JP4802593B2 - Collet - Google Patents

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本発明は、粘着性テープに貼着保持されたダイシング済みの半導体チップを該粘着テープからピックアップするピックアップ装置に用いられるコレットに関する。   The present invention relates to a collet used in a pickup device that picks up a diced semiconductor chip adhered and held on an adhesive tape from the adhesive tape.

特開平9−141585号公報JP-A-9-141585 特開2003−273136号公報JP 2003-273136 A 特開2002−373871号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2002-338771 特開2005−117019号公報JP 2005-1117019 A

高密度実装対応の半導体パッケージにおいては、厚さ100μm以下の半導体チップの積層が行なわれており、今後は厚さ50μm程度の半導体チップが多用されると見込まれている。また、ICタグについては、低価格化を達成するために半導体チップの微小化が図られており、半導体チップサイズも1mm角以下となってきている。薄形半導体チップ又は微小薄形半導体チップの組立て方法においては、半導体チップを搭載する前に半導体チップを確実に、かつ損傷を与えることなくピックアップすることが重要となる。   In semiconductor packages compatible with high-density mounting, semiconductor chips with a thickness of 100 μm or less are stacked, and it is expected that semiconductor chips with a thickness of about 50 μm will be used in the future. As for IC tags, miniaturization of semiconductor chips has been attempted in order to achieve cost reduction, and the size of semiconductor chips has also become 1 mm square or less. In the method of assembling a thin semiconductor chip or a micro thin semiconductor chip, it is important to pick up the semiconductor chip reliably and without damage before mounting the semiconductor chip.

ダイシングにより個々に分割された半導体チップをダイシングフィルム(粘着シート)からピックアップする方法としては、図5及び図6に示すニードル突き上げ方式が、ダイボンダ、フリップチップボンダといったチップ搭載装置やチップをチップトレイに収納するトレイ詰め機に広く採用されている。図5及び図6において、半導体チップ1は、ダイシングによって個々に分割され、粘着シート2上に等間隔で貼着されている。この半導体チップ1は伸縮性を有する粘着シート2上に貼着された状態で、ピックアップ装置3のピックアップ本体4上に順次搬送される。   As a method for picking up semiconductor chips individually divided by dicing from a dicing film (adhesive sheet), the needle push-up method shown in FIGS. 5 and 6 is based on a chip mounting device such as a die bonder or a flip chip bonder or a chip on a chip tray. Widely used in tray packing machines. 5 and 6, the semiconductor chips 1 are individually divided by dicing and are stuck on the adhesive sheet 2 at equal intervals. The semiconductor chip 1 is sequentially conveyed onto the pickup main body 4 of the pickup device 3 in a state where the semiconductor chip 1 is stuck on the adhesive sheet 2 having elasticity.

ピックアップ本体4は、内部に負圧部5を有して円筒状に形成されており、負圧部5の上面6は粘着シート2の下面を支持するための平坦な案内面7を有する天壁部8によって閉塞されている。また、天壁部8の中央部には、半導体チップ1の底面寸法よりも若干大きく、粘着シート2の幅寸法よりも小さい貫通孔9が形成されている。さらに、ピックアップ本体4内には該貫通孔9を通って粘着シート2の下面に当接されるピックアップニードル10が上下方向移動自在に設けられている。ピックアップニードル10の先端は鋭く尖った形状を呈している。   The pickup main body 4 has a negative pressure portion 5 therein and is formed in a cylindrical shape, and the upper surface 6 of the negative pressure portion 5 has a flat guide surface 7 for supporting the lower surface of the adhesive sheet 2. Blocked by the portion 8. A through-hole 9 is formed in the central portion of the top wall 8 that is slightly larger than the bottom surface dimension of the semiconductor chip 1 and smaller than the width dimension of the adhesive sheet 2. Further, a pickup needle 10 that is in contact with the lower surface of the adhesive sheet 2 through the through hole 9 is provided in the pickup body 4 so as to be movable in the vertical direction. The tip of the pickup needle 10 has a sharp and sharp shape.

ピックアップ本体4の上方には、貫通孔9と対応した位置にコレット11が配置されている。このコレット11は、真空吸引機(図示せず)につながる吸引孔12を有しており、該吸引孔12の開口部周縁の該コレット11の先端部には半導体チップ1を吸着するためのチャック部13が形成されている。なお、コレット11は、チャック部13で吸着した半導体チップ1を粘着シート2から剥離してピックアップし、これをリードフレーム(図示せず)上のダイボンドする所定位置まで搬送できる構造となっている。   A collet 11 is disposed above the pickup body 4 at a position corresponding to the through hole 9. The collet 11 has a suction hole 12 connected to a vacuum suction machine (not shown), and a chuck for adsorbing the semiconductor chip 1 to the tip of the collet 11 at the periphery of the opening of the suction hole 12. A portion 13 is formed. The collet 11 has a structure in which the semiconductor chip 1 adsorbed by the chuck portion 13 is peeled off from the adhesive sheet 2 and picked up and conveyed to a predetermined position on a lead frame (not shown) where die bonding is performed.

このように構成されたピックアップ装置の動作について説明すると、半導体チップ1が貼着された粘着シート2は、ピックアップ本体4の案内面7上を滑りながら移送されるように配設されており、半導体チップ1は貫通孔9の中央部に移送される状態に間欠的に搬送される。案内面7に配置されている粘着シート2は、負圧部5が負圧にされた際に貫通孔9を通して吸着され、この吸着力で案内面7に拘束される。粘着シート2の裏面が案内面7に密着して拘束されると、これが負圧センサ(図示せず)で確認されると共に画像位置検出手段(図示せず)によって半導体チップ1の位置が検出される。   The operation of the pickup device configured as described above will be described. The adhesive sheet 2 to which the semiconductor chip 1 is adhered is disposed so as to be transported while sliding on the guide surface 7 of the pickup body 4. The chip 1 is intermittently transported to a state where it is transferred to the central portion of the through hole 9. The pressure-sensitive adhesive sheet 2 disposed on the guide surface 7 is adsorbed through the through-hole 9 when the negative pressure portion 5 is set to a negative pressure, and is restrained by the guide surface 7 by this adsorption force. When the back surface of the adhesive sheet 2 is in close contact with the guide surface 7 and restrained, this is confirmed by a negative pressure sensor (not shown) and the position of the semiconductor chip 1 is detected by an image position detecting means (not shown). The

次いで、コレット11が下降し、チャック部13で半導体チップ1を真空吸着すると同時にピックアップニードル10が上昇され、先端が粘着シート2を突き破って半導体チップ1を押し上げ、この半導体チップ1を粘着シート2より剥離する。コレット11は半導体チップ1を吸着したまま上昇し、半導体チップ1はピックアップされる。   Next, the collet 11 is lowered, the semiconductor chip 1 is vacuum-sucked by the chuck portion 13 and simultaneously the pickup needle 10 is raised, the tip breaks through the adhesive sheet 2 and pushes up the semiconductor chip 1, and the semiconductor chip 1 is removed from the adhesive sheet 2. Peel off. The collet 11 rises while adsorbing the semiconductor chip 1 and the semiconductor chip 1 is picked up.

上述したピックアップ装置3においては、上昇したピックアップニードル10の先端が粘着シート2を突き破って半導体チップ1を押す構造となっているため、粘着シート2が突き破られる際に塵(粘着シートダスト)が発生し、この塵が周辺の半導体チップ1の上面に飛散されるという不具合があり、半導体チップ1の不良の原因を惹起することになる。また、ピックアップニードル10の先端が粘着シート2を突き破ると、この先端が半導体チップ1の裏面に接触し、半導体チップ1の塵(シリコンダスト)を発生させ、上記粘着シートダストの場合と同様に半導体チップ1の不良の原因となる。   In the pickup device 3 described above, the tip of the picked-up pickup needle 10 has a structure that pushes through the adhesive sheet 2 and pushes the semiconductor chip 1, so that dust (adhesive sheet dust) is generated when the adhesive sheet 2 is pierced. There is a problem that this dust is scattered on the upper surface of the peripheral semiconductor chip 1, which causes a defect of the semiconductor chip 1. Further, when the tip of the pickup needle 10 breaks through the adhesive sheet 2, the tip contacts the back surface of the semiconductor chip 1 to generate dust (silicon dust) of the semiconductor chip 1, and the semiconductor as in the case of the adhesive sheet dust. This causes a defect of the chip 1.

上述したピックアップ装置3の粘着シートダスト、シリコンダストの発生という問題点を解決するべく、特許文献1においては、内部に負圧部を有するとともに、上面で粘着シートの下面をガイドする多孔質材で形成されたシートガイド面を設け、前記シートガイド面を通して作用する前記負圧部の負圧によって前記粘着シートを吸着するピックアップ本体と、前記シートガイド面と対向した位置に配置されているとともに前記シートガイド面上に搬送された前記半導体チップを保持して前記粘着シートから剥離するためのピックアップ・チャック手段と、前記ピックアップ・チャック手段と対向して前記ピックアップ本体内に設けられ、先端形状が平面または曲面として作られているとともに、前記先端を前記シートガイド面に形成されているガイド孔を通って前記粘着シートの下面に当接させて前記半導体チップを突き上げるピックアップニードルとを備えた半導体チップのピックアップ装置が提案されている。   In order to solve the problem of generation of the adhesive sheet dust and silicon dust of the pickup device 3 described above, Patent Document 1 is a porous material that has a negative pressure portion inside and guides the lower surface of the adhesive sheet on the upper surface. A pickup main body provided with a formed sheet guide surface, and adsorbing the pressure-sensitive adhesive sheet by the negative pressure of the negative pressure portion acting through the sheet guide surface; and the sheet disposed at a position facing the sheet guide surface Pickup chuck means for holding the semiconductor chip conveyed on the guide surface and peeling it from the adhesive sheet, and provided in the pickup main body facing the pickup chuck means, and the tip shape is flat or It is made as a curved surface and the tip is formed on the sheet guide surface Through the guide hole is abutted against the lower surface of the adhesive sheet semiconductor chip pickup apparatus and a pickup needle pushing up the semiconductor chip has been proposed that.

また、特許文献2においては、ダイシング後の半導体チップを吸着部で吸着して保持するチップ保持部と、上記吸着部に設けられた多孔質材料の複数の微小な孔と、この微小な孔を真空排気する真空ポンプとを具備するピックアップ装置が提案されている。   Further, in Patent Document 2, a chip holding unit that holds and holds a dicing semiconductor chip by an adsorption unit, a plurality of minute holes of a porous material provided in the adsorption unit, and the minute holes A pickup device including a vacuum pump for evacuating has been proposed.

ところで、斯かる特許文献1及び2におけるピックアップ装置は、いずれも従来のピックアップ装置の粘着シートダスト、シリコンダストの発生という問題点を解決するものであるが、コレットにより半導体チップを粘着シートから吸着剥離する際、コレットに設けられた真空吸着孔(吸引孔)の大きさの如何によってはコレットの半導体チップに対する吸着力との関係で半導体チップの吸着反りによる変形が生じる虞があり、とくに、半導体チップの厚さが例えば50μm程度以下の微小薄さになると、この吸着反りの問題は一層顕著となり得る。また、真空吸着孔では、半導体チップの大きさに応じてその寸法に適した大きさの真空吸着孔を具備したコレットを製作しなければならないという問題がある。   Incidentally, both of the pickup devices in Patent Documents 1 and 2 solve the problem of generation of adhesive sheet dust and silicon dust of the conventional pickup device, but the semiconductor chip is adsorbed and peeled from the adhesive sheet by a collet. In this case, depending on the size of the vacuum suction hole (suction hole) provided in the collet, the semiconductor chip may be deformed due to the warping of the semiconductor chip in relation to the suction force of the collet to the semiconductor chip. When the thickness of the film becomes a very small thickness of, for example, about 50 μm or less, this problem of adsorption warpage can become more prominent. Further, the vacuum suction hole has a problem that a collet having a vacuum suction hole having a size suitable for the size of the semiconductor chip must be manufactured.

本発明は上記諸点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、半導体チップを粘着シートから吸着剥離する際に該半導体チップに吸着反りを生じさせることなく、また、種々の寸法の半導体チップに用いることができるコレットを提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-mentioned points, and the object of the present invention is to prevent the semiconductor chip from being warped when adsorbing and peeling the semiconductor chip from the pressure-sensitive adhesive sheet and having various dimensions. An object of the present invention is to provide a collet that can be used for a semiconductor chip.

本発明のコレットは、一端に設けられた凹部及びこの凹部に連通した吸引孔を有しているコレット本体と、コレット本体の凹部に設けられていると共に当該コレット本体の一端面と面一であるか若しくは当該一端面よりも突出している露呈面を有した多孔質焼結金属体とを具備している。   The collet according to the present invention is flush with a collet body having a concave portion provided at one end and a suction hole communicating with the concave portion, and provided at the concave portion of the collet main body and one end surface of the collet main body. Or a porous sintered metal body having an exposed surface protruding from the one end surface.

本発明のコレットによれば、例えば真空吸引機の吸引作動により、吸引孔を介して多孔質焼結金属体の露呈面から粘着シートに貼着された半導体チップを吸着保持してピックアップすることができ、このように吸着される半導体チップに均等な吸着力を作用させて、当該半導体チップの吸着反りをなくし得、また、多孔質焼結金属体の露呈面で半導体チップを吸着保持するために、種々の寸法の半導体チップを吸着することができ、例えばコレットの吸引孔の寸法(径)よりも小さい寸法の半導体チップであっても吸着保持をすることができ、半導体チップの種々の寸法に応じてコレットを作製する必要をなくし得る。尚、本発明のコレットの多孔質焼結金属体の露呈面は、コレット本体の一端面よりも突出していてもよいが、好ましくは、当該一端面と面一にされ、このように面一である場合には、大きな吸引力を必要とせずに半導体チップを吸着することができる。   According to the collet of the present invention, for example, by suction operation of a vacuum suction machine, the semiconductor chip attached to the pressure-sensitive adhesive sheet can be picked up and picked up from the exposed surface of the porous sintered metal body through the suction hole. In order to eliminate the adsorption warpage of the semiconductor chip by applying an even adsorption force to the semiconductor chip to be adsorbed in this way, and to hold the semiconductor chip by adsorption on the exposed surface of the porous sintered metal body It is possible to adsorb semiconductor chips of various sizes, for example, even a semiconductor chip having a size smaller than the size (diameter) of the suction hole of the collet can be adsorbed and retained. Accordingly, it is possible to eliminate the need to make a collet. The exposed surface of the porous sintered metal body of the collet of the present invention may protrude from one end face of the collet body, but is preferably flush with the one end face. In some cases, the semiconductor chip can be adsorbed without requiring a large suction force.

本発明のコレットの好ましい例では、吸引孔は、凹部の底面の一部に連通しており、凹部の底面の前記一部を除く残部は、多孔質焼結金属体に接している。このような好ましい例によれば、例えば多孔質焼結金属体を凹部に圧入固定する際に当該多孔質焼結金属体のコレット本体に対する位置決めを簡単に行うことができ、而して、コレット本体の一端面と多孔質焼結金属体の露呈面とを簡単に面一にすることができる。   In a preferred example of the collet of the present invention, the suction hole communicates with a part of the bottom surface of the recess, and the remaining part of the bottom surface of the recess except the part is in contact with the porous sintered metal body. According to such a preferred example, for example, when the porous sintered metal body is press-fitted and fixed in the recess, the porous sintered metal body can be easily positioned with respect to the collet body, and thus the collet body. It is possible to easily make one end face of the metal and the exposed face of the porous sintered metal body flush with each other.

本発明のコレットの好ましい例では、コレット本体は、多孔質焼結金属体の凹部からの脱落を防止すべく当該凹部の開口縁においてコレット本体に設けられたかしめ部を有している。このような好ましい例によれば、多孔質焼結金属体に対してコレット本体のかしめによる機械的固定を加えることができて、多孔質焼結金属体をコレット本体により強固に固定することができ、例えば多孔質焼結金属体が凹部の底面に接している場合には、当該多孔質焼結金属体の露呈面とコレット本体の一端面との面一の状態をより確実に維持することができる。   In a preferred example of the collet of the present invention, the collet body has a caulking portion provided on the collet body at the opening edge of the concave portion in order to prevent the porous sintered metal body from falling off the concave portion. According to such a preferred example, mechanical fixing by caulking of the collet body can be applied to the porous sintered metal body, and the porous sintered metal body can be firmly fixed to the collet body. For example, when the porous sintered metal body is in contact with the bottom surface of the recess, the exposed surface of the porous sintered metal body and the one end surface of the collet body can be maintained more reliably. it can.

本発明のコレットのコレット本体は、機械構造用炭素鋼、ステンレス鋼及び純銅から選択されてもよい。斯かるコレット本体には、具体的には、JIS−G−4501に規定されている機械構造用炭素鋼、例えばS45Cなど、JIS−G−4303に規定されているステンレス鋼、とくにマルテンサイト系ステンレス鋼、例えばSUS420J2など、JIS−H−2123で規定されている無酸素銅及び同じくJIS−H−2123で規定されているタフピッチ銅が使用されていてもよい。   The collet body of the collet of the present invention may be selected from carbon steel for mechanical structure, stainless steel, and pure copper. Specifically, such a collet body includes a carbon steel for machine structure defined in JIS-G-4501, such as S45C, stainless steel defined in JIS-G-4303, particularly martensitic stainless steel. Steel, for example, SUS420J2, oxygen-free copper defined by JIS-H-2123, and tough pitch copper also defined by JIS-H-2123 may be used.

本発明のコレットの好ましい例では、多孔質焼結金属体は、無機物質粒子を1重量%以上5重量%以下の割合で含有する。このような好ましい例では、無機物質粒子は、黒鉛、窒化ホウ素、フッ化黒鉛、フッ化カルシウム、酸化アルミニウム、酸化ケイ素及び炭化ケイ素のうちの少なくとも一つからなっていてもよい。   In a preferred example of the collet of the present invention, the porous sintered metal body contains inorganic substance particles at a ratio of 1 wt% to 5 wt%. In such a preferable example, the inorganic substance particles may be made of at least one of graphite, boron nitride, graphite fluoride, calcium fluoride, aluminum oxide, silicon oxide, and silicon carbide.

本発明のコレットの凹部に固定される多孔質焼結金属体は、8重量%以上11重量%以下の錫と、残部が銅からなる焼結金属体、あるいは上記成分組成に黒鉛、窒化ホウ素、フッ化黒鉛、フッ化カルシウム、酸化アルミニウム、酸化ケイ素及び炭化ケイ素のうちの少なくとも一つからなる無機物質粒子を1重量%以上5重量%以下の割合で分散含有させた焼結金属体であってもよい。   The porous sintered metal body fixed to the concave portion of the collet of the present invention is a sintered metal body composed of 8% by weight or more and 11% by weight or less of tin and the balance of copper, or the above component composition with graphite, boron nitride, A sintered metal body in which inorganic substance particles composed of at least one of graphite fluoride, calcium fluoride, aluminum oxide, silicon oxide, and silicon carbide are dispersed and contained at a ratio of 1 wt% to 5 wt%. Also good.

多孔質焼結金属体に無機物質粒子を分散含有するものにおいては、焼結金属体に分散含有された無機物質粒子自体が機械加工によって塑性変形することがなく、加えて多孔質焼結金属体の素地の金属部分の塑性変形を分断して軽減する働きを示し、機械加工における多孔質焼結金属体の表面の細孔の目詰まりが抑制されて細孔開口端が絞り構造となるため、半導体チップを吸着保持する際の半導体チップにより均等に、かつ強力な吸着力が作用することになり、該半導体チップに吸着反りなどの不具合を生じることなく容易に粘着シートから剥離することができる。   In the case where the porous sintered metal body contains inorganic substance particles dispersedly, the inorganic substance particles dispersedly contained in the sintered metal body itself are not plastically deformed by machining, and in addition, the porous sintered metal body Since the plastic deformation of the metal part of the base material is divided and reduced, clogging of the pores on the surface of the porous sintered metal body in machining is suppressed, and the pore opening end becomes a drawn structure, The semiconductor chip at the time of adsorbing and holding the semiconductor chip has an even and strong adsorbing force, and can be easily peeled from the adhesive sheet without causing problems such as adsorbing warpage.

本発明によれば、半導体チップを粘着シートから吸着剥離する際に該半導体チップに吸着反りを生じさせることなく、また、種々の寸法の半導体チップに用いることができるコレットを提供し得る。   According to the present invention, it is possible to provide a collet that can be used for semiconductor chips of various dimensions without causing suction warpage of the semiconductor chip when the semiconductor chip is peeled from the adhesive sheet.

次に、本発明の実施の形態の例を、図に示す例に基づいて更に詳細に説明する。尚、本発明はこれらの例に何等限定されないのである。   Next, an example of an embodiment of the present invention will be described in more detail based on an example shown in the figure. The present invention is not limited to these examples.

図1及び図2は、本発明の実施の形態の例のコレット50を具備したピックアップ装置3の縦断面説明図であり、図3は、コレット50の縦断面説明図であり、図4は、かしめ部67が形成されたコレット50の縦断面説明図である。   1 and 2 are longitudinal sectional explanatory views of the pickup device 3 including the collet 50 according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is an explanatory longitudinal sectional view of the collet 50. FIG. It is longitudinal cross-sectional explanatory drawing of the collet 50 in which the crimping part 67 was formed.

半導体チップ1は、ダイシングによって個々に分離され、粘着シート2上に等間隔で貼着されている。この半導体チップ1は、粘着シート2上に貼着された状態で、ピックアップ装置3のピックアップ本体4上に順次搬送される。ピックアップ本体4は、本例では内部に負圧部5が設けられて円筒状に形成されており、負圧部5の上面6は粘着シート2の下面を支持するための平坦な案内面7を有する天壁部8によって閉塞されている。   The semiconductor chips 1 are individually separated by dicing and are stuck on the adhesive sheet 2 at equal intervals. The semiconductor chip 1 is sequentially conveyed onto the pickup main body 4 of the pickup device 3 while being stuck on the adhesive sheet 2. In this example, the pickup body 4 is formed in a cylindrical shape with a negative pressure portion 5 provided therein, and the upper surface 6 of the negative pressure portion 5 has a flat guide surface 7 for supporting the lower surface of the adhesive sheet 2. It is closed by the ceiling wall 8 having it.

天壁部8の中央部には、半導体チップ1の底面寸法よりも若干大きく、粘着シート2の幅寸法よりも小さい貫通孔9が形成されている。ピックアップ本体4内には該貫通孔9を通って粘着シート2の下面に当接されるピックアップニードル10が上下方向移動自在に設けられている。なお、ピックアップニードル10の先端は、半球状の曲面形状を呈している。   A through-hole 9 that is slightly larger than the bottom surface dimension of the semiconductor chip 1 and smaller than the width dimension of the adhesive sheet 2 is formed at the center of the top wall portion 8. A pickup needle 10 that is in contact with the lower surface of the adhesive sheet 2 through the through hole 9 is provided in the pickup body 4 so as to be movable in the vertical direction. Note that the tip of the pickup needle 10 has a hemispherical curved shape.

ピックアップ本体4の上方には、貫通孔9と対応した位置にコレット50が配置されている。コレット50は、特に図3に示すように、一端82に設けられた凹部64及び凹部64に連通した上下方向に伸びた横断面円形の吸引孔61を有している金属製であって筒状のコレット本体60と、凹部64に設けられていると共に当該コレット本体60の一端面66と面一である露呈面71を有した多孔質焼結金属体70とを具備している。吸引孔61は、凹部64の底面81の一部62に連通しており、底面81の前記一部62を除く残部63は、多孔質焼結金属体70に接している。一部62は底面81の中央部であり、残部63は環状である。凹部64は、横断面円形であり、吸引孔61の径よりも大きな径を有している。コレット本体60は、凹部64の底面81の一部62を除く残部63を規定する環状壁面と、凹部64の周面65を規定する円筒壁面とを有している。多孔質焼結金属体70は、凹部64の底面81の一部62を除く残部63を規定する環状壁面と凹部64の周面65を規定する円筒壁面とに接して凹部64に圧入固定されて設けられている。平坦面からなる露呈面71は、一端面66側で露呈している。 A collet 50 is disposed above the pickup body 4 at a position corresponding to the through hole 9. As shown in FIG. 3 in particular, the collet 50 is made of metal and has a cylindrical shape having a recess 64 provided at one end 82 and a suction hole 61 having a circular cross section extending in the vertical direction communicating with the recess 64. And a porous sintered metal body 70 provided in the recess 64 and having an exposed surface 71 that is flush with the one end surface 66 of the collet body 60. The suction hole 61 communicates with a part 62 of the bottom surface 81 of the recess 64, and the remaining part 63 except the part 62 of the bottom surface 81 is in contact with the porous sintered metal body 70. The part 62 is a central part of the bottom surface 81, and the remaining part 63 is annular. The recess 64 is circular in cross section and has a diameter larger than the diameter of the suction hole 61. The collet body 60 has an annular wall surface that defines the remaining portion 63 excluding a part 62 of the bottom surface 81 of the recess 64, and a cylindrical wall surface that defines the peripheral surface 65 of the recess 64. Porous sintered metal body 70 is press-fitted into the recess 64 in contact with a cylindrical wall defining a peripheral surface 65 of the annular wall and the recessed portion 64 defining the remainder 63 excluding a portion 62 of the bottom surface 81 of the concave portion 64 Is provided . The exposed surface 71 made of a flat surface is exposed on the one end surface 66 side.

多孔質焼結金属体70としては、錫8〜11重量%と残部銅とからなる焼結体、あるいは上記成分組成に黒鉛、窒化ホウ素、フッ化黒鉛、フッ化カルシウム、酸化アルミニウム、酸化ケイ素及び炭化ケイ素のうちの少なくとも一つからなる無機物質粒子を1重量%以上5重量%以下の割合で分散含有させた焼結体が用いられて好適である。多孔質焼結金属体70は、露呈面71が平坦な一端面66と面一とされるので、大きな吸引力を必要とせずに半導体チップ1を確実に吸着することができる。露呈面71は、本例では一端面66と面一であるが、例えば一端面66よりも突出した位置に配されていてもよい。   As the porous sintered metal body 70, a sintered body comprising 8 to 11% by weight of tin and the remaining copper, or the above-described component composition including graphite, boron nitride, graphite fluoride, calcium fluoride, aluminum oxide, silicon oxide, and A sintered body in which inorganic substance particles made of at least one of silicon carbide are dispersed and contained in a proportion of 1 wt% or more and 5 wt% or less is preferably used. Since the porous sintered metal body 70 is flush with the flat one end face 66, the semiconductor chip 1 can be reliably adsorbed without requiring a large suction force. In the present example, the exposed surface 71 is flush with the one end surface 66, but may be disposed at a position protruding from the one end surface 66, for example.

とくに、無機物質粒子を分散含有した多孔質焼結金属体70は、焼結体に分散含有された無機物質粒子自体が機械加工によって塑性変形することがなく、加えて多孔質焼結金属体の素地の金属部分の塑性変形を分断して軽減する働きを示し、機械加工における多孔質焼結金属体の表面の細孔の目詰まりが抑制されて細孔開口端が絞り構造となる。その結果、半導体チップを吸着保持する際の半導体チップにより均等に、かつ強力な吸着力が作用することになり、該半導体チップを吸着反りなどの不具合を生じることなく容易に粘着シートから剥離することができる。   In particular, the porous sintered metal body 70 in which the inorganic substance particles are dispersedly dispersed does not cause plastic deformation of the inorganic substance particles dispersedly contained in the sintered body by machining, and in addition, the porous sintered metal body 70 The function of dividing and reducing plastic deformation of the metal portion of the substrate is shown, clogging of pores on the surface of the porous sintered metal body in machining is suppressed, and the pore opening end has a drawn structure. As a result, an even and strong adsorption force acts on the semiconductor chip when adsorbing and holding the semiconductor chip, and the semiconductor chip can be easily peeled off from the adhesive sheet without causing problems such as adsorption warpage. Can do.

該コレット50の吸引孔61は、真空吸引機(図示せず)に連結されており、該コレット50の多孔質焼結金属体70の露呈面71が半導体チップ1を吸着するためのチャック部となる。   The suction hole 61 of the collet 50 is connected to a vacuum suction machine (not shown), and a chuck portion for the exposed surface 71 of the porous sintered metal body 70 of the collet 50 to adsorb the semiconductor chip 1 and Become.

次に、上記構成からなるピックアップ装置3の動作を説明する。半導体チップ1が貼着された粘着シート2は、ピックアップ本体4の案内面7上を滑りながら移送され、半導体チップ1はピックアップ本体4の貫通孔9の中央部に間欠的に搬送される。粘着シート2が所定位置まで搬送されたことが認識されると負圧部5内が負圧とされる。負圧部5内が負圧とされると、この負圧によって粘着シート2は貫通孔9を通して案内面7側に吸着され、この吸着力によって案内面7に拘束される。   Next, the operation of the pickup device 3 having the above configuration will be described. The adhesive sheet 2 to which the semiconductor chip 1 is adhered is transferred while sliding on the guide surface 7 of the pickup body 4, and the semiconductor chip 1 is intermittently conveyed to the central portion of the through hole 9 of the pickup body 4. When it is recognized that the pressure-sensitive adhesive sheet 2 has been conveyed to a predetermined position, the inside of the negative pressure part 5 is set to a negative pressure. If the inside of the negative pressure part 5 is made into a negative pressure, the adhesive sheet 2 will be adsorb | sucked to the guide surface 7 side through the through-hole 9 by this negative pressure, and will be restrained by the guide surface 7 with this adsorption force.

粘着シート2の裏面が案内面7に密着して拘束されると、これが負圧センサ(図示せず)で確認され、画像位置検出手段(図示せず)によって半導体チップ1の位置が検出される。次いで、コレット50が下降し、多孔質焼結金属体70の露呈面71で半導体チップ1を真空吸着すると同時にピックアップニードル10が上昇され、先端が粘着シート2の裏面に当接して半導体チップ1を押し上げると共に一旦コレット50をも持ち上げ、半導体チップ1は粘着シート2から剥される。その後、コレット50自体は半導体チップ1を吸着保持した状態で上昇し、これによって半導体チップ1はピックアップされる。本例のピックアップニードル10は、半導体チップ1の押し上げの際において粘着シート2に孔を開けないようになっており、このように押し上げると粘着シートダスト等の発生を防止することができて好ましいが、半導体チップ1の押し上げの際に粘着シート2に孔を開ける態様のピックアップニードルであっても、本例のコレット50を組み合わせてピックアップ装置を形成することは可能である。   When the back surface of the adhesive sheet 2 is brought into close contact with the guide surface 7 and restrained, this is confirmed by a negative pressure sensor (not shown), and the position of the semiconductor chip 1 is detected by an image position detecting means (not shown). . Next, the collet 50 is lowered, the semiconductor chip 1 is vacuum-adsorbed on the exposed surface 71 of the porous sintered metal body 70, and at the same time the pickup needle 10 is raised, the tip abuts against the back surface of the adhesive sheet 2, and the semiconductor chip 1 is attached. While pushing up, the collet 50 is once lifted, and the semiconductor chip 1 is peeled off from the adhesive sheet 2. Thereafter, the collet 50 itself rises while holding the semiconductor chip 1 by suction, whereby the semiconductor chip 1 is picked up. The pick-up needle 10 of this example is designed not to make a hole in the pressure-sensitive adhesive sheet 2 when the semiconductor chip 1 is pushed up. Even if the pickup needle has a mode in which a hole is formed in the adhesive sheet 2 when the semiconductor chip 1 is pushed up, the pickup device can be formed by combining the collet 50 of this example.

この半導体チップ1のピックアップ動作においては、該半導体チップ1はコレット50を形成するコレット本体60の凹部64に圧入固定された多孔質焼結金属体70の露呈面71で吸着保持されるので、該半導体チップ1にはその全面にわたって均等な吸着力が作用するので、該半導体チップ1には吸着反りなどの不都合は生じることがない。また、半導体チップ1は、多孔質焼結金属体70の露呈面71で吸着保持されるので、例えば多孔質焼結金属体70の露呈面71の寸法(径)よりも小さな寸法の半導体チップ1をも吸着保持することができ、種々の寸法の半導体チップ1に応じたコレットを製作する必要がないという経済性の面での利点も有する。   In the pick-up operation of the semiconductor chip 1, the semiconductor chip 1 is adsorbed and held by the exposed surface 71 of the porous sintered metal body 70 press-fitted and fixed to the concave portion 64 of the collet body 60 that forms the collet 50. Since uniform suction force acts on the entire surface of the semiconductor chip 1, there is no inconvenience such as suction warpage in the semiconductor chip 1. Moreover, since the semiconductor chip 1 is adsorbed and held on the exposed surface 71 of the porous sintered metal body 70, the semiconductor chip 1 having a size smaller than the size (diameter) of the exposed surface 71 of the porous sintered metal body 70, for example. Can also be adsorbed and held, and there is an advantage in terms of economy that it is not necessary to manufacture a collet according to the semiconductor chip 1 of various dimensions.

尚、コレット本体60は、例えば図4に示すように、多孔質焼結金属体70の凹部64からの脱落を防止すべく当該凹部64の開口縁83においてコレット本体60に設けられたかしめ部67を有し、当該かしめ部67により凹部64に圧入固定された多孔質焼結金属体70の露呈面71の周縁部に機械的固定を加えてもよく、斯かる場合には、該多孔質焼結金属体70の底面81に対面する上面は残部63に当接していることから、該多孔質焼結金属体70はより強固に凹部64に固定され、該多孔質焼結金属体70の凹部64からの抜け出し等の不具合を生じることをなくすことができる。   For example, as shown in FIG. 4, the collet main body 60 has a caulking portion 67 provided on the collet main body 60 at the opening edge 83 of the concave portion 64 in order to prevent the porous sintered metal body 70 from falling off the concave portion 64. And may be mechanically fixed to the peripheral portion of the exposed surface 71 of the porous sintered metal body 70 that is press-fitted and fixed to the recess 64 by the caulking portion 67. Since the upper surface of the sintered metal body 70 facing the bottom surface 81 is in contact with the remaining portion 63, the porous sintered metal body 70 is more firmly fixed to the concave portion 64, and the concave portion of the porous sintered metal body 70 is It is possible to eliminate problems such as coming out of 64.

本例のコレット50は、上記したニードル突き上げ方式の他に、近年開発されているニードルレスピックアップ方式(特許文献2参照)、同低粘着フィルム方式(特許文献3参照)、同多段突き上げピックアップ方式(特許文献4参照)にも適用可能である。   In addition to the needle push-up method described above, the collet 50 of the present example includes a needleless pickup method (see Patent Document 2), a low adhesion film method (see Patent Document 3), and a multi-stage push-up pickup method (see Patent Document 3) that have been developed in recent years. (See Patent Document 4).

本例のコレット50によれば、一端82に設けられた凹部64及び凹部64に連通した吸引孔61を有しているコレット本体60と、コレット本体60の凹部64に設けられていると共に当該コレット本体60の一端面66と面一である露呈面71を有した多孔質焼結金属体70とを具備しているために、例えば真空吸引機の吸引作動により、吸引孔61を介して多孔質焼結金属体70の露呈面71から粘着シート2に貼着された半導体チップ1を吸着保持してピックアップすることができ、このように吸着される半導体チップ1に均等な吸着力を作用させて、当該半導体チップ1の吸着反りをなくし得、また、多孔質焼結金属体70の露呈面71で半導体チップ1を吸着保持するために、種々の寸法の半導体チップ1を吸着することができ、例えばコレット50の吸引孔61の寸法(径)よりも小さい寸法の半導体チップ1であっても吸着保持をすることができ、半導体チップ1の種々の寸法に応じてコレット50を作製する必要をなくし得る。   According to the collet 50 of this example, the collet body 60 having the recess 64 provided at one end 82 and the suction hole 61 communicating with the recess 64, and the collet body 60 are provided in the recess 64 of the collet body 60. Since the porous sintered metal body 70 having the exposed surface 71 that is flush with the one end face 66 of the main body 60 is provided, the porous body is made porous through the suction hole 61 by, for example, a suction operation of a vacuum suction machine. The semiconductor chip 1 adhered to the pressure-sensitive adhesive sheet 2 can be picked up by holding from the exposed surface 71 of the sintered metal body 70, and an even suction force is applied to the semiconductor chip 1 thus sucked. In addition, it is possible to eliminate the adsorption warp of the semiconductor chip 1 and to adsorb and hold the semiconductor chip 1 on the exposed surface 71 of the porous sintered metal body 70, it is possible to adsorb the semiconductor chip 1 of various dimensions. For example, even the semiconductor chip 1 having a size smaller than the size (diameter) of the suction hole 61 of the collet 50 can be sucked and held, and there is no need to manufacture the collet 50 according to various dimensions of the semiconductor chip 1. obtain.

コレット50によれば、吸引孔61は、凹部64の底面81の一部62に連通しており、凹部64の底面81の前記一部62を除く残部63は、多孔質焼結金属体70に接しているために、例えば多孔質焼結金属体70を凹部64に圧入固定する際に当該多孔質焼結金属体70のコレット本体60に対する位置決めを簡単に行うことができ、而して、コレット本体60の一端面66と多孔質焼結金属体70の露呈面71とを簡単に面一にすることができる。   According to the collet 50, the suction hole 61 communicates with a part 62 of the bottom surface 81 of the recess 64, and the remaining part 63 except for the part 62 of the bottom surface 81 of the recess 64 is formed in the porous sintered metal body 70. For example, when the porous sintered metal body 70 is press-fitted and fixed in the recess 64, the porous sintered metal body 70 can be easily positioned with respect to the collet body 60. The one end surface 66 of the main body 60 and the exposed surface 71 of the porous sintered metal body 70 can be easily made flush.

コレット50によれば、コレット本体60は、多孔質焼結金属体70の凹部64からの脱落を防止すべく当該凹部64の開口縁83に設けられたかしめ部67を有しているために、多孔質焼結金属体70に対してコレット本体60のかしめによる機械的固定を加えることができて、多孔質焼結金属体70を凹部64により強固に固定することができ、例えば多孔質焼結金属体70が凹部64の底面81に接している場合には、当該多孔質焼結金属体70の露呈面71とコレット本体60の一端面66との面一の状態をより確実に維持することができる。   According to the collet 50, the collet body 60 has the caulking portion 67 provided at the opening edge 83 of the concave portion 64 in order to prevent the porous sintered metal body 70 from falling off the concave portion 64. Mechanical fixing by caulking of the collet body 60 can be applied to the porous sintered metal body 70, and the porous sintered metal body 70 can be firmly fixed by the recess 64, for example, porous sintering. When the metal body 70 is in contact with the bottom surface 81 of the concave portion 64, the state where the exposed surface 71 of the porous sintered metal body 70 and the one end surface 66 of the collet body 60 are flush with each other is more reliably maintained. Can do.

本発明の実施の形態の例のコレットを適用したピックアップ装置の縦断面説明図である。It is longitudinal section explanatory drawing of the pick-up apparatus to which the collet of the example of embodiment of this invention is applied. 図1に示す例のコレットを適用したピックアップ装置の縦断面説明図である。It is a longitudinal cross-sectional explanatory drawing of the pick-up apparatus to which the collet of the example shown in FIG. 1 is applied. 図1に示す例の縦断面説明図である。It is a longitudinal cross-sectional explanatory drawing of the example shown in FIG. 本発明の実施の形態の他の例の縦断面説明図である。It is a longitudinal cross-sectional explanatory drawing of the other example of embodiment of this invention. 従来のピックアップ装置の縦断面説明図である。It is longitudinal cross-sectional explanatory drawing of the conventional pick-up apparatus. 図5に示す例の縦断面説明図である。FIG. 6 is a longitudinal cross-sectional explanatory diagram of the example shown in FIG. 5.

符号の説明Explanation of symbols

50 コレット
60 コレット本体
61 吸引孔
64 凹部
70 多孔質焼結金属体
50 collet 60 collet body 61 suction hole 64 recess 70 porous sintered metal body

Claims (4)

一端に設けられた凹部及びこの凹部に連通した吸引孔を有しているコレット本体と、コレット本体の凹部に設けられていると共に当該コレット本体の一端面と面一である露呈面を有した多孔質焼結金属体とを具備しており、吸引孔は、凹部の底面の一部に連通しており、凹部の底面の前記一部を除く残部は、多孔質焼結金属体に接しており、コレット本体は、多孔質焼結金属体の凹部からの脱落を防止すべく当該凹部の開口縁においてコレット本体に設けられたかしめ部を有しており、コレット本体は、凹部の底面の一部を除く残部を規定する環状壁面と、凹部の周面を規定する円筒壁面とを有しており、多孔質焼結金属体は、コレット本体の環状壁面と円筒壁面とに接して凹部に設けられているコレット。 A collet body having a recess provided at one end and a suction hole communicating with the recess, and a porous body provided in the recess of the collet body and having an exposed surface flush with one end surface of the collet body The suction hole is in communication with a part of the bottom surface of the recess, and the remaining part of the bottom surface of the recess is in contact with the porous sintered metal body. The collet body has a crimped portion provided on the collet body at the opening edge of the concave portion to prevent the porous sintered metal body from falling off the concave portion, and the collet body is a part of the bottom surface of the concave portion. And the cylindrical wall surface defining the peripheral surface of the recess, and the porous sintered metal body is provided in the recess in contact with the annular wall surface and the cylindrical wall surface of the collet body. in which the collet. コレット本体は、機械構造用炭素鋼、ステンレス鋼及び純銅から選択されてなる請求項1に記載のコレット。   The collet according to claim 1, wherein the collet body is selected from carbon steel for mechanical structure, stainless steel, and pure copper. 多孔質焼結金属体は、無機物質粒子を1重量%以上5重量%以下の割合で含有する請求項1又は2に記載のコレット。   The collet according to claim 1 or 2, wherein the porous sintered metal body contains inorganic substance particles in a proportion of 1 wt% to 5 wt%. 無機物質粒子は、黒鉛、窒化ホウ素、フッ化黒鉛、フッ化カルシウム、酸化アルミニウム、酸化ケイ素及び炭化ケイ素のうちの少なくとも一つからなる請求項3に記載のコレット。   The collet according to claim 3, wherein the inorganic substance particles are made of at least one of graphite, boron nitride, graphite fluoride, calcium fluoride, aluminum oxide, silicon oxide, and silicon carbide.
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