JP4783997B2 - Contact / non-contact IC module and manufacturing method thereof - Google Patents
Contact / non-contact IC module and manufacturing method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- JP4783997B2 JP4783997B2 JP2001141480A JP2001141480A JP4783997B2 JP 4783997 B2 JP4783997 B2 JP 4783997B2 JP 2001141480 A JP2001141480 A JP 2001141480A JP 2001141480 A JP2001141480 A JP 2001141480A JP 4783997 B2 JP4783997 B2 JP 4783997B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- chip
- external
- terminal
- antenna
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 41
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 53
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 26
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 18
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 12
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 11
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 11
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 8
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 7
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 8
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 238000010923 batch production Methods 0.000 description 1
- 239000004918 carbon fiber reinforced polymer Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000010422 painting Methods 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/18—High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/19—Manufacturing methods of high density interconnect preforms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/568—Temporary substrate used as encapsulation process aid
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/58—Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
- H01L2223/64—Impedance arrangements
- H01L2223/66—High-frequency adaptations
- H01L2223/6661—High-frequency adaptations for passive devices
- H01L2223/6677—High-frequency adaptations for passive devices for antenna, e.g. antenna included within housing of semiconductor device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/04105—Bonding areas formed on an encapsulation of the semiconductor or solid-state body, e.g. bonding areas on chip-scale packages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/18—High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/19—Manufacturing methods of high density interconnect preforms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/93—Batch processes
- H01L2224/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L2224/96—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being encapsulated in a common layer, e.g. neo-wafer or pseudo-wafer, said common layer being separable into individual assemblies after connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Credit Cards Or The Like (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ICカード,SIM,ICタグなどに使用される接触・非接触兼用型などのICモジュールとその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
接触・非接触兼用型ICカードは、カードの外部端子と外部処理装置の端子とを接触させて、データの送受信を行う接触方式の機能と、電磁波でデータの送受信を行うアンテナコイルとデータ処理のためのIC回路を内蔵し、外部処理装置との間の読み書きをいわゆる無線方式で行うと共に、IC回路の駆動電力が電磁誘導で供給され、バッテリを内蔵しない非接触方式の機能とを、1枚のカードに持たせたものである。
【0003】
特開平7−239922号は、ICカード用のICモジュールとして、表面にアンテナの導体パターンと、端子電極の導体パターンとをそれぞれ設け、これらの導体パターンをスルーホールを介して、ICモジュール内部のICチップと電気的に接続する発明が開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、各導体パターンとICチップとをワイヤボインディングにより接続する場合に、ICチップに圧力がかかるため、ICチップにはその圧力に耐えうる程度の厚さが必要とされ、薄型化の障害となっていた。
また、構造及び工程が複雑であり、作業工程が多いため、信頼性が低く、製造コストが高くなる問題があった。
【0005】
本発明の課題は、構造が簡単で信頼性が高く、製造工程の簡素化及び薄型化を図ることができる接触・非接触兼用型ICモジュールとその製造方法を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、以下のような解決手段により、前記課題を解決する。なお、理解を容易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付して説明するが、これに限定されるものではない。すなわち、請求項1の発明は、封止樹脂からなる基板と、前記基板の一方の面に埋め込まれ、接続端子部が外側になるように配置された接触・非接触兼用型ICチップと、前記接続端子部に接続され、前記基板の一方の面に形成され、外部に露出した外部接触用端子と、前記基板の一方の面に形成され、前記外部接触用端子と同じ層構造を有し、外部に露出した非接触通信用アンテナと、前記基板の一方の面で少なくとも前記接触・非接触兼用型ICチップを覆う絶縁層と、前記接触・非接触兼用型ICチップの接続端子部上に積層され、前記外部接触用端子及び前記非接触通信用アンテナと一体に形成され、前記絶縁層を貫通して前記外部接触用端子及び前記非接触通信用アンテナと前記接続端子部との間を電気的に接続する接続部と、を備えた接触・非接触兼用型ICモジュールである。
【0007】
請求項2の発明は、請求項1に記載の接触・非接触兼用型ICモジュールにおいて、前記外部接触用端子及び前記非接触通信用アンテナの接続端子部は、前記接触・非接触兼用型ICチップの接続端子部と接触して形成されること、を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールである。
【0009】
請求項3の発明は、請求項1又は請求項2に記載の接触・非接触兼用型ICモジュールにおいて、前記非接触通信用アンテナは、アンテナ内側領域に対して前記外部接触用端子をずらして配置することにより、その前記外部接触用端子と干渉しないアンテナ有効領域が確保されていること、を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールである。
【0010】
請求項4の発明は、請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載の接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法であって、前記基板の一方の面に、前記接続端子部が外側になるように前記接触・非接触兼用型ICチップを埋め込むICチップ埋め込み工程と、前記基板の一方の面に前記接触・非接触兼用型ICチップを覆う絶縁層を形成する絶縁層形成工程と、前記絶縁層に、前記接触・非接触兼用型ICチップの前記接続端子部に連通する貫通孔を形成する貫通孔形成工程と、前記絶縁層上から前記貫通孔を埋めるように導電層を積層することにより、前記基板の一方の面に前記非接触通信用アンテナ及び前記外部接触用端子と、前記接続部とを一体かつ同時に形成するアンテナ・外部接触用端子形成工程と、を備えた接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法である。
請求項5の発明は、請求項4に記載の接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法において、前記接触・非接触兼用型ICチップを削ることにより薄くする切削工程を備えること、を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法である。
請求項6の発明は、請求項4又は請求項5に記載の接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法において、前記接触・非接触兼用型ICモジュールは、同一面で複数製造する多面付けにより製造されること、を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法である。
請求項7の発明は、請求項4から請求項6までのいずれか1項に記載の接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法において、前記アンテナ・外部接触用端子形成工程は、エッチング及び/又はめっきにより非接触通信用アンテナ、外部接触用端子及び接続部を形成すること、を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法である。
請求項8の発明は、請求項4から請求項7までのいずれか1項に記載の接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法において、前記アンテナ・外部接触用端子形成工程は、アンテナ内側領域に対して前記外部接触用端子をずらして配置することにより、その前記外部接触用端子と干渉しないアンテナ有効領域が確保するように形成すること、を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法である。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、図面等を参照して、本発明の実施の形態について、さらに詳しくに説明する。
図1、図2は、本発明による接触・非接触兼用型ICモジュールとその製造方法の第1実施形態を示す図である。
【0020】
第1実施形態の接触・非接触兼用型ICモジュール110は、図2(g)(h)に示すように、SIMの大きさの封止樹脂からなる基板111と、基板111の上面に埋め込まれ、接続端子部112aを有する接触・非接触兼用型ICチップ112と、基板111の上面に形成され、接続端子118aを有する非接触通信用アンテナ118と、外部接触用端子119とを備えている。
【0021】
基板111は、GSM規格で規定されている小型のPlug−in−SIM(Subscriber Identification Module:加入者識別素子)サイズの封止樹脂を使用した。Plug−in−SIMは、例えば、加入者固有の番号が格納されたICモジュールであり、移動体通信機の番号を特定すること等を目的として使用されている。
外部接触用端子119は、外部のリーダライタ(以下、R/Wとする。)と接触することにより、接触・非接触兼用型ICチップ112及びR/W間の情報の入出力を媒介する端子である。
外部接触用端子119及び非接触通信用アンテナ118の接続端子118aは、接触・非接触兼用型ICチップ112の接続端子112aと接触するように配置され、接続端子112aと導通している。
【0022】
この実施形態の接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法は、図1、図2に示すように、ICチップ埋め込み工程#11と、パターン形成工程#12等とを備えている。
なお、図1、図2では、1つのICモジュールのみを図示しているが、実際には、複数個を同時に製造する多面付けによって、製造した後に切断するようにしている。
【0023】
ICチップ埋め込み工程#11は、封止樹脂からなる基板111の上面に、接触・非接触兼用型ICチップ112を埋め込む工程である。
基板111となるエポキシのプリプレグ(カーボン繊維強化プラスチック)[図1(a)]に、接触・非接触兼用型ICチップ112を加熱状態で押し付け、接続端子112aの面を上部にして埋め込む[図1(b)]。
埋め込み方法は、これによらず、例えば、仮の支持体に端子面を下にして設置しておき、その上から封止材を形成して作製してもよい。
封止樹脂は、フィルム状のもの、液状のもの又は半固形のものでもよく、熱をかけて軟化するものであれば、前述したエポシキの他に、PET等のポリエステルなどが使用できる。
尚、接触・非接触兼用型ICチップ112を基板111に埋め込む前に削って厚さを調整してもよい。また、埋め込んだ後に基板111とともに削って厚さを調整してもよい。
【0024】
パターン形成工程#12は、基板111の上面に非接触通信用アンテナ118及び外部接触用端子119のパターンを同時に形成し、非接触通信用アンテナ118を接触・非接触兼用型ICチップ112の接続端子112aに接続する工程である。まず、基板111上に、スパッタにより銅層113を形成する[図1(c)]。ついで、感光性ドライフィルムレジスト114を、ラミネートし、露光・現像して、めっきの開口パターン114aを作製する[図1(d)]。
この開口パターン114aに銅めっき、ニッケルめっき、金めっき工程をそれぞれ水洗工程を間にはさみ、連続めっきをして、めっき層115を形成する[図2(e)]。
さらに、感光性ドライフィルムレジスト114を剥離し、銅層113をソフトエッチング処理により除去して、非接触通信用アンテナ118及び外部接触用端子119のパターンを同時に形成する[図2(f),(g)]。
【0025】
以上のように、本実施形態によれば、以下のような効果がある。
(1) アンテナ118及び外部接触用端子119を直接めっき配線していくので、温度変化、経時変化、ストレスなどで剥がれていく心配はなく、結線の安定性、信頼性が極めて高い。また、従来の半田ボール、金バンプで形成されたものよりは、抵抗も少ない。
【0026】
(2) 基板111となる封止樹脂に、接触・非接触兼用型ICチップ112を埋め込むので、接触・非接触兼用型ICチップ112を1個ずつ搭載する必要がなく、大きな封止樹脂シートの中に、接触・非接触兼用型ICチップ112を置いていけばよく、以後の工程も、その封止樹脂シートの単位で加工していくことができる。
【0027】
つまり、従来は、ICチップの接続端子と、非接触通信用アンテナ又は外部接触用端子をつなぐのに、ワイヤボンドを打ったり、直接、フリップチップ実装(半田ボールや金バンプをつけて配線に乗せていく)していた。このとき、ICチップを個々に実装し、ワイヤボンディングにしても、半田ボールにしても、個別に作業していたため、大きな時間のロスがあった。しかし、本実施形態は、ICチップが複数並んでいても、多面付けで一括で作ることができる。また、めっき、エッチングも、全部一括プロセスで形成することができる。
【0028】
(3) 基板111となる封止樹脂に、接触・非接触兼用型ICチップ112を乗せて、非接触通信用アンテナ118、外部接触用端子119を、その片面に同時に形成するため、構造が簡単であり、工程を簡素化できる。
【0029】
(4) めっき、エッチング処理等の化学的処理により、非接触用アンテナ118及び外部接触用端子119を形成し、接触・非接触兼用型ICチップ112自体の強度を必要としないため、薄い接触・非接触兼用型ICチップ112を用いることにより、また、外部接触用端子119を直に接触・非接触兼用型ICチップ112に接続するため、ICモジュール110を薄くすることが可能である。
例えば、接触・非接触兼用型ICチップ112を削って100〜150μmの厚さに設定した場合には、基板111を200〜250μm、非接触用アンテナ118及び外部接触用端子119を10〜30μmの厚さとすることにより、ICモジュール110全体の厚さを210〜280μmとすることができる。
【0030】
(第2実施形態)
図3、図4は、本発明による接触・非接触兼用型ICモジュールとその製造方法の第2実施形態を示す図である。
なお、前述した実施形態と同様の機能を果たす部分には、同一の符号を付して、重複する説明を適宜省略する。
第2実施形態の接触・非接触兼用型ICモジュール110−2は、図4(g)に示すように、基板111と、接触・非接触兼用型ICチップ112と、基板111の上面に形成され、接続端子118aを有する非接触通信用アンテナ118と、基板111の上面で少なくとも接触・非接触兼用型ICチップ112を覆う絶縁層116と、絶縁層116に設けられ、接触・非接触兼用型ICチップ112の接続端子112aに連通する貫通孔116aと、絶縁層116上に形成された外部接触用端子119Aと、外部接触用端子119Aと一体に形成され、接触・非接触兼用型ICチップ112の接続端子部と非接触通信用アンテナ118及び外部接触用端子119Aの接続端子部とを接続する接続部119Bとを備えている。
【0031】
この実施形態の接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法は、図3、図4に示すように、ICチップ埋め込み工程#21と、貫通孔形成工程#22と、パターン形成工程#23等とを備えている。
なお、図3、図4では、1つのICモジュールのみを図示しているが、実際には、複数個を同時に製造する多面付けによって、製造した後に切断するようにしている。
【0032】
ICチップ埋め込み工程#21は、基板111に、接触・非接触兼用型ICチップ112を埋め込む工程である。
まず、絶縁層116である絶縁性の樹脂(ポリイミドフィルム)に、スパッタにより銅層113を0.25〜1.00μmの厚みとなるように形成し、この支持体に接触・非接触兼用型ICチップ112を端子面が下になり、絶縁層116に接するように設置する[図3(a)]。その上に封止樹脂からなる基板111となる層を形成し、同時に接触・非接触兼用型ICチップ112を埋め込む[図3(b)]。
【0033】
貫通孔形成工程#22は、銅層113及び絶縁層116に、接触・非接触兼用型ICチップ112の接続端子112aに連通する貫通孔116aを形成する工程である。
接触・非接触兼用型ICチップ112が埋め込まれた基板111を上下反転し、銅層113をソフトエッチング処理し、絶縁層116をポリイミド専用の有機系アルカリのエッチング液でエッチング処理し、銅層113及び絶縁層116に貫通孔116aを形成する[図3(c)]。
レーザで一括して貫通孔116aを形成してもよい。
【0034】
パターン形成工程#23は、基板111の上面に非接触通信用アンテナ118及び外部接触用端子119Aのパターンを同時に形成し、非接触通信用アンテナ118及び外部接触用端子119Aを接触・非接触兼用型ICチップ112の接続端子に接続する工程である。
感光性ドライフィルムレジスト114をラミネートし、露光・現像して、めっきの開口パターン114aを作製する[図3(d)]。
この開口パターン114aに銅めっき、ニッケルめっき、金めっき工程をそれぞれ水洗工程を間にはさみ、連続めっきをして、めっき層115を形成する[図3(e)]。
さらに、感光性ドライフィルムレジスト114を剥離し、銅層113をソフトエッチング処理により除去して、非接触通信用アンテナ118及び外部接触用端子119Aのパターンを形成する。同時に接続部119Bを形成し、非接触通信用アンテナ118の接続端子118a及び外部接触用端子119Aを接触・非接触兼用型ICチップ112の接続端子112aに接続する[図3(f),(g)]。
【0035】
以上のように、本実施形態によれば、絶縁層116、基板111で接触・非接触兼用型ICチップ112を封止しても第1実施形態と同様の効果を得ることが可能である。
【0036】
ここで、上記各実施形態では、図2(h),図4(h)に示すように、外部接触用端子119,119Aは、非接触通信用アンテナ118の内側領域Bに対して、左側にずらして配置することにより、その外部接触用端子119,119Aと干渉しないアンテナ有効領域Cが確保されている。このため、より干渉の少ないアンテナ有効領域Cが確保できると共に、非接触通信用アンテナ118を接触・非接触兼用型ICチップ112に接続しやすい。
【0037】
非接触ICモジュールにおいて、大きな通信距離を安定して確保するためには、非接触用アンテナ118の面積が大きければ大きいほどよい。しかし、非接触通信用アンテナ118が大きければ、製造コストは、材料費も含め、面積に比例して大きくなることから、通信に必要な最低限の大きさであればよい。
非接触通信用アンテナ118のコイル面積と通信特性について、検討した結果、ISO14443TypeA及びTypeB方式を前提として、最低限必要なコイルの大きさは、コイルの形状やピッチで異なるものの、面積として、概ね10mm2 以上は最低必要であり、400mm2 あれば十分であることが判明した。
【0038】
さらに、カード又はモジュールの大きさ、形状が規格により決められている場合に、特に、小型のモジュールで寸法が機器の制約で約2cm角以内と限られている場合など、自ずと非接触通信用アンテナ118の大きさをICモジュール110,110−2に対して、全面に使うことが必要とされ、非接触通信用アンテナ118は、ICモジュール110,110−2の外周一杯に形成することが要求される。
この制約から、非接触通信用アンテナ118のデザインルールとして、外周はなるべく大きく、そのピッチを狭めて配置した方がよい。ピッチとしては、100μm以下、最も望ましくは、50μm以下である。
また、ピッチが20μm以下になると、安定して作製することが難しくなる。また、フエースダウン型のフリップチップ実装を行うと、ICモジュール110,110−2の厚みを薄くでき、望ましい。
本実施形態では、外部接触用端子119,119Aの間をコイル配線が通るように設置する必要があり、この場合も、ピッチを100μm以下、最も望ましくは、50μm以下にすると、デザイン上設計の自由度が確保でき、非接触通信用アンテナ118の内側面積を大きくすることができる。
【0039】
また、非接触通信用アンテナ118の膜厚としては、デザインルールが小さくなると抵抗が大きくなるため、望ましくは、5μm以上、最も望ましくは、10μm以上である。
非接触通信用アンテナ118の膜厚を大きくすると、安定して作製することが難しくなるため、30μm以下にすることが望ましい。これらのデザインルールを満足するためには、非接触通信用アンテナ118の作製方法は、エッチング法かめっきによるセミアディテイブ法による方法のどちらかであるが、ピッチ50μm以下に作製する場合は、めっきによるセミアデティブ法に限られる。
【0040】
また、接触・非接触兼用のICモジュール110,110−2においては、外部接触用端子119と非接触通信用アンテナ118を、同一モジュール内に形成する必要がある。一般に、非接触通信用アンテナ118の内部に置かれた、金属部分は電磁波の遮蔽効果を持ち、通信の障害となる。よって、ICカードのデザインでは、金属製である外部接触用端子119,119Aによる電磁波の遮蔽効果を避けるために、その端子119,119Aから非接触通信用アンテナ118の中心をずらして配置することがが必要である。
この場合に、アンテナ有効面積Cは、ICモジュール110,110−2の面積に対して、0.5〜0.9倍が望ましいという新規事実を得た。
【0041】
(変形形態)
以上説明した実施形態に限定されることなく、種々の変形や変更が可能であって、それらも本発明の均等の範囲内である。
(1) 本実施形態では、携帯電話などに使用するSIMを例に説明したが、通常のICカードや、基板形状が特定されないICタグなどであってもよい。
(2) 小型のICモジュール単体で必要な通信距離が確保できなければ、外部にブースターコイルを別途作製し、ICモジュールと近接させて共振回路を形成し、通信距離を確保することも可能である。このブースターコイルは、ICモジュールを収納するケース、例えば、定期入れなどに設置して使用してもよい。
【0042】
(3) 本発明の方式では、外部接触用端子と非接触用アンテナを具備する構成であるが、場合によっては、外部接触用端子と非接触用アンテナの接続端子118aのみをICモジュールに設け、アンテナコイルを別途作製してもよい。
このアンテナコイルは、ICモジュールを収納するケース、例えば、定期入れなどに設置して、ICモジュールを挿入することによって機能するようにしてもよい。
【0043】
【発明の効果】
以上詳しく説明したように、本発明によれば、外部接触用端子及び非接触通信用アンテナは、接触・非接触ICチップと同一の面で形成され、同じ層構造を有するため、構造が簡単であり、製造工程を簡素化することができる。
【0044】
本発明によれば、接触・非接触兼用型ICチップの接続端子部に外部接触用端子が直に接続されるため、結線の安定性、信頼性が極めて高い。
【0045】
本発明によれば、特に、絶縁層及び基板で接触・非接触兼用型ICチップを封止した場合でも前述した効果と同様の効果を得ることができる。
【0046】
本発明によれば、アンテナ有効領域を確保することにより、通信安定性の向上を図ることができる。
【0047】
本発明によれば、接触・非接触兼用型ICチップを削ることにより薄くする切削工程を備えるため、特に、接触・非接触兼用型ICモジュールを薄く製造することができる。
【0048】
本発明によれば、基板に埋め込まれた接触・非接触兼用型ICチップを削るため、製造工程の簡素化を図ることができる。
【0049】
本発明によれば、他面付けによって製造することにより、一層の製造工程の簡素化、製造コストの低減を図ることができる。
【0050】
本発明によれば、接触・非接触兼用型ICチップの接続端子部に外部接触用端子が直に接続されるため、結線の安定性、信頼性が極めて高い。
【0051】
本発明によれば、特に、絶縁層及び基板で接触・非接触兼用型ICチップを封止した場合でも前述した効果と同様の効果を得ることができる。
【0052】
本発明によれば、特に、科学的処理である、エッチング及び/又はめっきにより非接触通信用アンテナ及び外部接触用端子等を形成するため、接触・非接触兼用型ICチップに圧力等の外力がかかることが少なく、接触・非接触兼用型ICチップをより薄く設定することができる。
【0053】
本発明によれば、非接触通信用アンテナを容易に接触・非接触兼用型ICチップに接続することができ、アンテナ有効領域を確保することにより、通信安定性の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による接触・非接触兼用型ICモジュールとその製造方法の第1実施形態を示す図(その1)である。
【図2】本発明による接触・非接触兼用型ICモジュールとその製造方法の第1実施形態を示す図(その2)である。
【図3】本発明による接触・非接触兼用型ICモジュールとその製造方法の第2実施形態を示す図(その1)である。
【図4】本発明による接触・非接触兼用型ICモジュールとその製造方法の第2実施形態を示す図(その2)である。
【符号の説明】
110 接触・非接触兼用型ICモジュール
111 基板
112 接触・非接触兼用型ICチップ
112a 接続端子
116 絶縁層
116a 貫通孔
118 非接触通信用アンテナ
119,119A 外部接触用端子
119B 接続部
#11,#21 ICチップ埋め込み工程
#12,#23 パターン形成工程
#22 貫通孔形成工程[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a contact / non-contact type IC module used for an IC card, a SIM, an IC tag, and the like, and a manufacturing method thereof.
[0002]
[Prior art]
The contact / non-contact IC card is a contact-type function for transmitting and receiving data by bringing the external terminal of the card into contact with the terminal of the external processing device, and an antenna coil and data processing for transmitting and receiving data by electromagnetic waves. The IC circuit is built-in, and reading / writing with the external processing device is performed by a so-called wireless system, and the driving power of the IC circuit is supplied by electromagnetic induction and has a non-contact system function without a built-in battery. This is what I have on my card.
[0003]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-239922 discloses an IC module for an IC card, in which an antenna conductor pattern and a terminal electrode conductor pattern are provided on the surface, and these conductor patterns are connected to the IC inside the IC module via through holes. An invention for electrical connection with a chip is disclosed.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, when connecting each conductor pattern and the IC chip by wire bonding, pressure is applied to the IC chip, so that the IC chip is required to have a thickness that can withstand the pressure. It was.
In addition, since the structure and process are complicated and there are many work processes, there is a problem that reliability is low and manufacturing cost is high.
[0005]
An object of the present invention is to provide a contact / non-contact type IC module having a simple structure, high reliability, and capable of simplifying and thinning a manufacturing process, and a manufacturing method thereof.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The present invention solves the above problems by the following means. In addition, in order to make an understanding easy, although the code | symbol corresponding to embodiment of this invention is attached | subjected and demonstrated, it is not limited to this. That is, the invention of claim 1 includes a substrate made of a sealing resin, a contact / non-contact type IC chip embedded in one surface of the substrate and arranged so that a connection terminal portion is outside, Connected to the connection terminal portion, formed on one surface of the substrate , exposed to the outside, and exposed to the outside, formed on one surface of the substrate, having the same layer structure as the external contact terminal , Laminated on the contactless non-contact communication IC chip exposed to the outside, an insulating layer covering at least the contact / non-contact type IC chip on one surface of the substrate, and the contact / non-contact type IC chip And formed integrally with the external contact terminal and the non-contact communication antenna, and passes through the insulating layer to electrically connect the external contact terminal and the non-contact communication antenna and the connection terminal portion. a connecting portion to be connected to, the Is a contact and non-contact compatible type IC module was painting.
[0007]
The invention of claim 2 is the contact and non-contact compatible type IC module according to claim 1, the connecting terminal portion of the external contact terminal及beauty before Symbol contactless communication antenna, said contact and non-contact compatible type A contact / non-contact IC module characterized by being formed in contact with a connection terminal portion of an IC chip.
[0009]
The invention according to claim 3 is the contact / non-contact IC module according to claim 1 or 2 , wherein the non-contact communication antenna is arranged by shifting the external contact terminal with respect to the antenna inner region. By doing so, an effective antenna area that does not interfere with the external contact terminal is ensured.
[0010]
The invention of claim 4 is the method for manufacturing a contact / non-contact IC module according to any one of claims 1 to 3, wherein the connection terminal portion is formed on one surface of the substrate. IC chip embedding step of embedding the contact / non-contact type IC chip so that the outer side is outside, and an insulating layer forming step of forming an insulating layer covering the contact / non-contact type IC chip on one surface of the substrate A through hole forming step for forming a through hole communicating with the connection terminal portion of the contact / non-contact type IC chip in the insulating layer; and a conductive layer so as to fill the through hole from above the insulating layer. The contact provided with the antenna / external contact terminal forming step for forming the noncontact communication antenna, the external contact terminal, and the connection portion integrally and simultaneously on one surface of the substrate by laminating.・ Non-contact It is a manufacturing method of use-type IC module.
The invention according to claim 5 is the method for manufacturing a contact / non-contact type IC module according to claim 4, further comprising a cutting step of thinning the contact / non-contact type IC chip by cutting. This is a method for manufacturing a contact / non-contact IC module.
According to a sixth aspect of the present invention, in the method for manufacturing a contact / non-contact type IC module according to the fourth or fifth aspect , the contact / non-contact type IC module is manufactured by a multi-sided structure in which a plurality of contact / non-contact type IC modules are manufactured on the same surface. It is a manufacturing method of a contact / non-contact IC module characterized by being manufactured.
According to a seventh aspect of the present invention, in the method for manufacturing a contact / non-contact type IC module according to any one of the fourth to sixth aspects, the antenna / external contact terminal forming step includes etching and / or Alternatively, the present invention is a method for producing a contact / non-contact IC module, characterized in that a non-contact communication antenna, an external contact terminal and a connection portion are formed by plating.
The invention according to claim 8 is the method of manufacturing a contact / non-contact type IC module according to any one of claims 4 to 7 , wherein the antenna / external contact terminal forming step is an antenna inner region. The contact / non-contact type IC module is characterized in that an antenna effective area that does not interfere with the external contact terminal is secured by displacing the external contact terminal with respect to the external contact terminal. It is a manufacturing method.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.
FIG. 1 and FIG. 2 are diagrams showing a first embodiment of a contact / non-contact IC module and a method for manufacturing the same according to the present invention.
[0020]
As shown in FIGS. 2G and 2H, the contact /
[0021]
For the
The
The
[0022]
The manufacturing method of the contact / non-contact type IC module of this embodiment includes an IC chip
1 and 2, only one IC module is shown, but in actuality, it is cut after being manufactured by multi-sided attachment in which a plurality of IC modules are manufactured at the same time.
[0023]
The IC chip
A contact /
The embedding method is not limited to this. For example, the embedding method may be prepared by placing the terminal surface on a temporary support and forming a sealing material thereon.
The sealing resin may be in the form of a film, liquid or semi-solid, and polyesters such as PET can be used in addition to the above-described epoxy as long as it softens when heated.
The contact /
[0024]
In the pattern
Copper plating, nickel plating, and gold plating processes are sandwiched between the opening
Further, the photosensitive dry film resist 114 is peeled off, and the
[0025]
As described above, according to this embodiment, there are the following effects.
(1) Since the
[0026]
(2) Since the contact /
[0027]
In other words, conventionally, to connect the connection terminal of the IC chip to the non-contact communication antenna or the external contact terminal, wire bonding is performed, or flip chip mounting (with solder balls or gold bumps attached to the wiring). I was going). At this time, since IC chips were individually mounted and worked individually, whether wire bonding or solder balls, there was a great time loss. However, in the present embodiment, even if a plurality of IC chips are arranged, they can be made in a lump with multiple impositions. Also, plating and etching can all be formed by a batch process.
[0028]
(3) Since the contact /
[0029]
(4) The
For example, when the contact /
[0030]
(Second Embodiment)
FIG. 3 and FIG. 4 are views showing a second embodiment of the contact / non-contact type IC module and the manufacturing method thereof according to the present invention.
In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the part which fulfill | performs the same function as embodiment mentioned above, and the overlapping description is abbreviate | omitted suitably.
The contact / non-contact type IC module 110-2 of the second embodiment is formed on the upper surface of the
[0031]
As shown in FIGS. 3 and 4, the method of manufacturing the contact / non-contact type IC module of this embodiment includes an IC chip embedding
3 and FIG. 4, only one IC module is shown, but in actuality, it is cut after being manufactured by multi-sided mounting in which a plurality of IC modules are manufactured simultaneously.
[0032]
The IC chip embedding
First, a
[0033]
The through hole forming
The
The through
[0034]
In the pattern forming
A photosensitive dry film resist 114 is laminated, exposed and developed to produce a
A copper plating, nickel plating, and gold plating process is sandwiched between the
Further, the photosensitive dry film resist 114 is peeled off, and the
[0035]
As described above, according to the present embodiment, even if the contact /
[0036]
Here, in each of the above embodiments, as shown in FIGS. 2 (h) and 4 (h), the
[0037]
In the non-contact IC module, in order to stably secure a large communication distance, it is better that the area of the
As a result of studying the coil area and communication characteristics of the
[0038]
Furthermore, when the size or shape of the card or module is determined by the standard, especially when the size is limited to within about 2 cm square due to equipment restrictions in a small module, the antenna for non-contact communication is naturally used. The size of 118 is required to be used on the entire surface of the
Due to this restriction, the design rule of the
Further, when the pitch is 20 μm or less, it becomes difficult to stably produce the pitch. Further, it is desirable to perform face-down flip chip mounting because the thickness of the
In this embodiment, it is necessary to install so that the coil wiring passes between the
[0039]
Further, the film thickness of the
When the thickness of the
[0040]
In the contact /
In this case, the new fact that the antenna effective area C is preferably 0.5 to 0.9 times the area of the
[0041]
(Deformation)
The present invention is not limited to the embodiment described above, and various modifications and changes are possible, and these are also within the equivalent scope of the present invention.
(1) In the present embodiment, a SIM used for a mobile phone or the like has been described as an example. However, a normal IC card or an IC tag whose board shape is not specified may be used.
(2) If the required communication distance cannot be ensured with a small IC module alone, a booster coil can be separately prepared outside, and a resonant circuit can be formed close to the IC module to ensure the communication distance. . This booster coil may be used by installing it in a case for storing an IC module, for example, in a regular case.
[0042]
(3) In the system of the present invention, the external contact terminal and the non-contact antenna are provided. However, in some cases, only the
The antenna coil may be installed in a case for storing the IC module, for example, a regular slot, and function by inserting the IC module.
[0043]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the present invention, the external contact terminal and the non-contact communication antenna are formed on the same surface as the contact / non-contact IC chip and have the same layer structure, so the structure is simple. Yes, the manufacturing process can be simplified.
[0044]
According to the present invention, since the external contact terminal is directly connected to the connection terminal portion of the contact tactile and non-contact compatible type IC chip, the stability of the connection, is extremely reliable.
[0045]
According to the present invention, in particular, it can be a case of sealing the contact and non-contact compatible type IC chip with an insulating layer and substrate to obtain the effect of the effect the same way as described above.
[0046]
According to the present invention, by ensuring antenna effective area, it is possible to improve the communication stability.
[0047]
According to the present invention, since including a cutting step of reducing by Rukoto cutting the contact tactile and non-contact compatible type IC chip, in particular, it is possible to produce thin contact and non-contact compatible type IC module.
[0048]
According to the present invention, since cutting the contact and non-contact compatible type IC chip embedded in board, it is possible to simplify the manufacturing process.
[0049]
According to the present invention, by manufacturing by other imposition, it is possible to achieve further simplification of the manufacturing process, a reduction in manufacturing cost.
[0050]
According to the present invention, since the external contact terminal is directly connected to the connection terminal portion of the contact tactile and non-contact compatible type IC chip, the stability of the connection, is extremely reliable.
[0051]
According to the present invention, in particular, it can be a case of sealing the contact and non-contact compatible type IC chip with an insulating layer and substrate to obtain the effect of the effect the same way as described above.
[0052]
According to the present invention, especially, a scientific processing, to form a non-contact communication antenna and the external contact terminal or the like by etching and / or plating, an external force such as pressure to the contact and non-contact compatible type IC chip The contact / non-contact IC chip can be set thinner.
[0053]
According to the present invention, a non- contact communication antenna can be easily connected to a contact / non-contact IC chip, and communication stability can be improved by securing an antenna effective area.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a view (No. 1) showing a first embodiment of a contact / non-contact IC module and a method for manufacturing the same according to the present invention;
FIG. 2 is a view (No. 2) showing a first embodiment of the contact / non-contact IC module and the method for manufacturing the same according to the present invention;
FIG. 3 is a view (No. 1) showing a second embodiment of the contact / non-contact IC module and the method for manufacturing the same according to the present invention;
FIG. 4 is a view (No. 2) showing a second embodiment of the contact / non-contact IC module and the method for manufacturing the same according to the present invention;
[Explanation of symbols]
110 Contact / non-contact
Claims (8)
前記基板の一方の面に埋め込まれ、接続端子部が外側になるように配置された接触・非接触兼用型ICチップと、
前記接続端子部に接続され、前記基板の一方の面に形成され、外部に露出した外部接触用端子と、
前記基板の一方の面に形成され、前記外部接触用端子と同じ層構造を有し、外部に露出した非接触通信用アンテナと、
前記基板の一方の面で少なくとも前記接触・非接触兼用型ICチップを覆う絶縁層と、
前記接触・非接触兼用型ICチップの接続端子部上に積層され、前記外部接触用端子及び前記非接触通信用アンテナと一体に形成され、前記絶縁層を貫通して前記外部接触用端子及び前記非接触通信用アンテナと前記接続端子部との間を電気的に接続する接続部と、
を備えた接触・非接触兼用型ICモジュール。A substrate made of a sealing resin;
A contact / non-contact IC chip embedded in one surface of the substrate and arranged so that the connection terminal portion is on the outside;
An external contact terminal connected to the connection terminal portion, formed on one surface of the substrate, and exposed to the outside;
A non-contact communication antenna formed on one surface of the substrate, having the same layer structure as the external contact terminals, and exposed to the outside;
An insulating layer covering at least the contact / non-contact IC chip on one surface of the substrate;
It is laminated on the connection terminal portion of the contact / non-contact type IC chip, is formed integrally with the external contact terminal and the non-contact communication antenna, passes through the insulating layer, and the external contact terminal and the A connection part for electrically connecting the antenna for non-contact communication and the connection terminal part;
Contact / non-contact IC module equipped with
前記外部接触用端子及び前記非接触通信用アンテナの接続端子部は、前記接触・非接触兼用型ICチップの接続端子部と接触して形成されること、
を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュール。The contact / non-contact type IC module according to claim 1,
The external contact terminal and the connection terminal portion of the non-contact communication antenna are formed in contact with the connection terminal portion of the contact / non-contact IC chip;
A contact / non-contact IC module characterized by
前記非接触通信用アンテナは、アンテナ内側領域に対して前記外部接触用端子をずらして配置することにより、その前記外部接触用端子と干渉しないアンテナ有効領域が確保されていること、
を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュール。In the contact / non-contact type IC module according to claim 1 or 2,
The non-contact communication antenna has an antenna effective area that does not interfere with the external contact terminal by shifting the external contact terminal with respect to the antenna inner area.
A contact / non-contact IC module characterized by
前記基板の一方の面に、前記接続端子部が外側になるように前記接触・非接触兼用型ICチップを埋め込むICチップ埋め込み工程と、
前記基板の一方の面に前記接触・非接触兼用型ICチップを覆う絶縁層を形成する絶縁層形成工程と、
前記絶縁層に、前記接触・非接触兼用型ICチップの前記接続端子部に連通する貫通孔を形成する貫通孔形成工程と、
前記絶縁層上から前記貫通孔を埋めるように導電層を積層することにより、前記基板の一方の面に前記非接触通信用アンテナ及び前記外部接触用端子と、前記接続部とを一体かつ同時に形成するアンテナ・外部接触用端子形成工程と、
を備えた接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法。A method for producing a contact / non-contact IC module according to any one of claims 1 to 3,
An IC chip embedding step of embedding the contact / non-contact IC chip on one surface of the substrate so that the connection terminal portion is on the outside;
An insulating layer forming step of forming an insulating layer covering the contact / non-contact IC chip on one surface of the substrate;
A through hole forming step of forming a through hole communicating with the connection terminal portion of the contact / non-contact IC chip in the insulating layer;
By laminating a conductive layer so as to fill the through-hole from above the insulating layer, the non-contact communication antenna, the external contact terminal, and the connection portion are integrally and simultaneously formed on one surface of the substrate. Antenna and external contact terminal forming process,
For manufacturing a contact / non-contact type IC module comprising:
前記接触・非接触兼用型ICチップを削ることにより薄くする切削工程を備えること、
を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法。In the manufacturing method of the contact / non-contact type IC module according to claim 4,
Comprising a cutting step of thinning the contact / non-contact IC chip by cutting;
A method of manufacturing a contact / non-contact IC module characterized by the above.
前記接触・非接触兼用型ICモジュールは、同一面で複数製造する多面付けにより製造されること、
を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法。 In the manufacturing method of the contact / non-contact type IC module according to claim 4 or 5 ,
The contact / non-contact type IC module is manufactured by multi-sided mounting in which a plurality of the same IC modules are manufactured,
A method of manufacturing a contact / non-contact IC module characterized by the above.
前記アンテナ・外部接触用端子形成工程は、エッチング及び/又はめっきにより非接触通信用アンテナ、外部接触用端子及び接続部を形成すること、
を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法。 In the manufacturing method of the contact / non-contact type IC module according to any one of claims 4 to 6 ,
The antenna / external contact terminal forming step includes forming a contactless communication antenna, an external contact terminal, and a connecting portion by etching and / or plating.
A method of manufacturing a contact / non-contact IC module characterized by the above.
前記アンテナ・外部接触用端子形成工程は、アンテナ内側領域に対して前記外部接触用端子をずらして配置することにより、その前記外部接触用端子と干渉しないアンテナ有効領域が確保するように形成すること、
を特徴とする接触・非接触兼用型ICモジュールの製造方法。In the manufacturing method of the contact / non-contact type IC module according to any one of claims 4 to 7 ,
In the antenna / external contact terminal forming step, the external contact terminal is shifted from the antenna inner area so that an antenna effective area that does not interfere with the external contact terminal is secured. ,
A method of manufacturing a contact / non-contact IC module characterized by the above.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001141480A JP4783997B2 (en) | 2001-05-11 | 2001-05-11 | Contact / non-contact IC module and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001141480A JP4783997B2 (en) | 2001-05-11 | 2001-05-11 | Contact / non-contact IC module and manufacturing method thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002334312A JP2002334312A (en) | 2002-11-22 |
JP4783997B2 true JP4783997B2 (en) | 2011-09-28 |
Family
ID=18987934
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001141480A Expired - Fee Related JP4783997B2 (en) | 2001-05-11 | 2001-05-11 | Contact / non-contact IC module and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4783997B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3088515B1 (en) * | 2018-11-08 | 2022-01-28 | Smart Packaging Solutions | ELECTRONIC MODULE FOR CHIP CARD |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01235699A (en) * | 1988-03-17 | 1989-09-20 | Oki Electric Ind Co Ltd | Production of ic card and ic chip |
JPH05139082A (en) * | 1991-11-19 | 1993-06-08 | Hitachi Ltd | Electronic device |
JPH07239922A (en) * | 1994-02-25 | 1995-09-12 | Dainippon Printing Co Ltd | Ic module for ic card |
DE19845665C2 (en) * | 1998-10-05 | 2000-08-17 | Orga Kartensysteme Gmbh | Method for producing a carrier element for an IC chip for installation in chip cards |
JP2000172814A (en) * | 1998-12-02 | 2000-06-23 | Toppan Printing Co Ltd | Composite ic module and composite ic card |
JP2000207515A (en) * | 1999-01-19 | 2000-07-28 | Seiko Epson Corp | Contact type ic card |
JP3661482B2 (en) * | 1999-04-06 | 2005-06-15 | ソニーケミカル株式会社 | Semiconductor device |
JP2001056850A (en) * | 1999-08-20 | 2001-02-27 | Dainippon Printing Co Ltd | Ic module with noncontact communication function and contact and noncontact type common-use ic card |
-
2001
- 2001-05-11 JP JP2001141480A patent/JP4783997B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002334312A (en) | 2002-11-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8284117B2 (en) | Antenna device and method of manufacturing the same | |
US6518885B1 (en) | Ultra-thin outline package for integrated circuit | |
RU2170457C2 (en) | Card with built-in integrated circuit and its manufacturing process | |
KR101188791B1 (en) | Card-type information recording medium having embedded antenna for near field communication and manufacturing thereof | |
US20140284386A1 (en) | Laser ablating structures for antenna modules for dual interface smartcards | |
KR20030041870A (en) | Semiconductor chip and semiconductor device using the semiconductor chip | |
JP3377786B2 (en) | Semiconductor chip | |
US9912058B2 (en) | Hybrid antenna, antenna arrangement and method for manufacturing an antenna arrangement | |
US7312528B2 (en) | Semiconductor device having antenna connection electrodes | |
JP3377787B1 (en) | Semiconductor chip and semiconductor device using the same | |
KR20000075883A (en) | An integrated circuit package including accompanying ic chip and coil and a method of production therefor | |
KR20090043077A (en) | Antenna for radio frequency identification and method of manufacturing the same | |
JP4783997B2 (en) | Contact / non-contact IC module and manufacturing method thereof | |
JP2001236479A (en) | Contactless ic card | |
KR20170081693A (en) | Method for producing a single-sided electronic module including interconnection zones | |
JP4684433B2 (en) | Contact / non-contact IC module and manufacturing method thereof | |
JP2002092566A (en) | Coil on-chip module, manufacturing method thereof, and non-contact type ic card | |
JP4316851B2 (en) | Manufacturing method of semiconductor chip | |
JP4724923B2 (en) | Contact / non-contact IC module and manufacturing method thereof | |
JP4684430B2 (en) | Contact / non-contact IC module and manufacturing method thereof | |
JP3753984B2 (en) | Non-contact communication device module and manufacturing method thereof | |
JP4783991B2 (en) | IC module manufacturing method | |
JPH11288449A (en) | Ic module, ic card and method for resin encapsulation | |
KR20010094421A (en) | RF Card Inlet and method for making thereof | |
JP4734742B2 (en) | IC module and manufacturing method thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20061116 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080117 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101213 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110221 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110329 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110526 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110614 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110627 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140722 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |