JP4805134B2 - 集積回路の内部ラッチをスキャンする方法及び装置並びに集積回路 - Google Patents
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Description
各スキャンチェーンが直列接続の複数のラッチで構成される複数のスキャンチェーンと、
第二のシリアルインタフェースを介して設定されるループ選択レジスタと、
前記第一のシリアルインタフェースを介して設定される命令レジスタと、
前記ループ選択レジスタ内の値と前記命令レジスタ内の命令コードとに基づいて前記複数のスキャンチェーン中の一つのスキャンチェーンを選択し、該選択されたスキャンチェーンに対して前記第一のシリアルインタフェースを介してのデータのシフトイン及びシフトアウトを実行する回路と、
を具備し、前記スキャン方法は、
前記第二のシリアルインタフェースを介して前記ループ選択レジスタに値を設定するステップと、
前記第一のシリアルインタフェースを介して前記命令レジスタに命令コードを設定するステップと、
を具備するスキャン方法。
各スキャンチェーンが直列接続の複数のラッチで構成される複数のスキャンチェーンと、
第二のシリアルインタフェースを介して設定されるループ選択レジスタと、
前記第一のシリアルインタフェースを介して設定される命令レジスタと、
前記ループ選択レジスタ内の値と前記命令レジスタ内の命令コードとに基づいて前記複数のスキャンチェーン中の一つのスキャンチェーンを選択し、該選択されたスキャンチェーンに対して前記第一のシリアルインタフェースを介してのデータのシフトイン及びシフトアウトを実行する回路と、
を具備し、前記スキャン装置は、
前記第二のシリアルインタフェースを介して前記ループ選択レジスタに値を設定する手段と、
前記第一のシリアルインタフェースを介して前記命令レジスタに命令コードを設定する手段と、
を具備するスキャン装置。
各スキャンチェーンが直列接続の複数のラッチで構成される複数のスキャンチェーンと、
前記第一のシリアルインタフェースを介して設定される命令レジスタと、
第二のシリアルインタフェースを介して設定されるループ選択レジスタと、
前記ループ選択レジスタ内の値と前記命令レジスタ内の命令コードとに基づいて前記複数のスキャンチェーン中の一つのスキャンチェーンを選択し、該選択されたスキャンチェーンに対して前記第一のシリアルインタフェースを介してのデータのシフトイン及びシフトアウトを実行する回路と、
を具備する集積回路。
20、20A SCI(System Console Interface)
21 JCMR(JTAG CoMmand Register)
22 JCR(JTAG chip Command Register)
23 SCDR(JTAG Sense/Control Data Register)
24 LOOP(JTAG LOOP register)
25 JTAG制御回路
26 TDR(Test Data Register)
32 ICMR(I2C CoMmand Register)
34 ISCR(I2C Slave add Command Register)
36 IDR(I2C Data Register)
38 I2C制御回路
40、40A 本体装置
50、50A ASIC(Application Specific Integrated Circuit)
52 TAPコントローラ
54 IR(Instruction Register)
56 ラッチ
60 I2C回路
62 ループ選択回路
64 ループ選択レジスタ
65 セレクタ
66 コマンド(CMD)レジスタ
67 データ(DATA)レジスタ
70 AND回路
72A、72B、72N スキャンチェーン
74 OR回路
76 デコーダ
Claims (6)
- 第一のシリアルインタフェースと、各スキャンチェーンが直列接続の複数のラッチで構成される複数のスキャンチェーンとを備える集積回路の内部ラッチをスキャン装置によりスキャンするスキャン方法であって、
前記集積回路内に設けられ、前記複数のスキャンチェーンのいずれかを選択するために用いる情報を保持するループ選択レジスタに、第二のシリアルインタフェースを介して値を設定するステップと、
前記集積回路内に設けられ、前記第一のシリアルインタフェースを介したスキャン動作の制御を行う命令を格納する命令レジスタに、前記第一のシリアルインタフェースを介し命令コードを設定するステップと、
前記集積回路内に設けられ、前記第一のシリアルインタフェースを介してのデータのシフトイン及びシフトアウトを実行する回路に、前記ループ選択レジスタ内の値と前記命令レジスタ内の命令コードとに基づいて前記複数のスキャンチェーン中の一つのスキャンチェーンを選択させ、該選択されたスキャンチェーンに対して前記第一のシリアルインタフェースを介してのデータのシフトイン及びシフトアウトを実行させるステップと、
を具備するスキャン方法。 - JTAGポートを第一のシリアルインタフェースとして備える集積回路の内部ラッチをスキャンするスキャン装置であって、前記集積回路が、
各スキャンチェーンが直列接続の複数のラッチで構成される複数のスキャンチェーンと、
第二のシリアルインタフェースを介して設定されるループ選択レジスタと、
前記第一のシリアルインタフェースを介して設定される命令レジスタと、
前記ループ選択レジスタ内の値と前記命令レジスタ内の命令コードとに基づいて前記複数のスキャンチェーン中の一つのスキャンチェーンを選択し、該選択されたスキャンチェーンに対して前記第一のシリアルインタフェースを介してのデータのシフトイン及びシフトアウトを実行する回路と、
を具備し、前記スキャン装置は、
前記第二のシリアルインタフェースを介して前記ループ選択レジスタに値を設定する手段と、
前記第一のシリアルインタフェースを介して前記命令レジスタに命令コードを設定する手段と、
を具備するスキャン装置。 - 前記複数のスキャンチェーンの各々は、同一種類のクロックによって駆動されるラッチを接続したものである、請求項2に記載のスキャン装置。
- 前記第二のシリアルインタフェースは、I2Cバスである、請求項2に記載のスキャン装置。
- JTAGポートを第一のシリアルインタフェースとして備える集積回路であって、
各スキャンチェーンが直列接続の複数のラッチで構成される複数のスキャンチェーンと、
前記第一のシリアルインタフェースを介して設定される命令レジスタと、
第二のシリアルインタフェースを介して設定されるループ選択レジスタと、
前記ループ選択レジスタ内の値と前記命令レジスタ内の命令コードとに基づいて前記複数のスキャンチェーン中の一つのスキャンチェーンを選択し、該選択されたスキャンチェーンに対して前記第一のシリアルインタフェースを介してのデータのシフトイン及びシフトアウトを実行する回路と、
を具備する集積回路。 - 前記複数のスキャンチェーンの各々は、同一種類のクロックによって駆動されるラッチを接続したものである、請求項5に記載の集積回路。
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