパラメータからトリガを検出するピーク検出回路と、
複数の前記パラメータが入力されると共に、前記ピーク検出回路が設定されたパラメータのトリガを検出したとき、複数の前記パラメータを記憶するホールド回路と
を備える。
複数のパラメータのうち設定されたパラメータが入力され、このパラメータの最大値又は最小値を検出するピーク検出回路と、
複数の前記パラメータが入力されると共に、前記ピーク検出回路が設定されたパラメータの最大値又は最小値を検出したとき、複数の前記パラメータを記憶するホールド回路と
を備える。
複数のパラメータが入力されると共に、ピーク検出回路が設定されたパラメータの最大値又は最小値を検出したとき、複数のパラメータを記憶するホールド回路を備えたので、その時の他のパラメータとの関係を把握することができ、データを後で解析する必要がない。
220 ホールド回路
221 電力値ホールド回路
222 電流値ホールド回路
223 電圧値ホールド回路
Claims (2)
- 複数のパラメータのうち設定されたパラメータが入力され、このパラメータからトリガを検出するピーク検出回路と、
複数の前記パラメータが入力されると共に、前記ピーク検出回路が設定されたパラメータのトリガを検出したとき、複数の前記パラメータを記憶するホールド回路と
を備えたことを特徴とするピーク検出回路。 - 複数のパラメータのうち設定されたパラメータが入力され、このパラメータの最大値又は最小値を検出するピーク検出回路と、
複数の前記パラメータが入力されると共に、前記ピーク検出回路が設定されたパラメータの最大値又は最小値を検出したとき、複数の前記パラメータを記憶するホールド回路と
を備えたことを特徴とする請求項1に記載のピーク検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005257935A JP4811641B2 (ja) | 2005-09-06 | 2005-09-06 | ピークホールド回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005257935A JP4811641B2 (ja) | 2005-09-06 | 2005-09-06 | ピークホールド回路 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2007071644A JP2007071644A (ja) | 2007-03-22 |
JP4811641B2 true JP4811641B2 (ja) | 2011-11-09 |
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JP (1) | JP4811641B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107831354B (zh) * | 2017-12-10 | 2023-03-17 | 南京宁普防雷设备制造有限公司 | 低功耗雷电流峰值采集系统 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11142440A (ja) * | 1997-11-11 | 1999-05-28 | Yokogawa Electric Corp | 波形表示装置 |
JP3861681B2 (ja) * | 2001-12-19 | 2006-12-20 | 横河電機株式会社 | 波形測定装置 |
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Publication number | Publication date |
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JP2007071644A (ja) | 2007-03-22 |
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A621 | Written request for application examination |
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