JP4802520B2 - 固体撮像装置及びその製造方法 - Google Patents
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他のリセットトランジスタ、アンプトランジスタ、垂直選択トランジスタなどのトランジスタTr2は、一部図示せざるも同様に対のn+ソース・ドレイン領域14と、その間のp型半導体ウェル領域9上にゲート絶縁膜を介して形成したゲート電極15とにより形成される。
このCMOS固体撮像装置1は、半導体基板2の表面側から光LをフォトダイオードPDに入射し、フォトダイオードPD内において光電変換された受光量に応じた信号電荷(この例では電子)eをn+電荷蓄積領域6aに蓄積し、これより各MOSトランジスタTr1,Tr2による読出し回路を通じて読出すようになされる。
他のリセットトランジスタ、アンプトランジスタ、垂直選択トランジスタなどのトランジスタTr2は、一部図示せざるも同様に対のソース・ドレイン領域31、32と、その間のp型半導体ウェル領域24上にゲート絶縁膜を介して形成したゲート電極33とにより形成される。基板裏面側は、図示せざるも平坦化膜を兼ねる絶縁膜を介してカラーフィルタ及びオンチップマイクロレンズが形成される。
さらに、p型半導体ウェル領域46直下のn型半導体領域52c1を含む近傍領域から略横方向にn型電荷蓄積領域52aに向ってポテンシャルが深くなるようなポテンシャル分布を形成する。
Claims (8)
- 光電変換素子と複数のトランジスタからなる複数の画素と、
前記画素を分離する画素分離領域を有し、
前記複数のトランジスタは、半導体基板の一方の面に形成された第2導電型の半導体ウェル領域に形成され、
前記画素分離領域は、第2導電型の半導体領域で形成され、
前記光電変換素子は、前記半導体基板の一方の面から光が入射される他方の面に至り、かつ前記半導体ウェル領域の下まで延長する第1導電型の半導体領域で形成され、
前記第1導電型の半導体領域は、前記半導体基板の一方の面側に形成された電荷蓄積領域と、前記電荷蓄積領域から半導体基板の他方の面側に延長し、前記電荷蓄積領域より低不純物濃度の光電変換領域部とを有し、
前記半導体ウェル領域の下を除く前記光電変換領域部では、前記他方の面から前記電荷蓄積領域に向かってポテンシャルが深くなるポテンシャル分布を有し、
前記半導体ウェル領域の下の前記光電変換領域部では、前記他方の面から前記半導体ウェル領域の直下に向かってポテンシャルが深くなるポテンシャル分布を有し、
前記半導体ウェル領域の直下から前記電荷蓄積領域に向かってポテンシャルが深くなるポテンシャル分布を有し、
前記光電変換領域部で発生した電荷が前記ポテンシャル分布により、前記電荷蓄積領域に集められ、
裏面照射型に構成される
ことを特徴とする固体撮像装置。 - 前記ポテンシャル分布は、前記光電変換領域部の不純物濃度を前記電荷蓄積領域に向かって漸次あるいは段階的に高くして形成される
ことを特徴とする請求項1記載の固体撮像装置。 - 前記ポテンシャル分布は、前記光電変換領域部の不純物濃度を一定として、前記第2導電型の画素分離領域の不純物濃度を前記半導体基板における前記他方の面側から前記一方の面側に向かって漸次あるいは段階的に低くして形成される
ことを特徴とする請求項1記載の固体撮像装置。 - 前記電荷蓄積領域の不純物濃度を一定にし、前記電荷蓄積領域の表面に形成された第2導電型のアキューミュレーション層が、不純物濃度を、画素を構成する複数のトランジスタのうちの、電荷読み出しトランジスタに向かって低くして形成される
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 光電変換素子と複数のトランジスタからなる複数の画素と、前記画素を分離する画素分離領域を形成する工程を有し、
前記複数のトランジスタを、半導体基板の一方の面に形成した第2導電型の半導体ウェル領域に形成し、
前記画素分離領域を、第2導電型の半導体領域で形成し、
前記光電変換素子を、前記半導体基板の一方の面から光が入射される他方の面に至り、かつ前記半導体ウェル領域の下まで延長する第1導電型の半導体領域で形成し、
前記第1導電型の半導体領域を、前記半導体基板の一方の面側に形成する電荷蓄積領域と、前記電荷蓄積領域から半導体基板の他方の面側に延長し、前記電荷蓄積領域より低不純物濃度の光電変換領域部とにより形成し、
前記半導体ウェル領域の下を除く前記光電変換領域部では、前記他方の面から前記電荷蓄積領域に向かってポテンシャルが深くなるポテンシャル分布を形成し、
前記半導体ウェル領域の下の前記光電変換領域部では、前記他方の面から前記半導体ウェル領域の直下に向かってポテンシャルが深くなるポテンシャル分布を形成し、
前記半導体ウェル領域の直下から前記電荷蓄積領域に向かってポテンシャルが深くなるポテンシャル分布を形成し、
前記光電変換領域部で発生した電荷を、前記ポテンシャル分布により、前記電荷蓄積領域に集めるように形成し、
裏面照射型に形成する
ことを特徴とする固体撮像装置の製造方法。 - 前記ポテンシャル分布を、前記光電変換領域部の不純物濃度を前記電荷蓄積領域に向かって漸次あるいは段階的に高くして形成する
ことを特徴とする請求項5記載の固体撮像装置の製造方法。 - 前記ポテンシャル分布を、前記光電変換領域部の不純物濃度を一定として、前記第2導電型の画素分離領域の不純物濃度を前記半導体基板における前記他方の面側から前記一方の面側に向かって漸次あるいは段階的に低くして形成する
ことを特徴とする請求項5記載の固体撮像装置の製造方法。 - 前記電荷蓄積領域の不純物濃度を一定にし、前記電荷蓄積領域の表面に、不純物濃度を、画素を構成する複数のトランジスタのうちの、電荷読み出しトランジスタに向かって低くした第2導電型のアキューミュレーション層を形成する
ことを特徴とする請求項5乃至7のいずれかに記載の固体撮像装置の製造方法。
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