JP4800177B2 - レーザ光照射装置およびレーザ光照射方法 - Google Patents

レーザ光照射装置およびレーザ光照射方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4800177B2
JP4800177B2 JP2006294684A JP2006294684A JP4800177B2 JP 4800177 B2 JP4800177 B2 JP 4800177B2 JP 2006294684 A JP2006294684 A JP 2006294684A JP 2006294684 A JP2006294684 A JP 2006294684A JP 4800177 B2 JP4800177 B2 JP 4800177B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavefront shape
laser light
laser beam
unit
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006294684A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008112855A (ja
Inventor
宏典 高橋
正俊 藤本
紳一郎 青島
陽一 河田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP2006294684A priority Critical patent/JP4800177B2/ja
Publication of JP2008112855A publication Critical patent/JP2008112855A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4800177B2 publication Critical patent/JP4800177B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Lasers (AREA)

Description

本発明は、レーザ光発生部から出力されたレーザ光を集光部により集光して所定位置に集光照射する装置および方法に関するものである。
レーザ光発生部から出力されたレーザ光を集光部により集光して所定位置に集光照射する技術は、該所定位置に配置された加工対象物を加工する際に用いられ、例えば、加工対象物を切削したり、或いは、高速粒子発生ターゲットから高速粒子を発生させたりすることができる。このような技術において、レーザ光の集光スポット径を小さくして当該集光スポットにおける光強度を高めるには、集光部として一般的に用いられる軸外し放物面鏡の反射面の加工精度が高いことが要求され、また、レーザ光発生部から出力されるレーザ光の波面形状が平坦であることが要求される。
しかし、実際には、軸外し放物面鏡の反射面の加工精度は必ずしも高くなく、また、レーザ光の波面形状は必ずしも平坦ではない。そこで、これらのことを考慮して、特許文献1に開示された技術は、レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を調整した後に、該レーザ光を集光部により集光して所定位置に集光照射するものであり、このようにすることにより、レーザ光の集光スポット径を小さくして当該集光スポットにおける光強度を高めることを意図している。
特開2004−198373号公報
しかしながら、上記特許文献1に開示された技術では、レーザ光照射の途中において、レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状が変化した場合に、レーザ光の波面形状の調整量を変更することができず、それ故、レーザ光の集光スポット径が大きくなることがある。
本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、レーザ光照射の途中でレーザ光の波面形状が変化した場合においてもレーザ光の集光スポット径を小さく維持することができるレーザ光照射装置およびレーザ光照射方法を提供することを目的とする。
本発明に係るレーザ光照射装置は、(1) レーザ光を出力するレーザ光発生部と、(2) このレーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を調整する波面形状調整部と、(3) この波面形状調整部により波面形状が調整された後のレーザ光を2分岐して第1レーザ光および第2レーザ光として出力する分岐部と、(4) この分岐部から出力された第1レーザ光を集光して所定位置に集光照射する集光部と、(5) 光出射位置が所定位置と一致するように配置され、光出射位置から基準レーザ光を出力する点光源と、(6) 点光源から出力されて集光部を経た基準レーザ光の波面形状を取得するとともに、分岐部から出力された第2レーザ光の波面形状を取得する波面形状取得部と、(7) 波面形状取得部により取得された基準レーザ光の波面形状および第2レーザ光の波面形状に基づいて、波面形状調整部におけるレーザ光の波面形状の調整を制御する制御部と、を備えることを特徴とする。
本発明に係るレーザ光照射方法は、レーザ光発生部から出力されたレーザ光を集光部により集光して所定位置に集光照射する方法であって、(1) 点光源の光出射位置が所定位置と一致するように点光源を配置して、点光源から出力されて集光部を経た基準レーザ光の波面形状を取得する基準光波面形状取得ステップと、(2) レーザ光発生部と集光部との間の光路上に配置された分岐部により、レーザ光発生部から出力されたレーザ光を2分岐して第1レーザ光および第2レーザ光とし、第1レーザ光を分岐部から集光部へ出力するとともに、第2レーザ光の波面形状を取得するレーザ光波面形状取得ステップと、(3) レーザ光発生部と分岐部との間の光路上に配置された波面形状調整部により、基準光波面形状取得ステップで取得した基準レーザ光の波面形状、および、レーザ光波面形状取得ステップで取得した第2レーザ光の波面形状に基づいて、レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を調整するレーザ光波面形状調整ステップと、を備えることを特徴とする。
本発明に係るレーザ光照射装置またはレーザ光照射方法では、レーザ光発生部からのレーザ光出力に先立って、基準光波面形状取得ステップにおいて、点光源の光出射位置が所定位置と一致するように点光源が配置されて、点光源から出力されて集光部を経た基準レーザ光の波面形状が波面形状取得部により取得される。その後、レーザ光波面形状取得ステップにおいて、レーザ光発生部からレーザ光が出力され、そのレーザ光が分岐部により2分岐されて第1レーザ光および第2レーザ光とされ、そのうち、第1レーザ光は集光部により集光され、第2レーザ光の波面形状は波面形状取得部により取得される。また、レーザ光波面形状調整ステップにおいて、基準光波面形状取得ステップで取得した基準レーザ光の波面形状、および、レーザ光波面形状取得ステップで取得した第2レーザ光の波面形状に基づいて、レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状が波面形状調整部により調整される。
レーザ光照射の途中において、レーザ光発生部からの出力直後のレーザ光の波面形状の歪みが変化した場合であっても、レーザ光波面形状取得ステップおよびレーザ光波面形状調整ステップの各処理が繰り返して行われることにより、波面形状調整部によりレーザ光に与えられる付加歪みが制御されてレーザ光の波面形状が調整される。このように調整されることで、集光部により集光される第1レーザ光は、理想に近い波面形状を有する収斂光のまま維持され、集光スポット径が小さいまま維持され得る。
本発明に係るレーザ光照射装置では、制御部は、波面形状取得部により取得された基準レーザ光の波面形状に対して、波面形状取得部により取得された第2レーザ光の波面形状が反転関係になるように、波面形状調整部におけるレーザ光の波面形状の調整を制御するのが好適である。また、本発明に係るレーザ光照射方法は、レーザ光波面形状調整ステップにおいて、基準光波面形状取得ステップで取得した基準レーザ光の波面形状に対して、レーザ光波面形状取得ステップで取得した第2レーザ光の波面形状が反転関係になるように、レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を波面形状調整部により調整するのが好適である。
本発明に係るレーザ光照射装置は、点光源から出力されて集光部を経た基準レーザ光の光路上に設けられた位相共役鏡を更に備え、波面形状取得部は、位相共役鏡を経た基準レーザ光の波面形状を取得し、制御部は、波面形状取得部により取得された基準レーザ光の波面形状に対して、波面形状取得部により取得された第2レーザ光の波面形状が一致するように、波面形状調整部におけるレーザ光の波面形状の調整を制御するのが好適である。また、本発明に係るレーザ光照射方法は、基準光波面形状取得ステップにおいて、点光源から出力されて集光部および位相共役鏡を経た基準レーザ光の波面形状を取得し、レーザ光波面形状調整ステップにおいて、基準光波面形状取得ステップで取得した基準レーザ光の波面形状に対して、レーザ光波面形状取得ステップで取得した第2レーザ光の波面形状が一致するように、レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を波面形状調整部により調整するのが好適である。
本発明に係るレーザ光照射装置では、波面形状取得部は、基準レーザ光の波面形状および第2レーザ光の波面形状の双方を取得する共通の波面センサを含むのが好適である。また、本発明に係るレーザ光照射方法は、基準光波面形状取得ステップにおいて基準レーザ光の波面形状を取得する際、および、レーザ光波面形状取得ステップにおいて第2レーザ光の波面形状を取得する際に、共通の波面センサを用いるのが好適である。
本発明に係るレーザ光照射装置では、波面形状取得部は、基準レーザ光の波面形状を取得する第1波面センサと、第2レーザ光の波面形状を取得する第2波面センサと、を含むのが好適である。また、本発明に係るレーザ光照射方法は、基準光波面形状取得ステップにおいて基準レーザ光の波面形状を取得する際に第1波面センサを用い、レーザ光波面形状取得ステップにおいて第2レーザ光の波面形状を取得する際に第2波面センサを用いるのが好適である。
本発明に係るレーザ加工方法は、上記の本発明に係るレーザ光照射方法を用い、集光部により集光されたレーザ光を加工対象物に照射して該加工対象物を加工することを特徴とする。このレーザ加工方法によれば、レーザ光照射の途中において集光スポット径が小さいまま安定して維持され得るので、加工対象物の加工が効率的に行われ得る。
本発明によれば、レーザ光照射の途中でレーザ光の波面形状が変化した場合においても、レーザ光の集光スポット径を小さく維持することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一または同等の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
(第1実施形態)
先ず、本発明に係るレーザ光照射装置およびレーザ光照射方法の第1実施形態について説明する。図1および図2は、第1実施形態に係るレーザ光照射装置1の構成図である。図1はレーザ光照射前の構成を示し、図2はレーザ光照射時の構成を示す。これらの図に示されるレーザ光照射装置1は、加工対象物9にレーザ光を集光照射して該加工対象物9を加工するものであって、レーザ光発生部10、波面形状調整部20、分岐部30、集光部40、波面形状取得部50、制御部61、点光源70および反射鏡80を備える。
レーザ光照射前(図1)には、レーザ光集光位置に加工対象物9が配置されず、これに替えて点光源70が配置され、また、レーザ光の光路上に反射鏡80が配置される。一方、レーザ光照射時(図2)には、レーザ光集光位置に加工対象物9が配置され、レーザ光の光路上の反射鏡80が取り除かれる。なお、レーザ光照射前(図1)およびレーザ光照射時(図2)を通じて、レーザ光発生部10、波面形状調整部20、分岐部30、集光部40および波面形状取得部50の間の相対的位置関係は固定されている。
レーザ光発生部10は、加工対象物9に照射すべきレーザ光Lを出力するものであり、好適には、Tiサファイア結晶をレーザ媒質として有しピーク出力パワーがTW級のパルスレーザ光を出力するものである。
波面形状調整部20は、レーザ光発生部10から出力されたレーザ光Lを分岐部30へ反射させる際に、当該反射面の形状に応じて、レーザ光Lの波面形状を調整するものである。この波面形状調整部20は、好適には、バイモルフ型のデフォーマブルミラーであって、薄い反射面の下部に複数のアクチュエータが2次元的に配置されていて、各アクチュエータが駆動されることで反射面の形状が変形される。例えば、アクチュエータの個数が31個であり、アパーチャ径が50mmであり、各アクチュエータのストロークが20μm(ピーク・バレイ)である。
分岐部30は、レーザ光照射時(図2)には、波面形状調整部20により反射されて波面形状が調整された後のレーザ光Lを入力し、このレーザ光Lを2分岐して第1レーザ光Lおよび第2レーザ光Lとして、第1レーザ光Lを集光部40へ出力し、第2レーザ光Lを波面形状取得部50へ出力する。分岐部30は、好適にはビームスプリッタであって、入力レーザ光Lを高反射率(例えば99%)で反射させたものを第1レーザ光Lとし、入力レーザ光Lを低透過率(例えば1%)で透過させたものを第2レーザ光Lとする。また、集光部40は、レーザ光照射時(図2)には、分岐部30から出力された第1レーザ光Lを集光して所定位置に集光照射する。この集光部40は、好適には軸外し放物面鏡である。
点光源70は、レーザ光照射前(図1)に用いられるものであって、光出射位置71が所定位置(集光部40による第1レーザ光Lの集光位置)と一致するように配置され、光出射位置71から基準レーザ光Lを出力する。点光源70の光出射位置71において光が出射される領域の面積は、集光部40による第1レーザ光Lの集光スポット径の目標値と同程度またはこれ以下であるのが好ましい。また、点光源70から出力される基準レーザ光Lの波長は、レーザ光発生部10から出力されるレーザ光Lの波長と同程度であるのが好ましい。
点光源70は、好適にはレーザダイオード72および光ファイバ73を含んで構成される。光ファイバ73の一端は、レーザダイオード72に光学的に接続されていて、レーザダイオード72から出力された基準レーザ光Lを入力する。一方、光ファイバ73の他端は、点光源70の光出射位置71に配置され、一端に入力され光ファイバ73により導波されて到達した基準レーザ光Lを外部へ出力する。光ファイバ73は、コア径が小さい単一モード光ファイバであるのが好適である。
集光部40は、レーザ光照射前(図1)には、点光源70の光出射位置71から発散して出力された基準レーザ光Lを平行光として、その平行光とした基準レーザ光Lを分岐部30へ出力する。また、分岐部30は、レーザ光照射前(図1)には、集光部40により平行光とされて出力された基準レーザ光Lを入力して、その基準レーザ光Lの大部分を反射鏡80へ反射し、また、反射鏡80から到達した基準レーザ光Lの一部を波面形状取得部50へ透過させる。
反射鏡80は、レーザ光照射前(図1)に用いられるものであって、波面形状調整部20と分岐部30との間の光路上に配置され、分岐部30から到達した基準レーザ光Lを分岐部30へ反射させる。この反射鏡80における基準レーザ光Lの入射方向と反射方向とは互いに等しい。この反射鏡80の反射面は、平面であり、高い精度の平坦度を有する。
波面形状取得部50は、レーザ光照射前(図1)には、分岐部30から到達した基準レーザ光Lを入力して、この入力した基準レーザ光Lの波面形状を取得する。また、波面形状取得部50は、レーザ光照射時(図2)には、分岐部30から到達した第2レーザ光Lを入力し、この第2レーザ光Lの波面形状を取得する。この波面形状取得部50は、基準レーザ光Lの波面形状および第2レーザ光Lの波面形状の双方を取得する共通の波面センサを含み、好適にはシャックハートマン型の波面センサを含む。
制御部61は、波面形状取得部50により取得された基準レーザ光Lおよび第2レーザ光Lそれぞれの波面形状に基づいて、波面形状調整部20におけるレーザ光Lの波面形状の調整を制御する。また、制御部61は、レーザ光発生部10からのレーザ光Lの出力の動作を制御し、点光源70からの基準レーザ光Lの出力の動作を制御する。
次に、第1実施形態に係るレーザ光照射装置1の動作について説明するとともに、第1実施形態に係るレーザ光照射方法について説明する。図3は、第1実施形態に係るレーザ光照射方法を説明するフローチャートである。第1実施形態に係るレーザ光照射方法は、基準光波面形状取得ステップS1,レーザ光波面形状取得ステップS2およびレーザ光波面形状調整ステップS3を備える。
基準光波面形状取得ステップS1は、レーザ光照射前(図1)に行われる処理である。また、レーザ光波面形状取得ステップS2およびレーザ光波面形状調整ステップS3は、レーザ光照射時(図2)に行われる処理であり、ステップS4においてレーザ光照射が終了したと判断されるまで繰返し行われる。
基準光波面形状取得ステップS1では、レーザ光照射前(図1)のレーザ光照射装置1の構成において、点光源70の光出射位置71が所定位置(集光部40による第1レーザ光Lの集光位置)と一致するように点光源70が配置され、また、波面形状調整部20と分岐部30との間の光路上に反射鏡80が配置される。点光源70の光出射位置71から発散して出力された基準レーザ光Lは、集光部40により平行光とされた後に分岐部30に入力される。集光部40から分岐部30に入力された基準レーザ光Lのうち、分岐部30における反射,反射鏡80における反射および分岐部30における透過を順に経た基準レーザ光Lは、波面形状取得部50に入力されて、この波面形状取得部50により波面形状が取得される。この取得された基準レーザ光Lの波面形状のデータは、制御部61へ送られて、制御部61において記憶される。
レーザ光波面形状取得ステップS2では、レーザ光照射時(図2)のレーザ光照射装置1の構成において、所定位置(集光部40による第1レーザ光Lの集光位置)に囲う対象物9が配置され、また、反射鏡80が光路上から取り除かれる。レーザ光発生部10から出力されたレーザ光Lは、波面形状調整部20の反射面において反射された後に分岐部30に入力され、この分岐部30により第1レーザ光Lおよび第2レーザ光Lとされて出力される。分岐部30から出力された第1レーザ光Lは、集光部40の反射面において反射されて所定位置に集光される。この第1レーザ光Lは、加工対象物9の加工に用いられる。一方、分岐部30から出力された第2レーザ光Lは、波面形状取得部50に入力されて、その波面形状が波面形状取得部50により取得される。この取得された第2レーザ光Lの波面形状のデータは制御部61へ送られる。
レーザ光波面形状調整ステップS3では、レーザ光照射時(図2)のレーザ光照射装置1の構成において、制御部61による制御の下、基準光波面形状取得ステップS1で取得した基準レーザ光Lの波面形状、および、レーザ光波面形状取得ステップS2で取得した第2レーザ光Lの波面形状に基づいて、レーザ光発生部10から出力されたレーザ光Lの波面形状が波面形状調整部20により調整される。
以下では、基準光波面形状取得ステップS1における基準レーザ光Lの波面形状の取得、レーザ光波面形状取得ステップS2における第2レーザ光Lの波面形状の取得、および、レーザ光波面形状調整ステップS3におけるレーザ光Lの波面形状の調整について、更に詳細に説明する。
基準光波面形状取得ステップS1において、点光源70の光出射位置71が所定位置と一致するように点光源70が配置され、また、反射鏡80が光路上に配置されて、点光源70の光出射位置71から出力されて集光部40を経た基準レーザ光Lの波面形状が波面形状取得部50により取得される。点光源70の光出射位置71から出力されて集光部40に到達するまでの基準レーザ光Lは、理想に近い発散光であり、理想に近い球面波の波面形状を有している。そして、集光部40の反射面が理想的な放物面であれば、集光部40により平行光とされた基準レーザ光Lの波面形状は平坦なものとなる。しかし、集光部40の反射面が理想的な放物面に対して歪みを有していれば、集光部40により平行光とされた基準レーザ光Lの波面形状は歪みを有するものとなる。このとき、基準レーザ光Lの波面形状の歪みは、集光部40の反射面の歪みに応じたものである。したがって、波面形状取得部50により取得される基準レーザ光Lの波面形状は、集光部40の反射面の歪みを表している。
レーザ光波面形状取得ステップS2において、反射鏡80が光路上から取り除かれ、レーザ光発生部10からレーザ光Lが出力され、分岐部30によりレーザ光Lが2分岐されて出力された第2レーザ光Lの波面形状が波面形状取得部50により取得される。レーザ光発生部10から出力された直後のレーザ光Lの波面形状は歪みを有している場合がある。波面形状調整部20の反射面において反射された後のレーザ光Lの波面形状は、レーザ光発生部10からの出力直後のレーザ光Lの波面形状の歪み(以下「初期歪み」という。)と、波面形状調整部20の反射面の形状に応じて加えられる波面形状の歪み(以下「付加歪み」という。)と、の和となる。
分岐部30から出力される第1レーザ光Lおよび第2レーザ光Lそれぞれの波形形状は、波面形状調整部20の反射面において反射された後のレーザ光Lの波面形状と等しい。したがって、分岐部30から集光部40へ伝播する間の第1レーザ光Lの波面形状は、初期歪みと付加歪みとの和で表される歪みを有している。また、波面形状取得部50により取得される第2レーザ光Lの波面形状も、初期歪みと付加歪みとの和で表される歪みを有している。
ここで、分岐部30から集光部40へ伝播する間の第1レーザ光Lの波面形状が、集光部40から分岐部30へ伝播する間の基準レーザ光Lの波面形状と一致していれば、集光部40の反射面において反射された後の第1レーザ光Lは、点光源70の光出射位置71から出力されて集光部40に到達するまでの基準レーザ光Lの波面形状と等しい理想に近い波面形状を有し、理想に近い収斂光となることができる。ただし、分岐部30と集光部40との間において、第1レーザ光Lの伝播方向と基準レーザ光Lの伝播方向とは互いに逆である。
以上のことから、基準光波面形状取得ステップS1において波面形状取得部50により取得された基準レーザ光Lの波面形状に対して、レーザ光波面形状取得ステップS2において波面形状取得部50により取得される第2レーザ光Lの波面形状の凹凸が反転関係になるようにすれば、分岐部30と集光部40との間において第1レーザ光Lの波面形状と基準レーザ光Lの波面形状とは互いに一致することができ、ひいては、集光部40の反射面において反射された後の第1レーザ光Lは、理想に近い波面形状を有する収斂光となることができる。
そこで、レーザ光波面形状調整ステップS3では、制御部61による制御の下、基準光波面形状取得ステップS1において波面形状取得部50により取得された基準レーザ光Lの波面形状に対して、レーザ光波面形状取得ステップS2において波面形状取得部50により取得された第2レーザ光Lの波面形状の凹凸が反転関係になるように、波面形状調整部20における反射の際にレーザ光Lに与えられる付加歪みが制御されて、当該反射後のレーザ光Lの波面形状が調整される。このように調整されることで、集光部40の反射面において反射された後の第1レーザ光Lは、理想に近い波面形状を有する収斂光となることができ、集光スポット径が小さいものとなることができる。
また、レーザ光照射の途中(すなわち、ステップS2〜S4からなるループ処理の途中)において、レーザ光発生部10からの出力直後のレーザ光Lの波面形状の歪み(初期歪み)が変化した場合であっても、レーザ光波面形状取得ステップS2およびレーザ光波面形状調整ステップS3の各処理が繰り返して行われることにより、波面形状調整部20における反射の際にレーザ光Lに与えられる付加歪みが制御されて、当該反射後のレーザ光Lの波面形状が調整される。このように調整されることで、集光部40の反射面において反射された後の第1レーザ光Lは、理想に近い波面形状を有する収斂光のまま維持され、集光スポット径が小さいまま維持され得る。
(第2実施形態)
次に、本発明に係るレーザ光照射装置およびレーザ光照射方法の第2実施形態について説明する。図4および図5は、第2実施形態に係るレーザ光照射装置2の構成図である。図4はレーザ光照射前の構成を示し、図5はレーザ光照射時の構成を示す。これらの図に示されるレーザ光照射装置2は、加工対象物9にレーザ光を集光照射して該加工対象物9を加工するものであって、レーザ光発生部10、波面形状調整部20、分岐部30、集光部40、波面形状取得部50、制御部62、点光源70および位相共役鏡82を備える。
図1および図2に示された第1実施形態に係るレーザ光照射装置1の構成と比較すると、図4および図5に示される第2実施形態に係るレーザ光照射装置2は、反射鏡80に替えて位相共役鏡82を備える点で相違し、また、制御部61に替えて制御部62を備える点で相違する。また、第1実施形態に係るレーザ光照射方法と比較すると、第2実施形態に係るレーザ光照射方法は、位相共役鏡82および制御部62それぞれの動作の点で相違するものの、図3に示されたフローチャートに従う。
レーザ光照射前(図4)には、レーザ光集光位置に加工対象物9が配置されず、これに替えて点光源70が配置され、また、レーザ光の光路上に位相共役鏡82が配置される。一方、レーザ光照射時(図5)には、レーザ光集光位置に加工対象物9が配置され、レーザ光の光路上の位相共役鏡82が取り除かれる。なお、レーザ光照射前(図4)およびレーザ光照射時(図5)を通じて、レーザ光発生部10、波面形状調整部20、分岐部30、集光部40および波面形状取得部50の間の相対的位置関係は固定されている。
位相共役鏡82は、レーザ光照射前(図4)に用いられるものであって、波面形状調整部20と分岐部30との間の光路上に配置され、分岐部30から到達した基準レーザ光Lを分岐部30へ反射させる。位相共役鏡82では、入射光および反射光それぞれの主光線が互いに一致し、伝播方向について見たとき入射光および反射光それぞれの波面形状の凹凸が互いに反転関係にある。
したがって、制御部62は、基準光波面形状取得ステップS1において波面形状取得部50により取得された基準レーザ光Lの波面形状に対して、レーザ光波面形状取得ステップS2において波面形状取得部50により取得された第2レーザ光Lの波面形状が一致するように、レーザ光波面形状調整ステップS3において波面形状調整部20におけるレーザ光Lの波面形状の調整を制御すればよい。
このように制御部62が制御を行うことにより、集光部40の反射面において反射された後の第1レーザ光Lは、理想に近い波面形状を有する収斂光となることができ、集光スポット径が小さいものとなることができる。また、レーザ光照射の途中において、レーザ光発生部10からの出力直後のレーザ光Lの波面形状の歪み(初期歪み)が変化した場合であっても、集光部40の反射面において反射された後の第1レーザ光Lは、理想に近い波面形状を有する収斂光のまま維持され、集光スポット径が小さいまま維持され得る。
(第3実施形態)
次に、本発明に係るレーザ光照射装置およびレーザ光照射方法の第3実施形態について説明する。図6および図7は、第3実施形態に係るレーザ光照射装置3の構成図である。図6はレーザ光照射前の構成を示し、図7はレーザ光照射時の構成を示す。これらの図に示されるレーザ光照射装置3は、加工対象物9にレーザ光を集光照射して該加工対象物9を加工するものであって、レーザ光発生部10、波面形状調整部20、分岐部30、集光部40、波面形状取得部51、波面形状取得部52、制御部63および点光源70を備える。
図1および図2に示された第1実施形態に係るレーザ光照射装置1の構成と比較すると、図6および図7に示される第3実施形態に係るレーザ光照射装置3は、波面形状取得部50に替えて波面形状取得部51および波面形状取得部52を備える点で相違し、制御部61に替えて制御部63を備える点で相違し、また、反射鏡80を備えていない点で相違する。また、第1実施形態に係るレーザ光照射方法と比較すると、第3実施形態に係るレーザ光照射方法は、波面形状取得部51、波面形状取得部52および制御部63それぞれの動作の点で相違するものの、図3に示されたフローチャートに従う。
レーザ光照射前(図6)には、レーザ光集光位置に加工対象物9が配置されず、これに替えて点光源70が配置される。一方、レーザ光照射時(図7)には、レーザ光集光位置に加工対象物9が配置される。なお、レーザ光照射前(図6)およびレーザ光照射時(図7)を通じて、レーザ光発生部10、波面形状調整部20、分岐部30および集光部40の間の相対的位置関係は固定されている。
波面形状取得部51は、レーザ光照射前(図6)に用いられるものであって、点光源70の光出射位置71から出力され集光部40により平行光とされて分岐部30を透過した基準レーザ光Lを入力して、この入力した基準レーザ光Lの波面形状を取得する。
波面形状取得部52は、レーザ光照射時(図7)に用いられるものであって、レーザ光発生部10から出力され波面形状調整部20により反射されて分岐部30に入力されたレーザ光Lのうち、分岐部30を透過した第2レーザ光Lを入力して、この入力した第2レーザ光Lの波面形状を取得する。
なお、波面形状取得部51および波面形状取得部52それぞれは、好適にはシャックハートマン型の波面センサを含む。図6,図7に示すように、波面形状取得部51が基準レーザ光Lの波面形状を取得する第1波面センサを含み、これとは別個に、波面形状取得部52が第2レーザ光Lの波面形状を取得する第2波面センサを含む。また、波面形状取得部51および波面形状取得部52は、同時に用いられることはないので、レーザ光照射前(図6)およびレーザ光照射時(図7)が共通の波面センサを用いるようにしてもよく、この場合には、レーザ光照射前(図6)とレーザ光照射時(図7)とで1つの波面センサの配置が変更される。
制御部63は、基準光波面形状取得ステップS1において波面形状取得部51により取得された基準レーザ光Lの波面形状に対して、レーザ光波面形状取得ステップS2において波面形状取得部52により取得された第2レーザ光Lの波面形状の凹凸が反転関係になるように、レーザ光波面形状調整ステップS3において波面形状調整部20におけるレーザ光Lの波面形状の調整を制御する。
このように制御部63が制御を行うことにより、集光部40の反射面において反射された後の第1レーザ光Lは、理想に近い波面形状を有する収斂光となることができ、集光スポット径が小さいものとなることができる。また、レーザ光照射の途中において、レーザ光発生部10からの出力直後のレーザ光Lの波面形状の歪み(初期歪み)が変化した場合であっても、集光部40の反射面において反射された後の第1レーザ光Lは、理想に近い波面形状を有する収斂光のまま維持され、集光スポット径が小さいまま維持され得る。
また、第1実施形態および第2実施形態の場合と比較すると、この第3実施形態では、反射鏡80または位相共役鏡82が用いられないので、これらを移動させる手順が不要である点で好ましい。
(変形例等)
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を調整する波面形状調整部は、上記の各実施形態では反射時にレーザ光の波面形状を調整するものであったが、透過時にレーザ光の波面形状を調整するものであってもよく、例えば、反射型または透過型の位相変調型の空間光変調器が用いられてもよい。
基準レーザ光を出力する点光源は、上記の各実施形態ではレーザダイオードおよび光ファイバを含むものであったが、他の構成によるものであってもよく、例えば、ピンホールの背後に光源が配置された構成のものであってもよく、この場合にはピンホールの位置が点光源の光出射位置となる。
本発明に係るレーザ光照射装置またはレーザ光照射方法は、集光部により集光されたレーザ光を加工対象物に照射して該加工対象物を加工する際に好適に用いられる。このレーザ加工は、加工対象物に対して切削,切断,溶融,融着,アブレーション等を行うことだけでなく、パルスレーザ光を高速粒子発生ターゲットに集光照射することにより該高速粒子発生ターゲットから高速粒子を発生させることをも含む。
後者の高速粒子発生では、高速粒子発生ターゲットにパルスレーザ光が集光されて照射されることにより、ターゲット表面にレーザプラズマが生成され、このレーザプラズマから高エネルギー電子やイオンなどの高速粒子が生成される。さらに、高速粒子発生ターゲットから生成された高速粒子が放射性同位体生成材料に衝突することにより、原子核反応が起こって、種々の放射性同位体が得られる。このような高速粒子発生では、高速粒子発生ターゲット表面に対してパルスレーザ光が集光照射される際に、レーザ光発生部からの出力直後のレーザ光の波面形状の歪み(初期歪み)が変化した場合であっても、レーザ光照射期間に亘って安定して当該集光スポット径が微小であることが重要である。本発明に係るレーザ光照射装置またはレーザ光照射方法は、このような場合に好適に用いられ得る。
第1実施形態に係るレーザ光照射装置1の構成図である。 第1実施形態に係るレーザ光照射装置1の構成図である。 第1実施形態に係るレーザ光照射方法を説明するフローチャートである。 第2実施形態に係るレーザ光照射装置2の構成図である。 第2実施形態に係るレーザ光照射装置2の構成図である。 第3実施形態に係るレーザ光照射装置3の構成図である。 第3実施形態に係るレーザ光照射装置3の構成図である。
符号の説明
1〜3…レーザ光照射装置、10…レーザ光発生部、20…波面形状調整部、30…分岐部、40…集光部、50〜52…波面形状取得部、61〜63…制御部、70…点光源、71…光出射位置、72…レーザダイオード、73…光ファイバ、80…反射鏡、82…位相共役鏡。

Claims (11)

  1. レーザ光を出力するレーザ光発生部と、
    このレーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を調整する波面形状調整部と、
    この波面形状調整部により波面形状が調整された後のレーザ光を2分岐して第1レーザ光および第2レーザ光として出力する分岐部と、
    この分岐部から出力された第1レーザ光を集光して所定位置に集光照射する集光部と、
    光出射位置が前記所定位置と一致するように配置され、前記光出射位置から基準レーザ光を出力する点光源と、
    前記点光源から出力されて前記集光部を経た基準レーザ光の波面形状を取得するとともに、前記分岐部から出力された前記第2レーザ光の波面形状を取得する波面形状取得部と、
    前記波面形状取得部により取得された前記基準レーザ光の波面形状および前記第2レーザ光の波面形状に基づいて、前記波面形状調整部におけるレーザ光の波面形状の調整を制御する制御部と、
    を備えることを特徴とするレーザ光照射装置。
  2. 前記制御部が、前記波面形状取得部により取得された前記基準レーザ光の波面形状に対して、前記波面形状取得部により取得された前記第2レーザ光の波面形状が反転関係になるように、前記波面形状調整部におけるレーザ光の波面形状の調整を制御する、ことを特徴とする請求項1記載のレーザ光照射装置。
  3. 前記点光源から出力されて前記集光部を経た基準レーザ光の光路上に設けられた位相共役鏡を更に備え、
    前記波面形状取得部が、前記位相共役鏡を経た基準レーザ光の波面形状を取得し、
    前記制御部が、前記波面形状取得部により取得された前記基準レーザ光の波面形状に対して、前記波面形状取得部により取得された前記第2レーザ光の波面形状が一致するように、前記波面形状調整部におけるレーザ光の波面形状の調整を制御する、
    ことを特徴とする請求項1記載のレーザ光照射装置。
  4. 前記波面形状取得部が、前記基準レーザ光の波面形状および前記第2レーザ光の波面形状の双方を取得する共通の波面センサを含む、ことを特徴とする請求項1記載のレーザ光照射装置。
  5. 前記波面形状取得部が、前記基準レーザ光の波面形状を取得する第1波面センサと、前記第2レーザ光の波面形状を取得する第2波面センサと、を含むことを特徴とする請求項1記載のレーザ光照射装置。
  6. レーザ光発生部から出力されたレーザ光を集光部により集光して所定位置に集光照射する方法であって、
    点光源の光出射位置が前記所定位置と一致するように前記点光源を配置して、前記点光源から出力されて前記集光部を経た基準レーザ光の波面形状を取得する基準光波面形状取得ステップと、
    前記レーザ光発生部と前記集光部との間の光路上に配置された分岐部により、前記レーザ光発生部から出力されたレーザ光を2分岐して第1レーザ光および第2レーザ光とし、前記第1レーザ光を前記分岐部から前記集光部へ出力するとともに、前記第2レーザ光の波面形状を取得するレーザ光波面形状取得ステップと、
    前記レーザ光発生部と前記分岐部との間の光路上に配置された波面形状調整部により、前記基準光波面形状取得ステップで取得した前記基準レーザ光の波面形状、および、前記レーザ光波面形状取得ステップで取得した前記第2レーザ光の波面形状に基づいて、前記レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を調整するレーザ光波面形状調整ステップと、
    を備えることを特徴とするレーザ光照射方法。
  7. 前記レーザ光波面形状調整ステップにおいて、前記基準光波面形状取得ステップで取得した前記基準レーザ光の波面形状に対して、前記レーザ光波面形状取得ステップで取得した前記第2レーザ光の波面形状が反転関係になるように、前記レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を前記波面形状調整部により調整する、ことを特徴とする請求項6記載のレーザ光照射方法。
  8. 前記基準光波面形状取得ステップにおいて、前記点光源から出力されて前記集光部および位相共役鏡を経た基準レーザ光の波面形状を取得し、
    前記レーザ光波面形状調整ステップにおいて、前記基準光波面形状取得ステップで取得した前記基準レーザ光の波面形状に対して、前記レーザ光波面形状取得ステップで取得した前記第2レーザ光の波面形状が一致するように、前記レーザ光発生部から出力されたレーザ光の波面形状を前記波面形状調整部により調整する、
    ことを特徴とする請求項6記載のレーザ光照射方法。
  9. 前記基準光波面形状取得ステップにおいて前記基準レーザ光の波面形状を取得する際、および、前記レーザ光波面形状取得ステップにおいて前記第2レーザ光の波面形状を取得する際に、共通の波面センサを用いる、ことを特徴とする請求項6記載のレーザ光照射方法。
  10. 前記基準光波面形状取得ステップにおいて前記基準レーザ光の波面形状を取得する際に第1波面センサを用い、前記レーザ光波面形状取得ステップにおいて前記第2レーザ光の波面形状を取得する際に第2波面センサを用いる、ことを特徴とする請求項6記載のレーザ光照射方法。
  11. 請求項6〜10の何れか1項のレーザ光照射方法を用い、前記集光部により集光されたレーザ光を加工対象物に照射して該加工対象物を加工する、ことを特徴とするレーザ加工方法。
JP2006294684A 2006-10-30 2006-10-30 レーザ光照射装置およびレーザ光照射方法 Expired - Fee Related JP4800177B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006294684A JP4800177B2 (ja) 2006-10-30 2006-10-30 レーザ光照射装置およびレーザ光照射方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006294684A JP4800177B2 (ja) 2006-10-30 2006-10-30 レーザ光照射装置およびレーザ光照射方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008112855A JP2008112855A (ja) 2008-05-15
JP4800177B2 true JP4800177B2 (ja) 2011-10-26

Family

ID=39445210

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006294684A Expired - Fee Related JP4800177B2 (ja) 2006-10-30 2006-10-30 レーザ光照射装置およびレーザ光照射方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4800177B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5279004B2 (ja) * 2008-06-12 2013-09-04 一般財団法人電力中央研究所 高エネルギー粒子発生装置及び集光装置並びに高エネルギー粒子発生方法及び集光方法
JP5914742B2 (ja) * 2008-09-19 2016-05-11 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置用レーザ光源装置、及びレーザ光源装置
JP5833806B2 (ja) * 2008-09-19 2015-12-16 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置、極端紫外光源装置用レーザ光源装置及び極端紫外光源装置用レーザ光源の調整方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3260468B2 (ja) * 1992-10-06 2002-02-25 株式会社東芝 レーザ光制御装置
FR2753544B1 (fr) * 1996-09-17 1998-11-27 Thomson Csf Systeme de controle de faisceau lumineux
JPH11314184A (ja) * 1998-04-30 1999-11-16 Narukkusu Kk 光学素子加工装置
JP4531895B2 (ja) * 1999-12-06 2010-08-25 オリンパス株式会社 レーザ集光光学系及びそれを用いたレーザ走査型顕微鏡
JP4102180B2 (ja) * 2002-12-20 2008-06-18 浜松ホトニクス株式会社 高速粒子発生方法及び高速粒子発生装置
JP3951021B2 (ja) * 2003-03-28 2007-08-01 独立行政法人産業技術総合研究所 補償光学用参照点光源の作成法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008112855A (ja) 2008-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7102118B2 (en) Beam formation unit comprising two axicon lenses, and device comprising one such beam formation unit for introducing radiation energy into a workpiece consisting of a weakly-absorbent material
JP5789188B2 (ja) ビーム形成装置およびビーム形成方法
JP2020500810A5 (ja)
TW201215245A (en) Alignment of light source focus
JP2019527466A (ja) 多分割レンズ及びウェハをダイシングまたは切断するためのレーザー加工システム
TW200533451A (en) Apparatus for laser machining
CN106964893B (zh) 用于光学元件的激光预处理装置及处理方法
WO2005081372A2 (en) Laser multiplexing
US11347068B2 (en) Device and method for laser material processing
JP2014079802A (ja) レーザ加工方法およびレーザ光照射装置
KR100491558B1 (ko) 광 조사 장치와 광 조사 방법
JP2008055456A (ja) 半田付け方法および半田付け用レーザ装置
CN103212786A (zh) 激光加工装置及其方法
JP4800177B2 (ja) レーザ光照射装置およびレーザ光照射方法
JP2000299197A (ja) X線発生装置
US20200039005A1 (en) Device and method for laser-based separation of a transparent, brittle workpiece
JP2004198373A (ja) 高速粒子発生方法及び高速粒子発生装置
RU2383416C1 (ru) Устройство для лазерной обработки материалов
JP5357790B2 (ja) レーザ加工装置
JP2000263267A (ja) レーザ加工装置用ファイバ入射光学系
US11387618B2 (en) Laser beam irradiation apparatus and laser beam irradiation system
CN104503100A (zh) 基于光栅衍射的晶体自准直调整装置和方法
JP4333836B2 (ja) パルスレーザ加工装置
JP2019193944A (ja) レーザ加工装置
CN116880080B (zh) 超分辨光场调制方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090616

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110802

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110803

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110803

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140812

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4800177

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees