JP4805411B2 - 光情報媒体測定方法、光情報媒体、記録装置及び再生装置 - Google Patents

Description

本発明は、光ディスク等の光情報媒体の測定方法に関するものである。

高密度・大容量の情報記憶媒体として光ディスクを用いる光メモリ技術は、デジタルオーディオディスク、ビデオディスク、文書ファイルディスク、更にはデータファイル等、その応用が拡大しつつある。この光メモリ技術では、情報は光ディスク上の微小なピットや記録マークとして記録され、微小に絞られた光ビームを介して高い精度と信頼性を持って記録・再生される。

例えば、光ディスクの規格の１つであるＢｌｕ−ｒａｙディスク（ＢＤ）では、波長４００ｎｍ〜４１０ｎｍ、具体的には波長４０５ｎｍのレーザ光を、ＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ Ａｐｅｒｔｕｒｅ）が０．８４〜０．８６、具体的にはＮＡ＝０．８５の対物レンズで集光することで、微小スポットを形成している。

光ビームでこれらのピットや記録マークを再生した際に得られる再生信号には、異なる装置でも安定な再生ができるよう、所定の特性を持つことが必要とされている。図８Ａに再生信号の例を示す。再生信号の特性を測る指標として、再生された信号のＡＣ成分の振幅Ｉ_ｐｐと信号最大値Ｉ_ｔｏｐの比である変調度ｍ（ｍ＝Ｉ_ｐｐ／Ｉ_ｔｏｐ）が用いられており、光ディスクに対する装置間の互換性を補償するためには、この変調度ｍが特定の値以上であることが必要とされている。よって、光ディスク評価装置（測定光学系）によって変調度を測定して光ディスクの適否を評価することで、光ディスクの装置間の互換性を確保することができる。

変調度ｍの値は、複数の記録層を有する光ディスクにおいて、再生対象の層とは異なる他層からの反射光（迷光）による影響を受ける。すなわち、図８Ａに示す他層迷光の影響がない場合の信号最大値Ｉ_ｔｏｐに比して、再生信号に他層からの迷光が含まれると、図８Ｂに示すように、迷光の分だけ信号最大値Ｉ_ｔｏｐ’が大きくなる。よって、他層迷光の影響を受けた場合の変調度ｍ２は、ｍ２＝Ｉ_ｐｐ／Ｉ_ｔｏｐ’となって、他層迷光の影響がない場合の変調度ｍよりも小さくなってしまう。

しかし、従来の２層ディスクのように、測定光学系における受光部の面積と検出系の倍率及び層間厚で決まる、受光部に入る迷光の光量がある程度小さければ、受光部の面積や検出系の倍率等の条件を意識することなく、変調度ｍを所定の値以上と規定することで、装置間の互換性を確保する上で大きな問題を起こさなかった。

また、異なる装置でも安定な再生ができるよう、多層ディスクの各層間の反射率差について所定の値の間にあることも必要とされている。

これは、光ビームを層間で移動させたときの急激な信号振幅の変化を抑えるためや、他層からの迷光の影響を限定するためである。もし各層間の反射率差が大きいと、反射率の低い層では反射率の高い層からの迷光が大きくなり、信号の変調度に大きな影響を与える。しかし、従来の２層ディスクのように、受光部の面積と検出系の倍率及び層間厚で決まる、受光部に入る迷光の光量がある程度小さければ、受光部の面積や検出系の倍率等の条件を意識することなく、反射率差を所定の値の間と規定することで、装置間の互換性を確保する上で大きな問題を起こさなかった。

ＷＯ２００７／１０８５０７号公報

近年、光ディスクの記録容量を更に増加させるために、記録層が２層より多い、３層や４層の光ディスクの実用化が検討されている。記録層を３層や４層有する光ディスクでは、各層間の厚さを２層ディスクの場合に比べて、狭くする必要が生じる。ところが、各層間の厚さが狭くなると、受光部に入る迷光の光量は２層ディスクの場合に比べて増加してしまうため、変調度ｍの値や反射率差の値は、受光部の面積や検出系の倍率等の光学系に大きく依存してしまう。したがって、従来のように様々な測定光学系で変調度ｍの値、又は反射率差の値を規定すると、装置間の互換性を確保できない場合がある。

対策として、変調度ｍや反射率差を測定する光学系の条件を規定し、一定の条件下で変調度ｍや反射率差を測定することが考えられるが、現在全世界に既に存在する測定機の光学系をすべて置き換えることになり、現実的ではない。

本発明の目的は、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に変調度や反射率差の比較を可能とする光情報媒体測定方法を提供することである。

本発明の一局面に係る光情報媒体測定方法は、複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の変調度を測定する光情報媒体測定方法であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定する第１のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第２のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第３のステップと、前記第１のステップで測定した各層の変調度を、前記第２のステップで求めた各層間の厚さと、前記第３のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算する第４のステップとを含んでいる。

これにより、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に変調度の比較が可能となる。

本発明の他の局面に係る光情報媒体測定方法は、複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の反射率差を測定する光情報媒体測定方法であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層を再生した際に得られる信号光量と入射光量の比である見かけの反射率を求める第５のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第２のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第３のステップと、前記第５のステップで測定した見かけの反射率と、前記第２のステップで求めた各層間の厚さと、前記第３のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における反射率差を換算する第６のステップとを含んでいる。

これにより、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に反射率差の比較が可能となる。

本発明によれば、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に変調度の比較が可能となる。

図１Ａは、本発明の実施の形態１における、測定光学系と光情報媒体による迷光との関係を示す説明図である。図１Ｂは、測定光学系の光検出器と迷光との関係を示す説明図である。 本発明の実施の形態１における、３層の光情報媒体と光の経路を示す概念図である。 本発明の実施の形態１における、４層の光情報媒体と光の経路を示す概念図である。 本発明の実施の形態１における、測定された再生信号パターンの例を示す波形図である。 本発明の実施の形態１における、基準光学系での変調度に換算された再生信号パターンの例を示す波形図である。 本発明の実施の形態１における、変調度の換算方法を示す概念図である。 本発明の実施の形態２における、反射率差の計算方法を示す概念図である。 図８Ａは、他層迷光がない場合の再生信号のパターン例を示す波形図である。図８Ｂは、他層迷光がある場合の再生信号のパターン例を示す波形図である。 本発明の実施の形態１における、３層の光情報媒体の構造の具体例を示す概念図である。 本発明の実施の形態に係る光情報媒体を示す説明図である。 本発明の実施の形態に係る記録装置を示す説明図である。 本発明の実施の形態に係る再生装置を示す説明図である。 本発明の実施の形態１における、変調度の換算方法の一例を示す概念図である。 本発明の実施の形態１における、変調度の換算方法のその他の例を示す概念図である。 本発明の実施の形態１における、変調度の換算方法のその他の例を示す概念図である。 本発明の実施の形態１における、変調度の換算方法のその他の例を示す概念図である。 本発明の実施の形態１における、変調度の換算方法のその他の例を示す概念図である。 本発明の実施の形態２における、反射率差の計算方法の一例を示す概念図である。 本発明の実施の形態２における、反射率差の計算方法のその他の例を示す概念図である。 本発明の実施の形態２における、反射率差の計算方法のその他の例を示す概念図である。 本発明の実施の形態３における、反射率差の計算方法の一例を示す概念図である。

以下に、本発明の実施の例を、図面を参照して説明する。

（実施の形態１）
本発明の実施の形態１として、任意の測定光学系（光情報媒体評価装置）にて測定した多層光ディスク（光情報媒体）の各層の変調度を、基準光学系での各層の変調度に換算する方法を図６に示す。変調度の換算はＳ２０１、Ｓ２０２、Ｓ２０３、Ｓ２０４の４つのステップからなる。以下、各ステップについて説明する。ここでは、３層構造の光ディスクを例示して説明する。

（Ｓ２０１：各層の変調度を測定するステップ）
このＳ２０１では、測定光学系により光ディスクの各層の変調度を測定する。すなわち、光ディスクの各層（第１層〜第３層）に記録されている情報を再生して得られる再生信号に基づいて、測定光学系により各層の変調度を測定する。

ここで、測定光学系における再生信号の例を図４に示す。変調度は、再生信号のＡＣ成分の振幅Ｉ_ｐｐと信号最大値Ｉ_ｔｏｐとの比（Ｉ_ｐｐ／Ｉ_ｔｏｐ）として求められる。なお、測定対象の層を再生して得られる再生信号の中には、その他の層で反射された迷光の成分が含まれている。よって、測定光学系による各層の変調度の測定値には、当該測定光学系で発生する固有の他層迷光が含まれたものとなっている。このように他層迷光の影響を受けた変調度の測定値のことを、以下、「見かけの変調度」と称する。

測定光学系で測定された、第１層の見かけの変調度をｍｄ_１、第２層の見かけの変調度をｍｄ_２、第３層の見かけの変調度をｍｄ_３とする。

（Ｓ２０２：各層間の厚さを求めるステップ）
このＳ２０２では、光ディスクの各層間の厚さを求める。光ディスクの各層間の厚さは、測定対象の光ディスクを用いて測定機で実際に測定しても良い。また、層間厚さの値として、設計値（光ディスク作製時のねらい値）、光ディスク量産時のばらつきの平均値（光情報媒体を複数作製した場合の平均値）を用いても良い。或いは、層間厚さの値として、光ディスク規格等で規定された標準値を用いても良い。

（Ｓ２０３：各層の反射率を求めるステップ）
このＳ２０３では、光ディスクの各層の反射率を求める。ここで、本ステップＳ２０３を説明するために、図１Ａに、測定光学系の概略構成を示している。測定光学系は、光源１０１、対物レンズ１０２、検出レンズ１０４および光検出器１０５等を具備する。同図を参照しながら、他層からの迷光がある場合における、測定光学系の受光部と他層迷光との関係を以下に説明する。

光源１０１から出射された光ビームは対物レンズ１０２で集光され、光情報媒体としての光ディスク１０３上の特定の情報層（測定対象の層）に焦点が合わせられる。光ディスク１０３で反射した光は、再び対物レンズ１０２を通り、検出レンズ１０４により集光されて、光検出器１０５に入射し、光量に応じた電気信号に変換される。図１Ｂに示すように、光検出器１０５は受光部１０５ａを有する。また、測定光学系における検出系の倍率Ｍは、通常、検出レンズ１０４と対物レンズ１０２の焦点距離の比で与えられる。なお、図１Ａおよび図１Ｂにおいて、測定対象の層とは異なる他の層で反射した迷光を、便宜上、破線で示している。

受光部１０５ａ上における他層迷光の広がりの面積と受光部の面積との面積比は、測定光学系の検出倍率Ｍ、受光部の面積Ｓ_ｐｄ、測定対象の層から他層までの層間ｄ、情報層同士の間に形成された中間層の屈折率ｎ、測定光学系のＮＡにより決まる。

他層で反射した迷光の、焦点を合わせている自層上での半径Ｒ_ｄｉｓｃは、近似的には、下式（１−１）で表される。

Ｒ_ｄｉｓｃ≒ＮＡ・２・ｄ／ｎ・・・（１−１）

より正確には、θをｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎを満たすθ（０＜θ＜π／２）として、Ｒ_ｄｉｓｃは、
Ｒ_ｄｉｓｃ＝２・ｄ・ｔａｎθ・・・（１−２）
と表される。この迷光は、受光部１０５ａ上では検出系の倍率Ｍがかかる。よって、受光部１０５ａ上における迷光の半径Ｒ_ｐｄは、
Ｒ_ｐｄ＝Ｍ・Ｒ_ｄｉｓｃ・・・（１−３）
と表される。したがって、受光部１０５ａ上における迷光の広がりの面積Ｓ_ｓｔは、
Ｓ_ｓｔ＝π・Ｒ_ｐｄ ^２・・・（１−４）
と表される。

迷光の広がりの面積Ｓ_ｓｔと受光部の面積Ｓ_ｐｄとの比が、迷光のもれこみ率（Ｓ_ｐｄ／Ｓ_ｓｔ）となる。迷光のもれこみ率（Ｓ_ｐｄ／Ｓ_ｓｔ）は、上式（１−１）を用いて、
Ｓ_ｐｄ／Ｓ_ｓｔ≒Ｓ_ｐｄ／｛π・（Ｍ・ＮＡ・２・ｄ／ｎ）^２｝・・・（１−５）
もしくは、上式（１−２）式を用いて、
Ｓ_ｐｄ／Ｓ_ｓｔ＝Ｓ_ｐｄ／｛π・（Ｍ・２・ｄ・ｔａｎθ）^２｝・・・（１−６）
と表される。

ここで、ｄおよびｎは光ディスク１０３に依存するパラメータであり、ＮＡは測定光学系の集光系に関連するパラメータである。残りのＳ_ｐｄ／Ｍ^２は測定光学系の検出系により決まるパラメータとなる。このＳ_ｐｄ／Ｍ^２は、受光部１０５ａの面積Ｓ_ｐｄを検出系の倍率Ｍの２乗で除するものであり、受光部サイズをディスク上の尺度に換算することを意味し、これを規格化受光部サイズと呼ぶ。

次に、多層ディスクの各層の反射率の求め方を示す。反射率とは、光ディスク（光情報媒体）のある特定層に対物レンズからの光ビームの焦点を合わせたときに、光情報媒体に入射する光量に対する、特定層のみで反射して光情報媒体を出てくる光量の比である。

ここでは、図２を用いて、３層を例として説明する。光ディスクにおいて、第１層の反射率をＲ_１、第２層の反射率をＲ_２、第３層の反射率をＲ_３とする。第１層と第２層との層間をｄ_１２、第１層と第３層の層間をｄ_１３、第２層と第３層の層間をｄ_２３とし、中間層の屈折率をｎとし、測定光学系の開口数をＮＡとし、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎとする。更に、測定光学系における検出系の規格化受光部サイズをＳｄとする。

測定光学系により光ディスクの第ｉ層を再生した際に測定できる再生信号（迷光を含む）の光量を入射光量で規格化した量である見かけの反射率をＳ_ｉとする。第１層の見かけの反射率Ｓ_１は、自層の反射率Ｒ_１と、第２層からの迷光の反射率換算値および第３層からの迷光の反射率換算値との和として表される。

第２層からの迷光の光量（Ｓｔ_２）は、入射光の光量をＩとすると、式（１−６）を利用して、
Ｓｔ_２＝Ｉ×Ｒ_２×Ｓ_ｐｄ／｛π・（Ｍ・２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝・・・（１−７）
となる。測定光学系における検出系の規格化受光部サイズＳ_ｐｄ／Ｍ^２はＳｄと書けることを利用すると、上式（１−７）は、
Ｓｔ_２＝Ｉ×Ｒ_２×Ｓｄ／｛π・（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝・・・（１−８）
となる。第２層からの迷光の反射率換算値としてはＳｔ_２／Ｉを求めれば良いので、
Ｓｔ_２／Ｉ＝Ｓｄ×Ｒ_２／｛π・（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝・・・（１−９）
と表される。第３層からの迷光の反射率換算値としては、同様に、Ｓｔ_３／Ｉを求めれば良いので、
Ｓｔ_３／Ｉ＝Ｓｄ×Ｒ_３／｛π・（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝・・・（１−１０）
となる。式（１−９）と式（１−１０）より、第１層の見かけの反射率Ｓ_１は、
Ｓ_１＝Ｒ_１＋Ｓｄ・［Ｒ_２／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（１−１１）
となる。同様に、第２層の見かけの反射率Ｓ_２、第３層の見かけの反射率Ｓ_３は、
Ｓ_２＝Ｒ_２＋Ｓｄ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（１−１２）
Ｓ_３＝Ｒ_３＋Ｓｄ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_２／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（１−１３）
と表される。

一般的には、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクを考えると、第ｉ層の見かけの反射率Ｓ_ｉは、
Ｓ_ｉ＝Ｒ_ｉ＋Ｓｄ・［ΣＲ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］・・・（１−１４）
（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）
（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）
と表される。

ここで、Ｓ_１〜Ｓ_３は測定光学系において実際に測定される量である。また、ＮＡ、Ｓｄは測定光学系で決まる既知の量である。また、ｄ_１２、ｄ_１３、ｄ_２３、およびｎは光ディスクのパラメータとして、別に求めることができる量である。したがって、未知の量はＲ_１〜Ｒ_３のみであり、この３つの方程式（式（１−１１）〜（１−１３））を、Ｒ_１〜Ｒ_３について解くことで、迷光の影響を含まない各層の反射率Ｒ_１〜Ｒ_３を求めることができる。方程式が３個で未知数が３個であるのでこの方程式は解くことができる。

光ディスクの各層間の厚さには、前述の（Ｓ２０２：各層間の厚さを求めるステップ）にて求めた値を用いる。Ｓ２０２としては、図１３のＳ２０２ａ、図１４のＳ２０２ｂ、図１５のＳ２０２ｃ等を選択できる。図１３のＳ２０２ａは、光ディスクの各層間の厚さを実際に測定することにより、各層間の厚さを求めるステップである。また、図１４のＳ２０２ｂは、光ディスクの各層間の厚さとして設計値（ディスク作成時のねらい値）または規格等で規定された標準値を用いることにより、各層間の厚さを求めるステップである。また、図１５のＳ２０２ｃは、光ディスクの各層間の厚さとして量産時のばらつきの平均値を用いることにより、各層間の厚さを求めるステップである。

光ディスクの各層間ｄ_１２等の値として実際に測定した測定値を用いれば（Ｓ２０２ａ）、各層の反射率Ｒ_１〜Ｒ_３について厳密な値を求めることができる。また、層間の値として設計値（ディスク作成時のねらい値）を用いる（Ｓ２０２ｂ）又は量産時のばらつきの平均値を用いれば（Ｓ２０２ｃ）、各層の反射率Ｒ_１〜Ｒ_３について誤差を含んだ値となるが、ディスクの層間の測定の手間が省けるので、簡単に値を得ることができる。また、この層間の値として、規格等で規定された標準値を用いても良い（Ｓ２０２ｂ）。

更に、具体的な数値の例を示す。ＮＡ＝０．８５、屈折率ｎ＝１．６０、ｄ_１２＝２５μｍ、ｄ_２３＝１５μｍの例を考える（図９）。検出器のサイズを１２０μｍ×１２０μｍの正方形とし、検出系の倍率Ｍを２０倍と仮定すると、測定光学系の規格化受光部サイズＳｄは３６μｍ^２となる。このとき、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎ＝０．５３１、θ＝３２．０９度、ｔａｎθ＝０．６２７となる。したがって、式（１−１１）〜（１−１３）の３つの方程式は、
Ｓ_１＝ Ｒ_１＋０．０１１６６・Ｒ_２＋０．００４５５・Ｒ_３
Ｓ_２＝０．０１１６６・Ｒ_１＋ Ｒ_２＋０．０３２３８・Ｒ_３
Ｓ_３＝０．００４５５・Ｒ_１＋０．０３２３８・Ｒ_２＋ Ｒ_３
・・・（１−１５）
となる。

これを、Ｒ_ｉについて解くと、
Ｒ_１＝ １．０００１５・Ｓ_１−０．０１１５２・Ｓ_２−０．００４１８・Ｓ_３
Ｒ_２＝−０．０１１５２・Ｓ_１＋１．００１１８・Ｓ_２−０．０３２３７・Ｓ_３
Ｒ_３＝−０．００４１８・Ｓ_１−０．０３２３７・Ｓ_２＋１．００１０７・Ｓ_３
・・・（１−１６）
となる。この式（１−１６）を使えば、測定光学系で測定した第ｉ層の見かけの反射率Ｓ_ｉから、第ｉ層の実際の反射率Ｒ_ｉを求めることができる。層間厚として規格の標準値を用いる場合、規格化受光部サイズが同じであれば、上で求めた式（１−１６）の係数は変わらない。したがって、同じ測定系を使う限り、同じ変換式で、測定値（見かけの反射率Ｓ_ｉ）から反射率Ｒ_ｉを計算することができる。

また、ここでは３層の例を示したが、これが３層以上の何層であろうと（図３に４層の場合を図示）、方程式の数と未知数の数は同じであり、当該方程式を解くことができるので各層の反射率を求めることができる。

すなわち、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクを考えると、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の見かけの反射率Ｓ_ｉは、式（１−１４）として一般化でき、反射率Ｒ_ｉを未知数とするＮ個の連立方程式をたてることができる。よって、（Ｓ２０３：各層の反射率を求めるステップ）は、図１３〜図１６に示すように、光ディスクにおける各層の反射信号を測定光学系で測定するステップ（Ｓ２０３ａ）と、各層の反射率Ｒ_ｉについて連立方程式（１−１４）を立てるステップ（Ｓ２０３ｂ）と、当該連立方程式（１−１４）を解いて各層の反射率Ｒ_ｉを求めるステップ（Ｓ２０３ｃ）として実現することができる。

更に、（Ｓ２０３：各層の反射率を求めるステップ）についての別の方法として、上記の連立方程式について、隣接層のみの影響として近似式を立てても良い。例えば３層の場合、第１層再生時における第３層からの影響は、第２層に比べて層間距離が長くなるため無視できると考える。迷光の影響は距離の２乗で小さくなるので、第３層からの影響は第２層からの影響に比べて通常１／４程度は小さくなると考えられる。このため隣接層の影響だけを考えても、反射率を近似的に求めることができる。その場合、次のような３つの連立方程式が立てられる。

Ｓ_１＝Ｒ_１＋Ｓｄ・Ｒ_２／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝・・・（１−１７）
Ｓ_２＝Ｒ_２＋Ｓｄ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（１−１８）
Ｓ_３＝Ｒ_３＋Ｓｄ・Ｒ_２／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝・・・（１−１９）

一般的には、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクを考えると、第ｉ層の隣接層を第ｊ層および第ｋ層としたとき、第ｉ層の見かけの反射率Ｓ_ｉは、
Ｓ_ｉ＝Ｒ_ｉ＋Ｓｄ・［Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝］・・・（１−２０）
（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）
（ｊ＝ｉ−１，ｋ＝ｉ＋１）
（但し、ｉ＝１のとき、Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＝０
ｉ＝Ｎのとき、Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝＝０）
と表される。

Ｎ層の場合では上記連立方程式（１−２０）における項の数をＮ^２から３Ｎ−２に減らすことができるので、３層の場合は顕著ではないが、４層やそれ以上の更に多層になった場合には、計算量を大幅に削減でき、簡単に各層の反射率Ｒ_ｉを求めることができる。

この場合も、先ほどの具体例と同様に、ＮＡ＝０．８５、屈折率ｎ＝１．６０、ｄ_１２＝２５μｍ、ｄ_２３＝１５μｍ、検出器のサイズを１２０μｍ×１２０μｍの正方形とし、検出系の倍率Ｍを２０倍と仮定する。このとき、規格化受光部サイズは３６μｍ^２となり、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎ＝０．５３１、θ＝３２．０９度、ｔａｎθ＝０．６２７となる。

よって、この場合の式（１−１７）〜（１−１９）の３つの方程式は、
Ｓ_１＝ Ｒ_１＋０．０１１６６・Ｒ_２
Ｓ_２＝０．０１１６６・Ｒ_１＋ Ｒ_２＋０．０３２３８・Ｒ_３
Ｓ_３＝０．０３２３８・Ｒ_２＋ Ｒ_３
・・・（１−２１）
となる。

これをＲ_ｉについて解くと、
Ｒ_１＝ １．０００１４・Ｓ_１−０．０１１６７・Ｓ_２−０．００３７８・Ｓ_３
Ｒ_２＝−０．０１１６７・Ｓ_１＋１．００１１８・Ｓ_２−０．０３２４２・Ｓ_３
Ｒ_３＝−０．００３７８・Ｓ_１−０．０３２４２・Ｓ_２＋１．００１０５・Ｓ_３
・・・（１−２２）
となる。

このように、（Ｓ２０３：各層の反射率を求めるステップ）は、図１７に示すように、光ディスクにおける各層の反射信号を測定光学系で測定するステップ（Ｓ２０３ａ）と、各層の反射率Ｒ_ｉについて連立方程式（当該連立方程式は（１−１４）または（１−２０）の何れであってもよい）を立てるステップ（Ｓ２０３ｄ）と、当該連立方程式を解いて各層の反射率Ｒ_ｉを求めるステップ（Ｓ２０３ｅ）として実現することができる。

（Ｓ２０４：基準光学系の変調度に換算するステップ）
このＳ２０４では、測定光学系で測定された見かけの変調度を、基準光学系の変調度に換算する。ここでは、３層の場合を例に挙げて、当該変調度の換算について説明する。前述の（２０１：各層の変調度を測定するステップ）にて、ある測定光学系で測定された第１層の見かけの変調度をｍｄ_１、第２層の見かけの変調度をｍｄ_２、第３層の見かけの変調度をｍｄ_３とする。図４に、測定光学系で測定された第１層の再生信号の例を示す。前述のように、測定光学系で測定された第ｉ層の見かけの変調度ｍｄ_ｉは、当該測定光学系での固有の他層迷光が含まれた測定値となっている。

中間層の屈折率をｎ、測定光学系の開口数をＮＡとする。更に測定光学系における検出系の規格化受光部サイズをＳｄとする。それぞれの他層迷光の自層光に対する比は、上に求めた迷光の面積比（式（１−６））とそれぞれの層の反射率比との積により求めることができる。したがって、第１層での、他層迷光量ＳＳ_１は自層からの光量による信号を１として、
ＳＳ_１＝Ｓｄ・［Ｒ_２／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_１・・・（１−２３）
と表される。第２層における他層迷光量ＳＳ_２、第３層における他層迷光量ＳＳ_３も同様に、
ＳＳ_２＝Ｓｄ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_２・・・（１−２４）
ＳＳ_３＝Ｓｄ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_２／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_３・・・（１−２５）
と表される。一般的には、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクを考えると、測定光学系における第ｉ層での他層迷光量ＳＳ_ｉは、
ＳＳ_ｉ＝Ｓｄ・［ΣＲ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_ｉ・・・（１−２６）
（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）
（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）
と表される。

また、基準光学系の変調度（他層迷光の影響を含む見かけの変調度）を考えた場合にも、やはり他層迷光を考慮する必要がある。そこで、基準光学系における受光部の面積をＳｎ_ｐｄとし、前記基準光学系における検出系の倍率をＭｎとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをＳｄｎ（Ｓｄｎ＝Ｓｎ_ｐｄ／Ｍｎ^２）とすると、基準光学系における第１層での他層迷光量ＳＳｎ_１は、自層からの信号を１として、
ＳＳｎ_１＝Ｓｄｎ・［Ｒ_２／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_１・・・（１−２７）
と表される。基準光学系における第２層での他層迷光量ＳＳｎ_２、基準光学系における第３層での他層迷光量ＳＳｎ_３も同様に、
ＳＳｎ_２＝Ｓｄｎ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_２・・・（１−２８）
ＳＳｎ_３＝Ｓｄｎ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_２／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_３・・・（１−２９）
と表される。

一般的には、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクを考えると、基準光学系における第ｉ層での他層迷光量ＳＳｎ_ｉは、
ＳＳｎ_ｉ＝Ｓｄｎ・［ΣＲ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_ｉ・・・（１−３０）
（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）
（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）
と表される。

図５に、このときの基準光学系として得られる第１層の再生信号の例を示す。これらの式を用いて測定光学系で測定された見かけの変調度ｍｄ_１〜ｍｄ_３を基準光学系での変調度ｍｎ_１〜ｍｎ_３に換算するためには、例えば測定光学系での第１層の変調度ｍｄ_１を図４のＩ_ｐｐ／Ｉ_ｔｏｐとし、基準光学系での第１層の変調度ｍｎ_１を図５のＩ_ｐｐ／Ｉ_ｔｏｐ’とすると、
ｍｎ_１＝Ｉ_ｐｐ／Ｉ_ｔｏｐ’＝Ｉ_ｐｐ／Ｉ_ｔｏｐ・Ｉ_ｔｏｐ／Ｉ_ｔｏｐ’＝ｍｄ_１・Ｉ_ｔｏｐ／Ｉ_ｔｏｐ’・・・（１−３１）
となる。Ｉ_ｔｏｐは式（１−２３）のＳＳ_１を使って、
Ｉ_ｔｏｐ∝１＋ＳＳ_１・・・（１−３２）
と表され、Ｉ_ｔｏｐ’は式１−２７のＳＳｎ_１を使って、
Ｉ_ｔｏｐ’∝１＋ＳＳｎ_１・・・（１−３３）
と表されることから、式（１−３１）は、
ｍｎ_１＝ｍｄ_１・（１＋ＳＳ_１）／（１＋ＳＳｎ_１）・・・（１−３４）
と変形できる。同様に、基準光学系での第２層の変調度ｍｎ_２および第３層の変調度ｍｎ_３についても、
ｍｎ_２＝ｍｄ_２・（１＋ＳＳ_２）／（１＋ＳＳｎ_２）・・・（１−３５）
ｍｎ_３＝ｍｄ_３・（１＋ＳＳ_３）／（１＋ＳＳｎ_３）・・・（１−３６）
となる。

一般的には、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクを考えると、基準光学系における第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の変調度ｍｎ_ｉは、
ｍｎ_ｉ＝ｍｄ_ｉ・（１＋ＳＳ_ｉ）／（１＋ＳＳｎ_ｉ）・・・（１−３７）
と表される。

以上のように、（Ｓ２０４：基準光学系の変調度に換算するステップ）は、図１３〜図１６に示すように、測定光学系における第ｉ層での他層迷光量ＳＳ_ｉを式（１−２６）にて計算すると共に、基準光学系における第ｉ層での他層迷光量ＳＳｎ_ｉを式（１−３０）にて計算するステップ（Ｓ２０４ａ）と、基準光学系の変調度を式（１−３７）にて変換するステップ（Ｓ２０４ｂ）として実現することができる。

更に、Ｓ２０４を実現する別の方法として、測定光学系における第ｉ層での他層迷光量ＳＳ_ｉおよび基準光学系における第ｉ層での他層迷光量ＳＳｎ_ｉについて、隣接層のみを考慮した近似式を立てても良い。

すなわち、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクを考えると、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）としたとき、測定光学系における第ｉ層での他層迷光量ＳＳ_ｉは、
ＳＳ_ｉ＝Ｓｄ・［Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_ｉ・・・（１−２６−２）
（但し、ｉ＝１のとき、Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＝０
ｉ＝Ｎのとき、Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝＝０）
と表すことができる。また、基準光学系における第ｉ層での他層迷光量ＳＳｎ_ｉは、
ＳＳｎ_ｉ＝Ｓｄｎ・［Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_ｉ・・・（１−３０−２）
（但し、ｉ＝１のとき、Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＝０
ｉ＝Ｎのとき、Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝＝０）
と表すことができる。

そして、上記の式（１−２６−２）および式（１−３０−２）を用いてＳＳ_ｉおよびＳＳｎ_ｉを計算し、基準光学系の変調度を式（１−３７）にて変換することができる。この場合には、計算量を大幅に削減でき、簡単に基準光学系の変調度を求めることができる。

このように、（Ｓ２０４：基準光学系の変調度に換算するステップ）は、図１７に示すように、測定光学系における迷光量ＳＳ_ｉおよび基準光学系における迷光量ＳＳｎ_ｉを計算する（用いる計算式は（１−２６）、（１−３０）または（１−２６−２）、（１−３０−２）の何れであってもよい）ステップ（Ｓ２０４ｃ）と、基準光学系の変調度を式（１−３７）にて変換するステップ（Ｓ２０４ｂ）として実現することができる。

なお、変調度の換算に各層の反射率（Ｒ_１〜Ｒ_３等）を使用しているが、迷光を含む測定値Ｓ_１〜Ｓ_３を使用して近似することもできる。これは、変調度の換算には各層の反射率の比のみがあらわれるため、迷光の影響は限定的であるからである。この場合、隣接層との層間厚の狭い層の反射率を大きめに見積もることになる。

以上が、本発明の実施の形態１である、測定光学系にて測定した各層の変調度を、基準光学系での各層の変調度に換算する方法である。

このように、異なった如何なる測定光学系で変調度を測定した場合でも、本実施の形態で述べたような方法により、基準光学系で変調度を測定したときと同じ統一的な変調度を得ることができる。これにより各光ディスク（光情報媒体）の特性を決まった光学系で測定したのと同じ結果が得られるので、光ディスクの特性値の測定装置間ばらつきを減らすことができ、光ディスクドライブ間の互換性が向上する。

（実施の形態２）
本発明の実施の形態２として、測定光学系にて測定した多層ディスクの層間の反射率差を、基準光学系での反射率差に換算する方法を図７に示す。ここで、反射率差は再生信号の最大レベルＩ_ｔｏｐの層間の違いから計算され、第１層の再生信号の最大レベルをＩ_ｔｏｐ１、第２層の再生信号の最大レベルをＩ_ｔｏｐ２として、
α＝（Ｉ_ｔｏｐ１−Ｉ_ｔｏｐ２）／（Ｉ_ｔｏｐ１＋Ｉ_ｔｏｐ２）・・・（２−１）
で求めることができる。しかしながら、実施の形態１と同様に、Ｉ_ｔｏｐには他層からの迷光の成分が含まれるため、測定する光学系が異なると、αの値も異なる。このため、測定光学系の値を基準光学系の値に換算する必要がある。反射率差の換算はＳ３０１、Ｓ２０２、Ｓ２０３、Ｓ３０２の４つのステップからなる。以下、各ステップについて説明する。

（Ｓ３０１：各層の再生信号と入射光量の比を測定するステップ）
このＳ３０１では、光ディスクの各層の再生信号と入射光量との比を測定する。ここでは、実施の形態１と同様に、３層ディスクの例で説明する。測定光学系において、第ｉ層を再生した際に測定できる信号光量と入射光量との比である見かけの反射率をＳ_ｉとすると、実施の形態１と同様の考え方で、
Ｓ_１＝Ｒ_１＋Ｓｄ・［Ｒ_２／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−２）
Ｓ_２＝Ｒ_２＋Ｓｄ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−３）
Ｓ_３＝Ｒ_３＋Ｓｄ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_２／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−４）
となる。各層の信号光量と入射光量の比Ｓ_１からＳ_３は、測定光学系にて測定することができる。

（Ｓ２０２：各層間の厚さを求めるステップ）
実施の形態１と同様に、光ディスクの各層間の厚さは実際に測定しても良い（図１８のＳ２０２ａ）。また、層間厚さの値として設計値（光ディスク作製時のねらい値）、量産時のばらつきの平均値（光情報媒体を複数作成した場合の平均値）を用いても良い。また層間厚さの値として、規格等で規定された標準値を用いても良い。

（Ｓ２０３：各層の反射率を求めるステップ）
前述の３つの方程式（式（２−２）から（２−４））を、Ｒ_１〜Ｒ_３について解くことで各層の反射率Ｒ_１〜Ｒ_３を求めることができる。

なお、Ｓ_１〜Ｓ_３は前述の（Ｓ３０１：各層の再生信号と入射光量の比を測定するステップ）にて求めた値を用いる。ＮＡ、Ｓｄは測定光学系で決まる既知の量である。ｎは光ディスクのパラメータとして、別に求めることができる。θはｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎを満たす。ディスクの各層間ｄ_１２等は、前述の（Ｓ２０２：各層間の厚さを求めるステップ）にて求めた値を用いる。

また、Ｓ２０３は、図１８に示すように、各層の反射率Ｒ_ｉについて連立方程式（１−２０）を立てるステップ（Ｓ２０３ｆ）と、当該連立方程式を解いて各層の反射率Ｒ_ｉを求めるステップ（Ｓ２０３ｇ）として実現することができる。さらに、Ｓ２０３は、図１９に示すように、前述のＳ２０３ｄおよびＳ２０３ｅとしてもよい。

（Ｓ３０２：基準光学系の反射率差を計算するステップ）
前述の（２０３：各層の反射率を求めるステップ）にて求めた反射率Ｒ_１〜Ｒ_３を用いて、基準光学系で第ｉ層を再生した際に測定できる信号光量と入射光量との比である見かけの反射率Ｓｎ_ｉを、下式（２−５）〜（２−７）にて計算する。

Ｓｎ_１＝Ｒ_１＋Ｓｄｎ・［Ｒ_２／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−５）
Ｓｎ_２＝Ｒ_２＋Ｓｄｎ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_３／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−６）
Ｓｎ_３＝Ｒ_３＋Ｓｄｎ・［Ｒ_１／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_２／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−７）
より、一般的には、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクを考えると、
Ｓｎ_ｉ＝Ｒ_ｉ＋Ｓｄｎ・［ΣＲ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−８）
（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）
（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）
と表される。

この基準光学系における見かけの反射率Ｓｎ_ｉを使い、例えば第１層と第２層の反射率差は、式（２−１）と同様に、
αｎ_１２＝（Ｓｎ_１−Ｓｎ_２）／（Ｓｎ_１＋Ｓｎ_２）・・・（２−９）
と与えられる。

より一般的には、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクについて、第ｉ層と第ｊ層の反射率差αｎ_ｉｊは、
αｎ_ｉｊ＝（Ｓｎ_ｉ−Ｓｎ_ｊ）／（Ｓｎ_ｉ＋Ｓｎ_ｊ）・・・（２−１０）
（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）
（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）
として、基準光学系での任意の層間の反射率差を得ることができる。

以上のように、（Ｓ３０２：基準光学系の反射率差を計算するステップ）は、図１８に示すように、基準光学系の見かけの反射率Ｓｎ_ｉを式（２−８）にて計算するステップ（Ｓ３０２ａ）と、基準光学系の反射率差αｎ_ｉｊを式（２−１０）にて計算するステップ（Ｓ３０２ｂ）として実現することができる。

ここでは、各層の反射率Ｒ_ｉを求めるのにすべての層からの迷光を考慮したが、実施の形態１と同様に、隣接層のみを考慮しても良い。その場合、誤差は増えるが、演算すべき項の数が減り、より簡単に値を求めることができる。

また、基準光学系で第ｉ層を再生した際に測定できる信号光量と入射光量との比Ｓｎ_ｉを求めるのにすべての層からの迷光を考慮したが、この際にも隣接層のみを考慮しても良い。

即ち、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクの一般式は、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）としたとき、
Ｓｎ_ｉ＝Ｒ_ｉ＋Ｓｄｎ・［Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−１１）
（但し、ｉ＝１のとき、Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＝０
ｉ＝Ｎのとき、Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝＝０）
と表される。この場合も誤差は増えるが、演算すべき項の数を減らすことができ、より簡単に値を求めることができる。

また、更に別の近似として、測定光学系により光ディスクの第ｉ層を再生した際に測定できる再生信号（迷光を含む）の光量を入射光量で規格化した量である見かけの反射率Ｓ_ｉを、反射率Ｒ_ｉの代わりに用いる例を示す。

この場合、基準光学系でのＳｎ_ｉは、一般式で、
Ｓｎ_ｉ＝Ｓ_ｉ＋Ｓｄｎ・［ΣＳ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−１２）
（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
と表される。

この場合、測定値である反射率Ｓ_ｉを各層の反射率としてセットするため（図２０のＳ２０３ｈ）、反射率Ｒ_ｉについて方程式を解く必要が無くなり、計算は非常に簡単に行うことができる。

また、反射率Ｒ_ｉの代わりに上記Ｓ_ｉを用いる場合に、隣接層のみを考慮してＳｎ_ｉを計算しても良い。

この場合、Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクの一般式は、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）としたとき、
Ｓｎ_ｉ＝Ｓ_ｉ＋Ｓｄｎ・［Ｓ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＋Ｓ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝］・・・（２−１３）
（但し、ｉ＝１のとき、Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＝０
ｉ＝Ｎのとき、Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝＝０）
と表せる。この場合、更に演算すべき項の数を減らすことができる。

以上のように、（Ｓ３０２：基準光学系の反射率差を計算するステップ）は、図１９〜図２１に示すように、基準光学系の見かけの反射率Ｓｎ_ｉを上記のような何れかの計算式にて計算するステップ（Ｓ３０２ｃ）と、当該Ｓｎ_ｉを用いて基準光学系の反射率差αｎ_ｉｊを計算するステップ（Ｓ３０２ｄ）として実現することができる。

以上が、本発明の実施の形態２である、測定光学系にて測定した各層間の反射率差を、基準光学系での各層間の反射率差に換算する方法である。

このように、異なる光学系で反射率差を測定した場合でも、本実施の形態で述べたような方法により、基準光学系で反射率差を測定したときと同じ値を得ることができる。これにより各光ディスク（光情報媒体）の特性を決まった光学系で測定したのと同じ結果が得られるので、光ディスクの特性値の測定装置間ばらつきを減らすことができ、光ディスクドライブ間の互換性が向上する。

（実施の形態３）
本発明の実施の形態３として、前述の実施の形態１、実施の形態２における（Ｓ２０３：各層の反射率を求めるステップ）の別の方法を示す。

迷光を含む各層の反射率の測定値をＳ_１〜Ｓ_３とする。本実施の形態では、各層の反射率比が１のときに各層の測定値に含まれる迷光含有量を計算して換算係数を求め、実際に測定した反射率を、この換算係数で除した値を各層の反射率として近似する。この場合、実際の迷光含有量は反射率比により影響を受ける点を無視しているが、標準的な迷光量を近似してその影響を除くことができる。

ここでは、３層ディスクを例として説明する。第１層の反射率をＲ_１、第２層の反射率をＲ_２、第３層の反射率をＲ_３とする。第１層と第２層の層間をｄ_１２、第１層と第３層の層間をｄ_１３、第２層と第３層の層間をｄ_２３とし、中間層の屈折率をｎ、光学系の開口数をＮＡとし、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎとする。更に測定光学系における検出系の規格化受光部サイズをＳｄとする。

第ｉ層を再生した際に測定できる信号を入射光量で規格化した量をＳ_ｉとし、各層の反射率が同じ、すなわち、
Ｒ_１＝Ｒ_２＝Ｒ_３＝Ｒ・・・（３−１）
とすると、各層の換算係数ａ_ｉは、下式（３−２）〜（３−４）で表される。

ａ_１＝Ｓ_１／Ｒ＝１＋Ｓｄ・［１／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋１／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（３−２）
ａ_２＝Ｓ_２／Ｒ＝１＋Ｓｄ・［１／｛π（２・ｄ_１２・ｔａｎθ）^２｝＋１／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（３−３）
ａ_３＝Ｓ_３／Ｒ＝１＋Ｓｄ・［１／｛π（２・ｄ_１３・ｔａｎθ）^２｝＋１／｛π（２・ｄ_２３・ｔａｎθ）^２｝］・・・（３−４）

一般的にはＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクを考えると、第ｉ層の換算係数ａ_ｉは、
ａ_ｉ＝Ｓ_ｉ／Ｒ＝１＋Ｓｄ・［Σ１／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］・・・（３−５）
（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）
（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）
と表される。この換算係数ａ_ｉを用いて、各層の反射率Ｒ_ｉを、
Ｒ_ｉ＝Ｓ_ｉ／ａ_ｉ・・・（３−６）
として求める。

以上のように、（Ｓ２０３：各層の反射率を求めるステップ）は、図２１に示すように、光ディスクの各層の換算係数ａ_ｉを式（３−５）により求めるステップ（Ｓ２０３ｉ）と、各層の反射率Ｒ_ｉを式（３−６）により求めるステップ（Ｓ２０３ｊ）として実現することができる。

具体例として、ＮＡ＝０．８５、屈折率ｎ＝１．６０、３層ディスクを想定し、その第１層と第２層の間隔ｄ_１２＝２５μｍ、第２層と第３層の間隔ｄ_２３＝１５μｍとする。検出器の受光部のサイズを１２０μｍ×１２０μｍの正方形とし、検出系の倍率Ｍを２０倍と仮定する。この場合、測定光学系の規格化受光部サイズＳｄは３６μｍ^２となり、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎ＝０．５３１、θ＝３２．０９度、ｔａｎθ＝０．６２７となる。よって、各層の換算係数αｉは、
ａ_１＝Ｓ_１／Ｒ＝１．０１６２
ａ_２＝Ｓ_２／Ｒ＝１．０４４０
ａ_３＝Ｓ_３／Ｒ＝１．０３６９
・・・（３−７）
となる。この数値を使い、
Ｒ_１＝Ｓ_１／１．０１６２
Ｒ_２＝Ｓ_２／１．０４４
Ｒ_３＝Ｓ_３／１．０３６９
・・・（３−８）
としてＲ_ｉを求めることができる。

この後、変調度を求める方法や、反射率差を求める方法は、実施の形態１、２で示した方法と共通である。

本実施の形態の方法によれば、迷光の影響を受けない反射率をより簡単に計算することができる。

このように、異なる光学系で反射率を測定した場合でも、本実施の形態で述べたような方法により、迷光の影響を受けない媒体の反射率を計算することができる。これにより各光ディスク（光情報媒体）の特性を決まった光学系で測定したのと同じ結果が得られるので、光ディスクの特性値の測定装置間ばらつきを減らすことができ、光ディスクドライブ間の互換性が向上する。

ここで、上記実施の形態１ないし３に記載の光情報媒体測定方法により測定される光情報媒体について、以下に説明する。図１０は、情報層を４層備えた多層ディスク１００１（光情報媒体）の概略構成図である。この多層ディスク１００１は、ディスク基板１００２と、当該ディスク基板１００２上に形成された情報層１００３とを備える。情報層１００３は、再生用または記録用の光ビームが照射される側から遠い順に（つまり基板１００２側から順に）形成された、記録層Ｌ０、記録層Ｌ１、記録層Ｌ２および記録層Ｌ３を含む。

次に、多層ディスク１００１の製造方法について、以下に簡単に説明する。まず、表面にアドレス信号やコントロールデータに応じた、情報信号を記録するためのトラックが設けられたディスク基板１００２を形成する。次に、ディスク基板１００２上に情報層１００３を形成する。すなわち、ディスク基板１００２上に、記録層Ｌ０、記録層Ｌ１、記録層Ｌ２および記録層Ｌ３をこの順に形成する。なお、記録層同士の間には、中間層などを含んでも良い。また、情報層１００３を形成した後、その上にカバー層を形成してもよい。

なお、上記では４層構造の情報層を備えた多層ディスク１００１について説明したが、これに限定されるものではなく、複数の情報層を有する光情報媒体であればよい。

次に、図１１に、上記の光情報媒体に情報を記録する情報記録装置１１０１（記録装置）の概略構成を示す。情報記録装置１１０１は、記録信号処理回路１１０２、光ヘッド１１０３および対物レンズ１１０４などを備える。記録信号処理回路１１０２は、記録データに応じた記録信号を生成する。光ヘッド１１０３は、記録信号に応じて、多層ディスク１００１の記録面に光ビームを照射して情報を書き込む。光ビームは、対物レンズ１１０４により、多層ディスク１００１における情報層１００３の特定の記録層に集光される。

次に、図１２に、上記の光情報媒体から情報を再生する情報再生装置１２０１（再生装置）の概略構成を示す。情報再生装置１２０１は、再生信号処理回路１２０２、光ヘッド１１０３、対物レンズ１１０４を備える。光ヘッド１１０３は、多層ディスク１００１の記録面に光ビームを照射して、ディスク１００１の記録面からの反射光を検出して情報を読み込む。光ビームは、対物レンズ１１０４により、多層ディスク１００１における情報層１００３の特定の記録層に集光される。再生信号処理回路１２０２は、多層ディスク１００１の記録面からの反射光を電気的に検出した再生信号を受け取り、多層ディスク１００１に記録された信号成分を分離して復調し、必要な情報を再生する。

本発明の一局面に係る光情報媒体測定方法は、複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の変調度を測定する光情報媒体測定方法であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定する第１のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第２のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第３のステップと、前記第１のステップで測定した各層の変調度を、前記第２のステップで求めた各層間の厚さと、前記第３のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算する第４のステップと、を含んでいる。

これにより、基準光学系とは異なる如何なる測定光学系を用いて光情報媒体の変調度を測定しても、統一的な基準光学系での変調度に変換できる。このため、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に変調度の比較ができる。そして、基準光学系での変調度に変換された測定値で光情報媒体を評価することにより、光情報媒体の装置間の互換性を確保することができるという効果を奏する。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、前記第１のステップで測定された第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の変調度をｍｄ_ｉとし、前記測定光学系での第ｉ層の他層迷光量をＳＳ_ｉとし、前記基準光学系での第ｉ層の他層迷光量をＳＳｎ_ｉとしたとき、前記第４のステップは、前記基準光学系での第ｉ層の変調度ｍｎ_ｉを、ｍｎ_ｉ＝ｍｄ_ｉ・（１＋ＳＳ_ｉ）／（１＋ＳＳｎ_ｉ）として換算することが好ましい。

これにより、測定光学系における他層迷光量ＳＳ_ｉと基準光学系における他層迷光量ＳＳｎ_ｉとに基づいて、容易かつ正確に基準光学系における変調度ｍｎ_ｉに換算することができる。

前記測定光学系における受光部の面積をＳ_ｐｄとし、前記測定光学系における検出系の倍率をＭとし、前記測定光学系における規格化受光部サイズをＳｄ（Ｓｄ＝Ｓ_ｐｄ／Ｍ^２）とし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ_ｉｊとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記第３のステップで得られる第ｉ層の反射率をＲ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記測定光学系での第ｉ層の他層迷光量ＳＳ_ｉは、ＳＳ_ｉ＝Ｓｄ・［ΣＲ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_ｉ（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）であることが好ましい。

このように上記の計算式を適用することにより、測定光学系における他層迷光量ＳＳ_ｉを、容易かつ正確に求めることができる。

前記基準光学系における受光部の面積をＳｎ_ｐｄとし、前記基準光学系における検出系の倍率をＭｎとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをＳｄｎ（Ｓｄｎ＝Ｓｎ_ｐｄ／Ｍｎ^２）とし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ_ｉｊとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記第３のステップで得られる第ｉ層の反射率をＲ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記基準光学系での第ｉ層の他層迷光量ＳＳｎ_ｉは、ＳＳｎ_ｉ＝Ｓｄｎ・［ΣＲ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_ｉ（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）であることが好ましい。

このように上記の計算式を適用することにより、基準光学系における他層迷光量ＳＳｎ_ｉを、容易かつ正確に求めることができる。

前記測定光学系における受光部の面積をＳ_ｐｄとし、前記測定光学系における検出系の倍率をＭとし、前記測定光学系における規格化受光部サイズをＳｄ（Ｓｄ＝Ｓ_ｐｄ／Ｍ^２）とし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）とし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層との層間の厚さをｄ_ｉｊとし、第ｉ層と第ｋ層との層間の厚さをｄ_ｉｋとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記第３のステップで得られる第ｉ層の反射率をＲ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記測定光学系での第ｉ層の他層迷光量ＳＳ_ｉは、ＳＳ_ｉ＝Ｓｄ・［Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_ｉ（但し、ｉ＝１のとき、Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＝０、ｉ＝Ｎのとき、Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝＝０）であることが好ましい。

このように、他層迷光の影響を隣接層のみに限定した上記の計算式を適用することにより、計算量を大幅に削減でき、測定光学系における他層迷光量ＳＳ_ｉを、より簡単に求めることができる。

前記基準光学系における受光部の面積をＳｎ_ｐｄとし、前記基準光学系における検出系の倍率をＭｎとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをＳｄｎ（Ｓｄｎ＝Ｓｎ_ｐｄ／Ｍｎ^２）とし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）とし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層との層間の厚さをｄ_ｉｊとし、第ｉ層と第ｋ層との層間の厚さをｄ_ｉｋとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記第３のステップで得られる第ｉ層の反射率をＲ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記基準光学系での第ｉ層の他層迷光量ＳＳｎ_ｉは、ＳＳｎ_ｉ＝Ｓｄｎ・［Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝］／Ｒ_ｉ（但し、ｉ＝１のとき、Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＝０、ｉ＝Ｎのとき、Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝＝０）であることが好ましい。

このように、他層迷光の影響を隣接層のみに限定した上記の計算式を適用することにより、計算量を大幅に削減でき、基準光学系における他層迷光量ＳＳｎ_ｉを、より簡単に求めることができる。

前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、測定機で測定してもよい。

このように、第２のステップで、実際に測定した層間の厚さを用いれば、第３のステップで各層の反射率について厳密な値を求めることができる。よって、より正確に基準光学系の変調度ｍｎ_ｉへ換算することができる。

前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を作製する際の設計値とすることが好ましい。

これにより、光情報媒体の層間を測定する手間が省け、層間の厚さの値を簡単に得ることができる。

前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を複数作製した際の平均値とすることが好ましい。

これにより、層間の厚さの値を簡単に得ることができる。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ_ｉとし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ_ｉｊとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記第３のステップでは、Ｓ_ｉ＝Ｒ_ｉ＋Ｓｄ・［ΣＲ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）となるＮ個の方程式を立て、前記Ｓ_ｉについてのＮ個の方程式をＲ_ｉについて解くことにより、反射率Ｒ_ｉを求めることが好ましい。

このように上記Ｎ個の連立方程式を適用することにより、反射率Ｒ_ｉを、容易かつ正確に求めることができる。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ_ｉとし、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）とし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層との層間の厚さをｄ_ｉｊとし、第ｉ層と第ｋ層との層間の厚さをｄ_ｉｋとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記第３のステップでは、Ｓ_ｉ＝Ｒ_ｉ＋Ｓｄ・［Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝］（但し、ｉ＝１のとき、Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＝０、ｉ＝Ｎのとき、Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝＝０）となるＮ個の式を立て、前記Ｓ_ｉについてのＮ個の方程式をＲ_ｉについて解くことにより反射率Ｒ_ｉを求めることが好ましい。

このように、他層迷光の影響を隣接層のみに限定した上記Ｎ個の連立方程式を適用することにより、計算量を大幅に削減でき、反射率Ｒ_ｉを、より簡単に求めることができる。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ_ｉとし、前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ_ｉとしたとき、前記第３のステップでは、Ｒ_ｉ＝Ｓ_ｉと近似することが好ましい。

このように、測定光学系にて測定して得られるＳ_ｉをＲ_ｉとして近似することにより、計算量を大幅に削減でき、反射率Ｒ_ｉを、より簡単に求めることができる。

本発明の他の局面に係る光情報媒体測定方法は、複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の反射率差を測定する光情報媒体測定方法であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層を再生した際に得られる信号光量と入射光量の比である見かけの反射率を求める第５のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第２のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第３のステップと、前記第５のステップで測定した見かけの反射率と、前記第２のステップで求めた各層間の厚さと、前記第３のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における反射率差を換算する第６のステップと、を含んでいる。

これにより、基準光学系とは異なる如何なる測定光学系を用いて光情報媒体の反射率差を測定しても、統一的な基準光学系での反射率差に変換できる。このため、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に反射率差の比較ができる。そして、基準光学系での反射率差に変換された測定値で光情報媒体を評価することにより、光情報媒体の装置間の互換性を確保することができるという効果を奏する。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、前記基準光学系での第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳｎ_ｉとし、前記第６のステップでは、第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）との反射率差αｎ_ｉｊを、αｎ_ｉｊ＝（Ｓｎ_ｉ−Ｓｎ_ｊ）／（Ｓｎ_ｉ＋Ｓｎ_ｊ）として換算することが好ましい。

これにより、Ｓｎ_ｉに基づいて、容易かつ正確に基準光学系における反射率差αｎ_ｉｊに換算することができる。

前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、測定機で測定してもよい。

このように、第２のステップで、実際に測定した層間の厚さを用いれば、第３のステップで各層の反射率について厳密な値を求めることができる。よって、より正確に基準光学系の変調度ｍｎ_ｉへ換算することができる。

前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を作製する際の設計値とすることが好ましい。

これにより、光情報媒体の層間を測定する手間が省け、層間の厚さの値を簡単に得ることができる。

前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を複数作製した際の平均値とすることが好ましい。

これにより、層間の厚さの値を簡単に得ることができる。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ_ｉとし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ_ｉｊとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記第３のステップでは、Ｓ_ｉ＝Ｒ_ｉ＋Ｓｄ・［ΣＲ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）となるＮ個の方程式を立て、前記Ｓ_ｉについてのＮ個の方程式をＲ_ｉについて解くことにより、反射率Ｒ_ｉを求めることが好ましい。

このように上記Ｎ個の連立方程式を適用することにより、反射率Ｒ_ｉを、容易かつ正確に求めることができる。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ_ｉとし、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）とし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層との層間の厚さをｄ_ｉｊとし、第ｉ層と第ｋ層との層間の厚さをｄ_ｉｋとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記第３のステップでは、Ｓ_ｉ＝Ｒ_ｉ＋Ｓｄ・［Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＋Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝］（但し、ｉ＝１のとき、Ｒ_ｊ／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝＝０、ｉ＝Ｎのとき、Ｒ_ｋ／｛π（２・ｄ_ｉｋ・ｔａｎθ）^２｝＝０）となるＮ個の式を立て、前記Ｓ_ｉについてのＮ個の方程式をＲ_ｉについて解くことにより反射率Ｒ_ｉを求めることが好ましい。

このように、他層迷光の影響を隣接層のみに限定した上記Ｎ個の連立方程式を適用することにより、計算量を大幅に削減でき、反射率Ｒ_ｉを、より簡単に求めることができる。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ_ｉとし、前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ_ｉとしたとき、前記第３のステップでは、Ｒ_ｉ＝Ｓ_ｉと近似することが好ましい。

このように、測定光学系にて測定して得られるＳ_ｉをＲ_ｉとして近似することにより、計算量を大幅に削減でき、反射率Ｒ_ｉを、より簡単に求めることができる。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ_ｉとし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ_ｉｊとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記第３のステップでは、換算係数ａ_ｉを、ａ_ｉ＝１＋Ｓｄ・［Σ１／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）として、Ｒ_ｉ＝Ｓ_ｉ／ａ_ｉと近似することが好ましい。

これにより、迷光の影響を受けない反射率Ｒ_ｉをより簡単に計算することができる。

前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ_ｉとし、前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ_ｉｊとし、当該層間の屈折率をｎとし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ_ｉとし、θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、前記第３のステップでは、換算係数ａ_ｉを、ａ_ｉ＝１＋Ｓｄ・［Σ１／｛π（２・ｄ_ｉｊ・ｔａｎθ）^２｝］（Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）として、Ｒ_ｉ＝Ｓ_ｉ／ａ_ｉと近似することが好ましい。

これにより、迷光の影響を受けない反射率Ｒ_ｉをより簡単に計算することができる。

本発明の一局面に係る光情報媒体は、複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定する第１のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第２のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第３のステップと、前記第１のステップで測定した各層の変調度を、前記第２のステップで求めた各層間の厚さと、前記第３のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算する第４のステップとを含む光情報媒体測定方法により測定されることを特徴とする。

本発明の他の局面に係る記録装置は、上記光情報媒体に情報を記録する記録装置であって、前記光情報媒体に光ビームを照射することにより情報を記録することを特徴としている。

本発明の他の局面に係る再生装置は、上記光情報媒体から情報を再生する再生装置であって、前記光情報媒体に光ビームを照射することにより情報を再生することを特徴としている。

本発明は、基準光学系とは異なる測定光学系で変調度を測定しても、基準光学系での変調度に変換できるという特有の効果を有する光情報媒体測定方法であって、多層ディスクの測定方法として有効である。

Claims (34)

1. 複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の変調度を測定する光情報媒体測定方法であって、
   測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定する第１のステップと、
   前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第２のステップと、
   前記光情報媒体の各層の反射率を求める第３のステップと、
   前記第１のステップで測定した各層の変調度を、前記第２のステップで求めた各層間の厚さと、前記第３のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算する第４のステップと、
   を含むことを特徴とする光情報媒体測定方法。
2. 前記第３のステップにおいて、
   測定対象とは異なる他の層で反射した迷光の影響を含む測定される反射率である見かけの反射率を用いて、前記各層の反射率を求めることを特徴とする請求項１に記載の光情報媒体測定方法。
3. 前記第４のステップにおいて、
   さらに、測定対象とは異なる他の層で反射した迷光の影響を含む測定される反射率である見かけの反射率を用いて、前記第１のステップで測定した各層の変調度を、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算することを特徴とする請求項１に記載の光情報媒体測定方法。
4. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
   前記第１のステップで測定された第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の変調度をｍｄ _ｉ とし、
   前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
   前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
   前記第３のステップで求められた第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
   θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値とし、
   前記基準光学系における受光部の面積をＳｎ _ｐｄ とし、前記基準光学系における検出系の倍率をＭｎとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをＳｄｎ（Ｓｄｎ＝Ｓｎ _ｐｄ ／Ｍｎ ^２ ）とし、
   前記第４のステップは、前記基準光学系での第ｉ層の変調度ｍｎ _ｉ
   を、
   ｍｎ _ｉ ＝ｍｄ _ｉ ・Ｓ _ｉ ／（Ｒ _ｉ ＋Ｓｄｎ・［ΣＲ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］）
   （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
   として換算することを特徴とする請求項１に記載の光情報媒体測定方法。
5. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
   前記第１のステップで測定された第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の変調度をｍｄ _ｉ とし、前記測定光学系での第ｉ層の他層迷光量をＳＳ _ｉ とし、
   前記基準光学系での第ｉ層の他層迷光量をＳＳｎ _ｉ としたとき、
   前記第４のステップは、前記基準光学系での第ｉ層の変調度ｍｎ _ｉ
   を、
   ｍｎ _ｉ ＝ｍｄ _ｉ ・（１＋ＳＳ _ｉ ）／（１＋ＳＳｎ _ｉ ）
   として換算することを特徴とする請求項１記載の光情報媒体測定方法。
6. 前記測定光学系における受光部の面積をＳ _ｐｄ とし、前記測定光学系における検出系の倍率をＭとし、前記測定光学系における規格化受光部サイズをＳｄ（Ｓｄ＝Ｓ _ｐｄ ／Ｍ ^２ ）とし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
   前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
   前記第３のステップで得られる第ｉ層の反射率をＲ _ｉ とし、
   θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
   前記測定光学系での第ｉ層の他層迷光量ＳＳ _ｉ は、
   ＳＳ _ｉ ＝Ｓｄ・［ΣＲ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］／Ｒ _ｉ
   （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
   であることを特徴とする請求項５記載の光情報媒体測定方法。
7. 前記基準光学系における受光部の面積をＳｎ _ｐｄ とし、前記基準光学系における検出系の倍率をＭｎとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをＳｄｎ（Ｓｄｎ＝Ｓｎ _ｐｄ ／Ｍｎ ^２ ）とし、
   前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
   前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
   前記第３のステップで得られる第ｉ層の反射率をＲ _ｉ とし、
   θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
   前記基準光学系での第ｉ層の他層迷光量ＳＳｎ _ｉ は、
   ＳＳｎ _ｉ ＝Ｓｄｎ・［ΣＲ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］／Ｒ _ｉ
   （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
   であることを特徴とする請求項５または６記載の光情報媒体測定方法。
8. 前記測定光学系における受光部の面積をＳ _ｐｄ とし、前記測定光学系における検出系の倍率をＭとし、前記測定光学系における規格化受光部サイズをＳｄ（Ｓｄ＝Ｓ _ｐｄ ／Ｍ ^２ ）とし、前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
   第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）とし、
   前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層との層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、第ｉ層と第ｋ層との層間の厚さをｄ _ｉｋ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
   前記第３のステップで得られる第ｉ層の反射率をＲ _ｉ とし、
   θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
   前記測定光学系での第ｉ層の他層迷光量ＳＳ _ｉ は、
   ＳＳ _ｉ ＝Ｓｄ・［Ｒ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＋Ｒ _ｋ ／｛π（２・ｄ _ｉｋ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］／Ｒ _ｉ
   （但し、ｉ＝１のとき、Ｒ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＝０
   ｉ＝Ｎのとき、Ｒ _ｋ ／｛π（２・ｄ _ｉｋ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＝０）
   であることを特徴とする請求項５記載の光情報媒体測定方法。
9. 前記基準光学系における受光部の面積をＳｎ _ｐｄ とし、前記基準光学系における検出系の倍率をＭｎとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをＳｄｎ（Ｓｄｎ＝Ｓｎ _ｐｄ ／Ｍｎ ^２ ）とし、
   前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
   第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）とし、
   前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層との層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、第ｉ層と第ｋ層との層間の厚さをｄ _ｉｋ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
   前記第３のステップで得られる第ｉ層の反射率をＲ _ｉ とし、
   θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
   前記基準光学系での第ｉ層の他層迷光量ＳＳｎ _ｉ は、
   ＳＳｎ _ｉ ＝Ｓｄｎ・［Ｒ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＋Ｒ _ｋ ／｛π（２・ｄ _ｉｋ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］／Ｒ _ｉ
   （但し、ｉ＝１のとき、Ｒ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＝０
   ｉ＝Ｎのとき、Ｒ _ｋ ／｛π（２・ｄ _ｉｋ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＝０）
   であることを特徴とする請求項５または８記載の光情報媒体測定方法。
10. 前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、測定機で測定することを特徴とする請求項１ないし９の何れか１項に記載の光情報媒体測定方法。
11. 前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を作製する際の設計値とすることを特徴とする請求項１ないし９の何れか１項に記載の光情報媒体測定方法。
12. 前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を複数作製した際の平均値とすることを特徴とする請求項１ないし９の何れか１項に記載の光情報媒体測定方法。
13. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
    前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
    θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
    前記第３のステップでは、
    Ｓ _ｉ ＝Ｒ _ｉ ＋Ｓｄ・［ΣＲ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］
    （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
    となるＮ個の方程式を立て、
    前記Ｓ _ｉ についてのＮ個の方程式をＲ _ｉ について解くことにより、反射率Ｒ _ｉ を求めることを特徴とする請求項１ないし１２の何れか１項に記載の光情報媒体測定方法。
14. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）とし、
    前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層との層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、第ｉ層と第ｋ層との層間の厚さをｄ _ｉｋ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
    前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
    θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
    前記第３のステップでは、
    Ｓ _ｉ ＝Ｒ _ｉ ＋Ｓｄ・［Ｒ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＋Ｒ _ｋ ／｛π（２・ｄ _ｉｋ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］
    （但し、ｉ＝１のとき、Ｒ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＝０
    ｉ＝Ｎのとき、Ｒ _ｋ ／｛π（２・ｄ _ｉｋ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＝０）
    となるＮ個の式を立て、
    前記Ｓ _ｉ についてのＮ個の方程式をＲ _ｉ について解くことにより反射率Ｒ _ｉ を求めることを特徴とする請求項１ないし１２の何れか１項に記載の光情報媒体測定方法。
15. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ としたとき、
    前記第３のステップでは、Ｒ _ｉ ＝Ｓ _ｉ と近似することを特徴とする請求項１ないし１２の何れか１項に記載の光情報媒体測定方法。
16. 複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の反射率差を測定する光情報媒体測定方法であって、
    測定光学系により前記光情報媒体の各層を再生した際に得られる信号光量と入射光量の比である見かけの反射率を求める第５のステップと、
    前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第２のステップと、
    前記光情報媒体の各層の反射率を求める第３のステップと、
    前記第５のステップで測定した見かけの反射率と、前記第２のステップで求めた各層間の厚さと、前記第３のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における反射率差を換算する第６のステップと、
    を含むことを特徴とする光情報媒体測定方法。
17. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    前記基準光学系での第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳｎ _ｉ とし、
    前記第６のステップでは、第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）との反射率差αｎ _ｉｊ を、
    αｎ _ｉｊ ＝（Ｓｎ _ｉ −Ｓｎ _ｊ ）／（Ｓｎ _ｉ ＋Ｓｎ _ｊ ）
    として換算することを特徴とする請求項１６記載の光情報媒体測定方法。
18. 前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、測定機で測定することを特徴とする請求項１６または１７記載の光情報媒体測定方法。
19. 前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を作製する際の設計値とすることを特徴とする請求項１６または１７記載の光情報媒体測定方法。
20. 前記第２のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を複数作製した際の平均値とすることを特徴とする請求項１６または１７記載の光情報媒体測定方法。
21. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
    前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
    θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
    前記第３のステップでは、
    Ｓ _ｉ ＝Ｒ _ｉ ＋Ｓｄ・［ΣＲ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］
    （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
    となるＮ個の方程式を立て、
    前記Ｓ _ｉ についてのＮ個の方程式をＲ _ｉ について解くことにより、反射率Ｒ _ｉ を求めることを特徴とする請求項１６ないし２０の何れか１項記載の光情報媒体測定方法。
22. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の隣接層を第ｊ層（ｊ＝ｉ−１）および第ｋ層（ｋ＝ｉ＋１）とし、
    前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層との層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、第ｉ層と第ｋ層との層間の厚さをｄ _ｉｋ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
    前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
    θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
    前記第３のステップでは、
    Ｓ _ｉ ＝Ｒ _ｉ ＋Ｓｄ・［Ｒ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＋Ｒ _ｋ ／｛π（２・ｄ _ｉｋ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］
    （但し、ｉ＝１のとき、Ｒ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＝０
    ｉ＝Ｎのとき、Ｒ _ｋ ／｛π（２・ｄ _ｉｋ ・ｔａｎθ） ^２ ｝＝０）
    となるＮ個の式を立て、
    前記Ｓ _ｉ についてのＮ個の方程式をＲ _ｉ について解くことにより反射率Ｒ _ｉ を求めることを特徴とする請求項１６ないし２０の何れか１項に記載の光情報媒体測定方法。
23. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ としたとき、
    前記第３のステップでは、Ｒ _ｉ ＝Ｓ _ｉ と近似することを特徴とする請求項１６ないし２０の何れか１項に記載の光情報媒体測定方法。
24. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
    前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
    θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
    前記第３のステップでは、換算係数ａ _ｉ を、
    ａ _ｉ ＝１＋Ｓｄ・［Σ１／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］
    （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
    として、Ｒ _ｉ ＝Ｓ _ｉ ／ａ _ｉ と近似することを特徴とする請求項１記載の光情報媒体測定方法。
25. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    前記第２のステップで得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
    前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
    θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとき、
    前記第３のステップでは、換算係数ａ _ｉ を、
    ａ _ｉ ＝１＋Ｓｄ・［Σ１／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］
    （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
    として、Ｒ _ｉ ＝Ｓ _ｉ ／ａ _ｉ と近似することを特徴とする請求項１６記載の光情報媒体測定方法。
26. 複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の変調度を測定し、かつ、前記光情報媒体に情報を記録する記録装置であって、
    記録装置に含まれる測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定し、
    前記光情報媒体の各層間の厚さを求め、
    前記光情報媒体の各層の反射率を求め、
    前記測定した各層の変調度を、前記求めた各層間の厚さと、前記求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算し、
    前記光情報媒体に光ビームを照射することにより情報を記録することを特徴とする記録装置。
27. 前記各層の反射率を求めるときに、
    測定対象とは異なる他の層で反射した迷光の影響を含む測定される反射率である見かけの反射率を用いて、前記各層の反射率を求めることを特徴とする請求項２６に記載の記録装置。
28. 前記変調度に換算するときに、
    さらに、測定対象とは異なる他の層で反射した迷光の影響を含む測定される反射率である見かけの反射率を用いて、前記測定した各層の変調度を、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算することを特徴とする請求項２６に記載の記録装置。
29. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    前記各層の変調度を測定するときに測定された第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の変調度をｍｄ _ｉ とし、
    前記各層間の厚さを求めるときに得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
    前記各層の反射率を求めるときに求められた第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値とし、
    前記基準光学系における受光部の面積をＳｎ _ｐｄ とし、前記基準光学系における検出系の倍率をＭｎとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをＳｄｎ（Ｓｄｎ＝Ｓｎ _ｐｄ ／Ｍｎ ^２ ）とし、
    前記変調度に換算するときに、前記基準光学系での第ｉ層の変調度ｍｎ _ｉ
    を、
    ｍｎ _ｉ ＝ｍｄ _ｉ ・Ｓ _ｉ ／（Ｒ _ｉ ＋Ｓｄｎ・［ΣＲ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］）
    （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
    として換算することを特徴とする請求項２６に記載の記録装置。
30. 複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の変調度を測定し、かつ、前記光情報媒体から情報を再生する再生装置であって、
    再生装置に含まれる測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定し、
    前記光情報媒体の各層間の厚さを求め、
    前記光情報媒体の各層の反射率を求め、
    前記測定した各層の変調度を、前記求めた各層間の厚さと、前記求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算し、
    前記光情報媒体に光ビームを照射することにより情報を再生することを特徴とする再生装置。
31. 前記各層の反射率を求めるときに、
    測定対象とは異なる他の層で反射した迷光の影響を含む測定される反射率である見かけの反射率を用いて、前記各層の反射率を求めることを特徴とする請求項３０に記載の再生装置。
32. 前記変調度に換算するときに、
    さらに、測定対象とは異なる他の層で反射した迷光の影響を含む測定される反射率である見かけの反射率を用いて、前記測定した各層の変調度を、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算することを特徴とする請求項３０に記載の再生装置。
33. 前記光情報媒体はＮ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の多層ディスクであり、
    前記各層の変調度を測定するときに測定された第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の変調度をｍｄ _ｉ とし、
    前記各層間の厚さを求めるときに得られる第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
    前記測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
    前記各層の反射率を求めるときに求められた第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値とし、
    前記基準光学系における受光部の面積をＳｎ _ｐｄ とし、前記基準光学系における検出系の倍率をＭｎとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをＳｄｎ（Ｓｄｎ＝Ｓｎ _ｐｄ ／Ｍｎ ^２ ）とし、
    前記変調度に換算するときに、前記基準光学系での第ｉ層の変調度ｍｎ _ｉ
    を、
    ｍｎ _ｉ ＝ｍｄ _ｉ ・Ｓ _ｉ ／（Ｒ _ｉ ＋Ｓｄｎ・［ΣＲ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］）
    （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
    として換算することを特徴とする請求項３０に記載の再生装置。
34. Ｎ層（２≦Ｎ，Ｎは整数）の情報層を有する多層構造の光情報媒体の反射率を測定する光情報媒体測定方法であって、
    第ｉ層（１≦ｉ≦Ｎ，ｉは整数）の反射率をＲ _ｉ とし、
    第ｉ層と第ｊ層（１≦ｊ≦Ｎ，ｉ≠ｊ，ｊは整数）の層間の厚さをｄ _ｉｊ とし、当該層間の屈折率をｎとし、
    測定光学系で第ｉ層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をＳ _ｉ とし、
    前記測定光学系における開口数をＮＡとし、
    θを、ｓｉｎθ＝ＮＡ／ｎの条件を満たす０からπ／２の間の値としたとし、
    Ｓ _ｉ ＝Ｒ _ｉ ＋Ｓｄ・［ΣＲ _ｊ ／｛π（２・ｄ _ｉｊ ・ｔａｎθ） ^２ ｝］
    （Σはｊについて、ｊ≠ｉの１〜Ｎまでの整数の加算）
    となるＮ個の方程式を立て、
    前記Ｓ _ｉ についてのＮ個の方程式をＲ _ｉ について解くことにより、反射率Ｒ _ｉ を求めることを特徴とする光情報媒体測定方法。

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