JP4786154B2 - 反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡 - Google Patents
反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4786154B2 JP4786154B2 JP2004232613A JP2004232613A JP4786154B2 JP 4786154 B2 JP4786154 B2 JP 4786154B2 JP 2004232613 A JP2004232613 A JP 2004232613A JP 2004232613 A JP2004232613 A JP 2004232613A JP 4786154 B2 JP4786154 B2 JP 4786154B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical system
- layer
- light
- refractive index
- index material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 816
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 320
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 170
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 107
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 87
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 54
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 52
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 46
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 29
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 claims 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 338
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 281
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 48
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 33
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 32
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 28
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 27
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 15
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 15
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 15
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 14
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 13
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 13
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 11
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 6
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- -1 silver halide Chemical class 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 2
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 2
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000001727 in vivo Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000010186 staining Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
Description
以上の請求項1〜17の発明の反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡によれば、光学系を構成する光学素子に備える反射防止膜について、各層を構成する成膜材料の屈折率および膜厚を指定することにより、紫外域から赤外域にわたる広い波長域で高い反射防止効果を得ることができる。具体的には、350nmから800nmの波長域で、0.6%以下の平均反射率を実現することができる。また、設計波長λを変えることにより、反射防止波長帯域をシフトさせたり広げたりすることも可能である。基材となる光学素子の材質はガラスの他に、結晶材料、プラスチック等でもかまわない。
[実施形態1]
実施形態1の反射防止膜は、屈折率1.57〜1.79の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表1のように基材側の第1、3、5層に高屈折率材料としてTa2O5を、第2、4層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第6層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態2の反射防止膜は、屈折率1.44〜1.79の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表2のように基材側の第1、3、5層に高屈折率材料としてTa2O5を、第2層に低屈折率材料としてSiO2を、第4層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第6層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態3の反射防止膜は、屈折率1.44〜1.79の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表3のように基材側の第1、3、5層に高屈折率材料としてHfO2を、第2、4層に低屈折率材料としてSiO2を、第6層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態4の反射防止膜は、屈折率1.44〜1.57の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表4のように基材側の第1、3、5層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第2、4、6層に高屈折率材料としてTa2O5を、第7層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態5の反射防止膜は、屈折率1.44〜1.57の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表5のように基材側の第1、3層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第2、4、6層に高屈折率材料としてTa2O5を、第5層に低屈折率材料としてSiO2を、第7層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態6の反射防止膜は、屈折率1.44〜1.57の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表6のように基材側の第1層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第2、4、6層に高屈折率材料としてTa2O5を、第3、5層に低屈折率材料としてSiO2を、第7層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態7の反射防止膜は、屈折率1.57〜1.79の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表7のように基材側の第1、3、5、7層に高屈折率材料としてTa2O5を、第2、4、6層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第8層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態8の反射防止膜は、屈折率1.57〜1.79の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表8のように基材側の第1、3、5、7層に高屈折率材料としてTa2O5を、第2、6層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第4層に低屈折率材料としてSiO2を、第8層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態9の反射防止膜は、屈折率1.57〜1.79の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表9のように基材側の第1、3、5、7層に高屈折率材料としてTa2O5を、第2層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第4、6層に低屈折率材料としてSiO2を、第8層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態10の反射防止膜は、屈折率1.44〜1.57の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表10のように基材側の第1層に低屈折率材料としてSiO2を、第3、5、7層に高屈折率材料としてTa2O5を、第2、4、6層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第8層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態11の反射防止膜は、屈折率1.44〜1.57の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表11のように基材側の第1、4層に低屈折率材料としてSiO2を、第3、5、7層に高屈折率材料としてTa2O5を、第2、6層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第8層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜で成膜されている。
実施形態12の反射防止膜は、屈折率1.44〜1.57の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表12のように基材側の第1、4、6層に低屈折率材料としてSiO2を、第3、5、7層に高屈折率材料としてTa2O5を、第2層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第8層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態13の反射防止膜は、屈折率1.57の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表13のように基材側の第1、3、5、7、9層に高屈折率材料としてTa2O5を、第2、4、6、8層に低屈折率材料としてSiO2を、第10層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
実施形態14の反射防止膜は、屈折率1.44の基材の上に、設計波長λを500nmとして、表36のように基材側の第1、3層に低屈折率材料としてSiO2を、第2、4、6、8層に高屈折率材料としてTa2O5を、第5、7層に中間屈折率材料としてAl2O3を、第9層に低屈折率材料としてMgF2を使用した膜構成で成膜されている。
[実施形態15]
図15は本発明の実施形態15にかかる反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡の概略構成図である。
実施形態15の顕微鏡は、標本20に光を落射照明する落射照明光学系1と、標本20からの光を観察する観察光学系2を有し、落射照明光学系1と観察光学系2の共通の光路に対物光学系3を備えている。
観察光学系2は、標本20からの像を撮像する撮像光学系4と、標本20からの像を観察者の瞳に結像する接眼光学系5と、吸収フィルタ6と、ダイクロイックミラー7と、対物光学系3とで構成されている。
撮像光学系4は、レンズ41と、光路分割プリズム42と、レンズ43と、撮像手段44を有している。撮像手段44は、CCDやCMOS等の固体撮像素子又は銀塩フィルムで構成されている。光路分割プリズム42は、レンズ41からの光を接眼光学系5側光路と撮像手段44側光路とに分岐する分光特性を有している。
上述の撮像光学系4を、レンズ41及び光路分割プリズム42とを含む鏡筒ユニット、レンズ43を含むアダプタユニット、撮像手段44を含む撮像ユニットの、合計3つのユニットとし、お互いに着脱自在なものとしても良い。この場合に、特に、撮像ユニットには、防塵ガラス、ローパスフィルタ、CCD等のカバーガラス,赤外光カットフィルタ等が含まれていても良い。
吸収フィルタ6は、蛍光波長を透過し、蛍光波長よりも短い波長の光を遮断する分光特性を有している。
ダイクロイックミラー7は、励起光を反射し、励起光以外の波長の光を透過する分光特性を有している。
ダイクロイックミラー7は、光路Cと光路Dとが交差する位置に配置されている。
励起フィルタ10は、励起光を透過し、励起光以外の波長を遮断する分光特性を有している。
その他、21はコンデンサレンズ、22は透過照明光学系、23はステージである。
また、吸収フィルタ6は、透過波長帯域が可視光〜赤外光の範囲内のいずれかの波長域に設定されたものを用いることが可能に構成されている。
なお、図示を省略したが、接眼光学系5には、赤外光を遮断し、可視光を透過する赤外光カットフィルタが設けられている。
また、撮像光学系4を構成するレンズ41,43、光路分割プリズム42は、上記実施形態1〜6で説明した表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えている。
尚、落射照明光学系1の光路中にレンズ9以外の光学素子が配置されている場合は、その光学素子に表7〜14の反射防止膜が備わっていても良い。または、撮影光学系4の光路中にレンズ41,43、光路分割プリズム42以外の光学素子、例えば、防塵ガラスや、ローパスフィルタ、CCD等のカバーガラス,赤外光カットフィルタ等が配置される場合は、その光学素子の空気接触面に表1〜6の反射防止膜が備わっていても良い。
標本20で反射された励起光及び標本20で発した蛍光は、対物光学系3を経てダイクロイックミラー7に入射する。ダイクロイックミラー7に入射した光は、励起光がダイクロイックミラー7で遮断され、励起光以外の波長の光がダイクロイックミラー7を透過して吸収フィルタ6に入射する。吸収フィルタ6に入射した光は、蛍光よりも短い波長の光が吸収フィルタ6で遮断され、蛍光及び蛍光よりも長い波長の光が吸収フィルタ6を透過し、レンズ41を経て光路分割プリズム42に入射し、光路分割プリズム42で分割される。光路分割プリズム42で分割された一方の蛍光は、レンズ43を経て撮像素子44で撮像される。光路分割プリズム42で分割された他方の蛍光は、接眼光学系5を介して図示省略した赤外光カットフィルタを介して赤外光が遮断され、赤外光以外の波長の蛍光が透過して観察者の瞳に結像する。
しかるに、実施形態15の顕微鏡によれば、落射照明光学系1を構成するレンズ9等の光学素子が上記実施形態7〜14において表7〜14に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域、特に紫外域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、落射照明光学系1に用いる紫外光〜赤外光にわたる波長帯域の光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく励起光を選択して照射することができる。
また、撮像光学系4を構成するレンズ41,43、光路分割素子プリズム42等の光学素子が、上記実施形態1〜6における表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、撮像光学系4に用いる可視光〜赤外光にわたる波長帯域の蛍光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく有効に観察することができる。
しかるに、実施形態15の顕微鏡は、紫外域の光を用いる可能性のある落射照明光学系1を構成するレンズ9等の光学素子のみ紫外域での反射防止性能が高い実施形態7〜14の反射防止膜を設け、紫外域の光を用いない撮像光学系4を構成するレンズ41,43、光路分割素子プリズム42等の光学素子は、上記実施形態7〜14のいずれの反射防止膜に比べても低コストの上記実施形態1〜6のいずれかの反射防止膜を設けたので、コストパフォーマンスと反射防止効果とのバランスが最適な顕微鏡が得られる。
図16は本発明の実施形態16にかかる反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡の概略構成図であり、(a)は撮像光学系を除く光学構成を示す図、(b)は(a)の顕微鏡を接眼レンズを覗く方向からみた撮像光学系の光学構成を示す図である。
実施形態16の顕微鏡は、標本20に光を透過照明する透過照明光学系41と、標本20からの光を観察する観察光学系42を有している。
透過照明光学系41は、光源31と、赤外光を透過し、赤外光以外の波長を遮断する赤外光透過フィルタ32と、偏光子33と、標本20を隔てて偏光子33よりも標本20側に配置されたDICプリズム34と、標本20を照明するコンデンサレンズ35を有して構成されている。赤外光透過フィルタ32は光源31と偏光子33との間の光路上に挿脱可能に構成されている。
観察光学系42は、対物光学系36と、ノマルスキープリズム37と、検光子38と、フィルタ39と、レンズ40と、検光子38を経た光の光路を分岐する光路分割手段としてのダイクロイックミラー43と、ダイクロイックミラー43で分岐された一方の光路(図16では透過光路)に設けられた接眼光学系44と、他方の光路(図16では反射光路)に設けられた撮像光学系45を有して構成されている。
尚、撮像光学系45は、本実施例では、1つを記載しているが、顕微鏡の使用用途に応じて撮像光学系45を複数個設けても良い。
また、さらに、この撮像光学系45の方向は、必要に応じて本実施例とは異なる方向でも良い。
撮像光学系45は、フィルタ451と、レンズ452と、撮像素子453とで構成されており、標本20からの可視光及び赤外光の像を撮像素子453で撮像することができるように構成されている。
尚、透過照明光学系41から撮影光学系45に至る光路中に例えば、コンデンサレンズ35、対物光学系36、レンズ40,452以外の光学素子が配置されている場合は、その光学素子に表1〜6の反射防止膜が備わっていても良い。
標本20を透過した赤外光は、対物光学系36、ノマルスキープリズム37、検光子38、フィルタ39、レンズ40を経て、ダイクロイックミラー43に入射する。ダイクロイックミラー43を透過した赤外光は、接眼光学系44に設けられた図示省略した赤外光カットフィルタで遮断される。ダイクロイックミラー43で反射された赤外光は、フィルタ451、レンズ452を経て、撮像素子453上に赤外微分干渉像として結像し、撮像素子453を介して撮像される。
標本20を透過した可視光は、対物光学系36、ノマルスキープリズム37、検光子38、フィルタ39、レンズ40を経て、ダイクロイックミラー43に入射する。ダイクロイックミラー43を透過した可視光は、ミラー441、リレーレンズ442、結像レンズ443、接眼レンズ444を経て、観察者の瞳に微分干渉像を結像する。ダイクロイックミラー43で反射された可視光は、フィルタ451、レンズ452を経て、撮像素子453上に微分干渉像を結像し、撮像素子453を介して撮像される。
しかるに、実施形態16の顕微鏡によれば、透過照明光学系41から撮像光学系45に至る光路中に配置された光学素子(例えば、コンデンサレンズ35、対物光学系36、レンズ40,452)は、上述したように上記実施形態1〜6における表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、透過微分干渉光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく有効に観察することができる。特に、赤外光を用いた観察の場合には標本の深部においても光量をロスすることなく有効に微分干渉観察することができる。
図17は本発明の実施形態17にかかる反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡の概略構成図である。
実施形態17の顕微鏡は、標本20に光を落射照明する落射照明光学系1と、標本20に光を透過照明する透過照明光学系22’と、標本20からの光を観察する観察光学系2’を有し、落射照明光学系1と観察光学系2’の共通の光路に対物光学系3を備えている。
観察光学系2’は、標本20からの像を撮像する撮像光学系4’と、標本20からの像を観察者の瞳に結像する接眼光学系5と、吸収フィルタ6と、ダイクロイックミラー7と、対物光学系3を有している。
撮像光学系4’は、可視光を撮像する第1の撮像光学系4A’と、可視光から赤外光の波長域の光を観察する第2の撮像光学系4B’と、光路分割部材4C’を有している。
光路分割部材4C’は、赤外光を反射し、それ以外の波長の光を透過及び反射して第1及び第2の撮像光学系4A’,4B’の光路A,Bに分岐する分光特性を有している。
第2の撮像光学系4B’は、レンズ4B’1と、反射プリズム4B’2と、レンズ4B’3と、撮像手段4B’4を有している。撮像手段4A’4は、CCDやCMOS等の固体撮像素子又は銀塩フィルムで構成されている。
吸収フィルタ6は、蛍光波長を透過し、蛍光波長よりも短い波長の光を遮断する分光特性を有している。
ダイクロイックミラー7は、励起光を反射し、励起光以外の波長の光を透過する分光特性を有している。
ダイクロイックミラー7は、光路Cと光路Dとが交差する位置に配置されている。
励起フィルタ10は、蛍光を透過し、蛍光以外の波長を遮断する分光特性を有している。
また、実施形態17の顕微鏡は、光路分割部材4C’とダイクロイックミラー7との間に検光子38’を、対物光学系3とダイクロイックミラー7との間にノマルスキープリズム37’を着脱可能に備えている。
また、吸収フィルタ6は、透過波長帯域が可視光〜赤外光の範囲内のいずれかの波長域に設定されたものを用いることが可能に構成されている。
また、接眼光学系5には、赤外光を遮断し、可視光を透過する赤外光カットフィルタ51が設けられている。
また、第2の撮像光学系4B’を構成する光学素子(例えば、レンズ4B’1,4B’3、反射プリズム4B’2)及び透過照明光学系22’を構成する光学素子(例えば、レンズ22’2,コンデンサレンズ35’)は、上記実施形態1〜6で説明した表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えている。
尚、落射照明光学系1の光路中にレンズ9以外の光学素子が配置されている場合は、その光学素子に表7〜14の反射防止膜が備わっていても良い。また、第2の撮影光学系4B‘の光路中にレンズ4B’1,4B’3、反射プリズム4B’2以外の光学素子、例えば、撮像手段4B’4の手前に防塵ガラス等が配置される場合は、その光学素子に表1〜6の反射防止膜が備わっていても良い。さらに、透過照明光学系22’の光路中にレンズ22’2,コンデンサレンズ35’以外の光学素子が配置される場合は、その光学素子に表1〜6の反射防止膜が備わっていても良い。
標本20で反射された励起光及び標本20で発した蛍光は、対物光学系3を経てダイクロイックミラー7に入射する。ダイクロイックミラー7に入射した光は、励起光がダイクロイックミラー7で遮断され、励起光以外の波長の光がダイクロイックミラー7を透過して吸収フィルタ6に入射する。吸収フィルタ6に入射した光は、蛍光よりも短い波長の光が吸収フィルタ6で遮断され、蛍光及び蛍光よりも長い波長の光が吸収フィルタ6を透過し、レンズ光路分割部材4C’に入射する。光路分割部材4C’に入射した光のうち、赤外光の全てと、赤外光以外の波長の光の半分は、光路分割部材4C’で反射され、第2の撮像光学系4B’側の光路Bに導かれる。また、赤外光以外の波長の光の半分は、光路分割部材4C’を透過し、第1の撮像光学系4A’側の光路Aに導かれる。
他方、光路B側に分割された蛍光は、レンズ4B’1、プリズム4B’2、レンズ4B’3を経て、撮像素子4B’4に結像し、撮像素子4A’4で撮像される。
光路分割部材4C’に入射した赤外微分干渉光は、光路分割部材4C’で反射され、第2の撮像光学系4B’側の光路Bに導かれ、第1の撮像光学系4A’側の光路Aには導かれない。
なお、極く微量の赤外微分干渉光は、光路分割部材4C’を透過して光路A側に導かれる。光路A側に導かれた赤外微分干渉光は、レンズ4A’1を経て光路分割プリズム4A’2に入射し、光路分割プリズム4A’2で分割される。光路分割プリズム4A’2で分割された一方の赤外微分干渉光は、レンズ4A’3を通り、赤外光カットフィルタ4A’4を介して遮断される。光路分割プリズム4A’2で分割された他方の赤外微分干渉光は、接眼光学系5を通り、赤外光カットフィルタ51を介して遮断される。このため、光路分割部材4C’を透過して光路A側に導かれた極く微量の赤外微分干渉光の像は、撮像手段4A’4には撮像されず、また、接眼光学系5を介して観察者の瞳にも結像されない。
しかるに、実施形態17の顕微鏡によれば、落射照明光学系1を構成するレンズ9等の光学素子が上記実施形態7〜14における表7〜14に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域、特に紫外域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、落射照明光学系1に用いる紫外光〜赤外光にわたる波長帯域の光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく励起光を選択して照射することができる。
また、第2の撮像光学系4B’を構成する光学素子(例えば、レンズ4B’1,4B’3、プリズム4B’2)及び透過照明光学系22’を構成する光学素子(例えば、レンズ22’2,コンデンサレンズ35’)が、上記実施形態1〜6における表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、第2の撮像光学系4に用いる可視光〜赤外光にわたる波長帯域の蛍光及び微分干渉光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく有効に観察することができる。
図18は本発明の実施形態18にかかる反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡の概略構成図である。
実施形態18の顕微鏡は、正立顕微鏡と倒立顕微鏡とを有して構成されている。
正立顕微鏡は、標本20に光を照明する第1の落射照明光学系51と、標本20からの光を観察する第1の観察光学系52を有し、第1の落射照明光学系51と第1の観察光学系52と共通の光路上に第1の対物光学系53を備えている。
第1の落射照明光学系51を構成するレンズ9等の光学素子は、上記実施形態7〜14で説明した表7〜表14に示したいずれかの反射防止膜を備えている。
また、撮像光学系4を構成するレンズ41,43、反射プリズム42等の光学素子は、上記実施形態1〜6で説明した表1〜6に示したいずれかの反射膜を備えている。
尚、第1の落射照明光学系51の光路中にレンズ9以外の光学素子が配置されている場合は、その光学素子に表7〜14の反射防止膜が備わっていても良い。また、撮影光学系4の光路中にレンズ41,43、反射プリズム42以外の光学素子、例えば、撮像手段44の手前に防塵ガラス等が配置される場合は、その光学素子に表1〜6の反射防止膜が備わっていても良い。
第2の落射照明光学系61は、光源611と、レンズ612と、ハーフミラー613と、対物光学系63を有して構成されている。
第2の観察光学系62は、対物光学系63と、ハーフミラー613と、図16に示した実施形態16の顕微鏡と同様のレンズ40と、ダイクロイックミラー43と、接眼光学系44と、撮像光学系45とを有して構成されている。
第2の落射照明光学系61を構成するレンズ612、対物光学系63、レンズ40等の光学素子、及び撮像光学系45を構成するレンズ452等の光学素子は、上記実施形態1〜6で説明した表1〜6に示したいずれかの反射膜を備えている。
尚、第2の落射照明光学系61の光路中に612、対物光学系63、レンズ40以外の光学素子が配置されている場合は、その光学素子に表1〜6の反射防止膜が備わっていても良い。
しかるに、実施形態18の正立顕微鏡によれば、第1の落射照明光学系51を構成するレンズ9等の光学素子が上記実施形態7〜14における表7〜14に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域、特に紫外域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、第1の落射照明光学系51に用いる紫外光〜赤外光にわたる波長帯域の光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく励起光を選択して照射することができる。
また、撮像光学系4を構成するレンズ41,43等の光学素子が、上記実施形態1〜6における表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、撮像光学系4に用いる可視光〜赤外光にわたる波長帯域の蛍光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく有効に観察することができる。
標本20で反射された光は、対物光学系63を経て、ハーフミラー613に入射する。ハーフミラー613を透過した光は、レンズ40を通り、ダイクロイックミラー43に入射する。ダイクロイックミラー43を透過した光は、ミラー441、リレーレンズ442、結像レンズ443、接眼レンズ444を経て、観察者の瞳に結像する。ダイクロイックミラー43で反射された光は、フィルタ451、レンズ452を経て、撮像素子453上に結像し、撮像素子453を介して撮像される。
そして、実施形態18の倒立顕微鏡では、第2の落射照明光学系及61、及び撮像光学系45には、可視光〜赤外光の範囲内のいずれかの波長域の光が透過する。
図19は本発明の実施形態19にかかる反射防止膜を設けた光学素子を備えたレーザ走査型共焦点顕微鏡における光学系の概略構成を示す説明図である。
実施形態19のレーザ走査型共焦点顕微鏡は、レーザ光源部71’と、交換可能な対物レンズ72と、走査手段としてのスキャナ部73と、瞳投影レンズ76と結像レンズ75と、第1の検出光学系77と、第2の検出光学系77’を備えている。
レーザ光源部71’は、レーザ光源71aと、レンズ71b,71dとピンホール71cからなるコリメート光学系を有している。なお、レーザ光源部71’は、光源71a〜レンズ71dが複数設けられており、それに応じてダイクロイックミラー71eが設けられている。
また、レーザ光源部71’には、レーザ光源71aからのレーザ光の出射を駆動するレーザ駆動部(図示省略)が接続されている。
第1の検出光学系77は、バリアフィルタ77aとレンズ77bと共焦点ピンホール77cと受光センサ77dを有し、試料80から発し対物光学系78と瞳投影レンズ76を経た蛍光を受光センサ77dで検出するように構成されている。
第2の検出光学系77’は、バリアフィルタ77a〜受光センサ77dを複数組有し、それに応じてダイクロイックミラー77eが設けられており、試料80から発し対物光学系78と瞳投影レンズ76を経た蛍光を各受光センサ77dで検出するように構成されている。
ダイクロイックミラー86は、レーザ光源部71’からの励起光を試料80に導くとともに試料80からの蛍光を第1の検出手段77に導くように構成されている。
光伝送手段88は、シングルモードファイバあるいはマルチモードファイバ等の光ファイバで構成されている。光伝送手段88の光ファイバ端面は、標本面位置と共役であり、ファイバ端面のコア径が共焦点ピンホールとなっている。このため、レーザ光源部71’のピンホール71cと第2の検出光学系77’のピンホール77cは、光路から外すか、回折径に対して充分に大きな径で構成しても構わない。光伝送手段88がマルチモードファイバの場合、ファイバコア径は、回折径に対して大きくなるので共焦点効果は弱まるが、蛍光像を明るく取り込むことが可能であるので、観察目的に応じてファイバを選択すると良い。
ダイクロイックミラー90は、レーザ光源部71’からの励起光を試料80に導くとともに、試料80からの蛍光を第2の検出光学系77’に導くように構成されている。
また、実施形態19のレーザ走査型共焦点蛍光顕微鏡は、顕微鏡本体部を2次元方向に位置調整と標本に対して観察する角度θを調整するためのx−y−θ本体移動機構(図示省略)を有している。
また、実施形態19のレーザ走査型共焦点蛍光顕微鏡は、パーソナルコンピュータなどの処理制御手段(図示省略)と接続されている。処理制御手段は,レーザ駆動部(図示省略)の駆動により出射されるレーザ光源の波長制御、ダイクロイックミラーやフィルタ等の波長選択、波長分離素子の制御、レーザ駆動部の駆動制御、検出光学系77,77’の受光センサ77dで受光された検出情報の解析及び表示、スキャナ部73の駆動制御、準焦機構部の駆動制御、x−y−θ本体移動機構の駆動制御等の制御を行うように制御されている。
また、第2の検出光学系77’を構成するレンズ77b等の光学素子は、上記実施形態1〜6で説明した表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えている。
尚、レーザ光源部71’から試料80に至る光路中に配置されている対物レンズ72、結像レンズ75、瞳投影レンズ76、レンズ87,89,71b,71d以外の光学素子が配置されている場合は、その光学素子に表7〜14の反射防止膜を備えていても良い。また、第2の検出光学系77‘の光路中にレンズ77b以外の光学素子が配置されている場合は、その光学素子に表1〜6の反射防止膜を備えていても良い。
励起光が照射されることによって試料80で励起した蛍光は、対物レンズ72、結像レンズ75、瞳投影レンズ76、スキャナ部73を経て、ダイクロイックミラー86に入射する。
ダイクロイックミラー86で反射された光は、第1の検出光学系77に導かれる。第1の検出光学系77に導かれた光のうち、バリアフィルタ77a、レンズ77bを経て、共焦点ピンホール77cを通過した蛍光だけが、フォトマル等の受光センサ77dによって検出される。
ダイクロイックミラー86を透過した光は、レンズ87、光伝送手段88、レンズ89、ダイクロイックミラー90を経て、第2の検出光学系77’に導かれる。第2の検出光学系77’に導かれた光のうち、ダイクロイックミラー77e、バリアフィルタ77a、レンズ77bを経て、共焦点ピンホール77cを通過した蛍光だけが、フォトマル等の受光センサ77dによって検出される。
また、実施形態19のレーザ走査共焦点蛍光型顕微鏡において、レーザ光源部71’に近赤外のフェムト秒パルスレーザを用いると多光子励起の蛍光顕微鏡として観察が可能となる。
この場合、検出光学系77、77’を多光子励起された蛍光の検出器として使用し、ダイクロイックミラー71e,77e,86,90の分光特性を選択し、ピンホール71c,77cのピンホール径を回折径より充分に大きくするか、光路から外せば良い。
しかるに、実施形態19のレーザ走査型共焦点蛍光顕微鏡によれば、レーザ光源部71’から試料80に至る光路に配置されたレンズ71d,71b,89,87、瞳投影レンズ76、結像レンズ75、対物レンズ72等の光学素子が上記実施形態7〜14における表7〜14に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域、特に紫外域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、レーザ光源部71’から試料80に至る光路に用いる紫外光〜赤外光にわたる波長帯域の光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく励起光を選択して照射することができる。
また、第2の検出光学系77’を構成するレンズ77b等の光学素子が、上記実施形態1〜6における表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、第2の検出光学系77’に用いる可視光〜赤外光にわたる波長帯域の蛍光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく有効に検出することができる。
図20は本発明の実施形態20にかかる反射防止膜を設けた光学素子を備えたレーザ走査型共焦点顕微鏡における光学系の概略構成を示す説明図である。なお、実施形態19と同じ構成の部材については同じ符号を付してある。
実施形態20のレーザ走査型共焦点蛍光顕微鏡は、実施形態19の変形例であり、ダイクロイックミラー86と検出光学系77’との間には、レンズ92と、シングルモードファイバあるいはマルチモードファイバ等の光ファイバで構成された光伝送手段91と、レンズ93が設けられている。そして、光伝送手段88を介して光源部71”からの励起光を試料80に導くとともに、光伝送手段91を介して試料80からの蛍光を検出光学系77’に導くように構成されている。
実施形態19と同様に、光伝送手段88、91の光ファイバー端面は、標本面位置と共役であり、ファイバ端面のコア径が共焦点ピンホールとなっている。このため、光源部71”のピンホール71cと検出光学系77’のピンホール77cは、光路から外すか、回折径に対して充分に大きな径しても構わない。光伝送手段88,91がマルチモードファイバの場合、ファイバコア径は、回折径に対して大きくなるので共焦点効果は弱まるが、蛍光像を明るく取り込むことが可能であるので、観察目的に応じてファイバを選択すると良い。
また、検出光学系77’を構成するレンズ77bは、上記実施形態1〜6で説明した表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えている。
尚、レーザ光源部71“から試料80に至る光路中に配置されている対物レンズ72、結像レンズ75、瞳投影レンズ76、レンズ87,89,71b,71d以外の光学素子が配置されている場合は、その光学素子に表7〜14の反射防止膜を備えていても良い。また、検出光学系77‘の光路中にレンズ77b以外の光学素子が配置されている場合は、その光学素子に表1〜6の反射防止膜を備えていても良い。
また、実施形態20のレーザ走査型共焦点蛍光顕微鏡では、レーザ光源部71”から試料80に至る光路では、紫外光〜赤外光の範囲内のいずれかの波長域の光が通過し、検出光学系77’には可視光〜赤外光の範囲内のいずれかの波長域の蛍光が通過する。
しかるに、実施形態20のレーザ走査型共焦点蛍光顕微鏡によれば、レーザ光源部71”から試料80に至る光路に配置されたレンズ71d,71b,89,87、瞳投影レンズ76、結像レンズ75、対物レンズ72等の光学素子が上記実施形態7〜14における表7〜14に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域、特に紫外域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、レーザ光源部71”から試料80に至る光路に用いる紫外光〜赤外光にわたる波長帯域の光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく励起光を選択して照射することができる。
また、検出光学系77’を構成するレンズ77b等の光学素子が、上記実施形態1〜6における表1〜6に示したいずれかの反射防止膜を備えており、紫外域から赤外域にわたる広波長帯域において、良好な反射防止効果を奏する。このため、検出光学系77’に用いる可視光〜赤外光にわたる波長帯域の蛍光を、反射率を極力抑えて高い透過率で透過させて、光量をロスすることなく有効に検出することができる。
2、2’、42 観察光学系
3、36、78 対物光学系
4、4’、45 撮像光学系
41、43、9、40、452、455、4A’1、4A’3、4B’1、4B’3、22’2、612、71b、71d、77b、87、89、92、93 レンズ
42、4A’2 光路分割プリズム
44、4A’4、4B’4 撮像手段
4A’ 第1の撮像光学系
4B’ 第2の撮像光学系
4B’2 反射プリズム
4C’ 光路分割部材
4A’5、51 赤外光カットフィルタ
5、44 接眼光学系
6 吸収フィルタ
7、43、71e、77e、86、90 ダイクロイックミラー
8、31、22’1、611 光源
10 励起フィルタ
20 標本
21 コンデンサレンズ
22、22’、41 透過照明光学系
22’3、441、73a、73b ミラー
23 ステージ
32、32’ 赤外光透過フィルタ
33、33’ 偏光子
34、34’ DICプリズム
35、35’ コンデンサレンズ
37,37’ ノマルスキープリズム
38,38’ 検光子
39、451 フィルタ
442 リレーレンズ
443、75 結像レンズ
444 接眼レンズ
453 撮像素子
51 第1の落射照明光学系
52 第1の観察光学系
53 第1の対物光学系
61 第2の落射照明光学系
613 ハーフミラー
62 第2の観察光学系
63 第2の対物光学系
71’,71” レーザ光源部
71a レーザ光源
71c、77c ピンホール
72 対物レンズ
73 スキャナ部(走査手段)
76 瞳投影レンズ
77,77’ 検出光学系
77a バリアフィルタ
77d 受光センサ
80 試料
88、91 光伝送手段(光ファイバ)
Claims (5)
- 標本に光を落射照明する落射照明光学系と、
標本に光を透過照明する透過照明光学系と、
標本からの光を観察する観察光学系とを有し、
前記落射照明光学系と前記観察光学系の共通の光路上に対物光学系を備えた顕微鏡であって、
前記観察光学系が、分岐された2つの光路にそれぞれ配置されていて標本からの光を撮像する撮像光学系と、前記撮像光学系と前記対物光学系との間に配置されていて蛍光波長を透過し蛍光波長よりも短い波長の光を遮断する吸収フィルタとを有し、
前記落射照明光学系が、前記観察光学系における前記吸収フィルタと前記対物光学系との間の光路に垂直に交差する光路上に配置された光源と、前記光源からの光を標本に照射するためのレンズと、前記レンズを通過した光のうち励起光を透過し励起光以外の波長の光を遮断する励起フィルタとを有し、
前記撮像光学系が、可視光を撮像する第1の撮像光学系と、可視光から赤外光の波長域の光を撮像する第2の撮像光学系と、前記第1の光学系と前記第2の光学系とを分岐する撮像光学系光路分割部材とを有し、
前記撮像光学系光路分割部材が、赤外光を反射してそれ以外の波長の光を透過及び反射して第1及び第2の撮像光学系に分岐する分光特性を有し、
さらに、前記観察光学系における前記吸収フィルタと前記対物光学系との間の光路と前記垂直に交差する光路とが交差する位置に、前記励起フィルタを透過した励起光を反射して前記対物光学系側に導くとともに前記対物光学系からの光のうち励起光以外の波長の光を透過して前記吸収フィルタ側に導くダイクロイックミラーを備え、
前記落射照明光学系を構成する光学素子が、該光学素子の表面から数えて第1層に高屈折率材料または低屈折率材料を、第2層に中間屈折率材料を、第3,5,7層に高屈折率材料を、第4,6層に低屈折率材料または中間屈折率材料を、第8層に低屈折率材料をそれぞれ成膜したものであり、前記各層の光学的膜厚ndが設計波長λに対して、第1層は(0.07〜1.81)×λ/4、第2層は(0.32〜1.30)×λ/4、第3層は(0.29〜0.69)×λ/4、第4層は(0.07〜0.39)×λ/4、第5層は(0.67〜2.28)×λ/4、第6層は(0.21〜0.49)×λ/4、第7層は(0.28〜0.42)×λ/4、第8層は(0.98〜1.11)×λ/4とした反射防止膜を備え、
前記2つの撮像光学系のうち、前記撮像光学系光路分割部材で反射された赤外光が入射する側の撮像光学系を構成する光学素子が、該光学素子の表面から数えて第1,3,5層に高屈折率材料を、第2,4層に低屈折率材料または中間屈折率材料を、第6層に低屈折率材料をそれぞれ成膜したものであり、前記各層の光学的膜厚ndが設計波長λに対して、第1層は(0.13〜0.35)×λ/4、第2層は(0.18〜0.75)×λ/4、第3層は(0.28〜2.31)×λ/4、第4層は(0.26〜0.92)×λ/4、第5層は(0.20〜0.37)×λ/4、第6層は(1.09〜1.18)×λ/4とした反射防止膜を備えたことを特徴とする顕微鏡。 - 標本に光を落射照明する落射照明光学系と、
標本に光を透過照明する透過照明光学系と、
標本からの光を観察する観察光学系とを有し、
前記落射照明光学系と前記観察光学系の共通の光路上に対物光学系を備えた顕微鏡であって、
前記観察光学系が、分岐された2つの光路にそれぞれ配置されていて標本からの光を撮像する撮像光学系と、前記撮像光学系と前記対物光学系との間に配置されていて蛍光波長を透過し蛍光波長よりも短い波長の光を遮断する吸収フィルタとを有し、
前記落射照明光学系が、前記観察光学系における前記吸収フィルタと前記対物光学系との間の光路に垂直に交差する光路上に配置された光源と、前記光源からの光を標本に照射するためのレンズと、前記レンズを通過した光のうち励起光を透過し励起光以外の波長の光を遮断する励起フィルタとを有し、
前記撮像光学系が、可視光を撮像する第1の撮像光学系と、可視光から赤外光の波長域の光を撮像する第2の撮像光学系と、前記第1の光学系と前記第2の光学系とを分岐する撮像光学系光路分割部材とを有し、
前記撮像光学系光路分割部材が、赤外光を反射してそれ以外の波長の光を透過及び反射して第1及び第2の撮像光学系に分岐する分光特性を有し、
さらに、前記観察光学系における前記吸収フィルタと前記対物光学系との間の光路と前記垂直に交差する光路とが交差する位置に、前記励起フィルタを透過した励起光を反射して前記対物光学系側に導くとともに前記対物光学系からの光のうち励起光以外の波長の光を透過して前記吸収フィルタ側に導くダイクロイックミラーを備え、
前記落射照明光学系を構成する光学素子が、該光学素子の表面から数えて第1層に高屈折率材料または低屈折率材料を、第2層に中間屈折率材料を、第3,5,7層に高屈折率材料を、第4,6層に低屈折率材料または中間屈折率材料を、第8層に低屈折率材料をそれぞれ成膜したものであり、前記各層の光学的膜厚ndが設計波長λに対して、第1層は(0.07〜1.81)×λ/4、第2層は(0.32〜1.30)×λ/4、第3層は(0.29〜0.69)×λ/4、第4層は(0.07〜0.39)×λ/4、第5層は(0.67〜2.28)×λ/4、第6層は(0.21〜0.49)×λ/4、第7層は(0.28〜0.42)×λ/4、第8層は(0.98〜1.11)×λ/4とした反射防止膜を備え、
前記2つの撮像光学系のうち、前記撮像光学系光路分割部材で反射された赤外光が入射する側の撮像光学系を構成する光学素子が、該光学素子の表面から数えて第1層に中間屈折率材料を、第2,4,6層に高屈折率材料を、第3,5層に低屈折率材料または中間屈折率材料を、第7層に低屈折率材料をそれぞれ成膜したものであり、前記各層の光学的膜厚ndが設計波長λに対して、第1層は(1.04〜1.13)×λ/4、第2層は(0.30〜0.46)×λ/4、第3層は(0.13〜0.46)×λ/4、第4層は(0.56〜1.26)×λ/4、第5層は(0.22〜0.56)×λ/4、第8層は(0.31〜0.41)×λ/4、第7層は(1.05〜1.13)×λ/4とした反射防止膜を備えたことを特徴とする顕微鏡。 - 標本に光を落射照明する落射照明光学系と、
標本に光を透過照明する透過照明光学系と、
標本からの光を観察する観察光学系とを有し、
前記落射照明光学系と前記観察光学系の共通の光路上に対物光学系を備えた顕微鏡であって、
前記観察光学系が、分岐された2つの光路にそれぞれに配置されていて標本からの光を撮像する撮像光学系と、前記撮像光学系と前記対物光学系との間に配置されていて蛍光波長を透過し蛍光波長よりも短い波長の光を遮断する吸収フィルタとを有し、
前記落射照明光学系が、前記観察光学系における前記吸収フィルタと前記対物光学系との間の光路に垂直に交差する光路上に配置された光源と、前記光源からの光を標本に照射するためのレンズと、前記レンズを通過した光のうち励起光を透過し励起光以外の波長の光を遮断する励起フィルタとを有し、
前記撮像光学系が、可視光を撮像する第1の撮像光学系と、可視光から赤外光の波長域の光を撮像する第2の撮像光学系と、前記第1の光学系と前記第2の光学系とを分岐する光路分割部材とを有し、
前記撮像光学系光路分割部材が、赤外光を反射してそれ以外の波長の光を透過及び反射して第1及び第2の撮像光学系に分岐する分光特性を有し、
前記観察光学系における前記吸収フィルタと前記対物光学系との間の光路と前記垂直に交差する光路とが交差する位置に、前記励起フィルタを透過した励起光を反射して前記対物光学系側に導くとともに前記対物光学系からの光のうち励起光以外の波長の光を透過して前記吸収フィルタ側に導くダイクロイックミラーを備え、
前記透過照明光学系が、光源と、赤外光透過フィルタと、偏光子と、標本を隔てて偏光子よりも標本側に配置されたDICプリズムと、標本を照明するコンデンサレンズとを有し、
前記光路分割部材と前記対物光学系との間に、ノマルスキープリズムと検光子とを有するユニットを着脱可能に備え、
前記落射照明光学系を構成する光学素子が、該光学素子の表面から数えて第1層に高屈折率材料または低屈折率材料を、第2層に中間屈折率材料を、第3,5,7層に高屈折率材料を、第4,6層に低屈折率材料または中間屈折率材料を、第8層に低屈折率材料をそれぞれ成膜したものであり、前記各層の光学的膜厚ndが設計波長λに対して、第1層は(0.07〜1.81)×λ/4、第2層は(0.32〜1.30)×λ/4、第3層は(0.29〜0.69)×λ/4、第4層は(0.07〜0.39)×λ/4、第5層は(0.67〜2.28)×λ/4、第6層は(0.21〜0.49)×λ/4、第7層は(0.28〜0.42)×λ/4、第8層は(0.98〜1.11)×λ/4とした反射防止膜を備え、
前記2つの撮像光学系のうち、前記撮像光学系光路分割部材で反射された赤外光が入射する側の撮像光学系を構成する光学素子が、該光学素子の表面から数えて第1,3,5層に高屈折率材料を、第2,4層に低屈折率材料または中間屈折率材料を、第6層に低屈折率材料をそれぞれ成膜したものであり、前記各層の光学的膜厚ndが設計波長λに対して、第1層は(0.13〜0.35)×λ/4、第2層は(0.18〜0.75)×λ/4、第3層は(0.28〜2.31)×λ/4、第4層は(0.26〜0.92)×λ/4、第5層は(0.20〜0.37)×λ/4、第6層は(1.09〜1.18)×λ/4とした反射防止膜を備えたことを特徴とする顕微鏡。 - 標本に光を落射照明する落射照明光学系と、
標本に光を透過照明する透過照明光学系と、
標本からの光を観察する観察光学系とを有し、
前記落射照明光学系と前記観察光学系の共通の光路上に対物光学系を備えた顕微鏡であって、
前記観察光学系が、分岐された2つの光路にそれぞれ配置されていて標本からの光を撮像する撮像光学系と、前記撮像光学系と前記対物光学系との間に配置されていて蛍光波長を透過し蛍光波長よりも短い波長の光を遮断する吸収フィルタとを有し、
前記落射照明光学系が、前記観察光学系における前記吸収フィルタと前記対物光学系との間の光路に垂直に交差する光路上に配置された光源と、前記光源からの光を標本に照射するためのレンズと、前記レンズを通過した光のうち励起光を透過し励起光以外の波長の光を遮断する励起フィルタとを有し、
前記撮像光学系が、可視光を撮像する第1の撮像光学系と、可視光から赤外光の波長域の光を撮像する第2の撮像光学系と、前記第1の光学系と前記第2の光学系とを分岐する光路分割部材を有し、
前記撮像光学系光路分割部材が、赤外光を反射してそれ以外の波長の光を透過及び反射して第1及び第2の撮像光学系に分岐する分光特性を有し、
前記観察光学系における前記吸収フィルタと前記対物光学系との間の光路と前記垂直に交差する光路とが交差する位置に、前記励起フィルタを透過した励起光を反射して前記対物光学系側に導くとともに前記対物光学系からの光のうち励起光以外の波長の光を透過して前記吸収フィルタ側に導くダイクロイックミラーを備え、
前記透過照明光学系が、光源と、赤外光透過フィルタと、偏光子と、標本を隔てて偏光子よりも標本側に配置されたDICプリズムと、標本を照明するコンデンサレンズとを有し、
前記光路分割部材と前記対物光学系との間に、ノマルスキープリズムと検光子とを有するユニットを着脱可能に備え、
前記落射照明光学系を構成する光学素子が、該光学素子の表面から数えて第1層に高屈折率材料または低屈折率材料を、第2層に中間屈折率材料を、第3,5,7層に高屈折率材料を、第4,6層に低屈折率材料または中間屈折率材料を、第8層に低屈折率材料をそれぞれ成膜したものであり、前記各層の光学的膜厚ndが設計波長λに対して、第1層は(0.07〜1.81)×λ/4、第2層は(0.32〜1.30)×λ/4、第3層は(0.29〜0.69)×λ/4、第4層は(0.07〜0.39)×λ/4、第5層は(0.67〜2.28)×λ/4、第6層は(0.21〜0.49)×λ/4、第7層は(0.28〜0.42)×λ/4、第8層は(0.98〜1.11)×λ/4とした反射防止膜を備え、
前記2つの撮像光学系のうち、前記撮像光学系光路分割部材で反射された赤外光が入射する側の撮像光学系を構成する光学素子が、該光学素子の表面から数えて第1層に中間屈折率材料を、第2,4,6層に高屈折率材料を、第3,5層に低屈折率材料または中間屈折率材料を、第7層に低屈折率材料をそれぞれ成膜したものであり、前記各層の光学的膜厚ndが設計波長λに対して、第1層は(1.04〜1.13)×λ/4、第2層は(0.30〜0.46)×λ/4、第3層は(0.13〜0.46)×λ/4、第4層は(0.56〜1.26)×λ/4、第5層は(0.22〜0.56)×λ/4、第8層は(0.31〜0.41)×λ/4、第7層は(1.05〜1.13)×λ/4とした反射防止膜を備えたことを特徴とする顕微鏡。 - 前記反射防止膜のうちの少なくとも1層を、その層よりも屈折率の高い材料からなる層と屈折率の低い材料からなる層とから構成される等価膜で置換したことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の顕微鏡。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004232613A JP4786154B2 (ja) | 2004-08-09 | 2004-08-09 | 反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡 |
US10/932,055 US7075714B2 (en) | 2002-02-26 | 2004-09-02 | Anti-reflection film and microscope having optical element with the same anti-reflection film applied thereto |
US11/432,405 US7126751B2 (en) | 2002-02-26 | 2006-05-12 | Anti-reflection film and microscope having optical element with the same anti-reflection film applied thereto |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004232613A JP4786154B2 (ja) | 2004-08-09 | 2004-08-09 | 反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006053180A JP2006053180A (ja) | 2006-02-23 |
JP4786154B2 true JP4786154B2 (ja) | 2011-10-05 |
Family
ID=36030724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004232613A Expired - Lifetime JP4786154B2 (ja) | 2002-02-26 | 2004-08-09 | 反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4786154B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007272055A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Olympus Corp | 撮像機器 |
JP4958594B2 (ja) * | 2007-03-22 | 2012-06-20 | 富士フイルム株式会社 | 反射防止膜、光学素子および光学系 |
EP2213637A1 (en) | 2008-05-23 | 2010-08-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Sintered compact, process for production thereof, and optical element |
JP5197274B2 (ja) * | 2008-09-26 | 2013-05-15 | 日東光学株式会社 | 光学部材の製造法および光学部材 |
JP6236776B2 (ja) * | 2012-12-11 | 2017-11-29 | リコーイメージング株式会社 | 反射防止膜、それを用いた光学部材、及び光学機器 |
JP6051710B2 (ja) * | 2012-09-14 | 2016-12-27 | リコーイメージング株式会社 | 反射防止膜、それを用いた光学部材、及び光学機器 |
JP6053412B2 (ja) * | 2012-09-14 | 2016-12-27 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3082346B2 (ja) * | 1991-09-12 | 2000-08-28 | 株式会社ニコン | 蛍光コンフォーカル顕微鏡 |
JP2000089124A (ja) * | 1998-09-14 | 2000-03-31 | Nikon Corp | 複合顕微鏡 |
JP4608043B2 (ja) * | 1999-09-24 | 2011-01-05 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡用焦点検出装置 |
JP2002174772A (ja) * | 2000-09-20 | 2002-06-21 | Olympus Optical Co Ltd | 倒立型顕微鏡 |
JP4190773B2 (ja) * | 2002-02-26 | 2008-12-03 | オリンパス株式会社 | 反射防止膜と光学レンズ及び光学レンズユニット |
-
2004
- 2004-08-09 JP JP2004232613A patent/JP4786154B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006053180A (ja) | 2006-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7126751B2 (en) | Anti-reflection film and microscope having optical element with the same anti-reflection film applied thereto | |
JP3999479B2 (ja) | 光学装置 | |
US8098279B2 (en) | Imaging apparatus and microscope | |
US9804377B2 (en) | Low numerical aperture exclusion imaging | |
US7298550B2 (en) | Dichroic mirror, fluorescence filter set, and fluoroscopy apparatus | |
US8559103B2 (en) | Microscope for conventional fluorescence microscopy and total internal reflection microscopy | |
KR101089292B1 (ko) | 생의학용 반사/형광 복합 in-vivo 공초점 레이저 주사 현미경 | |
US7485878B2 (en) | Laser microdissection unit | |
US20070035821A1 (en) | Microscope | |
EP1688774B1 (en) | Laser scanning type fluorescent microscope | |
JP4837279B2 (ja) | 落射顕微鏡および蛍光フィルターセット | |
JP4786154B2 (ja) | 反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡 | |
US6977773B2 (en) | Scanning microscope and coupling-out element | |
US11002978B2 (en) | Microscope having a beam splitter assembly | |
US6906312B2 (en) | Scanning microscope having a microscope stand | |
US6940641B2 (en) | Fluorescence observation apparatus | |
EP1950597B1 (en) | Microscope lens barrel | |
JP2002040359A (ja) | 光走査光学系 | |
US20190155010A1 (en) | Microscope | |
JP3695803B2 (ja) | 光学フィルタ及びそれを利用した顕微鏡装置 | |
JP2010020298A (ja) | 結像装置及び顕微鏡 | |
WO2008076710A1 (en) | Optical imaging system and method for high speed and high resolution | |
JP2010139757A (ja) | コンデンサレンズ、顕微鏡装置 | |
JP2020064136A (ja) | 遮光膜、光学素子、および光学機器 | |
Girkin | OPTICAL MICROSCOPY FORCELL IMAGING |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070807 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101210 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110412 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110418 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110621 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110713 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4786154 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140722 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |