JP4786368B2 - マルチコラム用電子ビーム生成装置 - Google Patents

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Description

本発明は、電子ビーム生成装置に関し、特に、電子ビームを複数のコラムで使用するマルチコラム用電子ビーム生成装置に関する。
従来の電子線露光装置は、単一のコラム内で単一の加速電圧によって単一の電子線を発生するようになっている。そのため、描画スループットが遅いという欠点があった。
この欠点を解消するため、単一の加速電圧で加速された電子線を複数の電子線にして描画するマルチ電子線露光装置が検討されている。マルチ電子線露光装置により、同時に複数の描画パターンを試料上に照射することができ、スループットの向上を図っている。
これに関する技術として、特許文献1に、半導体素子等の生産速度を向上させるために、一つの電子ビームから複数の電子ビームを生成する電子ビーム生成装置が開示されている。
また、電子線露光装置においては、描画スループットの向上とともに、微細なパターンを精度良く描画できることが要求されている。
これに関する技術として特許文献2には、複数の電子ビームの特性をそれぞれ調節し、各電子ビームのスポット形状を精度よく揃える電子ビーム装置が開示されている。
また、特許文献3には、電子ビームの電流量を、セルフバイアス抵抗を用いて精度良く制御可能にし、安定したエミッション電流を供給する電子ビーム生成装置が開示されている。
図1は、特許文献3に開示されている、セルフバイアス抵抗を用いた電子ビーム生成装置の概略構成図を示している。電子ビーム生成装置は、熱電子を生成するカソード1、熱電子を集束させ、電子ビームを形成するグリッド2、カソード1を加熱し熱電子を生成させるフィラメント電流を生成するフィラメント電流源7、カソード1に電圧を印加して、熱電子を放出させるカソード電源4、カソード1の電位に対するグリッド2の電位を変化させるセルフバイアス抵抗3、カソード1と基準電位(アース電位)間の電圧を検出するカソード電圧検出部6、検出した電圧に基づいてカソード電源4がカソード1に印加する電圧を制御するカソード制御部5を備えている。
このように構成された電子ビーム生成装置において、カソード電源4に印加した電圧により、電子銃を構成するカソード1から放出された熱電子を加速させ、エミッション電流を発生させる。エミッション電流が、放電等により急激に変化すると、セルフバイアス抵抗3の両端に電位降下が発生する。この電位降下により、グリッド2の電位が変化し、エミッション電流の電流値の変化を抑制するようにしている。
特開2002−164009号公報 特開平5−251315号公報 特開2005−26241号公報
上記したように、エミッション電流の変化を抑制させるように制御し、エミッション電流を安定化するようにしている。しかし、特許文献3で開示されている技術はシングルコラム電子ビーム露光装置を対象としており、スループットの向上を目的としたマルチコラム電子ビーム露光装置におけるエミッション電流の変化を抑制する方式については検討されていない。従って、マルチコラム電子ビーム露光装置にシングルコラム電子ビーム露光装置における方式が適用可能か否かは明確ではない。
本発明は、かかる従来技術の課題に鑑みなされたものであり、目的は、エミッション電流の変化に対応し、安定した電子ビームを放出することができるように制御可能なマルチコラム用電子ビーム生成装置を提供することである。
上記した課題は、熱電子を発生させる複数のカソードと、前記複数のカソードに共通に設けられ、前記カソードに熱電子を加速させるための電圧を発生させる加速電圧源と、前記加速電圧源と前記複数のカソードとの間に共通に設けられ、前記複数のカソードからのエミッション電流に応じた電圧降下を生じさせるセルフバイアス抵抗と、前記複数のカソードの各々に設けられ、前記カソードから放出された前記熱電子を収束させて電子ビームを形成するグリッドと、前記グリッド毎に設けられ、前記グリッドと前記加速電圧源との間に接続されて前記グリッドに前記カソードの電位に対して負の電圧を印加するグリッド電圧源と、前記グリッド毎に設けられ、前記カソードとグリッドとの間の電圧を検出する電圧検出器と、前記グリッド毎に設けられ、前記電圧検出器の出力に基づいて前記カソードとグリッドとの間の電圧の変動を抑制するように前記グリッド電圧源の電圧を制御するグリッド電圧制御部と、前記グリッド毎に設けられ、前記グリッド電圧源と前記加速電圧源との間に接続されたグリッド抵抗と、前記グリッド毎に設けられ、前記グリッド電圧源の正極側と前記カソードとの間に接続されて前記グリッド電圧源側から前記カソード側に向かう方向の電流を選択的に通過させる電流方向規制素子と、を有するマルチコラム用電子ビーム生成装置により解決する。
本発明では、カソードとグリッド間の電圧が変動し、エミッション電流が変動したときに、グリッド電圧源の値をエミッション電流の変動を抑制するような値に調整している。この調整によってグリッド電流が変動するが、グリッド電圧源とカソードとの間にダイオードを接続することにより、グリッド電流がすべてのコラムに共通なセルフバイアス抵抗に流れないようにしている。これにより、カソードとグリッド間の電圧の変化を抑制させるようにグリッド電圧を変化させることが、各コラムで独立に行うことが可能となり、安定したエミッション電流を供給することが可能となる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
はじめに、本実施形態で使用するマルチコラム電子ビーム露光装置の構成について説明する。次に、マルチコラム用電子ビーム生成装置について説明する。最後に、シングルコラム用の電子ビーム生成装置をマルチコラム電子ビーム露光装置に適用した場合の比較例について説明する。
(マルチコラム電子ビーム露光装置の構成)
図2は、本実施形態に係るマルチコラム電子ビーム露光装置の概略構成図である。
マルチコラム電子ビーム露光装置は、電子ビームコラム10と電子ビームコラム10を制御する制御部20に大別される。このうち、電子ビームコラム10は、同等なコラムセル11が複数集まって、全体のコラムが構成されている。すべてのコラムセル11は後述する同じユニットで構成されている。コラムセル11の下には、例えば300mmウエハ12を搭載したウエハステージ13が配置されている。
一方、制御部20は、電子銃高圧電源21、レンズ電源22、デジタル制御部23、ステージ駆動コントローラ24及びステージ位置センサ25を有する。これらのうち、電子銃高圧電源21は電子ビームコラム10内の各コラムセル11の電子銃を駆動させるための電源を供給する。レンズ電源22は電子ビームコラム10内の各コラムセル11の電磁レンズを駆動させるための電源を供給する。デジタル制御部23は、コラムセル11各部をコントロールする電気回路であり、ハイスピードの偏向出力などを出力する。デジタル制御部23はコラムセル11の数に対応する分だけ用意される。ステージ駆動コントローラ24は、ステージ位置センサ25からの位置情報を基に、ウエハ12の所望の位置に電子ビームが照射されるようにウエハステージ13を移動させる。上記の各部21〜25は、ワークステーション等の統合制御系26によって統合的に制御される。
上述したマルチコラム電子ビーム露光装置では、すべてのコラムセル11は同じコラムユニットで構成されている。
図3は、マルチコラム電子ビーム露光装置に使用される各コラムセル11の構成図である。
各コラムセル11は、露光部100と、露光部100を制御するコラムセル制御部31とに大別される。このうち、露光部100は、電子ビーム生成部130、マスク偏向部140及び基板偏向部150によって構成される。
電子ビーム生成部130では、電子ビーム生成装置101の電子銃から発生した電子ビームEBが第1電磁レンズ102で収束作用を受けた後、ビーム整形用マスク103の矩形アパーチャ103aを透過し、電子ビームEBの断面が矩形に整形される。
その後、電子ビームEBは、マスク偏向部140の第2電磁レンズ105によって露光マスク110上に結像される。そして、電子ビームEBは、第1、第2静電偏向器104、106により、露光マスク110に形成された特定のパターンPに偏向され、その断面形状がパターンPの形状に整形される。
なお、露光マスク110はマスクステージ123に固定されるが、そのマスクステージ123は水平面内において移動可能であって、第1、第2静電偏向器104、106の偏向範囲(ビーム偏向領域)を超える部分にあるパターンPを使用する場合、マスクステージ123を移動することにより、そのパターンPをビーム偏向領域内に移動させる。
露光マスク110の上下に配された第3、第4電磁レンズ108、111は、それらの電流量を調節することにより、電子ビームEBを基板上で結像させる役割を担う。
露光マスク110を通った電子ビームEBは、第3、第4静電偏向器112、113の偏向作用によって光軸Cに振り戻された後、第5電磁レンズ114によってそのサイズが縮小される。
マスク偏向部140には、第1、第2補正コイル107、109が設けられており、それらにより、第1〜第4静電偏向器104、106、112、113で発生するビーム偏向収差が補正される。
その後、電子ビームEBは、基板偏向部150を構成する遮蔽板115のアパーチャ115aを通過し、第1、第2投影用電磁レンズ116、121によって基板上に投影される。これにより、露光マスク110のパターンの像が、所定の縮小率、例えば1/60の縮小率で基板に転写されることになる。
基板偏向部150には、第5静電偏向器119と電磁偏向器120とが設けられており、これらの偏向器119、120によって電子ビームEBが偏向され、基板の所定の位置に露光マスクのパターンの像が投影される。
更に、基板偏向部150には、基板上における電子ビームEBの偏向収差を補正するための第3、第4補正コイル117、118が設けられる。
一方、コラムセル制御部31は、電子銃制御部202、電子光学系制御部203、マスク偏向制御部204、マスクステージ制御部205、ブランキング制御部206及び基板偏向制御部207を有する。これらのうち、電子銃制御部202は、電子ビームEBの加速電圧やビーム放射条件等を制御する。また、電子光学系制御部203は、電磁レンズ102、105、108、111、114、116及び121への電流量等を制御して、これらの電磁レンズが構成される電子光学系の倍率や焦点位置等を調節する。ブランキング制御部206は、ブランキング電極127への印加電圧を制御することにより、露光開始前から発生している電子ビームEBを遮蔽板115上に偏向し、露光前に基板上に電子ビームEBが照射されるのを防ぐ。
基板偏向制御部207は、第5静電偏向器119への印加電圧と、電磁偏向器120への電流量を制御することにより、基板の所定の位置上に電子ビームEBが偏向されるようにする。上記の各部202〜207は、ワークステーション等の統合制御系26によって統合的に制御される。
(マルチコラム用電子ビーム生成装置)
図4は本発明に係るマルチコラム用電子ビーム生成装置101の概略構成図である。
マルチコラム用電子ビーム生成装置101は、すべてのコラムに共通な一つの加速電圧源41及び一つのセルフバイアス抵抗48と、各コラムのそれぞれに、カソード43、カソード電流源42、グリッド47、カソード−グリッド間電圧検出部44、グリッド電圧制御部45及びグリッド電圧源46とを備えている。
カソード電流源42は、カソード43にカソード電流を供給し、カソード43を加熱してカソード43に熱電子を発生させる。加速電圧源41は、すべてのコラムに共通の電圧源であり、カソード43に加速電圧を印加して、発生した熱電子をカソード43から放出させる。カソード43には放出した熱電子量に基づいたエミッション電流が流れる。カソード−グリッド間電圧検出部44は、カソード−グリッド間の電圧を検出し、電圧値をグリッド電圧制御部45に通知する。グリッド電圧制御部45は、通知されたカソード−グリッド間電圧値に基づいて、グリッド電圧源46がグリッド47に印加する電圧値を制御する。エミッション電流はすべてのコラムに共通のセルフバイアス抵抗48に流れ、セルフバイアス抵抗48はカソード43に印加された電圧を、セルフバイアス抵抗を流れるエミッション電流に基づいて電圧降下させ、グリッドに印加する。カソード43の電位に対するグリッド47の電位は、セルフバイアス抵抗48により生じた電圧降下、又は、グリッド電圧源46がグリッド47に印加する電圧に基づいて定まる。
以下に、図5を参照しながら、エミッション電流が変動した場合の動作について、(1)エミッション電流の変動が長期的な場合、及び(2)エミッション電流の変動が過渡的な場合について説明する。
(1)エミッション電流の変動が長期的な場合
図5は本発明に係るマルチコラム用電子ビーム生成装置の構成の一例を示す図である。本実施形態では、コラムが2つの場合について説明する。
マルチコラム用電子ビーム生成装置は、熱電子を発生させるカソード43と、カソード43にカソード電流を供給し、カソード43を加熱して熱電子を発生させるカソード電流源42と、カソード43に負電圧を印加して、カソード43から熱電子を放出させる加速電圧源41と、カソード43から放出された熱電子を集束させ、電子ビームを形成するグリッド47と、グリッド47にカソード43の電位に対して負電圧を印加した電位を与えるグリッド電圧源46と、カソード43とグリッド47間の電圧を検出するカソード−グリッド間電圧検出部44と、カソード−グリッド間電圧検出部44が検出したカソード−グリッド間電圧に基づいて、グリッド電圧源46がグリッド47に印加する電圧を制御するグリッド電圧制御部45と、エミッション電流の変化に基づいて、カソード43の電位に対するグリッド47の電位を変化させ、エミッション電流の変化を抑制するセルフバイアス抵抗48と、グリッド電圧源46の正極側(C点)をアノード側、電子銃のカソード電位点(A点)をカソード側として接続したダイオード57と、ダイオード57のアノード側(C点)と加速電圧源41の負極(D点)との間に接続したグリッド抵抗58とを備えている。
なお、図5のA点の電位は、すべてのコラムに共通なカソード電位であり、基準電位(アース電位)とA点との間の電圧を検出して常に一定のカソード電位(Vacc)になるように制御される。
また、上記カソード−グリッド間電圧検出部44、グリッド電圧制御部45、セルフバイアス抵抗48、ダイオード57及びグリッド抵抗58によって、グリッド電位を制御する制御回路が構成される。
エミッション電流の変動が長期的な場合とは、例えば、カソード等の劣化による電子ビームの変動であり、カソード−グリッド間電圧検出部44においてカソード−グリッド間電圧を検出し、グリッド電圧制御部45によりグリッド電圧源46を制御する場合である。
図5のコラム1において、カソード−グリッド間電圧検出部44によってカソード−グリッド間電圧を検出し、グリッド電圧制御部45において、検出した電圧が変動したと判定され、グリッド電圧源46の値を変化させたとする。グリッド電圧源46によって供給されるグリッド電流Ig1は、B点、C点を通り、ダイオード57を介してA点を通って、電子銃のカソード43に流れ、セルフバイアス抵抗48にはほとんど流れない。従って、カソード43からA点を通り、セルフバイアス抵抗48を流れるエミッション電流をIeとすると、加速電圧源41の負極側(D点)の電位は、Vacc−Rsb×Ieとなり、グリッド電流Ig1に依存しなくなる。
すなわち、カソード−グリッド間電圧検出部44によってカソード−グリッド間の電圧の変化を検出し、その変化を抑制させるようにグリッド電圧源46の値を変化させ、グリッド電流Ig1が変化しても、加速電圧源の負極側(D点)の電位は、Vacc−Rsb×Ieであり変化しない。よって、セルフバイアス抵抗48を流れる電流に変化がなく、コラム2のグリッド電圧源46aを変化させることはない。
従って、コラム1におけるグリッド電圧の調節を、コラム2に影響を与えることなく独立に行うことが出来る。
このように、エミッション電流の変動が長期的な場合に、各コラムで電子ビームの変動を調節することができ、安定したエミッション電流を供給することができる。
なお、セルフバイアス抵抗48に流れるグリッド電流は、ダイオード57の閾値電圧をVth、グリッド抵抗58の値をRg1とすれば、Vth/(Rg1+Rsb)であり、グリッド抵抗58の値Rg1を大きな値にすれば、グリッド電流を無視することができる。
また、本実施形態では、グリッド電圧を制御する制御回路にダイオード57を使用した構成について説明したが、電流方向を規制する素子であればダイオードに限らず、例えばバリスタを使用してもよい。
(2)エミッション電流の変動が過渡的な場合
エミッション電流の変動が過渡的な場合とは、例えば、コラム内で放電等が発生し、エミッション電流の変動が極短期間であり、グリッド電圧源の値を変化させることができない場合である。
図5のコラム1内で放電が発生したとし、エミッション電流がΔIeだけ増加したとすると、セルフバイアス抵抗48を流れる電流は、Ie+ΔIeとなる。カソード−グリッド間電圧検出部44が電圧の変化を検出したとしても、ΔIeだけ増加した時間が瞬間的であるため、ΔIeが発生している時間内にグリッド電圧を調節することはできない。
すなわち、コラム1で過渡的にエミッション電流が増加したときにセルフバイアス抵抗48を流れる電流がΔIe増え、加速電圧源の負極側(D点)の電位は、Vacc−Rsb×(Ie+ΔIe)となる。そして、ΔIeが発生している時間にグリッド電圧を一定にしようとするグリッド電圧制御部45による制御ができず、A点の電位がVaccで固定されているため、B点の電位は、−Vg−Rsb×ΔIeとなり、ΔIeを減少させようという働きが生じる。
この場合には、コラム1及びコラム2ともに、グリッド電圧の負極側(B点、E点)が、セルフバイアス抵抗48の両端に生ずる電位降下によって、−Vg−Rsb×ΔIeとなり、ΔIeを減少させようという動作が発生する。これにより、ΔIeが発生したコラムだけでなく、すべてのコラムについてΔIeだけ減少させ、電子ビーム量の増大によるマスクの損傷等を防止することができる。
以上説明したように、本実施形態のマルチコラム電子ビーム露光装置では、電子ビーム生成装置において、グリッド電圧源46と電子銃のカソードの間にダイオード57を接続し、ダイオード57のカソード側と加速電圧源41の負極側の間にセルフバイアス抵抗48を接続している。このような構成にすることにより、カソード−グリッド間の電圧を一定にするために制御したグリッド電圧源により供給されるグリッド電流が、セルフバイアス抵抗48を流れることがなくなり、各コラムで独立にグリッド電圧を調節することが可能になる。これにより、各コラムに安定したエミッション電流を供給することが可能となる。
また、過渡的なエミッション電流の増大に対しては、セルフバイアス抵抗48に生ずる電位降下によって、すべてのコラムのグリッド電位を変化させ、エミッション電流を抑制することが可能となる。これにより、エミッション電流の異常増加によるマスクの破損等を防ぐことが可能となる。
(比較例)
図6はシングルコラムに対してエミッション電流の安定化を図るセルフバイアス抵抗48を使用した構成をマルチコラムに適用した例を示している。
図6において、コラム1のグリッド電圧源46が供給するグリッド電流をIg1、コラム2のグリッド電圧源46aが供給するグリッド電流をIg2、エミッション電流をIeとする。カソード43のエミッション電流が放電等の理由で電流値が大きな値となったものとする。エミッション電流は、セルフバイアス抵抗48を流れ、セルフバイアス抵抗48の両端に電位降下を発生する。グリッド電圧制御部45はグリッド電圧源46の値を制御して、エミッション電流を一定にしようとするが、ΔIeが流れている間に応答しきれず、グリッド電圧源46の値を変化させることができない。この場合、カソード43に対するグリッド47(B点)の電位は、−Vg−Rsb×ΔIeとなり、ΔIeを減少させようという働きが生じる。
セルフバイアス抵抗48には、コラム1及びコラム2のエミッション電流とコラム1及びコラム2のグリッド電流が流れ、加速電圧源の負極側(F点)の電位は、Vacc−Rsb×(Ie−Ig1−Ig2)となる。コラム1のカソード−グリッド間電圧の変動を検出し、その変動を抑制するために、グリッド電圧源46の値を制御したとすると、セルフバイアス抵抗48に流れる電流が変動する。グリッド電流Ig1の変動分をΔIg1とすると、加速電圧源41の負極側(F点)の電位は、Vacc−Rsb×(Ie−Ig1−ΔIg1−Ig2)となる。
セルフバイアス抵抗48に流れる電流が変動したため、コラム2のグリッド電圧源46aの値も変動させるように動作する。すなわち、コラム2ではエミッション電流を変える必要がないにもかかわらず、グリッド電圧源46aの値を変える。そのため、コラム2のグリッド電流Ig2が変動し、セルフバイアス抵抗48に流れる電流が変化する。この変化によって、コラム1のグリッド電圧源の値も再び変動するように動作する。これらの動作が繰り返し発生して、コラム1のグリッド電圧源46及びコラム2のグリッド電圧源46aの両方とも正帰還がかかり、発振を起こすことになる。
図7は、グリッド電圧波形を示した図である。図7(a)は、本発明に係る電子ビーム生成装置を用いたときのグリッド電圧波形であり、図7(b)は、本比較例で説明した電子ビーム生成装置を用いたときのグリッド電圧波形である。
図7(a)では、時間の経過に伴い、グリッド電圧の変化はほとんどなく一定している。一方、シングルコラム用の電子ビーム生成装置の構成をマルチコラムに適用した、図7(b)では、時間の経過に伴い、グリッド電圧の許容電圧の最大値、最小値を繰り返し、グリッド電圧が発振している様子を示している。従って、比較例の構成では、安定したエミッション電流を供給することができない。
以上説明したように、本実施形態のマルチコラム用電子ビーム生成装置では、グリッド電圧源46と電子銃のカソードの間にダイオード57を接続し、ダイオード57のカソード側と加速電圧源41の負極側の間にセルフバイアス抵抗48を接続している。このような構成にすることにより、カソード−グリッド間の電圧を一定にするために制御したグリッド電圧源により供給されるグリッド電流が、セルフバイアス抵抗48に流れることがなくなり、各コラムで独立にグリッド電圧を調節することが可能になる。これにより、グリッド電圧源46が発振することなく、各コラムに安定したエミッション電流を供給することが可能となる。
また、過渡的なエミッション電流の増大に対しては、セルフバイアス抵抗48に生ずる電位降下が、すべてのコラムのグリッド電位を変化させ、エミッション電流を抑制することが可能となる。これにより、エミッション電流の異常増加によるマスクの破損等を防ぐことが可能となる。
なお、本実施形態のマルチコラム用電子ビーム生成装置では、2つのコラムについて説明したが、コラム数は2つに限定されない。
また、電子銃の構成として、グリッドが1つの場合について説明したが、本実施形態で説明したグリッドに加えて、各コラム内のカソードに対して正の電位を印加するグリッドを更に追加するようにしてもよい。
また、本実施形態では、マルチコラム用電子ビーム生成装置を、電子ビーム露光装置に適用した場合を例として説明したが、これに限らず、マルチコラム電子ビーム装置に係る装置であれば、パターン検査装置等に適用可能である。
従来の電子ビーム生成装置を説明する図である。 本発明に係るマルチコラム電子ビーム露光装置の構成図である。 図1に係る露光装置のコラムセルの構成図である。 電子ビーム生成装置の概略構成図である。 本実施形態に係る電子ビーム生成装置の構成図である。 比較例に係る電子ビーム生成装置の構成図である。 図7(a)は、図5に係る電子ビーム生成装置を使用した場合のグリッド電圧波形を示す図であり、図7(b)は、図6に係る電子ビーム生成装置を使用した場合のグリッド電圧波形を示す図である。
符号の説明
10…電子ビームコラム、11…コラムセル、12…ウエハ、13…ウエハステージ、20…制御部、21…電子銃高圧電源、22…レンズ電源、23…デジタル制御部、24…ステージ駆動コントローラ、25…ステージ位置センサ、26…統合制御部、31…コラムセル制御部、33…統合記憶部、34…バス、35…コラムセル記憶部、37…露光データ変換部、41…加速電圧源、42…カソード電流源、43…カソード、44…カソード−グリッド間電圧検出部、45…グリッド電圧制御部、46…グリッド電圧源、47…グリッド、48…セルフバイアス抵抗、57…ダイオード(電流方向規制素子)、58…グリッド抵抗、100…露光部、101…電子ビーム生成装置、102…第1電磁レンズ、103…ビーム整形用マスク、103a…矩形アパーチャ、104…第1静電偏向器、105…第2電磁レンズ、106…第2静電偏向器、107…第1補正コイル、108…第3電磁レンズ、109…第2補正コイル、110…露光用マスク、111…第4電磁レンズ、112…第3静電偏向器、113…第4静電偏向器、114…第5電磁レンズ、115…遮蔽板、115a…アパーチャ、116…第1投影用電磁レンズ、117…第3補正コイル、118…第4補正コイル、119…第5静電偏向器、120…電磁偏向器、121…第2投影用電磁レンズ、123…マスクステージ、124…ウエハステージ、125…駆動部、127…ブランキング電極。

Claims (3)

  1. 熱電子を発生させる複数のカソードと、
    前記複数のカソードに共通に設けられ、前記カソードに前記熱電子を加速させるための電圧を印加する加速電圧源と、
    前記加速電圧源と前記複数のカソードとの間に共通に設けられ、前記複数のカソードからのエミッション電流に応じた電圧降下を生じさせるセルフバイアス抵抗と、
    前記複数のカソードの各々に設けられ、前記カソードから放出された前記熱電子を収束させて電子ビームを形成するグリッドと、
    前記グリッド毎に設けられ、前記グリッドと前記加速電圧源との間に接続されて前記グリッドに前記カソードの電位に対して負の電圧を印加するグリッド電圧源と、
    前記グリッド毎に設けられ、前記カソードとグリッドとの間の電圧を検出する電圧検出器と、
    前記グリッド毎に設けられ、前記電圧検出器の出力に基づいて前記カソードとグリッドとの間の電圧の変動を抑制するように前記グリッド電圧源の電圧を制御するグリッド電圧制御部と、
    前記グリッド毎に設けられ、前記グリッド電圧源と前記加速電圧源との間に接続されたグリッド抵抗と、
    前記グリッド毎に設けられ、前記グリッド電圧源の正極側と前記カソードとの間に接続されて前記グリッド電圧源側から前記カソード側に向かう方向の電流を選択的に通過させる電流方向規制素子と、
    を有することを特徴とするマルチコラム用電子ビーム生成装置
  2. 前記電流方向規制素子は、ダイオード又はバリスタであることを特徴とする請求項1に記載のマルチコラム用電子ビーム生成装置。
  3. 前記ダイオードは、前記グリッド電圧源側をアノードとすることを特徴とする請求項2に記載のマルチコラム用電子ビーム生成装置。
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