JP2006200914A - 温度検出回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】 温度検出素子の故障判定に要するコンピュータの入力端子数を削減することができる温度検出回路を提供することを課題とする。
【解決手段】 電源である定電圧源2と、定電圧源2に直列接続された外部抵抗器3と、温度検出素子41,51とFET42,52とが直列接続された温度検出手段4,5の各温度検出手段が並列に接続されてなり、且つ外部抵抗器3に直列接続してなる計測手段と、FET42,52でスイッチングする都度、外部抵抗器3と前記計測手段の間の電位を入力するA/Dコンバータ81と、このA/Dコンバータ81から入力された電位に基づいて、複数の前記温度検出手段のうちいずれか1つの故障を判定する故障判定手段と、を備えることを特徴とする。
【選択図】 図1
【解決手段】 電源である定電圧源2と、定電圧源2に直列接続された外部抵抗器3と、温度検出素子41,51とFET42,52とが直列接続された温度検出手段4,5の各温度検出手段が並列に接続されてなり、且つ外部抵抗器3に直列接続してなる計測手段と、FET42,52でスイッチングする都度、外部抵抗器3と前記計測手段の間の電位を入力するA/Dコンバータ81と、このA/Dコンバータ81から入力された電位に基づいて、複数の前記温度検出手段のうちいずれか1つの故障を判定する故障判定手段と、を備えることを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
本発明は、故障判定機能付きの温度検出回路に関する。
一般に、車両用エンジンの冷却水の温度などを監視する温度測定装置がある。温度測定装置では、温度によって抵抗値が変化する温度検出素子(例えば、サーミスタなど)を用いて温度を検出するようになっているとともに、この温度検出素子の故障を判定することができるようになっている。従来、温度検出素子の故障や劣化に対する補償をするために、温度特性の異なる2種類の温度検出素子を単一のパッケージに収容し、両者の検出値をコンピュータで読み取り、この検出値が所定の対応関係を満たすか否かで故障を診断するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
図4に、従来の故障判定機能付きの温度検出回路の一例を示す。
図4に示すように、温度検出回路100では、定電圧源101に並列に接続された抵抗102a,102bに、温度検出素子であるサーミスタ103a,103bをそれぞれ直列に接続し、このサーミスタ103a,103bの他端を共通に接地させている。そして、コンピュータ104におけるA/Dコンバータ104aの入力側に、サーミスタ103a,103bの上端側をそれぞれ接続し(つまり、入力端子が2つある。)、A/Dコンバータ104aの出力側に、中央処理装置(CPU)104bを接続する。これにより、A/Dコンバータ104aには、サーミスタ103a,103bの上端側の電位が入力され、この電位が、A/Dコンバータ104aからCPU104bに出力される。CPU104bでは、それに基づき、対象物の温度を検出することができるとともに、サーミスタ103a,103bの上端側における各電位を比較して、サーミスタ103a,103bの故障を判定することができる。
特開2000−171309号公報(段落0008、図1、図2)
図4に示すように、温度検出回路100では、定電圧源101に並列に接続された抵抗102a,102bに、温度検出素子であるサーミスタ103a,103bをそれぞれ直列に接続し、このサーミスタ103a,103bの他端を共通に接地させている。そして、コンピュータ104におけるA/Dコンバータ104aの入力側に、サーミスタ103a,103bの上端側をそれぞれ接続し(つまり、入力端子が2つある。)、A/Dコンバータ104aの出力側に、中央処理装置(CPU)104bを接続する。これにより、A/Dコンバータ104aには、サーミスタ103a,103bの上端側の電位が入力され、この電位が、A/Dコンバータ104aからCPU104bに出力される。CPU104bでは、それに基づき、対象物の温度を検出することができるとともに、サーミスタ103a,103bの上端側における各電位を比較して、サーミスタ103a,103bの故障を判定することができる。
ところで、近年、装置制御の高度化に伴って、測温を要する対象物が増加する一方で、温度検出素子の故障に対する補償性が高く求められる傾向にある。ここで、従来技術によって、温度検出素子の故障に対する補償性を確保するためには、1つの対象物に対して、コンピュータ(図4に示すA/Dコンバータ104a)の入力端子が、複数(図4では2つ)必要になる。
しかしながら、コンピュータ(A/Dコンバータ104a)の入力端子数には限りがあることから、多くの対象を測温できないという問題点があった。また、端子数の多いコンピュータを用いて対応することもできるが、このようなコンピュータは、コスト上昇の要因となっていた。
そこで、本発明では、温度検出素子の故障判定に要するコンピュータの入力端子数を削減することができる温度検出回路を提供することを課題とする。
前記課題を解決する本発明のうち請求項1に記載の発明は、温度検出回路であって、電源と、前記電源に接続された第1の抵抗器と、温度検出素子とスイッチング素子とが直列接続された複数の温度検出手段の各温度検出手段が互いに並列に接続されてなり、且つ前記第1の抵抗器に直列に接続された計測手段と、前記スイッチング素子でスイッチングする都度、前記第1の抵抗器と前記計測手段の間の電位を入力する入力手段と、前記入力手段から入力された電位に基づいて、複数の前記温度検出手段のうちいずれか1つの故障を判定する故障判定手段と、を備えることを特徴とする。
請求項1に記載の発明によれば、入力手段から入力される電位に基づいて、対象物の温度が検出される。また、各温度検出手段のスイッチング素子を切り換えると、その都度、第1の抵抗器と計測手段(スイッチングされた温度検出手段)の間の電位が、入力手段を介して、故障判定手段に入力される。故障検出手段では、スイッチング素子がスイッチングされる都度、入力された電位により、複数の温度検出手段のうちいずれか1つの温度検出手段の故障を判定可能である。これによれば、従来のように、複数の対象物の電位を同時に測定して故障を判定するわけではなく、スイッチングする都度、第1の抵抗器と計測手段の間の電位を入力して、温度検出手段の故障を判定するため、複数の対象物を測温する場合に要求される入力端子数を従来よりも少なくすることができる。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の温度検出回路において、前記スイッチング素子をスイッチングすることで複数の前記温度検出手段のうちいずれか1つの温度検出手段のみを導通させる切換制御手段を有することを特徴とする。
請求項2に記載の発明によれば、切換制御手段で、スイッチング素子をスイッチングすることで複数の温度検出手段のうちいずれか1つの温度検出手段のみを導通させる。そして、その都度、計測手段(スイッチングされた温度検出手段)の電位が、入力手段を介して、故障判定手段に入力される。従って、容易に、故障判定をすることができる。
請求項3に記載の発明は、請求項1または請求項2に記載の温度検出回路において、前記故障判定手段は、前記入力手段から入力された電位をそれぞれ記憶する記憶手段を備え、この記憶手段で記憶した電位に基づいて故障を判定することを特徴とする。
請求項3に記載の発明によれば、故障判定手段が、入力手段から入力された電位をそれぞれ記憶手段に記憶し、記憶した電位を互いに比較することで、故障を判定する。従って、要求される入力手段の入力端子数が少なくとも1つあれば、対象物の数に関わらず故障を判定することができる。
請求項4に記載の発明は、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の温度検出回路において、前記故障判定手段は、入力手段から入力された電位を、互いに比較することによって、故障を判定することを特徴とする。
請求項4に記載の発明によれば、入力手段から入力された電位を互いに比較することによって、温度検出手段の故障を判定することができる。
請求項5に記載の発明は、温度検出回路であって、電源と;前記電源に接続された第1の抵抗器と;温度検出素子とスイッチング素子とが直列接続された複数の温度検出手段の各温度検出手段と、第2の抵抗器とスイッチング素子とが直列接続された抵抗器故障検出手段と、が互いに並列に接続されてなり、且つ前記第1の抵抗器に接続された計測手段と;前記スイッチング素子でスイッチングする都度、前記第1の抵抗器と前記計測手段との間の電位を入力する入力手段と;前記入力手段から入力された電位に基づいて、前記温度検出手段、前記抵抗器故障検出手段、前記入力手段、および、前記第1の抵抗器のうち、いずれか1つの故障を判定する故障判定手段と;を備えることを特徴とする。
請求項5に記載の発明によれば、入力手段から入力される電位に基づいて、対象物の温度が検出される。また、切換制御手段で、各温度検出手段のスイッチング素子を切り換えると、その都度、第1の抵抗器と計測手段(スイッチングされた温度検出手段、または、抵抗器故障検出手段)との間の電位が、入力手段を介して、故障判定手段に入力される。故障検出手段では、スイッチング素子がスイッチングされる都度、入力された電位により、複数の温度検出手段、抵抗器故障検出手段、入力手段、および、第1の抵抗器のうちいずれか1つの故障を判定可能である。これによれば、複数の対象物の電位を同時に測定して故障を判定するわけではなく、スイッチングする都度、第1の抵抗器と計測手段の間の電位を入力して、回路の故障を判定するため、複数の対象物を測温する場合に要求される入力端子数を従来よりも少なくすることができる。
請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の温度検出回路において、前記スイッチング素子をスイッチングすることで複数の前記温度検出手段および前記抵抗器故障検出手段のうちいずれか1つのみを導通させる切換制御手段を有することを特徴とする。
請求項6に記載の発明によれば、切換制御手段で、スイッチング素子をスイッチングすることで複数の温度検出手段のうちいずれか1つの温度検出手段のみを導通させる。そして、その都度、第1の抵抗器と計測手段(スイッチングされた温度検出手段)の間の電位が、入力手段を介して、故障判定手段に入力される。従って、容易に、故障判定をすることができる。
請求項7に記載の発明は、請求項5または請求項6に記載の温度検出回路において、前記故障判定手段は、前記第1の抵抗器と前記抵抗器故障検出手段との間の電位と、所定の基準電位とを比較することで、前記抵抗器故障検出手段、前記入力手段、および、前記第1の抵抗器のうち、いずれか1つの故障を判定することを特徴とする。
請求項7に記載の発明は、請求項5または請求項6に記載の温度検出回路において、故障判定の方法を具体的に示したものである。請求項5に記載の発明によれば、前記第1の抵抗器と前記抵抗器故障検出手段との間の電位と、所定の基準電位とを比較する。つまり、第1の抵抗器と抵抗器故障検出手段との間の電位は通常一定の所定値(基準電位)であるため、この電位と所定の基準電位を比較することで、前記抵抗器故障検出手段、前記入力手段、および、前記第1の抵抗器のうち、いずれか1つの故障を判定することができる。これにより、温度検出素子のみならず、測定手段に含まれる他の要素や、回路中の他の要素についても故障判定することができる。
請求項1に記載の発明によれば、複数の対象物の電位を同時に測定して故障を判定するわけではなく、スイッチングする都度、第1の抵抗器と計測手段の間の電位を入力して、温度検出手段の故障を判定するため、複数の対象物を測温する場合に要求される入力端子数を従来よりも少なくすることができる。
請求項2に記載の発明によれば、切換制御手段でスイッチング素子のスイッチングを制御するため、容易に、故障判定をすることができる。
請求項3に記載の発明によれば、記憶手段に記憶された電位を互いに比較することで、故障判定することができる。そのため、要求される入力手段の端子数が少なくとも1つあれば、対象物の数に関わらず故障を判定することができる。
請求項4に記載の発明によれば、切換手順ごとに入力された電位を互いに比較することによって、温度検出手段の故障を判定することができる。
請求項5に記載の発明によれば、複数の対象物の電位を同時に測定して故障を判定するわけではなく、スイッチングする都度、第1の抵抗器と計測手段の間の電位を入力して、回路の故障を判定するため、複数の対象物を測温する場合に要求される入力端子数を従来よりも少なくすることができる。
請求項6に記載の発明によれば、切換制御手段でスイッチング素子のスイッチングを制御するため、容易に故障判定をすることができる。
請求項7に記載の発明によれば、第1の抵抗器と抵抗器故障検出手段との間の電位と所定の基準電位を比較することで、前記抵抗器故障検出手段、前記入力手段、および、前記第1の抵抗器のうち、いずれか1つの故障を判定することができる。これにより、温度検出素子のみならず、測定手段に含まれる他の要素や、回路中の他の要素についても故障判定することができる。
〔第1の実施形態〕
次に、本発明に係る温度検出回路の第1の実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。図1は、本実施形態に係る温度検出回路を示す図である。
次に、本発明に係る温度検出回路の第1の実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。図1は、本実施形態に係る温度検出回路を示す図である。
図1に示すように、温度検出回路1は、定電圧源2(電源)と、外部抵抗器3(第1の抵抗器)と、第1の温度検出手段4と、第2の温度検出手段5と、抵抗器故障検出手段6と、A/D入力回路7と、制御部8とから構成されている。
第1の温度検出手段4と、第2の温度検出手段5と、抵抗器故障検出手段6とは、それぞれ互いに並列に接続されている。以下、これら第1の温度検出手段4と、第2の温度検出手段5と、抵抗器故障検出手段6とをまとめて「計測手段」という。この計測手段の一端側は、外部抵抗器3を介して定電圧源2に接続されている。また、A/D入力回路7は、計測手段に接続されている。
第1の温度検出手段4は、サーミスタ41(温度検出素子)と、FET42(スイッチング素子)とが直列に接続されて構成されている。サーミスタ41は、温度によって抵抗値が変化する素子である。サーミスタ41の一端は、定電圧源2に接続された外部抵抗器3側に接続されており、他端は、FET42のソースに接続されている。また、FET42のドレインは接地されている。FET42のゲートに、制御部8からのゲート信号が入力されることで、FET42はON(ソースとドレインが導通状態)またはOFF(ソースとドレインが導通しない状態)される。
第2の温度検出手段5は、第1の温度検出手段4と同一の構成からなるもので、サーミスタ51と、FET52とが直列に接続されて構成されている。サーミスタ51は、サーミスタ41と同種類のものであり、サーミスタ41と同一箇所の温度を測定するものである。サーミスタ51の一端は、定電圧源2に接続された外部抵抗器3側に接続されており、他端は、FET52のソースに接続されている。また、FET52のドレインは接地されている。FET52のゲートに制御部8からのゲート信号が入力されることで、FET52はON(ソースとドレインが導通状態)またはOFF(ソースとドレインが導通しない状態)される。
抵抗器故障検出手段6は、抵抗器61(第2の抵抗器)と、FET62とから構成されている。抵抗器61の一端は、定電圧源2に接続された外部抵抗器3側に接続されており、他端は、FET62のソースに接続されている。また、FET62のドレインは接地されている。FET62のゲートに制御部8からのゲート信号が入力されることで、FET62はON(ソースとドレインが導通状態)またはOFF(ソースとドレインが導通しない状態)される。
A/D入力回路7は、抵抗器71とコンデンサ72とから構成されている。抵抗器71の一端は、定電圧源2に接続された外部抵抗器3側に接続されており、他端は、制御部8に接続されている。また、抵抗器71とA/Dコンバータ81の間に、コンデンサ72が接続されている。
制御部8は、前記A/D入力回路7が接続されるA/Dコンバータ81と、A/Dコンバータ81の出力側に接続されるCPU82(故障判定手段、切換制御手段)と、ポート83とから構成される。CPU82は、A/Dコンバータ81から入力される電位に基づき、温度を検出したり、各部の故障を判定したりする。また、ポート83は、前記したFET42,52,62にゲート信号を出力するようになっている。ポート83は、CPU82にバスで接続されており、このCPU82の制御により、各FET42,52,62のONまたはOFFを切り換えられるようになっている。ここで、各FET42,52,62は、順番にON状態に切り換えられるものとし、1つのFETがON状態にあるときは、他のFETはOFF状態にあるように切り換えられるものとする。これにより、回路内の電圧は、外部抵抗器3とON状態のFETが接続された各素子(サーミスタ41,51、または、抵抗器6)との間で分圧され、A/D入力回路7を介してA/Dコンバータ81に入力される電位は、外部抵抗器3とON状態のFETが接続された素子(サーミスタ41,51、または、抵抗器61)との間の電位となる。なお、CPU82は、メモリ84(記憶手段)が接続されており、各FET42,52,62の切り換えによって、検出された各電位が一時的に記憶されるようになっている。また、前記A/D入力回路7およびA/Dコンバータ81は、[特許請求の範囲]の「入力手段」に相当する。
次に、CPU82の温度検出方法について説明する。CPU82では、A/Dコンバータ81に、FET42のみがON状態になっているときに入力される電位に基づき、対象物の温度を検出する。具体的には、この電位は、外部抵抗器3とサーミスタ41の間に現れる電位であり、サーミスタ41の温度と抵抗値の関係マップから、これと対応する温度を検出するようになっている。
次に、CPU82の故障判定処理について説明する。
まず、通常時、A/Dコンバータ81に入力される電位と各FETのON,OFF状態の関係について、表1に示す。
まず、通常時、A/Dコンバータ81に入力される電位と各FETのON,OFF状態の関係について、表1に示す。
表1に示すように、A/Dコンバータ81に入力される電位は、(a)FET42のみがON状態となっているときは、外部抵抗器3とサーミスタ41で分圧された電位、(b)FET52のみがON状態となっているときは、外部抵抗器3とサーミスタ51で分圧された電位、(c)FET62のみがON状態となっているときは、外部抵抗器3と抵抗器61で分圧された電位になる。そして、(a),(b)では、サーミスタ41,51の温度による可変値であるのに対し、(c)では、固定値である。
そして、各FET42,52,62が所定の切換手順で切り換えられる都度、A/Dコンバータ81には、次々に前記(a),(b),(c)の電位が入力され、A/Dコンバータ81から入力された各電位が、CPU82に接続されたメモリ84に、記憶される。この電位に基づき、CPU82が、各部位の故障判定を行う。CPU82の故障判定方法について、表2に示す。
ここで、例えば、第1の温度検出手段4と第2の温度検出手段5は同一の構成からなるものなので、‘外部抵抗器3とサーミスタ41で分圧された電位’(表1に示す(a))と、‘外部抵抗器3とサーミスタ51で分圧された電位’(表1に示す(b))は、通常、同一となる。つまり、第1の温度検出手段4と第2の温度検出手段5のうちのいずれかの部位が故障していない限り、(a)と(b)の値は同一であり、いずれかの部位が故障していると、(a)と(b)の値が異なったものとなる。
そこで、表2に示すように、CPU82は、(1)サーミスタ41の故障、または、(2)サーミスタ41の故障、(4)FET42の故障、(5)FET52の故障、を検出する場合は、表1に示す(a)と、(b)の値を比較する。そして、この(a)と(b)の値が、同一であれば、各部位は正常と判断し、異なれば、各部位のいずれかが故障していると判定する。
また、例えば、外部抵抗器3と、抵抗器故障検出手段6の抵抗器61との間の電位(表1に示す(c))は、通常一定である。そのため、外部抵抗器3と抵抗器故障検出手段6のいずれかの部位が故障していない限り、基準値(基準電位=一定値)と(c)の値は同一であり、いずれかの部位が故障していると、基準値と(c)の値が異なったものとなる。ちなみに、CPU82に接続されたメモリ84では、予め、(c)の通常の値を基準値(基準電位)として記憶している。
そこで、表2に示すように、CPU82は、(3)抵抗器61の故障、(6)FET62の故障、(7)外部抵抗器3の故障、(8)A/D入力回路7、(9)A/Dコンバータ81の故障、を検出する場合は、表1に示す(c)の値と基準値を比較する。そして、(c)の値と基準値が、同一であれば、各部位は正常と判断し、異なれば、各部位のいずれかが故障していると判定する。これによれば、温度検出回路1におけるすべての部位の故障を判定することができる。
以上によれば、本実施の形態において以下の効果を得ることができる。
本実施形態に係る温度検出回路1では、各FET42,52,62が切り換えられる都度、A/Dコンバータ81に入力された電位を、CPU82が記憶し、比較することで、回路内の各部位の故障を判定することができる。これによれば、A/Dコンバータ81に電位を入力するための端子が1つあれば足りるので、端子数が多くて高価なコンピュータでなくても対応でき、限られたチャンネル数を有効に使って、故障を確実に判定することができる。
本実施形態に係る温度検出回路1では、各FET42,52,62が切り換えられる都度、A/Dコンバータ81に入力された電位を、CPU82が記憶し、比較することで、回路内の各部位の故障を判定することができる。これによれば、A/Dコンバータ81に電位を入力するための端子が1つあれば足りるので、端子数が多くて高価なコンピュータでなくても対応でき、限られたチャンネル数を有効に使って、故障を確実に判定することができる。
以上、本実施の形態について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、適宜変更して実施することができる。
本実施形態では、第1の温度検出手段4と第2の温度検出手段5を用いて、互いの故障に対して補償したが、本発明はこれに限定されるものではなく、第1の温度検出手段と同一の構成からなる温度検出手段をさらに設けるものであってもよい。例えば、前記したような温度検出手段を3つ設ける構成にすると、3つの温度検出手段のうちいずれか1つが故障した場合、その温度検出手段が導通した場合の電位のみが他のものと異なるため、どの温度検出手段が故障したのか具体的に特定することができる。
本実施形態では、1箇所の温度を測定する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、複数箇所の温度を測定する場合にも用いることができる。つまり、複数箇所に2つ以上の温度検出手段を設け、それぞれスイッチングして、同一箇所から入力された電位を比較することで、故障を判定することができる。この場合も、A/Dコンバータ81の1つの入力端子で対応することができる。
本実施形態では、スイッチング素子のスイッチングをCPU82で制御するものとしたが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、手動で切り換えるものであってもよい。
〔第2の実施形態〕
次に、第2の実施形態について説明する。図2は、第2の実施形態に係る温度検出回路を示す図であり、図3は、温度検出プローブを示す図である。第2の実施形態は、第1の実施形態の構成を一部変更したものであるので、同一の構成については同一の符号を付し、その説明を省略する。
次に、第2の実施形態について説明する。図2は、第2の実施形態に係る温度検出回路を示す図であり、図3は、温度検出プローブを示す図である。第2の実施形態は、第1の実施形態の構成を一部変更したものであるので、同一の構成については同一の符号を付し、その説明を省略する。
第2の実施形態では、第1の実施形態における2つのサーミスタ41,51をそれぞれ、温度検出回路1から切り離して(図2参照)、1つのパッケージ9a内に収容し、温度検出プローブ9(図3参照)として構成した。
図3に示すように、温度検出プローブ9は、パッケージ9a内にサーミスタ41とサーミスタ51を収容している。サーミスタ41とサーミスタ51の一端は共通の端子片A’に接続されている。また、サーミスタ41の他端は、端子片B’に接続され、サーミスタ51の他端は、端子片C’に接続されている。
そして、温度検出プローブ9は、図2に示す回路において、A−A’,B−B’,C−C’がそれぞれコネクタ、ワイヤ等を用いて電気的に接続されるようになっている。つまり、温度検出プローブ9を図2に示す回路に接続することで、温度検出回路が構成される。
これによっても、前記第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。また、温度検出プローブ9として構成したので、各サーミスタ41,51が故障した場合であっても、簡単に取り替えることができる。
1 温度検出回路
2 定電圧源
3 外部抵抗器
4,5 温度検出手段
6 抵抗器故障検出手段
7 A/D入力回路
8 制御部
9 温度検出プローブ
41,51 サーミスタ
42,52,62 FET
61 抵抗器
81 A/Dコンバータ
82 CPU
2 定電圧源
3 外部抵抗器
4,5 温度検出手段
6 抵抗器故障検出手段
7 A/D入力回路
8 制御部
9 温度検出プローブ
41,51 サーミスタ
42,52,62 FET
61 抵抗器
81 A/Dコンバータ
82 CPU
Claims (7)
- 電源と、
前記電源に接続された第1の抵抗器と、
温度検出素子とスイッチング素子とが直列接続された複数の温度検出手段の各温度検出手段が互いに並列に接続されてなり、且つ前記第1の抵抗器に直列に接続された計測手段と、
前記スイッチング素子でスイッチングする都度、前記第1の抵抗器と前記計測手段の間の電位を入力する入力手段と、
前記入力手段から入力された電位に基づいて、複数の前記温度検出手段のうちいずれか1つの故障を判定する故障判定手段と、
を備えることを特徴とする温度検出回路。 - 前記スイッチング素子をスイッチングすることで複数の前記温度検出手段のうちいずれか1つの温度検出手段のみを導通させる切換制御手段を有することを特徴とする請求項1に記載の温度検出回路。
- 前記故障判定手段は、前記入力手段から入力された電位をそれぞれ記憶する記憶手段を備え、この記憶手段で記憶した電位に基づいて故障を判定することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の温度検出回路。
- 前記故障判定手段は、前記入力手段から入力された電位を、互いに比較することによって、故障を判定することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の温度検出回路。
- 電源と;
前記電源に接続された第1の抵抗器と;
温度検出素子とスイッチング素子とが直列接続された複数の温度検出手段の各温度検出手段と、第2の抵抗器とスイッチング素子とが直列接続された抵抗器故障検出手段と、が互いに並列に接続されてなり、且つ前記第1の抵抗器に接続された計測手段と;
前記スイッチング素子でスイッチングする都度、前記第1の抵抗器と前記計測手段との間の電位を入力する入力手段と;
前記入力手段から入力された電位に基づいて、前記温度検出手段、前記抵抗器故障検出手段、前記入力手段、および、前記第1の抵抗器のうち、いずれか1つの故障を判定する故障判定手段と;
を備えることを特徴とする温度検出回路。 - 前記スイッチング素子をスイッチングすることで複数の前記温度検出手段および前記抵抗器故障検出手段のうちいずれか1つのみを導通させる切換制御手段を有することを特徴とする請求項5に記載の温度検出回路。
- 前記故障判定手段は、前記第1の抵抗器と前記抵抗器故障検出手段との間の電位と、所定の基準電位とを比較することで、前記抵抗器故障検出手段、前記入力手段、および、前記第1の抵抗器のうち、いずれか1つの故障を判定することを特徴とする請求項5または請求項6に記載の温度検出回路。
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